JP3014805B2 - 光ファイバ心線の対照方法 - Google Patents

光ファイバ心線の対照方法

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JP3014805B2 JP3155407A JP15540791A JP3014805B2 JP 3014805 B2 JP3014805 B2 JP 3014805B2 JP 3155407 A JP3155407 A JP 3155407A JP 15540791 A JP15540791 A JP 15540791A JP 3014805 B2 JP3014805 B2 JP 3014805B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ心線の対照
方法に関し、特に、実回線において、光ファイバの心線
対照を行う方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の心線対照法を簡単に説明しておく
(図2)。変調回路12により、低周波(270Hz、1KHz
等)に変調した測定用光源14の光を光ファイバ心線1
6に入射する。光ファイバ心線16に曲げ部18を作っ
ておくと、その部分から微量の光が洩れる。その洩れ光
20を受光素子22で受け、その電気出力を増幅器24
で増幅し、中心周波数が270Hz、1KHz等のバンドパスフ
ィルタ26を通し、変調された光成分に相当する信号だ
け取り出し、整流器28で直流に変換し、測定器30で
検出する(あるいはランプ等で表示する)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、この従
来技術を、本発明の目的である、実回線における光ファ
イバ心線の心線対照に利用することを考えてみる。図3
のように、実回線では、光通信用光信号34は、数MHz
で変調されており、使用周波数もまちまちであるため、
この中から心線対照用の特定周波数を検出することは困
難である。そのため一般的には図3のように、バンドパ
スフィルタ26を使わずに、光信号の平均パワーを検出
せざるを得ない。
【0004】そこで、図3のような回路で測定を行い、
図4の(a)のように、洩れ光20の光レベルとしてP
が得られたとする。ところが、光の無い光ファイバ心線
について同様に測定しても、(b)のように、pのレベ
ルの光が検出されるのである。
【0005】このpは、受光素子22の暗電流や外来光
などに起因するノイズ光によるものである。なお外来光
は、光ファイバの被覆を通過してコアに入る光や、受光
素子22を完全に遮光できないため直接受光素子22に
入る光などからなる。Pが大きくてpとの違いがはっき
り分かるときはよい。しかし、光通信用光源34からの
距離が大になって洩れ光20の光レベルが低いときは、
Pとpとの区別が判然としなくなり、検出が困難にな
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】図1のように、実回線の
光ファイバ心線16に曲げ部18を作り、その部分にお
ける洩れ光20の光レベルを受光素子22を含む測定回
路により測定して、光ファイバ心線の対照を行うに際し
て、1)前記受光素子22の暗電流の光レベルp1と、
2)前記光ファイバ心線16と同一構造であって光の入
射されていないダミー光ファイバ心線46について、前
記実回線の光ファイバ心線の場合と同一の条件で測定し
た洩れ光の光レベルp2、とを予め測定しておき、3)
それらの測定値p1,p2を、前記実回線における測定値
Pから差し引き、ノイズの影響を無くする。
【0007】
【解決手段の詳しい説明】[主回路]図1(a)の下段
に示したものが、それである。先に図2に示したもの
と、ほぼ同じである。簡単に述べると、光ファイバ心線
16に作った曲げ部18からの洩れ光20を受光素子2
2で受け、その電気出力を増幅器24で増幅し、整流器
28で直流に変換する。ここまでは、図2のものと同じ
である。整流器28の次に簡単な演算回路36を置き
(その働きは後記)、その出力を測定器30で検出す
る。
【0008】[暗電流の測定]図1(a)の上段の回路
で測定する。ここで用いる受光素子22,増幅器24,
整流器28,測定器30は、上記の主回路で用いるもの
と同じものである。受光素子22を遮光体38で完全に
遮光しておいて測定し、得られる光レベル(p1とす
る)の値をメモリ40に記憶しておく。
【0009】[外来光の測定]図1(a)の中段の回路
で測定する。この場合も、受光素子22,増幅器24,
整流器28,測定器30は、下段の主回路で用いるもの
と同じものを用いる。ダミー光ファイバ心線46は、被
対照の光ファイバ心線16と同一条件のものを採り、好
ましくは同一ケーブル内に収められ、同一構造で、特に
外来光に対して露出している部分の長さが同一であるこ
とが好ましい。ダミー光ファイバ心線46に光を入射し
ない状態で、曲げ部18からの洩れ光20を測定し、得
られる光レベル(p2とする)の値をメモリ42に記憶
しておく。
【0010】
【作 用】主回路(図1(a)下段)の整流器28まで
の回路で得られる洩れ光20の光レベルがPであるとす
る(図1(b))。このPを演算回路36に入力する。
同時に上記の暗電流測定回路のメモリ40に保存してお
いたp1と、外来光測定回路のメモリ42に保存してお
いたp2とを、演算回路36に入力する。演算回路36
において、P−(p1+p2)=p0の計算をし、p0を測
定器30で検出する。(p1+p2)は、上記のノイズに
よる光レベルp(図4(b))に等しい。したがって、
p0は、ノイズの影響を受けない、実回線における洩れ
光20の光レベルである。なお、p1,p2を差し引く手
段としては、数値に変換された測定値をメモリし演算す
る方法、ハードウェア的に加算器を構成する方法等が考
えられる。
【0011】これらの関係を、図1(b)に示した(左
のPから中央の(p1+p2=p)を差し引くと右のp0
になる)。
【0012】
【発明の効果】実回線の光ファイバ心線に曲げ部を作
り、その部分における洩れ光の光レベルを受光素子を含
む測定回路により測定して、光ファイバ心線の対照を行
うに際して、前記受光素子の暗電流の光レベルと、前記
光ファイバ心線と同一構造であって光の入射されていな
いダミー光ファイバ心線について、前記実回線の光ファ
イバ心線の場合と同一の条件で測定した洩れ光の光レベ
ル、とを予め測定しておき、それら暗電流の光レベルお
よびダミー心線における洩れ光の光レベルの測定値を、
前記実回線における測定値から差し引くので、(1)実
回線の光ファイバ心線16に光がある場合は、p0の値
が検出され、光ファイバ心線16に光が無い場合は、p
0はゼロになる。その関係は、上記図3、図4で述べた
程度の差ではなくて、有るか無いか、1か0か、であ
る。したがって、曲げ部18からの洩れ光20が非常に
低レベルであっても、間違いなく検出できる。(2)こ
れまでは、外来光の影響が条件において変化するため判
定が困難であったが、本方式では外来光の変化があって
も低レベルまで確実に判定が行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の実施例の説明図で、(b)は
各測定回路で検出する光レベルの関係の説明図。
【図2】従来の光ファイバ心線対照方法の説明図。
【図3】従来の心線対照法を実回線に使用した場合にお
ける問題点の説明図。
【図4】図3の方法で得られる光レベルとノイズによる
光レベルとを示す説明図。
【符号の説明】
12 変調回路 14 測定用光源 16 光ファイバ心線 18 曲げ部 20 洩れ光 22 受光素子 24 増幅器 26 バンドパスフィルタ 28 整流器 30 測定器 34 光通信用光信号 36 演算回路 38 遮光体 40,42 メモリ 46 ダミー光ファイバ心線

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 実回線の光ファイバ心線に曲げ部を作
    り、その部分における洩れ光の光レベルを受光素子を含
    む測定回路により測定して、光ファイバ心線の対照を行
    うに際して、前記受光素子の暗電流の光レベルと、前記
    光ファイバ心線と同一構造であって光の入射されていな
    いダミー光ファイバ心線について、前記実回線の光ファ
    イバ心線の場合と同一の条件で測定した洩れ光の光レベ
    ルとを、予め測定しておき、それら暗電流の光レベルお
    よびダミー心線における洩れ光の光レベルの測定値を、
    前記実回線における測定値から差し引く、光ファイバ心
    線の対照方法。
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