JP2809929B2 - プラント制御装置の試験システム - Google Patents
プラント制御装置の試験システムInfo
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プラント制御装置内
の各部における動作の健全性を自動確認するプラント制
御装置の試験システムに関するものである。
の各部における動作の健全性を自動確認するプラント制
御装置の試験システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来のプラント制御装置の試験シ
ステムを示すブロック図である。図において、１はプラ
ントの各現場に設置され、温度、流量、圧力、水位など
のプロセス状態を検知して電気信号にて送出するトラン
スミッタ、２はトランスミッタ１に接続された試験対象
としての保護系計器ラック、３は保護系計器ラック２に
接続された試験対象としての保護系ロジック盤、４は保
護系ロジック盤３に接続された試験対象としての保護系
補機制御盤であり、５はこの保護系補機制御盤４の出力
によって制御される電磁弁、電動弁などの補機である。
６はこれらトランスミッタ１、保護系計器ラック２、保
護系ロジック盤３、保護系補機制御盤４および補機５を
含むプラント制御装置である。
ステムを示すブロック図である。図において、１はプラ
ントの各現場に設置され、温度、流量、圧力、水位など
のプロセス状態を検知して電気信号にて送出するトラン
スミッタ、２はトランスミッタ１に接続された試験対象
としての保護系計器ラック、３は保護系計器ラック２に
接続された試験対象としての保護系ロジック盤、４は保
護系ロジック盤３に接続された試験対象としての保護系
補機制御盤であり、５はこの保護系補機制御盤４の出力
によって制御される電磁弁、電動弁などの補機である。
６はこれらトランスミッタ１、保護系計器ラック２、保
護系ロジック盤３、保護系補機制御盤４および補機５を
含むプラント制御装置である。
【０００３】７は前記保護系計器ラック２、保護系ロジ
ック盤３、保護系補機制御盤４の入出力信号および内部
の主要信号、さらには補機５の状態信号の収集を行うＤ
ＡＳプロセッサ、８はＤＡＳプロセッサ７の収集した信
号の計算処理を行うエンジニアリングプロセッサであ
り、９はＤＡＳプロセッサ７で収集された信号およびエ
ンジニアリングプロセッサで処理された信号の表示を制
御するＣＲＴプロセッサである。１０はこのＤＡＳプロ
セッサ７、エンジニアリングプロセッサ８、およびＣＲ
Ｔプロセッサ９を接続しているユニットバスであり、１
１はユニットバス１０で接続されたこれら各プロセッサ
７〜９を含むプラント計算機である。
ック盤３、保護系補機制御盤４の入出力信号および内部
の主要信号、さらには補機５の状態信号の収集を行うＤ
ＡＳプロセッサ、８はＤＡＳプロセッサ７の収集した信
号の計算処理を行うエンジニアリングプロセッサであ
り、９はＤＡＳプロセッサ７で収集された信号およびエ
ンジニアリングプロセッサで処理された信号の表示を制
御するＣＲＴプロセッサである。１０はこのＤＡＳプロ
セッサ７、エンジニアリングプロセッサ８、およびＣＲ
Ｔプロセッサ９を接続しているユニットバスであり、１
１はユニットバス１０で接続されたこれら各プロセッサ
７〜９を含むプラント計算機である。
【０００４】１２は前記ＣＲＴプロセッサ９から送られ
てくる信号を表示するＣＲＴを備えた中央制御盤であ
り、１３は前記エンジニアリングプロセッサ８が接続さ
れるステーションバス、１４はこのステーションバス１
３に接続されたテクニカルサポートセンタである。ま
た、１５は前記保護系計器ラック２に接続されてその動
作の健全性を自動確認する試験装置であり、１６は同じ
く保護系ロジック盤３の動作の健全性を自動確認する試
験装置、１７は保護系補機制御盤４の動作の健全性を自
動確認する試験装置である。
てくる信号を表示するＣＲＴを備えた中央制御盤であ
り、１３は前記エンジニアリングプロセッサ８が接続さ
れるステーションバス、１４はこのステーションバス１
３に接続されたテクニカルサポートセンタである。ま
た、１５は前記保護系計器ラック２に接続されてその動
作の健全性を自動確認する試験装置であり、１６は同じ
く保護系ロジック盤３の動作の健全性を自動確認する試
験装置、１７は保護系補機制御盤４の動作の健全性を自
動確認する試験装置である。
【０００５】さらに、図６は前記保護系計器ラック２お
よびその試験装置１５の内部構成を示すブロック図であ
る。保護系計器ラック２内において、３１はトランスミ
ッタ１からの信号の電流／電圧変換を行う変換器、３２
は変換器３１の出力に対して平方根、リード／ラグ、加
減算等の演算を行う演算器であり、３３は演算器３２の
出力に基づくバイステーブル出力信号を発生する双安定
器である。３４〜３７はこれら変換器３１、演算器３２
および双安定器３３の入出力端を試験装置１５に接続す
るインタフェース用のリレーであり、３９は演算器３
２、あるいは双安定器３３の入力信号をＤＡＳプロセッ
サ７に取り込むための保護抵抗である。なお、４０はそ
の一部を図示した保護系ロジック盤３の入力リレーであ
り、４１はそのロジックカードである。
よびその試験装置１５の内部構成を示すブロック図であ
る。保護系計器ラック２内において、３１はトランスミ
ッタ１からの信号の電流／電圧変換を行う変換器、３２
は変換器３１の出力に対して平方根、リード／ラグ、加
減算等の演算を行う演算器であり、３３は演算器３２の
出力に基づくバイステーブル出力信号を発生する双安定
器である。３４〜３７はこれら変換器３１、演算器３２
および双安定器３３の入出力端を試験装置１５に接続す
るインタフェース用のリレーであり、３９は演算器３
２、あるいは双安定器３３の入力信号をＤＡＳプロセッ
サ７に取り込むための保護抵抗である。なお、４０はそ
の一部を図示した保護系ロジック盤３の入力リレーであ
り、４１はそのロジックカードである。
【０００６】また、試験装置１５内において、４２は当
該試験装置１５の全体制御を行うＣＰＵ、４３はプログ
ラムなどが格納されたＲＯＭ、４４はＣＰＵ４２の処理
過程におけるデータなどが格納されるＲＡＭであり、４
５はアナログ電流による信号が出力されるアナログ出力
装置、４６はアナログ電圧による信号が入力されるアナ
ログ入力装置、４７はディジタル信号が入力されるディ
ジタル入力装置、４８はディジタル信号が出力されるデ
ィジタル出力装置であり、４９はこれら各機器４２〜４
８を接続している内部バスである。
該試験装置１５の全体制御を行うＣＰＵ、４３はプログ
ラムなどが格納されたＲＯＭ、４４はＣＰＵ４２の処理
過程におけるデータなどが格納されるＲＡＭであり、４
５はアナログ電流による信号が出力されるアナログ出力
装置、４６はアナログ電圧による信号が入力されるアナ
ログ入力装置、４７はディジタル信号が入力されるディ
ジタル入力装置、４８はディジタル信号が出力されるデ
ィジタル出力装置であり、４９はこれら各機器４２〜４
８を接続している内部バスである。
【０００７】次に動作について説明する。ここで、図５
はＰＷＲ原子力発電プラントの原子炉保護系について示
したものであり、プラント制御装置６内の保護系計器ラ
ック２、保護系ロジック盤３、および保護系補機制御盤
４の入出力信号および内部の主要信号と、補機５の状態
信号とは、プラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７で
収集され、ユニットバス１０を介してエンジニアリング
プロセッサ８およびＣＲＴプロセッサ９に送られる。こ
の場合、保護系計器ラック２等の入出力信号や内部の主
要信号は保護抵抗３９を介してＤＡＳプロセッサ７に取
り込まれる。
はＰＷＲ原子力発電プラントの原子炉保護系について示
したものであり、プラント制御装置６内の保護系計器ラ
ック２、保護系ロジック盤３、および保護系補機制御盤
４の入出力信号および内部の主要信号と、補機５の状態
信号とは、プラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７で
収集され、ユニットバス１０を介してエンジニアリング
プロセッサ８およびＣＲＴプロセッサ９に送られる。こ
の場合、保護系計器ラック２等の入出力信号や内部の主
要信号は保護抵抗３９を介してＤＡＳプロセッサ７に取
り込まれる。
【０００８】一方、エンジニアリングプロセッサ８は受
け取った信号を計算処理し、処理結果をユニットバス１
０およびステーションバス１３に出力する。ＣＲＴプロ
セッサ９はユニットバス１０よりＤＡＳプロセッサ７お
よびエンジニアリングプロセッサ８からの信号の取り込
みを行い、当該信号を中央制御盤１２に送ってそのＣＲ
Ｔの画面への表示を制御する。なお、初期のプラントで
は、このプラント計算機１１は１台のプロセッサで形成
されていたが、最近のプラントでは機能分担がはかられ
て、図示のような複数のプロセッサ７〜９によって形成
されている。
け取った信号を計算処理し、処理結果をユニットバス１
０およびステーションバス１３に出力する。ＣＲＴプロ
セッサ９はユニットバス１０よりＤＡＳプロセッサ７お
よびエンジニアリングプロセッサ８からの信号の取り込
みを行い、当該信号を中央制御盤１２に送ってそのＣＲ
Ｔの画面への表示を制御する。なお、初期のプラントで
は、このプラント計算機１１は１台のプロセッサで形成
されていたが、最近のプラントでは機能分担がはかられ
て、図示のような複数のプロセッサ７〜９によって形成
されている。
【０００９】このように構成されたプラントにて、試験
対象である保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、
保護系補機制御盤４の動作の健全性を確認する場合、図
示のように、それぞれの試験対象に対して個別に開発さ
れた試験装置１５〜１７が接続され、それらの試験装置
１５〜１７によって各試験対象単位でその動作の健全性
が確認されていた。次に図６に従って、試験装置１５に
よる保護系計器ラック２の健全性の確認動作を例に、試
験動作を説明する。
対象である保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、
保護系補機制御盤４の動作の健全性を確認する場合、図
示のように、それぞれの試験対象に対して個別に開発さ
れた試験装置１５〜１７が接続され、それらの試験装置
１５〜１７によって各試験対象単位でその動作の健全性
が確認されていた。次に図６に従って、試験装置１５に
よる保護系計器ラック２の健全性の確認動作を例に、試
験動作を説明する。
【００１０】通常時、保護系計器ラック２はトランスミ
ッタ１から入力される実プロセス信号（４−２０ｍＡ）
を変換器３１で電圧信号に変換後、演算器３２で所定の
演算を行い、双安定器３３よりバイステーブル出力信号
（ノーマル／トリップ）を保護系ロジック盤３に出力し
ている。このため試験以外の通常運転時にはリレー３４
〜３７は非励磁となっている。ここで、保護系計器ラッ
ク２の健全性をチェックするために、変換器３１および
演算器３２の特性を含めた双安定器３３の設定値（トリ
ップ電圧、リセット電圧）確認試験が実施される。
ッタ１から入力される実プロセス信号（４−２０ｍＡ）
を変換器３１で電圧信号に変換後、演算器３２で所定の
演算を行い、双安定器３３よりバイステーブル出力信号
（ノーマル／トリップ）を保護系ロジック盤３に出力し
ている。このため試験以外の通常運転時にはリレー３４
〜３７は非励磁となっている。ここで、保護系計器ラッ
ク２の健全性をチェックするために、変換器３１および
演算器３２の特性を含めた双安定器３３の設定値（トリ
ップ電圧、リセット電圧）確認試験が実施される。
【００１１】試験時には、まず試験装置１５のディジタ
ル出力装置４８から信号を出力してリレー３４〜３７を
励磁し、トランスミッタ１からの実プロセス信号を切り
離して、試験装置１５のアナログ出力装置４５からの模
擬入力信号を保護系計器ラック２の電圧／電流変換器３
１に印加するとともに、双安定器３３の出力信号を切り
離す。一方、双安定器３３の入力信号をリレー３６の接
点を通して試験装置１５のアナログ入力装置４６へ取り
込み、双安定器３３の出力状態信号をリレー３７の接点
を通して試験装置１５のディジタル入力装置４７へ取り
込む。その後、アナログ出力装置４５からの模擬入力信
号を変化させ、双安定器３３の出力状態が変化（リセッ
ト→トリップ、トリップ→リセット）したときの双安定
器３３の入力電圧（トリップ、リセット電圧）をアナロ
グ入力装置４６に取り込んで測定する。この測定値は予
め設定された規定値と比較されてその良否が判定され
る。
ル出力装置４８から信号を出力してリレー３４〜３７を
励磁し、トランスミッタ１からの実プロセス信号を切り
離して、試験装置１５のアナログ出力装置４５からの模
擬入力信号を保護系計器ラック２の電圧／電流変換器３
１に印加するとともに、双安定器３３の出力信号を切り
離す。一方、双安定器３３の入力信号をリレー３６の接
点を通して試験装置１５のアナログ入力装置４６へ取り
込み、双安定器３３の出力状態信号をリレー３７の接点
を通して試験装置１５のディジタル入力装置４７へ取り
込む。その後、アナログ出力装置４５からの模擬入力信
号を変化させ、双安定器３３の出力状態が変化（リセッ
ト→トリップ、トリップ→リセット）したときの双安定
器３３の入力電圧（トリップ、リセット電圧）をアナロ
グ入力装置４６に取り込んで測定する。この測定値は予
め設定された規定値と比較されてその良否が判定され
る。
【００１２】なお、このとき保護系計器ラック２、保護
系ロジック盤３、および保護系補機制御盤４の入出力信
号と補機５の状態信号は、運転監視のためにプラント計
算機１１へ入力されているが、これらの信号は試験装置
１５〜１７による試験対象２〜４の自動試験には使用さ
れていない。また、図６において、リレー３７を励磁し
てバイステーブル出力信号を切り離した時、保護系ロジ
ック盤３の入力リレー４０は励磁から非励磁に変わる
が、これは保護系計器ラック２の試験装置１５では確認
できず、この変化を確認するためには、中央制御盤１２
の警報表示灯かＣＲＴ表示で操作員が目視確認するしか
方法がなかった。
系ロジック盤３、および保護系補機制御盤４の入出力信
号と補機５の状態信号は、運転監視のためにプラント計
算機１１へ入力されているが、これらの信号は試験装置
１５〜１７による試験対象２〜４の自動試験には使用さ
れていない。また、図６において、リレー３７を励磁し
てバイステーブル出力信号を切り離した時、保護系ロジ
ック盤３の入力リレー４０は励磁から非励磁に変わる
が、これは保護系計器ラック２の試験装置１５では確認
できず、この変化を確認するためには、中央制御盤１２
の警報表示灯かＣＲＴ表示で操作員が目視確認するしか
方法がなかった。
【００１３】一方、保護系ロジック盤３の試験装置１６
では、ロジックカード４１の入力から模擬入力信号を印
加するため、保護系計器ラック２の双安定器３３の出力
から信号ケーブルも含めた保護系ロジック盤３の入力リ
レー４０の接点までの確認試験を自動で行うことができ
ず、人手に頼る範囲があり、また保護系補機制御装置４
の試験には、補機５を実動作させる試験と実動作させな
い試験があるが、補機５を実動作させた場合の良否判定
は、試験装置１７まで補機５の状態信号を取り込めれば
可能であるが、実際には難しいため自動試験を行うこと
ができない部分があった。
では、ロジックカード４１の入力から模擬入力信号を印
加するため、保護系計器ラック２の双安定器３３の出力
から信号ケーブルも含めた保護系ロジック盤３の入力リ
レー４０の接点までの確認試験を自動で行うことができ
ず、人手に頼る範囲があり、また保護系補機制御装置４
の試験には、補機５を実動作させる試験と実動作させな
い試験があるが、補機５を実動作させた場合の良否判定
は、試験装置１７まで補機５の状態信号を取り込めれば
可能であるが、実際には難しいため自動試験を行うこと
ができない部分があった。
【００１４】さらに従来の試験装置１５〜１７は試験対
象の装置とのみ信号の授受を行っていたため、上流側お
よび下流側の装置の状態がわからないため、試験を実施
可能な状態かどうか、試験を途中で中止すべき状態かど
うかは操作員の判断に頼っていた。従って操作員はプラ
ントの運転状態や装置の状態を常時確認しておく必要が
あった。
象の装置とのみ信号の授受を行っていたため、上流側お
よび下流側の装置の状態がわからないため、試験を実施
可能な状態かどうか、試験を途中で中止すべき状態かど
うかは操作員の判断に頼っていた。従って操作員はプラ
ントの運転状態や装置の状態を常時確認しておく必要が
あった。
【００１５】なお、このような従来のプラント制御装置
の試験システムにおける試験装置に関する技術が記載さ
れた文献としては、例えば特開昭５９−１３６８０６号
公報などがある。
の試験システムにおける試験装置に関する技術が記載さ
れた文献としては、例えば特開昭５９−１３６８０６号
公報などがある。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】従来のプラント制御装
置の試験システムは以上のように構成されているので、
各試験装置１５〜１７は独立であり、試験対象の装置単
位で健全性の確認をとっており、従って試験で確認でき
る範囲が装置内部に限定され、試験開始および中止の判
断を操作員が行う必要があるという問題点があった。
置の試験システムは以上のように構成されているので、
各試験装置１５〜１７は独立であり、試験対象の装置単
位で健全性の確認をとっており、従って試験で確認でき
る範囲が装置内部に限定され、試験開始および中止の判
断を操作員が行う必要があるという問題点があった。
【００１７】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、試験対象の内部の健全性確認を
行うとともに、関連する装置および制御機器の健全性も
あわせて確認でき、さらに試験開始および中止の判断を
自動化できるプラント制御装置の試験システムを得るこ
とを目的とする。
ためになされたもので、試験対象の内部の健全性確認を
行うとともに、関連する装置および制御機器の健全性も
あわせて確認でき、さらに試験開始および中止の判断を
自動化できるプラント制御装置の試験システムを得るこ
とを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係るプラント制御装置の試験システムは、通信回線によ
って各試験装置に接続され、プラント制御装置内の複数
の試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機
に入力される信号をプラント計算機より取り込み、必要
な信号を通信回線を介して試験装置のそれぞれに伝送す
る試験統括装置を設けたものである。
係るプラント制御装置の試験システムは、通信回線によ
って各試験装置に接続され、プラント制御装置内の複数
の試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機
に入力される信号をプラント計算機より取り込み、必要
な信号を通信回線を介して試験装置のそれぞれに伝送す
る試験統括装置を設けたものである。
【００１９】また、請求項２に記載の発明に係るプラン
ト制御装置の試験システムは、各試験装置を通信回線で
プラント計算機に接続し、プラント制御装置内の複数の
試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機に
入力される信号を直接プラント計算機より試験装置に取
り込むようにしたものである。
ト制御装置の試験システムは、各試験装置を通信回線で
プラント計算機に接続し、プラント制御装置内の複数の
試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機に
入力される信号を直接プラント計算機より試験装置に取
り込むようにしたものである。
【００２０】
【作用】請求項１に記載の発明における試験統括装置
は、プラント制御装置内の複数の試験対象および試験対
象外の各部よりプラント計算機に入力される信号をプラ
ント計算機より取り込んで、各試験装置のそれぞれに試
験に必要な信号を通信回線を介して伝送することによ
り、試験対象の内部の健全性確認を行うとともに、関連
する装置および制御機器の健全性もあわせて確認でき、
さらに試験開始および中止の判断も自動化可能なプラン
ト制御装置の試験システムを実現する。
は、プラント制御装置内の複数の試験対象および試験対
象外の各部よりプラント計算機に入力される信号をプラ
ント計算機より取り込んで、各試験装置のそれぞれに試
験に必要な信号を通信回線を介して伝送することによ
り、試験対象の内部の健全性確認を行うとともに、関連
する装置および制御機器の健全性もあわせて確認でき、
さらに試験開始および中止の判断も自動化可能なプラン
ト制御装置の試験システムを実現する。
【００２１】また、請求項２に記載の発明における試験
装置は、試験に必要な信号を直接プラント計算機から取
り込むことにより、小規模な構成の場合にコストダウン
が可能なプラント制御装置の試験システムを実現する。
装置は、試験に必要な信号を直接プラント計算機から取
り込むことにより、小規模な構成の場合にコストダウン
が可能なプラント制御装置の試験システムを実現する。
【００２２】
実施例１．以下、この発明の実施例１を図について説明
する。図１は請求項１に記載の発明の一実施例を示すブ
ロック図で、図５と同一の部分には同一符号を付してそ
の説明を省略する。図において、１８はプラント計算機
１１のユニットバス１０に接続され、プラント制御装置
６の保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、保護系
補機制御盤４、補機５等から、プラント計算機１１のＤ
ＡＳプロセッサ７によって収集された信号を取り込み、
試験に必要な信号を後述する試験装置に伝送する試験統
括装置である。１９〜２１はこの試験統括装置１８との
信号のインタフェースを備えている点で、図５に符号１
５〜１７を付して示したものとは異なる試験装置であ
り、２２はこれら試験装置１９〜２１と試験統括装置１
８とを接続している、例えばＲＳ４２２等の通信回線で
ある。
する。図１は請求項１に記載の発明の一実施例を示すブ
ロック図で、図５と同一の部分には同一符号を付してそ
の説明を省略する。図において、１８はプラント計算機
１１のユニットバス１０に接続され、プラント制御装置
６の保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、保護系
補機制御盤４、補機５等から、プラント計算機１１のＤ
ＡＳプロセッサ７によって収集された信号を取り込み、
試験に必要な信号を後述する試験装置に伝送する試験統
括装置である。１９〜２１はこの試験統括装置１８との
信号のインタフェースを備えている点で、図５に符号１
５〜１７を付して示したものとは異なる試験装置であ
り、２２はこれら試験装置１９〜２１と試験統括装置１
８とを接続している、例えばＲＳ４２２等の通信回線で
ある。
【００２３】図２は保護系計器ラック２とそれに接続さ
れた試験装置１９の内部構成を示すブロック図で、この
場合にも図６と同一部分には同一符号を付してその説明
を省略する。試験装置１９内において、５０はプラント
計算機１１内のユニットバス１０に接続された試験統括
装置１８に接続されている通信回線２２とのインタフェ
ースを行う通信回線用カードである。また、前記試験統
括装置１８内において、５１は当該試験統括装置１８の
全体制御を行うＣＰＵ、５２はそのプログラムや処理過
程のデータなどが格納されるメモリ、５３は通信回線２
２とのインタフェースを行う通信回線用カード、５４は
これらの機器５１〜５３を接続している内部バスであ
り、５５はこの内部バス５４とプラント計算機１１のユ
ニットバス１０とをインタフェースするバスコントロー
ラである。
れた試験装置１９の内部構成を示すブロック図で、この
場合にも図６と同一部分には同一符号を付してその説明
を省略する。試験装置１９内において、５０はプラント
計算機１１内のユニットバス１０に接続された試験統括
装置１８に接続されている通信回線２２とのインタフェ
ースを行う通信回線用カードである。また、前記試験統
括装置１８内において、５１は当該試験統括装置１８の
全体制御を行うＣＰＵ、５２はそのプログラムや処理過
程のデータなどが格納されるメモリ、５３は通信回線２
２とのインタフェースを行う通信回線用カード、５４は
これらの機器５１〜５３を接続している内部バスであ
り、５５はこの内部バス５４とプラント計算機１１のユ
ニットバス１０とをインタフェースするバスコントロー
ラである。
【００２４】次に動作について説明する。図１におい
て、保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、および
保護系補機制御盤４の入出力信号、および補機５の状態
信号はプラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７で収集
され、ユニットバス１０を経由してエンジニアリングプ
ロセッサ８に伝送される。試験統括装置１８はこのユニ
ットバス１０上に伝送されているデータをユニットバス
１０のループコントローラを経由して取り込み、各試験
装置１９〜２１と通信回線２２を経由してデータの授受
を行う。
て、保護系計器ラック２、保護系ロジック盤３、および
保護系補機制御盤４の入出力信号、および補機５の状態
信号はプラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７で収集
され、ユニットバス１０を経由してエンジニアリングプ
ロセッサ８に伝送される。試験統括装置１８はこのユニ
ットバス１０上に伝送されているデータをユニットバス
１０のループコントローラを経由して取り込み、各試験
装置１９〜２１と通信回線２２を経由してデータの授受
を行う。
【００２５】次に図２を用いて、保護系計器ラック２用
の試験装置１９に本発明を適用した場合について説明す
る。トランスミッタ１からの電流信号（４−２０ｍＡ）
は電流／電圧変換器３１で電圧に変換される。演算器３
２の入出力信号は保護抵抗３９を通して、それぞれＤＡ
Ｓプロセッサ７に取り込まれている。一方、双安定器３
３のバイステーブル出力信号は保護系ロジック盤３の入
力リレー（常時励磁）４０のコイル側に接続され、この
入力リレー４０の接点がロジックカード４１の入力に接
続されている。なお、このロジックカード４１の入力信
号は図示を省略したマルチプレクス／デマルチプレクス
装置を経由してＤＡＳプロセッサ７へ送られている。こ
こで、リレー３７を励磁してバイステーブル出力信号を
切り離したとき、保護系ロジック盤３の入力リレー４０
は励磁から非励磁に変わるが、この変化に関する信号を
ＤＡＳプロセッサ７を経由して取り込んだ試験統括装置
１８から試験装置１９に入力することによって、その変
化を試験装置１９側で自動的に確認することができる。
の試験装置１９に本発明を適用した場合について説明す
る。トランスミッタ１からの電流信号（４−２０ｍＡ）
は電流／電圧変換器３１で電圧に変換される。演算器３
２の入出力信号は保護抵抗３９を通して、それぞれＤＡ
Ｓプロセッサ７に取り込まれている。一方、双安定器３
３のバイステーブル出力信号は保護系ロジック盤３の入
力リレー（常時励磁）４０のコイル側に接続され、この
入力リレー４０の接点がロジックカード４１の入力に接
続されている。なお、このロジックカード４１の入力信
号は図示を省略したマルチプレクス／デマルチプレクス
装置を経由してＤＡＳプロセッサ７へ送られている。こ
こで、リレー３７を励磁してバイステーブル出力信号を
切り離したとき、保護系ロジック盤３の入力リレー４０
は励磁から非励磁に変わるが、この変化に関する信号を
ＤＡＳプロセッサ７を経由して取り込んだ試験統括装置
１８から試験装置１９に入力することによって、その変
化を試験装置１９側で自動的に確認することができる。
【００２６】また、保護系補機制御装置４の試験では、
補機５を実動作させる試験において、試験装置２１が補
機５の状態信号を、ＤＡＳプロセッサ７経由で試験統括
装置１８から入力することによって、補機５の動作確認
を含めて自動化することができる。さらに、上流側およ
び下流側の試験対象の装置の状態を、試験装置１９〜２
１がＤＡＳプロセッサ７を経由して試験統括装置１８か
ら入力することによって、試験を実施可能な状態かどう
か、試験を途中で中止すべき状態かどうかをそれぞれの
試験装置１９〜２１にて判断することが可能となるた
め、これを自動化することができる。
補機５を実動作させる試験において、試験装置２１が補
機５の状態信号を、ＤＡＳプロセッサ７経由で試験統括
装置１８から入力することによって、補機５の動作確認
を含めて自動化することができる。さらに、上流側およ
び下流側の試験対象の装置の状態を、試験装置１９〜２
１がＤＡＳプロセッサ７を経由して試験統括装置１８か
ら入力することによって、試験を実施可能な状態かどう
か、試験を途中で中止すべき状態かどうかをそれぞれの
試験装置１９〜２１にて判断することが可能となるた
め、これを自動化することができる。
【００２７】実施例２．なお、上記実施例では、プラン
ト計算機１１より信号を取り込むために、試験統括装置
１８をユニットバス１０に接続したものを示したが、図
３に示すように試験統括装置１８をステーションバス１
３に接続し、エンジニアリングプロセッサ８から伝送さ
れたステーションバス１３上のデータを取り込むように
してもよく、実施例１と同様の効果を奏する。なお、こ
の実施例２の利点としては、ユニット対応ではなく、プ
ラント全体で試験統括装置は１台ですむため設備が簡素
化できる。例えば、原子炉が１号機から４号機まである
場合、実施例１の方式では試験統括装置１８は４台必要
であるが、この実施例２の方式では１台で対応できる。
ト計算機１１より信号を取り込むために、試験統括装置
１８をユニットバス１０に接続したものを示したが、図
３に示すように試験統括装置１８をステーションバス１
３に接続し、エンジニアリングプロセッサ８から伝送さ
れたステーションバス１３上のデータを取り込むように
してもよく、実施例１と同様の効果を奏する。なお、こ
の実施例２の利点としては、ユニット対応ではなく、プ
ラント全体で試験統括装置は１台ですむため設備が簡素
化できる。例えば、原子炉が１号機から４号機まである
場合、実施例１の方式では試験統括装置１８は４台必要
であるが、この実施例２の方式では１台で対応できる。
【００２８】実施例３．また、上記実施例では、試験統
括装置１８と各試験装置１９〜２１との間の信号の授受
を１対１の通信回線２２を使用して行う場合について説
明したが、通信回線としてローカルエリアネットワーク
（ＬＡＮ）などを使用してもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
括装置１８と各試験装置１９〜２１との間の信号の授受
を１対１の通信回線２２を使用して行う場合について説
明したが、通信回線としてローカルエリアネットワーク
（ＬＡＮ）などを使用してもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
【００２９】実施例４．次に、この発明の実施例４を図
に基づいて説明する。図４は請求項２に記載した発明の
一実施例を示すブロック図で、図１および図３と同一部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、２３〜２５はプラント計算機１１のユニットバス１
０に接続されて、プラント制御装置６の保護系計器ラッ
ク２、保護系ロジック盤３、保護系補機制御盤４、補機
５等からプラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７が収
集した信号を、試験統括装置を介さずに直接取り込んで
いる点で、図１および図３に符号１９〜２１を付したも
のとは異なる試験装置である。
に基づいて説明する。図４は請求項２に記載した発明の
一実施例を示すブロック図で、図１および図３と同一部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、２３〜２５はプラント計算機１１のユニットバス１
０に接続されて、プラント制御装置６の保護系計器ラッ
ク２、保護系ロジック盤３、保護系補機制御盤４、補機
５等からプラント計算機１１のＤＡＳプロセッサ７が収
集した信号を、試験統括装置を介さずに直接取り込んで
いる点で、図１および図３に符号１９〜２１を付したも
のとは異なる試験装置である。
【００３０】この実施例４の場合においても、各試験装
置２３〜２５が試験に必要な信号をプラント計算機１１
より取り込むことによって同様の試験を行い、上記各実
施例と同様の効果を奏する。なお、この実施例は、試験
装置の数が少ない小規模な構成に適用した場合にコスト
の低減がはかれるが、試験装置の数が多い大規模な構成
の場合には、実施例１，２の方式を適用した方が構成も
簡単となり、コストも低減できる。
置２３〜２５が試験に必要な信号をプラント計算機１１
より取り込むことによって同様の試験を行い、上記各実
施例と同様の効果を奏する。なお、この実施例は、試験
装置の数が少ない小規模な構成に適用した場合にコスト
の低減がはかれるが、試験装置の数が多い大規模な構成
の場合には、実施例１，２の方式を適用した方が構成も
簡単となり、コストも低減できる。
【００３１】
【発明の効果】以上のように、請求項１に記載の発明に
よれば、試験統括装置にてプラント制御装置内の複数の
試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機に
入力される信号をプラント計算機より取り込み、試験に
必要な信号を試験装置のそれぞれに伝送するように構成
したので、試験対象の内部の健全性の確認とともに、関
連する装置および制御機器の健全性の確認もできて、自
動試験の範囲を拡大することができ、さらに試験開始お
よび中止の判断の自動化も可能なプラント制御装置の試
験システムが得られる効果がある。
よれば、試験統括装置にてプラント制御装置内の複数の
試験対象および試験対象外の各部よりプラント計算機に
入力される信号をプラント計算機より取り込み、試験に
必要な信号を試験装置のそれぞれに伝送するように構成
したので、試験対象の内部の健全性の確認とともに、関
連する装置および制御機器の健全性の確認もできて、自
動試験の範囲を拡大することができ、さらに試験開始お
よび中止の判断の自動化も可能なプラント制御装置の試
験システムが得られる効果がある。
【００３２】また、請求項２に記載の発明によれば、プ
ラント計算機からの信号を試験統括装置を介することな
く、各試験装置で直接取り込むように構成したので、小
規模な構成の場合にコストダウンがはかれる効果があ
る。
ラント計算機からの信号を試験統括装置を介することな
く、各試験装置で直接取り込むように構成したので、小
規模な構成の場合にコストダウンがはかれる効果があ
る。
【図１】この発明の実施例１を示すブロック図である。
【図２】上記実施例における保護系計器ラックとその試
験装置の内部構成を示すブロック図である。
験装置の内部構成を示すブロック図である。
【図３】この発明の実施例２を示すブロック図である。
【図４】この発明の実施例４を示すブロック図である。
【図５】従来のプラント制御装置の試験システムを示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図６】従来のプラント制御装置の試験システムにおけ
る保護系計器ラックとその試験装置の内部構成を示すブ
ロック図である。
る保護系計器ラックとその試験装置の内部構成を示すブ
ロック図である。
２ 試験対象（保護系計器ラック） ３ 試験対象（保護系ロジック盤） ４ 試験対象（保護系補機制御盤） ６ プラント制御装置 １１ プラント計算機 １８ 試験統括装置 １９〜２１ 試験装置 ２２ 通信回線 ２３〜２５ 試験装置 ２６ 通信回線
Claims (2)
- 【請求項１】 プラント制御装置およびプラント計算機
より構成されて、プラントの制御および監視を行うプラ
ント制御・監視システムの、前記プラント制御装置内の
複数の試験対象のそれぞれに試験装置を接続し、当該試
験装置のそれぞれによって前記各試験対象の動作確認を
行うプラント制御装置の試験システムにおいて、前記試
験装置にそれぞれに通信回線にて接続され、前記プラン
ト制御装置内の複数の試験対象および試験対象外の各部
より前記プラント計算機に入力される信号を前記プラン
ト計算機より取り込んで、必要な信号を前記試験装置の
それぞれに前記通信回線を介して伝送する試験統括装置
を設けたことを特徴とするプラント制御装置の試験シス
テム。 - 【請求項２】 プラント制御装置およびプラント計算機
より構成されて、プラントの制御および監視を行うプラ
ント制御・監視システムの、前記プラント制御装置内の
複数の試験対象のそれぞれに試験装置を接続し、当該試
験装置のそれぞれによって前記各試験対象の動作確認を
行うプラント制御装置の試験システムにおいて、前記試
験装置のそれぞれを通信回線を介して前記プラント計算
機に接続し、前記プラント制御装置内の複数の試験対象
および試験対象外の各部より前記プラント計算機に入力
される信号を、前記各試験装置が前記プラント計算機よ
り、前記通信回線を介して直接取り込むことを特徴とす
るプラント制御装置の試験システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4091443A JP2809929B2 (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | プラント制御装置の試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4091443A JP2809929B2 (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | プラント制御装置の試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264776A JPH05264776A (ja) | 1993-10-12 |
| JP2809929B2 true JP2809929B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=14026517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4091443A Expired - Fee Related JP2809929B2 (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-18 | プラント制御装置の試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2809929B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4413357B2 (ja) * | 2000-01-27 | 2010-02-10 | 株式会社東芝 | サーベイランス試験装置 |
| JP2016115161A (ja) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | 三菱電機株式会社 | プラント監視制御システム試験装置 |
| WO2021082872A1 (zh) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | 航宇救生装备有限公司 | 控制救生伞可靠开伞及在线检测的小型化电路 |
-
1992
- 1992-03-18 JP JP4091443A patent/JP2809929B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05264776A (ja) | 1993-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |