JP3012019B2 - ゲートバルブ - Google Patents
ゲートバルブInfo
- Publication number
- JP3012019B2 JP3012019B2 JP3067416A JP6741691A JP3012019B2 JP 3012019 B2 JP3012019 B2 JP 3012019B2 JP 3067416 A JP3067416 A JP 3067416A JP 6741691 A JP6741691 A JP 6741691A JP 3012019 B2 JP3012019 B2 JP 3012019B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- seal member
- vacuum seal
- valve
- gate valve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Sliding Valves (AREA)
- Details Of Valves (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空状態をとるエアロ
ック室と反応ガスより反応生成物を生成する反応室とを
隔離するために用いられるゲートバルブに関するもので
あり、特にバルブ本体に取付けられる真空シール部材の
耐久性を高めたゲートバルブに関するものである。
ック室と反応ガスより反応生成物を生成する反応室とを
隔離するために用いられるゲートバルブに関するもので
あり、特にバルブ本体に取付けられる真空シール部材の
耐久性を高めたゲートバルブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、真空を利用して所定の処理を行う
技術が様々な分野で広く活用されている。特に、高い精
度が要求される半導体や電子部品等の製造装置には、不
可欠な技術であり、真空度の異なる複数の真空室が使用
されている。これらの真空室間は隔壁によって区画さ
れ、この隔壁には製品を搬送させる都合上、ゲートが開
口されている。また、真空室間を隔離するためにゲート
を開閉するゲートバルブが設けらている。
技術が様々な分野で広く活用されている。特に、高い精
度が要求される半導体や電子部品等の製造装置には、不
可欠な技術であり、真空度の異なる複数の真空室が使用
されている。これらの真空室間は隔壁によって区画さ
れ、この隔壁には製品を搬送させる都合上、ゲートが開
口されている。また、真空室間を隔離するためにゲート
を開閉するゲートバルブが設けらている。
【0003】ゲートバルブは基本的に、ゲートに嵌合さ
れるバルブ本体と、バルブ本体をゲートバルブの開閉方
向に駆動させる操作ロッドと、隔壁に圧着するようにバ
ルブ本体に取付けられる真空シール部材とから構成され
る。この様な構成を有するゲートバルブにおいては、操
作ロッドの閉鎖方向への動作によりバルブ本体がゲート
を閉鎖し、真空シール部材が隔壁に圧着して真空室相互
の隔離を確保することができる。
れるバルブ本体と、バルブ本体をゲートバルブの開閉方
向に駆動させる操作ロッドと、隔壁に圧着するようにバ
ルブ本体に取付けられる真空シール部材とから構成され
る。この様な構成を有するゲートバルブにおいては、操
作ロッドの閉鎖方向への動作によりバルブ本体がゲート
を閉鎖し、真空シール部材が隔壁に圧着して真空室相互
の隔離を確保することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ゲート
バルブによって隔離される2つの真空室は、一方が真空
状態をとるエアロック室、他方が反応ガスを用いて一定
の処理を行う反応室となることがある。反応室として
は、主として半導体製造装置に用いられるドライエッチ
ング室が知られている。このドライエッチング室ではプ
ラズマガスによって半導体基板にドライエッチング処理
を行っている。
バルブによって隔離される2つの真空室は、一方が真空
状態をとるエアロック室、他方が反応ガスを用いて一定
の処理を行う反応室となることがある。反応室として
は、主として半導体製造装置に用いられるドライエッチ
ング室が知られている。このドライエッチング室ではプ
ラズマガスによって半導体基板にドライエッチング処理
を行っている。
【0005】しかしながら、この様な反応室を隔離する
ゲートバルブにおいては、従来より次のような問題点が
指摘されている。すなわち、反応室内では昇華反応によ
り反応ガスより反応生成物が生成される。反応ガスはゲ
ートとバルブ本体との僅かな隙間に入込むことができる
ため、反応生成物がバルブ本体の真空シール部材に付着
する。これにより、真空シール部材のシール性能が急速
に劣化する。
ゲートバルブにおいては、従来より次のような問題点が
指摘されている。すなわち、反応室内では昇華反応によ
り反応ガスより反応生成物が生成される。反応ガスはゲ
ートとバルブ本体との僅かな隙間に入込むことができる
ため、反応生成物がバルブ本体の真空シール部材に付着
する。これにより、真空シール部材のシール性能が急速
に劣化する。
【0006】例えば、反応生成物の付着により72〜1
00時間でバルブ機能が全く失われることもある。その
ため、真空シール部材のシール性能を確保するために真
空シール部材の交換作業を頻繁に行う必要があり、極め
て不経済であった。
00時間でバルブ機能が全く失われることもある。その
ため、真空シール部材のシール性能を確保するために真
空シール部材の交換作業を頻繁に行う必要があり、極め
て不経済であった。
【0007】本発明は以上のような課題を解決するため
に提案されたものであり、その目的は、真空シール部材
の耐久性を向上させ、バルブ機能を長期にわたり維持す
ることができるゲートバルブを提供することである。
に提案されたものであり、その目的は、真空シール部材
の耐久性を向上させ、バルブ機能を長期にわたり維持す
ることができるゲートバルブを提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明は、真空状態をとるエアロック室と反応ガ
スより反応生成物が生成される反応室との隔壁にゲート
が開口され、このゲートを開閉するゲートバルブにおい
て、前記ゲートに嵌合されるバルブ本体と、該バルブ本
体をゲートバルブの開閉方向に駆動させる操作ロッド
と、前記隔壁に圧着するように前記バルブ本体に取付け
られる真空シール部材と、前記真空シール部材に近接し
且つ前記隔壁と接触しないように設けられ、前記真空シ
ール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込み、該真
空シール部材への反応ガスの流入を遮るリフレクタとを
備えたことを特徴とする。
めに、本発明は、真空状態をとるエアロック室と反応ガ
スより反応生成物が生成される反応室との隔壁にゲート
が開口され、このゲートを開閉するゲートバルブにおい
て、前記ゲートに嵌合されるバルブ本体と、該バルブ本
体をゲートバルブの開閉方向に駆動させる操作ロッド
と、前記隔壁に圧着するように前記バルブ本体に取付け
られる真空シール部材と、前記真空シール部材に近接し
且つ前記隔壁と接触しないように設けられ、前記真空シ
ール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込み、該真
空シール部材への反応ガスの流入を遮るリフレクタとを
備えたことを特徴とする。
【0009】
【作用】以上の構成を有する本発明において、反応室内
での反応生成物は気相から固相に変化するいわゆる昇華
反応により生じるものである。そのため、リフレクタが
真空シール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込ん
で該真空シール部材への反応ガスの流入を遮ることによ
って、反応生成物の真空シール部材への付着量を大幅に
削減することができる。これにより、真空シール部材の
シール性能の劣化を抑止することができる。
での反応生成物は気相から固相に変化するいわゆる昇華
反応により生じるものである。そのため、リフレクタが
真空シール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込ん
で該真空シール部材への反応ガスの流入を遮ることによ
って、反応生成物の真空シール部材への付着量を大幅に
削減することができる。これにより、真空シール部材の
シール性能の劣化を抑止することができる。
【0010】
【実施例】以上説明したような本発明のゲートバルブの
一実施例を図1に基づいて説明する。図1は本実施例を
用いた半導体製造装置の一例であり、ゲートバルブの閉
鎖状態を示している。また、図2及び図3は本実施例の
側面断面図であり、図2はゲートバルブの開放状態、図
3はゲートバルブの閉鎖状態を示す。
一実施例を図1に基づいて説明する。図1は本実施例を
用いた半導体製造装置の一例であり、ゲートバルブの閉
鎖状態を示している。また、図2及び図3は本実施例の
側面断面図であり、図2はゲートバルブの開放状態、図
3はゲートバルブの閉鎖状態を示す。
【0011】図1に示すように、真空状態をとるエアロ
ック室1と、反応ガスgより反応生成物が生成される反
応室2とは、隔壁3によって隔離されている。隔壁3に
は半導体基板等を搬送するためにゲート4が開口されて
おり、このゲート4を開閉するようにゲートバルブ5が
設けられている。
ック室1と、反応ガスgより反応生成物が生成される反
応室2とは、隔壁3によって隔離されている。隔壁3に
は半導体基板等を搬送するためにゲート4が開口されて
おり、このゲート4を開閉するようにゲートバルブ5が
設けられている。
【0012】図2及び図3に示すように、ゲートバルブ
5は、ゲート4に嵌合するバルブ本体6と、バルブ本体
6を開閉方向に駆動させる操作ロッド7とを備えてい
る。操作ロッド7はバルブ本体6の反応室2側に設置さ
れており、バルブ本体6はゲート4に対してエアロック
室1側から嵌合されるようになっている。また、バルブ
本体6の反応室2側の周囲には、真空シール部材である
Oリング8が隔壁3に圧着するように取付けられてい
る。
5は、ゲート4に嵌合するバルブ本体6と、バルブ本体
6を開閉方向に駆動させる操作ロッド7とを備えてい
る。操作ロッド7はバルブ本体6の反応室2側に設置さ
れており、バルブ本体6はゲート4に対してエアロック
室1側から嵌合されるようになっている。また、バルブ
本体6の反応室2側の周囲には、真空シール部材である
Oリング8が隔壁3に圧着するように取付けられてい
る。
【0013】更に、Oリング8に近接してOリング8の
内周側に、リフレクタ9が設けられている。このリフレ
クタ9は、バルブ本体6がゲート4に嵌合される際に、
隔壁3と接触しないようにして構成されており、Oリン
グ8への反応ガスgの流入を遮るようになっている。
内周側に、リフレクタ9が設けられている。このリフレ
クタ9は、バルブ本体6がゲート4に嵌合される際に、
隔壁3と接触しないようにして構成されており、Oリン
グ8への反応ガスgの流入を遮るようになっている。
【0014】以上の構成を有する本実施例において、ゲ
ートバルブ5が閉鎖動作をとる場合、図2から図3に移
行する。すなわち、操作ロッド7が図中左上方に移動
し、バルブ本体6がゲート4に嵌合する。この時、Oリ
ング8が隔壁3に圧着してエアロック室1と反応室2と
を隔離することができる。
ートバルブ5が閉鎖動作をとる場合、図2から図3に移
行する。すなわち、操作ロッド7が図中左上方に移動
し、バルブ本体6がゲート4に嵌合する。この時、Oリ
ング8が隔壁3に圧着してエアロック室1と反応室2と
を隔離することができる。
【0015】バルブ本体6がゲート4に嵌合された際、
リフレクタ9がOリング8への反応ガスgの流入を遮
る。そのため、反応生成物のOリング8への付着が抑制
される。これにより、Oリング8のシール性能の劣化を
抑止することができる。これにより、Oリング8の耐久
性は向上し、ゲートバルブ5のバルブ機能は長期にわた
り維持される。
リフレクタ9がOリング8への反応ガスgの流入を遮
る。そのため、反応生成物のOリング8への付着が抑制
される。これにより、Oリング8のシール性能の劣化を
抑止することができる。これにより、Oリング8の耐久
性は向上し、ゲートバルブ5のバルブ機能は長期にわた
り維持される。
【0016】また、ゲートバルブ5の開閉動作時に、リ
フレクタ9は隔壁3と非接触である。そのため、ゲート
バルブ5の開閉動作時に埃塵が発生することがない。従
って、本実施例のゲートバルブ5は、高精度が要求され
る半導体製造装置等への適用に問題がなく、エアロック
室1と反応室2とを隔離するバルブとして高い信頼性を
確保することができる。
フレクタ9は隔壁3と非接触である。そのため、ゲート
バルブ5の開閉動作時に埃塵が発生することがない。従
って、本実施例のゲートバルブ5は、高精度が要求され
る半導体製造装置等への適用に問題がなく、エアロック
室1と反応室2とを隔離するバルブとして高い信頼性を
確保することができる。
【0017】なお、本発明は、上記の一実施例に限定さ
れるものではなく、各部材の形状、寸法等は適宜変更可
能である。
れるものではなく、各部材の形状、寸法等は適宜変更可
能である。
【0018】
【発明の効果】以上述べたように、本発明のゲートバル
ブによれば、バルブ本体に取付けられる真空シール部材
に近接し且つ隔壁と接触しないように設けられ、真空シ
ール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込んで真空
シール部材への反応ガスの流入を遮るリフレクタを備え
るという極めて簡単な構成によって、反応生成物の真空
シール部材への付着量が大幅に減少する。従って、真空
シール部材の耐久性が向上し、バルブ機能の長期化が可
能となり、真空シール部材の交換回数を削減することに
より、優れた経済性を発揮することができる。
ブによれば、バルブ本体に取付けられる真空シール部材
に近接し且つ隔壁と接触しないように設けられ、真空シ
ール部材へ流れる反応ガスのガス流路を絞り込んで真空
シール部材への反応ガスの流入を遮るリフレクタを備え
るという極めて簡単な構成によって、反応生成物の真空
シール部材への付着量が大幅に減少する。従って、真空
シール部材の耐久性が向上し、バルブ機能の長期化が可
能となり、真空シール部材の交換回数を削減することに
より、優れた経済性を発揮することができる。
【0019】また、ゲートバルブの動作時にリフレクタ
は隔壁と接触することがなく、エアロック室及び反応室
に発塵がないため、高精度が求められる半導体や電子部
品等の製造装置に適用されるバルブとして、高い信頼性
を確保できる。
は隔壁と接触することがなく、エアロック室及び反応室
に発塵がないため、高精度が求められる半導体や電子部
品等の製造装置に適用されるバルブとして、高い信頼性
を確保できる。
【図1】本発明の一実施例であるゲートバルブを用いた
半導体製造装置の側面断面図。
半導体製造装置の側面断面図。
【図2】本実施例のゲートバルブの側面断面図であり、
ゲートバルブの開放状態を示す。
ゲートバルブの開放状態を示す。
【図3】本実施例のゲートバルブの側面断面図であり、
ゲートバルブの閉鎖状態を示す。
ゲートバルブの閉鎖状態を示す。
1 エアロック室 2 反応室 3 隔壁 4 ゲート 5 ゲートバルブ 6 バルブ本体 7 操作ロッド 8 Oリング 9 リフレクタ g 反応ガス
Claims (1)
- 【請求項1】 真空状態をとるエアロック室と反応ガス
より反応生成物を生成する反応室とを隔離する隔壁にゲ
ートが開口され、このゲートを開閉するゲートバルブに
おいて、 前記ゲートに嵌合されるバルブ本体と、 該バルブ本体をゲートバルブの開閉方向に駆動させる操
作ロッドと、 前記隔壁に圧着するように前記バルブ本体に取付けられ
る真空シール部材と、 前記真空シール部材に近接し且つ前記隔壁と接触しない
ように設けられ、前記真空シール部材へ流れる反応ガス
のガス流路を絞り込み、該真空シール部材への反応ガス
の流入を遮るリフレクタと、 を備えたことを特徴とするゲートバルブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3067416A JP3012019B2 (ja) | 1991-03-30 | 1991-03-30 | ゲートバルブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3067416A JP3012019B2 (ja) | 1991-03-30 | 1991-03-30 | ゲートバルブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04302780A JPH04302780A (ja) | 1992-10-26 |
JP3012019B2 true JP3012019B2 (ja) | 2000-02-21 |
Family
ID=13344287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3067416A Expired - Fee Related JP3012019B2 (ja) | 1991-03-30 | 1991-03-30 | ゲートバルブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3012019B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180021561A (ko) * | 2016-08-22 | 2018-03-05 | 삼성전자주식회사 | 슬릿 밸브 장치 및 이를 이용한 기판 처리 설비 |
-
1991
- 1991-03-30 JP JP3067416A patent/JP3012019B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180021561A (ko) * | 2016-08-22 | 2018-03-05 | 삼성전자주식회사 | 슬릿 밸브 장치 및 이를 이용한 기판 처리 설비 |
KR102523112B1 (ko) | 2016-08-22 | 2023-04-18 | 삼성전자주식회사 | 슬릿 밸브 장치 및 이를 이용한 기판 처리 설비 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04302780A (ja) | 1992-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7422653B2 (en) | Single-sided inflatable vertical slit valve | |
US6612546B2 (en) | Gate valve with delayed retraction of counter plate | |
US7159846B2 (en) | Slit valve for a semiconductor processing system | |
KR940012569A (ko) | 미소-환경 콘테이너 연결방법 및 미소 환경 하중 로크 | |
JP2635099B2 (ja) | 真空ロードロツクを具えたプラズマ反応装置 | |
US6173938B1 (en) | Two speed air cylinder for slit valve motion control | |
US6764265B2 (en) | Erosion resistant slit valve | |
WO2002001097A3 (en) | Dual pendulum valve assembly with valve seat cover | |
KR0168322B1 (ko) | 로우드록 게이트 장치 | |
US20020033462A1 (en) | Vacuum exhaust valve | |
US7007919B2 (en) | Slit valve method and apparatus | |
KR100337278B1 (ko) | 용기 및 용기 밀봉 방법 | |
JP3012019B2 (ja) | ゲートバルブ | |
KR102173561B1 (ko) | 슬라이드 방식의 진공 게이트 밸브 | |
KR101170626B1 (ko) | 플라즈마를 이용한 기판처리장치 | |
JP2001004039A (ja) | バルブ用シール | |
WO2000074124A1 (fr) | Appareil de fabrication d'un dispositif a semi-conducteurs | |
KR200492544Y1 (ko) | 진공 게이트 밸브에 적용되는 기밀유지장치 | |
KR20020085346A (ko) | 리액터 챔버의 기밀 유지 장치 | |
JP2002368075A (ja) | 容器および容器の封止方法 | |
JPS63289385A (ja) | 真空処理装置用バルブ | |
JP6405067B1 (ja) | ゲートバルブの制御方法 | |
TWI484531B (zh) | 閥門總成以及閥門 | |
KR19990051420A (ko) | 챔버를 포함하는 반도체 장치 제조용 장비의 인 아웃 윈도우 슬릿 밸브 | |
KR20000021269A (ko) | 로드락 챔버의 개폐장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |