JP2877650B2 - 碍子汚損測定方法 - Google Patents
碍子汚損測定方法Info
- Publication number
- JP2877650B2 JP2877650B2 JP5021260A JP2126093A JP2877650B2 JP 2877650 B2 JP2877650 B2 JP 2877650B2 JP 5021260 A JP5021260 A JP 5021260A JP 2126093 A JP2126093 A JP 2126093A JP 2877650 B2 JP2877650 B2 JP 2877650B2
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- Japan
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- insulator
- water
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- measuring
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1245—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of line insulators or spacers, e.g. ceramic overhead line cap insulators; of insulators in HV bushings
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は測定対象となる碍子の表
面の塩分や塵埃等の汚損物を水に溶解させ、その水溶液
の電導率の変化から碍子の表面の等価塩分付着量を自動
的に求める碍子汚損測定方法に関するものである。
面の塩分や塵埃等の汚損物を水に溶解させ、その水溶液
の電導率の変化から碍子の表面の等価塩分付着量を自動
的に求める碍子汚損測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】上記のような碍子汚損の測定方法は、筆
洗い法として従来から知られている。この方法は、定期
的な汚損管理のための日常の汚損測定や、台風などの急
速汚損時の緊急の汚損測定に用いられており、特に後者
の場合には測定の迅速さと正確さが強く求められてい
る。
洗い法として従来から知られている。この方法は、定期
的な汚損管理のための日常の汚損測定や、台風などの急
速汚損時の緊急の汚損測定に用いられており、特に後者
の場合には測定の迅速さと正確さが強く求められてい
る。
【０００３】ところで従来の筆洗い法は、特定のパイロ
ット碍子を使用して行われているために、測定に使用す
べき水量、碍子の測定部位の表面積などは最初から決定
されているのであるが、パイロット碍子以外の実際に使
用されている不特定の碍子について碍子汚損の測定を行
うには、碍子の種別、測定部位、表面積、測定水量等の
パラメータをその都度決定する必要があり、現場におい
て実施することは容易ではなかった。しかもパイロット
碍子を使用する場合であっても、筆洗いの前後の電導率
計の読みや水温等は全て人の手により計算、管理されて
いるため、水温による電導率の補正計算や電導率から等
価塩分付着量への換算に時間がかかるうえに、人為的な
計算ミスが生じ易いという欠点があった。
ット碍子を使用して行われているために、測定に使用す
べき水量、碍子の測定部位の表面積などは最初から決定
されているのであるが、パイロット碍子以外の実際に使
用されている不特定の碍子について碍子汚損の測定を行
うには、碍子の種別、測定部位、表面積、測定水量等の
パラメータをその都度決定する必要があり、現場におい
て実施することは容易ではなかった。しかもパイロット
碍子を使用する場合であっても、筆洗いの前後の電導率
計の読みや水温等は全て人の手により計算、管理されて
いるため、水温による電導率の補正計算や電導率から等
価塩分付着量への換算に時間がかかるうえに、人為的な
計算ミスが生じ易いという欠点があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記した従来
の問題点を解決し、不特定の碍子についても迅速かつ正
確に碍子の表面の等価塩分付着量を求めることができる
碍子汚損測定方法を提供するために完成されたものであ
る。
の問題点を解決し、不特定の碍子についても迅速かつ正
確に碍子の表面の等価塩分付着量を求めることができる
碍子汚損測定方法を提供するために完成されたものであ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになされた本発明は、碍子に付着した汚損物を測定用
容器内の水に溶解させ、その電導度から碍子に付着した
等価塩分付着密度を測定する碍子汚損測定方法におい
て、碍子の種別、測定部位、表面積と測定水量との関係
を予め記憶させた演算処理器にこれらのデータを入力す
ることによって適正な測定水量を求め、求められた量の
水を測定用容器に入れて碍子に付着した汚損物を溶解さ
せ、その水温と電導率とのデータをセンサーによって演
算処理器に取込み、前記測定水量のデータと合わせて温
度補正された等価塩分付着量を自動的に演算、表示させ
ることを特徴とするものである。
めになされた本発明は、碍子に付着した汚損物を測定用
容器内の水に溶解させ、その電導度から碍子に付着した
等価塩分付着密度を測定する碍子汚損測定方法におい
て、碍子の種別、測定部位、表面積と測定水量との関係
を予め記憶させた演算処理器にこれらのデータを入力す
ることによって適正な測定水量を求め、求められた量の
水を測定用容器に入れて碍子に付着した汚損物を溶解さ
せ、その水温と電導率とのデータをセンサーによって演
算処理器に取込み、前記測定水量のデータと合わせて温
度補正された等価塩分付着量を自動的に演算、表示させ
ることを特徴とするものである。
【０００６】以下に本発明を図面を参照しつつ更に詳細
に説明する。図１は本発明の方法により碍子汚損の測定
を行うためのポータブルな測定器の構成を概念的に示す
ブロック図である。図中、１はその内部で測定対象とな
る碍子を筆洗いするための測定用容器、２は測定用容器
１の内部の水の電導率を測定するセンサーである電導率
計、３は水温のセンサーである水温計、４は水位センサ
ーである水位計である。５はこれらの各センサーに接続
された演算処理器であり、例えばマイコン等からなるも
のである。また６はこの演算処理器５の一部であるメモ
リ部、７は外部出力用のインターフェース部であり、こ
のインターフェース部７を介して演算処理器５はパソコ
ンやプリンター等に接続されている。また８は入力部で
ある。
に説明する。図１は本発明の方法により碍子汚損の測定
を行うためのポータブルな測定器の構成を概念的に示す
ブロック図である。図中、１はその内部で測定対象とな
る碍子を筆洗いするための測定用容器、２は測定用容器
１の内部の水の電導率を測定するセンサーである電導率
計、３は水温のセンサーである水温計、４は水位センサ
ーである水位計である。５はこれらの各センサーに接続
された演算処理器であり、例えばマイコン等からなるも
のである。また６はこの演算処理器５の一部であるメモ
リ部、７は外部出力用のインターフェース部であり、こ
のインターフェース部７を介して演算処理器５はパソコ
ンやプリンター等に接続されている。また８は入力部で
ある。
【０００７】次に図２のフローシートを参照しつつ本発
明方法を説明する。まず、碍子の測定部位の表面積Ｓか
ら測定水量Ｑを決定する必要があるが、演算処理器５の
メモリ部６には碍子の種別、測定部位、表面積と測定水
量との関係を予め記憶させてある。その具体的な一例を
表１に示す。
明方法を説明する。まず、碍子の測定部位の表面積Ｓか
ら測定水量Ｑを決定する必要があるが、演算処理器５の
メモリ部６には碍子の種別、測定部位、表面積と測定水
量との関係を予め記憶させてある。その具体的な一例を
表１に示す。
【０００８】
【表１】
【０００９】このため、入力部８から標準碍子について
は碍子の種別及び測定部位を演算処理器５に入力し、そ
の他の碍子については測定対象となる表面積を入力する
ことによって、メモリ部６に記憶させてあるデータ中か
ら測定部位の表面積Ｓとそれに応じた適正な測定水量Ｑ
が求められる。例えば表１の例では、標準長幹碍子につ
いては碍子種別または表面積のみを入力すればよく、標
準懸垂碍子については碍子種別と測定部位または表面積
を入力すればよい。更に任意碍子については初めて入力
したときにそのデータを登録しておき、次回からは標準
長幹碍子あるいは標準懸垂碍子と同様にすることができ
る。なお、実施例のように測定用容器１に水位計４を設
けた場合には、求められた水量Ｑを自動的に管理させる
こともできる。
は碍子の種別及び測定部位を演算処理器５に入力し、そ
の他の碍子については測定対象となる表面積を入力する
ことによって、メモリ部６に記憶させてあるデータ中か
ら測定部位の表面積Ｓとそれに応じた適正な測定水量Ｑ
が求められる。例えば表１の例では、標準長幹碍子につ
いては碍子種別または表面積のみを入力すればよく、標
準懸垂碍子については碍子種別と測定部位または表面積
を入力すればよい。更に任意碍子については初めて入力
したときにそのデータを登録しておき、次回からは標準
長幹碍子あるいは標準懸垂碍子と同様にすることができ
る。なお、実施例のように測定用容器１に水位計４を設
けた場合には、求められた水量Ｑを自動的に管理させる
こともできる。
【００１０】次に、測定前の測定用容器１の内部の水の
電導率Ｄ１を測定する。この測定は電導率計２によって
自動的に行われるが、それと平行して水温計３により水
温Ｔ１の測定が行われる。なお、温度補正機能を内蔵し
た電導率計を用いて電導率と水温を同時に測定してもよ
い。このように水温の測定を必要とするのは、水の電導
率が水温によって変化するため、基準温度（例えば18
℃) の電導率を求めるには温度補正を行う必要があるた
めである。この測定値のメモリ部６への記憶は、測定値
が安定した段階で入力部８から人為的にメモリ指令を与
えることにより行う。演算処理器５はメモリ部６に記憶
させてある水の電導率の変化と水温との関係のデータを
利用して温度補正を行い、温度補正された水の電導率Ｄ
１１に基づいて測定用容器１の内部の水の塩分濃度を演
算し、更に水量Ｑを乗じて塩分量Ｎ１を演算し、記憶す
る。
電導率Ｄ１を測定する。この測定は電導率計２によって
自動的に行われるが、それと平行して水温計３により水
温Ｔ１の測定が行われる。なお、温度補正機能を内蔵し
た電導率計を用いて電導率と水温を同時に測定してもよ
い。このように水温の測定を必要とするのは、水の電導
率が水温によって変化するため、基準温度（例えば18
℃) の電導率を求めるには温度補正を行う必要があるた
めである。この測定値のメモリ部６への記憶は、測定値
が安定した段階で入力部８から人為的にメモリ指令を与
えることにより行う。演算処理器５はメモリ部６に記憶
させてある水の電導率の変化と水温との関係のデータを
利用して温度補正を行い、温度補正された水の電導率Ｄ
１１に基づいて測定用容器１の内部の水の塩分濃度を演
算し、更に水量Ｑを乗じて塩分量Ｎ１を演算し、記憶す
る。
【００１１】次に前記した筆洗い法により、測定用容器
１の内部で測定対象碍子の測定部位を洗浄して付着して
いる汚損物を水に溶解させる。この操作は自動的に行っ
てもあるいは人手によって行ってもよい。その後、前記
と同様の手順で測定後の測定用水槽１の内部の水の電導
率Ｄ２と水温Ｔ２とを測定し、演算処理器５が水温によ
る補正を加えて得られた水の電導率Ｄ２１から塩分量Ｎ
２を演算する。
１の内部で測定対象碍子の測定部位を洗浄して付着して
いる汚損物を水に溶解させる。この操作は自動的に行っ
てもあるいは人手によって行ってもよい。その後、前記
と同様の手順で測定後の測定用水槽１の内部の水の電導
率Ｄ２と水温Ｔ２とを測定し、演算処理器５が水温によ
る補正を加えて得られた水の電導率Ｄ２１から塩分量Ｎ
２を演算する。
【００１２】そして塩分量Ｎ２から塩分量Ｎ１を引き、
測定部位の表面積Ｓで割ることによって等価塩分付着量
を演算し、表示する。なお等価塩分付着量とは、碍子表
面に付着している各種の電解質を等価のNaClに置き換え
て算出した塩分付着量を意味するものである。表示部に
は最終的な演算結果である等価塩分付着量の表示の他、
演算過程で用いられる各種パラメータ、即ち碍子の種
別、測定部位、測定表面積、水量、電導率などをその都
度、あるいは必要に応じて表示するようにしてもよい。
測定部位の表面積Ｓで割ることによって等価塩分付着量
を演算し、表示する。なお等価塩分付着量とは、碍子表
面に付着している各種の電解質を等価のNaClに置き換え
て算出した塩分付着量を意味するものである。表示部に
は最終的な演算結果である等価塩分付着量の表示の他、
演算過程で用いられる各種パラメータ、即ち碍子の種
別、測定部位、測定表面積、水量、電導率などをその都
度、あるいは必要に応じて表示するようにしてもよい。
【００１３】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明の碍子汚
損測定方法は碍子の種別、測定部位、表面積と測定水量
との関係を演算処理器に予め記憶させておき、これらの
データを入力することにより適正な測定水量を直ちに求
めることができるので、現場に設置されている不特定の
碍子についても汚損測定を容易に行うことができる。し
かも表面積、測定水量、測定用水槽内の水の測定前後の
電導率、水温等のデータをセンサーやメモリ部から演算
処理器に取り込むことにより、演算処理器がこれらのデ
ータに基づいて温度補正された等価塩分付着量を自動的
に演算し表示するようにしたので、従来のような人為的
ミスを生ずることなく迅速かつ正確に等価塩分付着量を
求めることができる。
損測定方法は碍子の種別、測定部位、表面積と測定水量
との関係を演算処理器に予め記憶させておき、これらの
データを入力することにより適正な測定水量を直ちに求
めることができるので、現場に設置されている不特定の
碍子についても汚損測定を容易に行うことができる。し
かも表面積、測定水量、測定用水槽内の水の測定前後の
電導率、水温等のデータをセンサーやメモリ部から演算
処理器に取り込むことにより、演算処理器がこれらのデ
ータに基づいて温度補正された等価塩分付着量を自動的
に演算し表示するようにしたので、従来のような人為的
ミスを生ずることなく迅速かつ正確に等価塩分付着量を
求めることができる。
【図１】本発明に使用される汚損測定器の構成を概念的
に示すブロック図である。
に示すブロック図である。
【図２】演算処理部の機能を説明するフローシートであ
る。
る。
１ 測定用容器 ２ 電導率計 ３ 水温計 ４ 水位計 ５ 演算処理器 ６ メモリ部 ７ インターフェース部 ８ 入力部
Claims (1)
- 【請求項１】 碍子に付着した汚損物を測定用容器内の
水に溶解させ、その電導度から碍子に付着した等価塩分
付着密度を測定する碍子汚損測定方法において、碍子の
種別、測定部位、表面積と測定水量との関係を予め記憶
させた演算処理器にこれらのデータを入力することによ
って適正な測定水量を求め、求められた量の水を測定用
容器に入れて碍子に付着した汚損物を溶解させ、その水
温と電導率とのデータをセンサーによって演算処理器に
取込み、前記測定水量のデータと合わせて温度補正され
た等価塩分付着量を自動的に演算、表示させることを特
徴とする碍子汚損測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5021260A JP2877650B2 (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | 碍子汚損測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5021260A JP2877650B2 (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | 碍子汚損測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06235750A JPH06235750A (ja) | 1994-08-23 |
| JP2877650B2 true JP2877650B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=12050133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5021260A Expired - Lifetime JP2877650B2 (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | 碍子汚損測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2877650B2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-09 JP JP5021260A patent/JP2877650B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06235750A (ja) | 1994-08-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990105 |
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