JP2979841B2 - 相互変調測定装置 - Google Patents
相互変調測定装置Info
- Publication number
- JP2979841B2 JP2979841B2 JP4102632A JP10263292A JP2979841B2 JP 2979841 B2 JP2979841 B2 JP 2979841B2 JP 4102632 A JP4102632 A JP 4102632A JP 10263292 A JP10263292 A JP 10263292A JP 2979841 B2 JP2979841 B2 JP 2979841B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- divider
- isolator
- oscillator
- spectrum analyzer
- memory
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は相互変調測定装置に関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の相互変調測定装置は、図
２のブロック図に示す構成となっていて、妨害波を出す
発振器２０１と、この発振器２０１と被試験物２１０と
の間に位置するサーキュレータ２０２と、このサーキュ
レータ２０２に接続し、被試験物２１０からの出力の周
波数成分を解析するスペクトラム・アナライザ２０３で
構成されていた。
２のブロック図に示す構成となっていて、妨害波を出す
発振器２０１と、この発振器２０１と被試験物２１０と
の間に位置するサーキュレータ２０２と、このサーキュ
レータ２０２に接続し、被試験物２１０からの出力の周
波数成分を解析するスペクトラム・アナライザ２０３で
構成されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
は、スペクトラム・アナライザに入力される被試験物の
出力信号が、サーキュレータを通ってくるため、サーキ
ュレータの帯域で制限され、広い帯域での相互変調を測
定することは、不可能であった。
は、スペクトラム・アナライザに入力される被試験物の
出力信号が、サーキュレータを通ってくるため、サーキ
ュレータの帯域で制限され、広い帯域での相互変調を測
定することは、不可能であった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の相互変調測定装
置は、発振器と、この発振器の出力端に接続するアイソ
レータと、スペクトラム・アナライザと、このスペクト
ラム・アナライザの管面波形を記憶するメモリと、この
メモリに描かれたデータを比較演算するデータ処理部
と、前記アイソレータの出力と被試験物である送信機の
出力と前記スペクトラム・アナライザとに接続するデバ
イダと、前記アイソレータとデバイダの間に位置しアイ
ソレータと終端器のどちらかを選択しデバイダに接続す
る第一の２：１同軸切り替え器と、前記デバイダと被試
験物との間に位置し被試験物と終端器のどちらかを選択
しデバイダに接続する第二の２：１同軸切り替え器とを
含んで構成される。
置は、発振器と、この発振器の出力端に接続するアイソ
レータと、スペクトラム・アナライザと、このスペクト
ラム・アナライザの管面波形を記憶するメモリと、この
メモリに描かれたデータを比較演算するデータ処理部
と、前記アイソレータの出力と被試験物である送信機の
出力と前記スペクトラム・アナライザとに接続するデバ
イダと、前記アイソレータとデバイダの間に位置しアイ
ソレータと終端器のどちらかを選択しデバイダに接続す
る第一の２：１同軸切り替え器と、前記デバイダと被試
験物との間に位置し被試験物と終端器のどちらかを選択
しデバイダに接続する第二の２：１同軸切り替え器とを
含んで構成される。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について、図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。発振器１０１から被試験物１１０までの間に、
アイソレータ１０２、第一の同軸切り替え器１０３、デ
バイダ１０４、第二の同軸切り替え器１０５が有り、デ
バイダ１０４には、スペクトラム・アナライザ１０６が
接続される。
である。発振器１０１から被試験物１１０までの間に、
アイソレータ１０２、第一の同軸切り替え器１０３、デ
バイダ１０４、第二の同軸切り替え器１０５が有り、デ
バイダ１０４には、スペクトラム・アナライザ１０６が
接続される。
【０００７】まず、第一の同軸切り替え器１０３を上側
（発振器１０１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
下側（終端器１１２側）にしておく。この時の周波数ス
ペクトラムを、スペクトラム・アナライザ１０６で測定
し、発振器１０１の周波数スペクトタム・データとし
て、メモリ１０７へ格納する。
（発振器１０１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
下側（終端器１１２側）にしておく。この時の周波数ス
ペクトラムを、スペクトラム・アナライザ１０６で測定
し、発振器１０１の周波数スペクトタム・データとし
て、メモリ１０７へ格納する。
【０００８】次に、第一の同軸切り替え器１０３を下側
（終端器１１１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
上側（被試験物１１０側）にし、この時の周波数スペク
トラムを、スペクトラム・アナライザ１０６で測定し、
被試験物１１０の周波数スペクトラム・データとして被
試験物メモリ１０７へ格納する。
（終端器１１１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
上側（被試験物１１０側）にし、この時の周波数スペク
トラムを、スペクトラム・アナライザ１０６で測定し、
被試験物１１０の周波数スペクトラム・データとして被
試験物メモリ１０７へ格納する。
【０００９】次に、第一の同軸切り替え器１０３を上側
（発振器１０１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
上側（被試験物１１０側）にし、周波数スペクトラムを
スペクトラム・アナライザ１０６で測定し、妨害波を加
えた被試験物１１０の周波数スペクトラム・データとし
てメモリ１０７へ格納する。
（発振器１０１側）に、第二の同軸切り替え器１０５を
上側（被試験物１１０側）にし、周波数スペクトラムを
スペクトラム・アナライザ１０６で測定し、妨害波を加
えた被試験物１１０の周波数スペクトラム・データとし
てメモリ１０７へ格納する。
【００１０】データ処理部１０８は、メモリ１０７中に
格納された上記３つのデータを比較演算する。すなわ
ち、妨害波を加えた被試験物１１０の周波数スペクトラ
ム・データから、被試験物１１０の周波数スペクトラム
・データと、発振器１０１の周波数スペクトラム・デー
タとを引算し、妨害波が加えられた時に新たに発生する
信号の周波数成分と強度とを測定する。なお、アイソレ
ータ１０２は、被試験物１１０からの送信信号が、発振
器１０１に加えられて発振器１０１が破損するのを防ぐ
ものである。
格納された上記３つのデータを比較演算する。すなわ
ち、妨害波を加えた被試験物１１０の周波数スペクトラ
ム・データから、被試験物１１０の周波数スペクトラム
・データと、発振器１０１の周波数スペクトラム・デー
タとを引算し、妨害波が加えられた時に新たに発生する
信号の周波数成分と強度とを測定する。なお、アイソレ
ータ１０２は、被試験物１１０からの送信信号が、発振
器１０１に加えられて発振器１０１が破損するのを防ぐ
ものである。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、被試験物
１１０からの送信信号は、デバイダ１０４で分岐され、
スペクトラム・アナライザ１０６に入力される構成にな
っているため、周波数を制限するデバイス、例えばサー
キュレータなどがなく、広い帯域での相互変調を測定す
ることが可能になるという効果がある。
１１０からの送信信号は、デバイダ１０４で分岐され、
スペクトラム・アナライザ１０６に入力される構成にな
っているため、周波数を制限するデバイス、例えばサー
キュレータなどがなく、広い帯域での相互変調を測定す
ることが可能になるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】従来の一例を示すブロック図である。
１０１，２０１ 発振器 １０２ アイソレータ １０３，１０５ 同軸切り替え器 １０４ デバイダ １０６，２０３ スペクトラム・アナライザ １０７ メモリ １０８ データ処理部 １１０，２１０ 被試験物 ２０２ サーキュレータ １１１，１１２ 終端器
Claims (1)
- 【請求項１】 発振器と、この発振器の出力端に接続す
るアイソレータと、スペクトラム・アナライザと、この
スペクトラム・アナライザの管面波形を記憶するメモリ
と、このメモリに描かれたデータを比較演算するデータ
処理部と、前記アイソレータの出力と被試験物である送
信機の出力と前記スペクトラム・アナライザとに接続す
るデバイダと、前記アイソレータとデバイダの間に位置
しアイソレータと終端器のどちらかを選択しデバイダに
接続する第一の２：１同軸切り替え器と、前記デバイダ
と被試験物との間に位置し被試験物と終端器のどちらか
を選択しデバイダに接続する第二の２：１同軸切り替え
器とを含むことを特徴とする送信機の相互変調測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102632A JP2979841B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 相互変調測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102632A JP2979841B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 相互変調測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130099A JPH06130099A (ja) | 1994-05-13 |
| JP2979841B2 true JP2979841B2 (ja) | 1999-11-15 |
Family
ID=14332620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4102632A Expired - Fee Related JP2979841B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 相互変調測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2979841B2 (ja) |
-
1992
- 1992-04-22 JP JP4102632A patent/JP2979841B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06130099A (ja) | 1994-05-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990817 |
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