JP2989985B2 - Equipment for examining component placement on wiring boards - Google Patents

Equipment for examining component placement on wiring boards

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JP2989985B2
JP2989985B2 JP5053941A JP5394193A JP2989985B2 JP 2989985 B2 JP2989985 B2 JP 2989985B2 JP 5053941 A JP5053941 A JP 5053941A JP 5394193 A JP5394193 A JP 5394193A JP 2989985 B2 JP2989985 B2 JP 2989985B2
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0005Apparatus or processes for manufacturing printed circuits for designing circuits by computer

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、配線基板の部品配置検
討装置の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a device for studying the arrangement of components on a wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】セラミック基板やガラエポ基板などに半
導体素子などの部品を搭載して、これら部品を相互に接
続する配線基板は、配線が高密度になる場合、多層構造
に形成される。多層配線基板は、複数層から成る配線基
板上の最外層に複数の部品を配置し、これら部品を内層
の配線基板に形成した配線で接続することにより構成さ
れる。内層の配線基板に形成した配線同士は、内層の配
線基板に形成したビアホールを介して接続される。
2. Description of the Related Art A wiring board which mounts components such as semiconductor elements on a ceramic substrate or a glass epoxy substrate and connects these components to each other is formed in a multi-layer structure when the wiring density is high. The multilayer wiring board is configured by arranging a plurality of components on an outermost layer on a wiring board composed of a plurality of layers, and connecting these components by wiring formed on an inner-layer wiring board. Wirings formed on the inner layer wiring board are connected via via holes formed on the inner layer wiring board.

【0003】このような多層配線基板を設計・製造する
には、部品の配置箇所と部品の端子同士の接続経路の検
討を行い、その後、その検討結果に基づいて設計図を作
成し、この設計図に基づいて製品を製造する。このよう
な多層配線基板の部品の配置を検討する際には、従来か
らCADなどが用いられていた。
[0003] In order to design and manufacture such a multilayer wiring board, the location of the components and the connection paths between the terminals of the components are examined, and then a design drawing is created based on the examination results. The product is manufactured based on the figure. When studying the arrangement of components of such a multilayer wiring board, CAD or the like has been conventionally used.

【0004】すなわち、CADなどを用いて部品や配線
の配置を検討する場合、まず各部品をどこに配置すれば
最も効率的な多層配線基板を得られるかを検討する初期
段階で、CADで作成された例えば部品形状や熱などの
特性情報を用いて、表示装置の画面上で、自動又はオペ
レーションで行っていた。すなわち、図27に示すよう
に、接続しようとする部品の端子同士を最短の直線(結
線)で結んだラットネストと呼ばれる表示画面を中心
に、デザインルール(基板や部品や配線の特性、物理構
造、製造条件などから決まる設計の際の制限事項)に対
する制限をチェックしながら各部品や配線の配置箇所を
検討していた。図27中、211は配線基板を示し、2
12は配線基板上に配置される部品を示す。この例で
は、7個の部品212が配置されている。また、部品2
12の周辺には、配置しろ213が設けられ、1番ピン
の場所を示す表示214が付されている。また、結線2
15は、ある部品212の端子に接続された結線215
だけを表示することもでき、全ての部品212の端子に
接続された結線215全てを表示することもできる。
That is, when studying the arrangement of components and wiring using CAD or the like, the CAD and the like are firstly created in the initial stage of examining where to arrange each component to obtain the most efficient multilayer wiring board. For example, using characteristic information such as a component shape and heat, it is performed automatically or on a screen of a display device. That is, as shown in FIG. 27, the design rules (characteristics of the board, component, wiring, physical structure, etc.) are centered on a display screen called a rat nest in which terminals of components to be connected are connected by the shortest straight line (connection). And restrictions on design, which are determined by manufacturing conditions, etc.), while examining the location of each component and wiring. 27, reference numeral 211 denotes a wiring board.
Reference numeral 12 denotes a component arranged on the wiring board. In this example, seven parts 212 are arranged. Also, part 2
An arrangement margin 213 is provided around the periphery of 12, and a display 214 indicating the location of the first pin is attached. Also, connection 2
15 is a connection 215 connected to a terminal of a component 212
Can be displayed, and all the connections 215 connected to the terminals of all the components 212 can be displayed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが、この従来の
配線基板の部品配置検討装置は、デザインルールや特性
に関係する配線について制限を与えるものであり、特性
面での最適化に警告を与えるものであった。したがっ
て、小型化、低コスト化を図る上で大切な全体の配線効
率、層構成の評価、配線順序の割り付けなどを定量的に
評価する手段を持たないものであった。
However, this conventional device for examining the layout of components on a wiring board restricts wiring related to design rules and characteristics, and warns of optimization in characteristics. Met. Therefore, there is no means for quantitatively evaluating the overall wiring efficiency, layer structure evaluation, wiring order assignment, and the like, which are important for achieving size reduction and cost reduction.

【0006】すなわち、ラットネストの表示画面では、
配線密度が高かい場合、表示が見えないなどの支障があ
り、これだけを利用して配線構造を評価することは難し
いという問題があった。
That is, on the display screen of the rat nest,
When the wiring density is high, there is a problem that the display cannot be seen, and it is difficult to evaluate the wiring structure using only this.

【0007】また、ラットネストの表示画面は、配線が
多層にわたる場合、配線経路の表示が実配線と大きく異
なり、しかも上層のビアホールの影響などが考慮されな
いため、部品や配線の配置に関する評価を行う段階では
有効でないという問題もあった。
On the display screen of the rat nest, when the wirings are multi-layered, the display of the wiring path is significantly different from the actual wiring, and the influence of the via holes in the upper layer is not taken into consideration. There was also a problem that it was not effective at the stage.

【0008】また、最も効率的な配線基板を得るための
検討では、多層配線基板の最外層に搭載される部品の結
線状態や信号種別の結線を評価する段階から、順次段階
を経て全体の配線を検討する段階に進む必要があるが、
従来の配線基板の部品配置検討装置では、このような段
階的な配置検討を行う手段がないという問題もあった。
In the study for obtaining the most efficient wiring board, the whole wiring is sequentially passed through stages from the evaluation of the connection state of the components mounted on the outermost layer of the multilayer wiring board and the connection of the signal type. Needs to be considered,
In a conventional device for examining the arrangement of components on a wiring board, there is also a problem that there is no means for examining such a stepwise arrangement.

【0009】また、高密度・小型基板の設計において
は、部品周辺の接続端子やビアホールなどの位置は配線
効率に与える影響が大きく、部品や配線の配置を検討す
る際に、この部品周辺の接続端子やビアホールなどの位
置を変更しなければならない事態が頻繁に発生するが、
これを効果的に検討できる手段がないという問題もあっ
た。
In the design of a high-density and small-sized board, the positions of connection terminals and via holes around a component have a large effect on wiring efficiency. Frequently, the position of terminals and via holes must be changed,
There was also a problem that there was no means for examining this effectively.

【0010】さらにまた、高密度・小型基板の設計にお
いては、ビアホールの配列をデザインルールや、ワイヤ
ーボンディング、フェースダウンボンディング、TAB
といった実装条件そのものが変更した場合、配置検討の
最中に適性な条件を短時間に効果的に見つけることが困
難であるという問題があった。
Furthermore, in designing a high-density and small-sized substrate, the arrangement of via holes is determined by design rules, wire bonding, face-down bonding, TAB
However, when the mounting condition itself is changed, there is a problem that it is difficult to effectively find an appropriate condition in a short time during the placement study.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係る配線基板の
部品配置検討装置は、このような従来装置の問題点に鑑
みて為されたものであり、請求項1に記載した発明の特
徴とするところは、コマンドを入力する入力装置と、こ
の入力装置から入力されたコマンドの命令により、部品
の配置試行を行う配置試行手段と、この配置試行の結果
を表示する表示装置とを具備する配線基板の部品配置検
討装置において、前記配置試行手段により設定された条
件に従って結線情報を分類し、この条件に従って結線情
報を群管理すると共に、群管理する結線情報を前記配置
施行手段に供給する結線情報管理手段を具備し、配置施
行手段は群管理された結線情報に従い配置試行を行い、
その結果、表示手段は群管理された状態で結線を表示す
る点にある。また、請求項2に記載した発明の特徴とす
るところは、請求項1記載の部品配置検討装置におい
て、配置施行を行う際に、配線経路を探索すると共に、
その配線経路が含まれる領域内における配線密度を分析
して、その結果を前記表示装置に表示する配線経路・密
度分析手段を更に備えた点にある。また、請求項3に記
載した発明の特徴とするところは、前記配置試行を行う
際に、部品の入出力端子に接続されるビアホールの配置
に関する局所的なデザインルールに従って、所望条件を
満足するビアホールの配置を探索し、その結果を前記表
示装置に表示すると共に、決定されたビアホールの配置
に密度の片寄りが発生した場合、自動的にビアホール配
置の均一化処理を行うビアホール位置分析手段を具備す
る点にある。さらに、請求項4に記載した発明の特徴と
するところは、請求項1記載の部品配置検討装置におい
て、配置施行を行う際に、単数又は複数の特定の領域を
指定することにより、この指定領域を通過する配線と、
この配線に接続された部品を抽出して、前記表示装置に
表示する配線経路・密度分析手段を更に備えた点にあ
る。
An apparatus for examining the component arrangement of a wiring board according to the present invention has been made in view of such a problem of the conventional apparatus, and has the features of the invention described in claim 1. The wiring includes an input device for inputting a command, placement trial means for trial placement of components according to a command of the command input from the input device, and a display device for displaying the result of the placement trial. In the board component placement examination device, the connection information is classified according to the conditions set by the placement trial means, the connection information is group-managed according to the conditions, and the connection information for supplying the group-managed connection information to the placement enforcement means is provided. It has a management means, the placement enforcement means performs a placement trial according to the group-managed connection information,
As a result, the display means is to display the connection in a group-managed state. A feature of the invention described in claim 2 is that, in the component placement examining apparatus according to claim 1, when performing placement, a wiring route is searched for,
The present invention further comprises a wiring route / density analyzing means for analyzing the wiring density in a region including the wiring route and displaying the result on the display device. A feature of the invention described in claim 3 is that when performing the placement trial, a via hole satisfying a desired condition is satisfied according to a local design rule relating to a placement of a via hole connected to an input / output terminal of a component. And a via-hole position analyzing means for automatically displaying the results of the determined via-hole arrangement and, if a deviation of the determined via-hole arrangement occurs, a via-hole arrangement uniformizing process. Is to do. Further, a feature of the invention described in claim 4 is that, in the component placement review apparatus according to claim 1, when performing placement, one or more specific areas are designated to perform the specified area. And wiring passing through,
It is characterized by further comprising a wiring route / density analyzing means for extracting a component connected to the wiring and displaying the extracted component on the display device.

【0012】[0012]

【作用】請求項1 に記載した発明によれば、処理すべき
結線数を減らすことができるので、処理を高速に行うこ
とができると共に、表示画面も見やすくなり、あまり小
さい表示は不要な初期段階の検討に特に有効である。ま
た、処理量が減少するので、設計者の意図にあった処理
ができ、密度が高くなりそうな箇所の発見が容易で、修
正の際に簡単に見つけることができると共に、配線順序
の決定を能率よく、有効に得られる。さらに、部品や部
品の特性や信号線の電気的な性質ごとにデータを簡単に
抽出できる。そして、操作者が群管理された状態での結
線の表示を見て、配置試行手段に対し、各種条件を再設
定することで、群管理されていた結線情報が再分類さ
れ、新たに群管理された状態で結線を再表示することが
できる。また、請求項2に記載した発明によれば、請求
項1 に記載した発明に加え、実際の配線に近いかたちで
検討できるので、部品や配線の検討をしやすいと共に、
配線の密度の計算を正確にでき、配置評価が正確にでき
る。特に、検討の初期段階でも諸特性を正確に分析・ 把
握できる。また、請求項3に記載した発明によれば、配
線の際にネックになり易い、多端子部品の周辺につい
て、ビアホールの配置を自動的に発生させ、局所のデザ
インルールの変更を行いながら、配置条件を決めること
ができるので、部品や配線の検討がし易いと共に、配線
密度の計算を正確にでき、配置評価が正確にできる。特
に、検討の初期段階でも諸特性を正確に分析・把握でき
る。また、決定されたビアホールの配置に、密度の片寄
りが発生した場合、これを自動的に補正することができ
る。さらに、請求項4に記載した発明によれば、請求項
1に記載した発明に加え、配線密度が高くなると予想さ
れた領域について、これを除去する為の配置を検討する
際、当該領域を画面上で指定することにより、領域を通
過する配線を知ることができると共に、通過配線が関連
する部品を配線情報から即座に知ることができる。これ
により、通過領域の配線密度に影響している部品を知る
ことができ、配置変更を効果的に行うことができる。
According to the first aspect of the invention, the number of connections to be processed can be reduced, so that the processing can be performed at a high speed, the display screen can be easily viewed, and an initial stage in which a very small display is unnecessary. It is especially effective for examining. In addition, since the processing amount is reduced, it is possible to perform processing in accordance with the intention of the designer, to easily find a place where the density is likely to be high, to easily find the part at the time of correction, and to determine the wiring order. It is obtained efficiently and effectively. Further, data can be easily extracted for each component, component characteristics, and electrical characteristics of signal lines. Then, the operator looks at the display of the connections in the group-managed state and resets various conditions to the arrangement trial means, whereby the group-managed connection information is re-classified, and the group management is newly performed. The connection can be displayed again in the state where the connection has been made. Further, according to the invention described in claim 2, in addition to the invention described in claim 1, since it is possible to study in a form close to actual wiring, it is easy to study parts and wiring, and
Calculation of wiring density can be performed accurately, and placement evaluation can be performed accurately. In particular, various characteristics can be accurately analyzed and grasped even in the initial stage of examination. According to the third aspect of the present invention, the arrangement of via holes is automatically generated around the multi-terminal component, which is likely to be a bottleneck in wiring, and the arrangement is performed while changing the local design rule. Since the conditions can be determined, it is easy to examine components and wiring, and the calculation of wiring density can be accurately performed, and placement evaluation can be performed accurately. In particular, various characteristics can be accurately analyzed and grasped even in the initial stage of the examination. In addition, when a deviation in density occurs in the determined via hole arrangement, this can be automatically corrected. Furthermore, according to the invention described in claim 4, in addition to the invention described in claim 1, when considering the arrangement for removing the region where the wiring density is expected to be high, the region is screened when considering the arrangement. By specifying the above, it is possible to know the wiring that passes through the area, and it is possible to immediately know the component related to the passing wiring from the wiring information. As a result, it is possible to know the components that affect the wiring density in the passage area, and it is possible to change the arrangement effectively.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づき詳
細に説明する。図1は、本発明に係る配線基板の部品配
置検討装置の一実施例を示すブロック図であり、1はC
ADシステム、2はCADシステムと連動して動く部品
配置検討装置である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an apparatus for examining a component arrangement of a wiring board according to the present invention.
The AD system 2 is a component arrangement study device that operates in conjunction with the CAD system.

【0014】まずCADシステム1について説明する。
3はキーボードやマウスなどの入力装置、4は入力装置
3から入力されるコマンドを処理するマンマシンインタ
ーフェース手段、5は処理結果が格納される主メモリ
ー、6はデザインルール、結線情報、特性仕様などのデ
ータが格納されるCADデータベース、7はCADデー
タベースをアクセスするアクセスドライバー手段、8は
表示データを作成する表示制御手段、9は表示データを
表示するグラフィックディスプレイ等の表示装置、10
は処理結果を外部へ送り出したり、外部からデータを取
り込むデータインタフェース手段である。なお、結線情
報とは、部品の端子間および基板の入出力端子の電気的
接続関係を示す情報と、どのような種類の信号が走る線
かを示す情報であり、特性仕様とは、基板が具備しなけ
ればならない性能を満足できる電気的・熱的な条件をい
い、具体的には信号のタイミングや遅延、クロストー
ク、ノイズなどの仕様、あるいは部品の発熱量や温度制
限などをいう。入力装置3は、マンマシンインターフェ
ース手段4を介して主メモリ5に接続され、主メモリ5
は、アクセスドライバー7を介してCADデータベース
6に接続されている。データインターフェース手段10
も主メモリー5に接続されている。表示装置9は、表示
制御手段8を介してマンマシンインターフェース手段4
と主メモリー5に接続されている。なお、アプリケーシ
ョンとして、目的に応じた解析や図形処理等を行うアプ
リケーション処理手段11を持つ場合もある。
First, the CAD system 1 will be described.
3 is an input device such as a keyboard or a mouse, 4 is a man-machine interface means for processing commands input from the input device 3, 5 is a main memory for storing processing results, 6 is design rules, connection information, characteristic specifications, etc. , An access driver means for accessing the CAD database, 8 a display control means for creating display data, 9 a display device such as a graphic display for displaying display data, 10
Is a data interface means for sending a processing result to the outside or taking in data from the outside. The connection information is information indicating the electrical connection relationship between the terminals of the components and the input / output terminals of the board, and information indicating what kind of signal runs on the line. It refers to electrical and thermal conditions that can satisfy the performance that must be provided, and specifically refers to specifications such as signal timing and delay, crosstalk, noise, and the like, heat generation of components and temperature limits. The input device 3 is connected to the main memory 5 via the man-machine interface means 4 and
Are connected to the CAD database 6 via the access driver 7. Data interface means 10
Are also connected to the main memory 5. The display device 9 is connected to the man-machine interface unit 4 via the display control unit 8.
And the main memory 5. In some cases, the application has an application processing unit 11 that performs analysis, graphic processing, and the like according to the purpose.

【0015】操作者が入力装置3からコマンドを入力す
ると、マンマシンインターフェース手段4で解析し、コ
マンドが正しいと判断すると、コマンドに従った処理を
行う。コマンド処理した結果をメモリーに格納する場
合、主メモリー5に格納する。また、表示制御手段8で
表示データを作成し、その結果を表示装置9に表示す
る。処理結果をCADデータベース6に登録したり更新
する場合は、処理結果をアクセスドライバー手段7に渡
し、CADデータベース6に格納する。また、外部装置
とデータ交換を行う際は、主メモリー5からデータイン
ターフェース手段10に送る。データを取り込む際は、
データインターフェース手段10に送られたデータを主
メモリー5に送り、入力装置3から入力されるコマンド
に従って処理する。
When an operator inputs a command from the input device 3, the command is analyzed by the man-machine interface unit 4, and when the command is determined to be correct, processing according to the command is performed. When storing the result of the command processing in the memory, the result is stored in the main memory 5. The display controller 8 creates display data and displays the result on the display device 9. When registering or updating the processing result in the CAD database 6, the processing result is passed to the access driver means 7 and stored in the CAD database 6. When data is exchanged with an external device, the data is sent from the main memory 5 to the data interface unit 10. When importing data,
The data sent to the data interface means 10 is sent to the main memory 5 and processed according to the command input from the input device 3.

【0016】次に、配置検討装置2を説明する。12は
キーボードやマウス等の入力装置、13は入力装置から
入力されたコマンドを解析してそのコマンドに対応した
処理を行うマンマシンインターフェース手段、14は表
示データを処理する表示制御手段、15はグラフィック
ディスプレイ等の表示装置、16はCADシステム1な
どからデータを取り込んだり、この配置検討装置2で得
られた結果を出力するデータインターフェース手段、1
7はデータインターフェース手段16で処理された入出
力データを保管するインターフェースデータ保管手段、
18は入力装置12からの命令でこの配置検討装置2の
各機能のプロセス管理と必要データの転送を行う全体の
コントロール手段、19は最適配置を求める際に必要な
配線経路を探索する配線経路探索手段、20は最適配置
を求める際に必要な配線密度を分析する配線密度分析手
段、21は配線密度分析や配線経路探索に必要な各種デ
ータを管理するための分析データ管理手段、22は部品
や配線の配置の最適条件を見つける際の条件設定や条件
変更を行う配置試行分析手段、23は配置試行分析手段
22で処理された内容を表示装置15に表示するように
指示するための配置試行のデータ管理手段、24は設計
仕様や物理特性を考慮した配置試行分析装置22からの
指示または仕様に従い結線情報を分類して管理する結線
情報分析管理手段である。配線経路探索手段19と配線
密度分析手段20は、分析データ管理手段21を介して
相互に処理を行いながら分析を行う。この配線経路探索
手段19、配線密度分析手段20、および分析データ管
理手段21で、配線経路・密度分析手段25が構成され
る。配置試行分析手段22と配置試行のデータ管理手段
23で配置試行手段26が構成される。配線経路・密度
分析手段25と配置試行手段26は、コントロール手段
18を介してリンクしている。
Next, the arrangement study device 2 will be described. 12 is an input device such as a keyboard or a mouse, 13 is a man-machine interface unit that analyzes a command input from the input device and performs processing corresponding to the command, 14 is a display control unit that processes display data, and 15 is a graphic control unit. A display device 16 such as a display; a data interface means 1 for taking in data from the CAD system 1 or the like and outputting a result obtained by the arrangement study device 2;
7 is an interface data storage means for storing the input / output data processed by the data interface means 16,
Reference numeral 18 denotes an overall control means for performing process management of each function of the arrangement reviewing apparatus 2 and transferring necessary data by an instruction from the input device 12, and 19 designates a wiring path search for searching for a wiring path necessary for finding an optimum arrangement. Means, 20 is a wiring density analyzing means for analyzing a wiring density necessary for finding an optimum arrangement, 21 is an analysis data managing means for managing various data necessary for wiring density analysis and wiring path search, and 22 is a component or An arrangement trial analysis unit 23 for setting conditions and changing conditions when finding the optimal conditions for wiring arrangement, and a placement trial analysis unit 23 for instructing the display device 15 to display the content processed by the arrangement trial analysis unit 22. Data management means 24 is a connection information analysis management means for classifying and managing connection information in accordance with instructions or specifications from the placement trial analysis device 22 in consideration of design specifications and physical characteristics. A. The wiring route searching means 19 and the wiring density analyzing means 20 perform analysis while performing mutual processing via the analysis data managing means 21. The wiring route searching means 19, the wiring density analyzing means 20, and the analysis data managing means 21 constitute a wiring route / density analyzing means 25. The placement trial analysis means 22 and the placement trial data management means 23 constitute a placement trial means 26. The wiring route / density analyzing means 25 and the placement trial means 26 are linked via the control means 18.

【0017】このシステム構成例では、CADシステム
1と配置検討装置2をプロセス間通信を使って結合す
る。これによりCADシステム1のデータベース6と配
置検討装置2のデータベースとの独立が保たれ、システ
ムの安全性が高くなる。
In this system configuration example, the CAD system 1 and the arrangement reviewing device 2 are connected using inter-process communication. Thereby, the independence of the database 6 of the CAD system 1 and the database of the arrangement study device 2 is maintained, and the security of the system is enhanced.

【0018】次に、図2に示すフローチャートに基い
て、配置検討装置2の動作を説明する。ステップ1で
は、CADシステム1と配置検討装置2を起動して、C
ADシステム1から、デザインルール、結線情報、特性
仕様などの仕様データを配置検討装置2に取り込む。す
なわち、入力装置12で指定されたデータを検索し、C
ADデータベース部6からデータインターフェース手段
10、16を介してインターフェースデータ保管手段1
7に取り込む。
Next, the operation of the arrangement reviewing apparatus 2 will be described with reference to the flowchart shown in FIG. In step 1, the CAD system 1 and the placement study device 2 are started, and the C
From the AD system 1, specification data such as design rules, connection information, and characteristic specifications are taken into the placement study device 2. That is, the data specified by the input device 12 is searched, and C
Interface data storage means 1 from AD database unit 6 via data interface means 10 and 16
Take in 7.

【0019】ステップ2では、データ変換を行う。すな
わち、インターフェースデータ保管手段17に取り込ま
れた仕様データを配置検討装置2の内部処理に適した形
に変換して、コントロール手段18へ送る。具体的に
は、デザインルール、結線情報、特性仕様などの仕様デ
ータを、部品配置検討装置2で作動可能な形式に変換す
る。
In step 2, data conversion is performed. That is, the specification data taken into the interface data storage unit 17 is converted into a form suitable for the internal processing of the arrangement reviewing device 2 and sent to the control unit 18. Specifically, specification data such as design rules, connection information, and characteristic specifications are converted into a format that can be operated by the component placement review device 2.

【0020】ステップ3では、配置試行分析手段22
で、配線層構成、配線順序、配線層指定、局所のデザイ
ンルール、配線種別(配線を走る信号の種別)による再
分類、最短経路、最小分岐等の条件に従ってデータの処
理を行う。なお、配線層構成とは、全体を何層で構成し
て、ある部品や配線をどこに配置するかを言い、配線順
序とは、ある配線をある箇所に配置する場合において、
その箇所におけるその配線の優先順序を言い、配線層指
定とは、何層目に配置するかの指定を言い、局所のデザ
インルールとは、例えば部品周辺の入出力に接続される
ビアホールなどが局所的に高密度になる場合などに、そ
の部分のみに特別に決めるルールを言う。配置試行分析
手段22は、このような条件設定機能を有する。
In step 3, the placement trial analysis means 22
Then, data processing is performed in accordance with conditions such as the wiring layer configuration, wiring order, wiring layer designation, local design rules, reclassification by wiring type (type of signal running through wiring), shortest path, and minimum branching. Note that the wiring layer configuration refers to how many layers are formed as a whole and where a certain component or wiring is arranged, and the wiring order is a case where a certain wiring is arranged at a certain place.
The wiring layer designation at that location refers to the wiring layer designation. The wiring layer designation refers to the layer in which the wiring is arranged. The local design rule refers to, for example, a via hole connected to the input / output around the component. When the density becomes high, the rule that determines specially only for that part. The arrangement trial analysis means 22 has such a condition setting function.

【0021】ステップ4では、ステップ3で設定された
条件に従い、結線情報分析管理手段24で、結線情報を
配置検討に適した形に分離し、作業データテーブル(情
報を分類して配列したデータ配列群)を作成する。すな
わち、結線情報分析管理手段24に送られた情報を結線
情報と特性条件などの条件ごとに群管理できるようにす
る。このように結線情報と特性条件などの条件ごとに群
管理することで実配線を行わずに、配置検討時に、精度
の高い適正配置の評価を高速に行うことが可能となる。
なお、このスッテプ4の詳細は、後述する。
In step 4, according to the conditions set in step 3, the connection information analysis management means 24 separates the connection information into a form suitable for the placement study, and creates a work data table (a data array in which the information is classified and arranged). Group). That is, the information sent to the connection information analysis management means 24 can be group-managed for each condition such as connection information and characteristic conditions. In this way, by performing group management for each condition such as connection information and characteristic conditions, it is possible to quickly evaluate a proper arrangement with high precision at the time of arrangement study without performing actual wiring.
The details of step 4 will be described later.

【0022】ステップ5では、配線層構成の分析を行
う。すなわち、デザインルール、作業データテーブルに
基づいて配線層構成テーブルを作成する。ステップ5で
は、図1のコントロール手段18から送られる1回目の
解析命令に基づいて配線層構成の分析を行う。2回目の
分析命令が送られてきた場合は、配線層構成や配線ルー
ルが変更になった時のみステップ5になる。
In step 5, the wiring layer configuration is analyzed. That is, a wiring layer configuration table is created based on the design rule and the work data table. In step 5, the wiring layer configuration is analyzed based on the first analysis command sent from the control means 18 in FIG. When the second analysis instruction is sent, step 5 is performed only when the wiring layer configuration or the wiring rule is changed.

【0023】ステップ6では、配置試行手段26で最適
配置を試行する。すなわち、分析された結線情報を全体
的にまたは部分的に表示装置15にリアルタイムで表示
すると共に、部品周辺のビアホールを変更しながら配置
試行を行う配置試行と、配線層構成、配線順序、配線層
指定、局所のデザインルールの設定変更を配置試行中に
随時行う。なお、このスッテプ6の詳細も、後述する。
In step 6, the placement trial means 26 tries the optimal placement. That is, the analyzed connection information is displayed in whole or in part on the display device 15 in real time, and the placement trial is performed while the placement trial is performed while changing the via hole around the component. Designation and change of local design rule settings are performed as needed during placement trials. The details of step 6 will be described later.

【0024】ステップ7では、ステップ6での配置試行
や配線条件の設定に対応して、指定した結線についての
配線経路探索と配線密度分析を行う。完了するとステッ
プ8に移って、分析結果を表示装置15に表示する。な
お、分析の経過も随時表示装置15に表示され、分析が
完了したか否かは操作者が判断する。本実施例では、こ
のステップ7の処理を群管理された結線情報に基づいて
行い、分析結果を表示装置15に図形で表示する(ステ
ップ8)。
In step 7, in response to the placement trial and the setting of the wiring conditions in step 6, a wiring route search and a wiring density analysis for the specified connection are performed. Upon completion, the process moves to step 8 where the analysis result is displayed on the display device 15. The progress of the analysis is also displayed on the display device 15 at any time, and the operator determines whether or not the analysis has been completed. In the present embodiment, the processing in step 7 is performed based on the group-managed connection information, and the analysis result is displayed as a graphic on the display device 15 (step 8).

【0025】配置試行を終えるとステップ9に移り、配
置結果をインターフェース手段6に返してCADシステ
ム1Aのデータ形式に変換し、CADデータベース14
Aに結果を格納することにより一連の作業を終了する。
When the placement trial is completed, the process proceeds to step 9, where the placement result is returned to the interface means 6 and converted into the data format of the CAD system 1A.
A series of operations is completed by storing the result in A.

【0026】実施例では、これらの処理は各処理手段へ
の指示は、オブジェクト指向の概念と環境下で実現され
る。
In the embodiment, in these processes, an instruction to each processing means is realized under an object-oriented concept and environment.

【0027】図3は、図1に示す結線情報分析管理手段
24の動作を示すフローチャートであり、図2のステッ
プ4の詳細を示す図である。ステップ1ないしステップ
3は、図2のフローチャートと同様であるので説明は省
略する。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the connection information analysis management means 24 shown in FIG. 1, and is a diagram showing details of step 4 in FIG. Steps 1 to 3 are the same as those in the flowchart of FIG.

【0028】ステップ41では、ステップ3で設定され
た条件にしたがい、第1結線テーブルを作成する。この
第1結線テーブルは、等電位ネット(電気的に接続され
ている線)をひとかたまりにしたテーブルである。この
第1結線テーブルの詳細は、後述する。
In step 41, a first connection table is created in accordance with the conditions set in step 3. The first connection table is a table in which equipotential nets (electrically connected lines) are grouped. Details of the first connection table will be described later.

【0029】ステップ42では、ステップ3で設定され
た条件やステップ41で作成された第1結線テーブルを
もとに、第2結線テーブルを作成する。第2結線テーブ
ルは、第1結線テーブルのデータを端子間ペアごとのデ
ータに分解したものである。この第2結線テーブルの詳
細は、後述する。
In step 42, a second connection table is created based on the conditions set in step 3 and the first connection table created in step 41. The second connection table is obtained by decomposing the data of the first connection table into data for each terminal pair. Details of the second connection table will be described later.

【0030】次に、表示等に基づき、操作者が配置施行
分析手段の結線法等の条件を変更するか否かを判断し、
その決定により、条件を変更する場合は、ステップ47
とステップ48を経由して、ステップ41へ戻り、変更
しない場合は、ステップ43へ進む。尚、条件変更する
か否かの決定は、操作者が入力装置によりコマンドを入
力することにより為される。
Next, based on the display or the like, it is determined whether or not the operator changes the conditions such as the connection method of the arrangement / execution analysis means.
If the conditions are changed by the determination, step 47
Then, the process returns to step 41 via step 48 and proceeds to step 43 if not changed. The decision as to whether or not to change the condition is made by the operator inputting a command using the input device.

【0031】ステップ47では、信号種別、結線リス
ト、特性仕様などにしたがって再分類し、ステップ48
では、配置試行条件の変更命令を行う。
In step 47, reclassification is performed according to the signal type, connection list, characteristic specifications, etc.
Then, a command to change the placement trial condition is issued.

【0032】ステップ43では、各等電位ネットを同じ
部品、同じ性質を持つ結線ごとに束ねて群管理(バンド
ル)する条件を設定する。
In step 43, conditions for bundling the equipotential nets by grouping them for the same parts and connections having the same properties are set.

【0033】ステップ44では、ステップ3で設定され
た条件や結線情報、特性条件などの情報、およびステッ
プ41で作成された第1結線テーブルをもとに、ステッ
プ43で設定された条件にしたがって、第1バンドルテ
ーブルを作成する。この第1バンドルテーブルの詳細
は、後述する。
In step 44, based on the conditions set in step 3, connection information, information such as characteristic conditions, and the first connection table created in step 41, according to the conditions set in step 43, Create a first bundle table. Details of the first bundle table will be described later.

【0034】ステップ45では、ステップ3で設定され
た条件や結線情報、特性条件などの情報、およびステッ
プ42で作成された第2結線テーブルをもとに、ステッ
プ43で設定された条件にしたがって、第2バンドルテ
ーブルを作成する。この第2バンドルテーブルの詳細
は、後述する。
In step 45, based on the conditions set in step 3, information such as connection information and characteristic conditions, and the second connection table created in step 42, according to the conditions set in step 43, Create a second bundle table. Details of the second bundle table will be described later.

【0035】ステップ46では、データの更新や検索が
容易にできるようにするため、ステップ44で作成した
第1バンドルテーブルおよびステップ45で作成した第
2バンドルテーブルをデータベースとして、結線情報分
析管理手段24のメモリーに登録する。
In step 46, the first bundle table created in step 44 and the second bundle table created in step 45 are used as databases to facilitate the updating and retrieval of data. Register in the memory of.

【0036】上述のステップ41、42、44および4
5で作成される作業データテーブルの一例を図4ないし
図9に示す。図4は、図3のステップ41および42で
作成されるデータベースを階層構造で表示した例であ
る。この例では、ネットリスト(結線リスト)をもと
に、第1結線テーブルを作成し、この第1結線テーブル
をもとに第2結線テーブルを作成する。第1結線テーブ
ルに等電位ネットを割り付け、結線数分の第1結線テー
ブルを設定している。また、第2結線テーブルにピンペ
アを割り付け、ピンペア分の第2結線テーブルを設定し
ている。実施に当たっては、処理の高速化と設定の柔軟
性を高めるため、オブジェクト指向の概念と環境下で実
現する。
The above steps 41, 42, 44 and 4
An example of the work data table created in step 5 is shown in FIGS. FIG. 4 is an example in which the databases created in steps 41 and 42 of FIG. 3 are displayed in a hierarchical structure. In this example, a first connection table is created based on a net list (connection list), and a second connection table is created based on the first connection table. Equipotential nets are allocated to the first connection table, and the first connection tables for the number of connections are set. Also, a pin pair is assigned to the second connection table, and the second connection table for the pin pair is set. In the implementation, in order to increase the processing speed and increase the flexibility of setting, it is realized under the object-oriented concept and environment.

【0037】図5は、ステップ41で作成される図4中
の第1結線テーブルの例である。この第1結線テーブル
は、ネット(結線)ごとにネットNOおよび部品の接続
端子列、特性テーブルNOを持ち、ネットリストのルー
ルをもとに、信号種別が付されている。これにより、検
討対象とするネットを任意に取り出し、この第1結線テ
ーブルを参照することにより、処理すべき内容が判断さ
れる。さらに、処理、表示、分析に際しては、第1結線
テーブルのネットNOが指している図6の第2結線テー
ブルも参照できる。
FIG. 5 is an example of the first connection table in FIG. The first connection table has, for each net (connection), a net number, a connection terminal row of components, and a characteristic table number, and is assigned a signal type based on a rule of a net list. As a result, the net to be examined is arbitrarily extracted, and the contents to be processed are determined by referring to the first connection table. Further, at the time of processing, display, and analysis, the second connection table of FIG. 6 to which the net NO of the first connection table points can be referred to.

【0038】図6は、図3のステップ42で作成される
図5中の第2結線テーブルの例である。第2結線テーブ
ルでは、等電位ネットを端子のペア(ピンペア)ごとに
分解し、それぞれの結線部分の解析・表示の情報(表示
フラグと表示色)を持っている。すなわち、この例で
は、配線経路探索により得られた配線経路の情報を屈曲
点の列(屈曲点座標)で持っており、部品や配線の配置
条件に応じて随時更新される構造としている。また、ど
の部品のどの部分から結線がなされているかは、図5の
第1結線テーブルの接続端子列が、部品形状テーブル
(不図示)の部品を指示できるので、部品の形状や部品
近傍のビアホールが変更されると、直ちに配線密度分析
等の後処理に反映できる。
FIG. 6 is an example of the second connection table in FIG. 5 created in step 42 of FIG. In the second connection table, the equipotential net is decomposed for each pair of terminals (pin pairs), and has information (display flag and display color) of analysis and display of each connection portion. That is, in this example, the information of the wiring route obtained by the wiring route search is held in a row of bending points (coordinates of bending points), and is updated as needed according to the arrangement conditions of components and wiring. In addition, since the connection terminal row of the first connection table in FIG. 5 can indicate the component in the component shape table (not shown), the connection from which part of which component is made, the shape of the component and the via hole near the component can be determined. Is immediately reflected in post-processing such as wiring density analysis.

【0039】図7は、図3のステップ44および45で
作成されるデータベースを階層構造で表示した例であ
る。この例では、第1結線テーブルおよび第2結線テー
ブルをもとに第1バンドルテーブルおよび第2バンドル
テーブルを作成する。第1バンドルテーブルに、群管理
する等電位ネット(第1テーブル)を割付け、群と同じ
数の第1テーブルを設定している。また、第2バンドル
テーブルにバンドルピンペアテーブルを割り付け、バン
ドルピンペア分の第2バンドルテーブルを設定してい
る。実施に当たっては、処理の高速化と設定の柔軟性を
高める目的で、オブジェクト指向の概念と環境を利用し
た例を示す。
FIG. 7 shows an example in which the databases created in steps 44 and 45 of FIG. 3 are displayed in a hierarchical structure. In this example, a first bundle table and a second bundle table are created based on the first connection table and the second connection table. An equipotential net (first table) for group management is allocated to the first bundle table, and the same number of first tables as the group are set. Also, a bundle pin pair table is allocated to the second bundle table, and the second bundle table for the bundle pin pair is set. In the implementation, an example using an object-oriented concept and environment for the purpose of speeding up processing and increasing flexibility in setting will be described.

【0040】図8は、図3のステップ44で作成される
第1バンドルテーブルの例である。この第1バンドルテ
ーブルは、同一経路を持つ結線を一つの群として割り当
てたテーブルである。この第1バンドルテーブルは、ネ
ットNOおよび部品の接続端子列、参照特性テーブルの
特性を指示する特性テーブルNOを持ち、ネットリスト
のルールをもとに信号種別が付されており、群管理され
る同種のネットを部品ごとで、且つ信号種別ごとにバン
ドルし、バンドルNOを付している。これにより、検討
対象とするネット群を任意に取り出し、さらにこの第1
バンドルテーブルを参照することにより、処理すべき内
容が判断される。さらに処理、表示、分析に当たって
は、第1バンドルテーブルのバンドルNOが指している
図9の第2バンドルテーブルを参照できる。
FIG. 8 is an example of the first bundle table created in step 44 of FIG. The first bundle table is a table in which connections having the same route are assigned as one group. The first bundle table has a net number, a connection terminal row of components, and a characteristic table number indicating the characteristics of the reference characteristic table, is assigned a signal type based on a rule of the net list, and is group-managed. Nets of the same type are bundled for each component and for each signal type, and are given a bundle number. As a result, a group of nets to be considered can be arbitrarily extracted, and the first
The contents to be processed are determined by referring to the bundle table. For further processing, display and analysis, the second bundle table of FIG. 9 pointed to by the bundle number of the first bundle table can be referred to.

【0041】図9は、図3のステップ45で作成される
第2バンドルテーブルの例である。この第2バンドルテ
ーブルは、一連の等電位ネットを端子ペア(ピンペア)
ごとに分解し、それぞれの結線部分の解析、表示の情報
を群として持っている。この例では、配線経路探索によ
る配線経路の情報を屈曲点の列(屈曲点座標)で持って
おり、部品や配線の配置条件に応じ、群として随時更新
される構造としている。また、どの部品のどの部分から
結線がなされているかは、第1バンドルテーブルが持つ
接続端子列が、後述する図11の部品形状表示指示手段
22Bが保持する部品形状テーブル(不図示)の部品を
指示できるので、部品の形状や部品近傍のビアホールが
変更されると、直ちに配線密度分析等の後処理に反映で
きる。
FIG. 9 is an example of the second bundle table created in step 45 of FIG. This second bundle table stores a series of equipotential nets in a terminal pair (pin pair).
Each group has information on analysis and display of each connection part as a group. In this example, the information of the wiring route obtained by the wiring route search is stored in a row of bending points (coordinates of bending points), and is configured to be updated as a group at any time according to the arrangement conditions of components and wiring. In addition, which part of which part is connected is determined by determining whether the connection terminal row of the first bundle table has a part in a part shape table (not shown) held by the part shape display instruction means 22B in FIG. Since the instruction can be given, if the shape of the component or the via hole near the component is changed, it can be immediately reflected in post-processing such as wiring density analysis.

【0042】上記第1結線テーブル、第2結線テーブ
ル、第1バンドルテーブル、および第2バンドルテーブ
ルは、同時に管理することもでき、これを選択的に利用
することで配置試行を行う際に大まかな検討を行い、順
次詳細な評価を行うといった階層的な試行を行うことが
可能となる。このように、結線情報と特性条件を設計条
件にしたがって群管理することで、実配線を行う前に配
置検討時に高速に精度の高い適正配置の評価を行うこと
が可能となる。
The first connection table, the second connection table, the first bundle table, and the second bundle table can also be managed at the same time. It is possible to perform a hierarchical trial in which a study is performed and a detailed evaluation is sequentially performed. In this way, by performing group management of the connection information and the characteristic conditions in accordance with the design conditions, it is possible to quickly and accurately evaluate a proper arrangement at the time of arrangement study before performing actual wiring.

【0043】図10は、図2のステップ5を説明するた
めの図であり、図2の配線層構成の分析結果に基づいて
作成される配線層構成テーブルである。この配線層構成
の分析は、図11の配線層構成表示指示手段23で行わ
れる。バンドル群管理単位のオブジェクトを生成した際
の例である。配線順序を等電位ネットごとに、または群
管理されたバンドル単位ごとに割り振る。優先レベル
は、例えば10段階などに設定されるが、図10の例で
は5番目としている。また、配置する層を望む優先配線
層は、この例では例えば6層目としている。図10の配
線層構成テーブルは、図8の第1バンドルテーブルとリ
ンクしているため、配置試行時に配線順序を決定でき
る。
FIG. 10 is a diagram for explaining step 5 of FIG. 2, and is a wiring layer configuration table created based on the analysis result of the wiring layer configuration of FIG. The analysis of the wiring layer configuration is performed by the wiring layer configuration display instruction means 23 in FIG. This is an example when an object of a bundle group management unit is generated. The wiring order is assigned for each equipotential net or for each bundle managed in a group. The priority level is set to, for example, 10 levels, but is set to 5 in the example of FIG. In this example, the priority wiring layer for which a layer to be arranged is desired is, for example, the sixth layer. Since the wiring layer configuration table of FIG. 10 is linked to the first bundle table of FIG. 8, the wiring order can be determined at the time of placement trial.

【0044】図11は、図2のステップ6を詳細に説明
するための図であり、図1の配置試行手段26を詳細に
説明するための図である。配置試行手段26は、上述の
ように配置試行分析手段22と配置試行のデータ管理手
段23で構成される。この配置試行分析手段22は、部
品のレイアウトを表示する指示手段22Aと、部品の形
状を表示する指示手段22Bと、配線層構成を表示する
指示手段22Cと、分析結果を表示する指示手段22D
で構成される。また、配置試行のデータ管理手段23
は、群管理された結線の選択手段23Aと、部品近傍の
接続端子やビアホールの設定・変更手段23Bと、配線
層構成、デザインルール、配線層の条件設定・変更手段
23Cで構成される。
FIG. 11 is a diagram for explaining step 6 of FIG. 2 in detail, and is a diagram for explaining the arrangement trial means 26 of FIG. 1 in detail. The placement trial unit 26 includes the placement trial analysis unit 22 and the placement trial data management unit 23 as described above. The arrangement trial analysis unit 22 includes an instruction unit 22A for displaying a component layout, an instruction unit 22B for displaying a component shape, an instruction unit 22C for displaying a wiring layer configuration, and an instruction unit 22D for displaying an analysis result.
It consists of. In addition, the data management unit 23 of the placement trial
Is composed of group-managed connection selection means 23A, connection terminal and via hole setting / change means 23B near the component, and wiring layer configuration, design rules, and wiring layer condition setting / change means 23C.

【0045】部品のレイアウトを表示する指示手段22
Aは、部品のレイアウトとこれら部品の端子同士を接続
する配線経路を表示するように指示する。なお、この配
線経路の表示は、配線経路・密度分析手段25から送ら
れる分析結果に基づいて行う。この部品のレイアウトを
表示する指示手段22Aに基づいて表示される表示画面
は、図27に示す従来のラットネストの画面とほぼ同じ
であるが、本実施例では、この部品のレイアウトを表示
する指示手段22Aは、群管理された結線データ23A
を扱うことができる。すなわち、表示装置15には、一
本一本の結線ではなく、群管理された束の配線経路の結
線が表示される。
Instruction means 22 for displaying the layout of parts
A instructs to display the layout of the components and the wiring paths connecting the terminals of these components. The display of the wiring route is performed based on the analysis result sent from the wiring route / density analyzing means 25. The display screen displayed based on the instructing means 22A for displaying the layout of this part is substantially the same as the screen of the conventional rat nest shown in FIG. 27. In the present embodiment, however, an instruction for displaying the layout of this part is provided. The means 22A is a group-managed connection data 23A.
Can be handled. That is, on the display device 15, instead of the individual connections, the connections of the wiring paths of the bundle managed in the group are displayed.

【0046】部品の形状を表示する指示手段22Bは、
部品の寸法や端子の位置などを表示装置15に表示する
ように指示する。この部品の形状を表示する指示手段2
2Bは、配置検討前や配置検討中に、配線領域の不足が
予想された場合、部品周辺の接続端子やビアホールの位
置が適正かどうかを判断し、不適正な場合に変更する設
定・変更手段23Bに接続されている。部品周辺の接続
端子やビアホールの位置は、配線経路および配線密度を
分析する際に、基礎データとなることから、部品周辺の
接続端子やビアホールの位置が変更になった場合、後述
する図16のブロックテーブルが更新され、配線層構成
条件が変更される。
The instruction means 22B for displaying the shape of the part
It instructs the display device 15 to display the dimensions of the components, the positions of the terminals, and the like. Instruction means 2 for displaying the shape of this part
2B is a setting / changing means for judging whether the positions of the connection terminals and via holes around the component are appropriate when the shortage of the wiring area is expected before or during the study of the layout, and changing the position if inappropriate. 23B. Since the positions of the connection terminals and via holes around the component serve as basic data when analyzing the wiring path and the wiring density, when the positions of the connection terminals and via holes around the component are changed, FIG. The block table is updated, and the wiring layer configuration conditions are changed.

【0047】配線層構成を表示する指示手段22Cは、
全体の層構成や各層の構成に関する設定を行う部分であ
り、設計仕様に従って配線層構成、デザインルール、配
線層(どの層に何を配置するか)の指定が行われる。し
かし、この配線層構成を表示する指示手段22Cで設定
された配線層構成、デザインルール、配線層は、条件設
定・変更手段23Cで任意に追加まはた削除でき、これ
らの変更は、配線経路・密度分析手段25に同時に伝え
られる。
The instructing means 22C for displaying the wiring layer configuration includes:
This section is for setting the overall layer configuration and the configuration of each layer, and specifies a wiring layer configuration, a design rule, and a wiring layer (which layer is to be arranged in what layer) according to design specifications. However, the wiring layer configuration, design rules, and wiring layers set by the instructing means 22C for displaying the wiring layer configuration can be arbitrarily added or deleted by the condition setting / change means 23C. -Simultaneously transmitted to the density analysis means 25.

【0048】分析結果を表示する指示手段22Dは、配
置試行の評価を定量的に把握するために、分析された結
線をリアルタイムで表示装置15に表示するように指示
する。
The instructing means 22D for displaying the analysis result instructs to display the analyzed connection on the display device 15 in real time in order to quantitatively grasp the evaluation of the placement trial.

【0049】上記実施例では、部品や結線の配置試行を
効率的に行うと共に、評価結果を伝達するために、従来
のラットネストの配置検討画面以外に、部品の形状を表
示する指示手段22B、配線層構成を表示する指示手段
22C、および分析結果を表示する指示手段22Dを持
ち、これらの各表示指示手段の1箇所で起きた変更は、
コントロール手段18を介して、同時に全表示指示手段
に反映される。また、コントロール手段18では、他の
処理装置(図1に示すCADシステム1Aなど)から取
り込まれたデザインルール、または上記した各表示指示
手段22A〜22Dで設定されたデザインルールを管理
し、配線経路・密度分析手段25にデータを送ったり、
配線経路・密度分析手段25での分析結果を管理する構
造となっている。これらの機能を同時に参照するため各
表示指示手段ごとに表示ウィンドに表示する手段を持
ち、表示装置15でマルチウィンドとしてワークステー
ションで操作できるように構成されている。さらに、詳
述するならば、画面に表示されたデータをもとに、デザ
インルールなどの配線上の諸条件を満足するまで、操作
者が反復して操作する。
In the above-described embodiment, in order to efficiently perform the placement trial of the parts and the connection and to transmit the evaluation result, in addition to the conventional rat nest placement examination screen, the instruction means 22B for displaying the shape of the parts, It has an instruction means 22C for displaying the wiring layer configuration and an instruction means 22D for displaying the analysis result.
The information is simultaneously reflected on all display instruction means via the control means 18. Further, the control means 18 manages the design rules fetched from another processing device (such as the CAD system 1A shown in FIG. 1) or the design rules set by the display instruction means 22A to 22D described above, and Sending data to the density analysis means 25,
The structure is such that the analysis result of the wiring route / density analyzing means 25 is managed. In order to refer to these functions at the same time, each display instruction means has means for displaying on a display window, and the display device 15 is configured to be operated as a multi-window on a workstation. More specifically, the operator repeatedly performs operations based on the data displayed on the screen until various wiring conditions such as design rules are satisfied.

【0050】これらの処理は、各処理手段への指示は、
オブジェクト指向の概念と環境下で実現している。
In these processes, instructions to each processing means are as follows:
It is realized under the object-oriented concept and environment.

【0051】上記実施例におけるバンドル表示画面の例
を図12(a)に示す。この表示画面は、配線経路分析
によって得られた経路に沿って群管理された配線経路群
121を本数に応じたバンドル幅を設定して表示した例
である。なお、図12(a)中、120は部品である。
FIG. 12A shows an example of the bundle display screen in the above embodiment. This display screen is an example in which the wiring route group 121 managed in groups along the route obtained by the wiring route analysis is displayed with the bundle width set according to the number. In FIG. 12A, reference numeral 120 denotes a component.

【0052】また、マルチウインドで表示した場合の表
示画面の例を図12(b)に示す。この表示画面には、
部品のレイアウトと端子同士を接続する配線経路を表示
する部品レイアウト画面41、部品の寸法を表示する第
一の部品形状画面42、部品の端子の位置を表示する第
二の部品形状画面43、裏面のリード端子の位置を表示
する基板裏面入出力配列画面44、分析結果のデータを
表示する分析結果表示画面45を同時に表示している。
なお、この図12に示す例では、配線層構成を表示する
画面はない。操作者はこの表示画面を参照しながら最適
配置の指示を行う。また、いずれかの画面の変更は、図
1および図11に示すコントロール手段18を介して全
ての画面に反映される仕組みをもつ。各画面の位置や大
きさは自由に変更することがきると共に、表示する画面
を選択することもできる。
FIG. 12B shows an example of a display screen when a multi-window is displayed. On this display screen,
A component layout screen 41 for displaying the layout of the components and a wiring route for connecting the terminals, a first component shape screen 42 for displaying the dimensions of the components, a second component shape screen 43 for displaying the positions of the terminals of the components, a back surface And an analysis result display screen 45 for displaying data of analysis results at the same time.
In the example shown in FIG. 12, there is no screen for displaying the wiring layer configuration. The operator gives an instruction for the optimal arrangement while referring to this display screen. Further, there is a mechanism in which any screen change is reflected on all screens via the control means 18 shown in FIGS. The position and size of each screen can be freely changed, and the screen to be displayed can be selected.

【0053】次に、請求項2に記載した発明の実施例
を、図13ないし図20に基づいて説明する。図13お
よび図14は、図2のステップ7を詳細に説明するため
の図であり、図1に示した配線経路・密度分析手段25
の動作を示すフローチャートである。図13は検討対象
配線群のみの配線経路探索例を示すフローチャート、図
14は検討対象配線群に対してさらに既存の配線を考慮
する場合のフローチャートである。部品配置検討の初期
の段階では、通常、図13に示す検討対象配線群のみの
配線経路探索が行われ、部品配置検討が進んでくると、
図14に示す既存の配線を考慮して配線経路探索が行わ
れる。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIGS. 13 and 14 are diagrams for explaining step 7 in FIG. 2 in detail, and show the wiring route / density analysis unit 25 shown in FIG.
6 is a flowchart showing the operation of the embodiment. FIG. 13 is a flow chart showing an example of searching for a wiring route of only the wiring group to be examined, and FIG. In the initial stage of the component placement study, usually, a wiring route search for only the study target wiring group shown in FIG. 13 is performed, and as the component placement study progresses,
A wiring route search is performed in consideration of the existing wiring shown in FIG.

【0054】まず、図13の説明から行う。ステップ7
1では、配置試行による配置情報テーブル125Aをも
とに局所の配線可能領域を分析するブロック分割処理を
行う。ブロック分割の詳細な説明は、図15および図1
6に基づいて行う。
First, description will be made with reference to FIG. Step 7
In step 1, block division processing for analyzing a local routable area based on the placement information table 125A based on the placement trial is performed. A detailed description of the block division is given in FIGS.
6 is performed.

【0055】ステップ72では、配線層構成、局所のデ
ザインルール、部品近傍のビアホールなどの部品形状情
報やデザインルール126Aを考慮した配線可能チャン
ネルを計算し、図16のブロックテーブルの配線可能チ
ャンネル数が更新される。
In step 72, the number of routable channels is calculated in consideration of the wiring layer configuration, local design rules, component shape information such as via holes near the components, and the design rule 126A, and the number of routable channels in the block table of FIG. Be updated.

【0056】次に、既存配線を考慮するか否かを判断
し、考慮しない場合は、ステップ73に進む。既存配線
を考慮する場合は、図14に示すステップ76に移る。
Next, it is determined whether or not the existing wiring is taken into consideration. When the existing wiring is considered, the process proceeds to step 76 shown in FIG.

【0057】ステップ73では、配線経路探索を行う。
なお、このとき、図1に示す配線密度分析手段14で配
線密度も同時に分析する。詳細な説明は後述する。
In step 73, a wiring route search is performed.
At this time, the wiring density is also analyzed by the wiring density analyzing means 14 shown in FIG. A detailed description will be given later.

【0058】ステップ74では、ブロック占有率の分析
を行う。
At step 74, the block occupancy is analyzed.

【0059】ステップ75では、その結果を表示装置1
5に表示する。
In step 75, the result is displayed on the display device 1.
5 is displayed.

【0060】配置条件を満足しているかどうかを操作者
が判断し、満足していれば終了し、満足していなけれ
ば、ステップ6に戻る。
The operator determines whether or not the arrangement condition is satisfied. If the operator is satisfied, the process ends. If the operator is not satisfied, the process returns to step 6.

【0061】次に、既存配線を考慮する場合を、図14
に基づいて説明する。ステップ76で、図10の配線層
構成テーブルを読み込み、群管理された配線の優先レベ
ルに従いステップ77ないしステップ80を繰り返す。
ステップ77および78の処理は、前述のステップ7
3、74と同じである。
Next, a case where the existing wiring is taken into consideration will be described with reference to FIG.
It will be described based on. In step 76, the wiring layer configuration table shown in FIG. 10 is read, and steps 77 to 80 are repeated according to the priority level of the group-managed wiring.
The processing in steps 77 and 78 is the same as that in step 7 described above.
Same as 3, 74.

【0062】ステップ79では、ブロックの占有率をネ
ット(結線)の処理ごとに加算して集計する。
In step 79, the occupancy of the block is added and totalized for each processing of the net (connection).

【0063】ステップ80では、ステップ77およびス
テップ78の分析結果を既存配線データベースとして作
成する。
In step 80, the analysis results of steps 77 and 78 are created as an existing wiring database.

【0064】ステップ81では、図16のブロックテー
ブルのデータを更新する。
In step 81, the data in the block table of FIG. 16 is updated.

【0065】ステップ82では、処理内容を表示装置1
5に表示する。
In step 82, the processing contents are displayed on the display device 1.
5 is displayed.

【0066】図15は、図13のステップ71で行うブ
ロック分割の概念図である。図15では、3個の部品
(太線部分)151、152、153に対し、引き出し
部154、155と部品背面を基準にXY方向に分割ブ
ロック156を形成する形を示している。各矩形が1ブ
ロックにあたり、ブロック156ごとに配線可能量を計
算することができ、基板上の配線経路探索のベースとな
る。作成されたブロックは、図16のブロック管理テー
ブルの形で管理される。
FIG. 15 is a conceptual diagram of the block division performed in step 71 of FIG. FIG. 15 shows a form in which the divided blocks 156 are formed in the XY directions with respect to the drawer portions 154 and 155 and the back surface of the components for three components (bold line portions) 151, 152 and 153. Each rectangle corresponds to one block, and the possible wiring amount can be calculated for each block 156, which is the basis of the wiring route search on the substrate. The created blocks are managed in the form of a block management table shown in FIG.

【0067】図16に、ブロック管理テーブルの例を示
す。このブロック管理テーブルは、配置試行により変化
するブロックマトリックステーブルと、これに連結した
ブロックテーブルで構成される。ブロックテーブルは、
ブロックの大きさと位置を表す位置座標と、デザインル
ールで決まる配線可能チャンネル数をx、y方向ごとに
持つ。また、そのブロックにおける既存配線数がセット
される。初期状態では、配線可能チャンネル数は標準ル
ールで算定された値であり、既配線数は0である。
FIG. 16 shows an example of the block management table. This block management table is composed of a block matrix table that changes with placement trials and a block table linked to the block matrix table. The block table is
Position coordinates indicating the size and position of the block, and the number of routable channels determined by the design rule are provided for each of the x and y directions. Also, the number of existing wires in the block is set. In the initial state, the number of routable channels is a value calculated by the standard rule, and the number of already laid channels is zero.

【0068】図17は、図13に示すステップ73の配
線経路探索を行う際のフローチャトであり、図18は、
配線経路探索の方法の概念図である。なお、図18中、
太線部分は配線経路、四角は部品である。ステップ17
1では、図8の第1バンドルテーブルおよび図9の第2
バンドルテーブルのデータを読み込む。このデータをも
とに、以後の処理を行う。ここでは、処理の高速化を考
え、バンドルレベルでの実施例を示すが、等電位ネット
ごと、あるいは特定の信号ごとに行うこともできる。
FIG. 17 is a flowchart when the wiring route search of step 73 shown in FIG. 13 is performed, and FIG.
FIG. 5 is a conceptual diagram of a method of searching for a wiring route. In FIG. 18,
A bold line indicates a wiring route, and a square indicates a part. Step 17
1, the first bundle table of FIG. 8 and the second bundle table of FIG.
Read bundle table data. The subsequent processing is performed based on this data. Here, the embodiment at the bundle level is shown in consideration of the high-speed processing, but the processing can be performed for each equipotential net or for each specific signal.

【0069】ステップ172で、基本経路を決め、図6
の第二結線テーブルと図9の第二バンドルテーブルに書
き込む処理を行う。すなわち、群管理されたデータは、
初期では何通りもの配線経路を取り得るが、このうち、
特性仕様、物理形状、工程などを考慮し、無駄のない経
路を決める。ここでは、第1段階として、図18(a)
に示すように、部品180の間を最短経路処理により配
線経路181(太線部分)のベースを決める。この部分
は、目的、設計者の意志により、例えば最小分岐の経路
に決定したり、任意の経路に決定することも可能であ
る。処理された経路の結果は、図9の第2バンドルテー
ブルに書き込み、次いで図16のブロック管理テーブル
も更新する。
At step 172, a basic route is determined, and FIG.
Then, a process of writing to the second connection table of FIG. 9 and the second bundle table of FIG. 9 is performed. That is, group-managed data
Initially, there are many possible wiring routes, of which
Consider a characteristic specification, physical shape, process, etc., and determine a lean route. Here, as the first stage, FIG.
As shown in (1), the base of the wiring route 181 (the thick line portion) is determined between the components 180 by the shortest route processing. This part can be determined to be, for example, the path of the minimum branch or an arbitrary path according to the purpose and the will of the designer. The result of the processed route is written in the second bundle table of FIG. 9, and then the block management table of FIG. 16 is also updated.

【0070】ステップ173では、実配線を想定した配
線経路の探索を行う。ここでは図9の第2バンドルテー
ブルの単位にそってバンドルペアごとの線分探索を行
う。
In step 173, a search is made for a wiring route assuming actual wiring. Here, a line segment search is performed for each bundle pair along the unit of the second bundle table in FIG.

【0071】ステップ174では、バンドルペアごとに
端点からX、Y方向へのサーチを行って交点を求める。
この際、サーチを行ったブロックの抽出を行う。バンド
ルは、本数をもっているので、この本数に見合ったバン
ドル幅がデザインルールから計算される。
In step 174, an intersection is obtained by performing a search in the X and Y directions from the end point for each bundle pair.
At this time, the searched block is extracted. Since the bundle has the number, the bundle width corresponding to the number is calculated from the design rule.

【0072】ステップ175では、この幅をもとに配線
領域幅を決定し、配線領域に属するブロックを抽出す
る。
In step 175, the width of the wiring area is determined based on this width, and blocks belonging to the wiring area are extracted.

【0073】ステップ176では、配線方向ごとにブロ
ック単位で配線占有率を計算する。この場合、X方向、
Y方向の配線可能チャネル数は、図16のブロック管理
テーブルが持っているので、配線方向ごとにブロック単
位で配線占有率を計算できる。最大占有率は、配線可能
層数の関数として定義できる。例えば図19に示すよう
に、X方向の配線191の可能層数が5層である場合
は、ブロックチャンネル数の500%を最大値として占
有率を定義する。これらの定義は、操作者の経験、対象
配線ツールのアルゴリズムに応じて必要な係数や関数を
定義できる。
In step 176, the wiring occupancy is calculated in block units for each wiring direction. In this case, the X direction,
Since the number of routable channels in the Y direction is stored in the block management table of FIG. 16, the wiring occupancy can be calculated in block units for each wiring direction. The maximum occupancy can be defined as a function of the number of routable layers. For example, as shown in FIG. 19, when the number of possible layers of the wiring 191 in the X direction is five, the occupancy is defined with 500% of the number of block channels as the maximum value. These definitions can define necessary coefficients and functions according to the operator's experience and the algorithm of the target wiring tool.

【0074】次に、得られた各ブロックの配線占有率が
指定値以下のブロックのみであると分析された場合、処
理を終了する。
Next, when it is determined that the obtained wiring occupancy of each block is only the block having the designated value or less, the processing is terminated.

【0075】指定の占有率を越すブロックが存在した場
合は、ステップ177に進む。ステップ177では、配
線の起点と終点から、X、Y方向に線分を延ばして交点
を求める。すなわち、この場合、図18(b)に示すよ
うに、二つの経路(ア)(イ)ができるが、できた二つ
の経路(ア)(イ)のうち、ブロック配線占有率の低い
方182を選択する。
If there is a block exceeding the designated occupancy, the process proceeds to step 177. In step 177, the intersection is obtained by extending the line segment in the X and Y directions from the starting point and the ending point of the wiring. In other words, in this case, as shown in FIG. 18B, two paths (A) and (A) are formed, and of the two paths (A) and (A), the one 182 having the lower block wiring occupancy ratio Select

【0076】ステップ178では、配線経路に該当する
選択ブロック列の最大占有ブロックを検出する。
At step 178, the largest occupied block of the selected block row corresponding to the wiring path is detected.

【0077】次に、ステップ179に進んで、直前のブ
ロックから同様の探索を行い、図18(c)中の(エ)
に示すように経路183を決定し、屈曲点を図9の第2
バンドルテーブルに書き込む。
Next, proceeding to step 179, a similar search is performed from the immediately preceding block, and (d) in FIG.
The path 183 is determined as shown in FIG.
Write to the bundle table.

【0078】これを繰り返すことで配線経路を決定でき
るが、この例では配線ツールの性質および精度と処理時
間を考慮し、最大3回の処理とした。
By repeating this, the wiring path can be determined. In this example, the processing is performed up to three times in consideration of the nature, accuracy and processing time of the wiring tool.

【0079】図20は、配置検討中の配線密度の表示例
である。図20の例では、5つの部品の接続線の経路の
密集状況を5段階の密度に分解して表示している。部品
の接続線の密集状況を、表示装置15の色、図形、記号
などで表すことにより、多層に渡る配線基板の配置検討
評価を定量的に行うことができ、配置配線試行の工数を
減少させることができ、品質を大幅に向上することがで
きる。
FIG. 20 is a display example of the wiring density during the placement study. In the example of FIG. 20, the density of the paths of the connection lines of the five parts is divided into five levels of density and displayed. The denseness of the connection lines of the components is represented by the colors, figures, symbols, and the like of the display device 15, so that it is possible to quantitatively evaluate and evaluate the layout of the wiring board in multiple layers, and reduce the number of man-hours for the placement and wiring. Quality can be greatly improved.

【0080】以上、請求項1および2に記載した発明を
実施例を具体的に説明したが、この実施例に限定される
ものではなく、その主旨を逸脱しない範囲において、種
々変更可能であることは言うまでもなく、例えば一層の
配線基板の部品配置検討装置などにも好適に用いられ
る。
The embodiments of the present invention described in claims 1 and 2 have been specifically described with reference to the embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Needless to say, the present invention is suitably used, for example, in a component layout examination apparatus for a single-layer wiring board.

【0081】次に、請求項3に記載した発明の実施例を
説明する。図21は、請求項3に記載した発明の実施例
を説明するためのフローチャート図であり、図2のステ
ップ6の他の態様を説明する図である。また、図11で
説明した機能のうち、部品周辺のビアホールの配置を決
定、変更しながら、ビアホールの適性配置を決定する際
のフローチャート図であり、図11のビアホールの位置
分析手段24で行う。
Next, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 21 is a flowchart for explaining an embodiment of the invention described in claim 3, and is a diagram for explaining another mode of step 6 in FIG. FIG. 12 is a flowchart for determining an appropriate via-hole arrangement while determining and changing the arrangement of via-holes around a component among the functions described in FIG. 11, which is performed by the via-hole position analyzing unit 24 in FIG. 11.

【0082】まず、ステップ301では、ワイヤボンデ
ィング、フェースダウンボンディングなど、部品の実装
形態を選択する。すなわち、抵抗、コンデンサー、トラ
ンジスタなどの部品の集合、または単数若しくは複数の
特定の多端子部品群に対して指定する。
First, in step 301, a component mounting mode such as wire bonding or face down bonding is selected. That is, it is specified for a set of components such as a resistor, a capacitor, and a transistor, or a single or a plurality of specific multi-terminal component groups.

【0083】ステップ302では、既に設定されたデザ
インルールをもとに、最小発生領域を決定し実装形態に
沿ったアルゴリズムを起動する。
In step 302, the minimum generation area is determined based on the design rules that have already been set, and an algorithm according to the implementation is started.

【0084】ステップ303では、デザインルールを満
足するように各ビアホール間のギャップ、ビアホール間
を通過できる配線本数を考慮したビアホールの座標値を
自動的に計算する。このステップ303の詳細は後述す
る。
In step 303, the coordinate values of the via holes are automatically calculated in consideration of the gap between the via holes and the number of wires that can pass between the via holes so as to satisfy the design rule. The details of this step 303 will be described later.

【0085】スッテップ304では、ビアホール位置を
考慮した配線可能チャンネルの計算を行う。
At step 304, the calculation of the wirable channel taking the via hole position into consideration is performed.

【0086】ステップ305、306では、図13〜1
6に基づいて既に説明した方法で、配線経路分析、配線
密度表示を行う。配線密度の分布が配線可能チャンネル
を超えた領域が存在しなければ、作業を終了し、次ステ
ップへいく。
In steps 305 and 306, FIGS.
6, the wiring path analysis and the wiring density display are performed by the method described above. If there is no area where the distribution of the wiring density exceeds the routable channel, the operation is terminated and the next step is performed.

【0087】配線密度の分布が、配線可能チャンネルを
超えた領域が存在すれば、ステップ307で、可能な範
囲の他の実装形態の選択またはデザインルールの変更を
行う。
If there is a region where the distribution of the wiring density exceeds the routable channel, at step 307, another possible mounting mode is selected or the design rule is changed.

【0088】ステップ308、309、および310
は、上記ステップ301、302、および303と同様
のプロセスとなるが、デザインルール、実装条件が異な
っている。これを繰り返し、配線可能なレベルの配置条
件に達する。
Steps 308, 309, and 310
Is a process similar to steps 301, 302, and 303 described above, but differs in design rules and mounting conditions. This is repeated to reach a layout condition of a level at which wiring is possible.

【0089】図22に、部品の実装形態別のビアホール
発生の例を示す。図22(a)は、ワイヤボンディング
タイプのビアホール発生例であり、図22(b)は、フ
ェースダウンボンディングタイプのビアホール発生例で
ある。
FIG. 22 shows an example of via hole generation for each component mounting mode. FIG. 22A shows an example of generation of via holes of a wire bonding type, and FIG. 22B shows an example of generation of via holes of a face-down bonding type.

【0090】図22(a)に示したワイヤボンディング
タイプでは、配線領域確保のため、ビアホールはジグザ
グの配列を取る。ジグザクの配列の領域を変数として指
定(距離a)することにより、ビアホール間のギャップ
ルールとビアホール間最小配線通過数を指定することに
より、最小必要間隔を想定して一義的に決めることがで
きる。また、一度決めた配列に、密度の片寄りが発生し
た場合、自動的に配列の均一化処理を加える。すなわ
ち、ギャップが小さい部分については、一定量のギャッ
プ加算を行い、配列を再度計算し直す。この際の加算ギ
ャップは、例えば初期の10%の値を加算し、ビアホー
ル分布が均一になるまで自動的に繰り返す。ビアホール
の均一性については、エリア分割を行い、各領域毎の平
均のビアホール間の距離の比較によってなされる。
In the wire bonding type shown in FIG. 22A, the via holes take a zigzag arrangement to secure a wiring area. By designating the area of the zigzag arrangement as a variable (distance a), by designating the gap rule between via holes and the minimum number of wiring passages between via holes, it is possible to uniquely determine the minimum necessary interval. In addition, when the density of the once determined array is shifted, an array homogenization process is automatically performed. That is, for a portion having a small gap, a certain amount of gap addition is performed, and the sequence is calculated again. The addition gap at this time is, for example, an initial value of 10% added, and is automatically repeated until the via hole distribution becomes uniform. The uniformity of via holes is determined by performing area division and comparing the average distance between via holes for each region.

【0091】なお、TABテープを用いたボンディング
法の場合も、このワイヤボンディングタイプと同様に行
うことができる。
The bonding method using a TAB tape can be performed in the same manner as the wire bonding type.

【0092】図22(b)に示したフェースダウンボン
ディングタイプでは、マトリックス配列が基本となり、
マトリックスのピッチおよびマトリックス間の配線可能
本数の指定が基本的なデザインルールとなる。これをベ
ースに、配列ビアホール数を外側から内側に向かって順
番に発生させ、マトリックスがいっぱいになるまで配置
を進めて行く。途中で必要ビアホール数を満足した場合
は、その時点で終了する。また、部品に使用されていな
い入出力端子がある場合、その入出力端子が使用されて
いない情報は結線リストから事前に得られているので、
その入出力端子に対応するマトリックス部分は、自動的
にビアホール発生場所から外すようにする。
The face-down bonding type shown in FIG. 22B is based on a matrix arrangement.
The design of the matrix pitch and the number of wires that can be wired between the matrices is a basic design rule. Based on this, the number of arrayed via holes is sequentially generated from the outside to the inside, and the arrangement is advanced until the matrix is full. If the required number of via holes is satisfied on the way, the process ends at that point. Also, if there is an input / output terminal that is not used for the part, information that the input / output terminal is not used is obtained in advance from the connection list.
The matrix portion corresponding to the input / output terminal is automatically removed from the via hole generation location.

【0093】このようにして部品周辺のビアホールをデ
ザインルールを考慮しながら計算によって位置決めする
ことにより、従来繁雑で不正確であったビアホールの配
置を高速にシミュレートすることができると共に、種々
の実装形態にわたり最適なビアホールの配置を検討で
き、さらにこれを配線基板の適正配置に直接反映するこ
とが可能となる。これにより、多層配線基板の適正配置
検討を短時間に精度良く行うことが可能となる。
By locating via holes in the vicinity of a component by calculation in consideration of design rules in this way, it is possible to simulate the arrangement of via holes, which has conventionally been complicated and inaccurate, at high speed, and to implement various mounting methods. It is possible to consider the optimal arrangement of via holes depending on the form, and to directly reflect this in the appropriate arrangement of the wiring board. As a result, it is possible to accurately examine the proper arrangement of the multilayer wiring board in a short time.

【0094】次に、ビアホールの配置を考慮した多端子
部品近傍の配線密度を検討するための実施例を説明す
る。図23は、ビアホールの配置を考慮した多端子部品
近傍の配線密度を検討するための実施例を説明する図で
あり、上述したステップ303のワイヤーボンディング
タイプの部品周辺のビアホールの座標の演算方法を説明
するための図である。図23中、241、242、24
3、244、245、246で示す円形はビアホールで
ある。まず、第1番目のビアホール241の位置を決め
るが、ここでは配線エリアの端に設定してスタートする
例で説明する。すなわち、配線エリアのコーナZから4
5度の線上Z−Kからビアホールの最小ギャップルール
の内側に設定する。ここをスタートとして、ビアホール
とビアホール間の最小ギャップと、配線ピッチのデザイ
ンルールから、配置するビアホールの最小距離Lの値
は、次式で表せる。 L=XGAP+F*COS(ANG)*N ここで、XGAPは、最小距離ZGAPに対し角度AN
G(=TAN D/A)に対するCOSであり、ZGA
Pは、ビアホールとビアホール間のデザインルール、F
はライン−ライン間のデザインルール、Nは通過可能本
数である。
Next, an embodiment for examining the wiring density in the vicinity of the multi-terminal component in consideration of the arrangement of the via holes will be described. FIG. 23 is a view for explaining an embodiment for examining the wiring density near the multi-terminal component in consideration of the arrangement of the via holes. It is a figure for explaining. In FIG. 23, 241, 242, 24
Circles indicated by 3, 244, 245, and 246 are via holes. First, the position of the first via hole 241 is determined. Here, an example in which the position is set to the end of the wiring area and the process is started will be described. That is, from the corner Z of the wiring area to 4
It is set inside the minimum gap rule of the via hole from ZK on the line of 5 degrees. Starting from here, the value of the minimum distance L of the via hole to be arranged can be expressed by the following equation from the minimum gap between the via holes and the design rule of the wiring pitch. L = XGAP + F * COS (ANG) * N where XGAP is the angle AN with respect to the minimum distance ZGAP.
G (= TAN D / A), ZGA
P is the design rule between via holes, F
Is the design rule between lines, and N is the number of lines that can pass.

【0095】次に、ビアホールの図中縦方向の位置を部
品の入出力端子またはワイヤーボンディングのピッチを
参考に決定していく。例えばワイヤーボンディングのピ
ッチが決まっている場合、ワイヤーボンディングのパッ
ドのセンター座標から求められる。ワイヤーボンディン
グの幾何学的な設計ルールにより異なるが、単純な場合
はワイヤーボンディングのピッチDとなる。このDは、
ワイヤーボンディングの設計ルールに依存し、場所によ
り連続的に変化すると同時に係数がかかることもある。
Next, the vertical position of the via hole in the figure is determined with reference to the input / output terminals of the component or the pitch of the wire bonding. For example, when the pitch of the wire bonding is determined, it is obtained from the center coordinates of the pad of the wire bonding. Although it depends on the geometric design rule of wire bonding, a simple case is the wire bonding pitch D. This D is
Depending on the design rule of wire bonding, the coefficient may be continuously changed depending on the location and a coefficient may be applied at the same time.

【0096】上記L、D、N、Fをもとに、隣接のビア
ホール242の位置を決めることができる。同様にし
て、次々にビアホールの位置を決めていくが、この際、
配置領域幅Aをチェックしながら計算を行い、A(M
2)をはみ出す時には、プラス側に発生する。
The positions of the adjacent via holes 242 can be determined based on the above L, D, N, and F. In the same way, the positions of the via holes are determined one after another.
The calculation is performed while checking the arrangement area width A, and A (M
When 2) protrudes, it occurs on the plus side.

【0097】次に、図24に基づいて、上述のステップ
304の配線チャンネルの計算方法を説明する。図24
中、円形はビアホールの位置を表している。まず、X方
向配線を考える場合について説明する。X方向から見た
ビアホールの間隔をAとすると、ビアホールの配列によ
ってAの値は種々の値(BまたはC)を取り得るが、デ
ザインルールにしたがって各間隔の配線可能本数を計算
する。ここでは、X方法からの投影値Aに対し、ビアホ
ール間を通り得る配線数が予め決められている場合につ
いて述べる。例えばビアホール間に2本の配線を通過さ
せるルールでビアホールを発生させた場合を考える。A
の値が小さく、ライン−ライン間のデザインルールに満
たない場合(B)、ビアホールの間隔Bの最小値は、例
えば次式で設定できる。 B=ライン間ピッチ+ビアホールの最小ギャップ+ライン幅 また、Aの値がそれより大きい場合(C)には、配線ピ
ッチの最小ルールが適用でき、ビアホール間隔を配線ピ
ッチで割った本数を設定する。 チャンネル数=(C−S)/ラインピッチ ここで、Sはラインとビアホールギャップのデザインル
ールである。
Next, referring to FIG. 24, a description will be given of a method of calculating the wiring channel in step 304 described above. FIG.
The circles indicate the positions of the via holes. First, a case in which the X-direction wiring is considered will be described. Assuming that the interval between the via holes as viewed from the X direction is A, the value of A can take various values (B or C) depending on the arrangement of the via holes, but the number of routable wires at each interval is calculated according to the design rule. Here, a case will be described in which the number of wirings that can pass between via holes is predetermined with respect to the projection value A from the X method. For example, consider a case where a via hole is generated according to the rule of passing two wires between the via holes. A
Is small and does not satisfy the line-to-line design rule (B), the minimum value of the via hole interval B can be set, for example, by the following equation. B = inter-line pitch + minimum gap of via hole + line width If the value of A is larger than that (C), the minimum rule of the wiring pitch can be applied, and the number of via holes divided by the wiring pitch is set. . Number of channels = (C−S) / line pitch Here, S is a design rule of a line and a via hole gap.

【0098】さらに、この際、隣接ビアホールとの相対
位置関係を考慮し、投影角からより正確なチャンネル数
を計算することも可能である。
Further, at this time, it is possible to calculate the more accurate number of channels from the projection angle in consideration of the relative positional relationship with the adjacent via hole.

【0099】このようにして、ビアホールのX方向の投
影距離とデザインルールをベースに配線可能チャンネル
を計算することが可能である。
In this way, it is possible to calculate the wirable channel based on the projection distance of the via hole in the X direction and the design rule.

【0100】次に、請求項4に記載した発明の実施例を
説明する。図25は、請求項4に記載した発明の実施例
を説明するためのフローチャートであり、図2のステッ
プ8を詳細に説明する図である。
Next, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 25 is a flowchart for explaining the embodiment of the invention described in claim 4, and is a diagram for explaining step 8 in FIG. 2 in detail.

【0101】まず、ステップ401では、図13のステ
ップ7により表示された基板上の各領域の配線密度を基
に、分析したい領域を入出力機器であるマウスやタブレ
ットで指示する。この場合、表示装置15上には、後述
するように、指示された領域を確認できるよう検討対象
領域が表示される(図26a参照)。
First, in step 401, a region to be analyzed is specified by a mouse or tablet as an input / output device based on the wiring density of each region on the substrate displayed in step 7 of FIG. In this case, a study target area is displayed on the display device 15 so that the designated area can be confirmed, as described later (see FIG. 26A).

【0102】次に、検討対象領域が指示されると、ステ
ップ402に移り、指示された座標値を基に、指定領域
内のバンドルの抽出を行う。
Next, when the area to be examined is designated, the process proceeds to step 402, and the bundle in the designated area is extracted based on the designated coordinate values.

【0103】抽出されたバンドルは、既に図4ないし図
9を用いて詳述したテーブルを持っているので、このテ
ーブルを参照する事により、抽出された結線が接続され
ている部品および各接続本数を知ることができる(ステ
ップ403)。
The extracted bundle already has a table described in detail with reference to FIGS. 4 to 9, and by referring to this table, the parts to which the extracted connection is connected and the number of each connection are obtained. (Step 403).

【0104】次に、ステップ404に移り、処理結果を
表示装置に表示することにより、検討対象領域を通過す
る結線と関係が大きい部品を知ることができ、またその
影響の大きさを知ることが可能となる。これにより、ど
の部品を動かすか、デザインルールが適切かを迅速に判
断でき、更に自動的に適正な移動先を表示出来る。
Next, the process proceeds to step 404, and by displaying the processing result on the display device, it is possible to know the parts having a large relationship with the connection passing through the examination target area, and to know the magnitude of the influence. It becomes possible. As a result, it is possible to quickly determine which part is to be moved and whether the design rule is appropriate, and it is also possible to automatically display an appropriate destination.

【0105】図26aは、ステップ401で指示される
検討対象領域の表示画面例を示す図である。図26a
中、501は、検討対象領域の表示、他の矩形502
は、図15及び図20で説明した配線密度表示の領域
別、色分けを示している。
FIG. 26A is a diagram showing an example of a display screen of the examination target area designated in step 401. FIG.
In the middle, reference numeral 501 denotes a display of a study target area, and another rectangle 502.
Indicates the area and color classification of the wiring density display described with reference to FIGS. 15 and 20.

【0106】図26bは、ステップ404で処理される
分析結果の表示画面例を示す図である。図26bでは、
図26aで指定された領域を通過した結線が接続されて
いる部品を、通過配線本数が多い順に5個表示した様子
を示している(511、512、513、514、51
5)。また、この結果をもとに、他の領域の配線密度及
び結線経路を分析する事により当該指定領域の配線密度
を低く抑え得る移動先領域を表示出来る(510、51
6、517、518)。上記した適正な移動先を予想す
る方法は、例えば配線密度から予想される配置可能性を
配線可能容量に一定の基準を設け、その大小で判断した
うえで本プロセスで得られた関連バンドルを上記配置可
能領域について、配置時のシミュレーションを行うこと
で、適正領域を絞り込み表示することも可能である。ま
たこれ以外に、基板が持つべき特性、配線長、基板形
状、実装条件等を考慮する事が可能で、基板の性質に応
じ、種々の条件を加えることが出来る。これにより、配
置配線試行の工数を減少させることができ、品質を大幅
に向上することができる。
FIG. 26B is a diagram showing a display screen example of the analysis result processed in step 404. In FIG. 26b,
FIG. 26A shows a state in which five connected parts that have passed through the area specified in FIG. 26A are displayed in descending order of the number of passing wirings (511, 512, 513, 514, 51).
5). Also, based on the result, by analyzing the wiring density and the connection route of the other area, it is possible to display the destination area where the wiring density of the specified area can be kept low (510, 51).
6, 517, 518). The above-mentioned method of estimating an appropriate destination is, for example, to set a certain standard for the wiring possibility capacity based on the wiring possibility which is expected from the wiring density, determine the magnitude of the wiring size, and determine the relevant bundle obtained in this process. By performing a simulation at the time of arrangement with respect to the arrangeable area, it is possible to narrow down and display an appropriate area. In addition to the above, it is possible to consider characteristics that the substrate should have, wiring length, substrate shape, mounting conditions, and the like, and various conditions can be added according to the characteristics of the substrate. As a result, the number of man-hours for placement and routing can be reduced, and the quality can be greatly improved.

【0107】[0107]

【発明の効果】以上のように、請求項1 に記載した発明
によれば、配置試行手段により設定された条件に従って
結線情報を分類し、この条件に従って結線情報を群管理
すると共に、群管理する結線情報を前記配置施行手段に
供給する結線情報管理手段を具備し、配置施行手段は群
管理された結線情報に従い配置試行を行い、その結果、
表示手段は群管理された状態で結線を表示することか
ら、処理すべき結線数を減らすことができるので、処理
を高速に行うことができると共に、表示画面も見やすく
なり、あまり小さい表示は不要な初期段階の検討に特に
有効である。また、処理量が減少するので、設計者の意
図にあった処理ができ、密度が高くなりそうな箇所の発
見が容易で、修正の際に簡単に見つけることができると
共に、配線順序の決定を能率よく、有効に得られる。さ
らに、部品や部品の特性や信号線の電気的な性質ごとに
データを簡単に抽出できる。そして、操作者が群管理さ
れた状態での結線の表示を見て、配置試行手段に対し、
各種条件を再設定することで、群管理されていた結線情
報が再分類され、新たに群管理された状態で結線を再表
示することができるため、シミュレーション能力に優れ
る。また、請求項2に記載した発明によれば、請求項1
に記載した発明に加え、配置施行を行う際に、配線経路
を探索すると共に、その配線経路が含まれる領域内にお
ける配線密度を分析して、その結果を前記表示装置に表
示する配線経路・密度分析手段を更に具備することか
ら、実際の配線に近いかたちで検討できるので、部品や
配線の検討をしやすいと共に、配線の密度の計算を正確
にでき、配置評価が正確にできる。特に、検討の初期段
階でも諸特性を正確に分析・ 把握できる。また、請求項
3に記載した発明によれば、配置試行を行う際に、部品
の入出力端子に接続されるビアホールの配置に関する局
所的なデザインルールに従って、所望条件を満足するビ
アホールの配置を探索し、その結果を前記表示装置に表
示すると共に、決定されたビアホールの配置に密度の片
寄りが発生した場合、自動的にビアホール配置の均一化
処理を行うことから、配線の際、ネックになり易い多端
子部品の周辺について、ビア配置を自動的で発生させ、
局所デザインルールの変更を行いながら配置条件を決め
ることが出来るので、部品や配線の検討をしやすいと共
に、配線の密度の計算を正確にでき、配置評価が正確に
できる。特に、検討の初期段階でも諸特性を正確に分析
・把握できる。また、決定されたビアホールの配置に、
密度の片寄りが発生した場合、これを自動的に補正する
ことができるため、最適なビアホール配置の検討にあた
り非常に有効である。さらに、請求項4に記載した発明
によれば、請求項1に記載した発明に加え、配置施行を
行う際に、単数又は複数の特定の領域を指定することに
より、この指定領域を通過する配線と、この配線に接続
された部品を抽出して、表示装置に表示することから、
配線密度が高くなると予想された領域について、これを
除去する為の配置を検討する際、当該領域を画面上で指
定することにより、領域を通過する配線を知ることが出
来るとともに、通過配線が関連する部品を配線情報から
即座に知ることができる。これにより、通過領域の配線
密度に影響している部品を知ることができ、配置変更を
効果的に行うことができる。特に、検討の初期段階でも
諸特性を正確に分析・把握できる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the connection information is classified according to the condition set by the placement trial means, and the connection information is group-managed and group-managed according to the condition. A connection information management unit that supplies connection information to the placement execution unit, the placement execution unit performs a placement trial according to the group-managed connection information, and as a result,
Since the display means displays the connections in a group-managed state, the number of connections to be processed can be reduced, so that the processing can be performed at a high speed, the display screen is easy to see, and a very small display is unnecessary. This is particularly effective for the early stage of the study. In addition, since the processing amount is reduced, it is possible to perform processing in accordance with the intention of the designer, to easily find a place where the density is likely to be high, to easily find the part at the time of correction, and to determine the wiring order. It is obtained efficiently and effectively. Further, data can be easily extracted for each component, component characteristics, and electrical characteristics of signal lines. Then, the operator looks at the display of the connection in a state where the group is managed, and instructs the placement trial means to
By resetting the various conditions, the connection information managed by the group is re-classified, and the connection can be re-displayed in a newly group-managed state, so that the simulation capability is excellent. Also, according to the invention described in claim 2, according to claim 1
In addition to the invention described in the above, in performing the placement and execution, a wiring path is searched, and a wiring density in an area including the wiring path is analyzed, and the result is displayed on the display device. Since the analysis means is further provided, it can be examined in a form close to the actual wiring, so that it is easy to examine components and wiring, and the calculation of the wiring density can be accurately performed, and the placement evaluation can be accurately performed. In particular, various characteristics can be accurately analyzed and grasped even in the initial stage of examination. According to the third aspect of the present invention, when performing the placement trial, the location of the via hole that satisfies the desired condition is searched for according to the local design rule regarding the location of the via hole connected to the input / output terminal of the component. Then, the result is displayed on the display device, and if the determined via hole arrangement is shifted in density, the via hole arrangement is automatically uniformed, which becomes a bottleneck in wiring. Via placement is automatically generated around easy multi-terminal components,
Since the placement conditions can be determined while changing the local design rule, it is easy to examine components and wiring, and the calculation of wiring density can be accurately performed, and placement evaluation can be performed accurately. In particular, various characteristics can be accurately analyzed and grasped even in the initial stage of the examination. Also, in the determined via hole arrangement,
If a density deviation occurs, it can be automatically corrected, which is very effective in examining an optimum via hole arrangement. Furthermore, according to the invention described in claim 4, in addition to the invention described in claim 1, when performing placement, one or more specific areas are designated, so that wiring that passes through the designated area is specified. And extracting the parts connected to this wiring and displaying them on the display device,
When examining the arrangement to remove the area where the wiring density is expected to be high, by specifying the area on the screen, it is possible to know the wiring that passes through the area, The component to be connected can be immediately known from the wiring information. As a result, it is possible to know the components that affect the wiring density in the passage area, and it is possible to effectively change the arrangement. In particular, various characteristics can be accurately analyzed and grasped even in the initial stage of the examination.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る配線基板の配置検討装置の一実施
例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a wiring board arrangement studying apparatus according to the present invention.

【図2】配置検討装置の動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation of the arrangement studying device.

【図3】結線情報分析管理手段の動作を示すフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a connection information analysis management unit.

【図4】スッテップ31および32で作成されるデータ
ベースを階層構造で表示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing a database created in steps 31 and 32 in a hierarchical structure.

【図5】ステップ31で作成される第1結線テーブルを
示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a first connection table created in step 31;

【図6】ステップ32で作成される第2結線テーブルを
示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a second connection table created in step 32;

【図7】ステップ35および36で作成されるデータベ
ースを階層構造で表示した図である。
FIG. 7 is a diagram showing a database created in steps 35 and 36 in a hierarchical structure.

【図8】ステップ35で作成される第1バンドルテーブ
ルを示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a first bundle table created in step 35;

【図9】ステップ36で作成される第2バンドルテーブ
ルを示す図である。
FIG. 9 is a view showing a second bundle table created in step S36.

【図10】配線構成の分析結果に基づいて作成される配
線構成テーブルを示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a wiring configuration table created based on a wiring configuration analysis result.

【図11】配置試行手段を詳細に説明するための図であ
る。
FIG. 11 is a diagram for explaining an arrangement trial unit in detail.

【図12】表示画面の例を示す図であり、(a)はバン
ドル表示画面の例、(b)はマルチウインドで表示した
表示画面の例である。
12A and 12B are diagrams illustrating an example of a display screen, wherein FIG. 12A is an example of a bundle display screen, and FIG. 12B is an example of a display screen displayed in a multi-window.

【図13】検討対象配線群のみの配線経路探索例を示す
フローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart illustrating an example of searching for a wiring route of only a wiring group to be considered;

【図14】検討対象配線群に対してさらに配線順序を考
慮する場合のフローチャートである。
FIG. 14 is a flowchart in a case where a wiring order is further considered for a wiring group to be considered;

【図15】ブロック分割処理の例を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a block division process.

【図16】ブロック管理テーブルの例を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a block management table.

【図17】ステップ133の配線経路探索を行う際のフ
ローチャート図である。
FIG. 17 is a flowchart when a wiring route search in step 133 is performed.

【図18】配線経路探索の方法の概念図である。FIG. 18 is a conceptual diagram of a wiring route search method.

【図19】配線占有率の計算方法を示す図である。FIG. 19 is a diagram illustrating a method of calculating a wiring occupancy.

【図20】配置検討中の配線密度の表示例である。FIG. 20 is a display example of a wiring density under consideration for placement.

【図21】請求項3に記載した発明の実施例を説明する
ためのフロチャート図である。
FIG. 21 is a flowchart for explaining the embodiment of the invention described in claim 3;

【図22】部品の実装形態別のビアホール発生の例を示
す図であり、(a)はワイヤボンディングタイプのビア
ホール発生例、(b)はフェースダウンボンディングタ
イプのビアホール発生例である。
22A and 22B are diagrams illustrating examples of via hole generation for each component mounting mode, in which FIG. 22A illustrates an example of a wire bonding type via hole and FIG. 22B illustrates an example of a face down bonding type via hole.

【図23】ビアホールの配置を考慮した多端子部品近傍
の配線密度を検討するための実施例を説明する図であ
る。
FIG. 23 is a diagram illustrating an example for examining the wiring density near the multi-terminal component in consideration of the arrangement of via holes.

【図24】図21中のステップ304の配線チャンネル
の計算方法を説明するための図である。
FIG. 24 is a diagram for explaining a method for calculating a wiring channel in step 304 in FIG. 21;

【図25】請求項4に記載した発明の実施例を説明する
ための図である。
FIG. 25 is a view for explaining an embodiment of the invention described in claim 4;

【図26】請求項4に記載した発明の実施例における表
示画面例を示す図であり、(a)は図25のステップ4
01で指示される検討対象領域の表示画面例を示す図、
(b)はステップ404で処理される分析結果の表示画
面例を示す図である。
FIG. 26 is a diagram showing an example of a display screen in the embodiment of the invention described in claim 4; FIG.
FIG. 11 is a diagram showing an example of a display screen of a study target area indicated by 01;
(B) is a figure showing an example of a display screen of an analysis result processed at Step 404.

【図27】従来の配置検討装置の表示画面の一例を示す
図である。
FIG. 27 is a diagram illustrating an example of a display screen of a conventional arrangement study device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・CADシステム、2・・・配置検討装置、3・
・・入力装置、4・・・マンマシンインターフェース手
段、5・・・主メモリー、6・・・CADデータベー
ス、7・・・アクセスドライバー手段、8・・・表示制
御手段、9・・・表示装置、10・・・データインタフ
ェース手段、12・・・入力装置、13・・・マンマシ
ンインターフェース手段、14・・・表示制御手段、1
5・・・表示装置、16・・・データインターフェース
手段、17・・・インターフェースデータ保管手段、1
8・・・コントロール手段、19・・・配線経路探索手
段、20・・・配線密度分析手段、21・・・分析デー
タ管理手段、22・・・配置試行分析手段、23・・・
配置試行のデータ管理手段、24・・・結線情報分析管
理手段、25・・・配線経路・密度分析手段、26・・
・配置試行手段。
1 ... CAD system, 2 ... Place study device, 3 ...
..Input device, 4 ... Man-machine interface means, 5 ... Main memory, 6 ... CAD database, 7 ... Access driver means, 8 ... Display control means, 9 ... Display device , 10 data interface means, 12 input device, 13 man-machine interface means, 14 display control means, 1
5 ... display device, 16 ... data interface means, 17 ... interface data storage means, 1
8 ... control means, 19 ... wiring route search means, 20 ... wiring density analysis means, 21 ... analysis data management means, 22 ... arrangement trial analysis means, 23 ...
Data management means for placement trial, 24 ... Connection information analysis management means, 25 ... Wiring path / density analysis means, 26 ...
-Placement trial means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−247578JP,A) 特開 平4−54676(JP,A) 特開 平4−151774(JP,A) 特開 平4−220770(JP,A) 特開 平6−120344(JP,A) 特開 平5−342304(JP,A) 特開 平6−124320(JP,A) 特開 平3−252774(JP,A) 特開 平1−286080(JP,A) 特開 平1−219955(JP,A) 特開 昭61−208169(JP,A) 特開 昭60−142472(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 17/50 H05K 13/04 H05K 3/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-4-247578 JP, A) JP-A-4-54676 (JP, A) JP-A-4-151774 (JP, A) JP-A-4-220770 ( JP, A) JP-A-6-120344 (JP, A) JP-A-5-342304 (JP, A) JP-A-6-124320 (JP, A) JP-A-3-252774 (JP, A) JP JP-A-1-286080 (JP, A) JP-A-1-219955 (JP, A) JP-A-61-208169 (JP, A) JP-A-60-142472 (JP, A) (58) Fields investigated (Int) .Cl. 6 , DB name) G06F 17/50 H05K 13/04 H05K 3/00

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 コマンドを入力する入力装置と、この入
力装置から入力されたコマンドの命令により、部品の配
置試行を行う配置試行手段と、この配置試行の結果を表
示する表示装置とを具備する配線基板の部品配置検討装
置において、前記配置試行手段により設定された条件に
従って結線情報を分類し、この条件に従って結線情報を
群管理すると共に、群管理する結線情報を前記配置施行
手段に供給する結線情報管理手段を具備し、配置施行手
段は群管理された結線情報に従い配置試行を行い、その
結果、表示手段は群管理された状態で結線を表示する
とを特徴とする部品配置検討装置。
1. An input device for inputting a command, an arrangement trial unit for performing an arrangement trial of a component in accordance with a command of the command input from the input device, and a display device for displaying a result of the arrangement trial. In the component placement examination device for the wiring board, the condition set by the placement trial unit is
Therefore, the connection information is classified and the connection information is
Group management and connection management for group management
With connection information management means for supplying
The stage performs a placement trial according to the connection information managed by the group, and
Result, the display means component placement examined and wherein the this <br/> for displaying the connection in a state of being group management.
【請求項2】 請求項1記載の部品配置検討装置におい
て、配置施行を行う際に、配線経路を探索すると共に、
その配線経路が含まれる領域内における配線密度を分析
して、その結果を前記表示装置に表示する配線経路・密
度分析手段を更に備えたことを特徴とする部品配置検討
装置。
2. A component arrangement study apparatus according to claim 1, wherein
Te, when performing arrangement enforcement, while searching for a wiring route,
A component layout examination device further comprising a wiring route / density analyzing means for analyzing a wiring density in an area including the wiring route and displaying the result on the display device.
【請求項3】 コマンドを入力する入力装置と、この入
力装置から入力されたコマンドの命令により、部品の配
置試行を行う配置試行手段と、この配置試行の結果を表
示する表示装置とを具備する配線基板の部品配置検討装
置において、前記配置試行を行う際に、部品の入出力端
子に接続されるビアホールの配置に関する局所的なデザ
インルールに従って、所望条件を満足するビアホールの
配置を探索し、その結果を前記表示装置に表示すると共
に、決定されたビアホールの配置に密度の片寄りが発生
した場合、自動的にビアホール配置の均一化処理を行う
ビアホール位置分析手段を具備することを特徴とする配
線基板の部品配置検討装置。
3. An input device for inputting a command, an arrangement trial means for arranging a component in accordance with a command of the command input from the input device, and a display device for displaying a result of the arrangement trial. In the component placement examination device of the wiring board, when performing the placement trial, in accordance with local design rules regarding the placement of via holes connected to the input / output terminals of the component, search for via hole placement that satisfies desired conditions, display Then co results on the display device
Density deviation occurs in the determined via hole arrangement
In this case, a component arrangement examination device for a wiring board, comprising: a via-hole position analyzing means for automatically performing a process of equalizing the arrangement of via-holes .
【請求項4】 請求項1記載の部品配置検討装置におい
て、配置施行を行う際に、単数又は複数の特定の領域を
指定することにより、この指定領域を通過する配線と、
この配線に接続された部品を抽出して、前記表示装置に
表示する配線経路・密度分析手段を更に備えたことを特
徴とする部品配置検討装置。
4. A component arrangement review apparatus according to claim 1, wherein
Te, when performing arrangement enforcement, by specifying one or more specific areas, the wiring passing through the designated region,
A component layout examining apparatus further comprising a wiring route / density analyzing means for extracting a component connected to the wiring and displaying the extracted component on the display device.
JP5053941A 1992-12-15 1993-03-15 Equipment for examining component placement on wiring boards Expired - Fee Related JP2989985B2 (en)

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