JP3005908B2 - 画素密度可変制御方式 - Google Patents

画素密度可変制御方式

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JP3005908B2
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勝 高橋
雅洋 山本
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哲朗 笹本
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体レーザからのレーザ光を走査して感光
体上に照射するとともにポリゴンミラーの回転速度等を
変更して画素密度を可変とする画像形成装置の画素密度
可変制御方式に関する。
(従来の技術) 例えば、レーザプリンタは、マトリクス状に配列され
る多数の画素により画像形成される画像形成装置であ
り、画像信号に応じてオンオフするように変調された走
査光により感光体上に画素による潜像を形成し、トナー
現像によって可視像を得て普通紙に転写した後これを定
着するようにしたものである。
また、レーザプリンタは、レーザ光の高速変調が可能
であるため、高速且つ高品位の印字やグラフィック記録
が実現でき、このため、コンピュータを使用した各種デ
ータ処理システムや画像作成システムの出力装置して、
広い用途を有している。
ところで、ホストコンピュータから出力される画像信
号の画素密度は種々異なったものがあり、これらの出力
を受けて正常な画像をプリントするには、レーザプリン
タの画素密度をこれらに合わせて可変とする必要があ
る。
また、同一の画素構成のキャラクタージェネレータを
用いて印字の大きさを変えるためにも、レーザプリンタ
の画素密度を可変することが必要である。
画素密度を可変することのできるレーザプリンタにお
いては、式(1)に示す関係から感光体線速v,ポリゴン
ミラー回転速度Rm,画素クロックWの少なくとも2つを
変化させなくてはならない。
また、画素密度を可変にするということは、画素径も
可変させなくては良質な印字品質を保証できない。画素
径を可変させるには、アパーチャ,シリンダーレンズ,
半導体レーザの発光量等を変えてやる必要ある。
画素径を変化させる場合の各例を第5図に示し、
(a)は200dpiの画素径で200dpiのピッチでプリントし
た場合、(b)は400dpiの画素径で400dpiのピッチでプ
リントした場合で、何れも良質な画像が得られる。
これに対し、(c)は200dpiの画素径で400dpiのピッ
チでプリントした場合で、隣接ドットが重なり合ってし
まうため、解像度が著しく悪くなる。また、(c)の場
合と逆に(d)は400dpiの画素径で200dpiのピッチでプ
リントした場合は、白ヌケ部分が出来てしまい、ベタ画
像の画像が保証できなくなる。このように画素密度を可
変にすることはそれに応じた画素径を設定する必要があ
る。
(発明が解決しようとする課題) 第2図は主走査方向光書込みタイミングのイベント信
号の位置関係を示す。各イベント信号(a)ないし
(e)の変化点の前後関係は、画素密度dpi,通紙サイズ
ごとに固定し、各変化点の間隔T1ないしT4は、後述する
主制御部のマイクロコンピュータ(CPU)に内蔵のRAMに
格納された主走査制御データに基づいて決定される。
各イベント信号の意味を簡単に説明すると、 (a)のDETPは同期検知センサー28(第1図)で検知
された同期検知信号であって、主走査制御開始タイミン
グを作っている。
(b)のLGATEBはラインゲート信号であって、1ライ
ンの主走査方向の有効画像範囲を示す。
(c)のSYNCOBは同期検知信号DETPを得るために、同
期検知センサ直前に半導体レーザを点灯させ、同期検知
信号DETPが検知され次第、半導体レーザを消灯させる信
号。
(d)のOTERRは同期検知エラー信号であって、所定
の時間に同期検知信号DETPが検知されなかったときに、
アクティブ(Lレベル)になる。
(e)のVIDEOはビデオ信号であって、実際に半導体
レーザをON/OFFさせる。つまり、ラインゲート信号LGAT
EBの有効画像範囲と、信号SYNCOBの同期検知直前で点灯
させる。
通常のプリント動作中、VIDEO信号(半導体レーザ点
灯)は、LGATEBとSYNCOBであり、動作の待機時はSYNCOB
のみである。
レーザプリンタへ例えばコントローラからコマンドで
画素密度情報が送られて画素密度を可変する場合、具体
的にはポリゴンミラーの回転速度,画素クロック,アパ
ーチャを可変させたとき、可変制御を開始してから終了
するまでの間というのは、主走査方向光書込みタイミン
グのイベント信号を作成できない。つまり、可変制御の
開始から終了までの間は、感光体面上にどのように半導
体レーザが射出されるかわからない。例えば、画素密度
dpiを高密度から低密度に可変させた場合、画素クロッ
ク,アパーチャの可変が終了し、ポリゴンミラー回転速
度が未終了時、SYNCOB信号が出力されたときには、既に
次の同期検知信号DETPを過ぎてしまいタイミングがずれ
ているため、このまま、当該同期検知信号DETPまで半導
体レーザを不要に点灯させてしまう。
このようなことが起きると、感光体面を無駄に疲労さ
せ、かつトナーを消費するという問題があった。
本発明はこのような問題点を解消するため、画素密度
制御開始から終了時までの間は、主走査方向光書込みタ
イミングのイベント信号に関係なく半導体レーザを一斉
に点灯させないことを目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は上記課題を解決し目的を達成するため半導体
レーザからのレーザ光を走査して感光体上に照射すると
ともにポリゴンミラーの回転速度等を変更して画素密度
を可変とする画像形成装置の画素密度可変制御方式にお
いて、 前記画像形成装置に画素密度情報の変更が入力された
ときにポリゴンミラー回転速度可変,画素クロック可
変,アパーチャ切替え制御等の画素密度可変制御開始時
に、前記半導体レーザを一斉消灯させ、前記画素密度可
変制御終了時に再び所定タイミングで半導体レーザを点
灯させることを特徴とする。
(作 用) 本発明は画素密度及び画素径の可変動作中は、半導体
レーザを一斉消灯させ感光体面上にレーザ光が到達せ
ず、感光体の劣化,無駄なトナー消費を防ぐことができ
る。
(実施例) 第3図は本発明が実施されるレーザ書込み光学系の一
例図を示し、LDユニット1内の半導体レーザ(LD)から
書込み画像(VIDEO信号)に応じて射出されたレーザ光
が、内部のコリメートレンズで平行光収束されてアパー
チャ部材で所定のビーム径に整形され射出される。
そして、レーザ光は第1シリンドリカルレンズ2を通
過して第1ミラー3で反射されてスフエリカルレンズ4
で集光されと共に上方に屈折されてポリゴンモータ5で
回転されるポリゴンミラー6のミラー面6aに入射され
る。
このミラー面6aで反射されたレーザ光は、更に第2ミ
ラー7で反射されて第2シリンドリカルレンズ8を介し
て感光体9上に照射される。このとき、ポリゴンミラー
6の矢印A方向への回転によってレーザ光は感光体9上
に矢印B方向へ主走査する走査光となる。この主走査は
ポリゴンミラー6の各ミラー面6aごとに繰返され、同時
に感光体9が主走査方向(矢印B)と直交する方向(副
走査方向・矢印C)に回転することによって、該感光体
上に書込み画像に応じた静電潜像が形成される。
一方、ポリゴンミラー6のミラー面6aで反射されたレ
ーザ光は、感光体9を走査するごとに第3ミラー10に入
射されて、第3シリンドリカルレンズ11を介して光ファ
イバ12に入射され、主制御部(前記CPU)基板上の同期
検知センサ28(第1図)に導かれ、前記第2図でのべた
同期検知信号DETPを得、主走査開始タイミングが制御さ
れる。
ところで、上述した画素径を可変させる要因としてレ
ーザビーム径,レーザパワー,レーザ点灯時間,アクセ
ス条件等の可変制御手段であるが、本発明においては、
第4図に示すようなLDユニット1内(第3図)のアパー
チャのスリット幅を変えることよりレーザビーム径を可
変ならしめる手段を用いる。
第4図はLDユニット1内に設けられたアパーチャ部材
の一例を示す斜視図である。図に例示するように小型パ
ルスモータ13と噛合うラック14を有し、アパーチャ15に
は、複数のレーザ光整形用のスリット16を有し、かつア
パーチャ15の右端にはホームポジションセンサ17が配設
されている。
即ち、コントローラ20(第1図)からのコマンド、或
いはデイップスイッチ25から画素径が指示されたとき、
小型パルスモータ13が回転し、ラック14と噛合うことに
より矢印DまたはD′方向へラック14がガイド溝18に沿
って移動する。この結果、レーザ光Lの光路を横切り乍
ら所定の画素径が得られるスリット16の位置で停止させ
る。
第1図は本発明方式を実施させる制御回路のブロック
図を示す。図において、19は主制御部(CPU)で、非同
期シリアルポートl1を介してコントローラ20と、データ
バス及びアドレスバスl2を介してCPUの動作プログラム
を格納してあるROM21と、バスl3を介して、ポリゴンモ
ータの画素クロックを調整するタイマー22及びポリゴン
モータ・コントロール23と、データバス及びアドレスバ
スl4を介してI/Oポート24と、更に入力ポートl5を介し
て画素密度情報を入力するディップ・スイッチ(DIP・S
W)25及び出力ポートl6を介してアパーチャコントロー
ル26と、また、データバス及びアドレスバスl7を介して
書込み制御部ゲートアレイ27と、へ夫々接続されてい
る。
この書込み制御部ゲートアレイ27は、内部レジスタ27
A,主走査制御部27B,自動パワー制御部(APC)27C及びビ
デオI/F27Dで構成される。上記主走査制御部27Bには第
3図でのべた同期検知センサ28から第2図に示す同期検
知信号DETPが入力され、ラインゲート(LGATE)信号が
出力される。また、自動パワー制御部27CからはLDユニ
ット1に対するLDパワーが出力され一定の発光強度に制
御される。CPU19には画素密度dpiの情報がコントローラ
20からコマンドで入力されるか、またはI/Oポート24を
介して画素密度dpi情報がディップ・スイッチ25から予
めセットされる。CPU19はI/Oポート24を介してアパーチ
ャコントロール26により第4図に示した小型パルスモー
タ13を駆動して、前記画素密度dpiの情報に相当する画
素径を有するスリット16の1つを選択する。
また、CPU19はタイマー22により画素クロックを調整
し、ポリゴンモータコントロール23により、ポリゴンモ
ータ5の回転数を前記画素密度dpiの情報に合った回転
数に制御する。
このようにして、CPU19はROM21に格納されたプログラ
ムに従い動作を開始するが、コントローラ20からは画像
情報信号WDATAがCPU19及び書込み制御部ゲートアレイ27
へ出力される。
書込み制御部ゲートアレイ27においては、内部レジス
タ27Aで動作タイミングがとられ、ビデオI/Fを介して画
像情報信号WDATAがビデオ信号(VIDEO)としてLDユニッ
ト1の半導体レーザ(LD)へ出力される。
同様に内部レジスタ27Aで動作タイミングがとられる
主走査制御部27Bからラインゲート信号LGATEBが同期検
知信号DETPから時間T1後(第2図)に出力する。また、
自動パワー制御部27CからはLDユニット1のLDパワー制
御信号が出力される。
本発明は上記動作において、コントローラ20からコマ
ンドで、或いはディップ・スイッチ25による画素密度情
報で画素密度dpiを変更する場合、CPU19でタイマー22に
対して画素クロック,ポリゴンモータコントロール23を
夫々制御しポリゴンミラー6の回転速度,アパーチャコ
ントロール26でアパーチャスリット幅の夫々について可
変制御を開始してから終了するまでの間、CPU19は内部
レジスタ27Aを介して主走査方向光書込みタイミング
(第2図)に関係なく、半導体レーザ(LD)を一斉点灯
させないようにビデオ信号VIDEOを第2図においてHレ
ベルのままとする。
このようにすることで、タイマー22により画素クロッ
ク調整、そして、ポリゴンモータコントロール23による
ポリゴンミラー6の画素密度対応の回転数になるまでの
間、無駄なレーザ光による感光体9への射出を防止でき
る。また、半導体レーザ(LD)を一斉点灯させないこと
により、同期検知センサ28からの同期検知信号DETPが入
力されないことによる同期検知エラー信号OTERR(Lレ
ベル)も出力されない。
そして、画素密度に対応したアパーチャ15による画素
径の調整、ポリゴンモータコントロール23によるポリゴ
ンミラー6の回転数が調整された後に、半導体レーザ
(LD)の点灯(ビデオ信号VIDEO)を行うことにより、
第2図に示す主走査方向光書込みタイミングで正常な書
込み動作を行うことができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は入力画素密度情報に応じ
て、画素密度及び画素径が調整可能中は、半導体レーザ
を一斉に消灯させるので、感光体上にレーザ光が到達せ
ず感光体の劣化や、無駄なトナー消費を防ぐことができ
る。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明方式を実施させる制御回路のブロック
図、第2図は本発明の動作を説明する主走査方向光書込
みタイミングのイベント信号の位置関係を示す図、第3
図は本発明が実施されるレーザ書込み光学系の一例図、
第4図はLDユニット内に設けられたアパーチャ部材の一
例を示す斜視図、第5図は画素径を変化させる場合の各
例を示す図である。 19……主制御部のマイクロコンピュータ(CPU)、20…
…コントローラ、21……ROM、22……タイマー、23……
ポリゴンモータコントロール、24……I/Oポート、25…
…ディップ・スイッチ(DIP・SW)、26……アパーチャ
コントロール、27……書込み制御部ゲートアレイ、27A
……内部レジスタ、27B……主走査制御部、27C……自動
パワー制御部(APC)、27……ビデオI/F、28……同期検
知センサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 勝 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 山本 雅洋 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 千間 俊孝 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 林 崇雅 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 磯部 卓人 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (72)発明者 笹本 哲朗 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株 式会社リコー内 (56)参考文献 特開 昭63−108852(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 26/10

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体レーザからのレーザ光を走査して感
    光体上に照射するとともにポリゴンミラーの回転速度等
    を変更して画素密度を可変とする画像形成装置の画素密
    度可変制御方式において、 前記画像形成装置に画素密度情報の変更が入力されたと
    きにポリゴンミラー回転速度可変,画素クロック可変,
    アパーチャ切替え制御等の画素密度可変制御開始時に、
    前記半導体レーザを一斉消灯させ、前記画素密度可変制
    御終了時に再び所定タイミングで半導体レーザを点灯さ
    せることを特徴とする画素密度可変制御方式。
JP22559390A 1990-08-28 1990-08-28 画素密度可変制御方式 Expired - Lifetime JP3005908B2 (ja)

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