JP2826486B2 - Grinding tape peeling machine - Google Patents

Grinding tape peeling machine

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JP2826486B2
JP2826486B2 JP19369895A JP19369895A JP2826486B2 JP 2826486 B2 JP2826486 B2 JP 2826486B2 JP 19369895 A JP19369895 A JP 19369895A JP 19369895 A JP19369895 A JP 19369895A JP 2826486 B2 JP2826486 B2 JP 2826486B2
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tape
peeling
grinding tape
wafer
grinding
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邦彦 庄司
健一 加藤
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NEC Yamagata Ltd
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NEC Yamagata Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、裏面を研削後のウ
ェーハの表面から保護用の研削用テープを剥し取る研削
用テープ剥し機に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a grinding tape peeling machine for peeling a protective grinding tape from the front surface of a wafer whose back surface has been ground.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常、この研削用テープ剥し機は、半導
体装置の製造におけるウェーハ裏面研削工程で、裏面研
削時のウェーハ表面保護を目的とした研削用テープを裏
面研削終了後にその研削用テープを剥すことを目的とし
て使用される。
2. Description of the Related Art Usually, in a grinding process for a backside of a wafer in the manufacture of semiconductor devices, this tape stripping machine for grinding uses a grinding tape for the purpose of protecting the wafer surface during the backside grinding, and after the backside grinding is completed, the grinding tape is removed. Used for peeling purposes.

【0003】図4は従来の一例を示す研削用テープ剥し
機の斜視図である。従来の研削用テープ剥し機は、図4
に示すように、研削済のウェーハ11が搬送され収納さ
れるキャリアステーションB12と、マニュプレータに
より研削済のウェーハ11が取り出されオリフラの位置
合わせが行われるウェーハ位置決め部7と、研削済のウ
ェーハ11を吸着するバキュームステージ6と、研削用
テープ4上に剥しテープ2を貼り付けるテープ貼り付け
用のローラ3と、剥しテープ2を巻き取る剥しテープ巻
取部1と、剥しテープ2を供給するロール8と、研削用
テープ4を剥したウェーハ11をキャリアステーション
A9に収納するウェーハ取り出し用のアーム10とを有
している。
FIG. 4 is a perspective view of a conventional grinding tape peeling machine. FIG. 4 shows a conventional grinding tape peeling machine.
As shown in the figure, the carrier station B12 in which the ground wafer 11 is transported and stored, the wafer positioning unit 7 from which the ground wafer 11 is taken out by the manipulator and the orientation flat is aligned, and the ground wafer 11 Vacuum stage 6 to be adsorbed, roller 3 for applying tape to apply tape 2 to grinding tape 4, peeling tape winding unit 1 for winding peeling tape 2, and roll 8 for supplying peeling tape 2 And an arm 10 for taking out a wafer for accommodating the wafer 11 from which the grinding tape 4 has been removed in the carrier station A9.

【0004】次に、この研削用テープ剥し機の動作につ
いて説明する。まず、ウェーハの裏面が研削された研削
済のウェーハ11を収納したキャリアステーションB1
2からウェーハ位置決め部7に研削済の一枚のウェーハ
11を搬送し、オリフラ位置合わせを行う。次に、研削
済のウェーハ11をテープ剥し部であるバキュームステ
ージ6上に搬送し吸着固定する。次に、テープ貼り付け
用のローラ3がバキュームステージ6上の研削済のウェ
ーハ11上まで移動し、剥しテープ2を研削用テープ4
に貼り付ける。その後、剥しテープ巻取部1が回転し、
剥しテープ2を巻取るにつれ研削用テープ4がウェーハ
11から剥されていき、研削用テープ4がウェーハ11
から完全に剥されると、テープ貼り付け用のローラ3も
元の位置まで戻る。
Next, the operation of the grinding tape peeler will be described. First, the carrier station B1 storing the ground wafer 11 having the back surface of the wafer ground.
The ground wafer 1 is transferred from the wafer 2 to the wafer positioning unit 7, and the orientation flat is aligned. Next, the ground wafer 11 is transported onto the vacuum stage 6, which is a tape peeling section, and fixed by suction. Next, the tape applying roller 3 moves to the ground wafer 11 on the vacuum stage 6 and the peeling tape 2 is removed from the grinding tape 4.
Paste in. After that, the peeling tape winding unit 1 rotates,
As the peeling tape 2 is wound up, the grinding tape 4 is peeled off from the wafer 11, and the grinding tape 4 is removed from the wafer 11.
When the tape is completely peeled off, the tape applying roller 3 also returns to the original position.

【0005】次に、研削用テープ4が剥されたウェーハ
11は、バキュームステージ6からウェーハ取り出しア
ーム10によりキャリアステーションA9に収納され一
連の動作が終了する。このような一連の動作を繰返して
行ない、キャリアスセーションB12の研削済みのウェ
ーハの研削用テープ4を剥し、キャリアステーションA
に収納していた。
Next, the wafer 11 from which the grinding tape 4 has been peeled off is stored in the carrier station A9 by the wafer take-out arm 10 from the vacuum stage 6, and a series of operations is completed. By repeating such a series of operations, the grinding tape 4 of the ground wafer of the carrier station B12 is peeled off, and the carrier station A
Was stored in.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の研削用
テープ剥し機では、裏面研削工程で付着するSi(シリ
コン)クズ等の付着物に起因する剥しテープと研削用テ
ープとの密着性がしばしば悪くなり、1回の剥し動作で
研削用テープをウェーハから剥すことができないという
問題点があった。その結果、剥しテープの張り直しなど
行なわなければならず作業効率(スループット)が悪く
なる。また、剥しテープの張り直しのために一部の長さ
を切捨てたりの消費量が多くなるという欠点がある。
In the conventional grinding tape peeling machine described above, the adhesion between the peeling tape and the grinding tape caused by the adhered substance such as Si (silicon) scraps adhered in the back surface grinding step often occurs. There is a problem that the grinding tape cannot be peeled off from the wafer by one peeling operation. As a result, the peeling tape must be re-tensioned, and the work efficiency (throughput) deteriorates. In addition, there is a disadvantage in that the length of a part of the tape is cut off due to the re-stretching of the peeling tape, and the amount of consumption increases.

【0007】従って、本発明の目的は、剥しテープを無
駄にすることなく研削用テープに剥しテープをより強固
に貼り付けウェーハより研削テープを確実に剥し取る研
削用テープ剥し機を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a grinding tape peeling machine for firmly attaching a peeling tape to a grinding tape without wasting the peeling tape, and for reliably peeling the grinding tape from a wafer. is there.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、裏面を
研削されたウェーハの表面に貼り付けられた研削用テー
プの表面上を一方向に移動しながら該表面に付着する塵
埃を離脱させ吸取る真空掃除機構と、しかる後前記研削
用テープに剥し用テープを貼付け該剥しテープとともに
前記研削用テープを前記ウェーハの裏面より剥し取る研
削用テープ剥し機構とを備える研削用テープ剥し機であ
る。
A feature of the present invention is to remove dust adhering to a surface of a grinding tape attached to the surface of a wafer whose back surface has been ground while moving in one direction on the surface of the grinding tape. A grinding tape peeling machine comprising a vacuum cleaning mechanism for sucking, and a grinding tape peeling mechanism for affixing a peeling tape to the grinding tape and peeling the grinding tape together with the peeling tape from the back surface of the wafer. .

【0009】また、前記真空掃除機構は、真空排気管と
通ずる吸取り口を有し可とうな細管の複数本が前記移動
方向に対し平行および直交するように並べ配置されてい
ることが望ましい。
It is preferable that the vacuum cleaning mechanism has a plurality of flexible thin tubes having a suction port communicating with a vacuum exhaust pipe, which are arranged in parallel and perpendicular to the moving direction.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0011】図1は本発明の一実施の形態例を示す研削
用テープ剥し機の斜視図である。この研削用テープ剥し
機は、図1に示すように、裏面を研削されたウェーハ1
1の表面に貼り付けられた研削用テープ4の表面上を矢
印の方向に移動しながら該表面に付着する塵埃を吸取る
真空掃除機構5を設けたことである。それ以外は従来例
と同じように、研削用テープ4に剥しテープ2を貼付け
るローラ3と剥しテープ2とともに研削用テープ4をウ
ェーハ11の裏面より剥し取り巻き取る剥しテープ巻取
部1とを具備する研削用テープ剥し機構と、剥しテープ
2を供給するロール8と、オリフラ位置を合わせるウェ
ーハ位置決め部7と、取出しアーム10とが備えられて
いる。
FIG. 1 is a perspective view of a grinding tape peeling machine showing an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, this grinding tape peeler removes a wafer 1 whose back surface is ground.
A vacuum cleaning mechanism 5 that absorbs dust adhering to the surface of the grinding tape 4 attached to the surface of the grinding tape 4 while moving in the direction of an arrow on the surface of the grinding tape 4 is provided. Otherwise, as in the conventional example, a roller 3 for applying the peeling tape 2 to the grinding tape 4 and a peeling tape winding unit 1 for peeling and winding the grinding tape 4 from the back surface of the wafer 11 together with the peeling tape 2 are provided. A grinding tape removing mechanism, a roll 8 for supplying the peeling tape 2, a wafer positioning unit 7 for adjusting the orientation flat position, and a take-out arm 10.

【0012】図2は図1の真空掃除機構を拡大して示す
図である。真空掃除機構は、図2に示すように、例え
ば、内径1〜3mm、長さ10〜20mm程度の塩化ビ
ニール等の可とう性の細管5aをウェーハの直径(10
0〜200mm)に対応する本数を縦横に本体5bから
派生させた構造である。この細管5aは、本体5bがウ
ェーハ面上を移動するとき、ウェーハ11の研削用テー
プ4の面と接触し適宜に先端が曲げられその後の反発に
より研削用テープに付着する塵埃を表面から離脱させ、
本体5bと配管を介して接続される真空ポンプによって
離脱された塵埃を吸取る作用をもっている。
FIG. 2 is an enlarged view of the vacuum cleaning mechanism of FIG. As shown in FIG. 2, for example, the vacuum cleaning mechanism connects a flexible thin tube 5a such as vinyl chloride having an inner diameter of 1 to 3 mm and a length of about 10 to 20 mm to a wafer diameter (10 mm).
(0-200 mm) is derived from the main body 5b vertically and horizontally. When the main body 5b moves on the surface of the wafer, the thin tube 5a comes into contact with the surface of the grinding tape 4 of the wafer 11 and the tip thereof is appropriately bent, and the dust adhered to the grinding tape by the subsequent repulsion is separated from the surface. ,
It has a function of absorbing dust removed by a vacuum pump connected to the main body 5b via a pipe.

【0013】また、この真空掃除機構5は、図1のバキ
ュームステージ6に対して右方向5〜10mmの部位に
取付けられる図示していない支持アームにより取り付け
られている。そして、この支持アームと真空掃除機構5
とは一体的に矢印方向にウェーハ径に合わせ100〜2
00mmの範囲で往復移動することができる。
The vacuum cleaning mechanism 5 is attached to a vacuum stage 6 shown in FIG. 1 by a support arm (not shown) attached to a position 5 to 10 mm to the right. The support arm and the vacuum cleaning mechanism 5
100 to 2 in accordance with the wafer diameter in the direction of the arrow
It can reciprocate within a range of 00 mm.

【0014】さらに、その際、図2の細管5aは、研削
用テープ4の上面に軽く接触するように取り付ける。こ
れらにより、真空掃除機構5の細管5aはバキュームス
テージ6上のウェーハ11上の研削用テープ4の表面を
移動しながら研削用テープ4の表面に付着している付着
物を除去する動作を行なう。なお、研削用テープ4を剥
す動作のときは、真空掃除機構5はバキュームステージ
6の側方に退避させる動作を行うようになっている。
Further, at this time, the thin tube 5a of FIG. 2 is attached so as to lightly contact the upper surface of the grinding tape 4. As a result, the thin tube 5a of the vacuum cleaning mechanism 5 performs an operation of removing the deposits adhering to the surface of the grinding tape 4 while moving on the surface of the grinding tape 4 on the wafer 11 on the vacuum stage 6. In the operation of peeling off the grinding tape 4, the vacuum cleaning mechanism 5 performs an operation of retracting to the side of the vacuum stage 6.

【0015】図3は図1の研削用テープ剥し機の動作を
説明するためのフローチャートである。次に、この研削
用テープ剥し機の動作について説明する。まず、図3の
ステップAで、研削済のウェーハ11をキャリアステー
ションB12からウェーハ位置決め部7まで搬送する。
次に、ステップBで、ウェーハ位置決め部7において、
研削用テープ4を剥すのに必要な位置決めであるオリフ
ラ位置合わせを行う。その後、ステップCで、研削済ウ
ェーハ11をバキュームステージ6上に搬送しバキュー
ムにて吸着する。
FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of the grinding tape peeler of FIG. Next, the operation of the grinding tape peeler will be described. First, in step A in FIG. 3, the ground wafer 11 is transferred from the carrier station B12 to the wafer positioning unit 7.
Next, in step B, in the wafer positioning unit 7,
The orientation flat alignment, which is the positioning necessary to peel off the grinding tape 4, is performed. Thereafter, in step C, the ground wafer 11 is transferred onto the vacuum stage 6 and sucked by vacuum.

【0016】次に、ステップDで、真空掃除機構5がウ
ェーハ11の研削用テープ4の表面に図2の細管5aの
先端を接触させながら矢印方向に左右に移動し、研削用
テープ4上の付着物を離脱させ吸取り除去する。次に、
ステップEで、周囲を暗くしてウェーハ11の研削用テ
ープ4上に単色光を投射し付着物の有無を検査する。こ
こで、Yesなら、ステップFに進み、真空掃除機構5
をバキュームステージ6の側方に退避させ、テープ貼り
付け用のローラ3が研削済のウェーハ11上を移動し剥
しテープ2を研削用テープ4に貼り付ける。また、ステ
ップEでNoならば、ステップDに戻り研削テープ4を
清掃する。
Next, in step D, the vacuum cleaning mechanism 5 moves left and right in the direction of the arrow while bringing the tip of the thin tube 5a of FIG. The adhering matter is separated and absorbed and removed. next,
In step E, the surroundings are darkened and monochromatic light is projected onto the grinding tape 4 of the wafer 11 to check for the presence or absence of attached matter. Here, if Yes, the process proceeds to Step F, where the vacuum cleaning mechanism 5
Is retracted to the side of the vacuum stage 6, the tape applying roller 3 moves on the ground wafer 11, and the peeling tape 2 is applied to the grinding tape 4. If No in step E, the process returns to step D to clean the grinding tape 4.

【0017】次に、ステップGで、剥しテープ巻取部1
を回転させウェーハ11から研削用テープ4を剥す。次
に、ステップHで、バキュームステージ6のバキューム
を解除する。そして、ステップIで、ウェーハ11を取
り出しアーム10にてバキュームステージ6から取り出
し、キャリアステーションA9に収納する。
Next, in step G, the peeling tape winding section 1
Is rotated to remove the grinding tape 4 from the wafer 11. Next, in step H, the vacuum of the vacuum stage 6 is released. Then, in step I, the wafer 11 is taken out of the vacuum stage 6 by the take-out arm 10 and stored in the carrier station A9.

【0018】このように、テープ貼り付けローラー3に
よる剥しテープ2の貼り付け作業に先立って、真空掃除
機構5を作動させ研削用テープ4の表面に付着している
付着物を除去し異物の有無を確認してから、剥しテープ
2と研削用テープ4との密着させ確実に1回の剥し動作
で研削用テープ4をウェーハ5から剥すことが実現でき
た。
As described above, prior to the attaching operation of the peeling tape 2 by the tape applying roller 3, the vacuum cleaning mechanism 5 is operated to remove the adhering matter adhering to the surface of the grinding tape 4 and to check for any foreign matter. After confirming the above, the peeling tape 2 and the grinding tape 4 were brought into close contact with each other, and the grinding tape 4 was reliably peeled off from the wafer 5 by one peeling operation.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、ウェーハ
に貼付けられた研削用テープの表面をブラシングしなが
ら離脱する塵埃を吸取る真空掃除機構を設け、この真空
掃除機構により研削用テープの表面の汚れを除去してか
ら、研削用テープへの剥しテープを接着することによ
り、剥しテープと研削用テープとの密着性が向上し、1
回の動作で研削用テープをウェーハから確実に剥すこと
ができるという効果を有する。
As described above, according to the present invention, a vacuum cleaning mechanism is provided for sucking dust that comes off while brushing the surface of the grinding tape attached to the wafer. After removing the dirt, the adhesion of the peeling tape to the grinding tape is improved, so that the adhesion between the peeling tape and the grinding tape is improved.
This has the effect that the grinding tape can be reliably peeled off from the wafer in a number of operations.

【0020】また、剥しテープの貼付けのやり直しが無
くなり、その結果、従来に比べ作業効率(スループッ
ト)が20%向上し、かつ、やり直しによる剥しテープ
の無駄な消費を無くすこともできた。
Further, the re-attachment of the peeling tape was eliminated, and as a result, the work efficiency (throughput) was improved by 20% as compared with the past, and the wasteful consumption of the peeling tape due to the re-work was also eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態例を示すの研削用テープ
剥し機の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a grinding tape peeling machine showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の真空掃除機構を拡大して示す図である。FIG. 2 is an enlarged view showing the vacuum cleaning mechanism of FIG. 1;

【図3】図1の研削用テープ剥し機の動作を説明するた
めのフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the grinding tape peeler of FIG. 1;

【図4】従来の一例を示す研削用テープ剥し機の斜視図
である。
FIG. 4 is a perspective view of a conventional grinding tape peeling machine.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 剥しテープ巻取部 2 剥しテープ 3 ローラ 4 研削用テープ 5 真空掃除機構 5a 細管 5b 本体 6 バキュームステージ 7 ウェーハ位置決め部 8 ロール 9 キャリアステーションA 10 ウェーハ取り出しアーム 11 ウェーハ 12 キャリアステーションB DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Peeling tape winding part 2 Peeling tape 3 Roller 4 Grinding tape 5 Vacuum cleaning mechanism 5a Small tube 5b Main body 6 Vacuum stage 7 Wafer positioning part 8 Roll 9 Carrier station A 10 Wafer take-out arm 11 Wafer 12 Carrier station B

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 裏面を研削されたウェーハの表面に貼り
付けられた研削用テープの表面上を一方向に移動しなが
ら該表面に付着する塵埃を離脱させ吸取る真空掃除機構
と、しかる後前記研削用テープに剥し用テープを貼付け
該剥しテープとともに前記研削用テープを前記ウェーハ
の裏面より剥し取る研削用テープ剥し機構とを備えるこ
とを特徴とする研削用テープ剥し機。
1. A vacuum cleaning mechanism for removing and absorbing dust adhering to a surface of a grinding tape affixed to the surface of a wafer having a back surface, while moving in one direction on the surface of the grinding tape, A grinding tape peeling machine, comprising: a grinding tape peeling mechanism for attaching a peeling tape to a grinding tape and peeling the grinding tape from the back surface of the wafer together with the peeling tape.
【請求項2】 前記真空掃除機構は、真空排気管と通ず
る吸取り口を有し可とうな細管の複数本が前記移動方向
に対し平行および直交するように並べ配置されているこ
とを特徴とする請求項1記載の研削用テープ剥し機。
2. The vacuum cleaning mechanism according to claim 1, wherein a plurality of flexible thin tubes having a suction port communicating with a vacuum exhaust pipe are arranged in parallel and orthogonal to the moving direction. The grinding tape peeling machine according to claim 1.
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