JP2805551B2 - Functional inspection equipment for mounted printed circuit boards - Google Patents

Functional inspection equipment for mounted printed circuit boards

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JP2805551B2
JP2805551B2 JP3204677A JP20467791A JP2805551B2 JP 2805551 B2 JP2805551 B2 JP 2805551B2 JP 3204677 A JP3204677 A JP 3204677A JP 20467791 A JP20467791 A JP 20467791A JP 2805551 B2 JP2805551 B2 JP 2805551B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に部品を
実装した実装プリント基板の機能検査装置に関し、特に
コンタクトプローブを実装プリント基板の実装面のリー
ドに当接してテスト用の入力信号を与えるように構成さ
れた機能検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a functional inspection apparatus for a mounted printed circuit board in which components are mounted on a printed circuit board, and more particularly to providing a test probe with a contact probe in contact with a lead on a mounting surface of the mounted printed circuit board. The present invention relates to a function test device configured as described above.

【0002】[0002]

【従来の技術】実装後のプリント基板については、該基
板が仕様通りに機能するか否かをチェックするための機
能検査が行われる。これは別名ファンクッションテスト
と呼ばれるもので、コンタクトプローブを実装プリント
基板のコネクタのリードに接触させて入力信号を与え、
該コネクタの出力信号が正常か否かを調べるものであ
る。従来から使用されている機能検査装置は図3にその
一例を示すように、まず、実装プリント基板21を位置
決めピン22を有する置き台23上にセットした後、上
方に配置された上ぶた24を駆動手段(図示せず)によ
って実装プリント基板21に向って下降させることによ
り、上ぶた24のソケット固定台25に保持されたコン
タクトプローブ26を実装プリント基板21の実装部品
であるコネクタ27のリードピン28に当接させる。こ
のようにしてコネクタ27に束線25aを介して入力信
号を与え、その出力を調べることによって実装プリント
基板の機能検査が行われる。
2. Description of the Related Art A functional test is performed on a printed circuit board after mounting to check whether the printed circuit board functions as specified. This is also called a fan cushion test, in which a contact probe is brought into contact with the lead of the connector on the mounting printed circuit board to give an input signal,
It is to check whether or not the output signal of the connector is normal. As shown in FIG. 3, an example of a conventionally used function inspection apparatus is to first set a mounting printed circuit board 21 on a table 23 having positioning pins 22 and then place an upper lid 24 disposed above. The contact probe 26 held by the socket fixing stand 25 of the upper lid 24 is lowered by driving means (not shown) toward the printed circuit board 21, and the lead pins 28 of the connector 27, which is a mounted component of the printed circuit board 21. Contact. In this way, the input signal is supplied to the connector 27 via the bundled wire 25a, and the output of the connector 27 is checked to perform a function test of the mounted printed circuit board.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術によれ
ば、前述した通り、それぞれの上端を上ぶた24のソケ
ット固定台25に挿入したコンタクトプローブ26を、
上ぶた24の下降によってコネクタ27のリードピン2
8に当接させるため、コネクタ27のプリント基板上の
実装位置のずれ又はねじれ等によってリードピン28が
所定の位置にない場合に、コンタクトプローブの接触不
良が発生し、機能検査の信頼性が損なわれる。また上述
の接触不良によってコンタクトプローブに予期しないス
トレスがかかり、それによって彎曲するという問題もあ
った。
According to the above-mentioned prior art, as described above, the contact probe 26 inserted into the socket fixing stand 25 of the upper lid 24 at the upper end of each contact probe is used.
The lead pin 2 of the connector 27 is
When the lead pin 28 is not at a predetermined position due to a shift or a twist of the mounting position of the connector 27 on the printed circuit board, a contact failure of the contact probe occurs, and the reliability of the function test is impaired. . In addition, there is also a problem that unexpected stress is applied to the contact probe due to the above-described poor contact, and the contact probe is bent.

【0004】本発明は上記従来の技術の問題点に鑑みて
なされたものであり、機能検査装置のコンタクトプロー
ブを実装プリント基板のコネクタ等の実装部品のリード
ピンに接触させるに当って、両者の接触不良を防ぎかつ
機能検査中にコンタクトプローブが変形することのない
実装プリント基板の機能検査装置を提供することを目的
とするものである。さらに、本発明のもう一つの目的
は、実装工程のミスによってコネクタ等の実装部品が左
右または前後に逆向きの状態でプリント基板に実装され
ている場合、機能検査の過程においてこれを発見するこ
とのできる実装プリント基板の機能検査装置を提供する
ことを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and when a contact probe of a function inspection device is brought into contact with a lead pin of a mounted component such as a connector of a mounted printed circuit board, the contact between the two is considered. It is an object of the present invention to provide a function inspection device for a mounted printed circuit board that prevents defects and does not deform a contact probe during a function inspection. Further, another object of the present invention is to find out in a process of a functional inspection, when a mounted component such as a connector is mounted on a printed circuit board in a state of being turned right and left or back and forth due to a mistake in a mounting process. It is an object of the present invention to provide a function inspection device for a mounted printed circuit board that can perform the function inspection.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の実装プリント基板の機能検査装置は、実
装プリント基板のリードピンにコンタクトプローブを接
触してテスト用の入力信号を与えて出力信号が正常か否
かを調べる機能検査装置において、前記コンタクトプロ
ーブを、前記実装プリント基板に対して接近および離反
自在な可動盤に設けられているソケット固定台の貫通穴
に嵌挿し、前記貫通穴の開口に前記リードピンを嵌合さ
せて前記コンタクトプローブを前記リードピンに接触さ
せるように構成したことを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, a function inspection apparatus for a mounted printed circuit board according to the present invention connects a contact probe to a lead pin of the mounted printed circuit board.
Touch to give test input signal and output signal is normal
In the function inspection device for checking whether the contact
Moving the probe toward and away from the printed circuit board
Through-hole in the socket fixing base provided on the free movable board
And the lead pin is fitted into the opening of the through hole.
Contact probe with the lead pin.
It is characterized in that it has configured to.

【0006】[0006]

【0007】[0007]

【作用】本発明に係る実装プリント基板の機能検査装置
は、コンタクトプローブの先端が実装プリント基板
ードピンに接触する前に、ソケット固定台の貫通穴の開
口に前記リードピンが嵌合して、前記コンタクトプロー
ブとリードピンとの間の相対的位置ずれを補正する。
According to the present invention , a function inspection apparatus for a mounted printed circuit board according to the present invention is provided.
Before the tip of the contact probe contacts the re <br/> Dopin of mounting a printed circuit board, opening of the through hole of the socket fixing base
It said lead pin is fitted in the mouth, to correct the relative positional deviation between said contact probe and the lead pin.

【0008】[0008]

【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の一実施例の一部分を示す部
分縦断面図である。
FIG. 1 is a partial longitudinal sectional view showing a part of an embodiment of the present invention.

【0010】本実施例において、実装プリント基板1は
位置決めピン2によって置き台3上の所定位置に保持さ
れ、置き台3の上方には可動盤である上ぶた4が配置さ
れ、上ぶた4の下面にはガイドブロック10がねじ9に
より螺着されている。ガイドブロック10の図示上面に
は第1の凹部11が形成され、その底部としてソケット
固定台5が一体的に設けられている。ソケット固定台5
の複数の貫通穴12にはそれぞれコンタクトプローブ6
が挿入される。実装プリント基板1の実装部品であるコ
ネクタ7は、実装プリント基板1の実装面に突出する複
数のリードピン8を備えている。
In this embodiment, the mounting printed board 1 is held at a predetermined position on a table 3 by positioning pins 2, and an upper lid 4, which is a movable plate, is disposed above the table 3. A guide block 10 is screwed to the lower surface by screws 9. A first concave portion 11 is formed on the upper surface of the guide block 10 in the drawing, and a socket fixing base 5 is integrally provided as a bottom portion thereof. Socket fixing stand 5
Each of the plurality of through holes 12 has a contact probe 6
Is inserted. The connector 7, which is a mounting component of the mounting printed board 1, includes a plurality of lead pins 8 protruding from the mounting surface of the mounting printed board 1.

【0011】本実施例ではソケット固定台5を別体と
し、これをガイドブロック10に固定することにより一
体的に設けられているが、これに限らず、ソケット固定
台をガイドブロックと一体に設けてもよい。
In this embodiment, the socket fixing base 5 is provided separately by fixing the socket fixing base 5 to the guide block 10. However, the present invention is not limited to this, and the socket fixing base is provided integrally with the guide block. You may.

【0012】 第1の凹部11の底部でもある前記ソケ
ット固定台5に設けられた各貫通穴12には、それぞれ
コンタクトプローブ6が嵌着されるとともに、その下端
部(ニードル部)が摺動可能に挿入される。ガイドブロ
ック10の下端面には第2の凹部13が設けられ、第2
の凹部13の周壁はコネクタ7の外縁に沿った形状をも
ち、該周壁の一部にはコネクタ7の端縁に設けられた突
起14を収容するための溝15が設けられる(図2に示
す)。
A contact probe 6 is fitted into each through-hole 12 provided in the socket fixing base 5 which is also a bottom of the first concave portion 11, and a lower end (needle) thereof is slidable. Is inserted into. A second concave portion 13 is provided on the lower end surface of the guide block 10, and the second concave portion 13 is provided.
The peripheral wall of the concave portion 13 has a shape along the outer edge of the connector 7, and a part of the peripheral wall is provided with a groove 15 for accommodating a projection 14 provided at an edge of the connector 7 (shown in FIG. 2). ).

【0013】実装プリント基板1の機能検査を開始する
に当って、上方に位置する上ぶた4を駆動手段(図示せ
ず)によって実装プリント基板1に向って下降させる
と、上ぶた4にソケット固定台5を介して保持されたコ
ンタクトプローブ6がガイドブロック10と共にコネク
タ7のリードピン8に向って下降する。ガイドブロック
10の下端が実装プリント基板1の表面に近づくと、コ
ネクタ7はガイドブロック10の第2の凹部13内に収
容されると共に、コネクタ7の側面に設けられた突起1
4は第2の凹部13の周壁に設けられた溝15に挿入さ
れる(図2に示す)。このとき、実装プリント基板1の
実装工程におけるミスで実装プリント基板1に対するコ
ネクタ7の実装位置が左右または前後方向に逆であった
場合、すなわち逆付けの場合には、コネクタ7をガイド
ブロック10の第2の凹部13に収容することが不可能
であり、従って上ぶた4の下降運動が妨げられる。これ
によってコネクタ7の実装ミスを容易に発見することが
できる。
When starting the function test of the mounted printed circuit board 1, the upper lid 4 located above is lowered toward the mounted printed circuit board 1 by driving means (not shown), and the socket is fixed to the upper lid 4. The contact probe 6 held via the base 5 descends together with the guide block 10 toward the lead pin 8 of the connector 7. When the lower end of the guide block 10 approaches the surface of the mounting printed circuit board 1, the connector 7 is accommodated in the second recess 13 of the guide block 10 and the projection 1 provided on the side surface of the connector 7.
4 is inserted into a groove 15 provided on the peripheral wall of the second recess 13 (shown in FIG. 2). At this time, if the mounting position of the connector 7 with respect to the mounting printed board 1 is reversed in the left-right or front-rear direction due to a mistake in the mounting process of the mounting printed board 1, that is, in the case of reverse mounting, the connector 7 is attached to the guide block 10. It cannot be accommodated in the second recess 13, so that the downward movement of the upper lid 4 is prevented. This makes it possible to easily find a mounting error of the connector 7.

【0014】 上述の実装ミスがない場合には、ガイド
ブロック10の第2の凹部13にコネクタ7がスムーズ
に収容され、上ぶた4が引き続き下降してソケット固定
台5の貫通穴12の下端の開口にリードピン8嵌合す
る。この状態でさらに上ぶた4が下降すると、各コンタ
クトプローブ6の先端がそれぞれリードピン8の上端に
当接され、続いて内蔵するバネ(図示せず)に抗してわ
ずかにその全長を縮小させる。
If there is no mounting error described above, the connector 7 is smoothly accommodated in the second concave portion 13 of the guide block 10, and the upper lid 4 is continuously lowered to fix the socket.
Lead pin 8 is fitted into the lower end opening of the through hole 12 of the base 5. When the upper lid 4 further descends in this state, the tips of the contact probes 6 abut against the upper ends of the lead pins 8, respectively, and subsequently slightly reduce the entire length thereof against a built-in spring (not shown).

【0015】 すなわち、各コンタクトプローブ6は前
記内蔵バネの弾性によって各リードピン8に対して押圧
され、コネクタ7に束線5aを介して入力信号を与え
る。各コンタクトプローブ6とリードピン8との間の相
対的位置ずれは、各コンタクトプローブ6がそれぞれリ
ードピン8に接触する前にソケット固定台5の貫通穴1
2の下端の開口にリードピン8が嵌合することによって
補正されるため、コンタクトプローブ6の接触不良が発
生することはない。
That is, each contact probe 6 is pressed against each lead pin 8 by the elasticity of the built-in spring, and gives an input signal to the connector 7 via the bundle 5a. The relative displacement between each contact probe 6 and the lead pin 8 may be caused by the through hole 1 in the socket fixing base 5 before each contact probe 6 comes into contact with the lead pin 8.
To be corrected by lead pins 8 to the opening of the lower end of 2 is fitted, contact failure of the contact probe 6 is not generated.

【0016】また、ガイドブロック10によって各コン
タクトプローブ6の横方向の移動が限定されるため、該
コンタクトプローブ6がリードピン8に当接する際のス
トレスによって著しく彎曲する恐れもない。
Further, since the lateral movement of each contact probe 6 is limited by the guide block 10, there is no possibility that the contact probe 6 will bend significantly due to stress when the contact probe 6 comes into contact with the lead pin 8.

【0017】上述した通り、本実施例によれば、リード
ピン8に多少の位置ずれがある場合でも、コンタクトプ
ローブ6を各リードピン8に対して確実に接触させるこ
とができるため、実装プリント基板1の機能検査をスム
ーズに行うことが可能であり、またその検査結果は信頼
性の高いものとなる。
As described above, according to the present embodiment, even when the lead pins 8 are slightly misaligned, the contact probe 6 can be reliably brought into contact with each of the lead pins 8. The function test can be performed smoothly, and the test result is highly reliable.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明は上述のとおりに構成されている
ので以下に記載するような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

【0019】 実装プリント基板の機能検査装置のコン
タクトプローブを、実装プリント基板のリードピンに対
して確実に接触させることができるため、検査結果の信
頼性が向上する。また実装プリント基板の機能検査中
にコンタクトプローブが変形または破損する恐れがな
い。さらに実装プリント基板の機能検査の過程におい
て実装部品の実装ミスを発見できるという利点もある。
Since the contact probe of the functional inspection device for the mounted printed circuit board can be reliably brought into contact with the lead pins of the mounted printed circuit board , the reliability of the inspection result is improved. Further , there is no possibility that the contact probe is deformed or damaged during the function test of the mounted printed circuit board. Further , there is an advantage that a mounting error of a mounted component can be found in a process of a function inspection of the mounted printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の主要部を示す部分縦断面図
である。
FIG. 1 is a partial longitudinal sectional view showing a main part of an embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A’線に沿ってとった部分断面図で
ある。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG.

【図3】従来例の主要部を示す部分縦断面図である。FIG. 3 is a partial longitudinal sectional view showing a main part of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 実装プリント基板 3 置き台 4 上ぶた 5 ソケット固定台 6 コンタクトプローブ 7 コネクタ 8 リードピン 10 ガイドブロック 11 第1の凹部 12 貫通穴 13 第2の凹部 14 突起 15 溝 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mounting printed circuit board 3 Placement stand 4 Top lid 5 Socket fixing stand 6 Contact probe 7 Connector 8 Lead pin 10 Guide block 11 1st recess 12 Through hole 13 2nd recess 14 Projection 15 groove

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 実装プリント基板のリードピンにコンタ
クトプローブを接触してテスト用の入力信号を与えて出
力信号が正常か否かを調べる機能検査装置において、 前記コンタクトプローブを、前記実装プリント基板に対
して接近および離反自在な可動盤に設けられているソケ
ット固定台の貫通穴に嵌挿し、前記貫通穴の開口に前記
リードピンを嵌合させて前記コンタクトプローブを前記
リードピンに接触させるように構成した ことを特徴とす
る実装プリント基板の機能検査装置。
1. A contour is attached to a lead pin of a mounting printed circuit board.
Contact the test probe to give an input signal for testing and output.
In a functional inspection device for checking whether or not a force signal is normal, the contact probe is attached to the mounting printed circuit board.
Soke provided on a movable plate that can be approached and separated
Into the through-hole of the fixing stand, and
By fitting the lead pin, the contact probe is
A function inspection device for a mounted printed circuit board, wherein the device is configured to be in contact with a lead pin .
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