JP3016675B2 - Semiconductor device dropping device - Google Patents

Semiconductor device dropping device

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JP3016675B2
JP3016675B2 JP5160691A JP16069193A JP3016675B2 JP 3016675 B2 JP3016675 B2 JP 3016675B2 JP 5160691 A JP5160691 A JP 5160691A JP 16069193 A JP16069193 A JP 16069193A JP 3016675 B2 JP3016675 B2 JP 3016675B2
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rod
cylinder
semiconductor device
socket
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静夫 萩原
哲也 坂本
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Mitsubishi Electric Corp
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体装置を位置決
め後、テスト用のソケット内に落下させる半導体装置の
落下装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for dropping a semiconductor device into a test socket after positioning the semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】IC素子をパッケージ内に収納して半導
体装置が完成すると、この半導体装置の耐久テスト(例
えばバーンインテスト)を行なう必要がある。バーンイ
ンテストではテスト用のオープントップのソケット内
に、このソッケト上方に位置決めされた半導体装置を所
定の高さから落下して保持させた後、このソケットをバ
ーンイン炉内で加熱しつつ、この半導体装置にソケット
を介して電圧等を印加し、この半導体装置の耐久性がテ
ストされる。
2. Description of the Related Art When a semiconductor device is completed by housing an IC element in a package, it is necessary to perform a durability test (for example, a burn-in test) of the semiconductor device. In the burn-in test, the semiconductor device positioned above the socket is dropped from a predetermined height and held in a test open-top socket, and then the semiconductor device is heated in a burn-in furnace. Is applied through a socket to test the durability of the semiconductor device.

【0003】図3は半導体装置を位置決め後、オープン
トップのソケット内に落下させる従来の半導体装置の落
下装置の断面図、図4はこの落下装置の作用説明図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view of a conventional semiconductor device dropping device which drops a semiconductor device into an open-top socket after positioning, and FIG. 4 is an explanatory view of the operation of the dropping device.

【0004】図において、1はIC素子がパッケージ内
に収納されている半導体装置、2は内部に半導体装置1
を保持してこの半導体装置のバーンインテストを行なう
ためのオープントップのソケットである。このソケット
2は上方に加圧付勢される上部の可動蓋2aを下方に押
し下げることにより、ソケット内部のコンタクト端子
(図示せず)が開放され、そのセット面2bに半導体装
置1が適正に位置決めされた後、可動蓋2aが上昇する
と、コンタクト端子が半導体装置1の端子1aを押さえ
電気的に接続するようになっている。3は所定場所で半
導体装置1を吸着してソケット2の上方まで水平移動し
た後、この半導体装置1を位置決めしてソケット2内に
落下させ、この半導体装置1をソケット2のセット面2
bに載置させる半導体装置の落下装置である。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a semiconductor device in which an IC element is housed in a package;
And an open-top socket for performing a burn-in test of the semiconductor device while holding the semiconductor device. When the upper movable lid 2a, which is pressed and urged upward, is depressed downward, a contact terminal (not shown) inside the socket is opened, and the semiconductor device 1 is properly positioned on its set surface 2b. After that, when the movable lid 2a rises, the contact terminals hold down the terminals 1a of the semiconductor device 1 and are electrically connected. Reference numeral 3 denotes a semiconductor device that is sucked at a predetermined place and horizontally moved to a position above the socket 2. Then, the semiconductor device 1 is positioned and dropped into the socket 2.
b is a dropping device of a semiconductor device to be mounted on the semiconductor device.

【0005】この落下装置3についてさらに説明すれ
ば、図において、11は本体部11a、上部案内部11
b、下部案内部11cとから構成されるシリンダであ
る。このシリンダ11は装置本体部10に上下向きに支
持されているとともに、内部に加圧エアを導入する上エ
ア通路11dと下エア通路11eとが形成されている。
12はシリンダ11内に形成される上下方向に向いたシ
リンダ室である。このシリンダ室12の上部12b側と
下部12a側とにはそれぞれシリンダ11の上エア通路
11dと下エア通路11eとが連通している。13はそ
の大径のピストン部13aがシリンダ室12内を上下動
して、中間の第2位置ロを経由して最上の第1位置イと
最下の第3位置ハ間を移動するシリンダロッドである。
The drop device 3 will be further described. In the drawing, reference numeral 11 denotes a main body 11a, an upper guide 11
b, a lower guide 11c. The cylinder 11 is vertically supported by the apparatus main body 10 and has an upper air passage 11d and a lower air passage 11e for introducing pressurized air therein.
Numeral 12 denotes a vertically oriented cylinder chamber formed in the cylinder 11. An upper air passage 11d and a lower air passage 11e of the cylinder 11 communicate with the upper 12b and lower 12a sides of the cylinder chamber 12, respectively. 13 is a cylinder rod whose large-diameter piston portion 13a moves up and down in the cylinder chamber 12 and moves between an uppermost first position A and a lowermost third position C via an intermediate second position B. It is.

【0006】14は内部に形成された吸着孔14aを介
してその下端に半導体装置1を真空吸着する吸着ロッド
である。この吸着ロッド14はシリンダロッド13内を
上下方向に挿通しているとともに、Eリング15にてシ
リンダロッド13と一体化されており、このシリンダロ
ッド13とともに上下動する。16はストッパ40によ
り下動位置が規制されるスライダ、17はシリンダロッ
ド13の下端部に取り付けられスライダ16を支持する
上方向規制手段であるEリングで、このEリング17に
よりスライダ16の下動に伴いシリンダロッド13を下
動させるとともにシリンダロッド13の上動を規制する
ようになっている。18はシリンダ11の下部案内部1
1cに設けられ、スライダ16を下側に押圧しているス
ライダ加圧バネ、19は中心部がスライダ16に揺動可
能に支持されている位置決め爪である。この位置決め爪
19は吸着ロッド14を中心に左右前後に4個取り付け
られている。
Reference numeral 14 denotes a suction rod for vacuum-sucking the semiconductor device 1 at a lower end thereof through a suction hole 14a formed therein. The suction rod 14 is inserted vertically into the cylinder rod 13 and is integrated with the cylinder rod 13 by an E-ring 15, and moves up and down together with the cylinder rod 13. Reference numeral 16 denotes a slider whose lowering position is regulated by a stopper 40. Reference numeral 17 denotes an E-ring which is attached to a lower end portion of the cylinder rod 13 and serves as an upward regulating means for supporting the slider 16, and the E-ring 17 allows the slider 16 to move downward. As a result, the cylinder rod 13 is moved downward and the upward movement of the cylinder rod 13 is restricted. 18 is a lower guide 1 of the cylinder 11
A slider pressing spring 19 is provided at 1c and presses the slider 16 downward. Reference numeral 19 denotes a positioning claw whose center portion is supported by the slider 16 so as to swing. The four positioning claws 19 are attached to the left, right, front and back with the suction rod 14 as a center.

【0007】20はスライダ16に支持され、位置決め
爪19をその下端部19aが吸着ロッド14に吸着され
た半導体装置1から遠ざかるように加圧する圧縮バネ、
21は位置決め爪19の上端部19bと係合し、その下
端部19aを半導体装置1の側部に係合させて、この半
導体装置1を吸着ロッド14に対して水平方向に位置決
めするコロ、22はスライダ16の下部に取り付けら
れ、ソケット2の可動蓋2aを下方に押圧する押具であ
る。
Reference numeral 20 denotes a compression spring which is supported by the slider 16 and presses the positioning claw 19 away from the semiconductor device 1 whose lower end 19a is attracted to the attraction rod 14.
A roller 21 engages with an upper end portion 19b of the positioning claw 19, engages a lower end portion 19a thereof with a side portion of the semiconductor device 1, and positions the semiconductor device 1 with respect to the suction rod 14 in a horizontal direction. A pusher is attached to the lower portion of the slider 16 and presses the movable lid 2a of the socket 2 downward.

【0008】23は内部に吸着孔23aが形成され、O
リング24を介して吸着ロッド14の上端側に連結され
た上部ロッド、25はEリング26を介してこの上部ロ
ッド23を吸着ロッド14側に押圧する圧縮バネであ
り、この圧縮バネ25により吸着ロッド14と上部ロッ
ド23とは常時一体として移動する。27は上部ロッド
23の上部に取り付けられた遮光板、28は遮光板27
の下部27aを検知してシリンダロッド13が第2位置
ロにあることを検知するとともに、遮光板27の上部2
7bを検知してシリンダロッド13が第3位置ハにある
ことを検知するセンサである。
[0008] 23 has a suction hole 23a formed therein,
An upper rod 25 connected to the upper end side of the suction rod 14 via a ring 24 is a compression spring that presses the upper rod 23 toward the suction rod 14 via an E-ring 26. 14 and the upper rod 23 always move integrally. 27 is a light-shielding plate attached to the upper part of the upper rod 23, 28 is a light-shielding plate 27
Detects that the cylinder rod 13 is at the second position B by detecting the lower portion 27a of the
7b to detect that the cylinder rod 13 is at the third position c.

【0009】つぎに、半導体装置の落下装置3の動作を
説明する。半導体装置1が位置決めされている所定の場
所で、シリンダロッド13を第3位置ハまで降下させ、
吸着ロッド14内を真空にして半導体装置1を吸着保持
した後、位置決め落下装置3は位置決めされているソケ
ット2の上方まで水平移動される。この水平移動中に、
落下装置3のシリンダ11の下エア通路11eを介して
シリンダ室12の下部12a側に加圧エアが導入され、
シリンダロッド13はそのピストン部13aがシリンダ
室12の上端側まで移動されて第1位置イまで上昇す
る。
Next, the operation of the drop device 3 for a semiconductor device will be described. At a predetermined place where the semiconductor device 1 is positioned, the cylinder rod 13 is lowered to the third position c,
After the suction rod 14 is evacuated to hold the semiconductor device 1 by suction, the positioning and dropping device 3 is horizontally moved to a position above the socket 2 where the positioning is performed. During this horizontal movement,
Pressurized air is introduced into the lower portion 12a of the cylinder chamber 12 through the lower air passage 11e of the cylinder 11 of the dropping device 3,
The piston portion 13a of the cylinder rod 13 is moved to the upper end side of the cylinder chamber 12 and rises to the first position A.

【0010】この場合、吸着ロッド14もEリング15
を介して半導体装置1を吸着したまま上昇されるが、ス
ライダ16もEリング17により持ち上げられて上昇
し、位置決め爪19の上端部19bがコロ21に係合し
て、圧縮バネ20の弾発力に反してその下端部19aが
半導体装置1側に移動する。したがって、4つの位置決
め爪19は半導体装置1を四方から吸着ロッド14側に
移動させ、吸着ロッド14が半導体装置1の中心部を吸
着支持するように半導体装置1を位置決めする。
In this case, the suction rod 14 is also connected to the E-ring 15
The slider 16 is also lifted by the E-ring 17 and lifts, and the upper end portion 19b of the positioning claw 19 engages with the roller 21 to spring the compression spring 20. The lower end 19a moves toward the semiconductor device 1 against the force. Accordingly, the four positioning claws 19 move the semiconductor device 1 from all sides to the suction rod 14 side, and position the semiconductor device 1 so that the suction rod 14 suction-supports the center of the semiconductor device 1.

【0011】つぎに、半導体装置の落下装置3がソケッ
ト2上方に位置決めされた後、シリンダ11の下エア通
路11eのエアを僅かずつ外部に抜きつつ、この上エア
通路11dを介してシリンダ室12の上部12b側には
加圧エアを導入する。このことにより、シリンダ室12
の下部12a側と上部12b側とのエア圧の差は僅かだ
け下部12a側が大きくなるが、スライダ加圧バネ18
の下側方向に押圧する弾発力により、スライダ16、E
リング17を介してシリンダロッド13は下方に動かさ
れる。スライダ16はストッパ40に当接する位置まで
シリンダロッド13を下動させるが、そのときのシリン
ダロッド13の先端部の位置は第2位置ロである。この
第2位置ロはスライダ16に連動する押具22がソケッ
ト2の可動蓋2aを下方に押し下げた位置でもある。
Next, after the dropping device 3 of the semiconductor device is positioned above the socket 2, the air in the lower air passage 11e of the cylinder 11 is evacuated little by little to the outside, and the cylinder chamber 12 is moved through the upper air passage 11d. Pressurized air is introduced into the upper part 12b side of. This allows the cylinder chamber 12
The difference in air pressure between the lower part 12a side and the upper part 12b side slightly increases in the lower part 12a side.
The slider 16, E
The cylinder rod 13 is moved downward via the ring 17. The slider 16 moves the cylinder rod 13 downward to a position where it comes into contact with the stopper 40, and the position of the tip of the cylinder rod 13 at that time is the second position B. The second position B is also a position where the pusher 22 linked to the slider 16 pushes down the movable lid 2a of the socket 2 downward.

【0012】押具22が可動蓋2aを押し下げた状態で
は、位置決め爪19はコロ21との係合が解除され、そ
の上端部19bが圧縮バネ20に押されて、その下端部
19aは半導体装置1から離間している。また、この状
態の時には、吸着ロッド14がシリンダロッド13とと
もに下降して、半導体装置1は下降した可動蓋2aの上
面近傍まで移動している。一方、吸着ロッド14の下降
とともに圧縮バネ25、Eリング26を介して上側ロッ
ド23も下降し、遮光板27の下部27aがセンサ28
の位置に停止して、このセンサ28はソケット2の可動
蓋2aが押し下げられていることを検知する。なお、ソ
ケット2は可動蓋2aが押し下げられることにより、セ
ット面2bからソケット2のコンタクト端子が開放さ
れ、半導体装置1をセットできるスタンバイ状態とな
る。
When the pusher 22 pushes down the movable lid 2a, the positioning claw 19 is disengaged from the roller 21, the upper end 19b is pushed by the compression spring 20, and the lower end 19a is connected to the semiconductor device. 1 away. In this state, the suction rod 14 moves down together with the cylinder rod 13, and the semiconductor device 1 has moved to near the upper surface of the movable lid 2a. On the other hand, as the suction rod 14 is lowered, the upper rod 23 is also lowered via the compression spring 25 and the E-ring 26, and the lower part 27a of the light shielding plate 27 is
, The sensor 28 detects that the movable lid 2a of the socket 2 has been pressed down. When the movable lid 2a is pushed down, the contact terminal of the socket 2 is released from the setting surface 2b, and the socket 2 enters a standby state in which the semiconductor device 1 can be set.

【0013】つぎに、吸着ロッド14の吸着孔14aお
よび上側ロッド23の吸着孔23aの真空状態が解除さ
れるとともに、この吸着孔14a,23aにエアが送り
込まれ、半導体装置1がソケット2のセット面2b上に
落下される。半導体装置1の落下とともに、シリンダ室
12の下部12a側の加圧エアが下エア通路11eを介
して外部に放出されるため、シリンダロッド13のピス
トン部13aはシリンダ室12の上部12b側の加圧エ
アに押されてシリンダ室12の下端まで下降し、シリン
ダロッド13は第3位置ハに下降する。
Next, the vacuum state of the suction hole 14a of the suction rod 14 and the suction hole 23a of the upper rod 23 is released, and air is sent into the suction holes 14a, 23a, so that the semiconductor device 1 is set in the socket 2. It falls on the surface 2b. When the semiconductor device 1 is dropped, the pressurized air on the lower portion 12a side of the cylinder chamber 12 is released to the outside via the lower air passage 11e, so that the piston portion 13a of the cylinder rod 13 is applied to the upper portion 12b side of the cylinder chamber 12. The cylinder rod 13 is lowered to the third position c by the pressure of the air and lowered to the lower end of the cylinder chamber 12.

【0014】この場合、シリンダロッド13にEリング
15を介して一体化された吸着ロッド14も下降しその
下端がソケット2のセット面2b上の半導体装置1の上
面近傍まで移動して、半導体装置1が水平でなく斜めの
状態になっている場合等に半導体装置1をセット面2b
上に正しく位置決めする。またこの場合、上側ロッド2
3も下降して、遮光板27の上部27bがセンサ28の
位置に停止して、このセンサ28は半導体装置1がソケ
ット2のセット面2bまで落下していることを検知す
る。
In this case, the suction rod 14 integrated with the cylinder rod 13 via the E-ring 15 also descends, and its lower end moves to the vicinity of the upper surface of the semiconductor device 1 on the set surface 2b of the socket 2. For example, when the semiconductor device 1 is not horizontal but is inclined, the semiconductor device 1 is set on the set surface 2b.
Position correctly on top. In this case, the upper rod 2
3 also descends, and the upper portion 27b of the light shielding plate 27 stops at the position of the sensor 28. The sensor 28 detects that the semiconductor device 1 has dropped to the set surface 2b of the socket 2.

【0015】つぎに、シリンダ室12の上部12b側の
加圧エアを外部に抜きつつ下部12a側に加圧エアを導
入し、シリンダロッド13を第1位置イまで上昇させる
と、押具22も上昇するためソケット2の可動蓋2aが
元の位置まで上昇し、ソケット2のコンタクト端子が半
導体装置1の端子1aを押圧し、半導体装置1とソケッ
ト2とは電気的に接続され、半導体装置1はテストでき
る状態となる。そして、このソケット2はバーンイン炉
内に移動され、そのバーンイン炉内で加熱しながら、半
導体装置1に電圧等が印加され、半導体装置1の耐久性
がテストされる。
Next, the pressurizing air is introduced into the lower portion 12a while the pressurizing air on the upper portion 12b side of the cylinder chamber 12 is extracted to the outside, and the cylinder rod 13 is raised to the first position A. The movable cover 2a of the socket 2 rises to its original position, and the contact terminal of the socket 2 presses the terminal 1a of the semiconductor device 1 so that the semiconductor device 1 and the socket 2 are electrically connected to each other. Is ready for testing. Then, the socket 2 is moved into a burn-in furnace, and while heating in the burn-in furnace, a voltage or the like is applied to the semiconductor device 1, and the durability of the semiconductor device 1 is tested.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置の落
下装置3は以上のように構成されているので、シリンダ
ロッド13が第2位置ロにある場合の吸着ロッド14の
下端に保持される半導体装置1の下面とソケット2のセ
ット面2bとの間の落下距離aは一定(約3mm)であ
り、半導体装置1の種類によっては、半導体装置1がソ
ケット2のセット面2b上に落下後バウンドして所定の
位置から大幅にづれてしまい、シリンダロッド13が第
3位置ハまで移動して半導体装置1をセット面2b側に
押し込んだ後での半導体装置1がセット面2b上に正し
く位置決めされないという課題があった。また、このこ
とを防止するため、シリンダロッド13を第3位置ハに
下降させる途中で吸着ロッド14の真空を解除して、半
導体装置1をこの吸着ロッド14からソケット2内に落
下させることも考えられるが、この場合、落下距離が安
定せず半導体装置1をセット面2a上の所定の位置に載
置できないという課題があった。
Since the conventional dropping device 3 for a semiconductor device is constructed as described above, the semiconductor device held at the lower end of the suction rod 14 when the cylinder rod 13 is at the second position b. The falling distance a between the lower surface of the device 1 and the set surface 2b of the socket 2 is constant (about 3 mm), and depending on the type of the semiconductor device 1, the semiconductor device 1 bounces after falling on the set surface 2b of the socket 2. As a result, the semiconductor device 1 is largely misaligned from the predetermined position, and the semiconductor device 1 after the cylinder rod 13 moves to the third position C and pushes the semiconductor device 1 toward the set surface 2b is not correctly positioned on the set surface 2b. There were challenges. In order to prevent this, the vacuum of the suction rod 14 may be released while the cylinder rod 13 is being lowered to the third position C, and the semiconductor device 1 may be dropped from the suction rod 14 into the socket 2. However, in this case, there is a problem that the semiconductor device 1 cannot be placed at a predetermined position on the set surface 2a because the falling distance is not stable.

【0017】この発明は、上記のような課題を解消する
ためになされたもので、半導体装置の種類ごとに適切な
落下距離を保って、半導体装置を位置決め落下させるこ
とができる半導体装置の落下装置を提供することを目的
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and a semiconductor device dropping device capable of positioning and dropping a semiconductor device while maintaining an appropriate drop distance for each type of semiconductor device. The purpose is to provide.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】この発明の半導体装置の
落下装置は、内部にシリンダ室を有するシリンダと、こ
のシリンダ内に上下動自在に設けられているとともに前
記シリンダ室内を上下動に摺動自在のピストン部が一端
部に形成された第1のシリンダロッドと、前記シリンダ
内に前記第1のシリンダロッドと対向して上下動自在に
設けられているとともに前記ピストン部の内部に形成さ
れた凹部内を上下動する摺動部が端部に形成された第2
のシリンダロッドと、前記凹部と前記摺動部との間に縮
設された弾性手段と、前記凹部内に設けられ前記摺動部
の移動量を調整する係止手段と、前記第1のシリンダロ
ッドおよび前記第2のシリンダロッドを貫通していると
ともに内部に吸着孔を有し前記第2のシリンダロッドと
一体化された吸着ロッドと、前記第1のシリンダロッド
の他端部に設けられ第1のシリンダロッドの上側方向の
動きを規制する上方向規制手段と、この上方向規制手段
に支持され前記第1のシリンダロッドを上方向規制手段
を介して下側方向に付勢するスライダとを備え、前記ピ
ストン部により画成された前記シリンダ室の上部と下部
との圧力差により、前記第1のシリンダロッドが前記ソ
ケットの前記セット面側に接近するとともに、前記第2
のシリンダロッドが前記弾性手段の弾発力に逆らって前
記第1のシリンダロッド側に接近し、前記第2のシリン
ダロッドに連動して前記吸着ロッドが前記ソケットの前
記セット面に接近するようになっているものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device dropping device which includes a cylinder having a cylinder chamber therein, and is provided within the cylinder so as to be vertically movable and slides vertically within the cylinder chamber. A first cylinder rod having a free piston portion formed at one end portion, and a free piston portion is provided inside the cylinder so as to be vertically movable in opposition to the first cylinder rod and formed inside the piston portion. A second sliding part is formed at the end of the sliding part which moves up and down in the concave part.
A cylinder rod, elastic means contracted between the concave portion and the sliding portion, locking means provided in the concave portion to adjust the amount of movement of the sliding portion, and the first cylinder A suction rod that penetrates the rod and the second cylinder rod, has a suction hole therein, and is integrated with the second cylinder rod, and a suction rod that is provided at the other end of the first cylinder rod. An upward regulating means for regulating the upward movement of the first cylinder rod, and a slider supported by the upward regulating means and for urging the first cylinder rod downward through the upward regulating means. A pressure difference between an upper portion and a lower portion of the cylinder chamber defined by the piston portion, the first cylinder rod approaches the set surface side of the socket, and
So that the cylinder rod approaches the first cylinder rod side against the elastic force of the elastic means, and the suction rod approaches the set surface of the socket in conjunction with the second cylinder rod. Is what it is.

【0019】[0019]

【作用】この発明では第2のシリンダロッドはその下端
部側の摺動部が第1のシリンダロッドの上端部側のピス
トン部の凹部内に取り付けられた弾性手段により、この
凹部内の係止手段の位置まで押し上げられている。した
がって、シリンダ室の下部側に圧力媒体を導入すると、
ピストン部が上方に押されて第1のシリンダロッドは第
1の位置まで上昇し、弾性手段および係止手段を介して
第2のシリンダロッドも第1のシリンダロッドとともに
上昇する。この場合、第1のシリンダロッドの上昇によ
り吸着ロッドも上昇し、この吸着ロッド下端に吸着され
ている半導体装置の吸着ロッドに対する水平方向の位置
決めがなされる。
According to the present invention, the second cylinder rod is locked in the recess by the elastic means having the sliding portion on the lower end side thereof mounted in the recess of the piston portion on the upper end side of the first cylinder rod. It has been pushed up to the position of the means. Therefore, when the pressure medium is introduced into the lower side of the cylinder chamber,
The first cylinder rod is raised to the first position by the piston portion being pushed upward, and the second cylinder rod is also raised together with the first cylinder rod via the elastic means and the locking means. In this case, the suction rod is also raised by raising the first cylinder rod, and horizontal positioning of the semiconductor device that is suctioned at the lower end of the suction rod with respect to the suction rod is performed.

【0020】つぎに、シリンダ室の上部側に圧力媒体を
導入すると、第2のシリンダロッドはその摺動部がこの
圧力媒体を介して下方に押され、これが弾性手段を圧縮
して第1のシリンダロッドの凹部内に引き込まれるた
め、その分下降する。したがって、半導体装置を下端に
吸着した吸着ロッドはその引き込み量だけ下降する。ま
た、シリンダ室の上部側に圧力媒体を導入することによ
り、第1のシリンダロッドはそのピストン部が下降し、
第2の位置まで移動する。この場合、第1のシリンダロ
ッドとともに第2のシリンダロッドおよび吸着ロッドも
下降するが、第1のシリンダロッドが第2の位置まで下
降した場合、吸着ロッドは第2のシリンダロッドの摺動
部が第1のシリンダロッドの凹部内に引き込まれた量だ
けその下降位置が下がっているため、吸着ロッドに吸着
された半導体装置のソケットへの落下距離はその分短く
なる。
Next, when a pressure medium is introduced into the upper part of the cylinder chamber, the sliding portion of the second cylinder rod is pushed downward through the pressure medium, and this compresses the elastic means to compress the first cylinder rod. Since it is drawn into the concave portion of the cylinder rod, it descends by that amount. Therefore, the suction rod that has sucked the semiconductor device at the lower end is lowered by the amount of pull-in. Further, by introducing the pressure medium into the upper side of the cylinder chamber, the piston portion of the first cylinder rod descends,
Move to the second position. In this case, the second cylinder rod and the suction rod move down together with the first cylinder rod. However, when the first cylinder rod moves down to the second position, the suction section of the second cylinder rod slides. Since the lowering position of the first cylinder rod is lowered by an amount drawn into the concave portion, the falling distance of the semiconductor device sucked by the suction rod to the socket is shortened accordingly.

【0021】なお、第1のシリンダロッドの凹部内の係
止手段の位置を変更することにより、半導体装置とソケ
ット間の落下距離は容易に変更できる。
Incidentally, by changing the position of the locking means in the recess of the first cylinder rod, the falling distance between the semiconductor device and the socket can be easily changed.

【0022】[0022]

【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図1はこの発明の一実施例に係る半導体装置の落下
装置の断面図、図2はこの落下装置の作用説明図であ
る。なお、図において、図3および図4で示した半導体
装置の落下装置と同一または相当部分には同一符号を付
してその説明を省略する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. FIG. 1 is a sectional view of a drop device of a semiconductor device according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory view of the operation of the drop device. In the drawings, the same or corresponding portions as those of the dropping device of the semiconductor device shown in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0023】図において、30はシリンダロッドのピス
トン部の位置で上下に分割した第1のシリンダロッドで
ある下側シリンダロッドであり、31は第2のシリンダ
ロッドである上側シリンダロッドである。下側シリンダ
ロッド30は、その上端部側にピストン部13aを有し
ているが、このピストン部13aの上端には上下方向に
向いた凹部30aが形成されている。なお、この下側シ
リンダロッド30の下端部側には上方向規制手段である
Eリング17を介してスライダ16が支持されていると
ともに、この下側シリンダロッド30はピストン部13
aの上下動により、第2位置ロを経由して第1位置イと
第3位置ハ間を移動可能となっている。上側シリンダロ
ッド31は、その下端部側に下側シリンダロッド30の
凹部30a内を上下に摺動自在な摺動部31aが形成さ
れている。なお、この上側シリンダロッド31の上端部
側はEリング15を介して吸着ロッド14と一体化され
ている。
In the figure, reference numeral 30 denotes a lower cylinder rod which is a first cylinder rod divided vertically at a position of a piston portion of the cylinder rod, and 31 denotes an upper cylinder rod which is a second cylinder rod. The lower cylinder rod 30 has a piston portion 13a on the upper end side, and a concave portion 30a that is vertically oriented is formed at the upper end of the piston portion 13a. A slider 16 is supported on the lower end of the lower cylinder rod 30 via an E-ring 17 serving as an upward regulating means.
By the vertical movement of a, it is possible to move between the first position A and the third position C via the second position B. The upper cylinder rod 31 has a sliding portion 31a formed at the lower end thereof so as to be vertically slidable in the recess 30a of the lower cylinder rod 30. The upper end of the upper cylinder rod 31 is integrated with the suction rod 14 via an E-ring 15.

【0024】32は下側シリンダロッド30の凹部30
a内に取り付けられている弾性手段としての圧縮バネで
ある。この圧縮バネ32により上側シリンダロッド31
の摺動部31aは下側シリンダロッド30の凹部30a
の上部に取り付けられた係止手段であるC型止め輪33
の位置まで押し上げられている。
Reference numeral 32 denotes a concave portion 30 of the lower cylinder rod 30.
A compression spring as an elastic means attached in the inside a. This compression spring 32 allows the upper cylinder rod 31
Of the lower cylinder rod 30
C-type retaining ring 33 as a locking means attached to the upper part of
Has been pushed up to the position.

【0025】つぎに、この半導体装置の落下装置3の動
作を下側および上側シリンダロッド30,31等の動作
を中心に説明する。シリンダ11の下エア通路11eを
介してシリンダ室12の下部12aに加圧エアが導入さ
れると、下側シリンダロッド30はそのピストン部13
aの上昇とともに第1位置イまで押し上げられ、上側シ
リンダロッド31も圧縮バネ32およびC型止め輪33
を介してこの下側シリンダロッド30と同量だけ押し上
げられる。したがって、この上側シリンダロッド31に
より、下端に半導体装置1を吸着保持している吸着ロッ
ド14も上方に押し上げられる。また、この場合に、下
側シリンダロッド30の第1位置イまでの上昇に伴な
い、スライダ16もEリング17を介して押し上げられ
るため、位置決め爪19の上端部19bがコロ21に係
合し、4つの位置決め爪19によって半導体装置1の中
心部が吸着ロッド14の軸線上にくるようになる。
Next, the operation of the drop device 3 of the semiconductor device will be described focusing on the operation of the lower and upper cylinder rods 30, 31 and the like. When pressurized air is introduced into the lower part 12a of the cylinder chamber 12 through the lower air passage 11e of the cylinder 11, the lower cylinder rod 30
a, the upper cylinder rod 31 is also pushed up to the compression spring 32 and the C-shaped retaining ring 33.
Through the lower cylinder rod 30 by the same amount. Therefore, the suction rod 14 holding the semiconductor device 1 at the lower end thereof is also pushed upward by the upper cylinder rod 31. In this case, the slider 16 is also pushed up through the E-ring 17 as the lower cylinder rod 30 moves up to the first position A, so that the upper end 19b of the positioning claw 19 engages with the roller 21. The four positioning claws 19 allow the center of the semiconductor device 1 to be on the axis of the suction rod 14.

【0026】つぎに、シリンダ11の下エア通路11e
から僅かずつエアを抜きつつ、上エア通路11dを介し
てシリンダ室12の上部12b側に加圧エアを導入する
と、上側シリンダロッド31はその摺動部31aがシリ
ンダ室12の上部12b側からこの加圧エアにより加圧
される。そのため、上側シリンダ31は圧縮バネ32を
縮ませ下側シリンダロッド30の凹部30a内に所定長
さbだけ移動する。このため、上側シリンダ31とEリ
ング15を介して一体の吸着ロッド14も下側シリンダ
ロッド30に対して所定距離bだけ下方に移動する。ま
たこの場合、シリンダ室12内の下部12aと上部12
bとの圧力は下部12aの方が未だ僅かに大きくなる
が、この力に打ち勝つスライダ加圧バネ18のスライダ
16を下側に押圧する力により、Eリング17を介して
下側シリンダロッド30は上側シリンダロッド31とと
もに第2位置ロまで下降する(なお、このときスライダ
16はストッパ40に当接している)。スライダ16の
下動に伴い、押具22がソケット2の可動蓋2aを押し
下げるとともに、位置決め爪19はコロ21から離間
し、圧縮バネ20によってその下端部19aが半導体装
置1から離れる。
Next, the lower air passage 11e of the cylinder 11
When pressurized air is introduced into the upper portion 12b of the cylinder chamber 12 through the upper air passage 11d while bleeding air little by little from the upper cylinder rod 31, the sliding portion 31a of the upper cylinder rod 31 Pressurized by pressurized air. Therefore, the upper cylinder 31 compresses the compression spring 32 and moves by a predetermined length b into the concave portion 30a of the lower cylinder rod 30. Therefore, the suction rod 14 integrated with the upper cylinder 31 and the E-ring 15 also moves downward by a predetermined distance b with respect to the lower cylinder rod 30. In this case, the lower part 12 a and the upper part 12
The pressure with respect to b is still slightly higher in the lower portion 12a, but the lower cylinder rod 30 is pressed via the E-ring 17 by the force pressing the slider 16 of the slider pressing spring 18 which overcomes this force. The slider 16 descends to the second position B together with the upper cylinder rod 31 (at this time, the slider 16 is in contact with the stopper 40). As the slider 16 moves downward, the pusher 22 pushes down the movable lid 2 a of the socket 2, the positioning claw 19 is separated from the roller 21, and the lower end 19 a is separated from the semiconductor device 1 by the compression spring 20.

【0027】この場合、吸着ロッド14の下降とともに
Eリング26を介して上側ロッド23を下側に押圧する
圧縮バネ25により上側ロッド23も下降し、センサ2
8が遮光板27の下部27aを検知して、ソケット2の
可動蓋2aが開いたことを検知する。
In this case, as the suction rod 14 is lowered, the upper rod 23 is also lowered by the compression spring 25 which presses the upper rod 23 downward through the E-ring 26, and the sensor 2
8 detects the lower part 27a of the light-shielding plate 27 and detects that the movable lid 2a of the socket 2 is opened.

【0028】そして、シリンダロッド30が図2の第2
位置ロにある状態で吸着ロッド14の下端は従来の位置
決め落下装置3における吸着ロッド14の下端より距離
bだけ下降した位置にあるため、半導体装置1の下面と
ソケット2のセット面2b間の距離も従来の距離aより
距離bだけ短くなる。したがって、この状態で吸着ロッ
ド14の吸着孔14a内等の真空を解除してエアブロー
を行なうと、半導体装置1は距離(aーb)だけ落下し
て、ソケット2のセット面2b上に載置される。
Then, the cylinder rod 30 is moved to the second position shown in FIG.
In the position B, the lower end of the suction rod 14 is located at a position lower than the lower end of the suction rod 14 in the conventional positioning and dropping device 3 by a distance b, so that the distance between the lower surface of the semiconductor device 1 and the set surface 2b of the socket 2 is set. Is shorter than the conventional distance a by the distance b. Therefore, when the vacuum in the suction hole 14a of the suction rod 14 is released and air blow is performed in this state, the semiconductor device 1 drops by the distance (ab) and is placed on the set surface 2b of the socket 2. Is done.

【0029】半導体装置1の落下とともにシリンダ室1
2の下部12a側の加圧エアが下エア通路11eを介し
て外部に放出され、上側シリンダロッド31とともに下
側シリンダロッド30も下降してピストン部13aが下
部案内部11cの上面に当接し、下側シリンダロッド3
0は第3位置ハまで下降する。このことにより、Eリン
グ15を介して上側シリンダロッド31と一体化された
吸着ロッド14がソケット2のセット面2bの半導体装
置1の上面近傍まで下降し、半導体装置1をソケット2
のセット面2b上に適正に位置決めする。また、上側ロ
ッド23も下降し、センサ28が遮光板27の上部27
bを検知して、半導体装置1がソケット2のセット面2
bに正しく載置されていることを検知する。
As the semiconductor device 1 falls, the cylinder chamber 1
2, the pressurized air on the lower side 12a side is discharged to the outside via the lower air passage 11e, the lower cylinder rod 30 is also lowered together with the upper cylinder rod 31, and the piston portion 13a contacts the upper surface of the lower guide portion 11c. Lower cylinder rod 3
0 falls to the third position c. As a result, the suction rod 14 integrated with the upper cylinder rod 31 via the E-ring 15 descends to the vicinity of the upper surface of the semiconductor device 1 on the set surface 2b of the socket 2, and the semiconductor device 1 is moved to the socket 2
Is properly positioned on the set surface 2b. In addition, the upper rod 23 also moves down, and the sensor 28
b, the semiconductor device 1 moves the set surface 2 of the socket 2
(b) is detected as being correctly placed.

【0030】つぎに、シリンダ室12の上部12b側の
加圧エアを外部に抜きつつ下部12a側に加圧エアを導
入すると、下側シリンダロッド30はそのピストン部1
3aの上昇により第1位置イまで上昇し、スライダ16
を介して押具22を上昇させるため、ソケット2の可動
蓋2aが上昇し、このソケット2内に半導体装置1がセ
ットされる。また、上側シリンダロッド31は圧縮バネ
32によりその摺動部31aが下側シリンダロッド30
の凹部30aのC型止め輪33の位置まで押し上げられ
た状態で下側シリンダロッド30とともに上昇し、また
上側シリンダロッド31とEリング15を介して一体の
吸着ロッド14も上昇する。
Next, when pressurized air is introduced into the lower portion 12a while extracting the pressurized air from the upper portion 12b of the cylinder chamber 12 to the outside, the lower cylinder rod 30 is moved to its piston portion 1
3a, the slider 16 rises to the first position A, and the slider 16
The movable lid 2a of the socket 2 is raised to raise the pusher 22 through the connector 2, and the semiconductor device 1 is set in the socket 2. The sliding portion 31a of the upper cylinder rod 31 is compressed by the compression spring 32 so that the lower cylinder rod 30
The lower cylinder rod 30 is raised together with the lower cylinder rod 30 while being pushed up to the position of the C-shaped retaining ring 33 of the concave portion 30a, and the suction rod 14 integral with the upper cylinder rod 31 via the E-ring 15 is also raised.

【0031】以上のように、上端部側に凹部が形成され
たピストン部13aを有する下側シリンダロッド30
と、吸着ロッド14を保持し摺動部31aが下側シリン
ダロッド30の凹部30aを上下に摺動可能な上側シリ
ンダロッド31とを有し、かつ下側シリンダロッド30
の凹部30a内に、上側シリンダロッド31の摺動部3
1aを凹部30a内のC型止め輪33の位置まで加圧移
動させる圧縮バネ32を取り付けているため、半導体装
置の落下装置3からソケット2内に半導体装置1を落下
させる場合、半導体装置1のタイプに合わせて、C型止
め輪33の位置によりこの半導体装置1のソケット2の
セット面2bまでの落下距離を定めることができ、半導
体装置1をソケット2内に適正にセットすることができ
る。なお、凹部30a内のC型止め輪33の取り付け位
置は容易に変更できる。
As described above, the lower cylinder rod 30 having the piston portion 13a having the concave portion formed on the upper end side.
And an upper cylinder rod 31 which holds the suction rod 14 and in which the sliding portion 31a can slide up and down the recess 30a of the lower cylinder rod 30.
Of the upper cylinder rod 31 in the recess 30a
Since the compression spring 32 that presses and moves the semiconductor device 1a to the position of the C-shaped retaining ring 33 in the concave portion 30a is attached, when the semiconductor device 1 is dropped into the socket 2 from the falling device 3 of the semiconductor device, Depending on the type, the position of the C-shaped retaining ring 33 can determine the drop distance of the semiconductor device 1 to the set surface 2b of the socket 2, and the semiconductor device 1 can be properly set in the socket 2. In addition, the mounting position of the C-shaped retaining ring 33 in the concave portion 30a can be easily changed.

【0032】なお、上記実施例では下側シリンダロッド
30の上端部に凹部を有するピストン部13aを形成
し、上側シリンダロッド31の端部に摺動部を形成した
が、下側シリンダロッドの上端部に摺動部を形成し、上
側シリンダロッド31の下端部に凹部を有するピストン
部を形成してもよい。
In the above embodiment, the piston portion 13a having a concave portion is formed at the upper end of the lower cylinder rod 30 and the sliding portion is formed at the end of the upper cylinder rod 31. Alternatively, a sliding portion may be formed in the portion, and a piston portion having a concave portion in the lower end portion of the upper cylinder rod 31 may be formed.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように、この発明の半導体
装置の落下装置によれば、内部にシリンダ室を有するシ
リンダと、このシリンダ内に上下動自在に設けられてい
るとともに前記シリンダ室内を上下動に摺動自在のピス
トン部が一端部に形成された第1のシリンダロッドと、
前記シリンダ内に前記第1のシリンダロッドと対向して
上下動自在に設けられているとともに前記ピストン部の
内部に形成された凹部内を上下動する摺動部が端部に形
成された第2のシリンダロッドと、前記凹部と前記摺動
部との間に縮設された弾性手段と、前記凹部内に設けら
れ前記摺動部の移動量を調整する係止手段と、前記第1
のシリンダロッドおよび前記第2のシリンダロッドを貫
通しているとともに内部に吸着孔を有し前記第2のシリ
ンダロッドと一体化された吸着ロッドと、前記第1のシ
リンダロッドの他端部に設けられ第1のシリンダロッド
の上側方向の動きを規制する上方向規制手段と、この上
方向規制手段に支持され前記第1のシリンダロッドを上
方向規制手段を介して下側方向に付勢するスライダとを
備え、前記ピストン部により画成された前記シリンダ室
の上部と下部との圧力差により、前記第1のシリンダロ
ッドが前記ソケットの前記セット面側に接近するととも
に、前記第2のシリンダロッドが前記弾性手段の弾発力
に逆らって前記第1のシリンダロッド側に接近し、前記
第2のシリンダロッドに連動して前記吸着ロッドが前記
ソケットの前記セット面に接近するようになっているの
で、半導体装置の種類ごとに適切な落下距離を保って、
ソケットのセット面に半導体装置を落下させることがで
きるという効果がある。
As described above, according to the apparatus for dropping a semiconductor device of the present invention, a cylinder having a cylinder chamber therein and a vertically movable cylinder inside the cylinder are provided. A first cylinder rod having a piston part slidably movable at one end thereof;
A second sliding member is provided in the cylinder so as to be movable up and down in opposition to the first cylinder rod, and has a sliding portion at an end portion that vertically moves in a recess formed inside the piston portion. A cylinder rod, elastic means contracted between the concave part and the sliding part, locking means provided in the concave part for adjusting a moving amount of the sliding part,
A suction rod penetrating through the second cylinder rod and the second cylinder rod and having a suction hole therein and integrated with the second cylinder rod; and provided at the other end of the first cylinder rod. Upward regulating means for regulating the upward movement of the first cylinder rod, and a slider supported by the upward regulating means for urging the first cylinder rod downward via the upward regulating means. The first cylinder rod approaches the set surface side of the socket by the pressure difference between the upper and lower portions of the cylinder chamber defined by the piston portion, and the second cylinder rod Approaches the first cylinder rod side against the resilience of the elastic means, and the suction rod moves the suction hole of the socket in conjunction with the second cylinder rod. Since so as to approach the up surface, while maintaining the appropriate fall distance for each type of semiconductor device,
There is an effect that the semiconductor device can be dropped on the set surface of the socket.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例である半導体装置の落下装
置の断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a drop device of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の半導体装置の落下装置の作用説明図であ
る。
FIG. 2 is an operation explanatory view of a drop device of the semiconductor device of FIG. 1;

【図3】従来の半導体装置の落下装置の一例を示す断面
図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional dropping device for a semiconductor device.

【図4】図3の落下装置の作用説明図である。FIG. 4 is an operation explanatory view of the dropping device of FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体装置 2 ソケット 2b セット面 3 半導体装置の落下装置 11 シリンダ 12 シリンダ室 12a 上部 12b 下部 13 シリンダロッド 13a ピストン部 14 吸着ロッド 16 スライダ 17 Eリング(上方向規制手段) 30 下側シリンダロッド(第1のシリンダロッド) 30a 凹部 31 上側シリンダロッド(第2のシリンダロッド) 31a 摺動部 32 圧縮バネ(弾性手段) 33 C型止め輪(係止手段) イ 第1位置 ロ 第2位置 ハ 第3位置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor device 2 Socket 2b Set surface 3 Dropping device of semiconductor device 11 Cylinder 12 Cylinder chamber 12a Upper part 12b Lower part 13 Cylinder rod 13a Piston part 14 Suction rod 16 Slider 17 E-ring (upward regulation means) 30 Lower cylinder rod (No. 1 cylinder rod) 30a recess 31 upper cylinder rod (second cylinder rod) 31a sliding part 32 compression spring (elastic means) 33 C-type retaining ring (locking means) i first position b second position c third position

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 平4−5645(JP,U) 実開 平2−85373(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/26 H01L 21/66 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (56) References JP-A-4-5645 (JP, U) JP-A-2-85373 (JP, U) (58) Fields surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 31/26 H01L 21/66

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ソケット内のセット面に半導体装置を落
下、載置させる半導体装置の落下装置において、内部に
シリンダ室を有するシリンダと、このシリンダ内に上下
動自在に設けられているとともに前記シリンダ室内を上
下動に摺動自在のピストン部が一端部に形成された第1
のシリンダロッドと、前記シリンダ内に前記第1のシリ
ンダロッドと対向して上下動自在に設けられているとと
もに前記ピストン部の内部に形成された凹部内を上下動
する摺動部が端部に形成された第2のシリンダロッド
と、前記凹部と前記摺動部との間に縮設された弾性手段
と、前記凹部内に設けられ前記摺動部の移動量を調整す
る係止手段と、前記第1のシリンダロッドおよび前記第
2のシリンダロッドを貫通しているとともに内部に吸着
孔を有し前記第2のシリンダロッドと一体化された吸着
ロッドと、前記第1のシリンダロッドの他端部に設けら
れ第1のシリンダロッドの上側方向の動きを規制する上
方向規制手段と、この上方向規制手段に支持され前記第
1のシリンダロッドを上方向規制手段を介して下側方向
に付勢するスライダとを備え、前記ピストン部により画
成された前記シリンダ室の上部と下部との圧力差によ
り、前記第1のシリンダロッドが前記ソケットの前記セ
ット面側に接近するとともに、前記第2のシリンダロッ
ドが前記弾性手段の弾発力に逆らって前記第1のシリン
ダロッド側に接近し、前記第2のシリンダロッドに連動
して前記吸着ロッドが前記ソケットの前記セット面に接
近するようになっていることを特徴とする半導体装置の
落下装置。
1. A dropping device for a semiconductor device for dropping and mounting a semiconductor device on a set surface in a socket, comprising: a cylinder having a cylinder chamber therein; A first part in which a piston part slidable up and down in the room is formed at one end.
A cylinder rod and a sliding part which is provided in the cylinder so as to be vertically movable in opposition to the first cylinder rod and which moves vertically in a recess formed inside the piston part is provided at an end. A second cylinder rod formed, elastic means contracted between the concave part and the sliding part, locking means provided in the concave part and adjusting a moving amount of the sliding part; A suction rod penetrating the first cylinder rod and the second cylinder rod and having a suction hole therein and integrated with the second cylinder rod; and the other end of the first cylinder rod. Upward restricting means provided on the portion for restricting the upward movement of the first cylinder rod, and attaching the first cylinder rod supported by the upward restricting means in a downward direction via the upward restricting means. Momentum slider The first cylinder rod approaches the set surface side of the socket by the pressure difference between the upper part and the lower part of the cylinder chamber defined by the piston part, and the second cylinder rod The suction rod approaches the first cylinder rod side against the elastic force of the elastic means, and the suction rod approaches the set surface of the socket in conjunction with the second cylinder rod. A falling device for a semiconductor device, comprising:
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