JP2955043B2 - Method for manufacturing lead frame for semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing lead frame for semiconductor device

Info

Publication number
JP2955043B2
JP2955043B2 JP6871291A JP6871291A JP2955043B2 JP 2955043 B2 JP2955043 B2 JP 2955043B2 JP 6871291 A JP6871291 A JP 6871291A JP 6871291 A JP6871291 A JP 6871291A JP 2955043 B2 JP2955043 B2 JP 2955043B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
piece
connecting piece
lead
blank
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6871291A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04280661A (en
Inventor
英美 跡部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP6871291A priority Critical patent/JP2955043B2/en
Publication of JPH04280661A publication Critical patent/JPH04280661A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2955043B2 publication Critical patent/JP2955043B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置用リードフレ
ームの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置用リードフレームは金属材を
プレス加工するか、化学的にエッチング加工して製造し
ている。いずれの場合にも、通常はうるべきリードフレ
ームの最終形状までプレス加工等によって形状形成して
リードフレームブランクを形成した後、必要なめっきを
行い、さらにはインナーリードが変形しないように絶縁
性のテープ片をインナーリードに貼着するようにしてい
る。しかしながら昨今は多ピン化の傾向にありリードが
細くなっていることから、上記のようにリードフレーム
の最終形態まで加工した後、めっき等の後工程を行うと
インナーリードが変形するおそれがあるので、インナー
リード先端とステージとの間の加工を行わず、この間は
金属材で繋げたまま必要なめっきを施し、またテープ片
の貼着などを行った後、最後にこの間の形状加工を行う
ようにしている。
2. Description of the Related Art Lead frames for semiconductor devices are manufactured by pressing metal materials or chemically etching metal materials. In either case, after forming the lead frame blank by press forming etc. to the final shape of the lead frame that should normally be obtained, perform the necessary plating, and furthermore, perform insulation so that the inner leads do not deform. The tape piece is attached to the inner lead. However, in recent years, since the number of pins has tended to decrease and the leads have become thinner, the inner leads may be deformed if a post-process such as plating is performed after processing to the final form of the lead frame as described above. Do not perform processing between the tip of the inner lead and the stage, apply the necessary plating while connecting it with a metal material during this time, and also stick a piece of tape, etc. I have to.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにインナーリード先端側をステージに繋げたままに
すると、インナーリード先端には必要なボンディングエ
リアを確保するためにコイニング加工を施すが、このコ
イニングによるインナーリードの伸びを吸収できず、リ
ードの反り等の変形が生じる問題点がある。このため、
インナーリード先端を連結片で繋げてこの連結片はステ
ージとはフリー状態にし、この状態でコイニング、めっ
き、テープ片の貼着などの必要工程を行い、最後に連結
片を分離するようにする方法もある。この方法によれ
ば、連結片で繋がったインナーリードはステージに対し
てフリー状態にあるから、インナーリード先端にコイニ
ング加工を施しても、このコイニング加工による伸びが
吸収され、リードの変形を防止できる。しかしながら、
プレス加工による場合、最後に連結片を分離する際、連
結片がフリー状態にあるため、連結片を除去するための
金型のダイ穴を連結片よりも大きなものに設定して連結
片のかじりを防止する必要があるが、この場合には逆に
分離された連結片がダイ穴内で引っ掛かりがなく、プレ
スのポンチの上昇と共に金型面上にまいあがる、いわゆ
るカス上がりの現象が生じ易く、ポンチを損傷したり、
製品に打痕を生じさせる問題点がある。そこで本発明は
上記問題点を解決すべくなされたものであり、その目的
とするところは、コイニング加工によるインナーリード
の伸びを効果的に吸収し、変形のないリードフレームを
製造できる半導体装置用リードフレームの製造方法を提
供するにある。
However, if the tip of the inner lead is kept connected to the stage as described above, the tip of the inner lead is subjected to coining to secure a necessary bonding area. Therefore, there is a problem that deformation of the lead such as warpage of the lead occurs due to the inability to absorb the elongation of the inner lead caused by the lead. For this reason,
A method in which the ends of the inner leads are connected with a connecting piece, and this connecting piece is free from the stage. In this state, necessary processes such as coining, plating, and attaching a tape piece are performed, and finally the connecting piece is separated. There is also. According to this method, since the inner lead connected by the connecting piece is in a free state with respect to the stage, even if the tip of the inner lead is subjected to coining, the elongation due to the coining is absorbed, and the deformation of the lead can be prevented. . However,
In the case of pressing, when the connecting piece is finally separated, the connecting piece is in a free state, so the die hole of the mold for removing the connecting piece is set to be larger than the connecting piece, and the connecting piece is seized. In this case, however, in this case, the separated connecting piece is not caught in the die hole, so that the so-called scum phenomena easily occurs on the mold surface as the punch of the press rises, Damage the punch,
There is a problem that a dent is formed on the product. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to effectively absorb the elongation of inner leads caused by coining and to produce a lead frame for a semiconductor device without deformation. A method for manufacturing a frame is provided.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため次の構成を備える。すなわち、複数群のインナ
ーリードの各群のインナーリード先端がスリットを有す
連結片により連結され、該連結片が支持片を介して半
導体素子搭載用のステージもしくは該ステージのサポー
トバーに連結されたリードフレームブランクを形成する
ブランク形成工程と、リードフレームブランクのインナ
ーリード先端をコイニングするコイニング工程と、リー
ドフレームブランクの必要部にめっきを施すめっき工程
と、前記コイニング工程およびめっき工程後に、インナ
ーリード間に電気的絶縁性を有するテープ片を貼着する
テープ貼着工程と、該テープ貼着工程後、インナーリー
ド先端を連結片から分離し、支持片をステージもしくは
サポートバーから分離する連結片の除去工程とを含むこ
とを特徴としている。ブランク形成工程で、前記スリッ
トを連結片のほぼ全長に及んで形成するようにすると好
適である。リードフレームブランクに加熱処理を施して
内部残留応力を除去すると好適である。ブランク形成工
程がプレス加工による場合に特に効果的である。
The present invention has the following arrangement to solve the above-mentioned problems. That is, the tip of the inner lead of each group of the plurality of inner leads has a slit.
Are connected by that the connecting piece, and the blank forming step in which the connecting piece forms a stage or lead frame blank which is connected to the support bar of the stage for mounting a semiconductor element via the support piece, the inner lead tip of the lead frame blank A coining step of coining, a plating step of plating required portions of the lead frame blank, and a tape sticking step of sticking a tape piece having electrical insulation between inner leads after the coining step and the plating step. After the tape attaching step, a step of removing the connecting piece by separating the tip of the inner lead from the connecting piece and separating the supporting piece from the stage or the support bar is provided. In the blank forming process,
It is preferable to form the connecting piece over substantially the entire length of the connecting piece . It is preferable to perform a heat treatment on the lead frame blank to remove the internal residual stress. This is particularly effective when the blank forming step is performed by pressing.

【0005】[0005]

【作用】本発明に係る半導体装置用リードフレームの製
造方法によれば、第1工程のブランク形成工程におい
て、複数群のインナーリードの各群のインナーリード先
端がスリットを有する連結片により連結され、該連結片
が支持片を介して半導体素子搭載用のステージもしくは
該ステージのサポートバーに連結されたリードフレーム
ブランクを形成するので、インナーリード先端にコイニ
ング加工を施した際のリードの伸びが、前記スリットが
存在することによる連結片の変形によって効果的に吸収
され、リードの変形を防止できる。しかも連結片の除去
工程では、インナーリードと連結片との間および支持片
とステージもしくはサポートバーとの間、すなわち連結
片の両サイドにおいて切断するので、プレス金型によっ
て連結片の分離を行う場合に、ダイ穴を切断すべき連結
片および支持片の大きさに形成すればよいから、分離さ
れた連結片(および支持片)が、当該ダイ穴内壁に当接
支持されて金型上方にまいあがることがなく、ポンチの
損傷、打痕の発生などを防止できる。
According to the method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to the present invention, in the blank forming step of the first step, the inner lead destinations of each group of the plurality of groups of inner leads are set.
The ends are connected by a connecting piece having a slit, and the connecting piece
Is a stage for mounting a semiconductor element via a support piece or
Lead frame connected to the support bar of the stage
Since the blank is formed , the elongation of the lead when coining is applied to the tip of the inner lead,
Effective absorption by deformation of the connecting piece due to its presence
Thus , deformation of the lead can be prevented. Moreover, in the step of removing the connection piece, the connection piece is cut off between the inner lead and the connection piece and between the support piece and the stage or the support bar, that is, on both sides of the connection piece. Then, the die hole may be formed to the size of the connecting piece and the supporting piece to be cut, so that the separated connecting piece (and the supporting piece) is abutted and supported on the inner wall of the die hole and is spread over the die. It is possible to prevent the punch from being damaged and the occurrence of dents without rising.

【0006】[0006]

【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。 第1工程;プレス加工 図1はプレス加工により形成されたリードフレームブラ
ンク10を示す。このブランク形成工程は、順送型によ
るプレス金型によって金属帯状部材を順次打ち抜き、図
示のリードフレームブランク10を形成する。12はそ
のインナーリード、14はステージ、16はサポートバ
ーである。インナーリード12の外方にはアウターリー
ド(図示せず)がインナーリードに連続して形成され
る。その他リードフレームブランク10にはダムバーな
ど公知の要素が形成される。本実施例では、クワッドタ
イプのリードフレームブランクを示し、その各4方の各
1群のインナーリード10先端が連結片18によって連
結されている。この連結片18は支持片20によってス
テージ14に接続されている。また連結片18には連結
片18のほぼ全長に及んでスリット22が形成されてい
る。したがって連結片18と支持片20とは幅狭の幅狭
部29によって接続している。支持片20は幅狭に形成
されていて、連結片18のほぼ中央部とステージ14の
対応する辺のほぼ中央部を連結しており、また支持片
0が接続するステージ14の辺の支持片20の両脇には
浅い切欠部24を形成している。 第2工程;熱処理 上記のようにして形成したリードフレームブランク10
加熱処理を施してプレス加工によって生じた内部残留
応力を除去する。この熱処理条件は、金属材の種類、リ
ードフレームブランク10の形状等によって異なるが、
2 雰囲気中で熱処理を行う。 第3工程;コイニング 次に、インナーリード12の先端にコイニング加工を施
す。このコイニング加工はインナーリード12先端をプ
レスして平坦にすると共に必要なボンディングエリアを
確保するものである。 第4工程;めっき 次いで、インナーリード12、ステージ14等に銀めっ
き、金めっきなどの必要なめっきを行う。このめっきは
ワイヤボンディング性、ダイ付け性を向上させるための
ものである。 第5工程;テープ貼着 次に、図1に示すように、インナーリード12先端間
に、ポリイミド樹脂等からなる絶縁性、耐熱性を有する
テープ片28を貼着する。これにより連結片18除去後
においてもインナーリード12がテープ片28によって
固定されているので変形が防止できる。 第6工程;連結片除去 次いでインナーリード12先端と連結片18との間を切
断し、支持片20とステージ14との間を切断して連結
片18を分離しインナーリード12の先端の形状を形成
する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. First Step; Press Working FIG. 1 shows a lead frame blank 10 formed by press working. In this blank forming step , the metal strip-shaped members are sequentially punched by a press die by a progressive die to form the illustrated lead frame blank 10. 12 is an inner lead, 14 is a stage, and 16 is a support bar. An outer lead (not shown) is formed outside the inner lead 12 so as to be continuous with the inner lead. Other known elements such as a dam bar are formed on the lead frame blank 10. In this embodiment, a quad-type lead frame blank is shown, and the tips of the inner leads 10 of each of the four groups are connected by connecting pieces 18. This connecting piece 18 is connected to the stage 14 by a supporting piece 20. A slit 22 is formed in the connecting piece 18 over substantially the entire length of the connecting piece 18. Therefore, the connecting piece 18 and the supporting piece 20 are narrow.
They are connected by a unit 29. Support pieces 20 is formed in a narrow, which connects the substantially central portion of the corresponding side of the substantially central portion and the stage 14 of the coupling piece 18, also the support piece 2
A shallow notch 24 is formed on both sides of the support piece 20 on the side of the stage 14 to which 0 is connected. Second step; heat treatment Lead frame blank 10 formed as described above
Is subjected to a heat treatment to remove internal residual stress generated by press working. The heat treatment conditions vary depending on the type of the metal material, the shape of the lead frame blank 10, and the like.
Heat treatment is performed in an N 2 atmosphere. Third step: coining Next, coining is performed on the tip of the inner lead 12. The coining process presses the tip of the inner lead 12 to flatten it and secure a necessary bonding area. Fourth Step; Plating Next, necessary plating such as silver plating and gold plating is performed on the inner lead 12, the stage 14, and the like. This plating is for improving wire bonding and die attachability. Fifth Step; Tape Adhesion Next, as shown in FIG. 1, a tape piece 28 made of polyimide resin or the like and having insulation and heat resistance is attached between the tips of the inner leads 12. Thereby, even after the connection piece 18 is removed, the inner lead 12 is fixed by the tape piece 28, so that deformation can be prevented. Sixth step: Removal of connection piece Next, the connection between the tip of the inner lead 12 and the connection piece 18 is cut, and the space between the support piece 20 and the stage 14 is cut to separate the connection piece 18 and the shape of the tip of the inner lead 12 is changed. Form.

【0007】第1工程のブランク形成工程において、各
群毎のインナーリード12の先端を連結片18により接
続し、この連結片18にスリット22を形成し、さらに
連結片18を支持片20によってステージ14に接続し
ているので、第3工程のコイニング加工を施した際のリ
ードの伸びが連結片18が屈曲することによって効果的
に吸収され、リードの変形を防止できる。この連結片1
8は支持片20を介してステージ14にも接続している
が、支持片20が幅狭であること、また連結片18にス
リット22が設けられていることから、リードが伸びる
ことによるステージ14側からの抵抗も幅狭部29が屈
曲することにより吸収され、リードの変形を防止できる
のである。第2工程の熱処理によって、プレス加工によ
るリードフレームブランク12内に残留する応力が解放
され、後工程で連結片18が分離された際、残留応力に
よるリードの変形を防止する。第6工程の連結片18の
除去工程では、インナーリード12と連結片18との間
および支持片20とステージ14との間、すなわち連結
片18の両サイドにおいて切断するので、プレス金型に
よって連結片18の分離を行う場合に、ダイ穴を切断す
べき連結片18および支持片20の大きさに形成すれば
よいから、分離された連結片18(および支持片20)
が、当該ダイ穴内壁に当接支持されて金型上方にまいあ
がることがなく、ポンチの損傷、打痕の発生などを防止
できる。また、支持片20両脇のステージ14の辺に切
欠部24を設けているので、支持片20を切断する金型
の切断線がステージ14の辺と多少のミスマッチングし
ても支障なく切断が行える。
In the blank forming step of the first step, the tips of the inner leads 12 of each group are connected by connecting pieces 18, slits 22 are formed in the connecting pieces 18, and the connecting pieces 18 are staged by supporting pieces 20. Since the connection piece 14 is connected, the elongation of the lead when the coining process of the third step is performed is effectively absorbed by the bending of the connecting piece 18, and the deformation of the lead can be prevented. This connecting piece 1
8 is also connected to the stage 14 via the support piece 20, but since the support piece 20 is narrow and the connecting piece 18 is provided with the slit 22, The resistance from the side narrows the narrow part 29
It is absorbed by bending and deformation of the lead can be prevented. The heat treatment in the second step releases the stress remaining in the lead frame blank 12 due to the press working, and prevents the deformation of the lead due to the residual stress when the connecting piece 18 is separated in a later step. In the sixth step of removing the connection piece 18, the connection piece 18 is cut between the inner lead 12 and the connection piece 18 and between the support piece 20 and the stage 14, that is, on both sides of the connection piece 18. When the pieces 18 are separated, the die holes may be formed to the size of the connecting pieces 18 and the supporting pieces 20 to be cut. Therefore, the separated connecting pieces 18 (and the supporting pieces 20) are separated.
However, the punch is not contacted and supported by the inner wall of the die hole and does not rise above the mold, so that damage to the punch and dents can be prevented. Further, since the provided notches 24 to the sides of the support piece 20 both sides of the stage 14, the sides and without hindrance cut somewhat mismatching of the support piece 20 die cut lines stage 14 to cut the I can do it.

【0008】図2は他の実施例を示す。本実施例では連
結片18にスリットを設けていない他は上記実施例と同
じである。スリットを設けずとも、連結片18を幅狭な
ものにすることによってコイニング加工によるインナー
リード12の伸びを十分に吸収することができ、リード
の変形を防止できる。
FIG. 2 shows another embodiment. This embodiment is the same as the above embodiment except that the connecting piece 18 is not provided with a slit. Even without providing a slit, by making the connecting piece 18 narrow, the elongation of the inner lead 12 due to coining can be sufficiently absorbed, and deformation of the lead can be prevented.

【0009】上記各実施例では連結片18を支持片20
を介してステージ14に連結するようにしたが、支持片
を介してサポートバー16に連結するようにしてもよい
(図示せず)。この場合にも上記と同様の作用効果を奏
する。第1工程のブランク形成工程では必ずしもプレス
加工でなくともよく、化学的なエッチング加工によるの
であってもよい。また上記の各工程のうち、第2工程の
熱処理、第3工程のコイニング加工、第4工程のめっき
工程は必ずしも上記順でなくともよく、任意の順に変更
できる。また上記実施例ではクワッドタイプの例で説明
したが、DIPタイプ、その他のタイプのリードフレー
ムの製造にも適用しうることはもちろんである。
[0009] The support piece 20 of the connecting piece 18 in the above embodiments
Is connected to the stage 14 via a support bar, but may be connected to the support bar 16 via a support piece (not shown). In this case, the same operation and effect as described above can be obtained. In the blank forming step of the first step, it is not always necessary to perform the pressing, but may be performed by a chemical etching. Of the above steps, the heat treatment in the second step, coining in the third step, and the plating step in the fourth step are not necessarily performed in the above order, and can be changed in any order. Further, in the above embodiment, the example of the quad type has been described, but it is needless to say that the present invention can be applied to the manufacture of a DIP type and other types of lead frames.

【0010】[0010]

【発明の効果】本発明に係る半導体装置用リードフレー
ムの製造方法によれば、上述したように、第1工程のブ
ランク形成工程において、複数群のインナーリードの各
群のインナーリード先端がスリットを有する連結片によ
り連結され、該連結片が支持片を介して半導体素子搭載
用のステージもしくは該ステージのサポートバーに連結
されたリードフレームブランクを形成するので、インナ
ーリード先端にコイニング加工を施した際のリードの
びが、前記スリットが存在することによる連結片の変形
によって効果的に吸収され、リードの変形を防止でき
る。しかも連結片の除去工程では、インナーリードと連
結片との間および支持片とステージもしくはサポートバ
ーとの間、すなわち連結片の両サイドにおいて切断する
ので、プレス金型によって連結片の分離を行う場合に、
ダイ穴を切断すべき連結片および支持片の大きさに形成
すればよいから、分離された連結片(および支持片)
が、当該ダイ穴内壁に当接支持されて金型上方にまいあ
がることがなく、ポンチの損傷、打痕の発生などを防止
できる。
According to the method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to the present invention, as described above, in the blank forming step of the first step, each of the plurality of groups of inner leads is formed.
The tip of the inner lead of the group is
And the connecting piece is mounted on the semiconductor element via the supporting piece.
Connected to the stage or the support bar of the stage
Because it forms a lead frame blank which has been, Shin leads when subjected to coining the inner lead tip
Deformation of the connecting piece due to the presence of the slit
Thus, the lead can be effectively absorbed and the deformation of the lead can be prevented. Moreover, in the step of removing the connection piece, the connection piece is cut off between the inner lead and the connection piece and between the support piece and the stage or the support bar, that is, on both sides of the connection piece. To
Since the die hole may be formed to the size of the connecting piece and the supporting piece to be cut, the separated connecting piece (and the supporting piece)
However, the punch is not contacted and supported by the inner wall of the die hole and does not rise above the mold, so that damage to the punch and dents can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施例を示したリードフレームブランク
の部分平面図である。
FIG. 1 is a partial plan view of a lead frame blank showing a first embodiment.

【図2】リードフレームブランクの他の実施例を示した
部分平面図である。
FIG. 2 is a partial plan view showing another embodiment of the lead frame blank.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 リードフレームブランク 12 インナーリード 14 ステージ 16 サポートバー 18 連結片 20 支持片 22 スリット 28 テープ片29 幅狭部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Lead frame blank 12 Inner lead 14 Stage 16 Support bar 18 Connecting piece 20 Support piece 22 Slit 28 Tape piece 29 Narrow part

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数群のインナーリードの各群のインナ
ーリード先端がスリットを有する連結片により連結さ
れ、該連結片が支持片を介して半導体素子搭載用のステ
ージもしくは該ステージのサポートバーに連結されたリ
ードフレームブランクを形成するブランク形成工程と、 リードフレームブランクのインナーリード先端をコイニ
ングするコイニング工程と、 リードフレームブランクの必要部にめっきを施すめっき
工程と、 前記コイニング工程およびめっき工程後に、インナーリ
ード間に電気的絶縁性を有するテープ片を貼着するテー
プ貼着工程と、 該テープ貼着工程後、インナーリード先端を連結片から
分離し、支持片をステージもしくはサポートバーから分
離する連結片の除去工程とを含むことを特徴とする半導
体装置用リードフレームの製造方法。
An end of each group of inner leads is connected by a connecting piece having a slit , and the connecting piece is connected to a stage for mounting a semiconductor element or a support bar of the stage via a supporting piece. Forming a formed lead frame blank, a coining step of coining the tip of an inner lead of the lead frame blank, a plating step of plating a necessary portion of the lead frame blank, and after the coining step and the plating step, A tape adhering step of adhering an electrically insulating tape piece between the leads, and a connecting piece for separating the tip of the inner lead from the connecting piece and separating the supporting piece from the stage or the support bar after the tape attaching step. A lead frame for a semiconductor device. Method for producing a beam.
【請求項2】 前記ブランク形成工程で、前記スリット
を連結片のほぼ全長に及んで形成することを特徴とする
請求項1記載の半導体装置用リードフレームの製造方
法。
2. The method according to claim 1, wherein in the blank forming step, the slit is formed.
2. The method of manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, wherein the step of forming is performed over substantially the entire length of the connecting piece .
【請求項3】 リードフレームブランクに加熱処理を施
して内部残留応力を除去する熱処理工程を含むことを特
徴とする請求項1または2記載の半導体装置用リードフ
レームの製造方法。
3. The method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, further comprising a heat treatment step of performing a heat treatment on the lead frame blank to remove internal residual stress.
【請求項4】 ブランク形成工程がプレス加工によるこ
とを特徴とする請求項1、2または3記載の半導体装置
用リードフレームの製造方法。
4. The method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device according to claim 1, wherein the blank forming step is performed by press working.
JP6871291A 1991-03-09 1991-03-09 Method for manufacturing lead frame for semiconductor device Expired - Lifetime JP2955043B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6871291A JP2955043B2 (en) 1991-03-09 1991-03-09 Method for manufacturing lead frame for semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6871291A JP2955043B2 (en) 1991-03-09 1991-03-09 Method for manufacturing lead frame for semiconductor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04280661A JPH04280661A (en) 1992-10-06
JP2955043B2 true JP2955043B2 (en) 1999-10-04

Family

ID=13381673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6871291A Expired - Lifetime JP2955043B2 (en) 1991-03-09 1991-03-09 Method for manufacturing lead frame for semiconductor device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2955043B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06196603A (en) * 1992-12-23 1994-07-15 Shinko Electric Ind Co Ltd Manufacture of lead frame
US6552417B2 (en) 1993-09-03 2003-04-22 Asat, Limited Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance
US6326678B1 (en) * 1993-09-03 2001-12-04 Asat, Limited Molded plastic package with heat sink and enhanced electrical performance

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04280661A (en) 1992-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4994411A (en) Process of producing semiconductor device
JP2955043B2 (en) Method for manufacturing lead frame for semiconductor device
US5521430A (en) Semiconductor apparatus and its manufacturing method
JP3506957B2 (en) Lead frame manufacturing method
JPS6244422B2 (en)
JP2524645B2 (en) Lead frame and manufacturing method thereof
JP2501046B2 (en) Manufacturing method of lead frame
JP2504860B2 (en) Manufacturing method of lead frame
JP3028173B2 (en) Lead frame and manufacturing method thereof
JPH06151681A (en) Manufacture of semiconductor device and lead frame used therein
JPH0661378A (en) Semiconductor device
JP2606977B2 (en) Method for manufacturing lead frame for semiconductor device
JPH0650989Y2 (en) Lead frame
JPS63308359A (en) Manufacture of lead frame
JPH0444255A (en) Manufacture of lead frame
JPH06350013A (en) Lead frame, semiconductor device and manufacture of semiconductor device
JP3030401B2 (en) Lead frame manufacturing method
JP3353757B2 (en) Lead frame and lead frame manufacturing method
JP3051490B2 (en) Lead frame manufacturing method
JPS6347272B2 (en)
JP3076948B2 (en) Lead frame and method of manufacturing semiconductor device using the same
JPH0425053A (en) Manufacture of lead frame
JPH09107060A (en) Manufacture of lead frame
JPH03283643A (en) Manufacture of lead frame
JPH08298306A (en) Lead frame used for semiconductor device and its manufacture and manufacture of lead frame

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716

Year of fee payment: 12