JP2810038B2 - 荷電ビーム装置 - Google Patents
荷電ビーム装置Info
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- F02—COMBUSTION ENGINES; HOT-GAS OR COMBUSTION-PRODUCT ENGINE PLANTS
- F02B—INTERNAL-COMBUSTION PISTON ENGINES; COMBUSTION ENGINES IN GENERAL
- F02B3/00—Engines characterised by air compression and subsequent fuel addition
- F02B3/06—Engines characterised by air compression and subsequent fuel addition with compression ignition
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はトンネル電流あるいは電界放射電流を利用し
た荷電ビーム装置に係り、特に、上記の電流を用いて電
流を流す電極同士あるいは探針と試料との距離を一定に
保つ信号検出手段を有する荷電ビーム装置に関する。 〔従来の技術〕 従来、トンネル電流あるいは電界放射電流を用いて上
記の電流を流す電極同士あるいは探針と試料との距離を
一定に保つ機能を有する電子装置の信号検出回路につい
ては、日経マイクロデバイス1986年11月号第81項から第
97項において述べられている。従来技術では第２図に示
すように検出電流を増幅器12で増幅後、対数変換器13で
対数変換してサーボ回路に入力している。この対数変換
はトンネル電流あるいは電界放射電流が電極間等の相対
距離Ｓの指数関数に比例している理由により使用してい
るものと思われる。しかし、厳密には（１）式に見られ
るように、1/Sと指数関数の積に比例している。 （１）式の対数を取ると（２）式となる。 lnIt∝−lnS−k2S （２） （２）式はlnS≪k2Sの場合、従来方法が有効となる。
しかし、仕事関数を4eVとすると、トンネル電流での ｋプラント定数、m:電子の質量）は2.04×108となり、
第３図の様にＳに対するlnS,k2Sの曲線が得られるの
で、10〜１Åの相対距離ＳではlnS≪k2Sの条件が満足さ
れない。即ち、従来技術では検出電流より正確な相対距
離Ｓの誤差を検出することはできない。 一方、従来技術では相対距離を一定にするために所望
の相対距離を基準電源８′から設定している。この設定
距離では絶対的なものを指定するのが、物質依存性など
の理由からむずかしい。従つて、電流を一定にすること
も極めてむずかしくなる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来技術はトンネル電流あるいは電界放射電流か
ら位置検出を高精度で行なう点について配慮がなされて
おらず、トンネル電流等を一定にするように探針あるい
は試料のどちらかを移動し、相対距離を一定に保つには
誤差が大きくなり、走査型トンネル顕微鏡（STM）のよ
うなＺ方向の位置検出分解能が高い電子装置では高分解
能が得られないという問題があつた。 本発明の目的はトンネル電流あるいは電界放射電流を
用いて、相対する電極間あるいは探針と試料間距離を高
精度に保つための荷電ビーム装置を得ることにある。 〔問題点を解決するための手段〕 上記の目的は、上記の荷電ビーム装置の信号検出回路
を電流一定になるようにサーボするために電流検出手
段、一定電流設定手段、誤差電流検出手段、誤差電流よ
り相対距離の誤差を（１）式に則り高精度で検出する誤
差距離変換手段を有することにより、達成される。 〔作用〕 本発明はトンネル電流あるいは電界放射電流を一定に
保つ様に相対距離を制御することにより相対距離を一定
に保つという考え方に基づき、誤差電流検出手段及び該
誤差電流から誤差距離変換手段を有することにより高精
度に距離を一定に保持することができる。特に、上記の
誤差距離変換は誤差電流をトンネル電流あるいは電界放
射電流で割算することにより正確に実行できる。これ
は、（１）式を微分することにより正確に誤差距離変換
が可能となる。設定値からの誤差電流dItは（３）式の
ように与えられる。 これより、距離の誤差量dSは次式で表わされる。 ここで、k2は一定であり、Ｓは制御されるので一定に
近い値である。また、５Å以上の相対距離では1/S≪k2
であり、（４）式は（５）式のように簡単に表現でき
る。 これは、理論式（（１）式）を忠実に堅持することが
できるので、探針あるいは試料を駆動するアクチユエー
タをトンネル電流あるいは電界放射電流が一定となる様
にサーボすることにより、誤差動作なく相対距離を一定
に保つことができる。 〔実施例〕 以下、本発明の実施例を第１図により説明する。図は
探針２をアクチユエータ１あるいは別の移動手段で試料
４に接近させ、電圧Vtを探針２と試料４との間に印加し
てトンネル電流あるいは電界放射電流Itを得ることによ
り、探針・試料間の相対距離を一定に保つ機能を有する
荷電ビーム装置の一部であるサーボループのブロツク図
である。このサーボループは電流検出器5,誤差電流検出
回路7,誤差距離変換回路9,サーボ回路10,高圧アンプ11
から構成されている。 探針２に電流検出器５を通してVt（＜０）を印加する
と、探針２から電子３が試料４に向つて流れる。これが
電圧の低い場合トンネル電流、高い場合電界放射電流It
である。尚、トンネル電流を得るには探針２と試料４と
の相対距離を10Å以下にすることが望しい。この時、It
に相当する信号が電流検出器５から出力され、該差電流
検出回路７で所望の電流に相当する電圧と減算されて誤
差電流dItが検出される。尚、所望の電流に相当する電
圧は基準電源８で設定することができる。また、基準電
源８は可変とすることが望しい。検出されたdItは誤差
位置変換回路９により（１）式に則りdSに変換される。
この信号より、既知であるサーボ回路10及び高圧アンプ
11を通して、dSが零となる様にアクチユエータ１を駆動
することができる。即ち、dSを零とすることはdItを零
とすることであるので、本発明の目的を達成することが
できる。また、誤差位置変換回路９は簡易的に（５）式
が利用でき、市販の割算回路を用いて実現することがで
きる。 第４図に本発明の主要部の一具体例を示す。図では電
流検出部、誤差電流検出部、割算部を示している。電流
検出部５はオペアンプ５によりItに相当する電圧Vd（＝
−R1・It）を検出する。誤差電流検出回路７はオペアン
プ21と抵抗R2〜R5により減算器で形成され、dVd（＝−
（Vd−Vr））を出力する。このdVdとVdを割算回路22で
構成する誤差距離検出回路９に入力し、相対距離の誤差
量dSに相当するVout（∝dVd/Vd∝dIt/It）を得ることが
できる。これにより、トンネル電流あるいは電界放射電
流を用いて正確に距離の誤差量を算出することができ
る。即ち、第１図のようなサーボ回路において、トンネ
ル電流等を高精度で一定に保つとともに相対距離も高分
解能を持つたまま保持することができる。尚、第４図の
電流検出器５は電流電圧変換回路を使用したが、この場
合、第１図の様に探針２と電源６との間に設置するより
も、試料４とアース間に設置した方が良い。第１図の場
合は検出抵抗を探針２と電源６との間に設置し、この逆
起電力を検出する方法が適する。また、第４図の誤差距
離変換回路９は（５）式を忠実に表わしたものである
が、さらに厳密にするには（４）式を用いることが重要
であり、第３図の特性を用いて、場合場合に応じて、電
流Itより相対距離成分を算出して誤差距離変換回路９で
演算することが必要となる。即ち、lnS≫k2Sの場合、相
対距離の成分として、電流Itを、一方、lnS≪k2Sの場合
はlnItを用いて、（４）式を満足するように演算回路を
構成することが必要である。 第１図の構成において、電流検出器５や電源６を探針
２側に設置したが、これらは各々アースと探針２との
間、あるいは試料４とアース間のどちらに設置しても構
わない。また、サーボ回路10はアクチユエータ１に使用
するものにより決定される。圧電素子では積分要素を含
んだ比例積分制御あるいは比例積分微分制御方式が用い
られる。ボイスコイル、モータなどでは比例制御方式が
望ましい。 本発明の応用としては走査型トンネル顕微鏡，電界放
射電流を利用した３次元形状計測装置、大容量フアイル
のビツト検出あるいは読み出し、書き込みのためのヘツ
ドと試料との間隔保持機構等がある。さらに、トンネル
電流あるいは電界放射電流を利用して、微小な間隔を保
持する機構においても本発明の適用範囲であり、本発明
を逸脱するものではない。具体例では電子の場合を示し
たが、液体金属探針のように電子ばかりでなく電界放射
イオン電流を利用する場合も本発明と同様に実施でき
る。本実施例によれば、トンネル電流あるいは電界放射
電流の誤差量より正確に相対距離の誤差量を検出できる
ので、相対距離を高精度で保持することができる。 以上実施例によれば、トンネル電流あるいは電界放射
電流を±５％以内にアクチユエータを用いてサーボする
ことができるので、電極同士あるいは探針と試料との相
対距離を0.1Å程度の高精度で保持することができる。
即ち、走査型トンネル顕微鏡のごとく高精度の形状計測
や大容量超高密度フアイルとしての情報の読み出しに利
用でき、計測の高精度化や情報の微細化の効果がある。
さらに、フアイルの読み出し書き込のごとく、ヘツドと
試料とを微小間隔で保持するような分野あるいは微小間
隔で近接させる分野においても本発明は上記精度で近
接、保持できるので極めて有効である。 〔発明の効果〕 本発明は以上説明したように構成したものであるか
ら、電極間あるいは探針と試料間距離を高精度で一定に
保つことが可能となる。
た荷電ビーム装置に係り、特に、上記の電流を用いて電
流を流す電極同士あるいは探針と試料との距離を一定に
保つ信号検出手段を有する荷電ビーム装置に関する。 〔従来の技術〕 従来、トンネル電流あるいは電界放射電流を用いて上
記の電流を流す電極同士あるいは探針と試料との距離を
一定に保つ機能を有する電子装置の信号検出回路につい
ては、日経マイクロデバイス1986年11月号第81項から第
97項において述べられている。従来技術では第２図に示
すように検出電流を増幅器12で増幅後、対数変換器13で
対数変換してサーボ回路に入力している。この対数変換
はトンネル電流あるいは電界放射電流が電極間等の相対
距離Ｓの指数関数に比例している理由により使用してい
るものと思われる。しかし、厳密には（１）式に見られ
るように、1/Sと指数関数の積に比例している。 （１）式の対数を取ると（２）式となる。 lnIt∝−lnS−k2S （２） （２）式はlnS≪k2Sの場合、従来方法が有効となる。
しかし、仕事関数を4eVとすると、トンネル電流での ｋプラント定数、m:電子の質量）は2.04×108となり、
第３図の様にＳに対するlnS,k2Sの曲線が得られるの
で、10〜１Åの相対距離ＳではlnS≪k2Sの条件が満足さ
れない。即ち、従来技術では検出電流より正確な相対距
離Ｓの誤差を検出することはできない。 一方、従来技術では相対距離を一定にするために所望
の相対距離を基準電源８′から設定している。この設定
距離では絶対的なものを指定するのが、物質依存性など
の理由からむずかしい。従つて、電流を一定にすること
も極めてむずかしくなる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来技術はトンネル電流あるいは電界放射電流か
ら位置検出を高精度で行なう点について配慮がなされて
おらず、トンネル電流等を一定にするように探針あるい
は試料のどちらかを移動し、相対距離を一定に保つには
誤差が大きくなり、走査型トンネル顕微鏡（STM）のよ
うなＺ方向の位置検出分解能が高い電子装置では高分解
能が得られないという問題があつた。 本発明の目的はトンネル電流あるいは電界放射電流を
用いて、相対する電極間あるいは探針と試料間距離を高
精度に保つための荷電ビーム装置を得ることにある。 〔問題点を解決するための手段〕 上記の目的は、上記の荷電ビーム装置の信号検出回路
を電流一定になるようにサーボするために電流検出手
段、一定電流設定手段、誤差電流検出手段、誤差電流よ
り相対距離の誤差を（１）式に則り高精度で検出する誤
差距離変換手段を有することにより、達成される。 〔作用〕 本発明はトンネル電流あるいは電界放射電流を一定に
保つ様に相対距離を制御することにより相対距離を一定
に保つという考え方に基づき、誤差電流検出手段及び該
誤差電流から誤差距離変換手段を有することにより高精
度に距離を一定に保持することができる。特に、上記の
誤差距離変換は誤差電流をトンネル電流あるいは電界放
射電流で割算することにより正確に実行できる。これ
は、（１）式を微分することにより正確に誤差距離変換
が可能となる。設定値からの誤差電流dItは（３）式の
ように与えられる。 これより、距離の誤差量dSは次式で表わされる。 ここで、k2は一定であり、Ｓは制御されるので一定に
近い値である。また、５Å以上の相対距離では1/S≪k2
であり、（４）式は（５）式のように簡単に表現でき
る。 これは、理論式（（１）式）を忠実に堅持することが
できるので、探針あるいは試料を駆動するアクチユエー
タをトンネル電流あるいは電界放射電流が一定となる様
にサーボすることにより、誤差動作なく相対距離を一定
に保つことができる。 〔実施例〕 以下、本発明の実施例を第１図により説明する。図は
探針２をアクチユエータ１あるいは別の移動手段で試料
４に接近させ、電圧Vtを探針２と試料４との間に印加し
てトンネル電流あるいは電界放射電流Itを得ることによ
り、探針・試料間の相対距離を一定に保つ機能を有する
荷電ビーム装置の一部であるサーボループのブロツク図
である。このサーボループは電流検出器5,誤差電流検出
回路7,誤差距離変換回路9,サーボ回路10,高圧アンプ11
から構成されている。 探針２に電流検出器５を通してVt（＜０）を印加する
と、探針２から電子３が試料４に向つて流れる。これが
電圧の低い場合トンネル電流、高い場合電界放射電流It
である。尚、トンネル電流を得るには探針２と試料４と
の相対距離を10Å以下にすることが望しい。この時、It
に相当する信号が電流検出器５から出力され、該差電流
検出回路７で所望の電流に相当する電圧と減算されて誤
差電流dItが検出される。尚、所望の電流に相当する電
圧は基準電源８で設定することができる。また、基準電
源８は可変とすることが望しい。検出されたdItは誤差
位置変換回路９により（１）式に則りdSに変換される。
この信号より、既知であるサーボ回路10及び高圧アンプ
11を通して、dSが零となる様にアクチユエータ１を駆動
することができる。即ち、dSを零とすることはdItを零
とすることであるので、本発明の目的を達成することが
できる。また、誤差位置変換回路９は簡易的に（５）式
が利用でき、市販の割算回路を用いて実現することがで
きる。 第４図に本発明の主要部の一具体例を示す。図では電
流検出部、誤差電流検出部、割算部を示している。電流
検出部５はオペアンプ５によりItに相当する電圧Vd（＝
−R1・It）を検出する。誤差電流検出回路７はオペアン
プ21と抵抗R2〜R5により減算器で形成され、dVd（＝−
（Vd−Vr））を出力する。このdVdとVdを割算回路22で
構成する誤差距離検出回路９に入力し、相対距離の誤差
量dSに相当するVout（∝dVd/Vd∝dIt/It）を得ることが
できる。これにより、トンネル電流あるいは電界放射電
流を用いて正確に距離の誤差量を算出することができ
る。即ち、第１図のようなサーボ回路において、トンネ
ル電流等を高精度で一定に保つとともに相対距離も高分
解能を持つたまま保持することができる。尚、第４図の
電流検出器５は電流電圧変換回路を使用したが、この場
合、第１図の様に探針２と電源６との間に設置するより
も、試料４とアース間に設置した方が良い。第１図の場
合は検出抵抗を探針２と電源６との間に設置し、この逆
起電力を検出する方法が適する。また、第４図の誤差距
離変換回路９は（５）式を忠実に表わしたものである
が、さらに厳密にするには（４）式を用いることが重要
であり、第３図の特性を用いて、場合場合に応じて、電
流Itより相対距離成分を算出して誤差距離変換回路９で
演算することが必要となる。即ち、lnS≫k2Sの場合、相
対距離の成分として、電流Itを、一方、lnS≪k2Sの場合
はlnItを用いて、（４）式を満足するように演算回路を
構成することが必要である。 第１図の構成において、電流検出器５や電源６を探針
２側に設置したが、これらは各々アースと探針２との
間、あるいは試料４とアース間のどちらに設置しても構
わない。また、サーボ回路10はアクチユエータ１に使用
するものにより決定される。圧電素子では積分要素を含
んだ比例積分制御あるいは比例積分微分制御方式が用い
られる。ボイスコイル、モータなどでは比例制御方式が
望ましい。 本発明の応用としては走査型トンネル顕微鏡，電界放
射電流を利用した３次元形状計測装置、大容量フアイル
のビツト検出あるいは読み出し、書き込みのためのヘツ
ドと試料との間隔保持機構等がある。さらに、トンネル
電流あるいは電界放射電流を利用して、微小な間隔を保
持する機構においても本発明の適用範囲であり、本発明
を逸脱するものではない。具体例では電子の場合を示し
たが、液体金属探針のように電子ばかりでなく電界放射
イオン電流を利用する場合も本発明と同様に実施でき
る。本実施例によれば、トンネル電流あるいは電界放射
電流の誤差量より正確に相対距離の誤差量を検出できる
ので、相対距離を高精度で保持することができる。 以上実施例によれば、トンネル電流あるいは電界放射
電流を±５％以内にアクチユエータを用いてサーボする
ことができるので、電極同士あるいは探針と試料との相
対距離を0.1Å程度の高精度で保持することができる。
即ち、走査型トンネル顕微鏡のごとく高精度の形状計測
や大容量超高密度フアイルとしての情報の読み出しに利
用でき、計測の高精度化や情報の微細化の効果がある。
さらに、フアイルの読み出し書き込のごとく、ヘツドと
試料とを微小間隔で保持するような分野あるいは微小間
隔で近接させる分野においても本発明は上記精度で近
接、保持できるので極めて有効である。 〔発明の効果〕 本発明は以上説明したように構成したものであるか
ら、電極間あるいは探針と試料間距離を高精度で一定に
保つことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例である探針・試料間を一定距
離に保つためのサーボ回路ブロツク図、第２図は従来技
術でのサーボ回路ブロツク図、第３図は相対距離Ｓに対
するlnS及びk2Sの特性、第４図は本発明の主要部の具体
的な一電気回路図である。 １……アクチユエータ、２……探針、３……電子、４…
…試料、５……電流検出器、６……電源、７……誤差電
流検出回路、８……基準電源、９……誤差距離検出回
路、10……サーボ回路、11……高圧アンプ、20,21……
オペアンプ、22……割算回路。
離に保つためのサーボ回路ブロツク図、第２図は従来技
術でのサーボ回路ブロツク図、第３図は相対距離Ｓに対
するlnS及びk2Sの特性、第４図は本発明の主要部の具体
的な一電気回路図である。 １……アクチユエータ、２……探針、３……電子、４…
…試料、５……電流検出器、６……電源、７……誤差電
流検出回路、８……基準電源、９……誤差距離検出回
路、10……サーボ回路、11……高圧アンプ、20,21……
オペアンプ、22……割算回路。
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名)
G01B 7/34
G01B 21/30
G01N 37/00
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．相対して設置した電極間あるいは探針と試料間にト
ンネル電流あるいは電界放射電流を流し、電極間あるい
は探針と試料間の距離を一定に保つことを利用する荷電
ビーム装置において、上記のトンネル電流あるいは電界
放射電流を検出する手段と、上記の電流を一定に流すた
めの目標値設定手段と、検出電流と目標値との誤差を検
出する電流誤差検出手段と、電流誤差を距離誤差に変化
する電流距離変換手段と、距離誤差が零となるように電
極間あるいは探針と試料間の距離をサーボするサーボ手
段と、を有することを特徴とした荷電ビーム装置。 ２．前記電流誤差を距離誤差に変化する電流距離変換手
段が、検出された誤差電流と検出電流の比を距離誤差と
して出力するものであることを特徴とした特許請求の範
囲第１項記載の荷電ビーム装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62063767A JP2810038B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 荷電ビーム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62063767A JP2810038B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 荷電ビーム装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63231202A JPS63231202A (ja) | 1988-09-27 |
| JP2810038B2 true JP2810038B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=13238855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62063767A Expired - Fee Related JP2810038B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 荷電ビーム装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2810038B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2547440B2 (ja) * | 1988-09-28 | 1996-10-23 | 株式会社日立製作所 | 磁気ヘッドスライダ浮上量測定装置 |
| JP2896794B2 (ja) * | 1988-09-30 | 1999-05-31 | キヤノン株式会社 | 走査型トンネル電流検出装置，走査型トンネル顕微鏡，及び記録再生装置 |
| JPH0765884B2 (ja) * | 1991-04-02 | 1995-07-19 | 北斗電子工業株式会社 | 非接触式寸法測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4343993A (en) * | 1979-09-20 | 1982-08-10 | International Business Machines Corporation | Scanning tunneling microscope |
-
1987
- 1987-03-20 JP JP62063767A patent/JP2810038B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4343993A (en) * | 1979-09-20 | 1982-08-10 | International Business Machines Corporation | Scanning tunneling microscope |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63231202A (ja) | 1988-09-27 |
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