JP2787097B2 - レチクルケース、レチクルストッカ、及び搬送システム並びに搬送方法 - Google Patents

レチクルケース、レチクルストッカ、及び搬送システム並びに搬送方法

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JP2787097B2
JP2787097B2 JP31474297A JP31474297A JP2787097B2 JP 2787097 B2 JP2787097 B2 JP 2787097B2 JP 31474297 A JP31474297 A JP 31474297A JP 31474297 A JP31474297 A JP 31474297A JP 2787097 B2 JP2787097 B2 JP 2787097B2
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幸雄 柿崎
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
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    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レチクルケース、レチ
クルストッカ、及び搬送システム並びに搬送方法に関
し、特に半導体製造装置において複数種類のレチクルを
用いる際に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造過程において、所定のレチク
ルパターンを有するレチクルを照明し、そのパターンを
感光基板上に投影露光することにより、そのパターンを
感光基板に焼付転写する工程の際に投影露光装置が用い
られる。従来の投影露光装置においては、投影光学系上
の所定位置にサイズが一定のレチクルを支持し、その光
学系直下の所定位置に結像するレチクルパターンに対応
して感光基板を支持して前記露光工程を行っていた。
【0003】しかしながら、半導体製品の微細化に伴
い、例えばLSIのパターンルールの縮小化と共に、チ
ップ面積の増大化が進んでいる。このため、現在使用さ
れている一般的なレチクルのサイズは、5”×5”×
0.09”(5”レチクル)であるが、このままチップ
面積が増大化すると、レチクルも6”サイズ(6”レチ
クル)のものに変更することを考えなければならない。
【0004】ここで、例えば投影露光装置(ステッパ)
等は、露光機能を司るステッパ本体部と、転写露光パタ
ーンを有するレチクルをステッパ本体近傍に収納する収
納部と、その収納部に収納し及びそこから取出してステ
ッパ本体との間でレチクルの受渡しを司るレチクルロー
ダ部と、被露光物である感光基板(例えばレジスト付ウ
エハ)のステッパ本体への受渡しを司る基板ローダ部
と、その他環境温度安定化の為のチャンバ等、必要に応
じて付加される機能要素により構成されている。
【0005】そこで、これら装置部分を異なるサイズの
レチクルに共通して用いるためには、それぞれの構成要
素について異なるサイズのレチクルに対応するための何
らかの手段を設けなければならない。このうち特に、投
影露光のための光学系に関しては問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、例えば5”
レチクルと6”レチクルでは、パターン部の大きさ及び
全体の外形と厚さ等が異なるため、従来の5”レチクル
専用の装置(例えば投影露光装置のレチクルローダ部
や、レチクルケース)で6”レチクルを用いることはで
きない。ここで、新たに6”レチクルに対応する専用の
装置を作成することは容易であるが、レチクルサイズに
対応して夫々の装置を備えることは、設備上及び半導体
製作コスト等の問題が多い。
【0007】このため、複数のレチクルのサイズに共通
に対応できる装置が望ましい。ここで、レチクルはその
中央部を中心として、ほぼ全面にパターンを有するの
で、そのパターンを投影するためには、投影露光装置に
おけるレチクル支持部はレチクルの外周部を支持する構
造でなければならない。1つのサイズ(例えば5”レチ
クル)に固定されたレチクル支持部を備えた露光装置で
は、大きなサイズ(例えば6”)のレチクルを使用した
場合に、そのパターン上に小さなサイズのレチクル用支
持部が重なる恐れがある。この状態でそのまま露光する
と感光基板上にその支持部の投影像が生じてしまう為、
同一の投影露光装置で複数のレチクルサイズに対応する
ためには、その装置のレチクル支持手段において固定さ
れた支持部を用いて異なるサイズのレチクル用に共通化
することは困難である。
【0008】そこで、レチクル支持部において支持手段
を変えて異なるサイズのレチクルに対応する必要がある
が、支持手段を変化させることにより支持位置に変化が
生じ、このためにレチクルパターンの結像位置等が大き
く異なる可能性がある。また、レチクルを支持するレチ
クルホルダー及びレチクルローダ等をレチクルサイズの
違いに対応してその度毎に取り外して交換したり、サイ
ズの違いによって搬送シーケンスを異ならせたりするこ
とはスループットの低下につながる可能性がある。
【0009】本発明は、以上の様な問題点に鑑みてなさ
れたもので、異なるサイズのレチクルが使用できるレチ
クルケース、レチクルストッカ、及び搬送システム並び
に搬送方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載のレチクル
ケースは、第1のレチクルを支持する第1支持部材と、
前記第1のレチクルとはサイズの異なる第2のレチクル
を支持する第2支持部材とを有し、前記第1支持部材で
支持された前記第1のレチクルの厚さ方向に、前記第1
支持部材と前記第2支持部材とは所定距離だけ離れて配
置されるものである。このため、請求項1記載のレチク
ルケースは、異なるサイズのレチクルを支持することが
できる。請求項2記載のレチクルケースは、請求項1記
載のレチクルケースにおいて、内部を確認可能な窓を有
するものである。このため、請求項2記載のレチクルケ
ースは、レチクルケースの内部を確認することができ
る。
【0011】請求項3記載の搬送システムは、請求項1
または請求項2記載のレチクルケースを用いた搬送シス
テムであって、前記レチクルケースを収納するケースス
トッカと、前記第1のレチクルまたは前記第2のレチク
ルを支持する支持ア−ムと、前記レチクルケースから、
前記レチクルを所定位置に搬送する搬送系とを有するも
のである。このため、請求項3記載の搬送システムは、
異なるサイズのレチクルを搬送することができる。
【0012】請求項4記載の搬送システムは、第1のレ
チクルを所定位置に支持する第1支持部材と、該第1の
レチクルとは異なる第2のレチクルを所定位置に支持す
る第2支持部材とを有するレチクルケースを収納するケ
ースストッカと、前記第1のレチクルを支持する第1支
持アームと、前記第2のレチクルを支持する第2支持ア
ームとを有する搬送装置と、前記第1のレチクルを所定
の基準位置に支持する第1支持状態と、前記第2のレチ
クルを該所定の基準位置に支持する第2支持状態とに切
換可能なレチクル支持手段とを有するレチクルステージ
と、前記レチクルケースから、前記第1のレチクルと前
記第2のレチクルとを前記レチクルステージに搬送する
ように前記搬送装置を制御する制御系とを有するもので
ある。このため、請求項4記載の搬送システムは、異な
るサイズのレチクルをレチクルステージに搬送すること
ができる。
【0013】請求項5記載の搬送システムは、請求項4
記載の搬送システムにおいて、前記レチクルステージ
が、前記第1のレチクルを支持する第1支持機構と前記
第2のレチクルを支持する第2支持機構とを有するもの
である。このため、請求項5記載の搬送システムは、異
なるサイズのレチクルをレチクルステージの所望の位置
に搬送することができる。
【0014】請求項6記載の搬送システムは、請求項4
記載の搬送システムにおいて、前記搬送装置が、前記ケ
ースストッカと前記レチクルステージとの間に設けら
れ、前記レチクルのプリアライメントを行うプリアライ
メント機構を含むものである。このため、請求項6記載
の搬送システムは、搬送中にレチクルのプリアライメン
トをすることができる。
【0015】請求項7記載の搬送システムは、請求項6
記載の搬送システムにおいて、前記プリアライメント機
構が、前記第1のレチクルをアライメントするための第
1の接触部と前記第2のレチクルをアライメントするた
めの第2の接触部とを含むものである。このため、請求
項7記載の搬送システムは、異なるサイズのレチクルを
プリアライメントすることができる。
【0016】請求項8記載の搬送システムは、請求項4
記載の搬送システムにおいて、前記ケースストッカが前
記レチクルのサイズを表示する表示機能を有するもので
ある。このため、請求項8記載の搬送システムは、レチ
クルのサイズを確認することができるので、確実なレチ
クル搬送をすることができる。請求項9記載の搬送シス
テムは、請求項4記載の搬送システムにおいて、前記ケ
ースストッカが、前記ケースストッカ内に前記レチクル
が存在するか否かの判定を行う判定部を有するものであ
る。このため、請求項9記載の搬送システムは、ケース
ストッカ内のレチクルの有無をオペレータや制御装置な
どに警告することができる。
【0017】請求項10記載の搬送方法は、第1のレチ
クルを含む複数のレチクルを保管するレチクル保管部か
ら所定のレチクル保持部まで、該レチクルを搬送する搬
送方法であって、前記レチクル保管部から前記レチクル
保持部近傍まで、前記第1のレチクルとは異なる第2の
レチクルと前記第1のレチクルとを同じ搬送ア−ムで搬
送する工程と、前記レチクル保管部に設けられた第1支
持部材上に前記第1のレチクルを載置する工程と、前記
レチクル保管部の前記第1支持部材とは異なる位置に設
けられた第2支持部材上に前記第2のレチクルを載置す
る工程とを有するものである。このため、請求項10記
載の搬送方法は、異なるサイズのレチクルを搬送するこ
とができる。
【0018】請求項11記載の搬送方法は、請求項10
記載の搬送方法において、 前記レチクル保管部と前記
レチクル保持部との間に設けられたプリアライメント機
構により、前記第1のレチクルと前記第2のレチクルと
の少なくとも一方をプリアライメントするプリアライメ
ント工程を更に有するものである。このため、請求項1
1記載の搬送方法は、レチクルの搬送中にレチクルのプ
リアライメントをすることができる。
【0019】請求項12に記載のレチクルストッカは、
第1のレチクルを所定位置に支持する第1支持部と、該
第1のレチクルとは異なるサイズの第2のレチクルを所
定位置に支持する第2支持部と、前記レチクルのサイズ
を表示する表示部とを有するものである。このため、請
求項12記載のレチクルストッカは、異なるサイズのレ
チクルを支持することができる。
【0020】請求項13に記載のレチクルストッカは、
請求項12に記載のレチクルストッカにおいて、前記レ
チクルがレチクルケースを介して前記レチクルストッカ
に支持されるものである。このため、請求項13記載の
レチクルストッカは、異なるサイズのレチクルをレチク
ルケースを介して支持することができる。以上のように
本発明によれば、レチクルのサイズを交換しても簡単な
構成および方法で対応することができる。このため、レ
チクルサイズによって露光装置を使い分ける必要性もな
い。さらに、複数のレチクルサイズに対応する支持手段
を備え、使用するレチクルのサイズに応じて切り替え可
能なものであるため、レチクル支持手段をその度に装置
から取り外す等して取り替える手間を省いている。
【0021】ここで、前記第1の支持状態と第2の支持
状態とは夫々異なるレチクルサイズに対応する支持状態
を示すものであり、支持状態の切り替えとは、現状の支
持状態が使用予定のレチクルのサイズに対応する支持状
態と異なる場合に、使用予定のレチクルのサイズに対応
する支持状態にレチクル支持手段を変化させることであ
る。このため、使用するレチクルのサイズが複数ある場
合には、これらのサイズに対応する複数の支持状態を予
め想定することで、夫々のサイズのレチクルに対応でき
ることは言うまでもない。
【0022】また、これらの支持状態は、例えばレチク
ルに用いられるペリクルフレームのサイズ変化等が生じ
ても、その変化に対応した支持状態を設定すれば、これ
らの変化にも対応することができる。さらに、支持状態
の変化により生ずるレチクルパターン結像面の位置変化
(フォーカスやレベリング)に対応して、予め夫々の支
持状態におけるレチクル像面の位置を固有の補正値とし
て保持し、支持状態の変化に対応して感光基板の位置を
補正する制御手段を備えているため、レチクルサイズを
交換することによるスループットの低下がない。ここ
で、投影光学系によるレチクル投影像面、又は予め設定
された基準面を基準として感光基板の位置及び傾きを検
出し、基板支持手段を制御して、感光基板を適正位置に
調整するため、常に適正なレチクルパターンの投影露光
が行える。加えて、レチクルの支持位置の違いによる誤
差を計測してレチクルの高さを微調整するレチクルフォ
ーカス駆動等を設ける必要もない。
【0023】また、異なるサイズのレチクルに対応して
レチクル支持状態を変化させる手段としては、夫々のサ
イズに対応する支持手段を備え、使用するレチクルのサ
イズに応じた支持手段に交換するものでも、使用するレ
チクルサイズに対応してレチクル支持手段の支持部の位
置を変化させることにより支持状態を変化させるもので
も良い。
【0024】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図面を参照して
説明する。図1は、本発明の実施例にかかる投影露光装
置の概略を示す斜視図である。本実施例においては、異
なるサイズのレチクルを支持する手段として、5”レチ
クル用ホルダ5と、6”レチクル用ホルダ6との2つの
ホルダを備えており、この夫々のホルダを使用するレチ
クルのサイズに合わせて使用することで、異なるサイズ
のレチクルに対応している。このホルダを別のサイズ用
のホルダとすれば他のサイズのレチクルを使用すること
もできる。
【0025】これらのホルダは、1対のホルダアーム4
a,4b上に真空吸着等により取り外し可能に配設され
ており、後述するレチクル搬送手段により所定位置、例
えば5”レチクルであれば軸L1 上でレチクルサイズに
対応するホルダ5に5”レチクルが受け渡される。ホル
ダ5は、5”レチクルを支持したままアーム駆動部8に
よりアーム4a,bごとy方向に移動された後、5”レ
チクルを被照明位置である投影レンズ3の光軸AX0 上
に固定する。上記のレチクル受渡位置は、どのサイズの
レチクルの場合でも、例えば光軸AX0 上であってもよ
く、この場合にはホルダのみを光軸AX0 上の所定位置
に固定した後に、レチクルをホルダ上に搬送し設置すれ
ばよい。尚、アーム4a,4bは、駆動部8によって上
下(z方向)にも移動される。
【0026】ここで、レチクル搬送手段及びレチクル支
持手段は、レチクルサイズを予め指定することにより、
そのサイズに対応するホルダが準備され、そのホルダに
対応するサイズのレチクルが用意されたホルダ上に搬送
されるものであれば良い。本実施例では、予め使用する
レチクルを選択した段階で、そのレチクルに対応するサ
イズのホルダが決定され、かつそのホルダへのレチクル
の所定の受け渡し位置に該ホルダが準備され、その位置
へ選択したレチクルが搬送される。例えば5”レチクル
を選択した場合にはレチクルは所定位置で5”用ホルダ
5に受け渡され、6”レチクルR1 であれば6”用ホル
ダに6に受け渡される。図1において6Bはホルダ6に
形成された開口、5Bはホルダ5に形成された開口であ
る。
【0027】次に、図1とともに図4を用いて、レチク
ル支持状態の切り替え手段および支持手段について説明
する。図4(A)、(B)のようにレチクル受渡位置に
おいて、たとえば5”レチクルR2 は軸L1 上でホルダ
5に搬送され、支持部材5Aにより外周部の四点でホル
ダ5に支持される。このホルダ5は、図4(C)のよう
にアーム4a,4bの駆動部8によりy方向に移動さ
れ、5”レチクルR2 の中心を光軸AX0 上に持ち来た
すと共に、図4(D)のように光軸AX0 上においてz
方向に移動されて支持部材5CとレチクルステージRS
側に固定された支持部材7とが当接する位置まで降下さ
れ、ホルダ5はレチクルステージRS上に固定される。
また、6”レチクルR1 を使用する場合には、ホルダ6
が軸L1 上に位置するようにアーム4a,4bで位置決
めされた後、ほるだ6に6”レチクルR1 が搬送された
のち支持部材6Aにより6”レチクルが支持され、同様
にホルダ6ごと光軸AX0 上に移動されたのち、ホルダ
6の裏面と支持部材7とが当接する位置までアーム4
a,4bが降下し、ホルダ6はレチクルステージRSに
固定される。ここで、支持部材7とホルダ5の支持部材
5Cとの間、又は支持部材7とホルダ6の裏面との間は
真空吸着され、アーム4a,4bは各ホルダ5,6より
も下方の位置で待機する。
【0028】ここで、本実施例で用いているレチクル搬
送手段では5”及び6”レチクルを共用の搬送装置(レ
チクルローダ15のツメ16)で搬送するが、このツメ
16においてサイズにより夫々の支持位置が図4(A)
のように異なる(高さl1 分)。このためホルダに対す
る受渡位置も異なる(高さl1 分)ので、各ホルダ5,
6における支持部材の高さが夫々(5Aと6Aで)異な
っているが、各ホルダがz軸方向のアーム4a,4bの
ストローク(l4 )だけ下降して支持部材7上に固定さ
れた場合の支持部材7の上面からレチクル面までの高さ
は、5”レチクルを使用した場合の高さ(l2 )と6”
レチクルを使用した場合の高さ(l3 )とが等しくなる
ように支持部材5Cを用いて調整している。なお、ホル
ダ交換時に支障がないように受渡位置における部材5C
の下面と、部材7の上面との間には所定間隔(l5 )が
保たれるようになっている。
【0029】以上のレチクル支持部材5,6,7にはす
べて吸着機構が設けられており、レチクルを吸着して投
影レンズ3上の所定の被照明位置に固定することによ
り、レチクルの設置が終了する。本実施例では図2に示
すように、レチクルケース21からの取り出しからホル
ダ上への設置まで、5”レチクルと6”レチクルの支持
位置は常に一定の高さl1 だけ5”レチクルの支持位置
が低く設定されているので、レチクルサイズに依存せ
ず、同じシーケンスでレチクルを搬送することが可能と
なっている。
【0030】ところで、ホルダ5,6のレチクル支持部
材5A及び6Aには、厚み調整可能なワッシャーが個々
に付いており、20μm以内の幅でその高さ及び傾きを
調整できる様になっている。しかしながら、上記のよう
に5”レチクルと6”レチクルのパターン面から投影レ
ンズ3上面までの間には、夫々異なる支持部材5A,5
C又は6Aを介するため、レチクルサイズに伴う支持手
段の違いよって20μm程度の残留レチクルフォーカス
誤差が存在することがあり、投影レンズが5:1の縮小
型の場合でも1μm程度のフォーカス誤差が生じる。
【0031】この実施例では、その残留フォーカス誤差
を装置の固有値として持たせてしまい、レチクルサイズ
の入力時に後述するレチクル像面のフォーカス制御装置
にオフセット量として与えることによりウエハ側のレチ
クル像面のフォーカス位置および像面傾斜値を変更し、
レチクルサイズに依存せず常に良好なフォーカスを得ら
れる構成になっている。
【0032】また、5”レチクルと6”レチクルはその
厚みが異なるため、レチクル上のアライメント系及び照
明系(結像式のレチクルブラインド等)のフォーカスず
れを生ずる可能性がある。そこで、本実施例では図1に
示すように光軸La ,Lb に沿って設けられたミラーG
1 およびレンズG2 等からなるアライメント光学系によ
り、レチクルの下面にあるマークパターン、あるいは投
影レンズ3を介してウエハW上のマークを検出してアラ
イメントする際に、各マークからの結像光束がレチクル
の厚さ等の影響により光路長が異なることの不都合を解
決するため、例えばレンズG2 からレチクル面迄の光路
中、又はレンズ系G2 以降のアライメント光学系内で、
レチクル面と共役な位置もしくはその近傍に、前記光路
長を補正するための平行平板ガラス等を出入れして、レ
チクルサイズの変更に伴なうレチクルの厚み変化分の光
路長補正を行っている。なお、アライメント光学系の位
置もレチクルサイズの変化及び支持手段の変化に応じて
例えばレンズ系G2 とミラーG1 が一体にx方向に移動
等し、このミラーG1 がパターン上に重ならないように
する必要がある。
【0033】さらに、レチクルプリアライメント機構と
しては光軸AXa ,AXb に沿って配置されたミラーG
3 およびレンズG4 等からなるプリアライメント光学系
により、レチクルホルダ5,6の夫々の両側に設けられ
た窓(例えばM6a等)を利用して、ホルダ5又は6がア
ーム4a,4bに吸着されるときにこのホルダとアーム
4a,4bの位置合せができるように構成されている。
このためアーム4a,4bにはホルダの窓M5a,M5
b,M6a,M6bが位置すべき点にマークが形成され
ている。
【0034】さて、ホルダ及びその上に支持されたレチ
クルに対して投影レンズ3をはさんでその直下には、感
光基板としてのウエハWが支持されている。このウエハ
Wを保持するXYステージ1は、x,y方向に2次元移
動し、ウエハWを吸着したZステージ2は、XYステー
ジ1上でz方向に移動させることが可能であり、Zステ
ージ2の直交する2辺に固定された移動鏡に対して測長
軸LBx ,LBy を有する干渉計等によりその位置を計
測できる構成になっている。
【0035】尚、図1には図示していないが、Zステー
ジ2上にはウエハWの傾きを微調するレベリングステー
ジも組み込まれている。ウエハWはステージ2上におい
て、例えばレチクルホルダ6上に支持されたレチクル
(例えばR1 )と投影レンズ3を通してほぼ共役な関係
になっている。レチクル上方には露光の為の照明系が装
備されているが、ここでは説明を省略する。
【0036】ここで、ウエハWに対するレチクルR1 の
投影像のフォーカスを合わせる為に、ウエハ面は投影レ
ンズ3を介さないフォーカス検出装置24,25によっ
て監視されている。また同装置24,25はウエハW上
の1つのショット領域SA内の平均的な面の傾きも検出
可能であり、この検出結果によってレチクルパターンの
投影像面がウエハ面と一致する様に制御されるようにな
っている。
【0037】このフォーカス検出装置としては、例えば
特開昭58−113706に示すような水平位置検出装
置を用いており、またウエハ面を制御するために、例え
ば特開昭62−274201に示すようなレベリングス
テージを用い、前記の検出結果に基づいてZステージ2
やレベリングステージを調整する。本実施例において
は、この制御手段に、予め使用するレチクルホルダに対
応したフォーカス位置やレベリング位置の補正値がオフ
セット量としてプリセットされており、使用するレチク
ルサイズを変更し、レチクルホルダをそれに合せて変更
した場合には、新たなホルダに対応するオフセットを与
えて適正なフォーカス位置、レベリング位置にウエハ表
面を補正するように、ウエハステージの制御を行う。こ
のような補正が必要なのは、検出装置24,25による
フォーカスやレベリングの検出結果が、ある仮想的な面
を基準としていて、レチクルの投影像を直接検出してフ
ォーカスやレベリングを検出する方式ではないからであ
る。
【0038】図3は、5”,6”共用レチクルケース2
1及びその内側の様子を示している。このケース21内
の22,23は、レチクル用の支持部材であり、夫々前
後左右の支持部22a,23cで6”レチクルR1 の外
周部を四点で支える構成になっている。また、支持部2
2b,23aは5”レチクルR2 用の支持部材で、支持
部材22a,22cより内側の下段に存在する。この支
持部22b,23aは支持部22a,23cより内側に
低く設置されているため、6”レチクルR1 を入れた時
に支持部22b,23aがパターン面に接触しない構成
になっている。
【0039】ここで23d,23bは各レチクルが水平
方向にとび出さないように規制するストッパーであり、
ケースの側壁に形成された凸部24は6”レチクルR1
の横ずれを規制するものである。さらに、このケース2
1には前扉21Aが設けられており、内部に収納された
レチクルを搬送する際にその上部を支点として開放さ
れ、後述する取り出しアーム10等が入り込む構造とな
っている。
【0040】又、このケース21にレチクルを収納する
際には、上蓋21Eを開放しての所定のレチクルを収納
又は取り出すことができる。このレチクルケース21に
は2種類のサイズのレチクルを収納する構成になってい
るが、これは1サイズ専用であってもかまわないし、複
数のレチクルケースを収納するライブラリー式になって
いてもかまわない。各サイズに専用のレチクルケースに
する場合でも、ケース外形は同一にしておくとよい。
【0041】図2にレチクルの搬送手段の一例を示す。
ここでは、まずレチクルケース21に収納されたレチク
ルが、6インチ用の移動アーム18a,18b、又は5
インチ用のアーム20a,20bによって軸L4 上の高
さ位置Pe1,Pe2から軸L3の位置まで取り出される。
同アーム18,20は、支持部材14に支えられてお
り、支持部材14をy方向に移動させる駆動部13とこ
の駆動部13を垂直ガイド11に沿ってz方向に移動さ
せる駆動部12とを介してzy矢印方向に移動可能とな
っている。このため、矢印y方向の移動によりレチクル
ケース21よりレチクルを取り出し、矢印z方向の移動
によりレチクルローダ15との取り渡し位置に搬送され
る訳である。
【0042】ここで、移動アーム18a,bは6”レチ
クル用であり、同アーム20a,bは5”レチクル用で
ある。これらのアームもケース21内の支持部22a,
b等と同様に高さおよび幅が異なっており、レチクルサ
イズに依存せずにレチクルを取り出せる構成になってい
る。すなわち、移動アーム18a,bはケース21の側
壁21Fと支持部材23の間に挿入され、同アーム20
a,bは支持部材23の内側面に添ってケース21内に
挿入される。このとき、アーム18は5”レチクルの外
側の上部で6”レチクルの外周部の下側の挿入され、ア
ーム20は6”レチクルより下側に位置する5”レチク
ルの外周部の下側に挿入されるため、これらのアームが
レチクルのパターン面に触れることがない。
【0043】なお、21Cは所定の名札入れであり収納
されたレチクルを表示し、21Dは窓であり内部の確認
等を行うことができる。また、発光ダイオードLED
1,2は収納されたレチクルのサイズの表示を行い、ス
イッチSB1により切り替えるととも、前記露光装置等
と連動させてレチクルホルダ等の誤動作等を防止するこ
ともできる。またケース21の側壁21Fにはライブラ
リーLBの対応するスロットSLTIスライド可能に係
合する突出部21Bが形成されている。
【0044】次に、ケースから取出されたレチクルは軸
L3 上の高さPd1,Pd2において、レチクルローダ15
に受け渡されるが、レチクルローダ15も所定の駆動部
(図示せず)によってxz方向(ただしZ軸のストロー
クは小さくてよい)に移動可能となっており、所定のレ
チクルホルダへの受け渡し位置すなわち軸L1 上の高さ
位置Pa1,Pa2までレチクルを搬送する。
【0045】レチクルローダ15には、プリアライメン
トを行なう為の4つのツメ16A,16B,16C,1
6Dがあり、レチクルを外側からはさみ込むことによっ
てプリアライメントを行なう。この時も各ツメ16には
5”レチクル用のツメ段部h2 と6”用のツメ段部h1
があり、夫々高さが異なっている。またプリアライメン
トはレチクル中心が5”,6”で変わらない様になって
いる。所定の受け渡し位置まで搬送されたレチクルはサ
イズによって異なるレチクルホルダ上に設置される。
【0046】ここで、図5を用いて本実施例の動作を説
明する。スタートの後、使用するレチクルを指定する。
例えば、ライブラリLBのナンバ等の指定や、レチクル
サイズ(5”又は)6の指定が行なわれる。{ステップ
200}。ライブラリ側でサイズ指定、及びレチクル存
在の有無(例えばスイッチSB1等からサイズ表示信号
等を送る場合には、その信号により)をチェックする
{ステップ202}。
【0047】ここで、レチクルのサイズが異なる場合及
びレチクルが収納されていない場合には、エラー表示
{ステップ204}され、装置はスタン・バイ状態とな
る{ステップ206}。収納されたレチクルのサイズが
正しい場合は、そのレチクルが6”レチクルか否かの判
断を行なう{ステップ208}。
【0048】6”レチクルの場合には、ホルダ6が所定
の受渡位置(軸L1 上)に準備され、そのホルダ6に指
定された6”レチクルを搬送し、その後投影レンズ上の
所定位置に設置されるように6”レチクル搬送パラメー
タを設定する{ステップ210}。その後、前記搬送パ
ラメータに従って、アーム18、レチクルローダ15等
により指定された6”レチクルがローディングされる
{ステップ218}。
【0049】また、5”レチクルを使用する場合には、
上記と同様に5”レチクル搬送パラメータ設定{ステッ
プ212}の後、アーム20、レチクルローダ15によ
り5”レチクルが搬送される{ステップ218}。図2
中、位置Pe1,Pc1,Pd1,Pb1,Pa1,P0 が6”レ
チクルR1 の搬送ルートであり、位置Pe2,Pc2,Pd
2,Pb2,Pa2が5”レチクルR2 の搬送ルートであ
る。
【0050】ここで、レチクルの搬送と同時に、夫々の
レチクル使用時のレチクル像面のフォーカス位置のず
れ、及びレベリングのずれについての固有の補正値に従
って、ウエハ面に対するステージ1のオフセット量の制
御が行われる。例えば本実施例では、6”レチクルを使
用する場合には、6”レチクル使用時に基準状態からず
れたフォーカス位置及びレベリング位置を補正するオフ
セット制御が行われ{ステップ214}、5”レチクル
を使用する場合には5”レチクル使用時に基準状態から
ずれた量を補正するオフセット量が与えられる。{ステ
ップ216}。このオフセット量は、フォーカスセンサ
ー、レベリングセンサーを光学的、又は電気的に補正す
ることでも同様に与えられる。
【0051】本実施例では、オフセット誤差を抑えるた
め、5”レチクル用補正位置と6”レチクル用補正位置
のほぼ中間にオフセットの基準値を設定している。頻繁
にレチクルサイズの交換を行わない場合には、通常に使
用するサイズの補正値を基準値として設定してもよい。
レチクルがホルダ5、又は6にローディングされ、その
ホルダが投影光学系上の所定位置にセットされると、レ
チクルをさらに精密に設置するためにレチクルのアライ
メントが行なわれ、必要に応じてウエハWの全面、又は
1つのショット領域SA内の面の微細な位置制御等が行
われる。レチクルのアライメントの際、レチクルステー
ジRSの微動量は、x,y,θの3軸の測定長Bx,B
y,Bθをもつ干渉計で計測できるようにするとよい。
【0052】以上の様に異なるサイズのレチクルをその
サイズに応じた支持手段を用いて、露光光学系上の所定
位置に支持し、この支持手段の違いによるレチクル像面
位置(フォーカス、レベリング等)の違いを個別に補正
するため、常に適正な露光を行うことが可能である。さ
らに、同一の搬送手段を用いて異なるサイズのレチクル
を搬送できるため、設備上のコスト増も抑えることがで
きる。
【0053】また、他の実施例では、図6に示すように
レチクル支持手段を変化させるものとして、レチクルホ
ルダのレチクル支持部材が可動するものがある。この実
施例では、レチクルホルダ60のレチクル支持部材61
が5”レチクルを支持する場合には61Aの位置に固定
されており、6”レチクルを支持する場合には61Bの
位置にまで移動する。この場合には、レチクル支持手段
が全体として小さくなるという利点がある。しかし支持
部を可動構造とすることで、支持位置の誤差が大きくな
ることが考えられるため、やはり前記同様にレチクルサ
イズ及びレチクル支持位置に対応してレチクル像面位置
の補正を行う必要がある。
【0054】また図2では、5”,6”レチクル共用ケ
ース21を示したが、夫々の専用レチクルケースであっ
ても前記レチクルケースを収納するライブラリーを別々
に持っていれば同様の搬送が可能となる。さらに、搬送
手段においても、例えばフリーアーム等を利用して、レ
チクルケースからレチクルローダ15等を用いることな
く、直接レチクルホルダの受け渡し位置にレチクルを搬
送することも考えられる。
【0055】ここで本発明の前述の実施例では、レチク
ルの保存部(ケース)から、取り出しアーム部、ローダ
部、およびレチクルホルダに至るまで全てを段構造(階
層構造)にしているため、レチクルサイズによるメカ系
の調整無しにレチクルをレチクルケースからレチクルホ
ルダ迄搬送する事が可能となっている。この際にレチク
ルホルダにおいて高さ調整部材5Cが設けられているた
め、レチクルサイズによるレチクルフォーカス誤差等を
最小限に抑えることが可能となっている。
【0056】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、異なるサ
イズのレチクルに対応することができる。また、使用す
るレチクルのサイズに応じた支持手段を適時切り替える
ことが出来るため、同一の投影光学系を用いて異なるサ
イズのレチクルが使用できる。さらに、レチクルサイズ
を変更する度に支持手段を取り外して交換する手間が省
けるため、異なるサイズのレチクルを使用することに伴
うスループットの低下を防止している。
【0057】また、5”レチクルと6”レチクルが投影
光学系上で所定位置に支持された場合のレチクル支持手
段の違いによる残留レチクルフォーカス誤差及び像面傾
斜を、感光基板側のフォーカス制御機構及び傾斜制御機
構により、固有値のオフセット量として予め求めておい
た補正値を使って補正するので、複雑な計測をすること
なくこれらの誤差を除去でき、これらの調整によるスル
ープットの低下がない。また固有値のオフセットを感光
基板側で制御するので、ワッシャー等による追い込みも
高精度を必要としなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかる装置の概略図を示す斜
視図。
【図2】同じくレチクル保存手段及び搬送手段を示す斜
視図。
【図3】同じくレチクルケースを示す一部切欠斜視図。
【図4】同じくレチクル支持状態の切り替えを示す概略
正面図。
【図5】同じくレチクルの交換に伴なう制御手段の動作
を示すブロック図。
【図6】他の実施例のレチクルホルダを示す概略正面
図。
【主要部分の符号の説明】
1・・・XYステージ、2・・・Zステージ、W・・・
ウエハ、3・・・投影レンズ、AX0 ・・・投影レンズ
の光軸、5・・・5”レチクル用ホルダ、5A・・・
5”レチクル支持部材、6・・・6”レチクル用ホル
ダ、6A・・・6”レチクル支持部材、R1 ・・・6”
レチクル、R2 ・・・5”レチクル、7・・・レチクル
ホルダ支持部材、8・・・レチクルホルダ駆動部、15
・・・レチクルローダ、16・・・レチクル搬送つめ、
18・・・6”レチクル取出しアーム、20・・・5”
レチクル取出しアーム、21・・・レチクルケース、2
2,23・・・レチクルケース内のレチクル支持部材、
60・・・共用レチクルホルダ、61・・・可動レチク
ル支持部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−226924(JP,A) 特開 昭62−198863(JP,A) 特開 昭62−150191(JP,A) 特開 昭61−258425(JP,A) 実開 昭59−30884(JP,U) 実開 昭61−144087(JP,U) 実開 昭62−170635(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/027

Claims (13)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1のレチクルを支持する第1支持部材
    と、前記第1のレチクルとはサイズの異なる第2のレチ
    クルを支持する第2支持部材とを有し、前記第1支持部
    材で支持された前記第1のレチクルの厚さ方向に、前記
    第1支持部材と前記第2支持部材とは所定距離だけ離れ
    て配置されることを特徴とするレチクルケース。
  2. 【請求項2】内部を確認可能な窓を有することを特徴と
    する請求項1記載のレチクルケース。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2記載のレチクルケ
    ースを用いた搬送システムにおいて、前記レチクルケー
    スを収納するケースストッカと、前記第1のレチクルま
    たは前記第2のレチクルを支持する支持ア−ムと、前記
    レチクルケースから、前記レチクルを所定位置に搬送す
    る搬送系とを有することを特徴とする搬送システム。
  4. 【請求項4】第1のレチクルを所定位置に支持する第1
    支持部材と、該第1のレチクルとは異なる第2のレチク
    ルを所定位置に支持する第2支持部材とを有するレチク
    ルケースを収納するケースストッカと、前記第1のレチ
    クルを支持する第1支持アームと、前記第2のレチクル
    を支持する第2支持アームとを有する搬送装置と、前記
    第1のレチクルを所定の基準位置に支持する第1支持状
    態と、前記第2のレチクルを該所定の基準位置に支持す
    る第2支持状態とに切換可能なレチクル支持手段とを有
    するレチクルステージと、前記レチクルケースから、前
    記第1のレチクルと前記第2のレチクルとを前記レチク
    ルステージに搬送するように前記搬送装置を制御する制
    御系とを有することを特徴とする搬送システム。
  5. 【請求項5】前記レチクルステージは、前記第1のレチ
    クルを支持する第1支持機構と前記第2のレチクルを支
    持する第2支持機構とを有することを特徴とする請求項
    4記載の搬送システム。
  6. 【請求項6】前記搬送装置は、前記ケースストッカと前
    記レチクルステージとの間に設けられ、前記レチクルの
    プリアライメントを行うプリアライメント機とを含むこ
    とを特徴とする請求項4記載の搬送システム。
  7. 【請求項7】前記プリアライメント機構は、前記第1の
    レチクルをアライメントするための第1の接触部と前記
    第2のレチクルをアライメントするための第2の接触部
    とを含むことを特徴とする請求項6記載の搬送システ
    ム。
  8. 【請求項8】前記ケースストッカは前記レチクルのサイ
    ズを表示する表示機能を有することを特徴とする請求項
    4記載の搬送システム。
  9. 【請求項9】前記ケースストッカは、前記ケースストッ
    カ内に前記レチクルが存在するか否かの判定を行う判定
    部を有することを特徴とする請求項4記載の搬送システ
    ム。
  10. 【請求項10】第1のレチクルを含む複数のレチクルを
    保管するレチクル保管部から所定のレチクル保持部ま
    で、該レチクルを搬送する搬送方法において、前記レチ
    クル保管部から前記レチクル保持部近傍まで、前記第1
    のレチクルとは異なる第2のレチクルと前記第1のレチ
    クルとを同じ搬送ア−ムで搬送する工程と、前記レチク
    ル保管部に設けられた第1支持部材上に前記第1のレチ
    クルを載置する工程と、前記レチクル保管部の前記第1
    支持部材とは異なる位置に設けられた第2支持部材上に
    前記第2のレチクルを載置する工程とを有することを特
    徴とする搬送方法。
  11. 【請求項11】前記レチクル保管部と前記レチクル保持
    部との間に設けられたプリアライメント機構により、前
    記第1のレチクルと前記第2のレチクルとの少なくとも
    一方をプリアライメントするプリアライメント工程を更
    に有することを特徴とする請求項10記載の搬送方法。
  12. 【請求項12】第1のレチクルを所定位置に支持する第
    1支持部と、該第1のレチクルとは異なるサイズの第2
    のレチクルを所定位置に支持する第2支持部と、前記レ
    チクルのサイズを表示する表示部とを有することを特徴
    とするレチクルストッカ。
  13. 【請求項13】前記レチクルはレチクルケースを介して
    前記レチクルストッカに支持されることを特徴とする請
    求項12記載のレチクルストッカ。
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