JP2987976B2 - Optical shutter array - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、PLZT等の電気光学
材料を用いた光シャッタアレイに関し、さらに詳しく
は、電気化学材料のチップの長手方向に沿って形成した
溝状の共通電極の両側それぞれに、前記共通電極に交叉
する溝で区画した複数のシャッタエレメントを配設した
光シャッタアレイに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical shutter array using an electro-optical material such as PLZT, and more particularly, to both sides of a groove-like common electrode formed along the longitudinal direction of a chip of an electrochemical material. In addition, the present invention relates to an optical shutter array in which a plurality of shutter elements defined by grooves crossing the common electrode are provided.
【0002】[0002]
【従来の技術】上述した光シャッタアレイは、例えば光
プリンタのプリントヘッドに用いられるもので、ひとつ
ひとつのシャッタエレメントに付設した駆動電極と前記
共通電極との間の印加電圧の制御で、各シャッタエレメ
ントにおける光の透過状態を変えることができるもので
ある。そして、その電圧印加用のIC等を光シャッタア
レイの両側方に配置する関係上、前記共通電極をチップ
の側方に臨ませて、上記IC等との電気的な接続を行い
易くすることが知られている。2. Description of the Related Art The above-described optical shutter array is used, for example, in a print head of an optical printer, and controls each applied shutter element by controlling a voltage applied between a drive electrode attached to each shutter element and the common electrode. Can change the transmission state of light. Since the voltage application ICs and the like are arranged on both sides of the optical shutter array, the common electrode faces the side of the chip to facilitate electrical connection with the ICs and the like. Are known.
【0003】従来の光シャッタアレイでは、上述した共
通電極をチップの側方に臨ませる構成として、共通電極
を、チップの一端からチップの一側面までチップの外周
壁に沿って延長したものがある(例えば、特開平1−1
55316号公報参照)。In a conventional optical shutter array, there is a configuration in which the common electrode is extended along the outer peripheral wall of the chip from one end of the chip to one side surface of the chip as a configuration in which the above-mentioned common electrode faces the side of the chip. (See, for example,
No. 55316).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来の光シャッタアレイで、チップの端部に位置するシャ
ッタエレメントに、チップの中央部分に位置するものに
比して特性の劣化するものが生じることがあった。その
原因を究明すべく実験を重ねた結果、以下のことが分か
った。つまり、上述した従来の光シャッタアレイでは、
チップの表面に共通電極や個別電極を形成するために付
設するアルミ等の導電性膜をチップの端部の全面と側面
にも併せて付設し、その導電性膜を利用して、共通電極
をチップの側方に臨ませていた。そのため、導電性膜を
付設する工程に先立って、チップを所定の形状に切り揃
える必要があり、その切断時に力が掛かることで端部付
近の電気光学材料の特性に劣化が生じ易いのである。However, in the above-mentioned conventional optical shutter array, some of the shutter elements located at the end of the chip have characteristics that are deteriorated as compared with those located at the center of the chip. There was something. As a result of repeated experiments to determine the cause, the following was found. That is, in the above-described conventional optical shutter array,
A conductive film such as aluminum, which is provided to form common electrodes and individual electrodes on the surface of the chip, is also provided on the entire surface and side surfaces of the end of the chip, and the conductive film is used to form the common electrode. I was facing the side of the chip. Therefore, prior to the step of attaching the conductive film, it is necessary to cut the chips into a predetermined shape, and when a force is applied at the time of cutting, the characteristics of the electro-optical material near the end are likely to deteriorate.
【0005】本発明は、上記実情に鑑み、チップの端部
に位置するシャッタエレメントに特性の劣化の生じにく
い光シャッタアレイを提供することにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an optical shutter array in which characteristics of a shutter element located at an end of a chip hardly deteriorate.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明による光シャッタ
アレイの特徴構成は、電気光学材料のチップの長手方向
に沿って形成した溝状の共通電極を、その共通電極の両
側それぞれに配設した複数のシャッタエレメントを区画
する溝のうちの少なくとも1つに形成した導電部を介し
て前記チップの側方に臨ませてあることにある。A feature of the optical shutter array according to the present invention is that a groove-like common electrode formed along the longitudinal direction of a chip made of electro-optical material is disposed on both sides of the common electrode. In one embodiment, the shutter element faces a side of the chip via a conductive portion formed in at least one of the grooves defining the plurality of shutter elements.
【0007】[0007]
【作用】チップに対する切削加工とシャッタエレメント
の特性の劣化に関して実験を重ねた結果、チップを完全
に切断してしまう場合には、その切断箇所の近傍におい
てシャッタエレメントに特性の劣化が生じ易いのに比し
て、例えばチップ上に溝を形成する等の、カッターの刃
がチップの表裏に亘って貫通することのない切削によっ
ては、その切削箇所の近傍のシャッタエレメントの特性
の劣化は殆ど見られないことを見出した。When the chip is completely cut as a result of repeated experiments on the cutting of the chip and the deterioration of the characteristics of the shutter element, the characteristics of the shutter element are likely to be deteriorated in the vicinity of the cut portion. In contrast, in the case of cutting in which the cutter blade does not penetrate over the front and back of the chip, for example, by forming a groove on the chip, deterioration of the characteristics of the shutter element near the cut point is hardly observed. Not found.
【0008】そこで、本発明の光シャッタアレイは、シ
ャッタエレメントの区画用の溝のうちの少なくとも1つ
を利用して、そこに、共通電極をチップの側方に臨ませ
るための導通部を形成することで、切断ではなく切削と
いう加工手段で形成される部位を利用することによって
周囲のシャッタエレメントの特性の劣化を回避しなが
ら、しかも、シャッタエレメントの区画のために本来的
に必要な溝を用いることで、共通電極をチップの側方に
臨ませるべく導電膜を形成する部分だけが他の部分と違
う特別な加工を受けることを少なくして、各シャッタエ
レメントの作成条件ができるだけ同じになるようにして
ある。Therefore, the optical shutter array of the present invention utilizes at least one of the grooves for partitioning the shutter element, and forms a conductive portion in the optical shutter array to expose the common electrode to the side of the chip. In this way, it is possible to avoid the deterioration of the characteristics of the surrounding shutter elements by utilizing the portion formed by the processing means of cutting rather than cutting, and to form a groove originally necessary for partitioning the shutter element. By using this, only the portion where the conductive film is formed is subjected to special processing different from other portions so that the common electrode faces the side of the chip, and the conditions for forming each shutter element are the same as possible. It is like that.
【0009】[0009]
【実施例】以下、図面に基づいて、本説明の実施例を説
明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0010】図3に示すように光源1と感光体2との間
に、電気光学材料の一例であるPLZTからなる光シャ
ッタアレイ3とそれの両側に位置させた一対の偏光子
4,5とからなる光シャッタ装置Sを介装し、前記光シ
ャッタアレイ3の画素単位のシャッタエレメントそれぞ
れにシャッタ開閉駆動用の駆動電圧を記録情報に応じて
印加するための制御装置(図示せず)を設け、もって、
光プリンタのプリントヘッドを構成してある。なお、図
中6は帯電装置、7は現像装置、8は転写分離装置、9
は除電装置、10はクリーナである。As shown in FIG. 3, an optical shutter array 3 made of PLZT, which is an example of an electro-optical material, and a pair of polarizers 4, 5 positioned on both sides of the optical shutter array 3 are provided between a light source 1 and a photosensitive member 2. And a control device (not shown) for applying a drive voltage for shutter opening / closing drive to each of the shutter elements in pixel units of the optical shutter array 3 according to recording information. With
It constitutes the print head of the optical printer. In the figure, 6 is a charging device, 7 is a developing device, 8 is a transfer separation device, 9
Denotes a static eliminator, and 10 denotes a cleaner.
【0011】前記光シャッタ装置Sは、図2に示すよう
に、ガラス製の台板12上に、複数のシャッタエレメン
トを有する光シャッタアレイ3を列状に並べて取り付け
るとともに、その両側に前記制御装置からの制御信号を
受けて前記シャッタアレイ3に駆動電圧を印加するため
の駆動用IC13を設け、両端部に電源入力部14と信
号入力部15とを配設して構成してある。As shown in FIG. 2, the optical shutter device S has an optical shutter array 3 having a plurality of shutter elements arranged in a row on a glass base plate 12, and the control device is provided on both sides thereof. A drive IC 13 for receiving a control signal from the controller and applying a drive voltage to the shutter array 3 is provided, and a power input unit 14 and a signal input unit 15 are provided at both ends.
【0012】各光シャッタアレイ3は、図1に示すよう
に、PLZTのチップ30をマイクロマシーニング技術
を用いて加工したもので、中央部の溝状の共通電極16
を挟んで両側に、光を透過させるための複数個のシャッ
タエレメント17をそれぞれ溝11で区画して微小画素
単位に配列し、各シャッタエレメント17に対して前記
共通電極16と対向する側に前記共通電極16との間で
画素単位の画像情報に応じた信号電圧を印加するための
個別電極18を設けて構成してある。As shown in FIG. 1, each optical shutter array 3 is formed by processing a PLZT chip 30 using a micromachining technique, and has a groove-shaped common electrode 16 at the center.
A plurality of shutter elements 17 for transmitting light are divided by the grooves 11 and arranged in units of minute pixels on both sides with the interposed therebetween, and the shutter elements 17 are arranged on the side facing the common electrode 16 with respect to each shutter element 17. An individual electrode 18 for applying a signal voltage corresponding to image information in pixel units is provided between the common electrode 16 and the common electrode 16.
【0013】前記複数のシャッタエレメント17は正面
視で千鳥状に配列してあり、それら二列のシャッタエレ
メント17を前記感光体2の回転方向に対して時間差駆
動することにより、前記感光体2の長手方向に沿って直
線状に露光することを可能としてあり、それにより加工
を精密化すること少なく高解像度を達成している。The plurality of shutter elements 17 are arranged in a zigzag pattern when viewed from the front. The two rows of shutter elements 17 are driven with a time difference with respect to the rotation direction of the Exposure can be performed linearly along the longitudinal direction, thereby achieving high resolution with less precision in processing.
【0014】前記光シャッタアレイ3において、共通電
極16を、前記シャッタエレメント17同志を区画する
溝11を利用して形成した導通部19を介して、チップ
30の側方に臨む位置まで延長し、この導通部19を、
導電性ペースト20を介して、台板12上に形成した共
通電極用の導体パターン21に接続してある。また、前
記個別電極18は、ボンディングワイヤ22を介して、
台板12上に形成した個別電極用の導体パターン23に
接続してある。なお、上述の導体パターン21,23
は、図示はしないが、前記駆動用IC13に接続してあ
る。In the optical shutter array 3, the common electrode 16 is extended to a position facing the side of the chip 30 through a conductive portion 19 formed by using the groove 11 for partitioning the shutter elements 17, This conducting part 19 is
It is connected to a conductive pattern 21 for a common electrode formed on the base plate 12 via a conductive paste 20. In addition, the individual electrodes 18 are connected via bonding wires 22.
It is connected to a conductor pattern 23 for individual electrodes formed on the base plate 12. In addition, the above-mentioned conductor patterns 21 and 23
Are connected to the driving IC 13 although not shown.
【0015】次に、上述した光シャッタアレイ3の作成
の工程を図4ないし図9を用いて説明する。Next, a process for producing the above-described optical shutter array 3 will be described with reference to FIGS.
【0016】まず、図4に示すように厚さが約500マ
イクロメートルのPLZTのチップ30の表面に、2マ
イクロメートルの厚さでポリイミド膜31を形成する。
次に、図5に示すように、ダイヤモンドブレード(図示
せず)によって、精密切削加工を行う。この加工によっ
て、チップ30の長手方向に沿って伸びる、後に共通電
極16となる第1の溝32と、チップ30の中央部分に
前記第1の溝32に交叉する第2の溝33とを形成す
る。First, as shown in FIG. 4, a polyimide film 31 having a thickness of 2 micrometers is formed on the surface of a PLZT chip 30 having a thickness of about 500 micrometers.
Next, as shown in FIG. 5, precision cutting is performed using a diamond blade (not shown). By this processing, a first groove 32 extending along the longitudinal direction of the chip 30 and serving as the common electrode 16 later, and a second groove 33 intersecting with the first groove 32 are formed in a central portion of the chip 30. I do.
【0017】続いて、図6に示すように、スパッタによ
ってチップ30の全面にアルミ膜34を形成する。な
お、端部および側部のアルミ膜は除去する。その後、前
記ポリイミド膜31をリフトオフによって取り去り、図
7に示すものを得る。Subsequently, as shown in FIG. 6, an aluminum film 34 is formed on the entire surface of the chip 30 by sputtering. The aluminum film at the end and side is removed. Thereafter, the polyimide film 31 is removed by lift-off to obtain the one shown in FIG.
【0018】次に、図8に示すように、切削加工によっ
て溝35を形成して各シャッタエレメント17を区画す
る。さらに、図9に示すように、各シャッタエレメント
17が同じ区画形状と形成条件とになるように、両端部
に位置するシャッタエレメント17よりも外側の部分を
除去する。この状態の光シャッタアレイ3を台板12上
の導体パターン21,23と接続して、図1に示す実装
構造を得る。Next, as shown in FIG. 8, a groove 35 is formed by cutting to partition each shutter element 17. Further, as shown in FIG. 9, portions outside the shutter elements 17 located at both ends are removed so that each shutter element 17 has the same partition shape and forming conditions. The optical shutter array 3 in this state is connected to the conductor patterns 21 and 23 on the base plate 12 to obtain the mounting structure shown in FIG.
【0019】上述のように、共通電極16をチップ30
の側方に臨ませるに、シャッタエレメント17の区画用
の溝11,35を利用するものであるから、チップ30
の最終的な形状への加工を、アルミ膜34を形成する前
ではなく、各シャッタエレメント17を区画した最終段
階で行うことができ、従来のチップ30の端部のアルミ
膜を利用する構成では、アルミ膜34の形成前にチップ
を最終形状に切断していたが故に端部のシャッタエレメ
ント17に作動不良が生じがちであったのに比して、本
発明の光シャッタアレイにおいては、各シャッタの特性
の均一化が可能になり、良好な記録画像が得られるよう
になった。As described above, the common electrode 16 is connected to the chip 30
Since the grooves 11 and 35 for partitioning the shutter element 17 are used to face the side of the
Can be processed not before forming the aluminum film 34 but in the final stage in which each shutter element 17 is partitioned. In the conventional configuration using the aluminum film at the end of the chip 30, In contrast to the fact that the chip was cut into the final shape before the formation of the aluminum film 34, the shutter element 17 at the end was likely to malfunction, whereas the optical shutter array of the present invention Shutter characteristics can be made uniform, and a good recorded image can be obtained.
【0020】次に、本発明の別の実施例を列記する。Next, another embodiment of the present invention will be listed.
【0021】〈1〉図10に示すものは、共通電極16
を、溝11部分に形成した導通部19を介して、チップ
30の側方に臨む位置に形成した接続部36に導通させ
たものであって、この光シャッタアレイ3を台板12上
の導体パターン21、23と接続するにあたって、図1
1に示すように、前記接続部36は共通電極用の導体パ
ターン21と、個別電極18は個別電極用の導体パター
ン23と、何れも、ボンディングワイヤ37,22を介
して接続してある。<1> The one shown in FIG.
Is connected to a connecting portion 36 formed at a position facing the side of the chip 30 through a conductive portion 19 formed in the groove 11, and the optical shutter array 3 is connected to a conductor on the base plate 12. When connecting to the patterns 21 and 23, FIG.
As shown in FIG. 1, the connection portion 36 is connected to the conductor pattern 21 for the common electrode, and the individual electrode 18 is connected to the conductor pattern 23 for the individual electrode via bonding wires 37 and 22.
【0022】〈2〉チップ30の具体的形状、1つのチ
ップ30に形成するシャッタエレメント17の数、アル
ミ膜34の形成手段等については前記実施例に限定され
るものではなく、種々の変更が可能である。<2> The specific shape of the chip 30, the number of shutter elements 17 formed on one chip 30, the means for forming the aluminum film 34, and the like are not limited to those in the above-described embodiment, and various changes may be made. It is possible.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上述べてきたように、本発明による光
シャッタアレイは、シャッタエレメント区画用の溝を利
用して共通電極をチップの側方に臨ませるようにしたも
のであるから、チップの全体にわたってシャッタエレメ
ントの作成条件をほぼ一様にでき、その特性の均一化が
可能になった。その結果、光シャッタアレイの端から端
まで、均一な光透過特性が得られるようになり、例えば
その光シャッタアレイを組み込んだ光プリンタ等におい
ては良質な記録画像が得られるようになるといった効果
がある。As described above, in the optical shutter array according to the present invention, the common electrode is made to face the side of the chip by utilizing the groove for partitioning the shutter element. The conditions for forming the shutter element can be made substantially uniform over the whole, and the characteristics thereof can be made uniform. As a result, uniform light transmission characteristics can be obtained from end to end of the optical shutter array. For example, in an optical printer or the like incorporating the optical shutter array, an effect that a high quality recorded image can be obtained is obtained. is there.
【図1】実装状態の光シャッタアレイの斜視図FIG. 1 is a perspective view of an optical shutter array in a mounted state.
【図2】光シャッタアレイ装置の平面図FIG. 2 is a plan view of an optical shutter array device.
【図3】光プリンタの概略構成図FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an optical printer.
【図4】光シャッタアレイの制作の第1工程の斜視図FIG. 4 is a perspective view of a first step of manufacturing an optical shutter array.
【図5】光シャッタアレイの制作の第2工程の斜視図FIG. 5 is a perspective view of a second step of manufacturing the optical shutter array.
【図6】光シャッタアレイの制作の第3工程の斜視図FIG. 6 is a perspective view of a third step of manufacturing the optical shutter array.
【図7】光シャッタアレイの制作の第4工程の斜視図FIG. 7 is a perspective view of a fourth step of manufacturing the optical shutter array.
【図8】光シャッタアレイの制作の第5工程の斜視図FIG. 8 is a perspective view of a fifth step of manufacturing the optical shutter array.
【図9】光シャッタアレイの制作の第6工程の斜視図FIG. 9 is a perspective view of a sixth step of manufacturing the optical shutter array.
【図10】別の実施例の斜視図FIG. 10 is a perspective view of another embodiment.
【図11】別の実施例の光シャッタアレイの実装状態の
斜視図FIG. 11 is a perspective view of a mounted state of an optical shutter array according to another embodiment.
11,13 溝 16 共通電極 17 シャッタエレメント 19 導通部 30 チップ 11, 13 groove 16 common electrode 17 shutter element 19 conductive part 30 chip
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−135520(JP,A) 特開 平1−155316(JP,A) 特表 平2−501680(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02F 1/00 - 1/055 505 G09F 9/30 373 B41J 2/445 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-3-135520 (JP, A) JP-A-1-155316 (JP, A) JP-A-2-501680 (JP, A) (58) Survey Field (Int.Cl. 6 , DB name) G02F 1/00-1/055 505 G09F 9/30 373 B41J 2/445
Claims (1)
て形成した溝状の共通電極の両側それぞれに、前記共通
電極に交叉する溝で区画した複数のシャッタエレメント
を配設した光シャッタアレイにおいて、前記共通電極
を、前記溝のうちの少なくとも1つに形成した導通部を
介して前記チップの側方に臨ませてある光シャッタアレ
イ。1. An optical shutter array in which a plurality of shutter elements defined by grooves intersecting the common electrode are disposed on both sides of a groove-shaped common electrode formed along the longitudinal direction of a chip made of electro-optical material. An optical shutter array in which the common electrode faces a side of the chip via a conductive portion formed in at least one of the grooves.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6844291A JP2987976B2 (en) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | Optical shutter array |
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JP6844291A JP2987976B2 (en) | 1991-04-01 | 1991-04-01 | Optical shutter array |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH04303817A JPH04303817A (en) | 1992-10-27 |
JP2987976B2 true JP2987976B2 (en) | 1999-12-06 |
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JP2000131629A (en) | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | Image recorder |
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- 1991-04-01 JP JP6844291A patent/JP2987976B2/en not_active Expired - Fee Related
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