JP2788765B2 - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

Info

Publication number
JP2788765B2
JP2788765B2 JP1233276A JP23327689A JP2788765B2 JP 2788765 B2 JP2788765 B2 JP 2788765B2 JP 1233276 A JP1233276 A JP 1233276A JP 23327689 A JP23327689 A JP 23327689A JP 2788765 B2 JP2788765 B2 JP 2788765B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
memory
memory block
input terminal
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1233276A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0397195A (en
Inventor
慶三 青山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1233276A priority Critical patent/JP2788765B2/en
Publication of JPH0397195A publication Critical patent/JPH0397195A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2788765B2 publication Critical patent/JP2788765B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は、半導体記憶装置に係り、特にアドレス選択
情報に応じてメモリブロック内の所望のアドレスへ記憶
情報を読み書きすることが可能なランダム・アクセス型
の半導体記憶装置(以下、RAM:Random Access Memoryと
いう。)に関し、 大容量のRAMの外部アドレス入力端子数を減少させる
ことにより、小型ICパッケージで、プリント基板への実
装効率の高い大容量のRAMを提供することを目的とし、 それぞれ複数のメモリセルを有して複数に分割された
メモリブロックと、各メモリブロックのブロックデータ
入力端子と接続され各メモリブロックへデータを供給す
るための外部データ入力端子を備える半導体記憶装置に
おいて、 当該半導体記憶装置でのアドレス選択動作時に、外部
データ入力端子から入力されるメモリブロック選択情報
に基づいて前記メモリブロックのいずれかを選択するメ
モリブロック選択手段と、前記選択されたメモリブロッ
ク内のメモリセルのいずれかを外部から入力されるアド
レス選択情報に基づいて選択するメモリセル選択手段と
を備え、前記メモリブロック選択手段は、アドレス選択
情報からアドレス選択動作タイミングを検出するアドレ
ス選択検出手段と、前記アドレス選択検出手段がアドレ
ス選択動作タイミングを検出したとき出力するアドレス
選択検出信号に基づいて、前記メモリブロック選択情報
を一時的に保持し、かつ、前記選択されたメモリブロッ
クに出力するメモリブロック選択情報保持手段とを含ん
で構成する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a random access type semiconductor which can read and write stored information to a desired address in a memory block according to address selection information. For storage devices (hereinafter referred to as RAM: Random Access Memory), by reducing the number of external address input terminals of a large-capacity RAM, a large-capacity RAM with a small IC package and high mounting efficiency on a printed circuit board is provided. A plurality of memory blocks each having a plurality of memory cells, and an external data input terminal connected to a block data input terminal of each memory block for supplying data to each memory block. In the semiconductor memory device provided, a memory input from an external data input terminal at the time of an address selecting operation in the semiconductor memory device is provided. Memory block selecting means for selecting one of the memory blocks based on reblock selection information, and memory for selecting any one of memory cells in the selected memory block based on externally input address selection information Cell selection means, wherein the memory block selection means detects an address selection operation timing from address selection information, and an address selection detection output when the address selection detection means detects the address selection operation timing A memory block selection information holding unit that temporarily holds the memory block selection information based on a signal and outputs the information to the selected memory block.

〔産業上の利用分野〕[Industrial applications]

本発明は、半導体記憶装置に係り、特にアドレス選択
情報に応じてメモリブロック内の所望のアドレスへ記憶
情報を読み書きすることが可能なランダム・アクセス型
の半導体記憶装置(以下、RAM:Random Access Memoryと
いう。)に関する。
The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a random access type semiconductor memory device (hereinafter, RAM: Random Access Memory) capable of reading and writing storage information at a desired address in a memory block according to address selection information. About).

近年においては、コンピュータ等による情報処理が増
大し、これに伴ってRAMの記憶容量を増大することが要
求されている。しかし、メモリセル領域を大型化する
と、ワード線が長くなり、そのRC時定数が大きくなって
アドレスの選択に長時間を要することになり、また、ビ
ット線も長大化し、メモリセルに対する負担が増大する
ため、記憶情報の読み出しにも時間がかかるという問題
を生じる。そこで、RAMのメモリ空間を複数のメモリブ
ロックに分割することが行われている。
In recent years, information processing by computers and the like has increased, and accordingly, it has been required to increase the storage capacity of RAM. However, when the memory cell area is enlarged, the word line becomes longer, the RC time constant becomes longer, and it takes a longer time to select an address.In addition, the bit line becomes longer and the load on the memory cell increases. Therefore, there is a problem that it takes time to read the stored information. Therefore, the memory space of the RAM is divided into a plurality of memory blocks.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図に従来の複数のメモリブロックに分割されたRA
Mの例を示す。
FIG. 4 shows a conventional RA divided into a plurality of memory blocks.
Here is an example of M.

このRAMは、複数のメモリブロックMB1、MB2、…MB
mと、デコーダ30と、外部アドレス入力端子AXと、外部
データ入力端子DINと、ラトイネーブル入力端子WEと、
外部データ出力端子DOUTとから構成されている。
This RAM, a plurality of memory blocks MB 1, MB 2, ... MB
and m, a decoder 30, an external address input terminal A X, and the external data input terminal D IN, and Lato enable input terminal WE,
It consists of an external data output terminal D OUT .

各メモリブロックMB1〜MBmは複数のメモリセルから成
り、それぞれが、ブロックアドレス入力端子▲▼
と、ブロックセレクト入力端子▲▼と、ブロックデ
ータ入力端子▲▼と、ブロックライトイネーブル
入力端子▲▼と、ブロックデータ出力端子▲
▼とを有している。また、外部アドレス入力端子AX
(k+n)本の入力端子を備えている。
Each of the memory blocks MB 1 to MB m is composed of a plurality of memory cells, each of which has a block address input terminal ▲ ▼
, Block select input terminal ▲ ▼, block data input terminal ▲ ▼, block write enable input terminal ▲ ▼, block data output terminal ▲
And ▼. The external address input terminal AX has (k + n) input terminals.

次に、動作を説明する。 Next, the operation will be described.

まず、外部アドレス入力端子AXのうち、k本の端子に
kビットのメモリブロック選択情報φが入力され、デ
コーダ30によりデコードされて10進数の1からmまでの
信号が出力される。この出力信号が各メモリブロックMB
1〜MBmのブロックセレクト入力端子外部▲▼に印加
されて所望のメモリブロックMBiが選択される。
First, external address input terminals A X, the k of terminals are k-bit memory block selection information phi B is input, the signal from the first being decoded decimal to m is output by the decoder 30. This output signal is applied to each memory block MB
1 to MB desired memory block MB i block select input external ▲ ▼ to be applied m is selected.

そして、外部アドレス入力端子AXの残りのn本の端子
にはnビットのアドレス選択情報φが入力される。こ
れが各メモリブロック内のブロックアドレス入力端子▲
▼に印加され、すでに選択されているメモリブロッ
クMBi内の2n個のアドレス(番地)の中から所望のアド
レスを選択する。
Then, n-bit address selection information phi A is input to the rest of the n-number of terminals of the external address input terminals A X. This is the block address input terminal in each memory block.
▼ is applied to, to select a previously desired address from among the 2 n addresses in memory block MB i is selected (address).

その後、外部ライトイネーブル入力端子WEに“L"レベ
ルのライトイネーブル信号φが入力されると書込み動
作状態となり、選択されたアドレス位置にあるメモリセ
ルに所望の記憶情報が書き込まれる。逆に記憶情報を読
み出す場合には、前記と同じ過程を経て所望のアドレス
を選択した後に、外部ライトイネーブル入力端子WEに
“H"レベルのライトイネーブル信号φを入力すること
により読出し動作状態となり、選択されたアドレスの記
憶情報を読み出すことができる。
Thereafter, an external write enable input terminal WE is "L" level of the write enable signal phi E is input becomes the write operation state, the desired memory information is written to the memory cells in the selected address location. If the contrary reading stored information, after selecting the desired address via the same process as above, it is a read operation by inputting the "H" level of the write enable signal phi E to the external write enable input terminal WE , The storage information at the selected address can be read.

なお、外部データ入力端子DINにはpビットの記憶情
報を並列に入力することができるのが通常である。コン
ピュータにおいては、演算処理等はp=8ビットであ
る。
It should be noted that normally, p-bit storage information can be input in parallel to the external data input terminal DIN . In the computer, the arithmetic processing and the like have p = 8 bits.

以上のことから、メモリブロックの個数がm個で、各
メモリブロックの記憶容量が2nビットであるから、全体
ではm×2nビットの記憶情報を任意に読み書きすること
ができる。
From the above, since the number of memory blocks is m and the storage capacity of each memory block is 2 n bits, it is possible to arbitrarily read and write m × 2 n bits of storage information as a whole.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかし、RAMでは、m×2nビットのメモリ空間のアド
レスを選択するために、上述したように(k+n)本の
外部アドレス入力が必要である。したがって、例えば、
1メガ(106)ビットのメモリ容量で、 m=2kとしたとき、 2(k+n)=106から、 k+n=20となり、 結局20本の外部アドレス入力端子が必要であることにな
る。しかし、RAMにおいて入力端子数を増加することはI
Cパッケージの大型化を招き、ひいてはプリント基板へ
の実装効率が減少してしまうという問題が生じる。
However, in the RAM, as described above, (k + n) external address inputs are required to select an address in the memory space of m × 2 n bits. So, for example,
With a memory capacity of 1 mega (10 6 ) bits and m = 2 k , from 2 (k + n) = 10 6 , k + n = 20. In the end, 20 external address input terminals are required. Become. However, increasing the number of input pins in RAM is
This causes an increase in the size of the C package, and consequently causes a problem that mounting efficiency on a printed circuit board is reduced.

本発明は、上述した問題点を解決するためになされた
ものであり、大容量のRAMの外部アドレス入力端子数を
減少させることにより、小型ICパッケージで、プリント
基板への実装効率の高い大容量のRAMを提供することを
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems. By reducing the number of external address input terminals of a large-capacity RAM, a large-capacity high-capacity mounting on a printed circuit board can be achieved in a small IC package. Aims to provide RAM.

〔課題を解決するための手段〕 上記課題を解決するために、本発明は、それぞれ複数
のメモリセルを有して複数に分割されたメモリブロック
(MB1〜MBm)と、各メモリブロック(MB1〜MBm)のブロ
ックデータ入力端子(▲▼)と接続され各メモリ
ブロック(MB1〜MBm)へデータを供給するための外部デ
ータ入力端子(DIN)を備える半導体記憶装置におい
て、当該半導体記憶装置でのアドレス選択動作時に、外
部データ入力端子(DIN)から入力されるメモリブロッ
ク選択情報(φ)に基づいて前記メモリブロック(MB
1〜MBm)のいずれかを選択するメモリブロック選択手段
と、前記選択されたメモリブロック(MBi)内のメモリ
セルのいずれかを外部から入力されるアドレス選択情報
(φ)に基づいて選択するメモリセル選択手段とを備
え、前記メモリブロック選択手段は、アドレス選択情報
(φ)からアドレス選択動作タイミングを検出するア
ドレス選択検出手段(1)と、前記アドレス選択検出手
段(1)がアドレス選択動作タイミングを検出したとき
に出力するアドレス選択検出信号(φ)に基づいて、
前記メモリブロック選択情報(φ)を一時的に保持
し、かつ、前記選択されたメモリブロック(MBi)に出
力するメモリブロック選択情報保持手段(2)と、を含
んで構成する。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, the present invention provides a memory block (MB 1 to MB m ) each having a plurality of memory cells and divided into a plurality of memory blocks (MB 1 to MB m ). in the semiconductor memory device comprises an external data input terminal (D iN) for being connected to the block data input terminal of the MB 1 ~MB m) (▲ ▼ ) to supply data to the respective memory blocks (MB 1 ~MB m), At the time of an address selection operation in the semiconductor memory device, the memory block (MB) is selected based on memory block selection information (φ B ) input from an external data input terminal (D IN ).
1 to MB m ) and one of the memory cells in the selected memory block (MB i ) based on address selection information (φ A ) input from the outside. A memory cell selecting means, wherein the memory block selecting means comprises: an address selection detecting means (1) for detecting an address selection operation timing from address selection information (φ A ); Based on an address selection detection signal (φ C ) output when detecting the address selection operation timing,
And memory block selection information holding means (2) for temporarily holding the memory block selection information (φ B ) and outputting it to the selected memory block (MB i ).

〔作用〕[Action]

上記構成を有する本発明に係るRAMによれば、所望の
メモリブロック(MB1〜MBm)を選択するメモリブロック
選択情報(φ)は、外部データ入力端子(DIN)に入
力すればよいため、メモリブロック選択情報入力用の外
部アドレス入力端子は不要となる。したがって、その分
の外部アドレス入力端子(A)の数を減少させることが
できる。
According to RAM according to the present invention having the above structure, the memory block selection information for selecting a desired memory block (MB 1 ~MB m) (φ B) may be input to an external data input terminal (D IN) Therefore, an external address input terminal for inputting memory block selection information is not required. Therefore, the number of external address input terminals (A) can be reduced accordingly.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図に、本発明のRAMの一実施例を示す。この第1
図において、第4図の従来例と同一もしくは重複する部
分には同一の符号を附し、その詳細な説明は省略する。
FIG. 1 shows an embodiment of the RAM of the present invention. This first
In the figure, the same or overlapping parts as those in the conventional example of FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

第1図において、RAMは、アドレス選択検出手段たる
アドレス選択検出器1と、メモリブロック選択情報保持
手段たるステータスレジスタ2と、デコーダ3と、書込
制御回路4と、複数のメモリブロックMB1〜MBmと、外部
アドレス入力端子Aと、外部データ入力端子DINと、外
部ライトイネーブル入力端子WEと、外部データ出力端子
DOUTとを有している。
In FIG. 1, a RAM includes an address selection detector 1 as an address selection detection unit, a status register 2 as a memory block selection information holding unit, a decoder 3, a write control circuit 4, and a plurality of memory blocks MB 1 to MB 1 . MB m , external address input terminal A, external data input terminal DIN , external write enable input terminal WE, and external data output terminal
D OUT .

各メモリブロックMB1〜MBmは、第4図の従来例と同様
に複数のメモリセルから成り、それぞれが、ブロックア
ドレス入力端子と、ブロックセレクト入力端子▲
▼と、ブロックデータ入力端子▲▼と、ブロック
ライトイネーブル入力端子▲▼と、ブロックデータ
出力端子▲▼とを有している。
Each of the memory blocks MB 1 to MB m consists fourth view of a conventional example as well as a plurality of memory cells, each of the block address input terminal, the block select input ▲
▼, a block data input terminal ▲ ▼, a block write enable input terminal ▲ ▼, and a block data output terminal ▲ ▼.

次に、第1図におけるアドレス選択検出器1、ステー
タスレジスタ2の詳細を第2図に示す。アドレス選択検
出器1は、n個の外部アドレス入力端子A0〜An-1に入力
されるアドレス選択情報φの論理積をとるAND回路20
である。また、書込制御回路4はインバータと2入力の
AND回路とから成る回路である。そしてAND回路20の出力
が書込制御回路4の一方の入力端に接続されている。書
込制御回路4の他方の入力端にはインバータを介してラ
イトイネーブル信号φが入力される。各メモリブロッ
クMB1〜MBmの中から所望のメモリブロックを選択する場
合には、外部アドレス入力端子A0〜An-1の全てを“H"レ
ベルとするアドレス選択情報φを入力することにより
AND回路20の出力であるアドレス選択検出信号φ
“H"レベルとなる。そして、ライトイネーブル信号φ
が“L"レベルの場合には書込制御回路4の出力である書
込制御信号φが“H"レベルとなり、ステータスレジス
タ2への書込みを行うようになっている。つまり、アド
レス選択情報φは、各メモリブロック選択時ごとに外
部アドレス入力端子A0〜An-1の全てを“H"レベルとす
る。
Next, FIG. 2 shows details of the address selection detector 1 and the status register 2 in FIG. Address selector detector 1, the AND circuit 20 for taking a logical product of the address selection information phi A inputted to the n external address input terminals A 0 to A n-1
It is. The write control circuit 4 has an inverter and a two-input
This is a circuit composed of an AND circuit. The output of the AND circuit 20 is connected to one input terminal of the write control circuit 4. The other input terminal of the write control circuit 4 write enable signal phi E via an inverter is inputted. When selecting a desired memory block from each memory block MB 1 to MB m inputs address selection information phi A of the external address input terminals A 0 ~A n-1 of all "H" level By
Address selection detection signal phi C is the output of the AND circuit 20 becomes "H" level. Then, the write enable signal φ E
There "L" when the level is the output of the write control circuit 4 write control signal phi W becomes "H" level, and performs writing to the status register 2. That is, address selection information phi A is an external address input terminals A 0 ~A n-1 of all "H" level every time the memory block selection.

また、ステータスレジスタ2は、インバータ21、およ
びNAND回路22、23、24、25から成り、書込制御回路4の
出力である書込制御信号φが“H"レベルのときにはそ
の時点の外部データ入力端子DINの情報をそのまま出力O
SRに出力し、その後に書込制御信号φが“L"レベルと
なっても、書込制御信号φが次に“H"レベルとなるま
では、その時点の外部データ入力端子DINの情報をその
まま保持し出力し続けるようなレジスタである。
Also, the status register 2, an inverter 21, and NAND circuits 22, 23, 24, 25, when the write control signal phi W which is the output of the write control circuit 4 is at the "H" level external data at that time Output the information of the input terminal D IN as it is O
SR , and thereafter, even if the write control signal φ W goes to “L” level, the external data input terminal D IN at that point in time until the write control signal φ W goes to “H” level next time. Is a register that keeps outputting the information of the same as it is.

次に動作を説明する。 Next, the operation will be described.

まず、m個のメモリブロック中の所望のブロックを選
択するために、外部アドレス入力端子A0〜An-1の全てを
“H"レベルとする(これに対応するアドレスを以下X番
地と称する)アドレス選択情報φを入力するととも
に、外部ライトイネーブル入力端子WEに“L"レベルのラ
イトイネーブル信号φを入力する。これによってアド
レス選択検出器1は“H"レベルのアドレス選択信号φ
を出力し、書込制御回路4の出力φは“H"レベルとな
る。
First, in order to select the desired block in the m memory blocks, referred to as X address below the external address input terminals A 0 ~A n-1 of all "H" level (an address corresponding thereto ) inputs the address selection information phi a, enter the "L" level of the write enable signal phi E to the external write enable input terminal WE. As a result, the address selection detector 1 outputs the "H" level address selection signal φ C
Outputs, the output phi W of the write control circuit 4 becomes "H" level.

一方、所望のメモリブロックを選択するためのkビッ
トのメモリブロック選択情報φは外部データ入力端子
DINに入力され、ステータスレジスタ2に伝達される。
書込制御回路4の出力φは“H"レベルであるから、前
記のメモリブロック選択情報φはDINからステータス
レジスタに取り込まれて保持されOSRに出力される。そ
して、このアドレス信号はデコーダ3を経て10進数の1
からmまでの信号にデコードされ、m個のメモリブロッ
クの中から所望のメモリブロックMBiが選択される。こ
のとき、メモリブロックMBiのアドレス:X番地には、メ
モリブロック選択情報φが書き込まれる。したがっ
て、外部アドレス入力端子A0〜An-1の全てが“H"レベル
となるときに選択されるアドレスである各メモリブロッ
クのX番地は、言いかえればメモリブロック選択情報を
格納するアドレスであるということができる。そして、
次に外部アドレス入力A0〜An-1のうち少くとも一入力が
“L"レベルとなるか又は外部ライトイネーブル端子WEが
“H"レベルとなると、書込制御回路4の出力φは“L"
レベルとなり、ステータスレジスタはその直前の状態を
保持する。即ち、メモリブロックMBiが継続して選択さ
れ続ける。
On the other hand, k-bit memory block selection information φ B for selecting a desired memory block is supplied to an external data input terminal.
It is input to D IN and transmitted to the status register 2.
Since the output phi W of the write control circuit 4 is at the "H" level, the memory block selection information phi B is output to be held is taken into the status register from D IN O SR. Then, this address signal passes through the decoder 3 and is converted to a decimal 1
From decoded into signals up m, the desired memory block MB i is selected from among the m memory blocks. At this time, the memory block MB i of the address: The address X, the memory block selection information phi B is written. Therefore, X addresses of each memory block in the address to be selected when all of the external address input terminals A 0 ~A n-1 becomes the "H" level, the address to store the memory block selection information other words It can be said that there is. And
Next, when the external address input A 0 to A at least one input of the n-1 becomes the "L" level or an external write enable terminal WE is "H" level, the output phi W of the write control circuit 4 “L”
Level, and the status register holds the state immediately before. That is, the memory block MB i continues to be continuously selected.

この状態で外部アドレス入力端子A0〜An-1に所望のア
ドレス選択情報φを印加すれば既に選択されているメ
モリブロックMBi内の2n個のメモリセルの中から所望の
番地を選択し、その番地に対して書き込み又は読み出し
を行うことができる。外部ライトネーブル入力端子WEに
“L"レベルのライトネーブル信号φを入力すれば、そ
の時に外部データ入力端子DINに入力されている情報を
書き込むことができる。外部ライトイネーブル入力端子
WEに“H"レベルのライトイネーブル信号φを入力すれ
ば選択された番地の記憶情報を外部データ出力端子DOUT
に出力することができる。
The desired address from among the 2 n memory cells of the external address input in terminal A 0 to A by applying a desired address selection information phi A to n-1 already memory block MB is selected i that in this state The user can select and write or read the address. By entering the external write enable input terminal WE "L" level of the write enable signal phi E, it is possible to write the information that has been inputted to the external data input terminal D IN at that time. External write enable input pin
WE to "H" level of the write enable signal φ external data output terminal D OUT information stored in the address selected by entering the E
Can be output to

ここで、第3図に本発明のRAMの動作に関するタイミ
ングチャートを示す。
Here, FIG. 3 shows a timing chart relating to the operation of the RAM of the present invention.

第3図のの時点ではアドレス:X番地が選択され、こ
のアドレス:X番地にメモリブロック選択情報としてデー
タdiが書き込まれている。したがって、この時点におい
てはステータスレジスタ2には数値データdiが保持され
ている。このデータdiはOSRからそのまま出力されデコ
ーダ3でiにデコードされてi番目のメモリブロックMB
iが選択されていることになる。この状態は、次にX番
地への書き込みが行われるの時点まで維持される。そ
して、の時点では、アドレス:X番地にメモリブロック
選択情報としてデータdjが書き込まれ、ステータスレジ
スタ2にはデータdjが取り込まれ保持されている。これ
によって、これ以後j番目のメモリブロックMBjが選択
されることになる。
At the time of the third view Address: X address is selected, this address: data d i is written as a memory block selection information in the X address. Thus, the numerical data d i is the status register 2 is held at this point. The data d i is decoded to i in the decoder 3 is output as the O SR in the i-th memory block MB
i has been selected. This state is maintained until the next writing to the address X is performed. At this point, the data dj is written as the memory block selection information at the address: address X, and the data dj is captured and held in the status register 2. As a result, the j-th memory block MB j is selected thereafter.

上記のように、本発明のRAMでは、メモリブロックの
切り換えに1サイクルを必要とする。したがって、例え
ば、サイクル毎にメモリブロックの切り換えを必要とす
るような場合には、実質的な書き込み・読み出し動作に
2サイクルかかってしまうことになる。しかし、CPU(C
entral Processing Unit:中央演算処理装置)がメモリ
へのアクセスを行う場合には、連続した番地のアドレス
へ順番にアクセスすることが多いので、頻繁なメモリブ
ロックの切り換えは極めてまれであると考えられる。何
故ならば、メモリにデータを記憶させる場合には、ある
まとまったメモリ領域を確保して記憶動作を行うのが普
通なので連続した番地のアドレスへ順番にアクセスする
シーケンシャルなアクセスが行われる確率が高いからで
あり、メモリにプログラムを記憶させる場合には、分岐
命令が無いかぎりCPUはメモリにシーケンシャルにアク
セスするからである。
As described above, in the RAM of the present invention, one cycle is required to switch the memory block. Therefore, for example, when it is necessary to switch the memory block every cycle, it takes two cycles for the substantial write / read operation. However, the CPU (C
In the case where the central processing unit (central processing unit) accesses the memory, it is often considered that frequent switching of the memory block is extremely rare because the addresses of consecutive addresses are often accessed in order. Because when storing data in a memory, it is common to perform a storage operation while securing a certain memory area, so there is a high probability that sequential access to sequentially access addresses at consecutive addresses is performed. This is because when a program is stored in the memory, the CPU accesses the memory sequentially unless there is a branch instruction.

なお、外部データ入力端子DINにはpビットの記憶情
報を並列に入力することができるのが通常である。コン
ピュータにおいては、演算処理等は通常p=8ビットで
ある。
It should be noted that normally, p-bit storage information can be input in parallel to the external data input terminal DIN . In a computer, arithmetic processing and the like usually have p = 8 bits.

以上のことから、メモリブロックの個数がm個で、各
メモリブロックの記憶容量が2nビットであるから、全体
ではm×2nビットのメモリ空間を有しており、これは第
4図に示す従来例のRAMと同じである。ところが、本発
明のRAMにおいては、上述したように、所望のメモリブ
ロックを選択するためのメモリブロック選択情報は外部
データ入力端子DINに入力すればよく、その分のk本の
外部アドレス入力端子は結果として不要となる。なお、
DINのデータ幅はpビットであるから、メモリブロック
選択信号は最大pビットまで使用することができる。前
述したようにコンピュータでは通常p=8ビットである
から、この場合には8本の外部アドレス入力端子を減少
させることができる。
From the above, since the number of memory blocks is m and the storage capacity of each memory block is 2 n bits, the memory block has a total memory space of m × 2 n bits, which is shown in FIG. This is the same as the conventional RAM shown. However, in the RAM of the present invention, as described above, the memory block selection information for selecting a desired memory block only needs to be input to the external data input terminal DIN, and the k external address input terminals corresponding to that are input. Becomes unnecessary as a result. In addition,
Since the data width of D IN is p bits, the memory block selection signal can use up to a maximum of p bits. As described above, since p = 8 bits in a computer, eight external address input terminals can be reduced in this case.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明によれば、所望のメモリ
ブロックを選択するメモリブロック選択情報は、外部デ
ータ入力端子に入力すればよいため、巨大な記憶容量を
有するRAMのアドレスを、従来のRAMよりも大幅に少ない
本数の外部アドレス入力端子で選択できることとなり、
ICパッケージの小型化が図れる。そして、その結果とし
てプリント基板上のメモリ実装効率を高めることができ
るという利点を有している。
As described above, according to the present invention, since the memory block selection information for selecting a desired memory block may be input to the external data input terminal, the address of the RAM having a huge storage capacity is replaced with the conventional RAM. Can be selected with a significantly smaller number of external address input terminals than
The size of the IC package can be reduced. As a result, there is an advantage that the memory mounting efficiency on the printed circuit board can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明のRAMの一実施例を示すブロック構成
図、 第2図は第1図におけるアドレス選択検出器およびステ
ータスレジスタの詳細を示す回路図、 第3図は本発明のRAMの動作を説明する図、 第4図は従来のRAMの例を示すブロック構成図である。 1……アドレス選択検出器 2……ステータスレジスタ 3……デコーダ 4……書込制御回路 20……AND回路 21……インバータ 22〜25……NAND回路 30……デコーダ A……外部アドレス入力端子 ……ブロックアドレス入力端子 AX……外部アドレス入力端子 ▲▼……ブロックアドレス入力端子 A0〜An-1……外部アドレス入力端子 ▲▼……ブロックセレクト入力端子 DIN……外部データ入力端子 ▲▼……ブロックデータ入力端子 DOUT……外部データ出力端子 ▲▼……ブロックデータ出力端子 MB1〜MBm……メモリブロック OSR……ステータスレジスタ出力 WE……外部ライトイネーブル入力端子 ▲▼……ブロックライトイネーブル入力端子 X……アドレス di、dj……データ k、p、n……ビット φ……アドレス選択情報 φ……メモリブロック選択情報 φ……アドレス選択検出信号 φ……ライトイネーブル信号 φ……書込制御信号
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the RAM of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing details of an address selection detector and a status register in FIG. 1, and FIG. 3 is an operation of the RAM of the present invention. FIG. 4 is a block diagram showing an example of a conventional RAM. 1 ... Address selection detector 2 ... Status register 3 ... Decoder 4 ... Write control circuit 20 ... AND circuit 21 ... Inverter 22-25 NAND circuit 30 ... Decoder A ... External address input terminal …… Block address input terminal A X …… External address input terminal ▲ ▼ …… Block address input terminal A 0 to An-1 …… External address input terminal ▲ ▼ …… Block select input terminal D IN …… External data input terminal ▲ ▼ ...... block data input terminal D OUT ...... external data output pin ▲ ▼ ...... block data output terminal MB 1 ~MB m ...... memory block O SR ...... status register output WE ...... external write enable input terminal ▲ ▼ ...... block write enable input terminal X ...... address d i, d j ...... data k, p, n ...... bit φ A ...... address selection information φ B ...... Memoriburo Click selection information φ C ...... address selection detection signal φ E ...... write enable signal φ W ...... write control signal

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】それぞれ複数のメモリセルを有して複数に
分割されたメモリブロック(MB1〜MBm)と、各メモリブ
ロック(MB1〜MBm)のブロックデータ入力端子(▲
▼)と接続され各メモリブロック(MB1〜MBm)へデー
タを供給するための外部データ入力端子(DIN)を備え
る半導体記憶装置において、 当該半導体記憶装置でのアドレス選択動作時に、外部デ
ータ入力端子(DIN)から入力されるメモリブロック選
択情報(φ)に基づいて前記メモリブロック(MB1〜M
Bm)のいずれかを選択するメモリブロック選択手段と、 前記選択されたメモリブロック(MBi)内のメモリセル
のいずれかを外部から入力されるアドレス選択情報(φ
)に基づいて選択するメモリセル選択手段とを備え、 前記メモリブロック選択手段は、アドレス選択情報(φ
)からアドレス選択動作タイミングを検出するアドレ
ス選択検出手段(1)と、 前記アドレス選択検出手段(1)がアドレス選択動作タ
イミングを検出したときに出力するアドレス選択検出信
号(φ)に基づいて、前記メモリブロック選択情報
(φ)を一時的に保持し、かつ、前記選択されたメモ
リブロック(MBi)に出力するメモリブロック選択情報
保持手段(2)と、 を含むことを特徴とする半導体記憶装置。
A memory block (MB 1 to MB m ) having a plurality of memory cells and a block data input terminal (▲) of each memory block (MB 1 to MB m ).
▼) connected to an external data input terminal (D IN ) for supplying data to each of the memory blocks (MB 1 to MB m ). based on the memory block selection information (phi B) inputted from the input terminal (D iN) said memory blocks (MB 1 ~M
B m ), and address selection information (φ) externally input to any of the memory cells in the selected memory block (MB i ).
A ) a memory cell selection means for selecting based on address selection information (φ
A ) An address selection detection means (1) for detecting an address selection operation timing from the above, and an address selection detection signal (φ C ) output when the address selection detection means (1) detects the address selection operation timing. And a memory block selection information holding means (2) for temporarily holding the memory block selection information (φ B ) and outputting the selected information to the selected memory block (MB i ). Semiconductor storage device.
JP1233276A 1989-09-08 1989-09-08 Semiconductor storage device Expired - Fee Related JP2788765B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1233276A JP2788765B2 (en) 1989-09-08 1989-09-08 Semiconductor storage device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1233276A JP2788765B2 (en) 1989-09-08 1989-09-08 Semiconductor storage device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0397195A JPH0397195A (en) 1991-04-23
JP2788765B2 true JP2788765B2 (en) 1998-08-20

Family

ID=16952555

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1233276A Expired - Fee Related JP2788765B2 (en) 1989-09-08 1989-09-08 Semiconductor storage device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2788765B2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0810560B2 (en) * 1987-04-13 1996-01-31 沖電気工業株式会社 Semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0397195A (en) 1991-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3800292A (en) Variable masking for segmented memory
KR960011959B1 (en) Semiconductor memory device
US7082491B2 (en) Memory device having different burst order addressing for read and write operations
US4375678A (en) Redundant memory arrangement providing simultaneous access
JP2682026B2 (en) First-in first-out type semiconductor memory
US4831522A (en) Circuit and method for page addressing read only memory
US5303192A (en) Semiconductor memory device having information indicative of presence of defective memory cell
EP0263924A2 (en) On-chip bit reordering structure
JPH0466079B2 (en)
US4796222A (en) Memory structure for nonsequential storage of block bytes in multi-bit chips
US4460972A (en) Single chip microcomputer selectively operable in response to instructions stored on the computer chip or in response to instructions stored external to the chip
US4992979A (en) Memory structure for nonsequential storage of block bytes in multi bit chips
US5201058A (en) Control system for transferring vector data without waiting for transfer end of the previous vector data
US5390139A (en) Devices, systems and methods for implementing a Kanerva memory
US5577221A (en) Method and device for expanding ROM capacity
JPH04228187A (en) Random-access-memory-array
JP2788765B2 (en) Semiconductor storage device
EP0285125A2 (en) Semiconductor memory having a parallel input/output circuit
US5873126A (en) Memory array based data reorganizer
US7363460B2 (en) Semiconductor memory device having tag block for reducing initialization time
US4982379A (en) Semiconductor memory device having associative function
JPH0863969A (en) Semiconductor storage device
US5130923A (en) Selective dynamic RAM address generator with provision for automatic refresh
US6178120B1 (en) Memory structure for speeding up data access
JP2704607B2 (en) Semiconductor storage device

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees