JP2979520B2 - Ｘ線診断装置 - Google Patents
Ｘ線診断装置Info
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- JP2979520B2 JP2979520B2 JP4165369A JP16536992A JP2979520B2 JP 2979520 B2 JP2979520 B2 JP 2979520B2 JP 4165369 A JP4165369 A JP 4165369A JP 16536992 A JP16536992 A JP 16536992A JP 2979520 B2 JP2979520 B2 JP 2979520B2
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、医療用Ｘ線診断装置
に関し、とくにその透視管電流制御回路の改良に関す
る。
に関し、とくにその透視管電流制御回路の改良に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線診断装置では、Ｘ線透視画像をイメ
ージインテンシファイアで画像変換しテレビカメラで撮
像してテレビモニターによって表示するとともに、必要
に応じてＸ線フィルムへ撮影する。透視時にはフィルム
は退避しており、撮影時にフィルムがイメージインテン
シファイアの前面に搬送される。透視は低いＸ線量で行
ない、撮影時には大線量のＸ線を曝射する。そのため、
Ｘ線制御装置によって高電圧発生器を制御し、透視時と
撮影時とでＸ線管の条件を変更する。
ージインテンシファイアで画像変換しテレビカメラで撮
像してテレビモニターによって表示するとともに、必要
に応じてＸ線フィルムへ撮影する。透視時にはフィルム
は退避しており、撮影時にフィルムがイメージインテン
シファイアの前面に搬送される。透視は低いＸ線量で行
ない、撮影時には大線量のＸ線を曝射する。そのため、
Ｘ線制御装置によって高電圧発生器を制御し、透視時と
撮影時とでＸ線管の条件を変更する。
【０００３】従来、透視時には管電圧の設定範囲は５０
〜１２５ＫＶ、管電流の設定範囲は０．５〜３．０ｍＡ
程度とするのが一般的であり、使用者は被写体厚さ及び
Ｘ線管焦点・イメージインテンシファイア入力面間の距
離（ＳＩＤと略す）に応じて透視管電圧（ＦＫＶと略
す）を変化させて必要な透視画像の明るさを得ている。
多くの場合、透視画像の輝度調整は、Ｘ線出力を別個に
設けたフォトマルチプライアによって検出したり、画像
の輝度信号によって検出し、これをＦＫＶにフィードバ
ックする自動輝度調整系によって行なわれる。また、Ｓ
ＩＤに応じた発生Ｘ線制御は行なわないのが普通であ
る。そして、透視時の管電流（ＦｍＡと略す）はＦＫＶ
に依存して上記の範囲で変化するが、通常、そのＦＫＶ
依存度は小さいことから、透視画像輝度はほとんどＦＫ
Ｖのみによる制御であると言える。
〜１２５ＫＶ、管電流の設定範囲は０．５〜３．０ｍＡ
程度とするのが一般的であり、使用者は被写体厚さ及び
Ｘ線管焦点・イメージインテンシファイア入力面間の距
離（ＳＩＤと略す）に応じて透視管電圧（ＦＫＶと略
す）を変化させて必要な透視画像の明るさを得ている。
多くの場合、透視画像の輝度調整は、Ｘ線出力を別個に
設けたフォトマルチプライアによって検出したり、画像
の輝度信号によって検出し、これをＦＫＶにフィードバ
ックする自動輝度調整系によって行なわれる。また、Ｓ
ＩＤに応じた発生Ｘ線制御は行なわないのが普通であ
る。そして、透視時の管電流（ＦｍＡと略す）はＦＫＶ
に依存して上記の範囲で変化するが、通常、そのＦＫＶ
依存度は小さいことから、透視画像輝度はほとんどＦＫ
Ｖのみによる制御であると言える。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ようなＸ線出力のＦＫＶへのフィードバックによる透視
時の画像輝度自動調整系では、被写体に対する被曝線量
が増大することがある、安定した透視画像が得られな
い、などの問題がある。
ようなＸ線出力のＦＫＶへのフィードバックによる透視
時の画像輝度自動調整系では、被写体に対する被曝線量
が増大することがある、安定した透視画像が得られな
い、などの問題がある。
【０００５】すなわち、ＳＩＤに応じた発生Ｘ線量制御
を行なわないため、ＳＩＤが短い場合に被写体被曝線量
が増大する問題、反対にＳＩＤが長い場合にはＸ線量不
足による画像が劣化する問題、のどちらかあるいは両方
が発生するおそれがある。つまり、被写体の被曝線量は
ＳＩＤによって変化するものであるが、これを考慮して
いないので、被曝線量を米国のＦＤＡ規格等に定められ
た一定値以下に抑制できない。また、ＦＫＶが１１０Ｋ
Ｖ以上に上昇したときは透視画像のコントラストが悪く
なり、臨床価値の低下した画像しか得られない。さらに
ＦＫＶの上昇時のＦｍＡの増加量が小さいため、被写体
の変化に対して容易にＦＫＶが大きく変化してしまい、
安定した透視画像が得られない。
を行なわないため、ＳＩＤが短い場合に被写体被曝線量
が増大する問題、反対にＳＩＤが長い場合にはＸ線量不
足による画像が劣化する問題、のどちらかあるいは両方
が発生するおそれがある。つまり、被写体の被曝線量は
ＳＩＤによって変化するものであるが、これを考慮して
いないので、被曝線量を米国のＦＤＡ規格等に定められ
た一定値以下に抑制できない。また、ＦＫＶが１１０Ｋ
Ｖ以上に上昇したときは透視画像のコントラストが悪く
なり、臨床価値の低下した画像しか得られない。さらに
ＦＫＶの上昇時のＦｍＡの増加量が小さいため、被写体
の変化に対して容易にＦＫＶが大きく変化してしまい、
安定した透視画像が得られない。
【０００６】この発明は上記に鑑み、ＳＩＤが短くなっ
ても被写体の被曝線量を増大させず、かつ安定した透視
画像を得ることができるように改善した透視管電流制御
回路を備えた、Ｘ線診断装置を提供することを目的とす
る。
ても被写体の被曝線量を増大させず、かつ安定した透視
画像を得ることができるように改善した透視管電流制御
回路を備えた、Ｘ線診断装置を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明によれば、Ｘ線診断装置において、Ｘ線管
およびイメージインテンシファイアを支持する機械装置
等から得られるＳＩＤ対応信号と、管電圧制御回路で得
られる管電圧制御信号とを用いて管電流制御信号を得
る。この管電流制御信号は、管電圧制御信号に比例して
増加し、かつ所定値で飽和し、しかも、その飽和値がＳ
ＩＤ対応信号に比例して変化しているため、ＳＩＤが長
いときは大きく、ＳＩＤが短いときは小さくなる。この
ような管電流制御信号を電源装置に与えて透視時の管電
流を制御することが特徴となっているのである。
め、この発明によれば、Ｘ線診断装置において、Ｘ線管
およびイメージインテンシファイアを支持する機械装置
等から得られるＳＩＤ対応信号と、管電圧制御回路で得
られる管電圧制御信号とを用いて管電流制御信号を得
る。この管電流制御信号は、管電圧制御信号に比例して
増加し、かつ所定値で飽和し、しかも、その飽和値がＳ
ＩＤ対応信号に比例して変化しているため、ＳＩＤが長
いときは大きく、ＳＩＤが短いときは小さくなる。この
ような管電流制御信号を電源装置に与えて透視時の管電
流を制御することが特徴となっているのである。
【０００８】
【作用】管電流制御信号は基本的には管電圧制御信号に
比例したものとなるので、管電流制御信号の管電圧制御
信号に対する依存度を上げることにより、透視時の被写
体の変化に対する管電圧依存度を下げるとともに管電流
依存度を上げて、透視時の管電圧が容易に変化せず安定
な高画質の透視画像を得ることができる。
比例したものとなるので、管電流制御信号の管電圧制御
信号に対する依存度を上げることにより、透視時の被写
体の変化に対する管電圧依存度を下げるとともに管電流
依存度を上げて、透視時の管電圧が容易に変化せず安定
な高画質の透視画像を得ることができる。
【０００９】加えて、管電流制御信号は基本的には管電
圧制御信号に比例したものでありながら、所定値で飽和
するものとなっている。そしてその飽和値はＳＩＤ対応
信号に比例して変化しており、ＳＩＤが長いときは大き
く、ＳＩＤが短いときは小さくなる。そのため、ＳＩＤ
に応じて、透視Ｘ線量を適切に制限することができ、と
くにＳＩＤが短いときに過大となりがちな被写体被曝線
量を抑えることができる。
圧制御信号に比例したものでありながら、所定値で飽和
するものとなっている。そしてその飽和値はＳＩＤ対応
信号に比例して変化しており、ＳＩＤが長いときは大き
く、ＳＩＤが短いときは小さくなる。そのため、ＳＩＤ
に応じて、透視Ｘ線量を適切に制限することができ、と
くにＳＩＤが短いときに過大となりがちな被写体被曝線
量を抑えることができる。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照しながら詳細に説明する。図１はこの発明を適用した
アンダーチューブ方式のＣ型アーム式Ｘ線診断装置を示
すもので、Ｘ線管１とイメージインテンシファイア２と
が対向した状態でＣ型アーム式保持装置４によって保持
されている。イメージインテンシファイア２にはテレビ
カメラ３が結合されており、そこで得られた画像信号が
モニター装置５に送られる。
照しながら詳細に説明する。図１はこの発明を適用した
アンダーチューブ方式のＣ型アーム式Ｘ線診断装置を示
すもので、Ｘ線管１とイメージインテンシファイア２と
が対向した状態でＣ型アーム式保持装置４によって保持
されている。イメージインテンシファイア２にはテレビ
カメラ３が結合されており、そこで得られた画像信号が
モニター装置５に送られる。
【００１１】Ｘ線管１とイメージインテンシファイア２
とはその間の距離ＳＩＤが変化できるように、互いに前
進・後退できるようＣ型アーム式保持装置４によって保
持されている。このＳＩＤはこの実施例では７００〜１
１５０ｍｍまで変化可能であり、これに比例した電圧Ｖ
ｓがこのＣ型アーム式保持装置４から得られる。このＸ
線管１とイメージインテンシファイア２との間の空間
に、検診台１１に乗せられた被写体１０が挿入される。
とはその間の距離ＳＩＤが変化できるように、互いに前
進・後退できるようＣ型アーム式保持装置４によって保
持されている。このＳＩＤはこの実施例では７００〜１
１５０ｍｍまで変化可能であり、これに比例した電圧Ｖ
ｓがこのＣ型アーム式保持装置４から得られる。このＸ
線管１とイメージインテンシファイア２との間の空間
に、検診台１１に乗せられた被写体１０が挿入される。
【００１２】Ｘ線管１には、高電圧発生装置７から高電
圧の管電圧が与えられ、またフィラメント加熱回路９か
らフィラメント加熱電流が与えられてその管電流が制御
される。これら高電圧発生装置７とフィラメント加熱回
路９とがＸ線管１の電源装置をなす。
圧の管電圧が与えられ、またフィラメント加熱回路９か
らフィラメント加熱電流が与えられてその管電流が制御
される。これら高電圧発生装置７とフィラメント加熱回
路９とがＸ線管１の電源装置をなす。
【００１３】Ｘ線管１からＸ線が曝射され、被写体１０
と透過してイメージインテンシファイア２に入射し、テ
レビカメラ３からＸ線透視画像信号が得られ、これがモ
ニター装置５に送られ、その画面にＸ線透視画像が表示
される。この画像信号は、表示画像の輝度を表わすもの
として管電圧制御回路６に送られ、管電圧制御電圧Ｖｖ
が得られる。高電圧発生装置７は、この電圧Ｖｖに対応
したＦＫＶを発生する。このようなフィードバック制御
系により、被写体１０の厚さやＳＩＤに応じて画像の輝
度が最適となるようなＸ線出力の自動制御が行なわれ
る。
と透過してイメージインテンシファイア２に入射し、テ
レビカメラ３からＸ線透視画像信号が得られ、これがモ
ニター装置５に送られ、その画面にＸ線透視画像が表示
される。この画像信号は、表示画像の輝度を表わすもの
として管電圧制御回路６に送られ、管電圧制御電圧Ｖｖ
が得られる。高電圧発生装置７は、この電圧Ｖｖに対応
したＦＫＶを発生する。このようなフィードバック制御
系により、被写体１０の厚さやＳＩＤに応じて画像の輝
度が最適となるようなＸ線出力の自動制御が行なわれ
る。
【００１４】なお、管電圧制御回路６に入力する被写体
透過Ｘ線量に対応した出力は、上記のように画像信号を
用いるのではなく、別途に被写体１０を透過したＸ線が
入射するよう設けたフォトマルチプライア（図示しな
い）より得ることもできる。
透過Ｘ線量に対応した出力は、上記のように画像信号を
用いるのではなく、別途に被写体１０を透過したＸ線が
入射するよう設けたフォトマルチプライア（図示しな
い）より得ることもできる。
【００１５】上記の管電圧制御電圧Ｖｖは管電流制御回
路８にも与えられる。この管電流制御回路には上記のＳ
ＩＤ対応電圧Ｖｓも入力される。管電流制御回路８はこ
れらから、Ｖｖに比例するがＶｓで制限された管電流制
御電圧Ｖａを発生し、これをフィラメント加熱回路９に
与える。フィラメント加熱回路９は、外部から与えられ
た電圧Ｖａに対応したフィラメント電流をＸ線管１に流
してその管電流（ＦｍＡ）を制御する。
路８にも与えられる。この管電流制御回路には上記のＳ
ＩＤ対応電圧Ｖｓも入力される。管電流制御回路８はこ
れらから、Ｖｖに比例するがＶｓで制限された管電流制
御電圧Ｖａを発生し、これをフィラメント加熱回路９に
与える。フィラメント加熱回路９は、外部から与えられ
た電圧Ｖａに対応したフィラメント電流をＸ線管１に流
してその管電流（ＦｍＡ）を制御する。
【００１６】管電流制御回路８は、たとえば図２のよう
に主に８個の演算増幅器８１〜８８によって構成され
る。ＶｖはＶｖ１として入力されるが、このＶｖ１はた
とえば図３に示すように５０〜１２０ＫＶのＦＫＶに比
例した電圧（５Ｖ／１００ＫＶ）となっている。このＶ
ｖ１が演算増幅器８１に入力され、その出力に図４で示
すようなＶｖ２となって現われる。すなわち、可変抵抗
器９１を調整することによってバイアス電圧を定めると
ともに、可変抵抗器９２を調整することによってその傾
きを定める。さらに、可変抵抗器９３によって調整され
たバイアス電圧を加えられ、演算増幅器８２の出力に図
５に示すような電圧Ｖｖ３が現われる。
に主に８個の演算増幅器８１〜８８によって構成され
る。ＶｖはＶｖ１として入力されるが、このＶｖ１はた
とえば図３に示すように５０〜１２０ＫＶのＦＫＶに比
例した電圧（５Ｖ／１００ＫＶ）となっている。このＶ
ｖ１が演算増幅器８１に入力され、その出力に図４で示
すようなＶｖ２となって現われる。すなわち、可変抵抗
器９１を調整することによってバイアス電圧を定めると
ともに、可変抵抗器９２を調整することによってその傾
きを定める。さらに、可変抵抗器９３によって調整され
たバイアス電圧を加えられ、演算増幅器８２の出力に図
５に示すような電圧Ｖｖ３が現われる。
【００１７】一方、ＳＩＤに比例した電圧ＶｓはＶｓ１
として入力されるが、これは図６に示すようなものとな
っているので、演算増幅器８４、８５に通すことにより
図７で示すような、ＳＩＤの最小値（この例では７００
ｍｍ）でゼロボルトとなり、ＳＩＤの増加に比例して増
加する電圧Ｖｓ２に変換する。可変抵抗器９４はバイア
ス電圧を調整することによってＳＩＤの最小値でゼロボ
ルトとなるようにするためのものであり、可変抵抗器９
５はその傾きを調整するためのものである。
として入力されるが、これは図６に示すようなものとな
っているので、演算増幅器８４、８５に通すことにより
図７で示すような、ＳＩＤの最小値（この例では７００
ｍｍ）でゼロボルトとなり、ＳＩＤの増加に比例して増
加する電圧Ｖｓ２に変換する。可変抵抗器９４はバイア
ス電圧を調整することによってＳＩＤの最小値でゼロボ
ルトとなるようにするためのものであり、可変抵抗器９
５はその傾きを調整するためのものである。
【００１８】さらに、演算増幅器８６において可変抵抗
器９６で決まる電圧が加算され、演算増幅器８７の出力
には図８で示すような電圧Ｖｓ３が得られる。
器９６で決まる電圧が加算され、演算増幅器８７の出力
には図８で示すような電圧Ｖｓ３が得られる。
【００１９】この電圧Ｖｓ３を生じている演算増幅器８
７の出力は演算増幅器８８とダイオード８９とを介し
て、演算増幅器８３の出力側に接続されている。この演
算増幅器８３の入力には上記の電圧Ｖｖ３が与えられて
いるので、この電圧Ｖｖ３がＶｓ３よりも高い場合に
は、演算増幅器８３の出力からダイオード８９および演
算増幅器８８を経て電流が引き込まれ、電圧Ｖｖ３がＶ
ｓ３にクランプされる。そのため、Ｖｖ３がＶｓ３より
も低いときはそのままＶａとして出力されるが、Ｖｖ３
がＶｓ３よりも高いときはＶａはＶｓ３の値に制限され
る。
７の出力は演算増幅器８８とダイオード８９とを介し
て、演算増幅器８３の出力側に接続されている。この演
算増幅器８３の入力には上記の電圧Ｖｖ３が与えられて
いるので、この電圧Ｖｖ３がＶｓ３よりも高い場合に
は、演算増幅器８３の出力からダイオード８９および演
算増幅器８８を経て電流が引き込まれ、電圧Ｖｖ３がＶ
ｓ３にクランプされる。そのため、Ｖｖ３がＶｓ３より
も低いときはそのままＶａとして出力されるが、Ｖｖ３
がＶｓ３よりも高いときはＶａはＶｓ３の値に制限され
る。
【００２０】その結果、この管電流制御回路８から出力
され制御電圧Ｖａは、図９に示すように、基本的にＦＫ
Ｖに比例したものとなるが、ＳＩＤにより制限されたも
のとなる。ＳＩＤは最短（７００ｍｍ）から最長（１１
５０ｍｍ）まで連続的に変化し図９のように不連続なも
のではないが、ここでは代表的な５点について不連続な
形で図示している。
され制御電圧Ｖａは、図９に示すように、基本的にＦＫ
Ｖに比例したものとなるが、ＳＩＤにより制限されたも
のとなる。ＳＩＤは最短（７００ｍｍ）から最長（１１
５０ｍｍ）まで連続的に変化し図９のように不連続なも
のではないが、ここでは代表的な５点について不連続な
形で図示している。
【００２１】図８の電圧Ｖｓ３を定めるについては、実
際にＸ線管１とイメージインテンシファイア２との間に
線量計を置いて、ＦＫＶを許容される最高の値（たとえ
ば１１０ＫＶ）としてＸ線を曝射し、線量を測定する。
線量計は実際の被写体位置（たとえばイメージインテン
シファイア２の入力面の前方３０ｃｍの位置）に置き、
その位置における線量率が１０Ｒ／ｍｉｎ（２．５８×
１０3ｃ／ｋｇ）となるようなＦｍＡを、各ＳＩＤにつ
いて求める。こうして求めた、ＳＩＤに対するＦｍＡ特
性に対応するよう図８に示す電圧Ｖｓ３の特性を定める
のである。換言すると、これにより、各ＳＩＤについて
の最大許容ＦｍＡを定めることになる。
際にＸ線管１とイメージインテンシファイア２との間に
線量計を置いて、ＦＫＶを許容される最高の値（たとえ
ば１１０ＫＶ）としてＸ線を曝射し、線量を測定する。
線量計は実際の被写体位置（たとえばイメージインテン
シファイア２の入力面の前方３０ｃｍの位置）に置き、
その位置における線量率が１０Ｒ／ｍｉｎ（２．５８×
１０3ｃ／ｋｇ）となるようなＦｍＡを、各ＳＩＤにつ
いて求める。こうして求めた、ＳＩＤに対するＦｍＡ特
性に対応するよう図８に示す電圧Ｖｓ３の特性を定める
のである。換言すると、これにより、各ＳＩＤについて
の最大許容ＦｍＡを定めることになる。
【００２２】図９から、ＳＩＤが大きいときは、ＦＫＶ
の上昇に比例してＦｍＡが増加し続け、ＳＩＤで許容さ
れるＦｍＡ以上になるとＦＫＶが増加してもＦｍＡは飽
和し、増加せずに横ばいとなることが分かる。このＦｍ
ＡのＦＫＶに対する依存度（比例係数）は２ｍＡ／１０
ＫＶ程度と比較的大きなものとする。
の上昇に比例してＦｍＡが増加し続け、ＳＩＤで許容さ
れるＦｍＡ以上になるとＦＫＶが増加してもＦｍＡは飽
和し、増加せずに横ばいとなることが分かる。このＦｍ
ＡのＦＫＶに対する依存度（比例係数）は２ｍＡ／１０
ＫＶ程度と比較的大きなものとする。
【００２３】そのため、被写体１０が変化したとき、安
定した良好な透視画像を得ることができる。すなわち、
被写体１０が厚い場合には、管電圧制御回路６によるフ
ィードバック制御のため、ＦＫＶが上昇させられるが、
それに比例してＦｍＡも増大するため、ＦＫＶが下げら
れる方向に作用し、ＦＫＶの上昇が抑えられ、ＦＫＶが
上昇し過ぎて画像のコントラストが悪くなるという不都
合を避けることができる。またＳＩＤに応じて最大Ｆｍ
Ａが自動的に制限され、どのようなＳＩＤでも上記の値
以上の線量率とはならないため、被写体１０に対する過
度のＸ線被曝を防止することができる。
定した良好な透視画像を得ることができる。すなわち、
被写体１０が厚い場合には、管電圧制御回路６によるフ
ィードバック制御のため、ＦＫＶが上昇させられるが、
それに比例してＦｍＡも増大するため、ＦＫＶが下げら
れる方向に作用し、ＦＫＶの上昇が抑えられ、ＦＫＶが
上昇し過ぎて画像のコントラストが悪くなるという不都
合を避けることができる。またＳＩＤに応じて最大Ｆｍ
Ａが自動的に制限され、どのようなＳＩＤでも上記の値
以上の線量率とはならないため、被写体１０に対する過
度のＸ線被曝を防止することができる。
【００２４】逆に、人間の手、足等の薄い被写体１０に
対しては、管電圧制御回路６によるフィードバック制御
によってＦＫＶが降下させられるが、それに比例してＦ
ｍＡも少なくなるため、ＦＫＶが上げられる方向に作用
し、ＦＫＶが下がり過ぎることが防止される。
対しては、管電圧制御回路６によるフィードバック制御
によってＦＫＶが降下させられるが、それに比例してＦ
ｍＡも少なくなるため、ＦＫＶが上げられる方向に作用
し、ＦＫＶが下がり過ぎることが防止される。
【００２５】このように被写体１０の変化に対するＦＫ
Ｖの依存度が下げられ、相対的にＦｍＡの依存度が上げ
られるので、ＦＫＶが容易に変化しないものとなり、透
視画像が安定なものとなる。
Ｖの依存度が下げられ、相対的にＦｍＡの依存度が上げ
られるので、ＦＫＶが容易に変化しないものとなり、透
視画像が安定なものとなる。
【００２６】なお、この発明は図示のアンダーチューブ
方式のＣ型アーム式Ｘ線診断装置以外に種々のＸ線診断
装置に適用できることはもちろんである。
方式のＣ型アーム式Ｘ線診断装置以外に種々のＸ線診断
装置に適用できることはもちろんである。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のＸ線診
断装置によれば、透視時の管電流は基本的には管電圧に
比例したものとなるとともにＳＩＤに応じて制限された
ものとなるので、ＳＩＤが短いときの被写体被曝Ｘ線量
の増大を抑えることができるとともに、透視時の被写体
の変化に対する管電圧依存度を下げ管電流依存度を上げ
ることにより、透視時の管電圧が容易に変化しないよう
にでき、安定な高画質の透視画像を得ることができる。
断装置によれば、透視時の管電流は基本的には管電圧に
比例したものとなるとともにＳＩＤに応じて制限された
ものとなるので、ＳＩＤが短いときの被写体被曝Ｘ線量
の増大を抑えることができるとともに、透視時の被写体
の変化に対する管電圧依存度を下げ管電流依存度を上げ
ることにより、透視時の管電圧が容易に変化しないよう
にでき、安定な高画質の透視画像を得ることができる。
【図１】この発明の一実施例の模式図。
【図２】同実施例の管電流制御回路の回路図。
【図３】同管電流制御回路における電圧Ｖｖ１の特性を
表わす図。
表わす図。
【図４】同管電流制御回路における電圧Ｖｖ２の特性を
表わす図。
表わす図。
【図５】同管電流制御回路における電圧Ｖｖ３の特性を
表わす図。
表わす図。
【図６】同管電流制御回路における電圧Ｖｓ１の特性を
表わす図。
表わす図。
【図７】同管電流制御回路における電圧Ｖｓ２の特性を
表わす図。
表わす図。
【図８】同管電流制御回路における電圧Ｖｓ３の特性を
表わす図。
表わす図。
【図９】同管電流制御回路における電圧Ｖａの特性を表
わす図。
わす図。
１ Ｘ線管 ２ イメージインテンシファイア ３ テレビカメラ ４ Ｃ型アーム式保持装置 ５ モニター装置 ６ 管電圧制御回路 ７ 高電圧発生装置 ８ 管電流制御回路 ９ フィラメント加熱回路 １０ 被写体 １１ 検診台 ８１〜８８ 演算増幅器 ８９ ダイオード ９１〜９６ 可変抵抗器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 修二 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 実開 昭62−157511（ＪＰ，Ｕ) 特公 平２−34159（ＪＰ，Ｂ２)
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線を照射するＸ線管と、被写体を透過
したＸ線が入射するイメージインテンシファイアおよび
これに結合されたテレビカメラと、このテレビカメラか
らの画像信号が入力されてＸ線透視像を表示するモニタ
ー装置と、上記Ｘ線管に高電圧の管電圧を与えるととも
にフィラメント加熱電流を与える電源装置と、被写体透
過Ｘ線出力に応じた信号をフィードバックして上記電源
装置に管電圧制御信号を与える管電圧制御回路と、Ｘ線
管焦点とイメージインテンシファイア入力面間距離に応
じた距離信号と上記管電圧制御信号とが入力され、管電
圧制御信号に比例して増加しかつ所定値で飽和するとと
もにその飽和値が上記の距離信号に比例して変化する管
電流制御信号を発生してこれを上記電源装置に与えてフ
ィラメント加熱電流を制御する管電流制御回路とを備え
ることを特徴とするＸ線診断装置。
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|---|---|---|---|
| JP4165369A JP2979520B2 (ja) | 1992-05-31 | 1992-05-31 | Ｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=15811067
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| JP4165369A Expired - Fee Related JP2979520B2 (ja) | 1992-05-31 | 1992-05-31 | Ｘ線診断装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1992
- 1992-05-31 JP JP4165369A patent/JP2979520B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| CN102478742B (zh) * | 2010-11-26 | 2014-03-05 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种数字放射成像曝光参数自适应修正的方法及系统 |
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| JPH05335094A (ja) | 1993-12-17 |
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