JP2884116B2 - Dimension measuring device - Google Patents

Dimension measuring device

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JP2884116B2
JP2884116B2 JP41637090A JP41637090A JP2884116B2 JP 2884116 B2 JP2884116 B2 JP 2884116B2 JP 41637090 A JP41637090 A JP 41637090A JP 41637090 A JP41637090 A JP 41637090A JP 2884116 B2 JP2884116 B2 JP 2884116B2
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JP
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correction data
edge
light
measured
optical system
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信治 濱野
久夫 原
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザビーム等の光束
を走査して被測定物の寸法を測定する寸法測定装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dimension measuring apparatus for measuring a dimension of an object to be measured by scanning a light beam such as a laser beam.

【0002】[0002]

【従来の技術】被測定物の外径、エッジ位置等を高精度
に測定するために、レーザビーム等の指向性の良い光束
を被測定物の置かれている空間に測定方向に沿って走査
し、被測定物によって遮られる光束を受光するように構
成した寸法測定装置が従来よりあった。
2. Description of the Related Art In order to measure the outer diameter, edge position, and the like of an object to be measured with high accuracy, a light beam having good directivity such as a laser beam is scanned in a space in which the object to be measured is placed along a measuring direction. Conventionally, there has been a dimension measuring device configured to receive a light beam blocked by an object to be measured.

【0003】光束を走査する偏向法には回転ミラー方式
と、音又などを利用した振動ミラー方式とが従来より用
いられており、振動ミラー方式は走査の繰返し周波数が
高くでき応答性に優れること、また往復走査が可能で、
往復の平均化により測定誤差の相殺ができるなどの特徴
をもっている。
Conventionally, a rotating mirror method and a vibrating mirror method using sound or the like have been used as a deflection method for scanning a light beam. The vibrating mirror method has a high repetition frequency of scanning and excellent responsiveness. , And reciprocal scanning is possible,
It has the characteristic that the measurement error can be offset by the round-trip averaging.

【0004】図10は、この振動ミラー方式による寸法
測定装置の基本構成を示す図であり、1はレーザビーム
等を出力する光源、2は光源1からの光束を被測定物A
方向に周期的に偏向させる偏向器である。
FIG. 10 is a diagram showing a basic configuration of a dimension measuring apparatus using the oscillating mirror system. Reference numeral 1 denotes a light source for outputting a laser beam or the like;
This is a deflector that deflects light periodically in the direction.

【0005】この偏向器2のミラーはレンズ4の前焦点
に位置しており、偏向器2で反射してレンズ4を経た光
束はそのレンズ4の光軸に平行で測定方向Yに沿って周
期的に走査されることになる。
[0005] The mirror of the deflector 2 is located at the front focal point of the lens 4, and the light beam reflected by the deflector 2 and passing through the lens 4 is periodically parallel to the optical axis of the lens 4 and along the measurement direction Y. Will be scanned.

【0006】ここで偏向器2が音又偏向器等の振動ミラ
ーの場合には、Y方向に走査する光束の位置変化は図1
1の(a)に示すように時間に対してほぼ正弦関数的に
変化する。
When the deflector 2 is a vibrating mirror such as a sound or deflector, the change in the position of the light beam scanned in the Y direction is shown in FIG.
As shown in FIG. 1 (a), it changes almost sinusoidally with time.

【0007】このため、受光器6からは、同図の(b)
に示すように、被測定物Aに遮られた部分ではHレベ
ル、遮られていない部分ではLレベルとなる受光信号が
出力される。
[0007] For this reason, from the light receiver 6, (b) of FIG.
As shown in (1), a light receiving signal is output which has an H level in a portion blocked by the object A and an L level in a portion not blocked.

【0008】7は、同図の(c)に示すように、走査光
に同期した正弦波電圧信号を演算器8に出力する参照信
号発生器である。
Reference numeral 7 denotes a reference signal generator which outputs a sine wave voltage signal synchronized with the scanning light to the arithmetic unit 8 as shown in FIG.

【0009】演算器8は、予め参照信号と走査光との振
幅比を記憶しており、受光信号の立ち上がり時の参照信
号電圧V1 から被測定物Aの走査中心からのエッジ位置
を算出する。
The arithmetic unit 8 stores in advance the amplitude ratio between the reference signal and the scanning light, and calculates the edge position from the scanning center of the DUT A from the reference signal voltage V 1 at the time of the rise of the light receiving signal. .

【0010】ところが、実際にこのような装置を構成し
た場合、レンズの収差やミラーの歪みにより、走査光の
位置変化は完全な正弦関数にならない場合が多い。
However, when such an apparatus is actually constructed, the position change of the scanning light often does not become a perfect sine function due to lens aberration and mirror distortion.

【0011】このため、予め測定された測定位置固有の
補正データを補正データメモリ9に記憶しておき、算出
されたエッジ位置とこれに対応した補正データとの補正
演算を、光学補正回路10で行うようにしている。
For this reason, correction data specific to the measurement position measured in advance is stored in the correction data memory 9, and a correction operation between the calculated edge position and the correction data corresponding thereto is performed by the optical correction circuit 10. I'm trying to do it.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この光
学系の歪みは、正弦関数に対する誤差の他に、測定光の
ビーム形状のばらつきも発生させ、走査方向面における
強度分布が非対称になってしまう場合があり、このた
め、測定するエッジの位置が同じでも、そのエッジの向
きが走査方向の一方側を向いているときと、他方側を向
いているときでは、測定結果に差が生じてしまうという
問題があった。
However, this distortion of the optical system causes not only an error with respect to the sine function, but also a variation in the beam shape of the measurement light, resulting in an asymmetric intensity distribution in the scanning direction. Therefore, even if the position of the edge to be measured is the same, there is a difference between the measurement results when the edge is directed to one side of the scanning direction and when the edge is directed to the other side. There was a problem.

【0013】本発明は、この課題を解決した寸法測定装
置を提供することを目的としている。
An object of the present invention is to provide a dimension measuring device which solves this problem.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】所定の幅で往復走査する
測定光を受光器で受光する光学系と、測定光の一部を遮
る位置に置かれた被測定物のエッジ位置を、受光器から
の受光信号に基づいて検出するエッジ位置検出手段と、
検出したエッジ位置に対して、光学系による検出位置の
誤差を検出位置毎の補正データによって補正する光学補
正手段とを有する寸法測定装置において、測定するエッ
ジが測定光の一方の走査方向に向いているときの光学系
の補正データを予め記憶している第1の補正データ記憶
手段と、測定するエッジが測定光の他方の走査方向に向
いているときの光学系の補正データを予め記憶している
第2の補正データ記憶手段と、被測定物のエッジが、測
定光のどちらの走査方向に向いているかを検出するエッ
ジ極性検出手段と、第1、第2の補正データ記憶手段の
うち、エッジ極性検出手段で検出される被測定物のエッ
ジの向きに対応した方の補正データ記憶手段から、被測
定物のエッジ位置に対する補正データを選択する補正デ
ータ選択手段とを備えている。
An optical system for receiving a measuring beam reciprocatingly scanned with a predetermined width by a light receiving device, and an edge position of an object to be measured placed at a position where a part of the measuring light is blocked, is detected by a light receiving device. Edge position detecting means for detecting based on the light receiving signal from
An optical correction unit that corrects an error of a detection position by the optical system with respect to the detected edge position using correction data for each detection position, wherein the edge to be measured faces in one scanning direction of the measurement light. First correction data storage means for preliminarily storing the correction data of the optical system when the light is present, and correction data for the optical system when the edge to be measured is oriented in the other scanning direction of the measurement light. A second correction data storage means, an edge polarity detection means for detecting which scanning direction of the measurement light the direction of the edge of the measurement object faces, and a first and a second correction data storage means. Correction data selecting means for selecting correction data for the edge position of the device under test from the correction data storage device corresponding to the direction of the edge of the device under test detected by the edge polarity detecting device. Eteiru.

【0015】[0015]

【作用】したがって、被測定物のエッジ位置に対する光
学補正は、そのエッジの向きに対応した補正データによ
ってなされる。
Therefore, the optical correction for the edge position of the object to be measured is made by the correction data corresponding to the direction of the edge.

【0016】[0016]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0017】図1は一実施例の寸法測定装置の全体構成
を示す図であり、前述した図10の装置と同一の構成部
分には同一符号を付して説明を省略する。
FIG. 1 is a view showing the overall configuration of a dimension measuring apparatus according to one embodiment. The same components as those in the apparatus shown in FIG.

【0018】図1において、レンズ4からの走査光束は
ハーフミラー25により同一振幅の測定光と参照光に分
かれ、測定光はレンズ5を介して受光器6で受光され、
参照光はレンズ26を介して受光器27で受光される。
In FIG. 1, a scanning light beam from a lens 4 is split into a measuring light and a reference light having the same amplitude by a half mirror 25, and the measuring light is received by a light receiver 6 via a lens 5,
The reference light is received by a light receiver 27 via a lens 26.

【0019】ハーフミラー25とレンズ26との間に
は、参照光の走査方向の外径が既知な基準棒Rが、参照
光のほぼ走査中心に固定されている。
A reference rod R having a known outer diameter in the scanning direction of the reference light is fixed between the half mirror 25 and the lens 26 substantially at the scanning center of the reference light.

【0020】ここで、参照光を受光する受光器27から
の受光信号(以下モニタ信号と記す)は、参照光が基準
棒Rに遮られている間はHレベル、参照光が受光されて
いる間はLレベルとなる。
Here, a light receiving signal (hereinafter referred to as a monitor signal) from the light receiver 27 for receiving the reference light is at the H level while the reference light is blocked by the reference rod R, and the reference light is received. The interval is at the L level.

【0021】このモニタ信号は、周期測定回路30、タ
イミング検出回路31および第1の位相角算出回路32
に入力されている。
The monitor signal is supplied to a period measuring circuit 30, a timing detecting circuit 31, and a first phase angle calculating circuit 32.
Has been entered.

【0022】周期測定回路30は、図2の(a)に示す
参照光を受光する受光器27から、同図の(b)に示す
モニタ信号を受け、交互に連続する遮光時間と受光時間
とをそれぞれ2期間ずつ加えた時間T0 を走査光の周期
として測定する。
The period measuring circuit 30 receives the monitor signal shown in FIG. 2B from the light receiver 27 for receiving the reference light shown in FIG. 2A and receives the monitor signal shown in FIG. Are added to each other for two periods, and the time T 0 is measured as the period of the scanning light.

【0023】タイミング検出回路31は、1周期T0
の受光時間T1 の中間タイミングからT0 /4時間経過
したタイミングを、参照光のゼロ位相タイミングとして
検出してこのタイミングに同期したタイミングパルスを
同図の(c)に示すように出力するとともに、各受光時
間の中間タイミング毎にレベルが反転して参照光の走査
方向をそのレベルで示す走査方向信号を出力する。
The timing detection circuit 31 detects a timing at which T 0/4 time has elapsed from the intermediate timing of the light receiving time T 1 in one cycle T 0 as a zero phase timing of the reference light, and detects a timing pulse synchronized with this timing. Is output as shown in (c) of the same figure, and the level is inverted at each intermediate timing of each light receiving time, and a scanning direction signal indicating the scanning direction of the reference light at that level is output.

【0024】第1の位相角検出回路32は、このタイミ
ングパルスとモニタ信号とを受け、モニタ信号の立上り
からゼロ位相タイミングまでの時間Ta と、ゼロ位相タ
イミングからモニタ信号の立下りまでの時間Tb とを検
出し、この検出時間を、ゼロ位相タイミングに対する位
相角a=−2πTa /T0 ,b=2πTb /T0 に変換
して出力する。
The first phase angle detector 32 receives a timing pulse and the monitor signal, and time T a from the rising of the monitor signal to zero phase timing, the time from the zero phase timing to the fall of the monitoring signal detecting a T b, the detection time, and outputs the converted phase angle a = -2πT a / T 0, b = 2πT b / T 0 for zero phase timing.

【0025】33は、位相角毎の正弦値を予め記憶して
いる正弦変換回路であり、第1の位相角検出回路32か
らの位相角a、bに対して、Sina,Sinbをメモリ回
路34に記憶する。
A sine conversion circuit 33 stores a sine value for each phase angle in advance. The sine conversion circuit 33 stores Sina and Sinb with respect to the phase angles a and b from the first phase angle detection circuit 32. To memorize.

【0026】メモリ回路34に記憶された正弦値は、減
算回路35で減算され、参照光の走査中心からの振幅が
1に規格化された場合の基準棒の外径値rが算出され
る。
The sine value stored in the memory circuit 34 is subtracted by the subtraction circuit 35, and the outer diameter value r of the reference rod when the amplitude of the reference light from the scanning center is normalized to 1 is calculated.

【0027】36は、参照光の振幅値(測定光も同一)
を算出する振幅算出回路であり、減算回路35からの算
出値rで基準棒Rの真の外径値Dを除算して、走査中心
からの振幅値E(=D/r)を算出する。
Reference numeral 36 denotes an amplitude value of the reference light (the same is applied to the measurement light).
And calculates the amplitude value E (= D / r) from the scanning center by dividing the true outer diameter value D of the reference rod R by the calculated value r from the subtraction circuit 35.

【0028】40は、図3の(a)に示すように被測定
物Bに遮られる測定光を受光する受光器6から、同図の
(b)に示すように出力される受光信号と、タイミング
検出回路31からのタイミングパルス(同図の(c))
を受け、測定光が被測定物Bのエッジを横切るまでの時
間Tc を測定し、このTcを位相角c(=2πTc /T
0 )に変換して出力する第2の位相角検出回路である。
Numeral 40 denotes a light receiving signal output from the light receiver 6 which receives the measuring light blocked by the object B as shown in FIG. 3A, as shown in FIG. Timing pulse from the timing detection circuit 31 ((c) in the figure)
Receiving, measurement light and measure the time T c until crossing the edge of the object B, the T c phase angle c (= 2πT c / T
0 ) is a second phase angle detection circuit that outputs the converted signal.

【0029】41は、前述した第1の正弦変換回路33
と同一の第2の正弦変換回路であり、第2の位相角検出
回路40からの位相角cに対応する正弦値K(=Sin
c)を出力する。
Reference numeral 41 denotes the first sine conversion circuit 33 described above.
And a sine value K (= Sin) corresponding to the phase angle c from the second phase angle detection circuit 40.
Output c).

【0030】42は、第2の正弦波変換回路41からの
出力に振幅値Eを乗算して、測定光の走査中心に対する
被測定物Bのエッジ位置を算出するエッジ位置算出手段
である。
Reference numeral 42 denotes an edge position calculating means for multiplying the output from the second sine wave conversion circuit 41 by an amplitude value E to calculate the edge position of the DUT B with respect to the scanning center of the measuring light.

【0033】43は、各レンズの収差やミラーの歪によ
るエッジ位置の誤差を、予め測定された補正データによ
って加算補正する補正演算回路である。
Reference numeral 43 denotes a correction operation circuit for adding and correcting an edge position error due to aberration of each lens or distortion of a mirror using correction data measured in advance.

【0034】44は、受光器6からの受光信号と走査方
向信号とを受け、測定光の走査範囲内にある被測定物B
のエッジの向きが走査方向の一方側に向いているか、他
方側に向いているかを検出するエッジ極性検出回路であ
る。
Reference numeral 44 denotes a light receiving signal from the light receiving device 6 and a scanning direction signal, and the DUT B within the scanning range of the measuring light.
Is an edge polarity detection circuit that detects whether the edge direction is directed to one side or the other side in the scanning direction.

【0035】このエッジ極性検出回路44は、例えば図
4に示すように、走査方向信号の立ち上がり時および立
ち下がり時の受光信号のレベルをインバータ45と、フ
リップフロップ46、47で検出し、この検出レベルか
らエッジの向きを極性判定器48で判定する。即ち、図
5に示すように、一方のフリップフロップ46の出力Q
a がLレベルで、他方のフリップフロップ47の出力Q
bがHレベルの場合は、被測定物Bのエッジの向きが、
図3に示したように上向きであると判定する。
The edge polarity detection circuit 44 detects the level of the light receiving signal at the time of rising and falling of the scanning direction signal by the inverter 45 and the flip-flops 46 and 47, as shown in FIG. The polarity determiner 48 determines the direction of the edge from the level. That is, as shown in FIG. 5, the output Q of one flip-flop 46 is
a is at the L level and the output Q of the other flip-flop 47 is
When b is at the H level, the direction of the edge of the object B is
It is determined that it is upward as shown in FIG.

【0036】また、逆に、出力Qa がHレベルで、Qb
がLレベルの場合は、エッジの向きが下向きであると判
定する。また、両方の出力がLレベルの場合は、被測定
物全体が、測定光の走査範囲内にあり、上向きと下向き
の2つのエッジがあると判定する。
On the other hand, when the output Qa is at the H level and Qb
Is L level, it is determined that the direction of the edge is downward. If both outputs are at the L level, it is determined that the entire DUT is within the scanning range of the measurement light and that there are two upward and downward edges.

【0037】50、51は、第1、第2の補正データメ
モリであり、第1の補正データメモリ50には、図6に
示すように、予め測定光に対して上向きのエッジを持つ
基準ゲージ60を移動させ、実際の移動量と、エッジ位
置算出回路42からの出力値との差が、その出力値をア
ドレスにして記憶されている。
Reference numerals 50 and 51 denote first and second correction data memories, respectively. The first correction data memory 50 has, as shown in FIG. The difference between the actual movement amount and the output value from the edge position calculation circuit 42 is stored using the output value as an address.

【0038】また、第2の補正データメモリ51には、
基準ゲージ60を反対向きにして測定光中を移動させた
ときの実際の移動量とエッジ位置算出回路42からの出
力値との差が、その出力値をアドレスにして記憶されて
いる。
In the second correction data memory 51,
The difference between the actual movement amount when the reference gauge 60 is moved in the measurement light in the opposite direction and the output value from the edge position calculation circuit 42 is stored using the output value as an address.

【0039】52は、第1または第2の補正データメモ
リ50、51のうち、エッジ極性検出回路44で検出さ
れたエッジの向きに応じたメモリからの補正データを補
正演算回路43に出力する補正データ選択スイッチであ
る。
Reference numeral 52 denotes a correction for outputting correction data from the first or second correction data memory 50, 51 in accordance with the direction of the edge detected by the edge polarity detection circuit 44 to the correction operation circuit 43. This is a data selection switch.

【0040】以上のように構成された寸法測定装置で
は、図3に示したように、被測定物のエッジが上向きの
場合は、エッジ位置算出手段42で算出されたエッジ位
置に対する補正データが、第1の補正データメモリ50
から選択され、光学系による誤差の補正がなされる。
In the dimension measuring apparatus configured as described above, as shown in FIG. 3, when the edge of the object to be measured is upward, the correction data for the edge position calculated by the edge position calculating means 42 is: First correction data memory 50
And the error is corrected by the optical system.

【0041】逆に、図7に示すように、被測定物Cのエ
ッジの向きが下向きの場合は、エッジ位置算出回路42
で算出されたエッジ位置に対する補正データが、第2の
補正データメモリ51から選択され、光学系による誤差
の補正がなされる。
Conversely, as shown in FIG. 7, when the direction of the edge of the DUT C is downward, the edge position calculation circuit 42
The correction data for the edge position calculated in is selected from the second correction data memory 51, and an error is corrected by the optical system.

【0042】また、図8に示すように、被測定物Dが測
定光の走査範囲内に位置している場合は、その2つのエ
ッジ位置に対する補正データが、第1、第2の補正デー
タメモリ50、51から交互に選択され、2つのエッジ
に対する光学補正がなされる。
As shown in FIG. 8, when the DUT is located within the scanning range of the measurement light, the correction data for the two edge positions are stored in the first and second correction data memories. 50 and 51 are alternately selected and optical correction is performed on two edges.

【0043】このため、測定光の走査方向面のビーム形
状が図9のように非対称であっても、測定誤差は発生せ
ず、高精度な位置測定を行うことができる。
For this reason, even if the beam shape of the measurement light in the scanning direction surface is asymmetric as shown in FIG. 9, no measurement error occurs and high-accuracy position measurement can be performed.

【0044】なお、この説明では、被測定物のエッジ位
置を検出する場合について説明したが、この補正された
位置出力同士の演算により、外径値や、内径値の測定も
高精度に行うことができる。
In the above description, the case where the edge position of the object to be measured is detected has been described. However, by calculating the corrected position outputs, the outer diameter value and the inner diameter value can be measured with high accuracy. Can be.

【0045】[0045]

【他の実施例】前記実施例では、参照光の受光信号(モ
ニタ信号)に基づいて、その走査周期、ゼロ位相のタイ
ミングパルスおよび走査方向信号を出力するようにして
いたが、偏向器2を駆動している信号に基づいてこれら
の信号を出力するようにしてもよい。
[Other Embodiments] In the above embodiment, the scanning cycle, the zero-phase timing pulse, and the scanning direction signal are output based on the light receiving signal (monitor signal) of the reference light. These signals may be output based on the driving signal.

【0046】また、前記実施例では、モニタ信号から参
照光の振幅を算出し、この振幅を測定光の振幅としてい
たが、予め、測定光の振幅を実際に測定しておいてもよ
いし、参照光と測定光との振幅比を測定しておき、この
振幅比により被測定物のエッジ位置の演算を行うように
してもよい。
In the above-described embodiment, the amplitude of the reference light is calculated from the monitor signal, and the amplitude is used as the amplitude of the measurement light. However, the amplitude of the measurement light may be actually measured in advance. The amplitude ratio between the reference light and the measurement light may be measured, and the edge position of the device under test may be calculated based on the amplitude ratio.

【0047】また、前記実施例では、受光器6、27の
受光信号に基づいて算出した各算出値の平均化について
の説明を省略していたが、複数回の走査による平均化
や、走査の往復による平均化を行なえばより高精度な測
定が行なえる。
In the above embodiment, the description of the averaging of the respective calculated values based on the light receiving signals of the light receivers 6 and 27 is omitted. If averaging by round trip is performed, more accurate measurement can be performed.

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明の寸法測定装置は、測定光の走査
方向の一方側にエッジが向いているときの光学補正デー
タと、測定光の走査方向の他方側にエッジが向いている
ときの光学補正データとを予め記憶しておき、被測定物
のエッジの向きに対応した光学補正データを選択して、
光学系による誤差を補正するようにしているため、測定
光のビーム形状のばらつきに起因する測定誤差を発生す
ることがなく、高精度な寸法測定を行うことができる。
According to the dimension measuring apparatus of the present invention, the optical correction data when the edge is directed to one side in the scanning direction of the measuring light and the optical correction data when the edge is directed to the other side in the scanning direction of the measuring light. Optical correction data is stored in advance, and optical correction data corresponding to the direction of the edge of the measured object is selected,
Since an error due to the optical system is corrected, a measurement error due to a variation in the beam shape of the measurement light does not occur, and highly accurate dimension measurement can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】一実施例の動作を説明するためのタイミング図
である。
FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of one embodiment.

【図3】一実施例の動作を説明するためのタイミング図
である。
FIG. 3 is a timing chart for explaining the operation of one embodiment.

【図4】一実施例の要部の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a main part of one embodiment.

【図5】一実施例の要部の動作を説明するための対応図
である。
FIG. 5 is a correspondence diagram for explaining the operation of the main part of one embodiment.

【図6】補正データを記憶するための動作を説明するた
めの図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining an operation for storing correction data.

【図7】一実施例の動作を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of one embodiment.

【図8】一実施例の動作を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining the operation of one embodiment.

【図9】測定光の強度分布の例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating an example of an intensity distribution of measurement light.

【図10】従来装置の基本構成を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a basic configuration of a conventional device.

【図11】従来装置の動作を説明するためのタイミング
図である。
FIG. 11 is a timing chart for explaining the operation of the conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 偏向器 6 受光器 25 ハーフミラー 27 受光器 32 第1の位相角検出回路 33 第1の正弦変換回路 35 減算回路 36 振幅算出回路 40 第2の位相角検出回路 41 第2の正弦変換回路 42 エッジ位置算出回路 43 補正演算回路 44 エッジ極性検出回路 50 第1の補正データメモリ 51 第2の補正データメモリ 52 補正データ選択スイッチ Reference Signs List 1 light source 2 deflector 6 light receiver 25 half mirror 27 light receiver 32 first phase angle detection circuit 33 first sine conversion circuit 35 subtraction circuit 36 amplitude calculation circuit 40 second phase angle detection circuit 41 second sine conversion Circuit 42 Edge position calculation circuit 43 Correction operation circuit 44 Edge polarity detection circuit 50 First correction data memory 51 Second correction data memory 52 Correction data selection switch

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 所定の幅で往復走査する測定光を受光器
で受光する光学系と、前記測定光の一部を遮る位置に置
かれた被測定物のエッジ位置を前記受光器からの受光信
号に基づいて検出するエッジ位置検出手段と、検出した
エッジ位置に対して、前記光学系による検出位置の誤差
を該検出位置毎の補正データによって補正する光学補正
手段とを有する寸法測定装置において、測定するエッジ
が前記測定光の一方の走査方向に向いているときの前記
光学系の補正データを予め記憶している第1の補正デー
タ記憶手段と、測定するエッジが前記測定光の他方の走
査方向に向いているときの前記光学系の補正データを予
め記憶している第2の補正データ記憶手段と、前記被測
定物のエッジが、前記測定光のどちらの走査方向に向い
ているかを検出するエッジ極性検出手段と、前記第1、
第2の補正データ記憶手段のうち、前記エッジ極性検出
手段で検出される被測定物のエッジの向きに対応した方
の補正データ記憶手段から、前記被測定物のエッジ位置
に対する補正データを選択する補正データ選択手段とを
備えたことを特徴とする寸法測定装置。
1. An optical system for receiving a measuring beam reciprocatingly scanned at a predetermined width by a light receiving device, and receiving an edge position of an object to be measured placed at a position blocking a part of the measuring light from the light receiving device. An edge position detection unit that detects based on the signal, and an optical correction unit that corrects an error of a detection position by the optical system with respect to the detected edge position using correction data for each detection position. First correction data storage means for storing in advance the correction data of the optical system when the edge to be measured is oriented in one scanning direction of the measurement light; A second correction data storage unit that stores in advance the correction data of the optical system when the measurement light is directed, and detects in which scanning direction of the measurement light the edge of the measured object is directed. Do Edge polarity detection means;
The correction data for the edge position of the device under test is selected from the correction data storage device of the second correction data storage device corresponding to the direction of the edge of the device under test detected by the edge polarity detection device. A dimension measuring device comprising: a correction data selecting unit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010133944A (en) * 2008-10-29 2010-06-17 Gleason Asia Co Ltd Apparatus for inspecting cutter blade

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