JP2816633B2 - Single crystal pulling apparatus and pulling method - Google Patents
Single crystal pulling apparatus and pulling methodInfo
- Publication number
- JP2816633B2 JP2816633B2 JP35390292A JP35390292A JP2816633B2 JP 2816633 B2 JP2816633 B2 JP 2816633B2 JP 35390292 A JP35390292 A JP 35390292A JP 35390292 A JP35390292 A JP 35390292A JP 2816633 B2 JP2816633 B2 JP 2816633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- single crystal
- heater
- upper heater
- raw material
- crystal pulling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、単結晶引き上げ装置お
よび引き上げ方法に関する。The present invention relates to a single crystal pulling apparatus and a pulling method.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体集積回路素子の基盤には主として
高純度シリコンが用いられているが、この高純度シリコ
ンの製造方法の一つとして、るつぼ内の原料融液から円
柱状の単結晶を引き上げるチョクラルスキー法(以下C
Z法という)が用いられている。CZ法においては、る
つぼ内に原料多結晶を充填し、前記るつぼの外周を取り
巻くヒータによって原料を加熱溶解した上、シードチャ
ックに取り付けた種子結晶を融液に浸漬し、シードチャ
ックおよびるつぼを同方向または逆方向に回転しつつシ
ードチャックを引き上げて、単結晶を成長させる。2. Description of the Related Art High-purity silicon is mainly used as a base of a semiconductor integrated circuit device. One method of producing this high-purity silicon is to pull a columnar single crystal from a raw material melt in a crucible. Czochralski method (hereinafter C
Z method) is used. In the CZ method, a crucible is filled with a raw material polycrystal, the raw material is heated and melted by a heater surrounding the outer periphery of the crucible, and then a seed crystal attached to a seed chuck is immersed in a melt. The seed chuck is pulled up while rotating in one direction or the other direction to grow a single crystal.
【0003】近年は、半導体ウェーハの直径が大型化
し、6インチを超える大径ウェーハが要求されるように
なり、単結晶の直径も6インチ以上のものが主流になり
つつある。このため単結晶製造装置も大型化し、1サイ
クル当たりの処理量も増大する傾向にある。しかし、単
結晶製造装置の大型化に伴って単結晶成長工程における
所要時間が長くなるとともに、その前後工程、たとえば
原料多結晶の溶解所要時間や、成長した単結晶を炉外に
取り出した後、るつぼ、ヒータ等が清掃可能な温度に下
がるまでの冷却所要時間等も従来に比べて長くなってい
る。これらは単結晶の生産性を低下させる要因になる。
また石英るつぼは、原料多結晶の溶解時に加えられる熱
負荷によって変形、割れ等が発生するため、1本の単結
晶引き上げごとに新品と交換している。In recent years, the diameter of semiconductor wafers has increased, and large-diameter wafers having a diameter of more than 6 inches have been required, and single crystals having a diameter of 6 inches or more are becoming mainstream. For this reason, the size of the single crystal manufacturing apparatus is increased, and the processing amount per cycle tends to increase. However, the required time in the single crystal growth step is increased with the increase in the size of the single crystal manufacturing apparatus, and before and after the step, for example, the time required for dissolving the raw material polycrystal, and after the grown single crystal is taken out of the furnace, The time required for cooling until the temperature of the crucible, the heater and the like can be reduced is also longer than before. These are factors that reduce the productivity of the single crystal.
In addition, since the quartz crucible is deformed, cracked, etc. due to a thermal load applied when the raw material polycrystal is melted, it is replaced with a new one each time a single crystal is pulled.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】単結晶の生産性低下を
解決する手段として従来から知られている方法にリチャ
ージ法がある。これは、融液から単結晶を引き上げた
後、ヒーター電源をOFFにすることなく原料多結晶を
再度チャージして溶解し、再度単結晶を成長させる工程
を数回繰り返す方法である。このリチャージ法は、炉内
部品の冷却時間やチャンバ清掃時間等を数バッチ分省略
することができる。また、通常は単結晶1本分の引き上
げごとに1個必要とする石英るつぼも、数本の単結晶に
対して1個の割合となり、製造コストが低減する。しか
しながら、原料多結晶たとえば棒状の多結晶を石英るつ
ぼ内に残留する融液に直接浸漬して溶解しようとする
と、石英るつぼに大きな熱負荷がかかり、その表面が浸
食される。また、石英中の気泡が膨張して石英るつぼに
変形が起こり、甚だしい場合は前記気泡が破裂して石英
るつぼの破片が融液中に混入するため単結晶化が阻害さ
れるという問題点がある。本発明は上記従来の問題点に
着目してなされたもので、単結晶製造時間を短縮するこ
とができるとともに、1個の石英るつぼで数回の単結晶
引き上げを可能とする単結晶引き上げ装置および引き上
げ方法を提供することを目的としている。As a means for solving the problem of a decrease in the productivity of a single crystal, there is a conventionally known method of recharging. This is a method in which after the single crystal is pulled out of the melt, the process of charging and melting the raw material polycrystal again without turning off the heater power and growing the single crystal again is repeated several times. This recharging method can save several batches of time for cooling in-furnace components, time for cleaning the chamber, and the like. In addition, the number of quartz crucibles that normally require one for each pulling of one single crystal is one for several single crystals, and the manufacturing cost is reduced. However, when a raw material polycrystal, for example, a rod-shaped polycrystal is directly immersed and melted in a melt remaining in the quartz crucible, a large heat load is applied to the quartz crucible and the surface thereof is eroded. In addition, the bubbles in the quartz expand to deform the quartz crucible, and in severe cases, there is a problem that the bubbles are ruptured and fragments of the quartz crucible are mixed into the melt to inhibit single crystallization. . The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and can reduce a single crystal production time, and a single crystal pulling apparatus capable of pulling a single crystal several times with one quartz crucible and It aims to provide a method of raising.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る単結晶引き上げ装置は、チョクラルス
キー法による単結晶引き上げ装置において、融液面の上
方に引き上げ単結晶を取り巻く上部ヒータを設ける構成
とし、この単結晶引き上げ装置を用いる結晶引き上げ方
法は、上部ヒータを用いて原料多結晶を溶解するものと
し、または、上部ヒータを用いて原料多結晶を加熱し、
るつぼを取り巻くメインヒータを用いて前記原料多結晶
を溶解してもよい。更に、一定量の原料多結晶を溶解し
た後、追加する原料多結晶を上部ヒータまたは上部ヒー
タとメインヒータとを用いて溶解してもよい。In order to achieve the above object, a single crystal pulling apparatus according to the present invention is a single crystal pulling apparatus using the Czochralski method, wherein an upper heater surrounding a single crystal pulled above a melt surface is provided. The crystal pulling method using this single crystal pulling apparatus is to melt the raw material polycrystal using the upper heater, or heat the raw material polycrystal using the upper heater,
The raw material polycrystal may be dissolved by using a main heater surrounding the crucible. Further, after a certain amount of the raw material polycrystal is melted, the additional raw material polycrystal may be melted using the upper heater or the upper heater and the main heater.
【0006】[0006]
【作用】上記構成によれば、チョクラルスキー法による
単結晶引き上げ装置において、融液面の上方に引き上げ
単結晶を取り巻く上部ヒータを設けたので、この上部ヒ
ータを用いることにより、るつぼを取り巻くメインヒー
タのパワーを上げなくても原料多結晶を溶解することが
できる。又、上部ヒータで加熱する間はメインヒータの
パワーを下げて、石英るつぼへの熱負荷を低減すること
もできる。従って、1回目の単結晶引き上げ後、結晶引
き上げ機構のワイヤケーブルに釣支した棒状または粒状
の原料多結晶を上部ヒータで溶解し、あるいは前記上部
ヒータで加熱した原料多結晶をメインヒータで溶解すれ
ば、メインヒータから石英るつぼに加えられる熱負荷を
最小限に抑えることができ、石英るつぼの耐用回数を数
回まで延ばすことができる。また、石英るつぼに充填し
た粒状多結晶が溶解したとき融液面はるつぼの上端より
下方にあるので、前記溶解完了後、追加する原料多結晶
を前記上部ヒータあるいは上部ヒータとメインヒータと
を用いて溶解することにより、1回のチャージ量を増や
すことが可能となり、従来の引き上げよりも長い単結晶
を引き上げることができるため単結晶の収率,生産性向
上に寄与する。According to the above structure, in the single crystal pulling apparatus using the Czochralski method, since the upper heater surrounding the single crystal pulled above the melt surface is provided, the main heater surrounding the crucible is provided by using the upper heater. The raw material polycrystal can be dissolved without increasing the power of the heater. Further, during heating by the upper heater, the power of the main heater can be reduced to reduce the heat load on the quartz crucible. Therefore, after the first single crystal pulling, the rod-shaped or granular raw polycrystal supported by the wire cable of the crystal pulling mechanism is melted by the upper heater, or the raw polycrystal heated by the upper heater is melted by the main heater. For example, the thermal load applied to the quartz crucible from the main heater can be minimized, and the service life of the quartz crucible can be extended to several times. Further, when the granular polycrystal filled in the quartz crucible is melted, the melt surface is below the upper end of the crucible, so after completion of the melting, the additional material polycrystal is added using the upper heater or the upper heater and the main heater. By dissolving the single crystal, it is possible to increase the amount of charge at one time, and a single crystal longer than a conventional one can be pulled, which contributes to an improvement in the yield and productivity of the single crystal.
【0007】[0007]
【実施例】以下に本発明に係る単結晶引き上げ装置の実
施例について、図面を参照して説明する。図1は単結晶
引き上げ装置下部の概略構成を模式的に示す部分断面図
で、単結晶引き上げ中の状態を示している。同図におい
て、メインチャンバ1内に設置された黒鉛るつぼ2に石
英るつぼ3が嵌着され、この石英るつぼ3内に貯留され
た融液4からシリコン単結晶5が引き上げられている。
6はるつぼ軸、7はメインヒータ、8は断熱筒で、前記
断熱筒8の上端に輻射スクリーン9が取り付けられてい
る。この輻射スクリーン9は、単結晶引き上げ領域を取
り巻く熱遮蔽体であり、下端開口部の直径が上端開口部
の直径以下の円錐状の筒である。また、上部ヒータ10
はシリコン単結晶5を取り巻く円筒状の黒鉛製ヒータ
で、断熱筒8の上端に設けられたブラケット11に釣支
されている。上部ヒータ10は図2に示すように、円筒
状の黒鉛製ヒータ本体10aと、これを取り巻く円筒状
の黒鉛製保温筒10bとからなり、前記保温筒10bは
炭素繊維からなる円筒状の断熱材10cを黒鉛製表層1
0dで被覆したものである。上部ヒータ10の軸方向長
さ、大きさ等を変えることにより、原料多結晶の加熱、
溶解所要時間の短縮を図ることができる。本実施例では
上部ヒータ10を、ブラケット11を介して断熱筒8に
釣支したが、これに限るものではなく、チャンバ内壁あ
るいは輻射スクリーン9に釣支または固定してもよい。
なお、言うまでもなく本発明は、輻射スクリーンのない
単結晶引き上げ装置に対しても適用可能である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a single crystal pulling apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a partial cross-sectional view schematically showing a schematic configuration of a lower portion of a single crystal pulling apparatus, showing a state during single crystal pulling. In the figure, a quartz crucible 3 is fitted to a graphite crucible 2 installed in a main chamber 1, and a silicon single crystal 5 is pulled up from a melt 4 stored in the quartz crucible 3.
6 is a crucible shaft, 7 is a main heater, 8 is a heat insulating cylinder, and a radiation screen 9 is attached to the upper end of the heat insulating cylinder 8. The radiation screen 9 is a heat shield surrounding the single crystal pulling region, and is a conical tube whose lower end opening has a diameter equal to or less than the upper end opening. Also, the upper heater 10
Is a cylindrical graphite heater surrounding the silicon single crystal 5 and is supported by a bracket 11 provided at the upper end of the heat insulating cylinder 8. As shown in FIG. 2, the upper heater 10 includes a cylindrical graphite heater main body 10a and a cylindrical graphite heat insulation cylinder 10b surrounding the heater main body 10a. The heat insulation cylinder 10b is a cylindrical heat insulating material made of carbon fiber. 10c is graphite surface layer 1
0d. By changing the axial length, size, etc. of the upper heater 10, heating of the raw material polycrystal,
The time required for dissolution can be reduced. In the present embodiment, the upper heater 10 is supported by the heat insulating cylinder 8 via the bracket 11, but is not limited to this, and may be supported or fixed to the inner wall of the chamber or the radiation screen 9.
Needless to say, the present invention is also applicable to a single crystal pulling apparatus without a radiation screen.
【0008】次に、上記単結晶引き上げ装置を用いる単
結晶引き上げ方法について説明する。図1に示した単結
晶引き上げ時には上部ヒータ10を作動させず、メイン
ヒータ7のみが作動する。1本目の単結晶の引き上げが
完了すると、この単結晶インゴットを図示しないプルチ
ャンバから外部に取り出す。次に、図3に示すように結
晶引き上げ機構のワイヤケーブル12に釣支した棒状の
多結晶シリコン13を上部ヒータ10内に吊り降ろし、
上部ヒータ10を作動させる。加熱、溶解された多結晶
は石英るつぼ3内に残留する融液4に滴下する。融液4
が所定量に達した時点で上部ヒータ10の作動を停止
し、ワイヤケーブル12を巻き上げ、多結晶シリコン1
3の残部をプルチャンバから外部に取り出す。その後、
結晶引き上げ機構のワイヤケーブル12に種子結晶を釣
支し、この種子結晶を融液4に浸漬し、図1に示すよう
に単結晶の引き上げを行う。このように、原料多結晶を
上部ヒータ10によって溶解、補給することにしたの
で、メインヒータ7から石英るつぼ3に加えられる熱負
荷が軽減され、石英るつぼを交換せずに複数回の単結晶
引き上げを行うことができる。前記多結晶シリコン13
を上部ヒータ10で加熱した状態で融液4に浸漬し、メ
インヒータ7で溶解する請求項3の方法を用いてもよ
い。この場合、多結晶シリコン13は十分に加熱されて
いるため、メインヒータ7のパワーを上げずに融液内で
容易に溶解することが可能である。Next, a single crystal pulling method using the single crystal pulling apparatus will be described. When pulling the single crystal shown in FIG. 1, the upper heater 10 is not operated, and only the main heater 7 is operated. When the pulling of the first single crystal is completed, this single crystal ingot is taken out of a pull chamber (not shown). Next, as shown in FIG. 3, the rod-shaped polycrystalline silicon 13 supported by the wire cable 12 of the crystal pulling mechanism is suspended in the upper heater 10,
The upper heater 10 is operated. The heated and dissolved polycrystal is dropped onto the melt 4 remaining in the quartz crucible 3. Melt 4
When a predetermined amount is reached, the operation of the upper heater 10 is stopped, the wire cable 12 is wound up, and the polysilicon 1
The rest of 3 is taken out of the pull chamber. afterwards,
A seed crystal is supported on the wire cable 12 of the crystal pulling mechanism, the seed crystal is immersed in the melt 4, and a single crystal is pulled as shown in FIG. As described above, since the raw material polycrystal is melted and supplied by the upper heater 10, the heat load applied to the quartz crucible 3 from the main heater 7 is reduced, and the single crystal is pulled multiple times without replacing the quartz crucible. It can be performed. The polycrystalline silicon 13
May be immersed in the melt 4 while being heated by the upper heater 10 and dissolved by the main heater 7. In this case, since the polycrystalline silicon 13 is sufficiently heated, it can be easily dissolved in the melt without increasing the power of the main heater 7.
【0009】図4は第2実施例の説明図で、上記棒状の
多結晶シリコンに代えて粒状の多結晶シリコンを用いる
場合を示している。粒状の多結晶シリコン14を石英又
は、内側に石英を設けた黒鉛製の容器15に充填し、こ
れを結晶引き上げ機構のワイヤケーブル12に釣支して
上部ヒータ10内に吊り降ろし、上部ヒータ10によっ
て溶解する。前記多結晶シリコン14を上部ヒータ10
で加熱した状態で融液4に落下させ、その後メインヒー
タ7で溶解する方法でもよい。FIG. 4 is an explanatory view of the second embodiment, in which granular polycrystalline silicon is used in place of the rod-shaped polycrystalline silicon. A granular polycrystalline silicon 14 is filled in a quartz container 15 made of quartz or quartz provided on the inside, and this is suspended by the wire cable 12 of the crystal pulling mechanism and suspended in the upper heater 10. To dissolve. The polycrystalline silicon 14 is supplied to the upper heater 10
Alternatively, a method may be used in which the main heater 7 drops the melt 4 while heating it, and then melts it with the main heater 7.
【0010】図5は第3実施例の説明図である。粒状の
多結晶シリコン14を石英るつぼ3内に残留する融液上
にそのまま落下させ、メインヒータ7と上部ヒータ10
とを同時に作動させて溶解する。この方法を第1回目の
原料溶解、すなわち石英るつぼ3に充填した粒状多結晶
シリコンの溶解時に用いてもよい。上部ヒータ10の作
動によりメインヒータ7の電力を大きくする必要がない
ので、石英るつぼに加えられる熱負荷を最小に抑えて原
料を溶解することができる。FIG. 5 is an explanatory diagram of the third embodiment. The granular polycrystalline silicon 14 is dropped on the melt remaining in the quartz crucible 3 as it is, and the main heater 7 and the upper heater 10 are dropped.
And are simultaneously operated to dissolve. This method may be used for the first melting of the raw material, that is, for melting the granular polycrystalline silicon filled in the quartz crucible 3. Since it is not necessary to increase the power of the main heater 7 by operating the upper heater 10, it is possible to melt the raw material while minimizing the heat load applied to the quartz crucible.
【0011】石英るつぼに充填した粒状の原料多結晶の
溶解が完了すると、融液面は石英るつぼの上端より低い
位置となり、石英るつぼの容量に余裕ができる。請求項
4はこの現象を利用してチャージ量を増やすもので、前
記溶解完了後、原料多結晶を追加して溶解する。追加す
る原料多結晶は上述と同じく棒状または粒状とし、上部
ヒータのみで、あるいは上部ヒータとメインヒータとに
よって溶解する。この方法により、1回のチャージ量を
従来の1.5倍程度に増やすことが可能となる。When the melting of the granular raw material polycrystal filled in the quartz crucible is completed, the melt surface is located at a position lower than the upper end of the quartz crucible, and the capacity of the quartz crucible is allowed. According to a fourth aspect of the present invention, the amount of charge is increased by utilizing this phenomenon. After the completion of the dissolution, the raw material polycrystal is additionally dissolved. The raw material polycrystal to be added has a rod shape or a granular shape as described above, and is melted only by the upper heater or by the upper heater and the main heater. According to this method, it is possible to increase the amount of charge at one time to about 1.5 times the conventional amount.
【0012】[0012]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、融
液面の上方に引き上げ単結晶を取り巻く上部ヒータを設
け、るつぼに充填した原料多結晶やリチャージする原料
多結晶を主として前記上部ヒータで溶解し、または上部
ヒータで十分に加熱した後メインヒータで溶解すること
にしたので、原料多結晶の溶解所要時間を大幅に短縮さ
せることができる。これによる効果とリチャージ法によ
る効果とにより、1本当たりの単結晶製造所要時間を従
来の1/3程度に短縮させることが可能である。また上
部ヒータの活用により、石英るつぼに加えられる熱負荷
を最小に抑え、劣化を遅らせることができるので、石英
るつぼを交換せずに数回の単結晶引き上げが可能とな
る。その他、上部ヒータを利用して既に成長の完了した
単結晶の熱履歴を変えることや、リチャージする原料多
結晶のドープ材を変えることにより抵抗値の異なる単結
晶を同一の石英るつぼで引き上げることができる。As described above, according to the present invention, the upper heater is provided above the surface of the melt to surround the single crystal, and the upper heater mainly comprises the polycrystalline material filled in the crucible and the polycrystalline material to be recharged. , Or after sufficiently heating with the upper heater and then melting with the main heater, the time required for melting the raw material polycrystal can be greatly reduced. Due to this effect and the effect of the recharge method, the time required for manufacturing a single crystal per crystal can be reduced to about one third of the conventional one. Further, by utilizing the upper heater, the thermal load applied to the quartz crucible can be minimized and the deterioration can be delayed, so that the single crystal can be pulled several times without replacing the quartz crucible. In addition, the upper heater can be used to change the thermal history of a single crystal that has already been grown, or the single crystal with different resistance values can be pulled up in the same quartz crucible by changing the doping material of the source polycrystal to be recharged. it can.
【図1】単結晶引き上げ装置下部の概略構成を模式的に
示す部分断面図である。FIG. 1 is a partial sectional view schematically showing a schematic configuration of a lower portion of a single crystal pulling apparatus.
【図2】上部ヒータの平面図である。FIG. 2 is a plan view of an upper heater.
【図3】上部ヒータで棒状多結晶を溶解する状態を示す
説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a state in which a rod-shaped polycrystal is melted by an upper heater.
【図4】上部ヒータで粒状多結晶を溶解する状態を示す
説明図である。FIG. 4 is an explanatory view showing a state in which a granular polycrystal is melted by an upper heater.
【図5】上部ヒータとメインヒータとを用いて粒状多結
晶を溶解する状態を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a state in which a granular polycrystal is melted using an upper heater and a main heater.
2 黒鉛るつぼ 13,14 多結晶
シリコン 3 石英るつぼ 4 融液 5 シリコン単結晶 7 メインヒータ 10 上部ヒータ2 graphite crucible 13,14 polycrystalline silicon 3 quartz crucible 4 melt 5 silicon single crystal 7 main heater 10 upper heater
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 昭59−189875(JP,U) 実開 昭61−183971(JP,U) 実開 平1−122068(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C30B 15/14 - 15/18 C30B 15/02 - 15/04──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References Japanese Utility Model Sho 59-189875 (JP, U) Japanese Utility Model Sho 61-183971 (JP, U) Japanese Utility Model Hei 1-122068 (JP, U) (58) Field (Int.Cl. 6 , DB name) C30B 15/14-15/18 C30B 15/02-15/04
Claims (4)
げ装置において、融液面の上方に引き上げ単結晶を取り
巻く上部ヒータを設けたことを特徴とする単結晶引き上
げ装置。1. A single crystal pulling apparatus using a Czochralski method, wherein an upper heater surrounding the single crystal pulled above a melt surface is provided.
ることを特徴とする請求項1の単結晶引き上げ装置を用
いる単結晶引き上げ方法。2. A single crystal pulling method using a single crystal pulling apparatus according to claim 1, wherein the raw material polycrystal is melted using an upper heater.
し、るつぼを取り巻くメインヒータを用いて前記原料多
結晶を溶解することを特徴とする請求項1の単結晶引き
上げ装置を用いる単結晶引き上げ方法。3. A single crystal pulling apparatus using the single crystal pulling apparatus according to claim 1, wherein the raw material polycrystal is heated using an upper heater, and the raw material polycrystal is melted using a main heater surrounding a crucible. Method.
する原料多結晶を上部ヒータまたは上部ヒータとメイン
ヒータとを用いて溶解することを特徴とする請求項1の
単結晶引き上げ装置を用いる単結晶引き上げ方法。4. The single crystal pulling apparatus according to claim 1, wherein after a certain amount of the raw material polycrystal is melted, the additional raw material polycrystal is melted by using the upper heater or the upper heater and the main heater. Single crystal pulling method used.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35390292A JP2816633B2 (en) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | Single crystal pulling apparatus and pulling method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35390292A JP2816633B2 (en) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | Single crystal pulling apparatus and pulling method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06183876A JPH06183876A (en) | 1994-07-05 |
JP2816633B2 true JP2816633B2 (en) | 1998-10-27 |
Family
ID=18433996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35390292A Expired - Lifetime JP2816633B2 (en) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | Single crystal pulling apparatus and pulling method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2816633B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10152389A (en) * | 1996-11-21 | 1998-06-09 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | Apparatus for producing semiconductor single crystal and production of same single crystal |
JP4569103B2 (en) * | 2003-12-25 | 2010-10-27 | 信越半導体株式会社 | Single crystal manufacturing method |
JP5131170B2 (en) | 2008-12-05 | 2013-01-30 | 信越半導体株式会社 | Upper heater for single crystal production, single crystal production apparatus and single crystal production method |
-
1992
- 1992-12-16 JP JP35390292A patent/JP2816633B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06183876A (en) | 1994-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4919343B2 (en) | Single crystal pulling device | |
EP0364899B1 (en) | Apparatus and process for growing crystals of semiconductor materials | |
US4936949A (en) | Czochraski process for growing crystals using double wall crucible | |
JPH10101482A (en) | Production unit for single crystal silicon and its production | |
JP2003522086A (en) | Electric resistance heater for crystal growth apparatus and method of using the same | |
JP2937108B2 (en) | Single crystal pulling method and single crystal pulling apparatus | |
WO1999046433A1 (en) | Auxiliary apparatus for melting single crystal raw material and method of melting single crystal raw material | |
JP3760769B2 (en) | Method for producing silicon single crystal | |
JP2973917B2 (en) | Single crystal pulling method | |
JP2816633B2 (en) | Single crystal pulling apparatus and pulling method | |
JP4161655B2 (en) | Crystal manufacturing heater, crystal manufacturing apparatus, and crystal manufacturing method | |
JP3085565B2 (en) | Recharge method in semiconductor single crystal pulling | |
JP2004292288A (en) | Method for melting raw material for silicon single crystal | |
JP2990661B2 (en) | Single crystal growth method | |
US12110609B2 (en) | Methods for forming a single crystal silicon ingot with reduced crucible erosion | |
JPH06144986A (en) | Apparatus and method for production of semiconductor single crystal | |
JPH09241094A (en) | Production of semiconductor single crystal | |
JPH07300389A (en) | Production of semiconductor single crystal | |
JPH10279391A (en) | Method for growing silicon single crystal | |
JPH09309791A (en) | Method for producing semiconducting single crystal | |
JPH06340493A (en) | Apparatus for growing single crystal and growing method | |
JP2973908B2 (en) | Single crystal growth method | |
JPH0834696A (en) | Crystal growth device | |
JPH0511074B2 (en) | ||
JPH0733583A (en) | Apparatus for growing semiconductor single crystal |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080821 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080821 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110821 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 13 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110821 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 15 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130821 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 15 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130821 |