JP2866570B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

Substrate processing equipment

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JP2866570B2
JP2866570B2 JP35331293A JP35331293A JP2866570B2 JP 2866570 B2 JP2866570 B2 JP 2866570B2 JP 35331293 A JP35331293 A JP 35331293A JP 35331293 A JP35331293 A JP 35331293A JP 2866570 B2 JP2866570 B2 JP 2866570B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、基板を支持する支持
具(アーム)を備えた移動体を、回転式基板処理装置を
含む複数の基板処理部間を所定の搬送順序で循環移動さ
せることにより、基板を各基板処理部間で所定の搬送順
序で搬送して処理する基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of circulating a moving body having a support (arm) for supporting a substrate between a plurality of substrate processing units including a rotary substrate processing apparatus in a predetermined transfer order. The present invention relates to a substrate processing apparatus for transporting and processing substrates between respective substrate processing units in a predetermined transport order.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、液晶表示基板や半導体基
板などの精密電子基板(以下、単に「基板」という)の
製造プロセスにおいては、例えば回転式塗布処理部(以
下「スピンコータ」という),回転式現像処理部(以下
「スピンデベロッパ」という),密着強化ユニット,ク
ーリングプレートおよびホットプレートなどを適当に配
置し、基板搬送ロボットなどの基板搬送手段により基板
をそれらの基板処理部間を所定の搬送順序で搬送しつ
つ、それらの処理部に出入れして一連の処理を行う基板
処理装置が使用される。なお、この明細書においては、
スピンコータ,スピンデベロッパ等を個別具体的に説明
する場合には、その名称を用いる一方、それらを一般的
・画一的に説明する場合には、「基板処理部」と称する
こととする。
2. Description of the Related Art As is well known, in a manufacturing process of a precision electronic substrate (hereinafter, simply referred to as "substrate") such as a liquid crystal display substrate or a semiconductor substrate, for example, a rotary coating processing section (hereinafter, referred to as "spin coater"), A rotary developing unit (hereinafter referred to as "spin developer"), an adhesion strengthening unit, a cooling plate, a hot plate, and the like are appropriately arranged, and a substrate is transferred between the substrate processing units by a substrate transfer means such as a substrate transfer robot. A substrate processing apparatus is used which carries out a series of processes while moving in and out of the processing units while being transported in the transport order. In this specification,
When the spin coater, the spin developer, and the like are individually and specifically described, their names are used, and when they are generally and uniformly described, they are referred to as “substrate processing units”.

【0003】この基板処理装置では、各基板処理部が所
定の時間をかけて基板に対して処理を行うことを前提と
しており、その仮定下で、装置全体の時間管理を行って
いる。すなわち、ある基板処理部での処理を受けた基板
を次の基板処理部に搬送する場合、次の基板処理部の動
作が完了することを待たずに、所定時間経過すると基板
処理部での基板処理が完了しているという前提で基板搬
送を行うようにしている。
[0003] In this substrate processing apparatus, it is assumed that each substrate processing section performs processing on a substrate over a predetermined time, and under this assumption, time management of the entire apparatus is performed. That is, when a substrate that has been processed by a certain substrate processing unit is transported to the next substrate processing unit, the substrate processing unit does not wait for the operation of the next substrate processing unit to be completed, and after a predetermined time elapses, the substrate processing unit The substrate is transported on the assumption that the processing is completed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記基板処
理装置において、基板搬送を行うとき、スピンコータ,
スピンデベロッパ,密着強化ユニットなどの配置に応じ
て、各基板処理部間の移動に要する理論時間がそれぞれ
異なる。例えば、後述するように基板処理部を配置した
場合(図1を参照)には、密着強化ユニットAHからク
ーリングプレートCP1への理論移動時間TMIN が最も
短くなる一方、ホットプレートHP1からインデクサー
IDへの理論移動時間TMAX が最長となる。
In the above substrate processing apparatus, when a substrate is transferred, a spin coater,
The theoretical time required for movement between the substrate processing units differs depending on the arrangement of the spin developer, the adhesion enhancing unit, and the like. For example, when the substrate processing unit is arranged as described later (see FIG. 1), the theoretical movement time TMIN from the adhesion strengthening unit AH to the cooling plate CP1 is the shortest, while the theoretical movement time TMIN from the hot plate HP1 to the indexer ID is reduced. The theoretical movement time TMAX becomes the longest.

【0005】そこで、従来の基板処理装置では、各基板
処理部間の移動時間Tを、どの基板処理部からどの基板
処理部への搬送についても、最長の移動時間(上記の場
合には、移動時間TMAX )だけ確保するように統一して
搬送の制御を簡素なものにするとともに、基板搬送手段
により基板を所定の搬送順序で循環搬送するときにおけ
る、基板搬送手段がある基板処理部へ基板を受け渡しす
る周期(以下、搬送インターバルと称す)を一定にする
ことにより、各基板処理部での処理時間や処理履歴が連
続して処理される複数の基板間でばらつくことのないよ
うにしている。
Therefore, in the conventional substrate processing apparatus, the transfer time T between the substrate processing units is set to the longest transfer time (transfer from any one of the substrate processing units to any one of the substrate processing units). The transfer is simplified by unifying so that only the time TMAX) is secured, and the substrate is transported to the substrate processing unit where the substrate transporter is located when the substrate is transported in a predetermined transport order by the substrate transporter. By making the transfer cycle (hereinafter, referred to as a transport interval) constant, the processing time and processing history in each substrate processing unit do not vary among a plurality of substrates that are continuously processed.

【0006】しかしながら、ある基板処理部から次の基
板処理部に移動するのに要する理論上の移動時間T´が
設定移動時間T(最長移動時間TMAX )より短い場合に
は、時間T´かけて次の基板処理部の前に到着した後、
その場所で時間(T−T´)だけ待機する。この待機時
間の間、たとえ基板処理部が空いていたとしても、その
基板処理部による基板処理を行うことができず、スルー
プットの低下の原因となっていた。
However, if the theoretical moving time T 'required to move from one substrate processing unit to the next substrate processing unit is shorter than the set moving time T (the longest moving time TMAX), it takes time T'. After arriving before the next substrate processing section,
It waits for the time (T-T ') at that location. During this standby time, even if the substrate processing unit is vacant, the substrate processing by the substrate processing unit cannot be performed, causing a decrease in throughput.

【0007】この発明は、上記の問題を解決するために
なされたものであり、任意の基板処理部から次の基板処
理部への移動時間を適切に設定し、各基板処理部への搬
送インターバルを一定に保ちながら、スループットの向
上を図ることができる基板処理装置を提供することを目
的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and appropriately sets a moving time from an arbitrary substrate processing unit to the next substrate processing unit, and sets a transfer interval to each substrate processing unit. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of improving the throughput while maintaining the constant.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明は、基板を支持
する支持具を備えた移動体を、回転式基板処理装置を含
む複数の基板処理部間を所定の搬送順序で循環移動させ
ることにより、基板を各基板処理部間で所定の搬送順序
で搬送して処理する基板処理装置であって、上記目的を
達成するため、互いに異なる方向に前記移動体を移動さ
せる複数の駆動機構からなり、少なくとも1つ以上の駆
動機構を駆動して、移動体を各基板処理部ごとの移動体
停止位置の間で移動させる移動手段と、移動体に対して
支持具を移動させることによって、前記移動体停止位置
に停止の移動体における所定の支持具待機位置と基板処
理部との間で、基板を相互に移載させる移載手段と、前
記移動体を、前記移動手段により前記搬送順序にしたが
って、前記基板処理部のうちの任意の基板処理部の移動
体停止位置から次の基板処理部の移動体停止位置に移動
させるのに要する、前記異なる方向に対応した駆動機構
ごとの所要駆動時間を記憶する駆動時間記憶手段と、前
記搬送順序により規定された所定の基板処理部から次の
基板処理部への基板搬送の各々に対応して、前記駆動時
間記憶手段に記憶された当該基板搬送に対応する前記駆
動機構ごとの所要駆動時間を読みだして、当該基板搬送
時に1つの駆動機構のみを駆動する場合にはその所要駆
動時間を、2つ以上の駆動機構を同時に駆動する場合に
はそれらの所要駆動時間のうちの最大の所要駆動時間
を、当該基板搬送における移動体の所要移動時間として
算出する算出手段と、前記搬送順序により規定された所
定の基板処理部から次の基板処理部への基板の各搬送時
間が、前記算出手段により算出された所要移動時間と、
前記移載手段による移載に要する時間との和となるよう
に前記移動手段を制御する制御手段と、を備えている。
According to the present invention, a moving body provided with a support for supporting a substrate is circulated and moved between a plurality of substrate processing units including a rotary substrate processing apparatus in a predetermined transfer order. A substrate processing apparatus that transports and processes a substrate in a predetermined transport order between respective substrate processing units, and includes a plurality of drive mechanisms that move the moving body in different directions from each other to achieve the above object. Moving means for driving at least one or more driving mechanisms to move the moving body between moving body stop positions for each of the substrate processing units; and A transfer unit that transfers substrates to each other between a predetermined support stand-by position and a substrate processing unit in the moving body that is stopped at the stop position, and the moving body, according to the transfer order by the moving unit, The substrate processing Drive time for storing the required drive time for each drive mechanism corresponding to the different direction required to move from the moving body stop position of any substrate processing unit to the next moving body stop position of the substrate processing unit Storage means, and the drive corresponding to the substrate transfer stored in the drive time storage means corresponding to each substrate transfer from a predetermined substrate processing unit to the next substrate processing unit defined by the transfer order. Read out the required drive time for each mechanism and transfer the board
Sometimes when only one drive mechanism is driven,
Operating time when driving two or more drive mechanisms simultaneously.
Is the maximum required driving time of those required driving times
And a calculating means for calculating a required travel time of the moving object in the substrate transport, the transport time of the substrate from the predetermined substrate processing part defined by said transport order to the next substrate processing unit, by the calculation means The calculated travel time,
And control means for controlling the moving means so as to be the sum of the time required for transfer by the transferring means.

【0009】[0009]

【作用】この発明では、移動体を、移動手段により搬送
順序にしたがって、任意の基板処理部の移動体停止位置
から次の基板処理部の移動体停止位置に移動させるのに
要する、異なる方向に対応した駆動機構ごとの所要駆動
時間が駆動時間記憶手段に記憶される。そして、搬送順
序により規定された所定の基板処理部から次の基板処理
部に基板の搬送を行う際に、その搬送に応じて、前記駆
動時間記憶手段に記憶された前記駆動機構ごとの所要駆
動時間が読み出され、その搬送時に1つの駆動機構のみ
を駆動する場合にはその所要駆動時間が、2つ以上の駆
動機構を同時に駆動する場合にはそれらの所要駆動時間
のうちの最大の所要駆動時間が当該基板搬送における移
動体の所要移動時間として算出される。さらに、前記搬
送順序により規定された所定の基板処理部から次の基板
処理部への基板の各搬送時間が、前記算出手段により算
出された所要移動時間と、前記移載手段による移載に要
する時間との和となるように前記移動手段が制御され
て、基板が搬送される。
According to the present invention, in a different direction required for moving a moving body from a moving body stopping position of an arbitrary substrate processing section to a moving body stopping position of the next substrate processing section in accordance with a transfer order by moving means. The required drive time for each corresponding drive mechanism is stored in the drive time storage means. When a substrate is transferred from a predetermined substrate processing unit defined by a transfer order to a next substrate processing unit, a required drive for each of the drive mechanisms stored in the drive time storage unit is performed according to the transfer. Time is read out and only one drive mechanism is used during transport
Drive time, the required drive time is two or more drives.
If the driving mechanisms are driven simultaneously, their required driving time
Maximum required driving time of the is calculated as the required moving time of the moving object in the substrate transfer. Further, each transfer time of the substrate from the predetermined substrate processing unit to the next substrate processing unit defined by the transfer order is required for the required movement time calculated by the calculation unit and the transfer by the transfer unit. The moving means is controlled so as to be a sum of time and the substrate is transported.

【0010】[0010]

【実施例】【Example】

A.基板処理装置の構成 A. Configuration of substrate processing equipment

【0011】図1は、この発明にかかる基板処理装置の
一例を示す斜視図である。同図および以下の各図におい
ては、床面に平行な水平面をY−θ面とし、鉛直方向を
Z方向とする3次元座標系Y−Z−θが定義されてお
り、Y−θ面内でX方向が角度θにより定義されてい
る。また、図2は、図1の基板処理装置のブロック図で
ある。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a substrate processing apparatus according to the present invention. In this figure and the following figures, a three-dimensional coordinate system YZ-θ is defined in which a horizontal plane parallel to the floor surface is defined as a Y-θ plane and a vertical direction is defined as a Z direction. And the X direction is defined by the angle θ. FIG. 2 is a block diagram of the substrate processing apparatus of FIG.

【0012】この基板処理装置は、基板10に一連の処
理(この実施例では塗布処理,現像処理,密着強化処
理,加熱処理,冷却処理)を行うための装置であり、塗
布処理を行うためのスピンコータSC,現像処理を行う
ためのスピンデベロッパSD1,SD2 がY方向にこの
順序で配列され、基板処理列Aが設けられている。
This substrate processing apparatus is an apparatus for performing a series of processing (coating processing, developing processing, adhesion strengthening processing, heating processing, and cooling processing) on the substrate 10, and for performing the coating processing. A spin coater SC and spin developers SD1 and SD2 for performing development processing are arranged in this order in the Y direction, and a substrate processing row A is provided.

【0013】また、この装置には、基板処理列Aに沿っ
てY方向に伸びる搬送領域Bが設けられており、この搬
送領域Bに搬送ロボットRBが移動自在に配置されてい
る。なお、この搬送ロボットRBの構成および動作につ
いては後述する。
The apparatus has a transfer area B extending in the Y direction along the substrate processing row A, and a transfer robot RB is movably disposed in the transfer area B. The configuration and operation of the transfer robot RB will be described later.

【0014】そして、基板処理列Aおよび搬送領域Bの
一側端部には、基板10の搬入および搬出を行うインデ
クサーIDが設けられており、インデクサーIDに設け
られた移載ロボット40により、カセット30から基板
10を取り出し、搬送ロボットRBに送り出したり、逆
に一連の処理が施された基板10を搬送ロボットRBか
ら受け取り、カセット30に戻すようになっている。な
お、図1への図示が省略されているが、基板処理列Aお
よび搬送領域Bの他方側端部には、基板10を他の基板
処理装置との間で受け渡しするインターフェースユニッ
トIFが設けられており、移載ロボット50(図2)に
より搬送ロボットRBと協働して基板10の受渡し処理
を行う。
An indexer ID for loading and unloading the substrate 10 is provided at one end of the substrate processing row A and the transfer area B, and the transfer robot 40 provided for the indexer ID causes a cassette The substrate 10 is taken out of the transfer robot 30 and sent out to the transfer robot RB. On the contrary, the substrate 10 subjected to a series of processes is received from the transfer robot RB and returned to the cassette 30. Although not shown in FIG. 1, an interface unit IF for transferring the substrate 10 to and from another substrate processing apparatus is provided at the other end of the substrate processing row A and the transfer area B. The transfer process of the substrate 10 is performed by the transfer robot 50 (FIG. 2) in cooperation with the transfer robot RB.

【0015】さらに、図1に示すように、搬送ロボット
RBの移動範囲に沿ってクーリングプレートCP1 〜C
P3 ,ホットプレートHP1 〜HP6 および密着強化ユ
ニットAHがYおよびZ方向に2次元的に配置されてい
る。
Further, as shown in FIG. 1, the cooling plates CP1 to CP1 are moved along the moving range of the transfer robot RB.
P3, hot plates HP1 to HP6 and an adhesion strengthening unit AH are two-dimensionally arranged in the Y and Z directions.

【0016】なお、図2において、符号60は演算部や
メモリを備えたコントローラであり、ディスプレイ61
およびキーボード62が接続されるとともに、基板処理
部との間で通信可能となっており、キーボード62によ
り与えられるデータ等に基づき、後述する処理を行い、
搬送ロボットRBを制御する。
In FIG. 2, reference numeral 60 denotes a controller provided with an operation unit and a memory.
And the keyboard 62 are connected, and can communicate with the substrate processing unit. Based on data and the like provided by the keyboard 62, a process described later is performed,
Controls the transfer robot RB.

【0017】次に、搬送ロボットRBの構成について説
明する。図3は、搬送ロボットRBを上方よりみた平面
図である。図1および図3に示すように、この搬送ロボ
ットRBは、基板10を支持する2本のアーム21,2
2を備えた移動体20を有しており、アーム駆動機構
(図示省略)によりアーム21,22がそれぞれ独立し
て支持具待機位置(図3のアーム21の位置)と各基板
処理部内の基板受渡位置(図3のアーム22の位置)と
の間で進退移動可能となっている。これらのアーム2
1,22は通常上下方向(Z方向)に重なっているが、
基板10の受渡しを行う際には、一方のアーム、例えば
図3に示すようにアーム22が進退移動するようになっ
ている。
Next, the configuration of the transfer robot RB will be described. FIG. 3 is a plan view of the transfer robot RB as viewed from above. As shown in FIGS. 1 and 3, the transfer robot RB includes two arms 21 and
The arm 21 and the arm 22 independently of each other by the arm driving mechanism (not shown) and the support member standby position (the position of the arm 21 in FIG. 3) and the substrate in each substrate processing unit. It can move back and forth between the delivery position (the position of the arm 22 in FIG. 3). These arms 2
Although 1 and 22 usually overlap in the vertical direction (Z direction),
When the substrate 10 is delivered, one arm, for example, the arm 22 moves forward and backward as shown in FIG.

【0018】また、図示を省略しているが、この移動体
20には、Y方向に駆動するY移動機構と、Z方向に駆
動するZ駆動機構と、図3の紙面に対し垂直方向に伸び
る回転軸23回りに回転駆動するθ駆動機構とが連結さ
れており、それらの駆動機構を制御することにより、移
動体20を各基板処理部の前に移動させて、基板10の
受渡しを可能としている。なお、以下の説明の便宜か
ら、この位置を「移動体停止位置」と称する。また、各
基板処理部の配置関係および各基板処理部に対応する移
動体停止位置を明確にするため、図4に示すように、各
基板処理部をY,Z,θ座標からなる座標(Y,Z,
θ)で表示する。同図において、スピンコータSCを原
点とし、移動体20が一単位だけY方向に移動すると、
スピンデベロッパSD1 との間で基板10の受渡しが可
能となる。また、クーリングプレートCP1 〜CP3 は
インデクサーID,スピンコータSC,スピンデベロッ
パSD1 ,SD2 と同一高さ、つまりZ座標がゼロとな
っており、それらのクーリングプレートCP1 〜CP3
上に密着強化ユニットAH,ホットプレートHP1 〜H
P6 が同図に示す配置関係で積層されている。さらに、
θ座標は移動体20からみて進退するアーム21,22
の進出方向(X方向)がどの方向に向いているかを示す
ものであり、「0」のとき、Z方向からみてY方向から
時計回りに90°回転した方向を向いており、スピンコ
ータSC,スピンデベロッパSD1 ,SD2 側に進退可
能となっており、「1」はZ方向からみてY方向から時
計回りに180°回転した向きを示すものであり、イン
デクサーID側に進退可能となっており、「2」はZ方
向からみてY方向から時計回りに270°回転した向き
を示すものであり、クーリングプレートCP1 〜CP3
側に進退可能となっており、「3」はZ方向からみてY
方向と同じ向きを示すものであり、インターフェースユ
ニットIF側に進退可能となっている。
Although not shown, the moving body 20 has a Y moving mechanism for driving in the Y direction, a Z driving mechanism for driving in the Z direction, and extends in a direction perpendicular to the plane of FIG. A θ drive mechanism that rotates around the rotation axis 23 is connected, and by controlling those drive mechanisms, the moving body 20 is moved in front of each substrate processing unit, and the transfer of the substrate 10 is enabled. I have. In addition, for convenience of the following description, this position is referred to as a “mobile body stop position”. In addition, in order to clarify the arrangement relation of each substrate processing unit and the moving object stop position corresponding to each substrate processing unit, as shown in FIG. 4, each substrate processing unit is defined by coordinates (Y, Z, θ). , Z,
θ). In the figure, when the moving body 20 moves in the Y direction by one unit with the spin coater SC as the origin,
The transfer of the substrate 10 to and from the spin developer SD1 becomes possible. The cooling plates CP1 to CP3 have the same height as the indexer ID, the spin coater SC, and the spin developers SD1 and SD2, that is, the Z coordinate is zero.
Attached reinforcement unit AH, hot plate HP1 to H
P6 are stacked in the arrangement shown in FIG. further,
The θ coordinates indicate the arms 21 and 22 that move forward and backward when viewed from the moving body 20.
Indicates the direction in which the forward direction (X direction) is directed. When "0", the direction is 90 ° clockwise rotated from the Y direction as viewed from the Z direction. It is possible to move forward and backward to the developers SD1 and SD2, and "1" indicates a direction rotated 180 degrees clockwise from the Y direction when viewed from the Z direction, and it is possible to advance and retreat to the indexer ID side. "2" indicates a direction rotated 270 ° clockwise from the Y direction as viewed from the Z direction, and the cooling plates CP1 to CP3
"3" is Y when viewed from the Z direction.
It indicates the same direction as the direction, and can move back and forth to the interface unit IF side.

【0019】B.基板処理装置の動作B. Operation of substrate processing equipment

【0020】図5は、この発明にかかる基板処理装置の
動作を示すフローチャートである。以下、このフローチ
ャートを参照しつつ、基板10の搬送手順を中心に装置
の動作について説明する。
FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the substrate processing apparatus according to the present invention. Hereinafter, the operation of the apparatus will be described focusing on the procedure for transporting the substrate 10 with reference to this flowchart.

【0021】まず、オペレータが装置を構成する各基板
処理部の配置に関する情報(図4に示す座標;ユニット
構成情報)をキーボード62を介して入力する(ステッ
プS1)。なお、入力された情報は、コントローラ60
のメモリ(図示省略)に記憶される。
First, the operator inputs information (the coordinates shown in FIG. 4; unit configuration information) relating to the arrangement of each substrate processing unit constituting the apparatus through the keyboard 62 (step S1). The input information is stored in the controller 60.
(Not shown).

【0022】次に、ステップS2で、基板10を搬送す
る順序、つまり搬送順序を入力する。ここでは、理解容
易のため、表1の「ウエハフロー」の欄に示す行程を入
力したものとして仮定する。
Next, in step S2, the order in which the substrates 10 are transferred, that is, the transfer order, is input. Here, for the sake of easy understanding, it is assumed that the process shown in the column of “wafer flow” in Table 1 has been input.

【0023】[0023]

【表1】 [Table 1]

【0024】なお、同表の「ウエハフロー」の欄におい
て、分岐部分(例えばスピンコータSCからホットプレ
ートHP3 ,HP4 への搬送)があるが、これはホット
プレートによる加熱処理を並行処理を行うためである。
In the "Wafer Flow" column of the table, there is a branch portion (for example, transfer from the spin coater SC to the hot plates HP3 and HP4), because the heating process by the hot plate is performed in parallel. is there.

【0025】次に、ステップS3で、搬送順序に基づ
き、各行程間での搬送時間をコントローラ60に内蔵さ
れた演算部で計算し、その結果をメモリに記憶する。具
体的には、まずインデクサーIDの座標(0,0,1)
と密着強化ユニットAHの座標(0,,2)との差の
絶対値をY,Z,θ座標ごとに求め、時間T1 をかけ
て、Y,Z,θ方向の駆動時間を求める(表1の「各軸
駆動時間」の欄を参照)。ここで、時間T1 はY,Z,
θ方向に移動体20を一単位だけ移動させるのに要する
時間である。そして、それらの駆動時間のうち最大の値
(”T1 ”)を移動時間として求め、搬送ロボットRB
との間での基板10の受渡しに要する移載時間T2 を加
えて、その結果(T2 +T1 )をインデクサーIDから
密着強化ユニットAHへの移動行程における搬送時間と
してメモリに記憶する。なお、ここで、時間T2 は、ア
ーム21、22のX方向への進退移動による移載作業時
間である。具体的には、空いているいずれかのアームが
インデクサーIDから新たな基板を受け取り、そして、
他方のアームがすでに保持している処理済み基板をイン
デクサーIDに対して渡す作業に要する時間と、密着強
化ユニットAHの移動体停止位置への移動体20の移動
後に、さきに処理済み基板をインデクサーIDに渡して
空いたアームが密着強化ユニットAHから基板を受け取
り、そして他方のアームがさきに受け取った新たな基板
を密着強化ユニットAHに対して渡す作業とに要する時
間との和の半分である。この実施例では、それぞれの作
業に要する時間と等しくT2 であると設定し、1回の移
動に伴う移載について、その移動の直前に行われる移載
の時間T2 のみを移載時間として考えることとする。な
お、これらT2 やT1 は、装置に固有の数値として、あ
らかじめコントローラ60のメモリに記憶されている。
Next, in step S3, the transport time between each step is calculated by an arithmetic unit built in the controller 60 based on the transport order, and the result is stored in a memory. Specifically, first, the coordinates (0, 0, 1) of the indexer ID
The absolute value of the difference between the coordinates (0, 1 , 2) of the adhesion strengthening unit AH and the coordinates (0, 1 , 2) is obtained for each of the Y, Z, and θ coordinates. 1 (see "Each axis drive time"). Here, the time T1 is Y, Z,
This is the time required to move the moving body 20 by one unit in the θ direction. Then, the maximum value ("T1") of the driving times is obtained as the moving time, and the transfer robot RB is determined.
Is added to the transfer time T2 required for the transfer of the substrate 10, and the result (T2 + T1) is stored in the memory as the transfer time in the movement process from the indexer ID to the adhesion strengthening unit AH. Here, the time T2 is a transfer work time due to the forward and backward movement of the arms 21 and 22 in the X direction. Specifically, one of the free arms receives a new substrate from the indexer ID, and
The time required to pass the processed substrate already held by the other arm to the indexer ID and the movement of the moving body 20 to the moving body stop position of the adhesion strengthening unit AH before the processed substrate is indexed. This is half the sum of the time required for the arm vacated to the ID to receive the substrate from the adhesion enhancement unit AH and for the other arm to pass the new substrate received earlier to the adhesion enhancement unit AH. . In this embodiment, it is assumed that T2 is set to be equal to the time required for each operation, and only the time T2 of the transfer performed immediately before the transfer is considered as the transfer time for the transfer associated with one transfer. And These T2 and T1 are stored in the memory of the controller 60 in advance as numerical values unique to the apparatus.

【0026】それに続いて、上記と同様にして、残りの
搬送行程における搬送時間を順序算出し、メモリに記憶
する。こうして、表1の「各処理部間の搬送時間」の欄
に示されるように、各基板処理部間での搬送時間に関す
るデータがコントローラ60のメモリに記憶される。な
お、表1においてカッコ書で示したデータは「ウエハフ
ロー」の欄の*印で示した搬送順序で基板10を搬送す
るときのデータを示している。
Subsequently, in the same manner as described above, the transport time in the remaining transport steps is calculated in order and stored in the memory. In this manner, as shown in the column “Transfer time between processing units” in Table 1, data on the transfer time between the substrate processing units is stored in the memory of the controller 60. Note that the data shown in parentheses in Table 1 indicates data when the substrates 10 are transferred in the transfer order indicated by * in the column of “Wafer flow”.

【0027】次に、ステップS4で装置スタートの指令
が与えられると、インデクサーIDから密着強化ユニッ
トAHへの搬送時間(T2 +T1 )を読み出し、コント
ローラ60のタイマー(図示省略)にセットする(ステ
ップS5)。そして、ステップS6で、コントローラ6
0から搬送ロボットRBに、密着強化ユニットAHに移
動する旨の指令を与え、インデクサーIDから密着強化
ユニットAHへの基板10の搬送を開始する。
Next, when an apparatus start command is given in step S4, the transport time (T2 + T1) to the adhesion strengthening unit AH is read out from the indexer ID and set to a timer (not shown) of the controller 60 (step S5). ). Then, in step S6, the controller 6
From 0, a command to move to the adhesion strengthening unit AH is given to the transfer robot RB, and the transfer of the substrate 10 from the indexer ID to the adhesion strengthening unit AH is started.

【0028】その指令を受けた搬送ロボットRBは、図
6に示すように、まず時間T2 かけてインデクサーID
との間で基板10の移載を行う。それに続いて、時間T
1 かけて移動体20をZ方向に上昇させるとともに、そ
れと同時に、同じ時間T1 の間にθ方向に90゜回転さ
せてアーム21,22を密着強化ユニットAH側に向け
る移動を行い、密着強化ユニットAHとの間での基板1
0の移載が可能な状態にする。
As shown in FIG. 6, the transfer robot RB that has received the command first takes the indexer ID over time T2.
The transfer of the substrate 10 is performed. Subsequently, time T
1 to raise the moving body 20 in the Z direction, and at the same time, rotate the arms 21 and 22 toward the adhesion strengthening unit AH by rotating 90 degrees in the θ direction during the same time T1. Substrate 1 with AH
A state where transfer of 0 is possible is performed.

【0029】次に、ステップS7で設定時間が経過した
と判別されると、次のステップS8に移り、密着強化ユ
ニットAHからクーリングプレートCP1 への搬送時間
(T2 +T1 )を読み出し、上記と同様にして、密着強
化ユニットAHからクーリングプレートCP1 への基板
10の搬送を行う。
Next, when it is determined in step S7 that the set time has elapsed, the flow proceeds to the next step S8, in which the transport time (T2 + T1) from the adhesion strengthening unit AH to the cooling plate CP1 is read out, and the same as above. Then, the substrate 10 is transferred from the adhesion strengthening unit AH to the cooling plate CP1.

【0030】このような一連の処理が行われ、ステップ
S9で”YES”と判別される、つまりホットプレート
HP1 (あるいはHP2 )からインデクサーIDへの基
板10の搬送が完了した判別されると、ステップS10
で1カセット分の基板10について一連の基板処理が行
われたか否かを判別し、”NO”と判別された場合に
は、ステップS5に戻り、一連の処理が繰り返される一
方、”YES”と判別されると、処理を完了する。
When such a series of processing is performed and "YES" is determined in step S9, that is, when it is determined that the transfer of the substrate 10 from the hot plate HP1 (or HP2) to the indexer ID is completed, step S9 is performed. S10
It is determined whether or not a series of substrate processing has been performed on the substrates 10 for one cassette, and if "NO" is determined, the process returns to step S5 and the series of processing is repeated, while "YES" is determined. If it is determined, the process is completed.

【0031】以上のように、この実施例では、各基板処
理部間での搬送時間(表1の「各処理部間の搬送時間」
の欄の値)をそれぞれ算出し、メモリに記憶しておき、
各基板処理部間を対応する搬送時間で搬送するようにし
ているため、各基板処理部間を最長移動時間で移動して
搬送していた従来例に比べて、より短時間で基板10を
搬送することができる。また、図6からわかるように、
並列処理を行うホットプレートHP1 〜HP6 などを除
いたその他の基板処理部では、一定の搬送インターバ
ル、つまり処理可能時間(21・T1 +11・T2 )を
確保し、その時間内で処理を行うことができるようにな
っている。
As described above, in this embodiment, the transfer time between the respective substrate processing units (“the transfer time between the respective processing units” in Table 1)
) Are calculated, stored in the memory,
Since the substrate is transported between the substrate processing units in the corresponding transport time, the substrate 10 is transported in a shorter time than the conventional example in which the substrate is transported between the substrate processing units with the longest movement time. can do. Also, as can be seen from FIG.
In the other substrate processing units except for the hot plates HP1 to HP6 for performing the parallel processing, it is possible to secure a certain transport interval, that is, a processable time (21 · T1 + 11 · T2), and perform the processing within that time. I can do it.

【0032】ここで、例えば従来の装置において同一の
手順で基板10を処理する場合と比較しながら、この実
施例の効果について説明する。従来の装置では、表1お
よび図7に示すように、各基板処理部間の移動時間を最
長移動時間、つまり時間(T2 +3・T1 )に統一して
いるため、搬送インターバルは時間(33・T1 +11
・T2 )にもなり、不必要に長くなってしまうのに対
し、この実施例によれば、上記のように無駄な移動時間
(12・T1 )を省くことができ、各基板処理部につい
ての搬送インターバルを一定に保ちながら、スループッ
トの向上を図ることができる。
Here, the effect of this embodiment will be described, for example, in comparison with the case where the substrate 10 is processed in the same procedure in a conventional apparatus. In the conventional apparatus, as shown in Table 1 and FIG. 7, the transfer time between the substrate processing units is unified to the longest transfer time, that is, the time (T2 + 3 · T1). T1 +11
T2), which is unnecessarily long. On the other hand, according to this embodiment, the useless moving time (12.T1) can be omitted as described above, and The throughput can be improved while keeping the transport interval constant.

【0033】また、本実施例では、ホットプレートHP
5 とHP6 のように、前の段階の基板処理部(この場合
はインターフェースユニットIF)からの搬送のための
移動時間が異なっている基板処理部を並列処理に使用し
ているが、本実施例では、異なっている移動時間のうち
長い方の時間をその搬送における移動時間として採用し
て搬送時間を算出しているので、そのいずれのホットプ
レートで処理される基板も熱履歴を同一に処理すること
ができる。なお、短い移動時間ですむ基板処理部(この
場合はホットプレートHP6 )へ基板を搬送する場合に
は、移動体20がその基板処理部の移動体停止位置へ到
着後、前述した長い方の移動時間が経過するまで待機す
ることになる。
In this embodiment, the hot plate HP
5 and HP6, the substrate processing units having different transfer times for transport from the substrate processing unit in the previous stage (in this case, the interface unit IF) are used for parallel processing. Then, the transfer time is calculated by adopting the longer one of the different transfer times as the transfer time in the transfer, so that the substrate processed by any of the hot plates processes the same heat history. be able to. When the substrate is transported to the substrate processing unit (the hot plate HP6 in this case) which requires only a short moving time, the moving body 20 arrives at the moving body stop position of the substrate processing unit, and then moves to the above-described longer one. It will wait until the time has elapsed.

【0034】なお、上記実施例では、表1の「ウエハフ
ロー」の欄に示した手順で基板10を搬送し、所定の処
理を行う場合について説明したが、この発明は、上記の
場合に限定されるものではなく、任意の手順に対応する
ことができる。また、装置を構成する基板処理部の配置
関係についても、上記実施例のそれ(図4)に限定され
るものではなく、任意である。また本実施例では、説明
の簡単のため、移動体20のY,Z,θ方向の一単位の
移動に要する駆動時間を全ての方向について等しくT1
であるとしたが、それらは必ずしも等しくなくてもよ
く、またT2 についても、基板処理部ごとに異なってい
てもよい。
In the above embodiment, the case where the substrate 10 is transported in accordance with the procedure shown in the column of "wafer flow" in Table 1 and the predetermined processing is performed has been described. However, the present invention is limited to the above case. Instead, it can correspond to an arbitrary procedure. Further, the arrangement relationship of the substrate processing units constituting the apparatus is not limited to that of the above-described embodiment (FIG. 4), but is arbitrary. In this embodiment, for the sake of simplicity, the driving time required for moving the moving body 20 by one unit in the Y, Z, and θ directions is equal to T1 in all directions.
However, they are not necessarily equal, and T2 may be different for each substrate processing unit.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、移動
体を、移動手段により搬送順序にしたがって、任意の基
板処理部の移動体停止位置から次の基板処理部の移動体
停止位置に移動させるのに要する、異なる方向に対応し
た駆動機構ごとの所要駆動時間を駆動時間記憶手段に記
憶する。そして、搬送順序により規定された所定の基板
処理部から次の基板処理部に基板の搬送を行う際に、そ
の搬送に応じて、前記駆動時間記憶手段に記憶された前
記駆動機構ごとの所要駆動時間を読み出し、その搬送時
に1つの駆動機構のみを駆動する場合にはその所要駆動
時間を、2つ以上の駆動機構を同時に駆動する場合には
それらの所要駆動時間のうちの最大の所要駆動時間を当
該基板搬送における移動体の所要移動時間として算出す
る。さらに、前記搬送順序により規定された所定の基板
処理部から次の基板処理部への基板の各搬送時間を、前
記算出手段により算出された所要移動時間と、前記移載
手段による移載に要する時間との和となるように前記移
動手段を制御しながら、基板を搬送する。このため、任
意の基板処理部から次の基板処理部への移動時間が適切
に設定され、各基板処理部への搬送インターバルを一定
に保ちながら、スループットの向上を図ることができ
る。
As described above, according to the present invention, the moving body is moved from the moving body stopping position of an arbitrary substrate processing section to the moving body stopping position of the next substrate processing section in accordance with the transfer order by the moving means. The required drive time for each drive mechanism corresponding to different directions required for the movement is stored in the drive time storage means. When a substrate is transferred from a predetermined substrate processing unit defined by a transfer order to a next substrate processing unit, a required drive for each of the drive mechanisms stored in the drive time storage unit is performed according to the transfer. Reads the time and transfers it
Required to drive only one drive mechanism
Time is required to drive two or more drive mechanisms simultaneously.
The maximum required driving time of the required driving times is calculated as the required moving time of the moving body in the substrate transfer. Further, each transfer time of the substrate from the predetermined substrate processing unit defined by the transfer order to the next substrate processing unit is determined by the required movement time calculated by the calculation unit and the transfer time by the transfer unit. The substrate is transported while controlling the moving means so as to be the sum of the time. For this reason, the transfer time from an arbitrary substrate processing unit to the next substrate processing unit is appropriately set, and the throughput can be improved while keeping the transport interval to each substrate processing unit constant.

【0036】また、搬送に要する時間を短縮できるの
で、搬送時間中における基板の温度変化を抑制でき、温
度変化に敏感な基板処理部、特にスピンコータ、スピン
デベロッパなどを使用する場合にも、良好で均一な処理
が可能である。
Further, since the time required for the transfer can be shortened, the change in the temperature of the substrate during the transfer time can be suppressed, which is excellent even when using a substrate processing section, particularly a spin coater or a spin developer, which is sensitive to the temperature change. Uniform processing is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明にかかる基板処理装置の一例を示す斜
視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の基板処理装置のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】搬送ロボットを上方よりみた平面図である。FIG. 3 is a plan view of the transfer robot as viewed from above.

【図4】図1の基板処理装置を構成する基板処理部の配
置関係を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an arrangement relationship of a substrate processing unit included in the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【図5】この発明にかかる基板処理装置の動作を示すフ
ローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing an operation of the substrate processing apparatus according to the present invention.

【図6】この発明にかかる基板処理装置における基板搬
送動作を示す図である。
FIG. 6 is a view showing a substrate transfer operation in the substrate processing apparatus according to the present invention.

【図7】従来の基板処理装置における基板搬送動作を示
す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a substrate transport operation in a conventional substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板 20 移動体 21,22 アーム(支持具) 60 コントローラ AH 密着強化ユニット CP1 〜CP3 クーリングプレート HP1 〜HP6 ホットプレート ID インデクサー IF インターフェースユニット RB 搬送ロボット SC スピンコータ SD1 ,SD2 スピンデベロッパ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate 20 Moving body 21, 22 Arm (support) 60 Controller AH Adhesion strengthening unit CP1-CP3 Cooling plate HP1-HP6 Hot plate ID Indexer IF Interface unit RB Transport robot SC Spin coater SD1, SD2 Spin developer

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板を支持する支持具を備えた移動体
を、回転式基板処理装置を含む複数の基板処理部間を所
定の搬送順序で循環移動させることにより、基板を各基
板処理部間で所定の搬送順序で搬送して処理する基板処
理装置であって、 互いに異なる方向に前記移動体を移動させる複数の駆動
機構からなり、少なくとも1つ以上の駆動機構を駆動し
て、移動体を各基板処理部ごとの移動体停止位置の間で
移動させる移動手段と、 移動体に対して支持具を移動させることによって、前記
移動体停止位置に停止の移動体における所定の支持具待
機位置と基板処理部との間で、基板を相互に移載させる
移載手段と、 前記移動体を、前記移動手段により前記搬送順序にした
がって、前記基板処理部のうちの任意の基板処理部の移
動体停止位置から次の基板処理部の移動体停止位置に移
動させるのに要する、前記異なる方向に対応した駆動機
構ごとの所要駆動時間を記憶する駆動時間記憶手段と、 前記搬送順序により規定された所定の基板処理部から次
の基板処理部への基板搬送の各々に対応して、前記駆動
時間記憶手段に記憶された当該基板搬送に対応する前記
駆動機構ごとの所要駆動時間を読みだして、当該基板搬
送時に1つの駆動機構のみを駆動する場合にはその所要
駆動時間を、2つ以上の駆動機構を同時に駆動する場合
にはそれらの所要駆動時間のうちの最大の所要駆動時間
を、当該基板搬送における移動体の所要移動時間として
算出する算出手段と、 前記搬送順序により規定された所定の基板処理部から次
の基板処理部への基板の各搬送時間が、前記算出手段に
より算出された所要移動時間と、前記移載手段による移
載に要する時間との和となるように前記移動手段を制御
する制御手段と、を有することを特徴とする基板処理装
置。
1. A substrate provided between a plurality of substrate processing units including a rotary type substrate processing apparatus is circulated in a predetermined transfer order between a plurality of substrate processing units including a rotary substrate processing apparatus. And a plurality of drive mechanisms for moving the moving body in directions different from each other, wherein at least one or more driving mechanisms are driven to move the moving body. Moving means for moving between moving body stop positions for each of the substrate processing units; and by moving a support relative to the moving body, a predetermined support stand-by position for the moving body stopped at the moving body stop position. A transfer unit for transferring a substrate to and from a substrate processing unit; and a moving body of any one of the substrate processing units in the substrate processing unit according to the transfer order by the moving unit. Next from stop position Drive time storage means for storing a required drive time for each drive mechanism corresponding to the different direction required for moving to the moving body stop position of the substrate processing unit, and a predetermined substrate processing unit defined by the transport order Corresponding to each of the substrate transports to the next substrate processing unit, the required drive time for each of the drive mechanisms corresponding to the substrate transport stored in the drive time storage means is read, and the substrate transport is performed.
Required if only one drive mechanism is driven during transport
When the drive time is to drive two or more drive mechanisms simultaneously
Is the maximum required driving time of those required driving times.
And a calculating means for calculating a required travel time of the moving object in the substrate transport, the transport time of the substrate from the predetermined substrate processing part defined by said transport order to the next substrate processing unit, by the calculation means A substrate processing apparatus, comprising: control means for controlling the moving means so as to be the sum of the calculated required moving time and the time required for transfer by the transferring means.
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