JP2768545B2 - X-ray light source device - Google Patents

X-ray light source device

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JP2768545B2 JP25089990A JP25089990A JP2768545B2 JP 2768545 B2 JP2768545 B2 JP 2768545B2 JP 25089990 A JP25089990 A JP 25089990A JP 25089990 A JP25089990 A JP 25089990A JP 2768545 B2 JP2768545 B2 JP 2768545B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、X線光源装置に関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an X-ray light source device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、研究室仕様の軟X線光源として、レーザプラズ
マ光源の研究が行われている。
In recent years, research has been conducted on a laser plasma light source as a soft X-ray light source of a laboratory specification.

このレーザプラズマ光源の原理は次の通りである。 The principle of this laser plasma light source is as follows.

まず、レーザ光を大気中から透明窓を通じて真空容器
内に入射し、該真空容器内に設置してあるターゲットに
照射する。すると、ターゲットから高温・高密度のプラ
ズマが発生し、そこから軟X線が放射される。
First, a laser beam is incident from the atmosphere through a transparent window into a vacuum vessel, and is irradiated on a target placed in the vacuum vessel. Then, high-temperature, high-density plasma is generated from the target, and soft X-rays are radiated therefrom.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところが、高温・高密度のプラズマが発生する際に、
ターゲットの破片等の汚染物質(デブリス)が飛び散
り、真空容器の内壁に付着しようとする。そして、この
種装置においては、比較的真空度の高い真空の測定のた
めに電離真空計等が、真空容器の壁面を設けた開口を介
して該真空容器の内部に連通するようにして設けられて
いるが、一般に真空計の多くはその検出部が直径10〜20
mm程度の導管のついたガラス管球に内蔵されており、汚
染物質が該ガラス管球内に侵入して付着すると真空計が
正しく機能しなくなり、正確な真空の測定ができなくな
るという問題があった。
However, when high temperature and high density plasma is generated,
Contaminants (debris) such as target fragments are scattered and try to adhere to the inner wall of the vacuum vessel. In this type of apparatus, an ionization vacuum gauge or the like is provided so as to communicate with the inside of the vacuum vessel through an opening provided with the wall surface of the vacuum vessel for measuring a relatively high vacuum. However, in most vacuum gauges, the detection part is generally 10 to 20 in diameter.
It is built into a glass tube with a conduit of about mm, and if contaminants enter the glass tube and adhere to it, there is a problem that the vacuum gauge will not function properly and accurate vacuum measurement will not be possible. Was.

本発明は、上記問題点に鑑み、ターゲットから飛んで
きた汚染物質が真空計内に付着するのを防ぎ、長時間に
亘って正確な真空測定が行えるようにしたX線光源装置
を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above problems, and provides an X-ray light source device capable of preventing a contaminant flying from a target from adhering to a vacuum gauge and performing accurate vacuum measurement for a long time. It is an object.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明によるX線光源装置は、 真空容器の壁面に設けた開口を介して該真空容器の内
部に連通する真空計を設けると共に、該真空容器の内部
に配置したターゲットにレーザ光を照射することにより
発生するプラズマから発生するX線を取り出すようにし
たX線光源装置において、 前記真空容器内の前記開口に近接する位置に、前記タ
ーゲット上のレーザ光の照射位置から前記開口が直接見
えない大きさの遮蔽部材を設けたことを特徴としてい
る。
The X-ray light source device according to the present invention is provided with a vacuum gauge that communicates with the inside of the vacuum vessel through an opening provided on a wall surface of the vacuum vessel, and irradiates a target disposed inside the vacuum vessel with laser light. An X-ray light source device configured to extract X-rays generated from plasma generated by a laser beam, wherein the opening is not directly visible from the irradiation position of the laser beam on the target at a position close to the opening in the vacuum vessel. A shielding member is provided.

又、本発明によるX線光源装置の他の一つは、 前記開口に連通路を介して前記真空計を接続すると共
に、前記ターゲット上のレーザ光の照射位置から前記真
空計の入口が直接見えないように前記連通路を湾曲させ
たことを特徴としている。
Further, another one of the X-ray light source devices according to the present invention is such that the vacuum gauge is connected to the opening through a communication path, and an entrance of the vacuum gauge is directly visible from a laser light irradiation position on the target. It is characterized in that the communication path is curved so as not to occur.

又、本発明によるX線光源装置の更に他の一つは、 前記ターゲット上のレーザ光の照射位置から直接見え
ない位置に前記開口を設けたことを特徴としている。
Still another aspect of the X-ray light source device according to the present invention is characterized in that the opening is provided at a position that is not directly visible from a laser light irradiation position on the target.

〔作 用〕(Operation)

上記何れの構成によっても、汚染物質の発生源となる
ターゲット上のレーザ光の照射位置から真空計の入口が
直接見えないようになっているので、ターゲット上のレ
ーザ光の照射位置から真っ直ぐ飛んで来る汚染物質が真
空計の中に付着する量が大幅に減少する。
In any of the above configurations, the entrance of the vacuum gauge is not directly visible from the laser light irradiation position on the target that is a source of contaminants, so that the vacuum gauge flies straight from the laser light irradiation position on the target. The amount of incoming contaminants deposited in the gauge is greatly reduced.

〔実施例〕 以下、図示した実施例に基づき本発明を詳細に説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on illustrated embodiments.

第1図は本発明によるX線光源装置の第一実施例を含
むX線試料検査装置の概略図であって、1は構成部材を
振動を殺しながら支える除振台である。
FIG. 1 is a schematic view of an X-ray sample inspection apparatus including a first embodiment of an X-ray light source device according to the present invention, and 1 is a vibration isolation table that supports components while damping vibration.

2は除振台1上に設置された円筒形の真空容器であっ
て、ガラス製の円形の透明窓3と開口4,5を有している
と共に、内部に金等の金属材料で成るターゲット6が軸
7のまわりに回転できるように設けられ、更に内部の透
明窓3に近接する位置には該窓3とほぼ同じ大きさのガ
ラス製の円形の透明な遮蔽板8が設けられている。又、
真空容器2の壁面に設けられた開口36を介して真空容器
2の内部に連通する真空計37が真空容器2の外面に取付
けられている。9は除振台1上に設置された主にNd:YAG
等の高出力パルスレーザ光源、10はレーザ光集光用の集
光レンズであって、パルスレーザー光源9からのレーザ
光を集光レンズ10により透明窓3及び遮蔽板8を介して
ターゲット6を照射すると、ターゲット6の一部が溶け
て蒸発してプラズマ化し、この高温・高密度のプラズマ
から軟X線が発生するようになっている。この時、遮蔽
板8は飛散する汚染物質が透明窓3に蒸着するのを防
ぐ。尚、透明窓3及び遮蔽板8は、それらによるレーザ
光の反射光がレーザ光源9に戻ってレーザ光の発振を不
安定にしないようにレーザ光源9及び集光レンズ10の光
軸に対して約3゜傾けて設置され、更にレーザ光を効率
的にターゲット6に照射できるように反射防止膜が施さ
れている。そして、以上の部材がX線光源装置11を構成
している。
Reference numeral 2 denotes a cylindrical vacuum vessel installed on the vibration isolation table 1, which has a circular transparent window 3 made of glass and openings 4 and 5, and a target made of a metal material such as gold inside. 6 is provided so as to be rotatable around an axis 7, and a circular transparent shielding plate 8 made of glass having substantially the same size as the window 3 is provided at a position close to the internal transparent window 3. . or,
A vacuum gauge 37 communicating with the inside of the vacuum vessel 2 through an opening 36 provided on the wall surface of the vacuum vessel 2 is attached to the outer surface of the vacuum vessel 2. 9 is mainly Nd: YAG installed on the vibration isolation table 1
A high-power pulse laser light source such as 10; a condensing lens 10 for condensing laser light; the laser light from the pulse laser light source 9 is condensed by the condensing lens 10 to the target 6 through the transparent window 3 and the shielding plate 8. Upon irradiation, a part of the target 6 is melted, evaporated and turned into plasma, and soft X-rays are generated from the high-temperature and high-density plasma. At this time, the shielding plate 8 prevents the scattered contaminants from being deposited on the transparent window 3. The transparent window 3 and the shielding plate 8 are positioned with respect to the optical axes of the laser light source 9 and the condenser lens 10 so that the reflected light of the laser light does not return to the laser light source 9 to make the oscillation of the laser light unstable. The target 6 is installed at an angle of about 3 ° and an anti-reflection film is provided so that the target 6 can be efficiently irradiated with laser light. The above members constitute the X-ray light source device 11.

12は除振台1上に設置され且つ開口4を介して真空容
器2と接続された他の真空容器であって、開口13,14を
有していると共に、内部に入射スリット15及び斜入射型
回折格子(凹面回折格子)16が設置されている。そし
て、以上の部材が分光器21を構成している。
Reference numeral 12 denotes another vacuum vessel which is installed on the vibration isolation table 1 and connected to the vacuum vessel 2 through the opening 4 and has openings 13 and 14 and has an entrance slit 15 and oblique incidence inside. A diffraction grating (concave diffraction grating) 16 is provided. The above members constitute the spectroscope 21.

17は一端が開口13を介して真空容器12に接続された伸
縮自在のベローズ、18はベローズ17の他端に接続された
更に他の真空容器であって、真空容器18は例べばベロー
ズ17の長手方向と短手方向の両方向に移動可能とするこ
とにより回折格子16のローランド円の円周に沿って移動
可能とした台座19を介して除振台1上に設置されてい
る。20は真空容器18内であって台座19と一致する位置に
設置されている即ち台座19の移動に伴って回折格子16の
ローランド円上を移動するようになっている射出スリッ
トである。22は真空容器18内において回転可能に設置さ
れた試料台、23は真空容器18内において試料台22を中心
として回動可能に設置されたチャンネルトロン等の第1
の軟X線検出器であって、回折格子16の中心と射出スリ
ット20と試料台22の中心は常に一直線上に位置するよう
になっている。そして、以上の部材が測定部27を構成し
ている。
Reference numeral 17 denotes a telescopic bellows having one end connected to the vacuum container 12 through the opening 13, 18 denotes another vacuum container connected to the other end of the bellows 17, and the vacuum container 18 is, for example, a bellows 17. The diffraction grating 16 is mounted on the vibration isolation table 1 via a pedestal 19 which is movable along the circumference of the Rowland circle of the diffraction grating 16 by being movable in both the longitudinal direction and the lateral direction. Reference numeral 20 denotes an exit slit which is provided in the vacuum vessel 18 at a position coinciding with the pedestal 19, that is, moves on the Rowland circle of the diffraction grating 16 as the pedestal 19 moves. Reference numeral 22 denotes a sample stage rotatably installed in the vacuum vessel 18, and reference numeral 23 denotes a first channel such as a channeltron installed rotatably around the sample stage 22 in the vacuum vessel 18.
In this soft X-ray detector, the center of the diffraction grating 16, the center of the exit slit 20, and the center of the sample stage 22 are always located on a straight line. The above-described members constitute the measuring unit 27.

24は真空容器2内の設置されていてX線光源装置11で
の軟X線の強度をモニターする第2の軟X線検出器であ
る。25は第1の軟X線検出器23及び第2の軟X線検出器
24からの出力信号に基づき所定の式に従って演算処理を
行ない、その結果を表示装置26に表示するコンピュータ
である。コンピュータ25は、パルスレーザ光源9の発
振,ターゲット6の回転,台座19の移動,試料台22の回
転,軟X線検出器23の回転も制御するようになってい
る。
Reference numeral 24 denotes a second soft X-ray detector which is installed in the vacuum vessel 2 and monitors the intensity of soft X-rays in the X-ray light source device 11. 25 is a first soft X-ray detector 23 and a second soft X-ray detector
A computer that performs arithmetic processing based on an output signal from 24 according to a predetermined formula, and displays the result on a display device 26. The computer 25 controls the oscillation of the pulse laser light source 9, the rotation of the target 6, the movement of the pedestal 19, the rotation of the sample stage 22, and the rotation of the soft X-ray detector 23.

28は一端が開口5を介して真空容器2と接続され且つ
除振台1上に設置された振動の少ない磁気浮上型のター
ボ分子ポンプ、29は振動を伝えにくいゴム製のチューブ
30を介してターボ分子ポンプ28の他端と接続され且つ除
振台1外に設置された振動の大きい荒引き用のロータリ
ーポンプであって、これらが真空容器2内の真空引きを
行う真空ポンプ部31を構成している。
Numeral 28 denotes a magnetically levitated turbo molecular pump having one end connected to the vacuum vessel 2 through the opening 5 and installed on the vibration isolation table 1, and 29 denotes a rubber tube hardly transmitting vibration.
Rotary pumps for rough evacuation which are connected to the other end of the turbo molecular pump 28 via the base 30 and are installed outside the vibration isolator 1, and these vacuum pumps perform evacuation in the vacuum vessel 2. The unit 31 is constituted.

32は一端が開口14を介して真空容器12と接続され且つ
除振台1上に設置された磁気浮上型のターボ分子ポン
プ、33はゴム製のチューブ34を介してターボ分子ポンプ
32の他端と接続され且つ除振台1外に設置された荒引き
用のロータリーポンプであって、これらが真空容器12
内,ベローズ17内及び真空容器18内の真空引きを行う真
空ポンプ部35を構成している。
Reference numeral 32 denotes a magnetically levitated turbo-molecular pump that is connected to the vacuum vessel 12 at one end through the opening 14 and is installed on the vibration isolation table 1. Reference numeral 33 denotes a turbo-molecular pump through a rubber tube 34.
Rotary pumps for roughing, which are connected to the other end of the vacuum chamber 32 and installed outside the vibration isolation table 1,
A vacuum pump unit 35 for evacuating the inside, the inside of the bellows 17 and the inside of the vacuum vessel 18 is configured.

第2図は本実施例の真空計37の取付構造を示す概略斜
視図、第3図は第2図の要部拡大図である。
FIG. 2 is a schematic perspective view showing a mounting structure of the vacuum gauge 37 of this embodiment, and FIG. 3 is an enlarged view of a main part of FIG.

38は真空容器2内の開口36に近接する位置に設けられ
た遮蔽板であって、その大きさは、ターゲット6上のレ
ーザ光の照射位置Pから遮蔽板38の縁に接するように引
いた直線lが開口36にかからない大きさ即ち遮蔽板38の
影が開口36を覆ってしまうために位置Pから開口36が見
えない大きさに選定されている。
Numeral 38 is a shielding plate provided at a position close to the opening 36 in the vacuum vessel 2, and its size is drawn from the irradiation position P of the laser beam on the target 6 so as to be in contact with the edge of the shielding plate 38. The size is selected so that the straight line 1 does not cover the opening 36, that is, the opening 36 cannot be seen from the position P because the shadow of the shielding plate 38 covers the opening 36.

本実施例は上述の如く構成されているから、パルスレ
ーザ光源9を発振させてレーザ光をターゲット6に照射
すると、ターゲット6の一部が溶けて蒸発してプラズマ
化し、このプラズマから軟X線41が発生する。尚、ター
ゲット6の一部が蒸発して凹んだら、ターゲット6を回
動させて新しい面にレーザ光が当たるようにする。発生
した軟X線41は、真空容器2の開口4を通って入射スリ
ット15に導かれ、入射スリット15を通って回折格子16に
入射し分光される。回折格子16で分光された軟X線42
は、射出スリット20を通って試料台22上の試料Sに入射
し、該試料Sで回折された軟X線43が軟X線検出器23に
より検出される。この場合、射出スリット20からは入射
スリット15と回折格子16と射出スリット20との位置関係
に応じて定まる特定波長の軟X線42のみが射出してくる
ので、台座19の移動により射出スリット20を移動せしめ
ると射出スリット20を通過する軟X線42の波長が変わる
即ち波長走査が行われる。従って、試料Sに入射する軟
X線42の波長が変わるので、試料Sの分光反射率等を測
定することができる。又、試料台22を回動することによ
り試料Sに対する軟X線42の入射角を任意に設定てき
る。更に、軟X線検出器23を試料台22の周りに回動する
ことにより任意の回折角で試料Sからの軟X線43を検出
することができる。
Since the present embodiment is configured as described above, when the pulse laser light source 9 is oscillated to irradiate the target 6 with laser light, a part of the target 6 is melted and evaporated to form plasma, and the soft X-ray 41 occurs. When a part of the target 6 evaporates and becomes concave, the target 6 is rotated so that the laser light is irradiated on a new surface. The generated soft X-ray 41 is guided to the entrance slit 15 through the opening 4 of the vacuum vessel 2, enters the diffraction grating 16 through the entrance slit 15, and is separated. Soft X-rays 42 separated by the diffraction grating 16
Is incident on the sample S on the sample stage 22 through the exit slit 20, and the soft X-ray 43 diffracted by the sample S is detected by the soft X-ray detector 23. In this case, only the soft X-rays 42 of a specific wavelength determined according to the positional relationship between the entrance slit 15, the diffraction grating 16 and the exit slit 20 are emitted from the exit slit 20, so that the movement of the base 19 causes the exit slit 20 to move. Is moved, the wavelength of the soft X-ray 42 passing through the exit slit 20 changes, that is, wavelength scanning is performed. Therefore, since the wavelength of the soft X-rays 42 incident on the sample S changes, the spectral reflectance of the sample S can be measured. By rotating the sample stage 22, the incident angle of the soft X-rays 42 on the sample S can be set arbitrarily. Further, by rotating the soft X-ray detector 23 around the sample stage 22, the soft X-ray 43 from the sample S can be detected at an arbitrary diffraction angle.

かくして、X線による試料の検査が行われるが、軟X
線発生の際にターゲット6から汚染物質が飛び散り真空
容器2の内面に付着しようとする。しかし、開口36が遮
蔽板38で覆われているので、ターゲット6上のレーザ光
の照射位置Pから真っ直ぐ飛んで来る汚染物質は真空計
37の中に入り込まなくなる。従って、真空計37内の汚れ
が減るので、長時間に亘り正確な真空測定を行なうこと
ができる。
Thus, the sample is inspected by X-rays,
When a line is generated, contaminants scatter from the target 6 and try to adhere to the inner surface of the vacuum vessel 2. However, since the opening 36 is covered with the shielding plate 38, contaminants flying straight from the irradiation position P of the laser beam on the target 6 can be measured by the vacuum gauge.
No longer gets inside 37. Therefore, since the dirt in the vacuum gauge 37 is reduced, accurate vacuum measurement can be performed for a long time.

尚、蒸発した汚染物質の中には真空容器2中を浮遊す
るものもあるが、真空計37内の汚れの原因となるもの
は、真っ直ぐ飛んで来るもののウエイトが高いので、こ
れを防げれば充分である。又、浮遊しているものによる
汚れを防ぐには、遮蔽板38をなるべく開口36に近づける
のが良いが、近づけ過ぎると真空計37と真空容器2の連
通度が低下しすぎて測定精度が落ちるので、ある程度以
上の隙間をあけておく必要がある。
Some of the evaporated contaminants float in the vacuum vessel 2, but those that cause dirt in the vacuum gauge 37 fly straight but have a high weight. Is enough. In order to prevent contamination by floating objects, it is better to bring the shielding plate 38 as close as possible to the opening 36. However, if it is too close, the communication between the vacuum gauge 37 and the vacuum vessel 2 will be too low, and the measurement accuracy will decrease. Therefore, it is necessary to leave a certain gap or more.

第4図は第1実施例の変形例の要部拡大図であって、
遮蔽部材39は、短冊状の板を複数板傾けて配置すること
により、汚染物質が飛んで来る方向に対しては隣接する
板と板との間に隙間ができないようにし、斜めに見ると
板と板との間に隙間ができるように構成されている。従
って、板と板との間の隙間により真空計への流通が良く
なるので好ましい。
FIG. 4 is an enlarged view of a main part of a modification of the first embodiment,
The shielding member 39 is formed by arranging a plurality of strip-shaped plates at an angle so that no gap is formed between the adjacent plates in the direction in which the contaminants fly. It is configured such that there is a gap between the plate and the plate. Therefore, it is preferable because the gap between the plates facilitates the flow to the vacuum gauge.

第5図は第2実施例の要部拡大図であって、これは開
口36に連通路40を介して真空計37を接続すると共に、タ
ーゲット6上のレーザ光の照射位置Pから連絡路40の入
口の縁を結んだ直線lが真空計37の入口にかからないよ
うに即ち位置Pから真空計37の入口が直接見えないよう
に連通路40を湾曲させたものである。
FIG. 5 is an enlarged view of a main part of the second embodiment, in which a vacuum gauge 37 is connected to an opening 36 through a communication path 40, and a connection path 40 from the laser beam irradiation position P on the target 6. The communication path 40 is curved so that a straight line 1 connecting the edges of the inlet of the vacuum gauge 37 does not extend to the inlet of the vacuum gauge 37, that is, the inlet of the vacuum gauge 37 is not directly visible from the position P.

本実施例の場合、真空計37の真空容器2から外への出
張り度が小さくなるので、周りで作業する時に真空計に
衝突して壊す確率が減り、好ましい。
In the case of the present embodiment, since the degree of protrusion of the vacuum gauge 37 from the vacuum vessel 2 to the outside is reduced, the probability of colliding with and breaking the vacuum gauge when working around it is preferable.

第6図は第3実施例の要部拡大図であって、これはタ
ーゲット6上のレーザ光の照射位置Pからターゲット6
又はその支持部材のうちより出張りの大きいものに接す
るように引いた線lからターゲット6の裏側の方へ外れ
るような位置即ち点Pから直接見えない位置に開口36を
設けたものである。尚、開口36は汚染物質が飛ぶ領域か
らなるべく離した方が良いので、線lから角度的になる
べく遠い位置に開口36が位置するようにするのが好まし
い。
FIG. 6 is an enlarged view of a main part of the third embodiment.
Alternatively, the opening 36 is provided at a position where it deviates toward the back side of the target 6 from a line 1 drawn so as to be in contact with a support member having a larger protrusion, that is, at a position not directly visible from the point P. It is preferable that the opening 36 is as far as possible from the region where the contaminant flies, so that it is preferable that the opening 36 be located as far as possible from the line 1 in angle.

本実施例は、単に開口36の位置を選定するだけなの
で、構成が最も簡単になる。
In this embodiment, since the position of the opening 36 is simply selected, the configuration is the simplest.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

上述の如く、本発明によるX線光源装置は、ターゲッ
トから飛んできた汚染物質が真空計内に付着するのを防
ぎ、長時間に亘って正確な真空測定が行えるという実用
上重要な利点を有している。
As described above, the X-ray light source device according to the present invention has an important practical advantage that a contaminant flying from a target is prevented from adhering to the inside of a vacuum gauge, and accurate vacuum measurement can be performed for a long time. doing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明によるX線光源装置の第1実施例を含む
X線試料検査装置の概略図、第2図は上記第1実施例の
真空計の取付け構造を示す図、第3図は第2図の要部拡
大図、第4図は上記第1実施例の変形例の要部拡大図、
第5図及び第6図は夫々第2及び第3実施例の要部拡大
図である。 2……真空容器、3……透明窓、4,5,36……開口、6…
…ターゲット、7……軸、8……遮蔽板、9……高出力
パルスレーザ光源、10……集光レンズ、11……X線光源
装置、31……真空ポンプ部、37……真空計、38……遮蔽
板、339……遮蔽部材、40……連通路。
FIG. 1 is a schematic diagram of an X-ray sample inspection apparatus including a first embodiment of an X-ray light source device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a mounting structure of a vacuum gauge of the first embodiment, and FIG. FIG. 2 is an enlarged view of a main part of FIG. 2, FIG. 4 is an enlarged view of a main part of a modification of the first embodiment,
FIGS. 5 and 6 are enlarged views of the main parts of the second and third embodiments, respectively. 2 ... Vacuum container, 3 ... Transparent window, 4,5,36 ... Opening, 6 ...
... Target, 7 ... Axis, 8 ... Shielding plate, 9 ... High-power pulse laser light source, 10 ... Condensing lens, 11 ... X-ray light source device, 31 ... Vacuum pump unit, 37 ... Vacuum gauge , 38 ... shielding plate, 339 ... shielding member, 40 ... communicating passage.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 美来子 東京都渋谷区幡ケ谷2―43―2 オリン パス光学工業株式会社内 (72)発明者 池滝 慶記 東京都渋谷区幡ケ谷2―43―2 オリン パス光学工業株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05G 1/00──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Mikoko Kato 2-34-2 Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo Olympus Optical Co., Ltd. (72) Inventor Keiki Iketaki 2-43-2 Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo Olin (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H05G 1/00

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】真空容器の壁面に設けた開口を介して該真
空容器の内部に連通する真空計を設けると共に、該真空
容器の内部に配置したターゲットにレーザ光を照射する
ことにより発生するプラズマから発生するX線を取り出
すようにしたX線光源装置において、 前記真空容器内の前記開口に近接する位置に、前記ター
ゲット上のレーザ光の照射位置から前記開口が直接見え
ない大きさの遮蔽部材を設けたことを特徴とするX線光
源装置。
A vacuum gauge communicating with the inside of the vacuum vessel through an opening provided on a wall surface of the vacuum vessel, and a plasma generated by irradiating a target disposed inside the vacuum vessel with laser light. An X-ray light source device configured to extract X-rays generated from a target, a shielding member having a size such that the opening is not directly visible from a laser light irradiation position on the target at a position close to the opening in the vacuum container. An X-ray light source device comprising:
【請求項2】真空容器の壁面に設けた開口を介して該真
空容器の内部に連通する真空計を設けると共に、該真空
容器の内部に配置したターゲットにレーザ光を照射する
ことにより発生するプラズマから発生するX線を取り出
すようにしたX線光源装置において、 前記開口に連通路を介して前記真空計を接続すると共
に、前記ターゲット上のレーザ光の照射位置から前記真
空測定器の入口が直接見えないように前記連通路を湾曲
させたことを特徴とするX線光源装置。
2. A plasma generated by irradiating a laser beam to a target disposed inside the vacuum vessel, wherein a vacuum gauge communicating with the inside of the vacuum vessel is provided through an opening provided in a wall surface of the vacuum vessel. An X-ray light source device configured to extract X-rays generated from the target, wherein the vacuum gauge is connected to the opening via a communication path, and an entrance of the vacuum measurement device is directly connected to a laser beam irradiation position on the target. An X-ray light source device wherein the communication path is curved so as not to be seen.
【請求項3】真空容器の壁面に設けた開口を介して該真
空容器の内部に連通する真空計を設けると共に、該真空
容器の内部に配置したターゲットにレーザ光を照射する
ことにより発生するプラズマから発生するX線を取り出
すようにしたX線光源装置において、 前記ターゲット上のレーザ光の照射位置から直接見えな
い位置に前記開口を設けたことを特徴とするX線光源装
置。
A vacuum gauge communicating with the inside of the vacuum vessel through an opening provided on a wall surface of the vacuum vessel; and a plasma generated by irradiating a target disposed inside the vacuum vessel with a laser beam. An X-ray light source device configured to extract X-rays generated from a target, wherein the opening is provided at a position that is not directly visible from a laser light irradiation position on the target.
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