JP2824858B2 - Purge air circulation system for particle detection cell - Google Patents

Purge air circulation system for particle detection cell

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JP2824858B2 JP1320807A JP32080789A JP2824858B2 JP 2824858 B2 JP2824858 B2 JP 2824858B2 JP 1320807 A JP1320807 A JP 1320807A JP 32080789 A JP32080789 A JP 32080789A JP 2824858 B2 JP2824858 B2 JP 2824858B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、微粒子検出セルを清掃するパージエアの
流通方式に関するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a purge air circulation system for cleaning a particle detection cell.

[従来の技術] 半導体ICは、塵埃などの微粒子が管理された清浄度が
良好なクリーンルームにおいて製造される。クリーンル
ームの清浄度は微粒子検出器により計測されており、検
出器としては検出セル内において被検査エアに対してレ
ーザを直交させ、散乱光により被検査エアに混在する微
粒子を検出する光学式のものが専らである。最近におい
てはICのパターンサイズがますます微細となり、これに
対応して従来以上に微小な微粒子径に対する検出性能が
必要とされている。このために検出セルに対して、外部
ミラー形式のレーザ発振器を構成して強力なレーザパワ
ーにより検出性能を向上する方式が開発されている。
[Prior Art] Semiconductor ICs are manufactured in a clean room in which fine particles such as dust are controlled and cleanliness is good. The cleanliness of the clean room is measured by a particle detector, and the detector is an optical detector that crosses a laser beam to the air to be inspected in the detection cell and detects particles mixed in the air to be inspected by scattered light. Is exclusive. In recent years, the pattern size of ICs has become increasingly finer, and accordingly, detection performance for finer particle diameters than ever before is required. For this reason, a method has been developed in which an external mirror type laser oscillator is configured for the detection cell and the detection performance is improved by strong laser power.

第2図は、外部ミラー形式のレーザ発振器を有する微
粒子検出セルの構造を示す垂直断面図で、検出セル1
は、筐体11、被検査エアAに対する吸入排出機構12、お
よびレーザ発振器13とにより構成される。吸入排出機構
12においては、検出セル11の中央上部に設けられたイン
レット121より吸入された被検査エアAが、その下端の
噴射ノズル122より噴射され、これに対応する排出ノズ
ル123よりアウトレット124を経て外部に排出される。こ
れに対してレーザ発振器13は、筐体11の図示右側にねじ
143により取り付けリング141を固定し、これとパッキン
グ142によりガスレーザ管131を取り付けて固定し、レー
ザ管131の左端のブリュースタ窓132に対応する位置に外
部ミラー133を設けて構成され、発振されたレーザが被
検査エアAに直交する。この直交部分を検出領域Sと
し、検出領域Sの微粒子の散乱光が矢印Dの方向に設け
られた受光系(図示省略)により受光されて微粒子が検
出される。
FIG. 2 is a vertical sectional view showing the structure of a particle detection cell having an external mirror type laser oscillator.
Is composed of a housing 11, a suction / discharge mechanism 12 for the air A to be inspected, and a laser oscillator 13. Suction and discharge mechanism
In 12, the air to be inspected A sucked from an inlet 121 provided at the upper center of the detection cell 11 is ejected from an ejection nozzle 122 at the lower end thereof, and is discharged from the corresponding discharge nozzle 123 to the outside via an outlet 124. Is discharged. On the other hand, the laser oscillator 13 has a screw
A mounting ring 141 is fixed by 143, a gas laser tube 131 is mounted and fixed by this and a packing 142, and an external mirror 133 is provided at a position corresponding to the Brewster window 132 on the left end of the laser tube 131, and is oscillated. The laser is orthogonal to the air A to be inspected. This orthogonal portion is defined as a detection region S, and the scattered light of the fine particles in the detection region S is received by a light receiving system (not shown) provided in the direction of arrow D, and the fine particles are detected.

さて、上記の微粒子検出セル1においては、噴射ノズ
ル122から噴射された被検査エアAに混在する微粒子
は、必ずしもすべてが排出ノズル123より排出されず、
なかには検出セル1の内部を浮遊して検出セルの内壁に
付着するものがある。付着した微粒子は、再び浮遊して
被検査エアに混入し、計測誤差となる。また特に、レー
ザの発振によりブリュースタ窓132と外部ミラー133は静
電気が帯電して微粒子を吸着する作用があり、これによ
り両者に曇りを生じてレーザの発振強度が低下する問題
がある。これらの微粒子の付着と曇りを清掃することが
必要であり、筐体11のブリュースタ窓132に対応する位
置に設けられた清掃孔144により清掃を行い、稼働時に
は蓋145により覆って気密を保持するようになされてい
る。また、外部ミラー133に対しては、筐体に対する取
り付け具134を取り外して清掃が行われている。しかし
ながら、このような清掃作業は、簡単でないのでしばし
ば行うことができない。これに対して、検出器が稼働中
に検出セル内の各部、特にブリュースタ窓132と外部ミ
ラー133の微粒子による汚染を防止する先行技術とし
て、この発明の出願人により、「平成元年2月2日、第
1−24613号、微粒子検出セルの汚染防止方式」が特許
出願されている。
Now, in the particle detection cell 1 described above, all of the particles mixed in the test air A injected from the injection nozzle 122 are not necessarily discharged from the discharge nozzle 123,
Some of them float inside the detection cell 1 and adhere to the inner wall of the detection cell. The attached fine particles float again and enter the air to be inspected, resulting in a measurement error. Further, in particular, the Brewster window 132 and the external mirror 133 have the function of charging static electricity and adsorbing fine particles due to the laser oscillation, thereby causing fogging of both and reducing the oscillation intensity of the laser. It is necessary to clean the adhesion and fogging of these fine particles, and the cleaning is performed by a cleaning hole 144 provided at a position corresponding to the Brewster window 132 of the housing 11, and the airtightness is covered by a cover 145 during operation. It has been made to be. Further, the external mirror 133 is cleaned by removing the fixture 134 for the housing. However, such cleaning operations are often not possible because they are not simple. On the other hand, as a prior art for preventing contamination of each part in the detection cell, particularly the Brewster window 132 and the external mirror 133 by the fine particles during the operation of the detector, the applicant of the present invention described in "February 1989" On the 2nd, No. 1-246313, a method for preventing contamination of a particle detection cell has been filed.

第2図により上記の特許出願にかかる汚染防止方式を
説明する。検出セル1に対して、筐体11の外部ミラー13
3に対応する位置と、清掃孔144に対する蓋145とに、圧
入孔151と152とをそれぞれ設け、これらの圧入孔より清
浄なパージエPを圧入して噴射し、外部ミラーおよびブ
リュースタ窓を清掃する。パージエアPは被検査エアA
に合流して排出ノズル123より外部に排出される。
Referring to FIG. 2, a pollution prevention system according to the above patent application will be described. The external mirror 13 of the housing 11 is
Pressing holes 151 and 152 are provided in the position corresponding to 3 and the cover 145 for the cleaning hole 144, respectively, and a clean purge air P is press-fitted from these press-in holes and ejected to clean the external mirror and the Brewster window. I do. Purge air P is inspection air A
And is discharged from the discharge nozzle 123 to the outside.

[解決しようとする課題] 上記の汚染防止方式は、稼働前においては検出セルの
内部が清浄であるとし、汚染は稼働中に吸入された被検
査エアAの微粒子のうちの浮遊したものによるとして構
成されたものである。しかしながら、上記したブリュー
スタ窓132と外部ミラー133の清掃作業を行っても微粒子
が完全に外部に吐き出されず、内部を移動して他の場所
にまた残留する。特に、ブリュースタ窓の周辺は機構が
複雑であるために残留し易く、また、その清掃作業によ
り、パッキング142などより剥離して微粒子が新たに発
生して周辺に残留し、清掃後に検出器が稼働すると、残
留した微粒子が圧入孔152よりのパージエアにより被検
査エアAまで運ばれて合流して計測誤差となる。ただ
し、外部ミラー133の周辺は構造が簡単であり、また取
り付け具134により一体として取り外して清掃されるの
で、残留する微粒子は比較的少ない。
[Problem to be Solved] In the above-described pollution prevention method, it is assumed that the inside of the detection cell is clean before operation, and that the contamination is caused by suspended particles of the air to be inspected A sucked during operation. It is composed. However, even when the above-described cleaning operation of the Brewster window 132 and the external mirror 133 is performed, the fine particles are not completely discharged to the outside, move inside, and remain in another place. In particular, the surroundings of the Brewster window are likely to remain due to the complicated mechanism, and due to the cleaning work, fine particles are newly generated from the packing 142 etc. and remain around, and after cleaning, the detector is activated. During operation, the remaining fine particles are carried to the inspection target air A by the purge air from the press-in hole 152 and merge there, resulting in a measurement error. However, the periphery of the external mirror 133 has a simple structure, and is removed and cleaned integrally with the mounting tool 134, so that the amount of remaining fine particles is relatively small.

以上により、ブリュースタ窓の周辺に微粒子が残留す
るのを防止することが必要であるが、ただし従来の検出
セルの構造を変更することなく行う方式が望ましい。
As described above, it is necessary to prevent fine particles from remaining around the Brewster window. However, it is desirable to use a conventional method in which the structure is performed without changing the structure of the detection cell.

この発明は、以上に鑑みてなされたもので、上記の第
2図の検出セル1の構造をそのままとし、パージエアの
流通経路を変更することにより、ブリュースタ窓の周辺
に微粒子が残留することを防止するパージエア流通方式
を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above, and by keeping the structure of the detection cell 1 in FIG. 2 as it is, by changing the flow path of the purge air, it is possible to prevent particles from remaining around the Brewster window. It is an object of the present invention to provide a purge air circulation system for preventing such a situation.

[課題を解決するための手段] この発明は、外部ミラー形式のレーザ発振器を構成す
るガスレーザ管のブリュースタ窓と、ブリュースタ窓に
対応する外部ミラーとの中間のレーザに対して、被検査
のエアを直交させて微粒子を検出する微粒子検出セルに
対して、その内部を清掃するパージエアの流通方式であ
る。検出セルの筐体の外部ミラーに対応する位置に、清
浄なパージエアを圧入して噴射する圧入孔を、またブリ
ュースタ窓に対応する位置に、上記により噴射されたパ
ージエアを外部に排出する排出孔をそれぞれ設け、噴射
されたパージエアが外部ミラーおよびその周辺を清掃し
た後、検出セルの内部を通過し、ブリュースタ窓および
その周辺を清掃して排出孔より外部に排出されるもので
ある。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a method for inspecting an intermediate laser between a Brewster window of a gas laser tube constituting a laser oscillator of an external mirror type and an external mirror corresponding to the Brewster window. This is a purge air circulation system that cleans the inside of a particle detection cell that detects particles by making air orthogonal. A press-fit hole for press-fitting and ejecting clean purge air at a position corresponding to the external mirror of the housing of the detection cell, and a discharge hole for discharging the purge air ejected by the above to the outside at a position corresponding to the Brewster window. Are provided, and after the injected purge air cleans the external mirror and its surroundings, it passes through the inside of the detection cell, cleans the Brewster window and its surroundings, and is discharged from the discharge holes to the outside.

[作用] 以上の構成によるこの発明のパージエア流通方式にお
いては、圧入孔より圧入して噴射されたパージエアによ
り、周辺に浮遊する微粒子が外部ミラーに付着すること
が防止される。これは従来と同様である。ただし、この
後のパージエアの流通経路は従来と異なり、検出セル内
を通過したパージエアはブリュースタ窓の周辺を清掃し
て排出孔より外部に排出される。なおこの場合は、パー
ジエアPは排出ノズル123に無関係であるので、被検査
エアAに合流せず、その周囲を迂回してブリュースタ窓
の方向に進むので、パージエアPに含まれている微粒子
による計測誤差は生じない。以上により、清掃作業によ
りブリュースタ窓の周辺に残留した微粒子は検出領域に
侵入することがなく外部に排出され、従来のような計測
誤差の発生が回避されるものである。
[Operation] In the purge air circulation system according to the present invention having the above-described configuration, the purge air injected and injected from the injection hole prevents the fine particles floating around from adhering to the external mirror. This is the same as the conventional one. However, the flow path of the purge air thereafter is different from the conventional one, and the purge air that has passed through the inside of the detection cell is cleaned around the Brewster window and discharged to the outside through the discharge hole. In this case, since the purge air P is irrelevant to the discharge nozzle 123, the purge air P does not merge with the air A to be inspected, but instead bypasses the surroundings and proceeds in the direction of the Brewster window. No measurement error occurs. As described above, the fine particles remaining around the Brewster window due to the cleaning operation are discharged to the outside without entering the detection area, and the occurrence of the measurement error as in the related art can be avoided.

[実施例] 第1図は、この発明による微粒子検出器のパージエア
流通方式の実施例を示すもので、検出セル1の構造は第
2図に示した従来のものと全く同一であり、微粒子の検
出原理に対する説明を省略し、変更されたパージエアの
流通経路について説明する。図において、検出セル1の
筐体11の、外部ミラー133に対応する位置に設けられた
圧入孔151より清掃なパージエアPを圧入して噴射し、
外部ミラー133とその周辺を清掃することは従来と同様
である。次に、ブリュースタ窓132に対する清掃用の蓋1
45に設けられている従来の圧入孔152(第2図参照)を
この発明においては、排出孔152′として使用する。上
記のパージエアPは検出セル内の検出領域Sの周囲を通
過してブリュースタ窓132とその周辺を清掃し、排出孔1
52′より外部に排出される。なお、パージエアPの微粒
子による計測誤差への影響であるが、従来はパージエア
Pが被検査エアAに合流して排出ノズル123より排出さ
れるために、計測誤差の原因となっていたが、この発明
では被検査エアAに合流せずブリュースタ窓132の方向
に進む。この場合、被検査エアAの流速に対してパージ
エアPの流速を十分小さくすることにより、パージエア
Pは被検査エアAの周囲をいわば迂回して通過して被検
査エアAに合流しないもので、従って計測誤差の原因と
ならない。
[Embodiment] FIG. 1 shows an embodiment of a purge air flow system of a particle detector according to the present invention. The structure of a detection cell 1 is exactly the same as that of the conventional cell shown in FIG. The description of the detection principle will be omitted, and the changed flow path of the purge air will be described. In the figure, clean purge air P is press-fitted and injected from a press-fitting hole 151 provided at a position corresponding to the external mirror 133 of the housing 11 of the detection cell 1,
Cleaning the external mirror 133 and its surroundings is the same as in the related art. Next, the cleaning lid 1 for the Brewster window 132
In the present invention, a conventional press-in hole 152 (see FIG. 2) provided in 45 is used as a discharge hole 152 '. The purge air P passes around the detection area S in the detection cell and cleans the Brewster window 132 and its surroundings.
It is discharged outside from 52 '. The influence of the fine particles of the purge air P on the measurement error is conventionally caused by the fact that the purge air P joins the air A to be inspected and is discharged from the discharge nozzle 123. According to the present invention, the air does not merge with the air A to be inspected, but proceeds toward the Brewster window 132. In this case, by making the flow velocity of the purge air P sufficiently smaller than the flow velocity of the test air A, the purge air P passes around the test air A so to speak, so as not to join the test air A. Therefore, it does not cause a measurement error.

[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明による微
粒子検出器のパージエア流通方式によれば、ブリュース
タ窓の清掃作業などにより、その周辺に残留した微粒子
が検出領域に侵入することなく、ブリュースタ窓に対応
した排出孔より外部に排出されて計測誤差とならず、同
時に外部ミラーとブリュースタ窓がともに清掃されるも
ので、従来の検出セルの構造をそのままとし、パージエ
アの流通経路を変更するのみで容易に実行することがで
き、微粒子検出器の計測データの信頼性の向上に寄与す
るところには大きいものがある。
[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the purge air circulation system for a particle detector according to the present invention, particles remaining around the Brewster window can enter the detection region due to a cleaning operation of the Brewster window or the like. No measurement error is caused by discharging to the outside through the discharge hole corresponding to the Brewster window, and at the same time, both the external mirror and the Brewster window are cleaned. It can be easily executed only by changing the route, and there is a great point that contributes to the improvement of the reliability of the measurement data of the particle detector.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、この発明による微粒子検出器のパージエア流
通方式の実施例におけるパージエアの流通経路を説明す
る検出セルの断面図、第2図は微粒子検出セルの構造と
特許出願にかかる従来の汚染防止方式の説明図である。 1……微粒子検出セル、11……筐体、 12……吸入排出機構、121……インレット、 122……噴射ノズル、123……排出ノズル、 124……アウトレット、13……レーザ発振器、 131……ガスレーザ管、132……ブリュースタ窓、 133……外部ミラー、134……取り付け具、 141……取り付けリング、142……パッキング、 143……ねじ、144……清掃孔、 145……蓋、151,152……圧入孔、 152′……排出孔。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a detection cell illustrating a flow path of purge air in an embodiment of a purge air flow system of a particle detector according to the present invention. FIG. 2 is a diagram showing a structure of the particle detection cell and a conventional pollution prevention method according to a patent application. It is explanatory drawing of a system. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Particle detection cell, 11 ... Housing, 12 ... Suction / discharge mechanism, 121 ... Inlet, 122 ... Injection nozzle, 123 ... Discharge nozzle, 124 ... Outlet, 13 ... Laser oscillator, 131 ... … Gas laser tube, 132… Brewster window, 133… external mirror, 134… mounting fixture, 141… mounting ring, 142… packing, 143… screw, 144… cleaning hole, 145… lid, 151,152… Press-in hole, 152 ′… Discharge hole.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川上 幸雄 東京都千代田区大手町2丁目6番2号 日立電子エンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−278734(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 15/00 - 15/14──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Yukio Kawakami 2-6-2 Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. (56) References JP-A-61-278734 (JP, A) (58) ) Surveyed field (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 15/00-15/14

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】外部ミラー形式のレーザ発振器を構成する
ガスレーザ管のブリュースタ窓と、該ブリュースタ窓に
対応する外部ミラーとの中間のレーザに対して、被検査
のエアを直交させて微粒子を検出する微粒子検出セルに
おいて、上記検出セルの筐体の上記外部ミラーに対応す
る位置に、清浄なパージエアを圧入して噴射する圧入孔
を、また上記ブリュースタ窓に対応する位置に、該噴射
されたパージエアを外部に排出する排出孔をそれぞれ設
け、該噴射されたパージエアが上記外部ミラーおよびそ
の周辺を清掃した後、上記検出セルの内部を通過し、上
記ブリュースタ窓およびその周辺を清掃して該排出孔よ
り外部に排出されることを特徴とする、微粒子検出セル
のパージエア流通方式。
An air to be inspected is made orthogonal to a laser located between a Brewster window of a gas laser tube constituting a laser oscillator of an external mirror type and an external mirror corresponding to the Brewster window, thereby causing fine particles to be generated. In the particle detection cell to be detected, a press-in hole for press-in and injection of clean purge air is provided at a position corresponding to the external mirror of the housing of the detection cell, and the injection hole is provided at a position corresponding to the Brewster window. Discharge holes are provided for discharging the purge air to the outside, and the injected purge air cleans the external mirror and its periphery, then passes through the inside of the detection cell, and cleans the Brewster window and its periphery. A purge air circulation method for a particle detection cell, wherein the purge air is discharged outside through the discharge hole.
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