JP2977954B2 - Wire bonding method - Google Patents

Wire bonding method

Info

Publication number
JP2977954B2
JP2977954B2 JP3160759A JP16075991A JP2977954B2 JP 2977954 B2 JP2977954 B2 JP 2977954B2 JP 3160759 A JP3160759 A JP 3160759A JP 16075991 A JP16075991 A JP 16075991A JP 2977954 B2 JP2977954 B2 JP 2977954B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
bonding
lead frame
coordinates
image processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP3160759A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04359527A (en
Inventor
進 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIBAURA MEKATORONIKUSU KK
Original Assignee
SHIBAURA MEKATORONIKUSU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHIBAURA MEKATORONIKUSU KK filed Critical SHIBAURA MEKATORONIKUSU KK
Priority to JP3160759A priority Critical patent/JP2977954B2/en
Publication of JPH04359527A publication Critical patent/JPH04359527A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2977954B2 publication Critical patent/JP2977954B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Feedback Control In General (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置製造工程に
適用されるワイヤボンディング方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wire bonding method applied to a semiconductor device manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】ワイヤボンディング装置は、リードフレ
ームのリードと半導体ペレットのパッドとを撮像する撮
像手段と、撮像手段が撮像した画像信号を取り込んで認
識する画像処理手段と、画像処理手段の認識結果に基づ
き、ボンディングヘッドによりリードフレームのリード
とペレットのパッドとの間のワイヤボンディング動作を
行なわせる制御手段とを有している。
2. Description of the Related Art A wire bonding apparatus includes an image pickup means for picking up an image of a lead of a lead frame and a pad of a semiconductor pellet, an image processing means for receiving and recognizing an image signal picked up by the image pickup means, and a recognition result of the image processing means. Control means for causing the bonding head to perform a wire bonding operation between the lead of the lead frame and the pad of the pellet based on the above.

【0003】ここで、画像処理手段は、(1) 教示段階で
は、同一品種間の代表としての基準リードフレームにつ
いて、そのリード上の基準ボンディング座標を設定し、
(2)当該同一品種の生産段階では、一般リードフレーム
について、そのリードが基準リードフレームのリードに
対してなす位置ずれ量を検出する。
Here, the image processing means sets (1) reference bonding coordinates on the leads of a reference lead frame as a representative of the same type at the teaching stage,
(2) In the production stage of the same product type, the amount of misalignment of the general lead frame with respect to the lead of the reference lead frame is detected.

【0004】そして、制御手段は、画像処理手段が検出
した一般リードフレームのリードの上記位置ずれ量に基
づき、一般リードフレームのリード上の実ボンディング
座標を、基準リードフレームについて設定した基準ボン
ディング座標に対して補正することにて設定し、この実
ボンディング座標に基づき、ボンディングヘッドにより
ボンディング動作を行なわせる。
Then, the control means sets the actual bonding coordinates on the lead of the general lead frame to the reference bonding coordinate set for the reference lead frame based on the positional deviation amount of the lead of the general lead frame detected by the image processing means. The bonding operation is performed by a bonding head based on the actual bonding coordinates.

【0005】然るに、従来技術において、画像処理手段
は、一般リードフレームについての位置ずれ量の検出時
に、図4又は図5に示す如く、検出視野1の方向1A
を、リード2の傾きに関係なく、画面に対して 0度の方
向(図4参照)又は90度の方向(図5参照)に固定化し
ている。
However, in the prior art, the image processing means detects the positional shift amount of the general lead frame, as shown in FIG. 4 or FIG.
Is fixed in a direction of 0 degrees (see FIG. 4) or a direction of 90 degrees (see FIG. 5) with respect to the screen regardless of the inclination of the lead 2.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】然しながら、従来技術
では、図6又は図7に示す如く、一般リードフレームの
リード2が教示段階の基準リードフレームのリード2A
に対して曲がっていた場合、検出視野1の当初の範囲内
にて検出できない場合がある。この場合には、画像処理
手段は、検出視野1の範囲を検出方向1Aに沿って徐々
に広げ、リード2を探しに行くこことなる。このため、
検出時間が長くなる。また、曲がりの程度によっては、
検出視野1の範囲をいくら広げても検出できない場合も
生ずる。
However, in the prior art, as shown in FIG. 6 or 7, the lead 2 of the general lead frame is replaced with the lead 2A of the reference lead frame at the teaching stage.
, It may not be possible to detect within the initial range of the detection visual field 1. In this case, the image processing means gradually expands the range of the detection visual field 1 along the detection direction 1A and goes to search for the lead 2. For this reason,
The detection time becomes longer. Also, depending on the degree of bending,
Even if the range of the detection field of view 1 is increased, detection may not be possible.

【0007】尚、検出視野1の範囲を予め広く取ってお
くことも考えられるが、リード数が多くなり、隣り合う
リード同士が接近している場合には、隣のリードが一緒
に検出視野に入ってしまうことがあり、誤検出の原因と
なって妥当でない。
It is conceivable to widen the range of the detection field of view 1 in advance. However, when the number of leads is large and the adjacent leads are close to each other, the adjacent leads are put together in the detection field of view. It may enter and is not appropriate because it causes false detection.

【0008】また、従来技術では、画像処理手段が検出
視野内で検出したリード上の座標が、実ボンディング座
標となる。このため、図6に示す如くにリード2が曲が
っているときに、リード2の先端を検出してしまうと、
リード2の先端が実ボンディング座標となってしまう。
ところが、リード2の先端がボンディングされるに十分
な幅を有さない場合、ボンディング不良を生ずることと
なる。
In the prior art, the coordinates on the lead detected by the image processing means within the detection visual field are the actual bonding coordinates. Therefore, if the leading end of the lead 2 is detected when the lead 2 is bent as shown in FIG.
The tip of the lead 2 becomes the actual bonding coordinates.
However, if the leading end of the lead 2 does not have a sufficient width for bonding, a bonding failure occurs.

【0009】本発明は、リードが曲がっている場合に
も、画像処理手段の検出範囲をむやみに広げることな
く、リードを迅速かつ正確に検出可能とすることを目的
とする。
An object of the present invention is to enable quick and accurate detection of a lead even if the lead is bent without unnecessarily expanding the detection range of the image processing means.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の本発明
は、リードフレームのリードを撮像する撮像手段と、撮
像手段が撮像した画像信号を取込んで認識し、基準リー
ドフレームについてそのリード上の基準ボンディング座
標を設定し、一般リードフレームについてそのリードが
基準リードフレームのリードに対してなす位置ずれ量を
検出する画像処理手段と、画像処理手段が検出した一般
リードフレームのリードの上記位置ずれ量に基づき、一
般リードフレームのリード上の実ボンディング座標を、
基準リードフレームについて設定した基準ボンディング
座標に対して補正することにて設定し、この実ボンディ
ング座標に基づき、ボンディングヘッドによりボンディ
ング動作を行なわせる制御手段とを用いて行なうワイヤ
ボンディング方法において、画像処理手段は、基準リー
ドフレームについての基準ボンディング座標の設定時
に、リードの傾きを認識し、一般リードフレームについ
ての位置ずれ量の検出時に、検出視野を上記基準リード
フレームのリードの傾き方向に略直交する方向に設定し
て検出するようにしたものである。
According to the present invention, there is provided an image pickup means for picking up an image of a lead of a lead frame, and an image signal picked up by the image pickup means for recognizing the image signal. Image processing means for setting the reference bonding coordinates of the general lead frame and detecting the amount of positional deviation that the lead makes with respect to the lead of the standard lead frame; and the positional deviation of the general lead frame lead detected by the image processing means. Based on the amount, the actual bonding coordinates on the lead of the general lead frame,
In the wire bonding method, the image processing means is set by correcting the reference bonding coordinates set for the reference lead frame and using the control means for performing the bonding operation by the bonding head based on the actual bonding coordinates. When the reference bonding coordinates for the reference lead frame are set, the inclination of the lead is recognized, and when the amount of displacement is detected for the general lead frame, the detection visual field is set to a direction substantially perpendicular to the inclination direction of the lead of the reference lead frame. Is set to be detected.

【0011】請求項2記載の本発明は、リードフレーム
のリードを撮像手段を用いて撮像するとともに、撮像し
た画像信号を画像処理して前記リードの理想パターンに
基づいて予め得られる正規のリード位置である基準リー
ド位置からのずれ量を検出し、このずれ量と予め設定さ
れている基準ボンディング座標とから前記リード上にお
ける実ボンディング座標を求め、この求めた実ボンディ
ング座標に基づきボンディングヘッドを移動させてボン
ディングを行なうようにしたワイヤボンディング方法に
おいて、前記画像信号を画像処理するにあたり、ずれ量
を検出しようとする1個のリード毎に唯一の検出視野を
設定し、その検出視野を前記基準リードの傾き方向に略
直交する方向に設定するようにしたものである。
According to a second aspect of the present invention, an image of a lead of a lead frame is taken using an image pickup means, and an image signal of the taken image is processed to obtain an ideal pattern of the lead.
A deviation amount from a reference lead position, which is a normal lead position obtained in advance, is detected based on the deviation amount, and actual bonding coordinates on the lead are obtained from the deviation amount and a predetermined reference bonding coordinate. in the wire bonding method to move the bonding head on the basis of the bonding coordinate perform bonding, when image processing of the image signal, the deviation amount
Only one field of view for each lead to detect
And the detection field of view is set in a direction substantially orthogonal to the inclination direction of the reference lead.

【0012】[0012]

【作用】リードの曲がりは、リードフレームに対する当
該リードの付け根回りに回転する如くの方向に生ずる。
従って、一般リードフレームのリードの曲がり方向は、
基準リードフレームのリードの傾き方向に略直交する方
向に略一致するものとなる。このとき、本発明にあって
は、画像処理手段の検出視野が基準リードフレームのリ
ードの傾き方向に略直交する方向に設定されており、結
果として検出視野は一般リードフレームのリードの曲が
り方向に略一致するものとなり、画像処理手段の検出範
囲をむやみに広げることなく、リードを迅速かつ正確に
検出できる。
The bending of the lead occurs in such a direction as to rotate around the root of the lead with respect to the lead frame.
Therefore, the bending direction of the lead of the general lead frame is
The direction substantially coincides with a direction substantially orthogonal to the inclination direction of the lead of the reference lead frame. At this time, in the present invention, the detection visual field of the image processing means is set in a direction substantially perpendicular to the inclination direction of the lead of the reference lead frame, and as a result, the detection visual field is in the bending direction of the lead of the general lead frame. As a result, the leads can be detected quickly and accurately without unnecessarily expanding the detection range of the image processing means.

【0013】[0013]

【実施例】図1は本発明の実施に用いられるワイヤボン
ディング装置の一例を示す模式図、図2は基準リードフ
レームにおける基準ボンディング座標の設定原理を示す
模式図、図3は一般リードフレームにおけるリードの位
置ずれ量の検出原理を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of a wire bonding apparatus used in the embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing the principle of setting reference bonding coordinates in a reference lead frame, and FIG. FIG. 3 is a schematic diagram showing the principle of detecting the amount of positional deviation of FIG.

【0014】ワイヤボンディング装置11は、基台12
を備えている。この基台12にはX移動モータ13とY
移動モータ14とによって平面上をX、Y方向に移動さ
れるXYテーブル15と、リードフレーム16を搬送す
る送り装置17とが対向して配置されている。上記XY
テーブル15にはボンディングヘッド18が設けられて
いる。
The wire bonding apparatus 11 includes a base 12
It has. The base 12 has an X moving motor 13 and a Y
An XY table 15 that is moved in the X and Y directions on a plane by a moving motor 14 and a feeder 17 that conveys a lead frame 16 are arranged to face each other. XY above
The table 15 is provided with a bonding head 18.

【0015】ボンディングヘッド18には先端にキャピ
ラリ19を有し、Z移動モータ20によって回動せしめ
られるボンディングアーム21が支持されるとともに、
支持体22が配設されている。この支持体22には、上
記キャピラリ19にワイヤを供給するワイヤスプール2
3と、上記送り装置17によって搬送されてくるリード
フレーム16を撮像する撮像装置24とが取付けられて
いる。
The bonding head 18 has a capillary 19 at the tip and supports a bonding arm 21 which is rotated by a Z movement motor 20.
A support 22 is provided. The support 22 has a wire spool 2 for supplying a wire to the capillary 19.
3 and an imaging device 24 for imaging the lead frame 16 conveyed by the feeding device 17 are attached.

【0016】そして、撮像装置24には、画像処理装置
25と制御装置26が順次電気的に接続されている。画
像処理装置25には、メモリ27が接続されている。
An image processing device 25 and a control device 26 are sequentially and electrically connected to the imaging device 24. A memory 27 is connected to the image processing device 25.

【0017】撮像装置24は、ITVカメラからなり、
リードフレーム16のリード30と半導体ペレットのパ
ッド(不図示)とを撮像する。また、画像処理装置25
は、撮像装置24が撮像した画像信号を取込んで認識す
る。また、制御装置26は、画像処理装置25の認識結
果に基づき、ボンディングヘッド18のモータ13、1
4、20を駆動し、リードフレーム16のリード30と
ペレットのパッドとの間のワイヤボンディング動作を行
なわせる。
The imaging device 24 comprises an ITV camera,
The leads 30 of the lead frame 16 and the pads (not shown) of the semiconductor pellet are imaged. Further, the image processing device 25
Captures and recognizes an image signal captured by the imaging device 24. Further, the control device 26 controls the motors 13, 1, 1
4 and 20 are driven to perform a wire bonding operation between the lead 30 of the lead frame 16 and the pad of the pellet.

【0018】ここで、画像処理装置25は、(1) 教示段
階では、同一品種間の代表としての基準リードフレーム
16Aについて、そのリード30A上の基準ボンディン
グ座標31Aを設定し、(2) 当該同一品種の生産段階で
は、一般リードフレーム16Bについて、そのリード3
0Bが基準リードフレーム16Aのリード30Aに対し
てなす位置ずれ量(△X ,△Y )を検出する。
Here, the image processing device 25 sets (1) the reference bonding coordinates 31A on the leads 30A for the reference lead frame 16A as a representative between the same types at the teaching stage, and (2) At the production stage of the product type, the lead 3 of the general lead frame 16B is
OB detects the amount of positional deviation (△ X, △ Y) that the reference lead frame 16A makes with respect to the lead 30A.

【0019】そして、制御装置26は、画像処理装置2
5が検出した一般リードフレーム16Bのリード30B
の上記位置ずれ量(△X ,△Y )に基づき、一般リード
フレーム16Bのリード30B上の実ボンディング座標
31Bを、基準リードフレーム16Aについて設定した
基準ボンディング座標31Aに対して補正することにて
設定し、この実ボンディング座標31Bに基づき、上述
のボンディングヘッド18によるボンディング動作を行
なわせる。
Then, the control device 26 controls the image processing device 2
5 lead 30B of general lead frame 16B detected
Is set by correcting the actual bonding coordinates 31B on the leads 30B of the general lead frame 16B with respect to the reference bonding coordinates 31A set for the reference lead frame 16A on the basis of the positional deviation amounts (ΔX, ΔY). Then, the bonding operation by the bonding head 18 described above is performed based on the actual bonding coordinates 31B.

【0020】然るに、本実施例にあっては、画像処理装
置25の上記(1) における、基準リードフレーム16A
のリード30A上の基準ボンディング座標31Aの設定
を下記〜の如くにより行なう。
However, in this embodiment, the reference lead frame 16A of the image processing device 25 in the above (1) is used.
The reference bonding coordinates 31A on the lead 30A are set as follows.

【0021】オペレータにてリード30Aを指定する
(図2(A)参照)。
The lead 30A is designated by the operator (see FIG. 2A).

【0022】画像処理装置25の検出視野32にて、
リード30Aのエッジを検出してリード幅を求め、この
リード幅の中央の座標点Aを算出する(図2(B)参
照)。
In the detection visual field 32 of the image processing device 25,
The edge of the lead 30A is detected to determine the lead width, and the center coordinate point A of the lead width is calculated (see FIG. 2B).

【0023】この際、リード30AをX方向、Y方向の
両検出方向で検出し、この検出により測定したリード幅
を比較し、小さい幅を検出した検出方向を選択し、中央
座標を求める。
At this time, the lead 30A is detected in both the X direction and the Y direction, and the lead widths measured by this detection are compared, the detection direction in which the smaller width is detected is selected, and the center coordinates are obtained.

【0024】上記で選択した検出方向にて、座標点
AからY方向に距離M離れた位置で、リード30Aのリ
ード幅の中央の座標点Bを算出する(図2(B)参
照)。
In the detection direction selected above, a coordinate point B at the center of the lead width of the lead 30A is calculated at a position away from the coordinate point A by a distance M in the Y direction (see FIG. 2B).

【0025】座標点A、Bから、リード30Aの傾き
θを求める。このとき、リード30Aの傾きθをメモリ
27に記憶しておく。
The inclination θ of the lead 30A is determined from the coordinate points A and B. At this time, the inclination θ of the lead 30A is stored in the memory 27.

【0026】画像処理装置25の検出視野32をリー
ド30Aの傾き方向に設定し、撮像出力のダウンエッジ
を探し、リード30Aの先端を認識する。検出視野32
の当初の範囲でリード30Aの先端を検出できなけれ
ば、検出範囲をリード30Aの傾き方向に徐々に広げて
いく。座標点A、Bを結ぶ直線とリード30Aの先端と
が交わる点が、リード30Aの先端の座標点Cとなる
(図2(C)参照)。
The detection field of view 32 of the image processing device 25 is set in the direction of inclination of the lead 30A, the down edge of the imaging output is searched, and the tip of the lead 30A is recognized. Detection field of view 32
If the leading end of the lead 30A cannot be detected in the initial range, the detection range is gradually widened in the inclination direction of the lead 30A. The point at which the straight line connecting the coordinate points A and B intersects the tip of the lead 30A becomes the coordinate point C of the tip of the lead 30A (see FIG. 2C).

【0027】リード30Aの先端の座標点Cを原点と
し、リード30A上にて、リード30Aの傾き方向に、
指定された距離Lをなす位置にボンディング座標Dを設
定する(図2(D)参照)。
With the coordinate point C at the tip of the lead 30A as the origin, on the lead 30A, in the inclination direction of the lead 30A,
A bonding coordinate D is set at a position at a specified distance L (see FIG. 2D).

【0028】ここで、上記距離Lは、リード30A上に
て、ワイヤをボンディングするのに十分なリード幅があ
り、ワイヤループを形成したときに、隣接するワイヤル
ープ同士が接触することがないように設定されたリード
の先端からの距離である。
Here, the distance L has a sufficient lead width for bonding wires on the leads 30A, and when forming a wire loop, adjacent wire loops do not come into contact with each other. Is the distance from the tip of the lead set to.

【0029】また、本実施例にあっては、画像処理装置
25の上記(2) における一般リードフレームの16Bの
リード30Bの位置ずれ量(△X ,△Y )の検出を以下
の如くにより行なう。
Further, in this embodiment, the detection of the amount of displacement (.DELTA.X, .DELTA.Y) of the lead 30B of the 16B of the general lead frame in the above (2) of the image processing device 25 is performed as follows. .

【0030】即ち、画像処理装置25は、上述した基準
リードフレーム16Aについての基準ボンディング座標
31Aの設定時に、上述にてリード30Aの傾きθを
認識し、メモリ27に記憶してある。そこで、画像処理
装置25は、一般リードフレーム16Bについてのリー
ド30Bの位置ずれ量(△X ,△Y )検出時に、検出視
野32を上記基準リードフレーム16Aのリード30A
の傾き方向に略直交する方向に設定して検出するのであ
る(図3(A)参照)。
That is, the image processing device 25 recognizes the inclination θ of the lead 30A and stores it in the memory 27 when setting the reference bonding coordinates 31A for the reference lead frame 16A. Therefore, the image processing device 25 changes the detection visual field 32 to the lead 30A of the reference lead frame 16A when detecting the positional deviation amount (△ X, △ Y) of the lead 30B with respect to the general lead frame 16B.
Is set in a direction substantially perpendicular to the inclination direction of the detection (see FIG. 3A).

【0031】次に、上記実施例の作用について説明す
る。
Next, the operation of the above embodiment will be described.

【0032】一般リードフレーム16Bのリード30B
の曲がりは、該リードフレーム16Bに対する当該リー
ド30Bの付け根回りに回転する如くの方向に生ずる。
従って、一般リードフレーム16Bのリード30Bの曲
がり方向は、基準リードフレーム16Aのリード30A
の傾き方向に略直交する方向に略一致するものとなる。
このとき、上記実施例にあっては、画像処理装置25の
検出視野32が基準リードフレーム16Aのリード30
Aの傾き方向に略直交する方向に設定されており、結果
として検出視野32は一般リードフレーム16Bのリー
ド30Bの曲がり方向に略一致するものとなり、画像処
理装置25の検出範囲をむやみに広げることなく、リー
ド30Bを迅速かつ正確に検出できる。
Lead 30B of general lead frame 16B
Is generated in such a direction as to rotate around the base of the lead 30B with respect to the lead frame 16B.
Therefore, the bending direction of the lead 30B of the general lead frame 16B is the same as that of the lead 30A of the reference lead frame 16A.
Is substantially coincident with a direction substantially orthogonal to the inclination direction of
At this time, in the above embodiment, the detection visual field 32 of the image processing device 25 is changed to the lead 30 of the reference lead frame 16A.
A is set in a direction substantially orthogonal to the inclination direction of A, and as a result, the detection visual field 32 substantially matches the bending direction of the lead 30B of the general lead frame 16B, and the detection range of the image processing device 25 is unnecessarily expanded. Thus, the lead 30B can be detected quickly and accurately.

【0033】従って、リード30Bが曲がっていても、
検出視野32から外れる確率が低くなり、リード30B
の曲がりが極端に大きくないかぎり検出視野32から外
れることがなくなり、検出時間を短縮できる。
Therefore, even if the lead 30B is bent,
The probability of deviating from the detection visual field 32 is reduced, and the lead 30B
As long as the curve is not extremely large, it does not deviate from the detection visual field 32, and the detection time can be shortened.

【0034】また、リード30Bが曲がった場合におけ
る、実ボンディング座標31Bが基準ボンディング座標
31Aの相当座標31A’に対するずれ量を小とするこ
とができる(図3(B)参照)。図3(B)において、
31Cは検出視野32の方向を画面に対し90度の方向に
設定した場合の検出位置であり、基準ボンディング座標
31Aの相当座標31A’に対するずれ量が大きい。
Further, when the lead 30B is bent, the deviation amount of the actual bonding coordinates 31B from the corresponding coordinates 31A 'of the reference bonding coordinates 31A can be reduced (see FIG. 3B). In FIG. 3 (B),
Reference numeral 31C denotes a detection position when the direction of the detection visual field 32 is set to a direction of 90 degrees with respect to the screen, and the deviation amount of the reference bonding coordinate 31A from the equivalent coordinate 31A 'is large.

【0035】尚、上記実施例においては、検出視野32
の設定にあたり、基準リードフレーム16Aのリード3
0Aに傾きを検出し、この検出した傾き方向に対して略
直交する方向となるように設定したが、リードフレーム
の理想パターンに基づいてリードの傾き方向を得るよう
にしてもかまわない。
In the above embodiment, the detection visual field 32
When setting the lead 3 of the reference lead frame 16A
Although the inclination is detected at 0A and the direction is set so as to be substantially orthogonal to the detected inclination direction, the inclination direction of the lead may be obtained based on the ideal pattern of the lead frame.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、リードが
曲がっている場合にも、画像処理手段の検出範囲をむや
みに広げることなく、リードを迅速かつ正確に検出でき
る。
As described above, according to the present invention, even when the lead is bent, the lead can be detected quickly and accurately without unnecessarily expanding the detection range of the image processing means.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本発明の実施に用いられるワイヤボンデ
ィング装置の一例を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of a wire bonding apparatus used for carrying out the present invention.

【図2】図2は基準リードフレームにおける基準ボンデ
ィング座標の設定原理を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a principle of setting reference bonding coordinates in a reference lead frame.

【図3】図3は一般リードフレームにおけるリードの位
置ずれ量の検出原理を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a principle of detecting a lead displacement amount in a general lead frame.

【図4】図4は検出視野の方向を 0度の方向に設定した
状態を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a state in which the direction of a detection visual field is set to a direction of 0 degrees.

【図5】図5は検出視野の方向を90度の方向に設定した
状態を示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a state in which the direction of a detection visual field is set to a direction of 90 degrees.

【図6】図6は検出方向を 0度とする場合のリードの曲
がり状態を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a bent state of a lead when the detection direction is 0 degree.

【図7】図7は検出方向を90度とする場合のリードの曲
がり状態を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a bent state of a lead when the detection direction is 90 degrees.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 ワイヤボンディング装置 16A 基準リードフレーム 16B 一般リードフレーム 18 ボンディングヘッド 24 撮像装置 25 画像処理装置 26 制御装置 30A、30B リード 31A 基準ボンディング座標 31B 実ボンディング座標 32 検出視野 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Wire bonding apparatus 16A Reference lead frame 16B General lead frame 18 Bonding head 24 Imaging device 25 Image processing device 26 Control device 30A, 30B Lead 31A Reference bonding coordinate 31B Actual bonding coordinate 32 Detection visual field

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 リードフレームのリードを撮像する撮像
手段と、撮像手段が撮像した画像信号を取込んで認識
し、基準リードフレームについてそのリード上の基準ボ
ンディング座標を設定し、一般リードフレームについて
そのリードが基準リードフレームのリードに対してなす
位置ずれ量を検出する画像処理手段と、画像処理手段が
検出した一般リードフレームのリードの上記位置ずれ量
に基づき、一般リードフレームのリード上の実ボンディ
ング座標を、基準リードフレームについて設定した基準
ボンディング座標に対して補正することにて設定し、こ
の実ボンディング座標に基づき、ボンディングヘッドに
よりボンディング動作を行なわせる制御手段とを用いて
行なうワイヤボンディング方法において、画像処理手段
は、基準リードフレームについての基準ボンディング座
標の設定時に、リードの傾きを認識し、一般リードフレ
ームについての位置ずれ量の検出時に、検出視野を上記
基準リードフレームのリードの傾き方向に略直交する方
向に設定して検出することを特徴とするワイヤボンディ
ング方法。
1. An image pickup means for picking up an image of a lead of a lead frame, an image signal picked up by the image pickup means being taken in and recognized, a reference bonding coordinate on the lead is set for a reference lead frame, and Image processing means for detecting the amount of displacement of the lead with respect to the lead of the reference lead frame; and actual bonding on the lead of the general lead frame based on the displacement of the lead of the general lead frame detected by the image processing means. In a wire bonding method, the coordinates are set by correcting with respect to the reference bonding coordinates set for the reference lead frame, and based on the actual bonding coordinates, control means for performing a bonding operation by a bonding head is used. The image processing means includes a reference read frame. When setting the reference bonding coordinates for the system, the inclination of the lead is recognized, and when the amount of displacement of the general lead frame is detected, the detection visual field is set in a direction substantially orthogonal to the inclination direction of the lead of the reference lead frame. A wire bonding method characterized by detecting.
【請求項2】 リードフレームのリードを撮像手段を用
いて撮像するとともに、撮像した画像信号を画像処理し
て前記リードの理想パターンに基づいて予め得られる正
規のリード位置である基準リード位置からのずれ量を検
出し、このずれ量と予め設定されている基準ボンディン
グ座標とから前記リード上における実ボンディング座標
を求め、この求めた実ボンディング座標に基づきボンデ
ィングヘッドを移動させてボンディングを行なうように
したワイヤボンディング方法において、前記画像信号を
画像処理するにあたり、ずれ量を検出しようとする1個
のリード毎に唯一の検出視野を設定し、その検出視野を
前記基準リードの傾き方向に略直交する方向に設定した
ことを特徴とするワイヤボンディング方法。
2. A lead of a lead frame is picked up by an image pickup means, and an image signal of the picked-up image is processed to obtain a correct lead obtained in advance based on an ideal pattern of the lead.
The amount of deviation from the reference lead position, which is the standard lead position, is detected, and the actual bonding coordinates on the lead are obtained from the amount of deviation and the preset reference bonding coordinates, and bonding is performed based on the obtained actual bonding coordinates. In the wire bonding method in which the head is moved to perform the bonding, when the image signal is subjected to the image processing, one of the ones for which a shift amount is to be detected is used.
A single detection field of view is set for each of the leads, and the detection field of view is set in a direction substantially perpendicular to the inclination direction of the reference lead.
JP3160759A 1991-06-06 1991-06-06 Wire bonding method Expired - Fee Related JP2977954B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3160759A JP2977954B2 (en) 1991-06-06 1991-06-06 Wire bonding method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3160759A JP2977954B2 (en) 1991-06-06 1991-06-06 Wire bonding method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04359527A JPH04359527A (en) 1992-12-11
JP2977954B2 true JP2977954B2 (en) 1999-11-15

Family

ID=15721855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3160759A Expired - Fee Related JP2977954B2 (en) 1991-06-06 1991-06-06 Wire bonding method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2977954B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04359527A (en) 1992-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5113565A (en) Apparatus and method for inspection and alignment of semiconductor chips and conductive lead frames
EP0657917A1 (en) Wire bonding apparatus
US20010027606A1 (en) Semiconductor integrated circuit manufacturing method and bonding machine used for it
CN111656504B (en) Bare chip pickup method and device
JP6522797B2 (en) Die pick-up device
GB2056766A (en) Systems for bonding pellets, for example semiconductor chips, to supports
JP3235008B2 (en) Method and apparatus for detecting ball in wire bonding section
JP2005072046A (en) Apparatus for packaging electronic component
JP2977954B2 (en) Wire bonding method
JP4761672B2 (en) Bonding method and bonding apparatus
JP3102193B2 (en) Contact / positioning device for QFP IC to IC socket
JP2977953B2 (en) Wire bonding method
JP3418929B2 (en) Pickup device and chip positioning method
JPH0569301B2 (en)
JP4312677B2 (en) Bonding equipment
JP3404755B2 (en) Wire bonding equipment
JP2010192817A (en) Pickup method and pickup device
JP3272312B2 (en) Moving device of position recognition means
JPH05308086A (en) Semiconductor manufacturing device
JP3399334B2 (en) Thermocompression bonding apparatus and thermocompression bonding method for electronic components with bumps
JP3169046B2 (en) Chip recognition method and chip recognition device
JP5022598B2 (en) Bonding apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP2001267335A (en) Apparatus and method for mounting electronic component
JP2999298B2 (en) Electronic component position detecting device using image recognition means
JPS61148828A (en) Inspection of wire bonding

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990831

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees