JP2997344B2 - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JP2997344B2 JP2997344B2 JP3227371A JP22737191A JP2997344B2 JP 2997344 B2 JP2997344 B2 JP 2997344B2 JP 3227371 A JP3227371 A JP 3227371A JP 22737191 A JP22737191 A JP 22737191A JP 2997344 B2 JP2997344 B2 JP 2997344B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- stop
- photometric device
- light receiving
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被写体の輝度を測定
するカメラの測光装置に関し、特に被写体の一部の輝度
を測定するスポット測光が可能な装置に関する。
するカメラの測光装置に関し、特に被写体の一部の輝度
を測定するスポット測光が可能な装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、カメラの測光装置には画面全
体の明るさを測定する全体測光の装置と、画面の中の一
部の狭い領域の明るさを測定するスポット測光の装置と
が用いられている。
体の明るさを測定する全体測光の装置と、画面の中の一
部の狭い領域の明るさを測定するスポット測光の装置と
が用いられている。
【０００３】スポット測光を行なうためには、受光素子
に入射する光束の範囲を厳密に制限するために、受光素
子は光束の集光する位置に配置される。
に入射する光束の範囲を厳密に制限するために、受光素
子は光束の集光する位置に配置される。
【０００４】測光装置に用いられる受光素子としては、
ＣｄＳ素子、ＳＰＤ(セルフォトダイオード)等がある。
ＣｄＳ素子はＳＰＤと比較して安価であるため、コスト
ダウンのためにはＣｄＳ素子を用いたいという要望があ
る。
ＣｄＳ素子、ＳＰＤ(セルフォトダイオード)等がある。
ＣｄＳ素子はＳＰＤと比較して安価であるため、コスト
ダウンのためにはＣｄＳ素子を用いたいという要望があ
る。
【０００５】ＣｄＳ素子は、受光面に蛇行した受光パタ
ーンが設けられ、このパターン全体へ照射される光束の
エネルギーに応じて抵抗値が変化する。測光装置は、こ
の抵抗値の変化を検出して被写体の輝度を測定する。
ーンが設けられ、このパターン全体へ照射される光束の
エネルギーに応じて抵抗値が変化する。測光装置は、こ
の抵抗値の変化を検出して被写体の輝度を測定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＣｄＳ
素子をスポット測光に用いるために集光位置に合わせて
配置すると、蛇行した受光パターンの隙間部分に光束が
集光する場合があり、正確に被写体の輝度を測定するこ
とができない。したがって、従来はスポット測光には高
価なＳＰＤが用いられており、装置のコストアップを招
いている。
素子をスポット測光に用いるために集光位置に合わせて
配置すると、蛇行した受光パターンの隙間部分に光束が
集光する場合があり、正確に被写体の輝度を測定するこ
とができない。したがって、従来はスポット測光には高
価なＳＰＤが用いられており、装置のコストアップを招
いている。
【０００７】
【発明の目的】この発明は、上述した従来技術の課題に
鑑みてなされたものであり、蛇行する受光パターンを有
するＣｄＳ素子等の受光素子を用いた場合にも、スポッ
ト測光が可能な測光装置を提供することを目的とする。
鑑みてなされたものであり、蛇行する受光パターンを有
するＣｄＳ素子等の受光素子を用いた場合にも、スポッ
ト測光が可能な測光装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる測光装
置は、上記の目的を達成させるため、被写体からの光束
を集光させる集光レンズと、集光レンズの後方に設けら
れて光束の取り込み範囲を規制する第１の絞りと、集光
レンズの集光位置にほぼ一致して設けられ、光束の取り
込み範囲を更に規制する第２の絞りと、第２の絞りの後
方に設けられて第１、第２の絞りによって絞られた光束
を受光する受光素子とを備えることを特徴とする。
置は、上記の目的を達成させるため、被写体からの光束
を集光させる集光レンズと、集光レンズの後方に設けら
れて光束の取り込み範囲を規制する第１の絞りと、集光
レンズの集光位置にほぼ一致して設けられ、光束の取り
込み範囲を更に規制する第２の絞りと、第２の絞りの後
方に設けられて第１、第２の絞りによって絞られた光束
を受光する受光素子とを備えることを特徴とする。
【０００９】
【実施例】以下、この発明を図面に基づいて説明する。
【００１０】実施例の測光装置は、図１に示されるよう
に、被写体からの光束を集光させる被写体側に凸面を向
けた正のメニスカスレンズである集光レンズ１と、この
集光レンズ１の後方に設けられて光束の範囲を規制する
第１の絞り２と、集光位置近傍に設けられた第２の絞り
３と、第２の絞り３より後方に設けられた受光素子とし
てのＣｄＳ素子４とから構成されている。
に、被写体からの光束を集光させる被写体側に凸面を向
けた正のメニスカスレンズである集光レンズ１と、この
集光レンズ１の後方に設けられて光束の範囲を規制する
第１の絞り２と、集光位置近傍に設けられた第２の絞り
３と、第２の絞り３より後方に設けられた受光素子とし
てのＣｄＳ素子４とから構成されている。
【００１１】ＣｄＳ素子４を集光位置より後方に配置
し、２枚の絞り２、３を設けることにより、ＣｄＳ素子
４に取り込まれる光束の範囲を正確にコントロールする
ことができる。
し、２枚の絞り２、３を設けることにより、ＣｄＳ素子
４に取り込まれる光束の範囲を正確にコントロールする
ことができる。
【００１２】ＣｄＳ素子４は、図２に示すように受光面
に蛇行した受光パターン４ａが形成されており、このパ
ターン全体に対する受光量によって抵抗値が変化する。
図示せぬ測光回路は、ＣｄＳ素子４の抵抗値の変化を検
出することにより被写体の輝度を測定する。
に蛇行した受光パターン４ａが形成されており、このパ
ターン全体に対する受光量によって抵抗値が変化する。
図示せぬ測光回路は、ＣｄＳ素子４の抵抗値の変化を検
出することにより被写体の輝度を測定する。
【００１３】このように蛇行した受光パターンを有する
受光素子を用いる場合、受光素子を集光位置に配置する
と前述したようにパターンの間隙部分に集光して測光が
できない場合があるため、集光位置からずらして配置す
る必要がある。
受光素子を用いる場合、受光素子を集光位置に配置する
と前述したようにパターンの間隙部分に集光して測光が
できない場合があるため、集光位置からずらして配置す
る必要がある。
【００１４】集光位置からずらすという意味では、集光
位置より集光レンズに近付く側、遠ざかる側のいずれに
配置してもよいこととなるが、スポット測光に用いる場
合には、集光位置より後方に配置する必要がある。Ｃｄ
Ｓ素子４を集光位置より集光レンズ１側に設けた場合に
は、例えば図３に示すように実線で示した測光すべき範
囲からの光束の他に、破線で示した他の領域からの光束
の一部をも受光することとなり、正確なスポット測光が
できなくなる。集光位置より後方に配置して第２の絞り
を設けることにより、測光対象となる領域以外からの光
束がＣｄＳ素子４に入射することを避けることができ
る。
位置より集光レンズに近付く側、遠ざかる側のいずれに
配置してもよいこととなるが、スポット測光に用いる場
合には、集光位置より後方に配置する必要がある。Ｃｄ
Ｓ素子４を集光位置より集光レンズ１側に設けた場合に
は、例えば図３に示すように実線で示した測光すべき範
囲からの光束の他に、破線で示した他の領域からの光束
の一部をも受光することとなり、正確なスポット測光が
できなくなる。集光位置より後方に配置して第２の絞り
を設けることにより、測光対象となる領域以外からの光
束がＣｄＳ素子４に入射することを避けることができ
る。
【００１５】集光レンズ１を１枚の正レンズで構成する
場合、球面収差は必ずアンダーとなり、像高によって集
光点が変化する。第２の絞り３は、集光レンズ１の球面
収差がアンダーとなる像高の高い部分集光位置に合わ
せ、ガウス像面より集光レンズ１側に配置されている。
このような配置により第２の絞りとＣｄＳ素子４との間
隔を大きく確保することができ、ＳＰＤ等の受光素子と
比較して比較的大きなＣｄＳ素子４を余裕をもって取り
付けることができる。
場合、球面収差は必ずアンダーとなり、像高によって集
光点が変化する。第２の絞り３は、集光レンズ１の球面
収差がアンダーとなる像高の高い部分集光位置に合わ
せ、ガウス像面より集光レンズ１側に配置されている。
このような配置により第２の絞りとＣｄＳ素子４との間
隔を大きく確保することができ、ＳＰＤ等の受光素子と
比較して比較的大きなＣｄＳ素子４を余裕をもって取り
付けることができる。
【００１６】また、２枚の絞り２、３がいずれも集光レ
ンズとＣｄＳ素子との間に配置されているため、これら
をユニットとして一体に組み立てておくことにより、カ
メラに組込んだ後の調整を不要とすることができる。
ンズとＣｄＳ素子との間に配置されているため、これら
をユニットとして一体に組み立てておくことにより、カ
メラに組込んだ後の調整を不要とすることができる。
【００１７】集光レンズ１としては、上記の実施例で示
したメニスカスレンズの他に、図４に示されるような凸
平レンズとしてもよい。正レンズとして機能させるため
には、両凸レンズとすることも理論上は可能であるが、
両凸レンズではレンズ面が第１の絞りと干渉する可能性
があるため、メニスカスレンズ、あるいは凸平レンズを
用いることが望ましい。特に、凸平レンズを用いる場合
には、図４に示されるようにレンズに密着するワッシャ
ー絞りを用いることもできる。
したメニスカスレンズの他に、図４に示されるような凸
平レンズとしてもよい。正レンズとして機能させるため
には、両凸レンズとすることも理論上は可能であるが、
両凸レンズではレンズ面が第１の絞りと干渉する可能性
があるため、メニスカスレンズ、あるいは凸平レンズを
用いることが望ましい。特に、凸平レンズを用いる場合
には、図４に示されるようにレンズに密着するワッシャ
ー絞りを用いることもできる。
【００１８】図５は上記実施例の変形例を示し、第１、
第２の絞りを一体のブロックとして構成すると共に、こ
のブロックの内面をテーパ状に形成している。第１の絞
りと第２の絞りとの間の側壁を円筒状に形成した場合に
は、この側壁における反射光が外乱光としてＣｄＳ素子
４に入射し、側壁の反射率を低く抑えるのみでは十分に
影響を低減することができない。なお、外乱として問題
となる強度を持った反射光は壁面で一回反射されてＣｄ
Ｓ素子４に達する光束であり、側壁で複数回反射され光
束は光量が減衰するためにたとえＣｄＳ素子４に入射し
ても殆ど影響がない。そこで、一回反射の光束が入射し
ないように側壁をテーパ状に形成している。
第２の絞りを一体のブロックとして構成すると共に、こ
のブロックの内面をテーパ状に形成している。第１の絞
りと第２の絞りとの間の側壁を円筒状に形成した場合に
は、この側壁における反射光が外乱光としてＣｄＳ素子
４に入射し、側壁の反射率を低く抑えるのみでは十分に
影響を低減することができない。なお、外乱として問題
となる強度を持った反射光は壁面で一回反射されてＣｄ
Ｓ素子４に達する光束であり、側壁で複数回反射され光
束は光量が減衰するためにたとえＣｄＳ素子４に入射し
ても殆ど影響がない。そこで、一回反射の光束が入射し
ないように側壁をテーパ状に形成している。
【００１９】
【効果】以上説明したように、この発明によれば、蛇行
した受光パターンを有するＣｄＳ素子等の安価な受光素
子を用いてスポット測光が可能となり、装置のコストダ
ウンを図ることができる。
した受光パターンを有するＣｄＳ素子等の安価な受光素
子を用いてスポット測光が可能となり、装置のコストダ
ウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 実施例を示す光学系の説明図である。
【図２】 ＣｄＳ素子の受光パターンを示す説明図であ
る。
る。
【図３】 受光素子を集光位置の手前に配置した場合の
不具合を示す説明図である。
不具合を示す説明図である。
【図４】 集光レンズに凸平レンズを使用した例を示す
光学系の説明図である。
光学系の説明図である。
【図５】 変形例を示す光学系の説明図である。
１…集光レンズ ２…第１の絞り ３…第２の絞り ４…ＣｄＳ素子
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−143232（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G03B 7/00 - 7/28
Claims (6)
- 【請求項１】被写体からの光束を集光させる集光レンズ
と、 該集光レンズの後方に設けられて光束の取り込み範囲を
規制する第１の絞りと、 前記集光レンズの集光位置にほぼ一致して設けられ、光
束の取り込み範囲を更に規制する第２の絞りと、 前記第２の絞りの後方に設けられて前記第１、第２の絞
りによって絞られた光束を受光する受光素子とを備える
ことを特徴とする測光装置。 - 【請求項２】前記集光レンズは、被写体側に凸面を向け
た１枚の正メニスカスレンズであることを特徴とする請
求項１に記載の測光装置。 - 【請求項３】前記集光レンズは、被写体側に凸面を向け
た１枚の凸平レンズであることを特徴とする請求項１に
記載の測光装置。 - 【請求項４】前記受光素子は、蛇行する受光パターンを
有することを特徴とする請求項１に記載の測光装置。 - 【請求項５】前記受光素子は、ＣｄＳ素子であることを
特徴とする請求項４に記載の測光装置。 - 【請求項６】前記第２の絞りは、前記集光レンズの球面
収差のアンダーな部分に合わせてガウス像面より前記集
光レンズ側に配置されていることを特徴とする請求項１
に記載の測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227371A JP2997344B2 (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227371A JP2997344B2 (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566456A JPH0566456A (ja) | 1993-03-19 |
| JP2997344B2 true JP2997344B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=16859759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3227371A Expired - Fee Related JP2997344B2 (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2997344B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003074947A1 (fr) | 2002-03-07 | 2003-09-12 | Fujitsu Limited | Dispositif anti-refoulement et appareil electronique |
| JP6589457B2 (ja) | 2015-08-19 | 2019-10-16 | 富士通株式会社 | シャッター装置及び電子装置 |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP3227371A patent/JP2997344B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0566456A (ja) | 1993-03-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2621430B2 (ja) | 光センサー | |
| US4634255A (en) | Focus detection apparatus | |
| GB2105029A (en) | Automatic lens meter | |
| US4593987A (en) | Method and device for automatic exposure control by programs | |
| US20030103769A1 (en) | Sensor device | |
| JP2997344B2 (ja) | 測光装置 | |
| JP2008070629A (ja) | 光検出装置、カメラ、焦点検出装置および光学特性測定装置 | |
| US4019191A (en) | Photometric device for use in a single lens reflex camera | |
| GB2128050A (en) | Arrangement for automatic focusing of photographic cameras | |
| JP3133416B2 (ja) | 測光装置 | |
| JP2630771B2 (ja) | 焦点検出光学系 | |
| US4105300A (en) | Defocused unicell photometer with aspheric zone | |
| US4445136A (en) | Television camera having an optical lowpass filter | |
| US4563068A (en) | Light measuring device for a single lens reflex camera | |
| US6229602B1 (en) | Photometering apparatus | |
| US4102581A (en) | Unicell photoelectric photometer | |
| US4571050A (en) | Light measuring device for camera | |
| US4544256A (en) | Single lens reflex camera with light measuring device | |
| JPH10221511A (ja) | プリズム及びプリズムを用いた眼視光学系 | |
| US8077251B2 (en) | Photometry apparatus and camera | |
| JPS61132811A (ja) | 変位検出器 | |
| JPS63139310A (ja) | 焦点検出のためのパタ−ン投影装置 | |
| US4229087A (en) | Focusing optical system for single-lens reflex | |
| US6150673A (en) | Light emitting diode unit for distance measuring system | |
| JPH0522220B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |