JP2771074B2 - Liquid crystal display - Google Patents

Liquid crystal display

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JP2771074B2
JP2771074B2 JP19239892A JP19239892A JP2771074B2 JP 2771074 B2 JP2771074 B2 JP 2771074B2 JP 19239892 A JP19239892 A JP 19239892A JP 19239892 A JP19239892 A JP 19239892A JP 2771074 B2 JP2771074 B2 JP 2771074B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、液晶その他の電気光学
的表示物質の駆動回路として薄膜トランジスタアレイを
用いる液晶表示装置に関するものである。 【0002】 【従来の技術】従来、上記のような液晶表示装置におい
て基板上に薄膜トランジスタを形成する場合、積層によ
り電界効果トランジスタを形成する為、成膜、フォトリ
ソ、エッチングのプロセスを繰り返す事により完成され
る。この為にトランジスタの特性を決定する要因とし
て、各層の幾何学的位置関係が大きく影響を与える。す
なわちマスクのアライメント精度により相互の位置精度
が決定される為に、薄膜トランジスタ作製工程に使用す
るマスクの枚数が多いと特性として大きなバラツキや不
良を発生する欠点があった。例えば半導体層をパット状
に形成する時ゲート線巾からズレて形成された場合、ア
モルファス・シリコン半導体層において特性劣化となる
光がゲート線巾からもれて半導体層に照射される為にト
ランジスタ動作に異常(Steabler−Wruns
ki効果によるOFF抵抗値の低下)をきたしてしま
う。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、製作
に際して使用マスクを減らし、マスクアライメントを簡
略化することができて、容易に作製できる液晶表示装置
を提供することである。 【0004】また、本発明の他の目的は、信号線でのシ
ョートを防止し歩留りを向上した液晶表示装置を提供す
ることである。 【0005】 【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するために、本発明による液晶表示装置は、a.絶縁性
基板、薄膜トランジスタのゲート端子となるゲート電
極、該ゲート電極に接した絶縁層、該絶縁層に接した半
導体層、該半導体層の一方の端部に接して配置したソー
ス端子となるソース電極及び前記半導体層の他方の端部
に接して配置したドレイン端子となるドレイン電極を有
する薄膜トランジスタ、前記ゲート電極から延長された
ゲート線、前記ソース電極から延長されたソース線、並
びに前記ゲート線に接するとともに、少なくとも該ゲー
ト線に沿って該絶縁層から延長させた延長絶縁層及び該
延長絶縁層に沿って該ゲート線と同一外形で且つ該半導
体から延長させた延長半導体層を有する薄膜トランジス
タ基板と、b.表示電極となる前記ドレイン電極に対し
て対向配置した対向電極を設けた対向基板、並びにc.
前記薄膜トランジスタ基板と前記対向基板との間に配置
した液晶、を有するものである。 【0006】上記手段により、アモルファスシリコンで
形成される半導体層も絶縁層として機能することにより
ゲート線とソース線の絶縁性が増大し、また、延長半導
体層は、延長ゲート線と同一外形とされ、該延長ゲート
線からはみ出す部分がないので、はみ出た部分が光照射
を受けて特性劣化を来し、電気絶縁性を低下するという
ようなことがなく、液晶表示装置としての作動が確実と
なり、良好な表示を行う。 【0007】 【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。 【0008】図1,2は本発明による液晶表示装置に用
いる基板の一実施態様を示す。これはガラス等の透明な
絶縁性基板Sの上に液晶駆動回路として薄膜トランジス
タ(Thin Film Transistor、以
下、TETと略称する)アレイを2−10本/mm程度
の密度でマトリクス配置されたものである。TETは、
基板S上に形成されたゲート線1a及び1a' (透明又
は金属の薄膜導電膜からなる)、該ゲート線を延長し、
薄膜トランジスタのゲート端子となるゲート電極上に絶
縁膜Iを介してゲート電極に沿って形成した薄膜状の半
導体SC、半導体に接して設けたソース線(導電膜から
成る)3,3' 、及び前記ゲート線を直交する該ソース
線とゲート線上に於て微少なギャップを設けて対置し、
ドレイン端子となるドレイン電極4,4' ,4'',
4''' 等から構成され、ソース線3,3' は、ソース端
子となるソース電極から延長されている。 【0009】図3は、図2に示す基板Sと対向基板の間
に液晶物質を挟持することによって構成された液晶表示
装置の図2A−A' 線における断面図を示す。図3に於
いて、7及びSはガラス等の基板、4''及び4''' は前
述のドレイン電極、5は絶縁層、8は対向電極である。
4'',4''' としては、Au,Al,Pd等の金属薄膜
が使用される。8にはIn23 ,SnO2 等の透明導
電膜が使用される。1a,1a' 及び3,3' はそれぞ
れゲート電極及びソース線であって、Al,Au,A
g,Pt,Pd,Pd,Cu等の金属が使用される。9
は必要に応じて設けられる絶縁膜であり、SCはCd
S,CdSe,アモルファスシリコン等の半導体、Pは
保護層でフッ化カルシウム、酸化シリコンあるいは石英
である。10はスペーサ、LCは液晶層である。尚、液
晶表示装置では、動的散乱モード(DSM)・ねじれ配
列ネマティック(TN)等表示モードのいずれを利用す
るか或いは装置を透過型又は反射型にするかに応じて、
種々の液晶分子配向状態及び偏向板・λ/4板・反射板
等の光学検知手段が適宜設定される。 【0010】上述のように、本発明による液晶表示装置
に用いる基板は基板Sの表面のゲート線1a,1a’上
に沿って絶縁層Iを介して半導体層SCが積層される。
このように作製された基板によってつくられた表示装置
は、従来のものと同等の特性を示すとともに、下記の利
点をもつ。 【0011】 (1)基板裏面からのレジスト露光でよいので、フォト
マスクが不用である。 (2)同様の理由でマスクアライメントが不用で、従っ
て工数が大巾に減少する。 【0012】 (3)従来のものでは、絶縁層のみによって絶縁されて
いたが、本発明においては、a−Si層も絶縁層に近い
高抵抗である為に、ソース線とゲート線のショートの確
率が少なくなる。 【0013】また、本発明による液晶表示装置に用いる
基板を製造する場合は、透明基板上にTETを形成する
にあたって、基板裏面からの投光によりゲート線を介し
てポジタイプのフォトレジストを露光し、半導体層をエ
ッチング形成するものである。 【0014】以下、図4の(1)〜(10)によって本
発明の液晶表示装置に用いる基板の製造プロセスの一例
を説明する。 【0015】先ず、図4(1)に示すように、ガラスの
基板素材11上にスパッタによって全面にわたってAl
層12を1000Åの厚さに成膜し、その上にポジタイ
プレジスト(Az −1350J、シュプレー社製)の層
13をスピン塗布し、ゲート用マスク14を用いて紫外
線を露光15とした。次に、図4(2)および(3)に
示すように、Alのエッチャント(リン酸と硝酸の混
液)にてエッチングを完了し、レジストをアセトンにて
除去、洗浄し、図4(4)に示すように、ゲート線パー
タン16を完成させた。次に、図4(5)に示すよう
に、グロー放電装置によりシリコン窒化膜(SiNH)
17を3000Å形成し、続いてアモルファスシリコン
膜18を1000Å形成した。次に図4(6)に示すよ
うに、ポジタイプレジスト(前記のものと同じ)19を
スピン塗布し、プリベーク後、基板の裏面から光20を
照射した。現像を行ない、図4(7)に示すように、ゲ
ート線と同形状のレジスト膜21が得られた。次いで図
4(8)に示すように、アモルファスシリコン膜18を
ドライエッチング装置により除去し、その後、レジスト
を除去して、図4(9)に示すように半導体層22を形
成した。 【0016】この様に作製された半導体層20とゲート
電極16は同一形状として得られる為にマスク合せ不良
等による失敗は皆無となる。次に図4(10)に示すよ
うにソース電極23およびドレイン電極24を成膜、フ
ォトリソにより作製し、薄膜トランジスタを完成した。
本発明により形成された薄膜トランジスタ・アレー基板
と対向電極を有する他の基板間にネマチック液晶をTN
配向で挟持し、両側を偏光板でサンドイッチした表示パ
ネルを作製し良好な画像が得られた。又、ゲート線上に
高抵抗のアモルファスシリコン層が絶縁層を介して存在
する為にソース線とゲート線のショート不良発生が少な
くなり歩留りも向上した。 【0017】 【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶表示
装置は、半導体層によりゲート線とソース線の絶縁性が
増大し、また、延長半導体層は、延長ゲート線と同一外
形とされ、該延長ゲート線からはみ出す部分がないの
で、電気絶縁性を低下するようなことがなく、液晶表示
装置としての作動が確実となり、良好な表示を行う。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device using a thin film transistor array as a driving circuit for a liquid crystal or other electro-optical display materials. Conventionally, when a thin film transistor is formed on a substrate in the above-described liquid crystal display device, a field effect transistor is formed by lamination, and thus the film formation, photolithography, and etching processes are completed. Is done. For this reason, the geometrical positional relationship of each layer greatly affects the characteristics of the transistor. That is, since the mutual positional accuracy is determined by the alignment accuracy of the masks, there is a disadvantage that if the number of masks used in the thin film transistor manufacturing process is large, large variations and defects occur as characteristics. For example, when the semiconductor layer is formed in a pad shape and is formed with a deviation from the gate line width, light that causes characteristic deterioration in the amorphous silicon semiconductor layer is irradiated from the gate line width to the semiconductor layer, so that the transistor operates. Abnormal (Steabler-Wruns)
(a decrease in the OFF resistance value due to the ki effect). SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which can be manufactured easily by reducing the number of masks used in the manufacture, simplifying the mask alignment. It is another object of the present invention to provide a liquid crystal display device in which a short circuit in a signal line is prevented and the yield is improved. [0005] In order to achieve the above object, a liquid crystal display device according to the present invention comprises: a. An insulating substrate, a gate electrode serving as a gate terminal of the thin film transistor, an insulating layer in contact with the gate electrode, a semiconductor layer in contact with the insulating layer, and a source electrode serving as a source terminal disposed in contact with one end of the semiconductor layer A thin film transistor having a drain electrode serving as a drain terminal disposed in contact with the other end of the semiconductor layer; a gate line extended from the gate electrode; a source line extended from the source electrode; and a contact with the gate line. And at least the game
An extended insulating layer extending from the insulating layer along the
The same shape as the gate line along the extension insulating layer and the semiconductor
A thin film transistor substrate having an extended semiconductor layer extended from the body ; b. A counter substrate provided with a counter electrode disposed to face the drain electrode serving as a display electrode; and c.
And a liquid crystal disposed between the thin film transistor substrate and the counter substrate. By the above means, amorphous silicon
The formed semiconductor layer also functions as an insulating layer, thereby increasing the insulating properties between the gate line and the source line, and extending the semiconductor layer.
The body layer has the same outer shape as the extension gate line, and the extension gate
Since there is no part that protrudes from the line, the protruding part is irradiated with light
In response to the deterioration of the characteristics, which lowers the electrical insulation
Without such a problem , the operation as the liquid crystal display device is ensured, and a good display is performed. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIGS. 1 and 2 show one embodiment of a substrate used in a liquid crystal display device according to the present invention. This is a thin film transistor (hereinafter, abbreviated as TET) array as a liquid crystal driving circuit arranged in a matrix at a density of about 2 to 10 lines / mm on a transparent insulating substrate S such as glass. . TET is
Gate lines 1a and 1a '(made of a transparent or metal thin film conductive film) formed on the substrate S, extending the gate lines,
A thin film semiconductor SC formed along the gate electrode via an insulating film I on a gate electrode serving as a gate terminal of the thin film transistor, source lines (comprising conductive films) 3, 3 'provided in contact with the semiconductor; The gate line is opposed to the source line and the gate line orthogonal to each other by providing a small gap on the gate line,
Drain electrodes 4, 4 ', 4'',
The source lines 3 and 3 'extend from a source electrode serving as a source terminal. FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA 'of FIG. 2 of the liquid crystal display device constituted by sandwiching a liquid crystal material between the substrate S and the counter substrate shown in FIG. In FIG. 3, 7 and S are substrates of glass or the like, 4 ″ and 4 ″ ′ are the aforementioned drain electrodes, 5 is an insulating layer, and 8 is a counter electrode.
As 4 ″, 4 ′ ″, a metal thin film of Au, Al, Pd or the like is used. For 8, a transparent conductive film such as In 2 O 3 or SnO 2 is used. 1a, 1a 'and 3, 3' are a gate electrode and a source line, respectively, which are Al, Au, A
Metals such as g, Pt, Pd, Pd, and Cu are used. 9
Is an insulating film provided as needed, and SC is Cd
Semiconductors such as S, CdSe and amorphous silicon, and P is a protective layer made of calcium fluoride, silicon oxide or quartz. 10 is a spacer, LC is a liquid crystal layer. In the liquid crystal display device, depending on which display mode such as dynamic scattering mode (DSM) or twisted arrangement nematic (TN) is used, or whether the device is a transmission type or a reflection type,
Various liquid crystal molecule alignment states and optical detection means such as a polarizing plate, a λ / 4 plate, and a reflecting plate are appropriately set. As described above, the substrate used in the liquid crystal display device according to the present invention has the semiconductor layer SC laminated on the gate lines 1a and 1a 'on the surface of the substrate S via the insulating layer I.
The display device manufactured by using the substrate manufactured as described above has characteristics equivalent to those of the conventional display device and has the following advantages. (1) Since a resist exposure from the back surface of the substrate is sufficient, a photomask is unnecessary. (2) For the same reason, mask alignment is unnecessary, and thus the number of steps is greatly reduced. (3) In the related art, the insulation is provided only by the insulating layer. However, in the present invention, since the a-Si layer also has a high resistance close to that of the insulating layer, a short-circuit between the source line and the gate line may occur. The probability decreases. In the case of manufacturing a substrate used in the liquid crystal display device according to the present invention, when forming a TET on a transparent substrate, a positive type photoresist is exposed through a gate line by light projection from the back surface of the substrate, The semiconductor layer is formed by etching. An example of a process for manufacturing a substrate used in the liquid crystal display device of the present invention will be described below with reference to FIGS. First, as shown in FIG. 4A, an Al film is formed on a glass substrate material 11 by sputtering.
Depositing a layer 12 to a thickness of 1000 Å, a positive type resist (A z -1350J, manufactured Spree Co.) a layer 13 of spin-coated thereon, the ultraviolet ray using a gate mask 14 was exposed 15. Next, as shown in FIGS. 4 (2) and (3), the etching is completed with an etchant of Al (a mixed solution of phosphoric acid and nitric acid), and the resist is removed and washed with acetone. As shown in FIG. 7, a gate line pattern 16 was completed. Next, as shown in FIG. 4 (5), a silicon nitride film (SiNH) is
17 was formed at 3000.degree., And an amorphous silicon film 18 was formed at 1000.degree. Next, as shown in FIG. 4 (6), a positive type resist (same as above) 19 was spin-coated, prebaked, and then irradiated with light 20 from the back surface of the substrate. After the development, a resist film 21 having the same shape as the gate line was obtained as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 4 (8), the amorphous silicon film 18 was removed by a dry etching apparatus, and thereafter, the resist was removed to form a semiconductor layer 22 as shown in FIG. 4 (9). Since the semiconductor layer 20 and the gate electrode 16 manufactured as described above are obtained in the same shape, there is no failure due to poor mask alignment or the like. Next, as shown in FIG. 4 (10), a source electrode 23 and a drain electrode 24 were formed and formed by photolithography to complete a thin film transistor.
A nematic liquid crystal is formed between a thin film transistor array substrate formed according to the present invention and another substrate having a counter electrode by TN.
A display panel sandwiched by the orientation and sandwiched on both sides by a polarizing plate was produced, and a good image was obtained. Further, since a high-resistance amorphous silicon layer exists on the gate line via the insulating layer, occurrence of short-circuit failure between the source line and the gate line is reduced, and the yield is improved. As described above, in the liquid crystal display device of the present invention, the insulating property between the gate line and the source line is improved by the semiconductor layer.
And the extended semiconductor layer is not the same as the extended gate line.
Shape and there is no part protruding from the extension gate line
Thus , the operation as the liquid crystal display device is ensured without deteriorating the electrical insulation , and good display is performed.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明による液晶表示装置に用いられる基板の
一実施例を示す斜視図 【図2】図1の基板の平面図 【図3】図2に示す基板と対向電極基板によって構成さ
れた液晶表示装置を示す断面図 【図4】図1〜3に示す基板の製造プロセスを示す図 【符号の説明】 1a,1a' …ゲート線 3,3' …ソース線 4,4' ,4'',4''' …ドレイン電極 I,5…絶縁層 SC…半導体 7…基板 8…対向電極 9…絶縁膜 10…スペーサ LC…液晶層 11…基板
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a substrate used in a liquid crystal display device according to the present invention. FIG. 2 is a plan view of the substrate shown in FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a liquid crystal display device constituted by a counter electrode substrate. FIG. 4 is a view showing a manufacturing process of the substrate shown in FIGS. 1 to 3. Description of reference numerals 1a, 1a ′... 4, 4 ', 4 ", 4"' Drain electrodes I, 5 Insulating layer SC Semiconductor 7 Substrate 8 Counter electrode 9 Insulating film 10 Spacer LC Liquid crystal layer 11 Substrate

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【1】 a.絶縁性基板、薄膜トランジスタのゲート端
子となるゲート電極、該ゲート電極に接した絶縁層、該
絶縁層に接した半導体層、該半導体層の一方の端部に接
して配置したソース端子となるソース電極及び前記半導
体層の他方の端部に接して配置したドレイン端子となる
ドレイン電極を有する薄膜トランジスタ、前記ゲート電
極から延長されたゲート線、前記ソース電極から延長さ
れたソース線、並びに前記ゲート線に接するとともに、
少なくとも該ゲート線に沿って該絶縁層から延長させた
延長絶縁層及び該延長絶縁層に沿って該ゲート線と同一
外形で且つ該半導体から延長させた延長半導体層を有す
る薄膜トランジスタ基板と、 b.表示電極となる前記ドレイン電極に対して対向配置
した対向電極を設けた対向基板、並びに c.前記薄膜トランジスタ基板と前記対向基板との間に
配置した液晶を有する液晶表示装置。
(57) [Claims] [1] a. An insulating substrate, a gate electrode serving as a gate terminal of the thin film transistor, an insulating layer in contact with the gate electrode, a semiconductor layer in contact with the insulating layer, and a source electrode serving as a source terminal disposed in contact with one end of the semiconductor layer A thin film transistor having a drain electrode serving as a drain terminal disposed in contact with the other end of the semiconductor layer; a gate line extended from the gate electrode; a source line extended from the source electrode; and a contact with the gate line. With
Extending from the insulating layer at least along the gate line
Same as the extension insulating layer and the gate line along the extension insulating layer
A thin film transistor substrate having an outer shape and an extended semiconductor layer extended from the semiconductor; b. A counter substrate provided with a counter electrode disposed to face the drain electrode serving as a display electrode; and c. A liquid crystal display having a liquid crystal disposed between the thin film transistor substrate and the counter substrate.
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