JP2929760B2 - デジタル絶縁抵抗計 - Google Patents
デジタル絶縁抵抗計Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタル絶縁抵抗計に
関するものである。
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】絶縁抵抗計の一種に、抵抗測定値をデジ
タル信号に変換してデジタル表示部でデジタル表示する
ように構成されたデジタル絶縁抵抗計がある。また、こ
のようなデジタル絶縁抵抗計では、外部からの設定操作
により基準抵抗値を設定し、抵抗測定値の大きさを比較
してその結果をブザーで知らせることも行われている。
タル信号に変換してデジタル表示部でデジタル表示する
ように構成されたデジタル絶縁抵抗計がある。また、こ
のようなデジタル絶縁抵抗計では、外部からの設定操作
により基準抵抗値を設定し、抵抗測定値の大きさを比較
してその結果をブザーで知らせることも行われている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなデ
ジタル表示のみが設けられた従来の構成によれば、抵抗
測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表示形
に比べて、直観的に抵抗測定値の大きさを把握すること
はできない。そして、デジタル表示形はオートレンジに
なっていて表示桁が自動的に切り替わっていくことか
ら、最終的に表示値が落着くまで待たないと抵抗測定値
を把握できず、応答性が悪いという問題がある。
ジタル表示のみが設けられた従来の構成によれば、抵抗
測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表示形
に比べて、直観的に抵抗測定値の大きさを把握すること
はできない。そして、デジタル表示形はオートレンジに
なっていて表示桁が自動的に切り替わっていくことか
ら、最終的に表示値が落着くまで待たないと抵抗測定値
を把握できず、応答性が悪いという問題がある。
【０００４】また、従来のデジタル表示部では、最上位
桁の表示素子まで小数点表示要素が設けられているのみ
である。この結果、例えば「１９９９」表示のデジタル
表示部を用いて１００Ｖ／２０ＭΩの第１有効測定範囲
０．０２ＭΩ〜１０ＭΩにおける抵抗測定値「０．０２
ＭΩ」を表示させようとすると表示は「０．０２０」に
なり、最下位桁の表示が±１変化すると５％の変化にな
ってしまいＪＩＳ Ｃ １３０２で規定されている精度
を満たさなくなる。表示単位を「ｋΩ」にすれば分解能
は上がるが、「ＭΩ」の規定値との換算が必要になり、
直読できない。
桁の表示素子まで小数点表示要素が設けられているのみ
である。この結果、例えば「１９９９」表示のデジタル
表示部を用いて１００Ｖ／２０ＭΩの第１有効測定範囲
０．０２ＭΩ〜１０ＭΩにおける抵抗測定値「０．０２
ＭΩ」を表示させようとすると表示は「０．０２０」に
なり、最下位桁の表示が±１変化すると５％の変化にな
ってしまいＪＩＳ Ｃ １３０２で規定されている精度
を満たさなくなる。表示単位を「ｋΩ」にすれば分解能
は上がるが、「ＭΩ」の規定値との換算が必要になり、
直読できない。
【０００５】さらに、抵抗測定値を比較するための基準
値の設定手段としてサムロータリースイッチなどを設け
なければならないことから、構造的に複雑になり、小形
化が図りにくいという問題もある。
値の設定手段としてサムロータリースイッチなどを設け
なければならないことから、構造的に複雑になり、小形
化が図りにくいという問題もある。
【０００６】本発明は、このような従来のデジタル絶縁
抵抗計の問題点を解決するものであり、その目的は、抵
抗測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表示
形と同様に直観的に抵抗測定値の大きさを把握でき、抵
抗測定値のデジタル表示の分解能を高めることができ、
抵抗測定値の比較測定のための基準値の設定が簡単に行
えるデジタル絶縁抵抗計を実現することにある。
抵抗計の問題点を解決するものであり、その目的は、抵
抗測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表示
形と同様に直観的に抵抗測定値の大きさを把握でき、抵
抗測定値のデジタル表示の分解能を高めることができ、
抵抗測定値の比較測定のための基準値の設定が簡単に行
えるデジタル絶縁抵抗計を実現することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、抵抗測定値を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変
換器の出力データに基づいて抵抗測定値をデジタル表示
するデジタル表示部と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力データ
に基づいて抵抗測定値を対数表示するバーグラフ表示部
と、前記バーグラフ表示部を前記Ａ／Ｄ変換器の各変換
周期毎に駆動し、前記デジタル表示部を前記Ａ／Ｄ変換
器の所定の複数変換周期毎の積算値に基づいて駆動する
駆動部を含む演算制御部とを具備したことを特徴とす
る。また、デジタル表示部の最上位桁の表示素子に１桁
上の小数点表示要素を設けたことを特徴とする。さら
に、演算制御部に、任意の抵抗測定値を基準値として取
込んでその後の抵抗測定値の大小を比較する抵抗値比較
部を設けたことを特徴とする。
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変
換器の出力データに基づいて抵抗測定値をデジタル表示
するデジタル表示部と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力データ
に基づいて抵抗測定値を対数表示するバーグラフ表示部
と、前記バーグラフ表示部を前記Ａ／Ｄ変換器の各変換
周期毎に駆動し、前記デジタル表示部を前記Ａ／Ｄ変換
器の所定の複数変換周期毎の積算値に基づいて駆動する
駆動部を含む演算制御部とを具備したことを特徴とす
る。また、デジタル表示部の最上位桁の表示素子に１桁
上の小数点表示要素を設けたことを特徴とする。さら
に、演算制御部に、任意の抵抗測定値を基準値として取
込んでその後の抵抗測定値の大小を比較する抵抗値比較
部を設けたことを特徴とする。
【０００８】
【作用】Ａ／Ｄ変換器は抵抗測定値を比較的高速にデジ
タル信号に変換し、バーグラフ表示部はＡ／Ｄ変換器の
各変換周期毎にその値をバーグラフ表示し、デジタル表
示部は所定の複数変換周期毎の積算値をデジタル表示す
る。これにより、バーグラフ表示部は抵抗測定値の大き
さを従来の指針形と同様の感覚で表示することから抵抗
測定値の大きさを直観的に把握でき、デジタル表示部は
必要に応じて最上位桁より１桁上の小数点表示要素も駆
動しながら抵抗測定値の大きさを高い精度でデジタル表
示する。
タル信号に変換し、バーグラフ表示部はＡ／Ｄ変換器の
各変換周期毎にその値をバーグラフ表示し、デジタル表
示部は所定の複数変換周期毎の積算値をデジタル表示す
る。これにより、バーグラフ表示部は抵抗測定値の大き
さを従来の指針形と同様の感覚で表示することから抵抗
測定値の大きさを直観的に把握でき、デジタル表示部は
必要に応じて最上位桁より１桁上の小数点表示要素も駆
動しながら抵抗測定値の大きさを高い精度でデジタル表
示する。
【０００９】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示す回路図である。直流
電源１はトランス２の１次巻線３の一端に接続され、１
次巻線３の他端はトランジスタ４を介して共通電位点に
接続されている。トランジスタ４のベースには発振器５
が接続されている。トランス２の２次巻線６には倍電圧
整流回路７が接続されている。倍電圧整流回路７の出力
の一部は抵抗８，９の直列回路よりなる分圧回路を介し
て発振器５に加えられ、一部は保護抵抗１０を介して被
測定抵抗ＲＸの一端が接続される端子Ｔ１（ＥＡＲＴ
Ｈ）に加えられる。保護抵抗１０の出力の一部は抵抗１
１，１２の直列回路よりなる分圧回路を介して二重積分
形のＡ／Ｄ変換器１３のＶＸ端子に加えられている。被
測定抵抗ＲＸの他端が接続される端子Ｔ２（ＬＩＮＥ）
はＩ／Ｖ変換器１４および反転増幅器１５の直列回路を
介してＡ／Ｄ変換器１３にＶｒｅｆ端子に接続されてい
る。Ａ／Ｄ変換器１３はバスを介してマイクロプロセッ
サ１６に接続されている。このマイクロプロセッサ１６
にはＬＣＤよりなる表示部１７、抵抗測定値を比較する
コンパレータモードを設定するスイッチ１８、比較結果
に応じて駆動されるブザー１９、外部との間で信号の授
受を行うアイソレータ２０などが接続されている。な
お、マイクロプロセッサ１６にはＬＣＤのドライバが内
蔵されている。
る。図１は本発明の一実施例を示す回路図である。直流
電源１はトランス２の１次巻線３の一端に接続され、１
次巻線３の他端はトランジスタ４を介して共通電位点に
接続されている。トランジスタ４のベースには発振器５
が接続されている。トランス２の２次巻線６には倍電圧
整流回路７が接続されている。倍電圧整流回路７の出力
の一部は抵抗８，９の直列回路よりなる分圧回路を介し
て発振器５に加えられ、一部は保護抵抗１０を介して被
測定抵抗ＲＸの一端が接続される端子Ｔ１（ＥＡＲＴ
Ｈ）に加えられる。保護抵抗１０の出力の一部は抵抗１
１，１２の直列回路よりなる分圧回路を介して二重積分
形のＡ／Ｄ変換器１３のＶＸ端子に加えられている。被
測定抵抗ＲＸの他端が接続される端子Ｔ２（ＬＩＮＥ）
はＩ／Ｖ変換器１４および反転増幅器１５の直列回路を
介してＡ／Ｄ変換器１３にＶｒｅｆ端子に接続されてい
る。Ａ／Ｄ変換器１３はバスを介してマイクロプロセッ
サ１６に接続されている。このマイクロプロセッサ１６
にはＬＣＤよりなる表示部１７、抵抗測定値を比較する
コンパレータモードを設定するスイッチ１８、比較結果
に応じて駆動されるブザー１９、外部との間で信号の授
受を行うアイソレータ２０などが接続されている。な
お、マイクロプロセッサ１６にはＬＣＤのドライバが内
蔵されている。
【００１０】図２はこのような装置の外観図である。２
１はファンクション切換スイッチであり、発生電圧１０
００Ｖ／５００Ｖ／２５０Ｖの切り換え、交流電圧測
定、電源オフ、導通チェックの切り換えを行う。２２は
ＭΩ（絶縁抵抗）測定スイッチであり、このスイッチ２
２をオンにすることにより、ファンクション切換スイッ
チ２１で設定された直流電圧を発生して絶縁抵抗の測定
を行う。なお、このスイッチ２２は、端部を引上げて回
転させることにより平面に対して垂直な位置関係に固定
できるように構成されていて、その状態に設定すること
により連続測定が行える。２３はデータホールドスイッ
チである。このスイッチ２３をオンにすることにより表
示部１７の表示値が固定され、もう一度オンにすること
により表示値の固定状態は解除される。２４は表示部１
７の内部照明をオン，オフするスイッチである。なお、
内部照明は、点灯操作後、一定時間（例えば１０分）が
経過すると自動的にオフになるように構成されている。
コンパレータモードスイッチ１８は、スイッチ２１がＭ
Ω測定モードに設定され、スイッチ２２をオンに設定し
ている状態でのみ有効になる。このスイッチ１８をオン
にするごとに、コンパレータモードは、０．１ＭΩ→
０．２ＭΩ→０．４ＭΩ→ＸＭΩ→解除の各モードを循
環する。各モードの途中で一定時間（例えば１秒）オン
状態を続けることによりコンパレータモードを抜けるこ
とができるように構成されている。任意の基準抵抗値Ｘ
ＭΩは、０．４ＭΩ→ＸＭΩに切り替わった時点での表
示値を記憶し、この値は電源オフによりクリアされる。
コンパレータモードでは、抵抗測定値が設定値よりも小
さい場合に表示部１７に「ＬＯＷ」を表示するとともに
ブザー１９を鳴らす。２５は高電圧表示アラームであ
り、例えば発光ダイオードを用いる。この発光ダイオー
ド２５が点灯している間は、測定端子Ｔ１，Ｔ２間に電
圧が出力されていることを表わす。
１はファンクション切換スイッチであり、発生電圧１０
００Ｖ／５００Ｖ／２５０Ｖの切り換え、交流電圧測
定、電源オフ、導通チェックの切り換えを行う。２２は
ＭΩ（絶縁抵抗）測定スイッチであり、このスイッチ２
２をオンにすることにより、ファンクション切換スイッ
チ２１で設定された直流電圧を発生して絶縁抵抗の測定
を行う。なお、このスイッチ２２は、端部を引上げて回
転させることにより平面に対して垂直な位置関係に固定
できるように構成されていて、その状態に設定すること
により連続測定が行える。２３はデータホールドスイッ
チである。このスイッチ２３をオンにすることにより表
示部１７の表示値が固定され、もう一度オンにすること
により表示値の固定状態は解除される。２４は表示部１
７の内部照明をオン，オフするスイッチである。なお、
内部照明は、点灯操作後、一定時間（例えば１０分）が
経過すると自動的にオフになるように構成されている。
コンパレータモードスイッチ１８は、スイッチ２１がＭ
Ω測定モードに設定され、スイッチ２２をオンに設定し
ている状態でのみ有効になる。このスイッチ１８をオン
にするごとに、コンパレータモードは、０．１ＭΩ→
０．２ＭΩ→０．４ＭΩ→ＸＭΩ→解除の各モードを循
環する。各モードの途中で一定時間（例えば１秒）オン
状態を続けることによりコンパレータモードを抜けるこ
とができるように構成されている。任意の基準抵抗値Ｘ
ＭΩは、０．４ＭΩ→ＸＭΩに切り替わった時点での表
示値を記憶し、この値は電源オフによりクリアされる。
コンパレータモードでは、抵抗測定値が設定値よりも小
さい場合に表示部１７に「ＬＯＷ」を表示するとともに
ブザー１９を鳴らす。２５は高電圧表示アラームであ
り、例えば発光ダイオードを用いる。この発光ダイオー
ド２５が点灯している間は、測定端子Ｔ１，Ｔ２間に電
圧が出力されていることを表わす。
【００１１】このような構成において、トランス２，ト
ランジスタ４，発振器５，倍電圧整流回路７および抵抗
８，９の直列回路よりなる分圧回路は、直流電源１の出
力電圧を昇圧整流するＤＣ−ＤＣコンバータを構成して
いる。このＤＣ−ＤＣコンバータの出力電圧は抵抗８，
９の直列回路で分圧されて発振器５に帰還され、所望の
出力電圧になるようにトランジスタ４によりパルス幅制
御する。被測定抵抗ＲＸの一端の電圧は抵抗１１，１２
の直列回路で分圧されて二重積分形のＡ／Ｄ変換器１３
にＶＸとして加えらる。被測定抵抗ＲＸを流れる電流Ｉ
ＸはＩ／Ｖ変換器１４で電圧Ｖに変換された後、反転増
幅器１５で正電位に変換されてＡ／Ｄ変換器１３にＶ
ｒｅｆとして加えられる。Ａ／Ｄ変換器１３としては、
例えば４０００カウントのものを用いる。ここで、被測
定抵抗ＲＸは、ＲＸ＝ＶＸ／ＩＸ＝（ＶＸ／Ｖｒｅｆ）
Ｃ０ＮＳＴで求められる。Ａ／Ｄ変換器１３は、被測定
抵抗ＲＸの抵抗測定値に比例したカウントデータをマイ
クロプロセッサ１６に出力する。マイクロプロセッサ１
６は、表示部１７の形態に応じて、表示部１７を駆動す
るための演算処理を行う。
ランジスタ４，発振器５，倍電圧整流回路７および抵抗
８，９の直列回路よりなる分圧回路は、直流電源１の出
力電圧を昇圧整流するＤＣ−ＤＣコンバータを構成して
いる。このＤＣ−ＤＣコンバータの出力電圧は抵抗８，
９の直列回路で分圧されて発振器５に帰還され、所望の
出力電圧になるようにトランジスタ４によりパルス幅制
御する。被測定抵抗ＲＸの一端の電圧は抵抗１１，１２
の直列回路で分圧されて二重積分形のＡ／Ｄ変換器１３
にＶＸとして加えらる。被測定抵抗ＲＸを流れる電流Ｉ
ＸはＩ／Ｖ変換器１４で電圧Ｖに変換された後、反転増
幅器１５で正電位に変換されてＡ／Ｄ変換器１３にＶ
ｒｅｆとして加えられる。Ａ／Ｄ変換器１３としては、
例えば４０００カウントのものを用いる。ここで、被測
定抵抗ＲＸは、ＲＸ＝ＶＸ／ＩＸ＝（ＶＸ／Ｖｒｅｆ）
Ｃ０ＮＳＴで求められる。Ａ／Ｄ変換器１３は、被測定
抵抗ＲＸの抵抗測定値に比例したカウントデータをマイ
クロプロセッサ１６に出力する。マイクロプロセッサ１
６は、表示部１７の形態に応じて、表示部１７を駆動す
るための演算処理を行う。
【００１２】図３は表示部１７の具体例図である。デジ
タル表示部としては、４桁のセグメント表示パターンＤ
１〜Ｄ４と、各桁の１桁上の桁に対する４個の小数点表
示パターンＤＰ１〜ＤＰ４が設けられたものを用いる。
この場合、Ａ／Ｄ変換器１３として４０００カウント出
力のものを用いるとすると、「．４０００」から「．０
０００」までを表示でき、単位を変えることなく分解能
を１桁上げた表示が可能になる。例えば、抵抗測定値が
０．０２ＭΩの場合、従来の表示値は「０．０２０」で
あったが、本発明では「．０２００」になって０．５％
の分解能が得られる。また、このデジタル表示部は、測
定結果が表示可能値を越えた場合には「ＯＬ］を表示す
るように構成されている。
タル表示部としては、４桁のセグメント表示パターンＤ
１〜Ｄ４と、各桁の１桁上の桁に対する４個の小数点表
示パターンＤＰ１〜ＤＰ４が設けられたものを用いる。
この場合、Ａ／Ｄ変換器１３として４０００カウント出
力のものを用いるとすると、「．４０００」から「．０
０００」までを表示でき、単位を変えることなく分解能
を１桁上げた表示が可能になる。例えば、抵抗測定値が
０．０２ＭΩの場合、従来の表示値は「０．０２０」で
あったが、本発明では「．０２００」になって０．５％
の分解能が得られる。また、このデジタル表示部は、測
定結果が表示可能値を越えた場合には「ＯＬ］を表示す
るように構成されている。
【００１３】セグメント表示パターンＤ１の右側にはア
ラーム状態，測定モードに応じた単位などを選択的に点
灯表示するファンクションパターンＦＰが設けられてい
る。小数点表示パターンＤＰ４の左側には比較モードの
ときに基準抵抗値の大きさを選択的に点灯表示するコン
パレータモード表示パターンＣＰが設けられている。こ
こで、０．１ＭΩ，０．２ＭΩ，０．４ＭΩは固定デー
タを示し、ＸＭΩは任意の抵抗値を示している。
ラーム状態，測定モードに応じた単位などを選択的に点
灯表示するファンクションパターンＦＰが設けられてい
る。小数点表示パターンＤＰ４の左側には比較モードの
ときに基準抵抗値の大きさを選択的に点灯表示するコン
パレータモード表示パターンＣＰが設けられている。こ
こで、０．１ＭΩ，０．２ＭΩ，０．４ＭΩは固定デー
タを示し、ＸＭΩは任意の抵抗値を示している。
【００１４】バーグラフ表示部としては、０〜２０００
ＭΩのＡレンジと０〜２００ＭΩのＢレンジを３桁にわ
たって対数表示できるように４２個の表示パターンＢＧ
１〜ＢＧ４２が列状に設けられたものを用いる。表示パ
ターンＢＧ１の右側には短絡表示パターンＳＰが設けら
れ、表示パターンＢＧ４２の左側には無限大を表示する
無限大表示パターンＩＰが設けられている。短絡表示パ
ターンＳＰは抵抗測定値がほぼ０．１（．０１）ＭΩ未
満になると点灯され、無限大表示パターンＩＰ抵抗測定
値がほぼ４０００（４００）ＭΩを越えると点灯され
る。
ＭΩのＡレンジと０〜２００ＭΩのＢレンジを３桁にわ
たって対数表示できるように４２個の表示パターンＢＧ
１〜ＢＧ４２が列状に設けられたものを用いる。表示パ
ターンＢＧ１の右側には短絡表示パターンＳＰが設けら
れ、表示パターンＢＧ４２の左側には無限大を表示する
無限大表示パターンＩＰが設けられている。短絡表示パ
ターンＳＰは抵抗測定値がほぼ０．１（．０１）ＭΩ未
満になると点灯され、無限大表示パターンＩＰ抵抗測定
値がほぼ４０００（４００）ＭΩを越えると点灯され
る。
【００１５】デジタル表示部とバーグラフ表示部の間に
は、発光ダイオード２５に連動して点灯表示される高電
圧表示パターンＨＰが設けられている。バーグラフ表示
部の上部には表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２の配列方向
に沿つて対数目盛表示パターンＬＰが設けられている。
この対数目盛表示パターンＬＰの数字表示は、レンジの
切換に連動して桁が切り換えられる。対数目盛表示パタ
ーンＬＰの上部には、抵抗測定値の表示値がコンパレー
タの基準抵抗設定値よりも小さい場合に点灯される「Ｌ
ＯＷ」表示パターンＰ１、低消費電力モードを予告し低
消費電力モードになったとき点滅する「ＳＬＥＥＰ」表
示パターンＰ２、表示値がホールドされている場合に点
灯される「ＤＡＴＡ・Ｈ」表示パターンＰ３、レンジホ
ールド状態のときに点灯される「Ｒ・Ｈ」表示パターン
Ｐ４、外部トリガがかかっている場合に点灯される「Ｅ
ＸＴ・Ｔ」表示パターンＰ５、点灯により電池交換を促
す表示パターンＰ６が列状に設けられている。
は、発光ダイオード２５に連動して点灯表示される高電
圧表示パターンＨＰが設けられている。バーグラフ表示
部の上部には表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２の配列方向
に沿つて対数目盛表示パターンＬＰが設けられている。
この対数目盛表示パターンＬＰの数字表示は、レンジの
切換に連動して桁が切り換えられる。対数目盛表示パタ
ーンＬＰの上部には、抵抗測定値の表示値がコンパレー
タの基準抵抗設定値よりも小さい場合に点灯される「Ｌ
ＯＷ」表示パターンＰ１、低消費電力モードを予告し低
消費電力モードになったとき点滅する「ＳＬＥＥＰ」表
示パターンＰ２、表示値がホールドされている場合に点
灯される「ＤＡＴＡ・Ｈ」表示パターンＰ３、レンジホ
ールド状態のときに点灯される「Ｒ・Ｈ」表示パターン
Ｐ４、外部トリガがかかっている場合に点灯される「Ｅ
ＸＴ・Ｔ」表示パターンＰ５、点灯により電池交換を促
す表示パターンＰ６が列状に設けられている。
【００１６】図４はバーグラフ表示部の各レンジに対す
る割付け説明図である。マイクロプロセッサ１６にはバ
ーグラフ表示部を構成する４２個の表示パターンＢＧ１
〜ＢＧ４２のそれぞれに割当てられているバーグラフ表
示位置の重み付けデータがテーブルデータとして格納さ
れている。
る割付け説明図である。マイクロプロセッサ１６にはバ
ーグラフ表示部を構成する４２個の表示パターンＢＧ１
〜ＢＧ４２のそれぞれに割当てられているバーグラフ表
示位置の重み付けデータがテーブルデータとして格納さ
れている。
【００１７】図５はＡ／Ｄ変換器１３の動作シーケンス
説明図である。Ａ／Ｄ変換器１３はマイクロプロセッサ
１６との間でデータの授受を行いながら、「オートゼ
ロ」→「Ａ／Ｄモード通信」→「高速Ａ／Ｄ（１０回積
算）」→「高精度Ａ／Ｄ」のループ動作を実行する。オ
ートゼロではゼロ校正を行う。Ａ／Ｄモード通信では変
換レンジデータなどの通信を行う。高速Ａ／Ｄではバー
グラフ表示のための表示データを出力する。この高速Ａ
／Ｄの段階で、カウントデータが４００を越えてオーバ
ーロードになるとパスしてオートゼロに戻り、変換レン
ジを１桁上げる変換レンジデータを生成して続くＡ／Ｄ
モード通信でマイクロプロセッサ１６に伝送する。そし
て、変換データが確定するまで変換レンジデータの生成
とＡ／Ｄ変換を繰返し実行し、確定した変換データを変
換レンジデータとともにバーグラフ表示のための表示デ
ータとして出力する。高速Ａ／Ｄの確定データは９回の
サンプルデータが連続して出力される。一方、高精度Ａ
／Ｄでは高速Ａ／Ｄで確定した変換データを１０回分積
算したデジタル表示のための表示データを出力する。こ
れら表示サンプルレートは、デジタル表示については例
えば毎秒約２回（約４４０ｍｓ）になり、バーグラフ表
示については毎秒約２０回（約４０ｍｓ）になる。
説明図である。Ａ／Ｄ変換器１３はマイクロプロセッサ
１６との間でデータの授受を行いながら、「オートゼ
ロ」→「Ａ／Ｄモード通信」→「高速Ａ／Ｄ（１０回積
算）」→「高精度Ａ／Ｄ」のループ動作を実行する。オ
ートゼロではゼロ校正を行う。Ａ／Ｄモード通信では変
換レンジデータなどの通信を行う。高速Ａ／Ｄではバー
グラフ表示のための表示データを出力する。この高速Ａ
／Ｄの段階で、カウントデータが４００を越えてオーバ
ーロードになるとパスしてオートゼロに戻り、変換レン
ジを１桁上げる変換レンジデータを生成して続くＡ／Ｄ
モード通信でマイクロプロセッサ１６に伝送する。そし
て、変換データが確定するまで変換レンジデータの生成
とＡ／Ｄ変換を繰返し実行し、確定した変換データを変
換レンジデータとともにバーグラフ表示のための表示デ
ータとして出力する。高速Ａ／Ｄの確定データは９回の
サンプルデータが連続して出力される。一方、高精度Ａ
／Ｄでは高速Ａ／Ｄで確定した変換データを１０回分積
算したデジタル表示のための表示データを出力する。こ
れら表示サンプルレートは、デジタル表示については例
えば毎秒約２回（約４４０ｍｓ）になり、バーグラフ表
示については毎秒約２０回（約４０ｍｓ）になる。
【００１８】ところで、バーグラフ表示部は前述のよう
に４２個の表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２で構成されて
いることから、高速Ａ／Ｄは４００カウントのデータか
ら上位の４０カウントを出力する。これを１６進数で表
わすと０〜２８ｈになる。マイクロプロセッサ１６はＡ
／Ｄ変換器１３から加えられる最大２８ｈの変換データ
に表示範囲を識別する桁情報として表示範囲が１桁上が
る毎に３０ｈを加算してバーグラフ表示のための表示デ
＝タを作成する。例えば、Ａ／Ｄ変換器１３から加えら
れる変換データを０５ｈとすると、図４のＡレンジの場
合には、４ＭΩの範囲における表示データは０５ｈにな
ってバーグラフ表示部は０．５ＭΩを表示し、４０ＭΩ
の範囲における表示データは３５ｈになってバーグラフ
表示部は５ＭΩを表示し、４００ＭΩの範囲における表
示データは６５ｈになってバーグラフ表示部は５０ＭΩ
を表示し、４０００ＭΩの範囲における表示データは９
５ｈになってバーグラフ表示部は５００ＭΩを表示する
ことになる。このようなバーグラフ表示用のデータは、
マイクロプロセッサ１６に格納されている前述のバーグ
ラフ表示部の４２個の表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２の
テーブルデータとの比較のために作成される。
に４２個の表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２で構成されて
いることから、高速Ａ／Ｄは４００カウントのデータか
ら上位の４０カウントを出力する。これを１６進数で表
わすと０〜２８ｈになる。マイクロプロセッサ１６はＡ
／Ｄ変換器１３から加えられる最大２８ｈの変換データ
に表示範囲を識別する桁情報として表示範囲が１桁上が
る毎に３０ｈを加算してバーグラフ表示のための表示デ
＝タを作成する。例えば、Ａ／Ｄ変換器１３から加えら
れる変換データを０５ｈとすると、図４のＡレンジの場
合には、４ＭΩの範囲における表示データは０５ｈにな
ってバーグラフ表示部は０．５ＭΩを表示し、４０ＭΩ
の範囲における表示データは３５ｈになってバーグラフ
表示部は５ＭΩを表示し、４００ＭΩの範囲における表
示データは６５ｈになってバーグラフ表示部は５０ＭΩ
を表示し、４０００ＭΩの範囲における表示データは９
５ｈになってバーグラフ表示部は５００ＭΩを表示する
ことになる。このようなバーグラフ表示用のデータは、
マイクロプロセッサ１６に格納されている前述のバーグ
ラフ表示部の４２個の表示パターンＢＧ１〜ＢＧ４２の
テーブルデータとの比較のために作成される。
【００１９】図６は図４のＡレンジにおけるバーグラフ
表示処理の動作の流れを説明するフローチャートであ
る。マイクロプロセッサ１６は前述の高速Ａ／Ｄの１６
進数２桁の変換データを変換レンジデータとともに取込
み、変換レンジデータからその変換データが４ＭΩレン
ジに含まれるものか否かを判断する（ステップ１）。４
ＭΩレンジに含まれる変換データの場合にはステップ７
のテーブルデータ読込みにジャンプする。４ＭΩレンジ
に含まれない変換データの場合には変換データに３０ｈ
の桁情報を加算する（ステップ２）。続いて、変換レン
ジデータからその変換データが４０ＭΩレンジに含まれ
るものか否かを判断する（ステップ３）。４０ＭΩレン
ジに含まれる変換データの場合にはステップ７にジャン
プする。４０ＭΩレンジに含まれない変換データの場合
には変換データにさらに３０ｈの桁情報を加算する（ス
テップ４）。次に、変換レンジデータからその変換デー
タが４００ＭΩレンジに含まれるものか否かを判断する
（ステップ５）。４００ＭΩレンジに含まれる変換デー
タの場合にはステップ７にジャンプし、４００ＭΩレン
ジに含まれない変換データの場合には変換データにさら
に３０ｈの桁情報を加算した後（ステップ６）、ステッ
プ７に移行する。ステップ７でテーブルデータを読込ん
だ後、テーブルデータの各表示素子ＢＧ１〜ＢＧ４２毎
に割当てられている前述図４のバーデータに相当する比
較値と必要に応じて所定の桁情報が加算された変換デー
タよりなるバーグラフ表示データの比較を行う（ステッ
プ８）。そして、比較結果がネガティブか否かを判断す
る（ステップ９）。比較結果がネガティブの場合にはそ
の表示素子を点灯し（ステップ１０）、比較結果がネガ
ティブでない場合にはその表示素子を消灯する（ステッ
プ１１）。このような比較処理を各表示データ毎にすべ
ての表示素子ＢＧ１〜ＢＧ４２について実行する（ステ
ップ１２）。
表示処理の動作の流れを説明するフローチャートであ
る。マイクロプロセッサ１６は前述の高速Ａ／Ｄの１６
進数２桁の変換データを変換レンジデータとともに取込
み、変換レンジデータからその変換データが４ＭΩレン
ジに含まれるものか否かを判断する（ステップ１）。４
ＭΩレンジに含まれる変換データの場合にはステップ７
のテーブルデータ読込みにジャンプする。４ＭΩレンジ
に含まれない変換データの場合には変換データに３０ｈ
の桁情報を加算する（ステップ２）。続いて、変換レン
ジデータからその変換データが４０ＭΩレンジに含まれ
るものか否かを判断する（ステップ３）。４０ＭΩレン
ジに含まれる変換データの場合にはステップ７にジャン
プする。４０ＭΩレンジに含まれない変換データの場合
には変換データにさらに３０ｈの桁情報を加算する（ス
テップ４）。次に、変換レンジデータからその変換デー
タが４００ＭΩレンジに含まれるものか否かを判断する
（ステップ５）。４００ＭΩレンジに含まれる変換デー
タの場合にはステップ７にジャンプし、４００ＭΩレン
ジに含まれない変換データの場合には変換データにさら
に３０ｈの桁情報を加算した後（ステップ６）、ステッ
プ７に移行する。ステップ７でテーブルデータを読込ん
だ後、テーブルデータの各表示素子ＢＧ１〜ＢＧ４２毎
に割当てられている前述図４のバーデータに相当する比
較値と必要に応じて所定の桁情報が加算された変換デー
タよりなるバーグラフ表示データの比較を行う（ステッ
プ８）。そして、比較結果がネガティブか否かを判断す
る（ステップ９）。比較結果がネガティブの場合にはそ
の表示素子を点灯し（ステップ１０）、比較結果がネガ
ティブでない場合にはその表示素子を消灯する（ステッ
プ１１）。このような比較処理を各表示データ毎にすべ
ての表示素子ＢＧ１〜ＢＧ４２について実行する（ステ
ップ１２）。
【００２０】このように構成することにより、バーグラ
フ表示部の表示素子は、左側の無限大位置を起点として
右側の零位置に向かって点灯表示されることになり、従
来の指針指示と同様なアナログ表示が得られる。なお、
バーグラフの点灯表示形態は反転表示も可能である。
フ表示部の表示素子は、左側の無限大位置を起点として
右側の零位置に向かって点灯表示されることになり、従
来の指針指示と同様なアナログ表示が得られる。なお、
バーグラフの点灯表示形態は反転表示も可能である。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
抵抗測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表
示形と同様に直観的に抵抗測定値の大きさを把握でき、
抵抗測定値のデジタル表示の分解能を高めることがで
き、抵抗測定値の比較測定のための基準値の設定が簡単
に行えるデジタル絶縁抵抗計を実現することができる。
抵抗測定値の大きさに応じて指針を振らせるアナログ表
示形と同様に直観的に抵抗測定値の大きさを把握でき、
抵抗測定値のデジタル表示の分解能を高めることがで
き、抵抗測定値の比較測定のための基準値の設定が簡単
に行えるデジタル絶縁抵抗計を実現することができる。
【図１】本発明の一実施例を示す回路図である。
【図２】図１の装置の外観図である。
【図３】図２の表示部のパターン説明図である。
【図４】図３のバーグラフ表示部の各レンジに対する割
付け説明図である。
付け説明図である。
【図５】図１のＡ／Ｄ変換器１３の動作シーケンス説明
図である。
図である。
【図６】図４のＡレンジにおけるバーグラフ表示処理の
動作の流れを説明するフローチャートである。
動作の流れを説明するフローチャートである。
１３ 二重積分Ａ／Ｄ変換器 １６ マイクロプロセッサ（演算制御部） １７ 表示部 Ｄ１〜Ｄ４ セグメント表示パターン ＤＰ１〜ＤＰ４ 小数点表示パターン ＢＧ１〜ＢＧ４２ バーグラフ表示パターン
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−151566（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−154112（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−285820（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−229332（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−135322（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−35963（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−136719（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭55−62917（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭61−17（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 27/02 G01D 7/00 302 G01R 15/12 G01R 19/25
Claims (3)
- 【請求項１】 抵抗測定値をデジタル信号に変換するＡ
／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器の出力データに基づいて抵抗測定値を
デジタル表示するデジタル表示部と、 前記Ａ／Ｄ変換器の出力データに基づいて抵抗測定値を
対数表示するバーグラフ表示部と、 前記バーグラフ表示部を前記Ａ／Ｄ変換器の各変換周期
毎に駆動し、前記デジタル表示部を前記Ａ／Ｄ変換器の
所定の複数変換周期毎の積算値に基づいて駆動する駆動
部を含む演算制御部、とを具備したことを特徴とするデ
ジタル絶縁抵抗計。 - 【請求項２】 デジタル表示部の最上位桁の表示素子に
１桁上の小数点表示要素を設けたことを特徴とする請求
項１のデジタル絶縁抵抗計。 - 【請求項３】 演算制御部に、任意の抵抗測定値を基準
値として取込んでその後の抵抗測定値の大小を比較する
抵抗値比較部を設けたことを特徴とする請求項１のデジ
タル絶縁抵抗計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11962791A JP2929760B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | デジタル絶縁抵抗計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11962791A JP2929760B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | デジタル絶縁抵抗計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04274768A JPH04274768A (ja) | 1992-09-30 |
| JP2929760B2 true JP2929760B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=14766128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11962791A Expired - Fee Related JP2929760B2 (ja) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | デジタル絶縁抵抗計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2929760B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156651A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6078182A (en) * | 1998-04-21 | 2000-06-20 | Illinois Tool Works Inc | Resistance measuring meter with voltage multiplier |
| JP2008014648A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2009068883A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-02 | Kaise Corp | クランプテスタ |
| JP2012225866A (ja) * | 2011-04-22 | 2012-11-15 | Kyoritsu Electrical Instruments Works Ltd | 指針型絶縁抵抗計 |
| JP5897395B2 (ja) * | 2012-04-26 | 2016-03-30 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
| JP2013242251A (ja) * | 2012-05-22 | 2013-12-05 | Hioki Ee Corp | 導通検査装置及び導通検査方法 |
-
1991
- 1991-02-28 JP JP11962791A patent/JP2929760B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010156651A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04274768A (ja) | 1992-09-30 |
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Legal Events
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