JP2882245B2 - Self-diagnosis method of magnetic disk controller - Google Patents

Self-diagnosis method of magnetic disk controller

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JP2882245B2
JP2882245B2 JP5188379A JP18837993A JP2882245B2 JP 2882245 B2 JP2882245 B2 JP 2882245B2 JP 5188379 A JP5188379 A JP 5188379A JP 18837993 A JP18837993 A JP 18837993A JP 2882245 B2 JP2882245 B2 JP 2882245B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置の読
み出し書き込み用集積回路の自己診断方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a self-diagnosis system for a read / write integrated circuit of a magnetic disk drive.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の磁気ディスク装置の書き込み及び
読み出し用集積回路について、特にフロッピーディスク
装置の書き込み及び読み出し用集積回路(以下FDCと
略記する)で、MFM記録方式による場合を例にして説
明する。
2. Description of the Related Art A conventional writing / reading integrated circuit of a magnetic disk drive will be described with reference to an example of a write / read integrated circuit (hereinafter abbreviated as FDC) of a floppy disk drive using an MFM recording method. .

【0003】図4は従来のフロッピーディスク装置のF
DCのテストを説明するための構成図である。図2はM
FM記録方式の波形図である。図4において、フロッピ
ー・ディスク・ドライブ装置(以下FDDと略記する)
よりの読み出し信号は、MFM記録方式に従いクロック
・パルスとデータ・パルスの混じったものであり、PL
L回路22によりクロック・パルスとデータ・パルスを
分離するための分離信号(以下WINDOW信号と略記
する)を生成する。データ・セパレータ23はPLL回
路22の生成するWINDOW信号によりFDDよりの
読み出し信号からデータを分離し、シリアル・パラレル
変換回路24により8ビット単位のデータとしてホスト
・インターフェース25を介してデータの転送を実施す
る。また、書き込みの時は、ホスト・インターフェース
回路25を介して送られる8ビット単位のデータをパラ
レル・シリアル変換回路27によりシリアルのデータに
変換し、ミキサー26によりデータのみのシリアルの信
号にクロック信号を付加してFDDの書き込みデータと
して出力する。
FIG. 4 shows a conventional floppy disk drive F
FIG. 3 is a configuration diagram for explaining a DC test. FIG.
FIG. 3 is a waveform diagram of an FM recording method. In FIG. 4, a floppy disk drive (hereinafter abbreviated as FDD)
The read signal is a mixture of a clock pulse and a data pulse according to the MFM recording method.
The L circuit 22 generates a separation signal (hereinafter abbreviated as WINDOW signal) for separating the clock pulse and the data pulse. The data separator 23 separates the data from the read signal from the FDD by the WINDOW signal generated by the PLL circuit 22, and transfers the data as 8-bit data via the host interface 25 by the serial / parallel conversion circuit 24. I do. At the time of writing, 8-bit data transmitted via the host interface circuit 25 is converted into serial data by the parallel / serial conversion circuit 27, and the mixer 26 converts the clock signal into a serial signal of data only. In addition, the data is output as FDD write data.

【0004】この構成においては、従来のFDCを組み
込んだ装置において不具合が発生した場合、不具合箇所
の特定が重要な点となり、装置を構成する集積回路にお
いては自己診断の機能を持つことが不具合箇所の特定を
助ける事になる。FDCの自己診断においては、FDD
への書き込み信号が正常であることと、FDDよりの読
み出し信号よりデータを読み出すことができることが重
要な点となり、このためにはFDDをFDCに接続した
状態で、FDDへの書き込み読み出しによりテストす
る。
In this configuration, when a failure occurs in a device incorporating the conventional FDC, it is important to identify the failure portion, and it is necessary for the integrated circuit constituting the device to have a self-diagnosis function. Will help identify In self-diagnosis of FDC, FDD
It is important that the write signal to the FDD is normal and that data can be read from the read signal from the FDD. For this purpose, a test is performed by writing to and reading from the FDD with the FDD connected to the FDC. .

【0005】また、従来のLSIテスターによるテスト
においては、FDDよりの読み出し信号をLSIテスタ
ーが代わりに供給する事になるが、FDCの内蔵するP
LL回路22がアナログPLL回路の時には、入力信号
に従いWINDOW信号を生成することができる周波数
には上限と下限が存在する。FDDよりの読み出し信号
はFDDのデータの転送速度を決定するため高速にな
る。PLL回路22の動作周波数の限界から、テストに
おける動作周波数は実際のFDC動作周波数に限定され
るため、自己診断機能を内蔵させて高速の信号のやり取
りを減らし、最後の結果のみを良否の判断とすること
が、LSIテスターにおいては重要となる。
In a test using a conventional LSI tester, a read signal from the FDD is supplied by the LSI tester instead.
When the LL circuit 22 is an analog PLL circuit, there is an upper limit and a lower limit on the frequency at which a WINDOW signal can be generated according to an input signal. The read signal from the FDD becomes high speed to determine the transfer speed of the FDD data. Because the operating frequency in the test is limited to the actual FDC operating frequency due to the limit of the operating frequency of the PLL circuit 22, a self-diagnosis function is built in to reduce the exchange of high-speed signals, and only the final result is used as a pass / fail decision. Is important for LSI testers.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来のFDCにおいて
不都合がある時、FDDを接続し、フロッピ−・ディス
クに実際にデータを書き込んで読み出す事でテストする
か、LSIテスターの場合にはFDDよりの読み出し信
号と同様の信号をLSIテスター側で供給する事が必要
であるため、FDCの自己診断機能を付加したとしても
外部にFDDよりの読み出し信号を常に供給する事が必
要となり、FDCの単独のテストができないか、LSI
テスターにおいては常に実動作周波数でのテストをしな
ければならいという欠点を持つ。
When there is an inconvenience in the conventional FDC, a test is performed by connecting an FDD and actually writing and reading data to and from a floppy disk. Since it is necessary to supply the same signal as the read signal on the LSI tester side, it is necessary to always supply the read signal from the FDD to the outside even if the self-diagnosis function of the FDC is added, and the FDC alone Can't test, LSI
Testers have the disadvantage that they must always be tested at the actual operating frequency.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記従来の欠点を解消す
るために、本発明は、入力したデータから磁気ディスク
装置への書き込み信号を生成する書き込み回路手段と、
前記磁気ディスク装置より読み出した信号から出力デー
タを生成する読み出し回路手段とを有する磁気ディスク
制御装置において、前記書き込み回路手段からのテスト
用書き込みデータに対して変動を与える書き込み補償回
路と、テスト用書き込みデータを生成する手段と、テス
ト時に前記テスト用書き込みデータを前記入力したデー
タに替えて前記書き込み回路手段を介して前記書き込み
補償回路へ与えて前記書き込み補償回路の出力信号を前
記磁気ディスク装置から読み出した信号に替えて前記読
み出し回路手段へ与えるセレクタ手段と、テスト時に前
記読み出し回路手段の前記出力データと前記テスト用書
き込みデータとの一致をチェックする一致検出手段とを
有することを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned drawbacks, the present invention provides a write circuit means for generating a write signal to a magnetic disk drive from input data,
A magnetic disk controller having read circuit means for generating output data from a signal read from the magnetic disk device; a write compensation circuit for varying test write data from the write circuit means; Means for generating data, and, during a test, replacing the test write data with the input data and applying the test write data to the write compensation circuit via the write circuit means to read an output signal of the write compensation circuit from the magnetic disk device. And a coincidence detecting means for checking the coincidence between the output data of the read circuit means and the test write data at the time of a test.

【0008】[0008]

【作用】テスト時に、テスト用書き込み信号を発生さ
せ、このテスト用書き込み信号を入力として書き込み回
路手段からセレクタ手段を経て読み出し回路手段へと一
巡させ、書き込み回路手段への入力信号と読み出し回路
手段の出力信号とを比較し、両信号が一致するか否かを
検査することで、磁気ディスク装置を実際に接続するこ
となく、磁気ディスク制御装置側のみで、自己診断を行
うことができる。
At the time of testing, a test write signal is generated, and the test write signal is used as an input to make a round from the write circuit means to the read circuit means via the selector means, and the input signal to the write circuit means and the read circuit means The self-diagnosis can be performed only by the magnetic disk control device side without actually connecting the magnetic disk device by comparing the output signal with the output signal and checking whether or not the two signals match.

【0009】[0009]

【実施例】先ず、本発明の参考例について図を用いて説
明する。図1は本発明の参考例の構成を示すブロック図
である。図2はMFM記録方式の波形図である。
First, a reference example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a reference example of the present invention. FIG. 2 is a waveform diagram of the MFM recording method.

【0010】図1において、磁気ディスク装置(不図
示)への書き込み・読み出し用集積回路(ディスクコン
トローラ)FDCは、磁気ディスク装置からの読み出し
データ及びミキサー6から出力されるテスト用書き込み
データを切換えるセレクタ1と、読み出し信号中のクロ
ックパルスとデータパルスを分離するためのWINDO
W信号を生成するPLL回路2と、WINDOW信号に
より読み出し信号からデータを分離するデータ・セパレ
ーター3と、分離されたデータを8ビット単位のデータ
に変換するシリアル・パラレル変換回路4と、データを
ホストバスに送出するホストインターフェース回路5
と、書き込み時にホストインターフェース回路5を介し
て送られてくる8ビット単位のデータ及びテスト時のテ
スト用書き込みデータをシリアル信号にそれぞれ変換す
るパラレル・シリアル変換回路7と、データのみのシリ
アル信号にクロック信号を付加して書き込みデータとし
て磁気ディスク装置へ、またテスト時のテスト用書き込
みデータとしてセレクタ1へ向けて出力するミキサー6
と、ホストインターフェース回路5からの読み出しデー
タ出力をデコードし、ファームウェアで発信されたテス
ト用書き込みデータと比較し、一致しているか否かをテ
ストするインストラクション・デコーダ9と、そして、
ファームウェアを内蔵するリード・オンリー・メモリ
(ROM)10と、インストラクション・デコーダ9の
出力によってセレクタ1へ入力切換を指示するテスト制
御回路8とから構成される。そして、主にデータセパレ
ータ3とシリアル・パラレル変換回路4とが読み出し回
路手段を形成し、ミキサー6とパラレル・シリアル変換
回路7とが書き込み回路手段を形成している。
In FIG. 1, an integrated circuit (disk controller) FDC for writing / reading data to / from a magnetic disk device (not shown) is a selector for switching between read data from the magnetic disk device and test write data output from the mixer 6. 1 and WINDO for separating the clock pulse and the data pulse in the read signal.
A PLL circuit 2 for generating a W signal; a data separator 3 for separating data from a read signal by a WINDOW signal; a serial / parallel conversion circuit 4 for converting the separated data into 8-bit data; Host interface circuit 5 for sending to the bus
A parallel-to-serial conversion circuit 7 for converting the 8-bit data transmitted through the host interface circuit 5 at the time of writing and the test write data at the time of testing into a serial signal, respectively; A mixer 6 for adding a signal to the magnetic disk drive as write data and outputting the write data to the selector 1 as test write data for testing.
An instruction decoder 9 for decoding the read data output from the host interface circuit 5, comparing the read data output with the test write data transmitted by the firmware, and testing whether or not they match, and
It comprises a read-only memory (ROM) 10 containing firmware and a test control circuit 8 for instructing the selector 1 to switch the input by the output of the instruction decoder 9. The data separator 3 and the serial / parallel conversion circuit 4 mainly form read circuit means, and the mixer 6 and the parallel / serial conversion circuit 7 form write circuit means.

【0011】セレクタ1の出力はPLL回路2とデータ
セパレータ3に入力し、PLL回路2の出力するWIN
DOW信号はデータセパレータ3に入力する。データセ
パレータ3はセレクタ1の出力とPLL回路2の出力に
よりクロックとデータの分離をし、シリアル・パラレル
変換回路4にデータを出力する。シリアル・パラレル変
換回路4はデータセパレータ3のシリアルのデータ信号
を8ビット単位のパラレルのデータに変換し、ホストイ
ンターフェース回路5を介して外部制御装置に転送す
る。外部制御装置より磁気ディスク装置に書き込むため
のデータの変換はホストインターフェース回路5を介し
てパラレル・シリアル変換回路7に供給され、シリアル
のデータ信号としてミキサー6に入力される。ミキサー
6はシリアルのデータ入力に対してクロック信号を付加
し、FFDへの書き込み信号として出力する。ファーム
ウェアを内蔵するROM10は制御ファームの部分とテ
ストファームの部分より構成される。ROM10のテス
トファームに設定されている値がテスト用の書き込みデ
ータとして、パラレル・シリアル変換回路7及びインス
トラクション・デコーダ9に入力する。インストラクシ
ョン・デコーダ9の出力はテスト制御回路8に入力され
る。テスト制御回路8の出力はセレクタ1の2つの入力
を切り替える。すなわち、セレクタ1へは磁気ディスク
装置よりの読み出しデータとミキサー6からのテスト用
書き込みデータとが切換わって入力される。
The output of the selector 1 is input to the PLL circuit 2 and the data separator 3, and the WIN output from the PLL circuit 2
The DOW signal is input to the data separator 3. The data separator 3 separates clock and data based on the output of the selector 1 and the output of the PLL circuit 2, and outputs data to the serial / parallel conversion circuit 4. The serial / parallel conversion circuit 4 converts the serial data signal of the data separator 3 into 8-bit parallel data, and transfers the data to an external control device via the host interface circuit 5. Conversion of data to be written to the magnetic disk device from the external control device is supplied to the parallel / serial conversion circuit 7 via the host interface circuit 5 and input to the mixer 6 as a serial data signal. The mixer 6 adds a clock signal to the serial data input and outputs it as a write signal to the FFD. The ROM 10 containing the firmware includes a control firmware portion and a test firmware portion. The value set in the test firmware of the ROM 10 is input to the parallel-serial conversion circuit 7 and the instruction decoder 9 as test write data. The output of the instruction decoder 9 is input to the test control circuit 8. The output of the test control circuit 8 switches between two inputs of the selector 1. That is, read data from the magnetic disk drive and test write data from the mixer 6 are switched and input to the selector 1.

【0012】通常動作においてはセレクタ1は外部のF
DDよりの読み出し信号をPLL回路2及びデータ・セ
パレータ3に入力している。
In normal operation, the selector 1 is connected to the external F
A read signal from the DD is input to the PLL circuit 2 and the data separator 3.

【0013】次に、FDCの自己診断においては、RO
M10のテストファームと制御ファームの内容に従い動
作をする。テストファームによって、インストラクショ
ンデコーダ9及びテスト制御回路8によりセレクタ1が
入力切換えを行うので、FDCはFDC内部でテスト用
の書き込みデータを磁気ディスク装置からの読み出しデ
ータとして処理を行う。すなわち、パラレル・シリアル
変換回路7及びミキサー6よりなる書き込み回路手段
は、通常動作においては外部制御装置からデータを取り
込んで磁気ディスク装置への書き込みデータとして出力
していたが、テスト時にはテストファームに設定されて
いる値をテスト用の書き込みデータとしてセレクタ1へ
送出する。PLL回路2及びデータセパレータ3はこの
テスト用出力データを読み出しデータとして処理を行
い、シリアル・パラレル変換回路4を介してデータを取
り込み、さらにホストインターフェース回路5に出力さ
れる。さらに、ホストインターフェース回路5の出力は
インストラクションデコーダ9でデコードされファーム
ウェアで発信されたテスト用書き込みデータと比較さ
れ、一致しているか否かがテストされる。本参考例によ
れば、自分で出力したテスト用の書き込みデータが読み
出しデータとして受け取ることができれば、FDCの書
き込み回路手段及び読み出し回路手段は正常に動作して
いると判断できる。これらの比較、判断については、制
御ファームの内容に従って制御される。
Next, in the self-diagnosis of FDC, RO
It operates according to the contents of the test firmware and control firmware of M10. Since the selector 1 performs input switching by the instruction decoder 9 and the test control circuit 8 by the test firmware, the FDC processes the write data for test as read data from the magnetic disk device inside the FDC. That is, the write circuit means including the parallel-serial conversion circuit 7 and the mixer 6 fetches data from the external control device and outputs it as write data to the magnetic disk device in the normal operation, but sets it in the test firmware at the time of the test. The value thus set is sent to the selector 1 as test write data. The PLL circuit 2 and the data separator 3 process the output data for test as read data, take in the data via the serial / parallel conversion circuit 4, and output the data to the host interface circuit 5. Further, the output of the host interface circuit 5 is compared with the test write data decoded by the instruction decoder 9 and transmitted by the firmware, and a test is made to see if they match. According to this embodiment, if the test write data output by itself can be received as read data, it can be determined that the write circuit means and read circuit means of the FDC are operating normally. These comparisons and judgments are controlled according to the contents of the control firmware.

【0014】図3は本発明の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the embodiment of the present invention.

【0015】実施例は、参考例の磁気ディスクコントロ
ーラにおいて、さらに、磁気ディスク装置におけるピー
ク・シフトを抑えるため、磁気ディスクコントローラに
おいてはデータ・パターンにより予想されるピーク・シ
フトと逆方向にパルスの位置をずらすための書き込み補
償回路16を持つものである。通常、磁気ディスクコン
トローラにおいて書き込み信号は磁気ディスクコントロ
ーラより出力されるため、周波数変動などのまったくな
いデータが磁気ディスク装置よりの読み出し信号とな
る。これはPLL回路2が変動のある信号に追従してW
INDOW信号を生成するという動作に対しては十分な
テストとならない。本実施例においては、この書き込み
補償回路16により本来磁気ディスクコントローラより
出力される磁気ディスクへの書き込み信号へ変動を付加
することでPLLのテストを行うことができるものであ
る。
In the embodiment, in order to suppress the peak shift in the magnetic disk device in the magnetic disk controller of the reference example, in the magnetic disk controller, the position of the pulse is opposite to the peak shift expected by the data pattern. Is provided with a write compensation circuit 16 for shifting. Normally, in a magnetic disk controller, a write signal is output from a magnetic disk controller, so that data without any frequency fluctuation is a read signal from a magnetic disk device . This is because the PLL circuit 2 follows the fluctuating signal and
This is not a sufficient test for the operation of generating the INDOW signal. In the present embodiment, a PLL test can be performed by adding a variation to the write signal to the magnetic disk originally output from the magnetic disk controller by the write compensation circuit 16.

【0016】[0016]

【発明の効果】本発明の自己診断方式によれば、テスト
においてテスト用の書き込み信号をFDDからの読み出
し信号とするため、FDCの読み出し及び書き込み回路
を同時に外部との信号のやり取りをする事なくテストで
きるととともに、書き込み補償回路により本来磁気ディ
スクコントローラより出力される磁気ディスクへの書き
込み信号へ変動を付加することでPLLのテストを行う
ことができる効果を奏するものである。また、LSIテ
スターにおけるテストにおいても、FDCが自己診断動
作に入るように信号を供給した後は、FDCの診断結果
を待っているだけでよいためテストが非常に簡単に成る
という効果がある。
According to the self-diagnosis method of the present invention, the test write signal is a read signal from the FDD in the test, so that the read and write circuits of the FDC do not exchange signals with the outside at the same time. In addition to being able to perform a test, the PLL can be tested by adding a variation to a write signal to the magnetic disk originally output from the magnetic disk controller by the write compensation circuit. Also, in a test in an LSI tester, after a signal is supplied so that the FDC starts a self-diagnosis operation, it is only necessary to wait for a diagnostic result of the FDC, so that there is an effect that the test becomes very simple.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の参考例の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a reference example of the present invention.

【図2】MFM記録方式の波形図FIG. 2 is a waveform diagram of an MFM recording method.

【図3】本発明の実施例の構成を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図4】従来の実施例の構成を示すブロック図FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a conventional embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 セレクタ 2 PLL回路 3 データ・セパレータ 4 シリアル・パラレル変換回路 5 ホスト・インターフェース回路 6 ミキサー 7 パラレル・シリアル変換回路 8 テスト制御回路 9 インストラクションデコーダ 10 ROM 11 セレクタ 12 PLL回路 13 データ・セパレータ 14 シリアル・パラレル変換回路 15 ホスト・インターフェース回路 16 書き込み補償回路 17 ミキサー 18 パラレル・シリアル変換 19 テスト制御回路 20 インストラクション・デコーダ 21 ROM 22 PLL回路 23 データ・セパレータ 24 シリアル・パラレル変換 25 ホスト・インターフェース回路 26 ミキサー 27 パラレル・シリアル変換 28 ROM Reference Signs List 1 selector 2 PLL circuit 3 data separator 4 serial / parallel conversion circuit 5 host interface circuit 6 mixer 7 parallel / serial conversion circuit 8 test control circuit 9 instruction decoder 10 ROM 11 selector 12 PLL circuit 13 data separator 14 serial / parallel Conversion circuit 15 Host interface circuit 16 Write compensation circuit 17 Mixer 18 Parallel / serial conversion 19 Test control circuit 20 Instruction decoder 21 ROM 22 PLL circuit 23 Data separator 24 Serial / parallel conversion 25 Host interface circuit 26 Mixer 27 Parallel Serial conversion 28 ROM

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 20/18 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G11B 20/18

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 入力したデータから磁気ディスク装置へ
の書き込み信号を生成する書き込み回路手段と、前記磁
気ディスク装置より読み出した信号から出力データを生
成する読み出し回路手段とを有する磁気ディスク制御装
置において、 前記書き込み回路手段からのテスト用書き込みデータに
対して変動を与える書き込み補償回路と、 テスト用書き込みデータを生成する手段と、 テスト時に前記テスト用書き込みデータを前記入力した
データに替えて前記書き込み回路手段を介して前記書き
込み補償回路へ与え前記書き込み補償回路の出力信号
を前記磁気ディスク装置から読み出した信号に替えて前
記読み出し回路手段へ与えるセレクタ手段と、 テスト時に前記読み出し回路手段の前記出力データと前
記テスト用書き込みデータとの一致をチェックする一致
検出手段とを有することを特徴とする磁気ディスク制御
装置の自己診断方式。
1. A magnetic disk control device comprising: write circuit means for generating a write signal to a magnetic disk device from input data; and read circuit means for generating output data from a signal read from the magnetic disk device. The test write data from the write circuit means
A write compensation circuit for providing a change for the means for generating the test write data, via the write circuit means instead of the test write data during the test on the data the input applied to the write compensation circuit, wherein Selector means for providing an output signal of the write compensation circuit to the read circuit means in place of a signal read from the magnetic disk device, and checking whether the output data of the read circuit means matches the test write data during a test. A self-diagnosis method for a magnetic disk control device, comprising: coincidence detection means.
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