JP2892878B2 - ビームの位置および傾きの測定方法 - Google Patents
ビームの位置および傾きの測定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、四極電磁石を用いて
ビームを所定の形状にしてビーム軸線上に輸送するビー
ム輸送系における、ビームの位置および傾きの測定方法
に関するものである。
ビームを所定の形状にしてビーム軸線上に輸送するビー
ム輸送系における、ビームの位置および傾きの測定方法
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は、例えば高エネルギー加速器セミ
ナー「ＯＨＯ’８６（高エネルギー物理学研究所）」で
１９８６年に発表された従来のビーム軌道調整方法を示
すビーム輸送系の概略図であり、前段ライナックと主ラ
イナックとを結ぶビーム輸送系の一部を描いたものであ
る。図において、３は真空ダクト、４，１２はビーム軌
道調整用のステアリング電磁石、９，１３はビーム位置
モニター、１０は理想的なビーム通過軸であるビーム軸
線であり、実際には真空ダクト３に沿ってビーム径調整
用の四極電磁石や偏向電磁石が設置されている。
ナー「ＯＨＯ’８６（高エネルギー物理学研究所）」で
１９８６年に発表された従来のビーム軌道調整方法を示
すビーム輸送系の概略図であり、前段ライナックと主ラ
イナックとを結ぶビーム輸送系の一部を描いたものであ
る。図において、３は真空ダクト、４，１２はビーム軌
道調整用のステアリング電磁石、９，１３はビーム位置
モニター、１０は理想的なビーム通過軸であるビーム軸
線であり、実際には真空ダクト３に沿ってビーム径調整
用の四極電磁石や偏向電磁石が設置されている。
【０００３】次に、動作について説明する。ビーム形状
はビーム進行方向に対して垂直な面内（Ｘ−Ｙ平面）で
決められており、四極電磁石は、その中心では磁場はゼ
ロでＸまたはＹに比例して磁場は強くなる。つまり、光
学系でいう凸レンズ、凹レンズに相当する。従って、ビ
ーム中心がビーム軸上を通過しない場合には、四極電磁
石においてはビームは本来の収束作用を受けるだけでは
なくビーム軌道を曲げることになる。
はビーム進行方向に対して垂直な面内（Ｘ−Ｙ平面）で
決められており、四極電磁石は、その中心では磁場はゼ
ロでＸまたはＹに比例して磁場は強くなる。つまり、光
学系でいう凸レンズ、凹レンズに相当する。従って、ビ
ーム中心がビーム軸上を通過しない場合には、四極電磁
石においてはビームは本来の収束作用を受けるだけでは
なくビーム軌道を曲げることになる。
【０００４】前段ライナックから出射されるビームは一
般にビーム軸１０からずれており、、かつビーム軸１０
に対して傾きを持つ。従って、そのままビームを輸送し
ようとすると、四極電磁石で余計な偏向を受けるために
ビーム輸送が困難になったり、主ライナックへの入射効
率が悪くなったり、最悪の場合には真空ダクト３に衝突
して失われる。そのために、ビーム中心がビーム軸線１
０上を通過するように軌道調整が行われる。
般にビーム軸１０からずれており、、かつビーム軸１０
に対して傾きを持つ。従って、そのままビームを輸送し
ようとすると、四極電磁石で余計な偏向を受けるために
ビーム輸送が困難になったり、主ライナックへの入射効
率が悪くなったり、最悪の場合には真空ダクト３に衝突
して失われる。そのために、ビーム中心がビーム軸線１
０上を通過するように軌道調整が行われる。
【０００５】軌道調整は、第１および第２のステアリン
グ電磁石４，１２と第１および第２のビーム位置モニタ
ー９，１３で行う。第１および第２のステアリング電磁
石４、１２は二極磁場を発生させる電磁石で、一般には
ＸとＹとの両方向にビームを曲げるようになっている。
ステアリング電磁石４，１２が二台必要な理由は、軌道
調整がビーム中心の位置だけではなくビーム軸線１０に
対する傾きをも調整しなければならないためである。つ
まり、第１のステアリング電磁石４を用いてビーム中心
が第２のステアリング電磁石１２においてビーム軸線１
０を通過するようにビームを曲げ、第２のステアリング
電磁石１２でビーム中心の傾きがビーム軸線１０と平行
になるように曲げれば、中心ビームはその後はビーム軸
線１０に沿って通過するようになる。
グ電磁石４，１２と第１および第２のビーム位置モニタ
ー９，１３で行う。第１および第２のステアリング電磁
石４、１２は二極磁場を発生させる電磁石で、一般には
ＸとＹとの両方向にビームを曲げるようになっている。
ステアリング電磁石４，１２が二台必要な理由は、軌道
調整がビーム中心の位置だけではなくビーム軸線１０に
対する傾きをも調整しなければならないためである。つ
まり、第１のステアリング電磁石４を用いてビーム中心
が第２のステアリング電磁石１２においてビーム軸線１
０を通過するようにビームを曲げ、第２のステアリング
電磁石１２でビーム中心の傾きがビーム軸線１０と平行
になるように曲げれば、中心ビームはその後はビーム軸
線１０に沿って通過するようになる。
【０００６】上記操作をするために、ビーム位置モニタ
ーを二台必要とする。つまり、第２のステアリング電磁
石１２の位置でビームがビーム軸線１０上を通過するよ
うに第１のステアリング電磁石４を調整するために第１
のビーム位置モニター９を必要とし、また第２のステア
リング電磁石１２によってビームの傾きをゼロに調整す
るために、第２のステアリング電磁石１２の後方にもビ
ーム位置モニター１３を必要とするからである。
ーを二台必要とする。つまり、第２のステアリング電磁
石１２の位置でビームがビーム軸線１０上を通過するよ
うに第１のステアリング電磁石４を調整するために第１
のビーム位置モニター９を必要とし、また第２のステア
リング電磁石１２によってビームの傾きをゼロに調整す
るために、第２のステアリング電磁石１２の後方にもビ
ーム位置モニター１３を必要とするからである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来においては、ビー
ム軌道調整にあたり、ビームの位置および傾きの測定が
必要であり、そのために最低二台のビーム位置モニター
を必要とし、コストが高くなるという課題があった。
ム軌道調整にあたり、ビームの位置および傾きの測定が
必要であり、そのために最低二台のビーム位置モニター
を必要とし、コストが高くなるという課題があった。
【０００８】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたもので、一台のビーム位置モニターと既
存の四極電磁石との併用でビームの位置および傾きを測
定することのできる、ビームの位置および傾きの測定方
法を得ることを目的とする。
ためになされたもので、一台のビーム位置モニターと既
存の四極電磁石との併用でビームの位置および傾きを測
定することのできる、ビームの位置および傾きの測定方
法を得ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
るビームの位置および傾きの測定方法は、四極電磁石の
励磁電流を変え、その変化に伴いビーム軸線から垂直方
向に変動するビームの位置変動量をビーム位置モニター
で測定し、その変動量から四極電磁石を通過するビーム
のビーム軸線からの位置および傾きを測定するととも
に、ビームのビーム軸線に沿った所定の位置におけるビ
ーム軸線からの位置および傾きを測定するものである。
るビームの位置および傾きの測定方法は、四極電磁石の
励磁電流を変え、その変化に伴いビーム軸線から垂直方
向に変動するビームの位置変動量をビーム位置モニター
で測定し、その変動量から四極電磁石を通過するビーム
のビーム軸線からの位置および傾きを測定するととも
に、ビームのビーム軸線に沿った所定の位置におけるビ
ーム軸線からの位置および傾きを測定するものである。
【００１０】この発明の請求項２に係るビームの位置お
よび傾きの測定方法は、まず第１の四極電磁石の励磁電
流を変え、その変化に伴いビーム軸線から垂直方向に変
動するビームの第１の位置変動量をビーム位置モニター
で測定し、次に第２の四極電磁石の励磁電流を変え、そ
の変化に伴いビーム軸線から垂直方向に変動するビーム
の第２の位置変動量をビーム位置モニターで測定し、第
１の位置変動量および第２の位置変動量から第１および
第２の四極電磁石を通過するビームのビーム軸線からの
位置および傾きを測定するとともに、ビームのビーム軸
線に沿った所定の位置におけるビーム軸線からの位置お
よび傾きを測定するものである。
よび傾きの測定方法は、まず第１の四極電磁石の励磁電
流を変え、その変化に伴いビーム軸線から垂直方向に変
動するビームの第１の位置変動量をビーム位置モニター
で測定し、次に第２の四極電磁石の励磁電流を変え、そ
の変化に伴いビーム軸線から垂直方向に変動するビーム
の第２の位置変動量をビーム位置モニターで測定し、第
１の位置変動量および第２の位置変動量から第１および
第２の四極電磁石を通過するビームのビーム軸線からの
位置および傾きを測定するとともに、ビームのビーム軸
線に沿った所定の位置におけるビーム軸線からの位置お
よび傾きを測定するものである。
【００１１】
【作用】この発明においては、四極電磁石の励磁電流を
変えてビーム位置モニターでのビームの位置変化量を測
定することにより、そのビームの四極電磁石での位置を
測定できるため、四極電磁石がビーム位置モニターの代
わりとなる。
変えてビーム位置モニターでのビームの位置変化量を測
定することにより、そのビームの四極電磁石での位置を
測定できるため、四極電磁石がビーム位置モニターの代
わりとなる。
【００１２】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１はこの発明の一実施例を示す概略平面図であ
り、図４と同一または相当部分は同一符号を付し、その
説明は省略する。図において、１はライナック、２はビ
ーム軌道調整用のステアリングコイル、５ないし８は四
極電磁石である。
する。図１はこの発明の一実施例を示す概略平面図であ
り、図４と同一または相当部分は同一符号を付し、その
説明は省略する。図において、１はライナック、２はビ
ーム軌道調整用のステアリングコイル、５ないし８は四
極電磁石である。
【００１３】図２はステアリングコイル２とステアリン
グ電磁石４とを用いて中心ビームがビーム軸線１０上を
通過するようにビーム軌道調整を行うときの原理図であ
る。図３は四極電磁石５の励磁によりビーム軌道１１が
どのように変化するかを示したもので、ビーム軌道１１
は四極電磁石５を通過した後二本に分かれており、上側
のビーム軌道１１は四極電磁石５が励磁していないとき
の軌道で、下側の軌道は四極電磁石５が励磁したときの
軌道であり、ビームが収束力を受ける極性になっている
ときのものである。
グ電磁石４とを用いて中心ビームがビーム軸線１０上を
通過するようにビーム軌道調整を行うときの原理図であ
る。図３は四極電磁石５の励磁によりビーム軌道１１が
どのように変化するかを示したもので、ビーム軌道１１
は四極電磁石５を通過した後二本に分かれており、上側
のビーム軌道１１は四極電磁石５が励磁していないとき
の軌道で、下側の軌道は四極電磁石５が励磁したときの
軌道であり、ビームが収束力を受ける極性になっている
ときのものである。
【００１４】次に、動作について説明する。ビームはラ
イナック１で加速されてシンクロトロンに入射される。
しかし、一般には、ライナック１からの出射ビームはシ
ンクロトロンの入口でシンクロトロンから要求される適
切なビーム形状にはなっていないため、そのままではシ
ンクロトロンへの入射効率が悪い。そのために、ライナ
ック１とシンクロトロンとの間に四極電磁石５，６，
７，８を設置して適切なビーム形状となるように調整す
る。
イナック１で加速されてシンクロトロンに入射される。
しかし、一般には、ライナック１からの出射ビームはシ
ンクロトロンの入口でシンクロトロンから要求される適
切なビーム形状にはなっていないため、そのままではシ
ンクロトロンへの入射効率が悪い。そのために、ライナ
ック１とシンクロトロンとの間に四極電磁石５，６，
７，８を設置して適切なビーム形状となるように調整す
る。
【００１５】ビーム形状はビーム進行方向に対して垂直
な面（Ｘ−Ｙ平面）で定められるが、４つの未知数を持
つために四極電磁石は最低四台必要である。この四極電
磁石５，６，７，８はその中心では磁場はゼロでＸ、Ｙ
に比例して磁場は強くなる。磁場の向きがＸ方向に収束
力を与えるような向きの場合、Ｙ方向では発散し、磁場
の向きがＹ方向に収束力を与えるような向きの場合、Ｘ
方向では発散する。つまり、光学系でいう凸レンズ、凹
レンズに相当し、Ｘ方向に凸レンズの場合にはＹ方向で
は凹レンズとなる。従って、四極電磁石５，６，７，８
の中心がビーム軸線１０からずれて設置されると、ビー
ムは本来の収束作用を受けるだけではなくビーム軌道を
曲げる作用も受ける。そのため、四極電磁石５，６，
７，８は例えば０．１ｍｍという非常に高い精度で設置
される。
な面（Ｘ−Ｙ平面）で定められるが、４つの未知数を持
つために四極電磁石は最低四台必要である。この四極電
磁石５，６，７，８はその中心では磁場はゼロでＸ、Ｙ
に比例して磁場は強くなる。磁場の向きがＸ方向に収束
力を与えるような向きの場合、Ｙ方向では発散し、磁場
の向きがＹ方向に収束力を与えるような向きの場合、Ｘ
方向では発散する。つまり、光学系でいう凸レンズ、凹
レンズに相当し、Ｘ方向に凸レンズの場合にはＹ方向で
は凹レンズとなる。従って、四極電磁石５，６，７，８
の中心がビーム軸線１０からずれて設置されると、ビー
ムは本来の収束作用を受けるだけではなくビーム軌道を
曲げる作用も受ける。そのため、四極電磁石５，６，
７，８は例えば０．１ｍｍという非常に高い精度で設置
される。
【００１６】ライナック１で加速されたビームの中心
は、その出口では一般にはビーム軸線１０からずれ、か
つ傾きを持つ。この状態ではシンクロトロンへの入射効
率が悪くなるために、ビームの軌道調整を行い、出射ビ
ーム中心をビーム軸線１０上に位置させる。ビームの位
置と傾きの両方を調整しなければならないために二極磁
場は二箇所に必要で、その磁場を作るのがステアリング
コイル２およびステアリング電磁石４である。ともに、
Ｘ方向，Ｙ方向に磁場を発生できる構造になっている。
ステアリング電磁石４は最初の四極電磁石５の前に設置
するのが効果的である。なぜならば、ステアリング電磁
石４の位置でビームの中心がビーム軸１０を通過するよ
うにステアリングコイル２を用いてビームを曲げ、ステ
アリング電磁石４を用いてビームの中心の傾きがゼロと
なるようにビームを曲げるため、その間に他の磁場が存
在すると調整が複雑になるからである（図２参照）。
は、その出口では一般にはビーム軸線１０からずれ、か
つ傾きを持つ。この状態ではシンクロトロンへの入射効
率が悪くなるために、ビームの軌道調整を行い、出射ビ
ーム中心をビーム軸線１０上に位置させる。ビームの位
置と傾きの両方を調整しなければならないために二極磁
場は二箇所に必要で、その磁場を作るのがステアリング
コイル２およびステアリング電磁石４である。ともに、
Ｘ方向，Ｙ方向に磁場を発生できる構造になっている。
ステアリング電磁石４は最初の四極電磁石５の前に設置
するのが効果的である。なぜならば、ステアリング電磁
石４の位置でビームの中心がビーム軸１０を通過するよ
うにステアリングコイル２を用いてビームを曲げ、ステ
アリング電磁石４を用いてビームの中心の傾きがゼロと
なるようにビームを曲げるため、その間に他の磁場が存
在すると調整が複雑になるからである（図２参照）。
【００１７】ビーム軌道調整をするためには、ライナッ
ク１出口におけるビーム中心の位置と傾きとを知らなけ
ればならない。そのためには、最低二箇所でビーム位置
を測定しなければならない。一箇所は精度よく設置した
ビーム位置モニター９で測定し、他の一箇所は四台の四
極電磁石５，６，７，８のどれか一箇所で行う。
ク１出口におけるビーム中心の位置と傾きとを知らなけ
ればならない。そのためには、最低二箇所でビーム位置
を測定しなければならない。一箇所は精度よく設置した
ビーム位置モニター９で測定し、他の一箇所は四台の四
極電磁石５，６，７，８のどれか一箇所で行う。
【００１８】次に、四極電磁石５を用いてライナック１
の出口におけるビームの位置と傾きとを測定する測定手
順を以下に説明する。まず、ステアリング電磁石４およ
び四極電磁石５，６，７，８を全て励磁しない状態でビ
ーム位置モニター９における中心ビーム位置を測定す
る。この測定値を（Ｘ９０，Ｙ９０）とする。次に、四
極電磁石５を任意の値に励磁し、同様の測定を行う。そ
のときの測定値を（Ｘ９１，Ｙ９１）とする（図３参
照）。四極電磁石５のＸ方向の磁場強度はＢx＝ＧＸ
（Ｇの単位 ガウス／ｍｍ、Ｘの単位ｍｍ），Ｙ方向の
磁場強度はＢY＝ＧＹで与えられ、励磁電流とＧとの関
係はあらかじめ測定されているため、ΔＸ＝Ｘ９１−Ｘ
９０，ΔＹ＝Ｙ９１−Ｙ９０を与える四極電磁石５にお
ける中心ビーム位置（Ｘ５，Ｙ５）を計算できる。そし
て、（Ｘ９０，Ｙ９０）と（Ｘ５，Ｙ５）とを結ぶ直線
からビームの傾きが計算できる。さらに、ライナック１
の出口と四極電磁石５との間の距離が分かっているた
め、（Ｘ５，Ｙ５）と計算した傾きとからライナック１
の出口でのビームの位置と傾きとを計算することができ
る。
の出口におけるビームの位置と傾きとを測定する測定手
順を以下に説明する。まず、ステアリング電磁石４およ
び四極電磁石５，６，７，８を全て励磁しない状態でビ
ーム位置モニター９における中心ビーム位置を測定す
る。この測定値を（Ｘ９０，Ｙ９０）とする。次に、四
極電磁石５を任意の値に励磁し、同様の測定を行う。そ
のときの測定値を（Ｘ９１，Ｙ９１）とする（図３参
照）。四極電磁石５のＸ方向の磁場強度はＢx＝ＧＸ
（Ｇの単位 ガウス／ｍｍ、Ｘの単位ｍｍ），Ｙ方向の
磁場強度はＢY＝ＧＹで与えられ、励磁電流とＧとの関
係はあらかじめ測定されているため、ΔＸ＝Ｘ９１−Ｘ
９０，ΔＹ＝Ｙ９１−Ｙ９０を与える四極電磁石５にお
ける中心ビーム位置（Ｘ５，Ｙ５）を計算できる。そし
て、（Ｘ９０，Ｙ９０）と（Ｘ５，Ｙ５）とを結ぶ直線
からビームの傾きが計算できる。さらに、ライナック１
の出口と四極電磁石５との間の距離が分かっているた
め、（Ｘ５，Ｙ５）と計算した傾きとからライナック１
の出口でのビームの位置と傾きとを計算することができ
る。
【００１９】ステアリングコイル２とステアリング電磁
石４との励磁電流に対する曲げ角はあらかじめ測定する
か、ビーム位置モニター９を用いて測定できるため、上
記測定結果からビームがステアリング電磁石４において
ビーム軸線１０を横断するステアリングコイル２の励磁
電流を計算、設定し、またステアリング電磁石４でビー
ムの傾きをビーム軸線と一致させるようにステアリング
電磁石４の励磁電流を計算、設定し、ビームの軌道調整
は終了する。
石４との励磁電流に対する曲げ角はあらかじめ測定する
か、ビーム位置モニター９を用いて測定できるため、上
記測定結果からビームがステアリング電磁石４において
ビーム軸線１０を横断するステアリングコイル２の励磁
電流を計算、設定し、またステアリング電磁石４でビー
ムの傾きをビーム軸線と一致させるようにステアリング
電磁石４の励磁電流を計算、設定し、ビームの軌道調整
は終了する。
【００２０】上記方法ではビーム位置モニター９におけ
る絶対測定位置（Ｘ９０，Ｙ９０）が重要であり、その
ためにビーム位置モニター９は四極電磁石と同程度に精
度よく設置しなければならない。しかし、四極電磁石を
二台使って上述した方法でビームの二箇所の位置を測定
できれば、ビーム位置モニター９は精度よく設置する必
要はない。つまり、四極電磁石におけるビーム位置測定
はビーム位置モニター９におけるビーム位置の絶対値は
必要ではなく、励磁したときと励磁していないときとの
ビーム位置変化を測定できればよいからである。
る絶対測定位置（Ｘ９０，Ｙ９０）が重要であり、その
ためにビーム位置モニター９は四極電磁石と同程度に精
度よく設置しなければならない。しかし、四極電磁石を
二台使って上述した方法でビームの二箇所の位置を測定
できれば、ビーム位置モニター９は精度よく設置する必
要はない。つまり、四極電磁石におけるビーム位置測定
はビーム位置モニター９におけるビーム位置の絶対値は
必要ではなく、励磁したときと励磁していないときとの
ビーム位置変化を測定できればよいからである。
【００２１】なお、上記実施例では軌道調整用磁場とし
てライナック１のステアリングコイル２を使用したが、
ライナックの出口にステアリング電磁石を設置しても同
様の効果を得ることができる。
てライナック１のステアリングコイル２を使用したが、
ライナックの出口にステアリング電磁石を設置しても同
様の効果を得ることができる。
【００２２】また、上記実施例ではライナック出射ビー
ムの軌道調整について説明したが、任意の位置でのビー
ムの位置と傾きとを測定し、そのビームを調整すること
ができる。
ムの軌道調整について説明したが、任意の位置でのビー
ムの位置と傾きとを測定し、そのビームを調整すること
ができる。
【００２３】さらに、上記実施例では、ビームの位置お
よび傾きの測定と、ビーム調整とを組み合わせたが、ビ
ームの位置と傾きとの測定だけに適用してもよい。
よび傾きの測定と、ビーム調整とを組み合わせたが、ビ
ームの位置と傾きとの測定だけに適用してもよい。
【００２４】さらにまた、上記実施例では四極電磁石の
励磁によるビーム位置変化を励磁電流がゼロのときに対
する場合について説明したが、ゼロではなく任意の値か
らでもよい。
励磁によるビーム位置変化を励磁電流がゼロのときに対
する場合について説明したが、ゼロではなく任意の値か
らでもよい。
【００２５】また、四極電磁石の励磁極性については何
も触れていないが、収束力となる極性で行った方がビー
ム位置測定の精度を上げることができる。従って、この
場合、Ｘ方向に収束ならばＹ方向には発散するため、Ｙ
方向測定時には極性を切り換えて行うか、極性が反対の
他の四極電磁石を用いて行えばよい。
も触れていないが、収束力となる極性で行った方がビー
ム位置測定の精度を上げることができる。従って、この
場合、Ｘ方向に収束ならばＹ方向には発散するため、Ｙ
方向測定時には極性を切り換えて行うか、極性が反対の
他の四極電磁石を用いて行えばよい。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のビーム
の位置および傾きの測定方法によれば、四極電磁石の励
磁電流を変えてビーム位置モニターでのビームの位置変
化量を測定することにより、そのビームの四極電磁石で
の位置を測定できるため、四極電磁石がビーム位置モニ
ターの代わりとなり、ビーム位置モニターは一台で済
み、コストを低減できる効果がある。また、四極電磁石
を二台使用してビームの位置および傾きを測定する場合
には、ビーム位置モニターの設置精度は要求されず、建
設時間を短縮できる効果がある。
の位置および傾きの測定方法によれば、四極電磁石の励
磁電流を変えてビーム位置モニターでのビームの位置変
化量を測定することにより、そのビームの四極電磁石で
の位置を測定できるため、四極電磁石がビーム位置モニ
ターの代わりとなり、ビーム位置モニターは一台で済
み、コストを低減できる効果がある。また、四極電磁石
を二台使用してビームの位置および傾きを測定する場合
には、ビーム位置モニターの設置精度は要求されず、建
設時間を短縮できる効果がある。
【図１】この発明の一実施例を示す、ライナックとビー
ム輸送系の概略平面図である。
ム輸送系の概略平面図である。
【図２】ステアリングコイルとステアリング電磁石とで
ビーム軌道調整を行うための原理図である。
ビーム軌道調整を行うための原理図である。
【図３】四極電磁石の励磁によりビーム軌道がどのよう
に変化するかを表した図である。
に変化するかを表した図である。
【図４】従来のビーム軌道調整方法を示すビーム輸送系
の概略平面図である。
の概略平面図である。
１ ランナック ２ ステアリングコイル ４ ステアリング電磁石 ５,６,７,８ 四極電磁石 ９ ビーム位置モニター １０ ビーム軸線 １１ ビーム軌道
Claims (2)
- 【請求項１】 四極電磁石を用いてビームを所定の形状
にしてビーム軸線上に輸送するビーム輸送系における、
ビームの位置および傾きの測定方法において、前記四極
電磁石の励磁電流を変え、その変化に伴い前記ビーム軸
線から垂直方向に変動するビームの位置変動量をビーム
位置モニターで測定し、その変動量から前記四極電磁石
を通過する前記ビームの前記ビーム軸線からの位置およ
び傾きを測定するとともに、前記ビームの前記ビーム軸
線に沿った所定の位置における前記ビーム軸線からの位
置および傾きを測定する、ビームの位置および傾きの測
定方法。 - 【請求項２】 第１および第２の四極電磁石を用いてビ
ームを所定の形状にしてビーム軸線上に輸送するビーム
輸送系における、ビームの位置および傾きの測定方法に
おいて、まず前記第１の四極電磁石の励磁電流を変え、
その変化に伴い前記ビーム軸線から垂直方向に変動する
ビームの第１の位置変動量をビーム位置モニターで測定
し、次に前記第２の四極電磁石の励磁電流を変え、その
変化に伴い前記ビーム軸線から垂直方向に変動するビー
ムの第２の位置変動量を前記ビーム位置モニターで測定
し、前記第１の位置変動量および前記第２の位置変動量
から前記第１および第２の四極電磁石を通過する前記ビ
ームの前記ビーム軸線からの位置および傾きを測定する
とともに、前記ビームの前記ビーム軸線に沿った所定の
位置における前記ビーム軸線からの位置および傾きを測
定する、ビームの位置および傾きの測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31671791A JP2892878B2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | ビームの位置および傾きの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31671791A JP2892878B2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | ビームの位置および傾きの測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05152099A JPH05152099A (ja) | 1993-06-18 |
| JP2892878B2 true JP2892878B2 (ja) | 1999-05-17 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP31671791A Expired - Fee Related JP2892878B2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | ビームの位置および傾きの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP2892878B2 (ja) |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP31671791A patent/JP2892878B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05152099A (ja) | 1993-06-18 |
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