JP2758741B2 - Photoelectric conversion element and method for manufacturing the same - Google Patents

Photoelectric conversion element and method for manufacturing the same

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、結晶半導体粉末を用い
た光電変換素子及びその製造方法に関し、安価な光電変
換素子の製造を可能とするものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photoelectric conversion element using a crystalline semiconductor powder and a method for manufacturing the same, and enables the manufacture of an inexpensive photoelectric conversion element.

【0002】[0002]

【従来の技術】太陽電池、受光素子、光センサー等の光
電変換素子は単結晶基板を用いたもの、多結晶基板を用
いたもの、アモルファスを用いたものなどがあるが、こ
れらには一長一短がある。すなわち、単結晶基板を用い
たものは、高性能であるが価格も高い。アモルファスを
用いたものは、軽量で折曲げることもでき価格も安い
が、性能では劣り信頼性の点でも問題がある。多結晶基
板を用いたものは性能、価格ともに上記のものの中間に
位置するが、それでも十分に低価格ではない。
2. Description of the Related Art Photovoltaic conversion elements such as solar cells, light receiving elements, and optical sensors include those using a single crystal substrate, those using a polycrystalline substrate, and those using an amorphous material. is there. That is, a device using a single crystal substrate has high performance but is expensive. Amorphous materials are lightweight, can be bent and are inexpensive, but have poor performance and have problems in reliability. The one using a polycrystalline substrate is in the middle of the above in both performance and price, but still not sufficiently low price.

【0003】これに対し、光電変換素子の一例である太
陽電池においては、高性能で低価格の太陽電池を実現す
るために、単結晶半導体や多結晶半導体の粉末を用いた
太陽電池が考えられている。これは裏面電極の形成され
た基板上に単結晶半導体粉末、あるいは多結晶半導体粉
末を密に並べ、この半導体粉末内の一部に不純物をドー
プしてpn接合を形成したものである。
On the other hand, in the case of a solar cell which is an example of a photoelectric conversion element, a solar cell using a powder of a single crystal semiconductor or a polycrystalline semiconductor is considered in order to realize a high performance and low cost solar cell. ing. In this method, a single crystal semiconductor powder or a polycrystalline semiconductor powder is densely arranged on a substrate on which a back electrode is formed, and a part of the semiconductor powder is doped with impurities to form a pn junction.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の単結晶基板また
は多結晶基板を用いた光電変換素子では、素子として必
要な厚さ以上の基板が用いられており、これが不必要に
価格を上げる原因となっていた。これに対し、単結晶ま
たは多結晶半導体粉末を用いた光電変換素子では、単結
晶または多結晶基板を用いたもののように無駄に材料を
用いることがなく低価格化が可能である。
In a conventional photoelectric conversion device using a single crystal substrate or a polycrystal substrate, a substrate having a thickness larger than a necessary thickness is used as an element, which causes unnecessary increase in cost. Had become. On the other hand, in the case of a photoelectric conversion element using a single crystal or polycrystalline semiconductor powder, unlike an element using a single crystal or polycrystalline substrate, the cost can be reduced without using wasteful materials.

【0005】しかしながら、従来の光電変換素子の一例
である結晶半導体粉末を用いた太陽電池は接合形成に不
純物拡散による高温プロセスを用いることや実際に素子
として形成する場合には表面での電極の取り出しや、表
面電極と裏面電極との絶縁などの問題を十分解決してい
なかった。
However, a solar cell using crystalline semiconductor powder, which is an example of a conventional photoelectric conversion element, uses a high-temperature process by impurity diffusion for forming a junction, or takes out an electrode from the surface when actually forming the element. In addition, problems such as insulation between the front electrode and the back electrode have not been sufficiently solved.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に本発明の請求項1は、基板と、該基板表面に形成する
低融点金属層と、該低融点金属層により該基板上に固定
される第一導電型の結晶半導体粉末と、該第一導電型の
結晶半導体粉末及び該低融点金属層の露出面に形成する
i型のアモルファス半導体層と、該i型のアモルファス
半導体層上に形成する第二導電型のアモルファス半導体
層と、該第二導電型のアモルファス半導体層上に形成す
る透明導電層とからなることを特徴とする光電変換素子
を提供する。また、請求項2は、上記i型のアモルファ
ス半導体層の厚さを数100Åとすることを特徴とする
光電変換素子を提供する。
According to a first aspect of the present invention , there is provided a substrate and a substrate formed on the surface of the substrate.
Low melting point metal layer, fixed on the substrate by the low melting point metal layer
A first conductivity type crystalline semiconductor powder, and the first conductivity type
Formed on the exposed surface of the crystalline semiconductor powder and the low melting point metal layer
an i-type amorphous semiconductor layer and the i-type amorphous semiconductor layer;
Second conductivity type amorphous semiconductor formed on semiconductor layer
And a second conductive type amorphous semiconductor layer.
Photoelectric conversion element comprising a transparent conductive layer
I will provide a. Further, the second aspect is the above-mentioned i-type amorpha.
The thickness of the scan semiconductor layer to provide a photoelectric conversion element characterized several 100Å and to Rukoto.

【0007】さらに、請求項3は、基板上に低融点金属
層を形成し、該低融点金属層上に第一導電型の結晶半導
体粉末を配置し、該低融点金属層を加熱して溶融させ結
晶半導体粉末を該低融点金属層上に固定し、該結晶半導
体粉末及び該低融点金属層の露出面にi型のアモルファ
ス半導体層を形成した後に、該i型のアモルファス半導
体層上に第二導電型のアモルファス半導体層、透明導電
層を順次形成することを特徴とする請求項1又は2記載
の光電変換素子の製造方法を提供する。
[0007] Further, a third aspect of the present invention is to provide a low melting point metal on a substrate.
Forming a first semiconductor layer of a first conductivity type on the low melting point metal layer.
Body powder, and heat and melt the low melting point metal layer
Crystal semiconductor powder is fixed on the low melting point metal layer, and the crystal semiconductor powder is fixed.
I-type amorphous on the exposed surface of the body powder and the low melting point metal layer
After forming the semiconductor layer, the i-type amorphous semiconductor
Amorphous semiconductor layer of second conductivity type on body layer, transparent conductive
3. The method according to claim 1, wherein the layers are sequentially formed.
And a method for manufacturing the photoelectric conversion element.

【0008】[0008]

【作用】本発明の光電変換素子は、基本的には第一導電
型の結晶半導体粉末1個とこの上に形成されたi型のア
モルファス半導体層、第二導電型のアモルファス半導体
層とで1つの光電変換素子として働き、キャリアは積層
方向に移動する。そして、これら基本素子が並列または
直列となるように電極により接続されて大面積の光電変
換素子として用いられる。
The photoelectric conversion element of the present invention basically comprises one crystalline semiconductor powder of the first conductivity type and an i-type amorphous semiconductor layer and an amorphous semiconductor layer of the second conductivity type formed thereon. Acting as one photoelectric conversion element, the carrier moves in the stacking direction. These basic elements are connected by electrodes so as to be in parallel or in series, and used as a large-area photoelectric conversion element.

【0009】本発明の製造方法では、まず低融点金属層
により第一導電型の結晶半導体粉末(例えばn型Si)
が固定され、i型のアモルファス半導体層と第二導電型
のアモルファス半導体層(例えばp型アモルファスSi
層)との接合により表面電極が裏面電極である基板面と
直接接触するのが防がれる。基板面には結晶半導体粉末
に接続される裏面電極が形成されるか、又は基板自体が
裏面電極となっており、アモルファス半導体層により接
合を形成する際に、結晶半導体粉末のすき間によりこの
裏面電極にアモルファス半導体層が短絡するのを防ぐた
めにi型のアモルファス半導体層と第二導電型のアモル
ファス半導体層(例えばp型アモルファスSi層)との接
合が設けられている。そして、本製造方法によれば、結
晶半導体粉末からなる層とアモルファス半導体層とがこ
の順で基板上に形成された大面積の光電変換素子が形成
される。
In the manufacturing method of the present invention, first, a crystalline semiconductor powder of the first conductivity type (for example, n-type Si) is formed by the low melting point metal layer.
Are fixed, and the i-type amorphous semiconductor layer and the second conductive type amorphous semiconductor layer (for example, p-type amorphous Si
By this, the front electrode is prevented from directly contacting the substrate surface which is the back electrode. A back electrode connected to the crystalline semiconductor powder is formed on the substrate surface, or the substrate itself is a back electrode, and when forming a junction with the amorphous semiconductor layer, the back electrode is formed by a gap of the crystalline semiconductor powder. In order to prevent short-circuiting of the amorphous semiconductor layer, a junction between the i-type amorphous semiconductor layer and the second conductive type amorphous semiconductor layer (for example, a p-type amorphous Si layer) is provided. Then, according to the present manufacturing method, a large-area photoelectric conversion element in which the layer made of the crystalline semiconductor powder and the amorphous semiconductor layer are formed on the substrate in this order is formed.

【0010】[0010]

【実施例】以下実施例によって本発明を具体的に説明す
る。
The present invention will be specifically described below with reference to examples.

【0011】実施例1 図1は本発明による太陽電池素子の製造工程を説明する
図である。まず、基板1上に約20μm厚の低融点金属膜
2を形成する(図1(a)、(b))。基板1にはステンレス
を、低融点金属膜2にはハンダを用いた。この場合、基
板1の材質としては200℃〜300℃程度の温度に耐えるも
のであれば良く、裏面電極を兼ねさせるために導電性材
料か又は導電性の金属膜で覆われたものとする。低融点
金属としてはSn、In、Zn等の単体またはハンダ等の合金
でもよい。次に、低融点金属膜2上に平均粒径が50μm
のn型単結晶又は多結晶のシリコン粉末6を密に1層な
いし2層付着させる(図1(c))。粉末結晶の大きさは
ライフタイムと光の吸収係数、利用波長等によって適宜
決定する。結晶シリコンの大きさは50μm程度のものが
良いが、これより小さくてもかまわない。尚、粉末の形
状は球形である必要はなく、どのような形状のものであ
ってもよい。また粒径が異なるものが混在していても支
障はない。
Embodiment 1 FIG. 1 is a diagram for explaining a manufacturing process of a solar cell element according to the present invention. First, a low-melting metal film 2 having a thickness of about 20 μm is formed on a substrate 1 (FIGS. 1A and 1B). Stainless steel was used for the substrate 1 and solder was used for the low melting point metal film 2. In this case, it is sufficient that the material of the substrate 1 withstands a temperature of about 200 ° C. to 300 ° C., and the substrate 1 is covered with a conductive material or a conductive metal film so as to also serve as a back surface electrode. The low-melting point metal may be a simple substance such as Sn, In, or Zn, or an alloy such as solder. Next, an average particle size of 50 μm
One or two layers of the n-type single crystal or polycrystalline silicon powder 6 are densely attached (FIG. 1 (c)). The size of the powder crystal is appropriately determined according to the lifetime, light absorption coefficient, wavelength used, and the like. The size of the crystalline silicon is preferably about 50 μm, but may be smaller. The shape of the powder need not be spherical, but may be any shape. There is no problem even if particles having different particle sizes are mixed.

【0012】次に、低融点金属2を溶融し、n型結晶シ
リコン粉末6を裏面電極となる基板1に低融点金属膜2
を介して固定する(図1(d))。次に、基板温度200℃で
i型アモルファスシリコン層3を形成する(図1
(e))。i型アモルファスシリコン層はあまり厚すぎる
と効率が低下し、余り薄すぎると表面電極と裏面電極が
短絡するため、数100Åが望ましい。
Next, the low melting point metal 2 is melted, and the n-type crystalline silicon powder 6 is coated on the substrate 1 serving as the back electrode by the low melting point metal film 2.
(FIG. 1 (d)). Next, an i-type amorphous silicon layer 3 is formed at a substrate temperature of 200 ° C.
(e)). If the i-type amorphous silicon layer is too thick, the efficiency is reduced. If the i-type amorphous silicon layer is too thin, the front electrode and the back electrode are short-circuited.

【0013】次に、基板温度200℃でp型アモルファス
シリコン層4を形成する(図1(f))。p型アモルファ
スシリコン層の膜厚は100Å〜200Åが望ましい。これに
よりp型アモルファスシリコンとn型結晶シリコンによる
ヘテロ接合が形成される。最後に、アモルファスシリコ
ン層4上に透明導電膜5を形成する(図1(g))。必要
によりこの上に適宜金属の集電極を形成して大面積の太
陽電池が完成する。
Next, a p-type amorphous silicon layer 4 is formed at a substrate temperature of 200 ° C. (FIG. 1F). The thickness of the p-type amorphous silicon layer is desirably 100 ° to 200 °. This forms a heterojunction of p-type amorphous silicon and n-type crystalline silicon. Finally, a transparent conductive film 5 is formed on the amorphous silicon layer 4 (FIG. 1 (g)). If necessary, a metal collecting electrode is appropriately formed thereon to complete a large-area solar cell.

【0014】本太陽電池では、結晶シリコン粉末6から
なる層の横方向のキャリアーの移動が阻害されている
が、この構造の太陽電池ではキャリアーの膜厚方向の移
動が効率を殆ど決めているため、効率はこの層を単一の
結晶シリコン層で形成した場合と殆ど変わるところがな
い。本実施例では全工程を通じて基板温度が300℃以下
で形成できるため、不純物を高温で拡散して接合を形成
するのに比べて基板の材質に対する制限が緩和され、種
々の基板を用いることができる。また、製造エネルギー
も少なくて済む。
In the present solar cell, the movement of carriers in the lateral direction of the layer made of crystalline silicon powder 6 is hindered. However, in the solar cell having this structure, the movement of carriers in the thickness direction largely determines the efficiency. The efficiency is almost the same as when this layer is formed of a single crystalline silicon layer. In this embodiment, since the substrate temperature can be formed at 300 ° C. or lower throughout the entire process, restrictions on the material of the substrate are relaxed compared to the case where impurities are diffused at a high temperature to form a junction, and various substrates can be used. . Also, less production energy is required.

【0015】実施例2 図2は本発明第2実施例の太陽電池の製造工程を説明す
る図である。本実施例は直列接続構造の太陽電池モジュ
ールの製造方法である。まず、基板1としてはガラス、
プラスチック等の絶縁性ないし絶縁物で覆われたものを
用いる(図2(a))。ここではガラスを用いた。この基
板1上に低融点金属膜2を短冊状に形成する(同図
(b))。これは裏面電極となる。
Embodiment 2 FIG. 2 is a view for explaining a manufacturing process of a solar cell according to a second embodiment of the present invention. This embodiment is a method for manufacturing a solar cell module having a series connection structure. First, as the substrate 1, glass,
Use an insulating or insulating material such as plastic (FIG. 2 (a)). Here, glass was used. A low melting point metal film 2 is formed in a strip shape on the substrate 1 (FIG.
(b)). This will be the back electrode.

【0016】次に、平均粒形50μmのn型の結晶シリコン
粉末6を配置し(図2(c))、低融点金属膜2を溶融し
て接着する(図2(d))。次に、基板温度200℃でi型ア
モルファスシリコン層3を、結晶シリコン粉末上面に形
成する。図2で表されるように金属膜の片側端面を覆う
構造となるように選択的に形成する(図2(e))。次
に、基板温度200℃でp型アモルファスシリコン層4を
結晶シリコン粉末6の上部に選択的に形成する。(図2
(f))。p型アモルファスシリコン層の膜厚は100Å〜20
0Åが望ましい。これによりアモルファスシリコンと結
晶シリコンによるヘテロ接合が形成される。
Next, an n-type crystalline silicon powder 6 having an average grain size of 50 μm is arranged (FIG. 2C), and the low melting point metal film 2 is melted and bonded (FIG. 2D). Next, an i-type amorphous silicon layer 3 is formed on the upper surface of the crystalline silicon powder at a substrate temperature of 200 ° C. As shown in FIG. 2, the metal film is selectively formed so as to have a structure covering one end face of the metal film (FIG. 2E). Next, a p-type amorphous silicon layer 4 is selectively formed on the crystalline silicon powder 6 at a substrate temperature of 200 ° C. (Figure 2
(f)). The thickness of the p-type amorphous silicon layer is 100 to 20
0Å is desirable. This forms a heterojunction of amorphous silicon and crystalline silicon.

【0017】最後に、透明電極5をp型アモルファスシ
リコンの上面から隣接する短冊状素子の下部電極2の端
面露出部に接続するように選択的に形成し、各短冊状に
形成された各素子が直列に接続されるようにする(図2
(g))。以上のようにして隣り合った太陽電池素子が直
列に接続された太陽電池モジュールが形成される。
Finally, the transparent electrode 5 is selectively formed so as to be connected from the upper surface of the p-type amorphous silicon to the exposed end face of the lower electrode 2 of the adjacent strip-shaped element. Are connected in series (FIG. 2
(g)). As described above, a solar cell module in which adjacent solar cell elements are connected in series is formed.

【0018】以上の2つの実施例では結晶シリコン粉末
をn型としたがp型を用いても良く、この場合はアモルフ
ァスシリコン層はn型となる。
In the above two embodiments, the crystalline silicon powder is n-type, but p-type may be used. In this case, the amorphous silicon layer is n-type.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明の光電変換素子は結晶半導体粉末
の表面にアモルファス半導体層により接合を形成するの
で、低温で接合を形成することができ、基板として可と
う性基板を用いることも可能となる。さらに、結晶半導
体粉末を用い、アモルファス層も薄くてよいので、結晶
基板を使った素子に比べて使用材料が少なく低価格化が
可能である。また、第一導電型の結晶半導体粉末及び該
低融点金属層の露出面にi型のアモルファス半導体層を
形成するだけで、基板と透明導電層との短絡を防止でき
る。さらに、該i型アモルファス半導体層の厚さを数1
00Åとすることにより、基板と透明導電層とが短絡す
ることなしに、変換効率の低下を防止できる。
According to the photoelectric conversion element of the present invention, since a junction is formed by the amorphous semiconductor layer on the surface of the crystalline semiconductor powder, the junction can be formed at a low temperature, and a flexible substrate can be used as the substrate. Become. Further, since a crystalline semiconductor powder is used and the amorphous layer may be thin, the material used is smaller than that of a device using a crystal substrate, and the cost can be reduced. Further, the first conductivity type crystalline semiconductor powder and the
I-type amorphous semiconductor layer on exposed surface of low melting point metal layer
Just forming it can prevent short circuit between the substrate and the transparent conductive layer.
You. In addition, the thickness of the i-type amorphous semiconductor layer is
By setting the thickness to 00 °, a short circuit occurs between the substrate and the transparent conductive layer.
Without lowering the conversion efficiency.

【0020】また、本発明により形成された太陽電池は
これまでアモルファス太陽電池で問題となっている光劣
化が生じないために、高信頼性の素子を作成出来る。
Further, since the solar cell formed according to the present invention does not suffer from light degradation which has been a problem in amorphous solar cells, a highly reliable element can be produced.

【0021】一方、本発明の製造方法によれば、大面積
の太陽電池素子を製造することができ、また薄膜集積化
技術の応用により直列接続が容易であり、必要な電圧出
力が得られるモジュールを作ることが出来る。
On the other hand, according to the manufacturing method of the present invention, a solar cell element having a large area can be manufactured, a module can be easily connected in series by applying a thin film integration technique, and a required voltage output can be obtained. Can be made.

【0022】尚、本発明は広く光電変換装置に応用で
き、微細な光電変換装置として使用することもできる。
The present invention can be widely applied to photoelectric conversion devices, and can also be used as fine photoelectric conversion devices.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明実施例1の光電変換素子の製造工程を説
明する図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a manufacturing process of a photoelectric conversion element according to Example 1 of the present invention.

【図2】本発明実施例2の光電変換素子の製造工程を説
明する図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a manufacturing process of a photoelectric conversion element according to Example 2 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 低融点金属膜 3 i型アモルファスシリコン層 4 p型アモルファスシリコン層 5 透明導電膜 6 結晶シリコン粉末 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Low-melting-point metal film 3 i-type amorphous silicon layer 4 p-type amorphous silicon layer 5 transparent conductive film 6 crystalline silicon powder

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板と、該基板表面に形成する低融点金
属層と、該低融点金属層により該基板上に固定される第
一導電型の結晶半導体粉末と、該第一導電型の結晶半導
体粉末及び該低融点金属層の露出面に形成するi型のア
モルファス半導体層と、該i型のアモルファス半導体層
上に形成する第二導電型のアモルファス半導体層と、該
第二導電型のアモルファス半導体層上に形成する透明導
電層とからなることを特徴とする光電変換素子。
A substrate and a low melting point gold formed on the surface of the substrate
Metal layer and a second layer fixed on the substrate by the low melting point metal layer.
One conductivity type crystalline semiconductor powder and the first conductivity type crystal semiconductor
Body powder and an i-type electrode formed on an exposed surface of the low melting point metal layer.
A morphus semiconductor layer and the i-type amorphous semiconductor layer
A second conductivity type amorphous semiconductor layer formed thereon;
Transparent conductive layer formed on the second conductive type amorphous semiconductor layer
The photoelectric conversion device characterized Rukoto such from the conductive layer.
【請求項2】 上記i型のアモルファス半導体層の厚さ
を数100Åとすることを特徴とする請求項1記載の光
電変換素子
2. The thickness of the i-type amorphous semiconductor layer.
2. The light according to claim 1, wherein
Electric conversion element .
【請求項3】 基板上に低融点金属層を形成し、該低融
点金属層上に第一導電型の結晶半導体粉末を配置し、該
低融点金属層を加熱して溶融させ結晶半導体粉末を該低
融点金属層上に固定し、該結晶半導体粉末及び該低融点
金属層の露出面にi型のアモルファス半導体層を形成し
た後に、該i型のアモルファス半導体層上に第二導電型
のアモルファス半導体層、透明導電層を順次形成するこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の光電変換素子の製
造方法。
3. A low melting point metal layer is formed on a substrate,
Placing a first conductivity type crystalline semiconductor powder on the point metal layer,
The low melting point metal layer is heated and melted to remove the crystalline semiconductor powder.
Fixing the crystalline semiconductor powder and the low melting point
Forming an i-type amorphous semiconductor layer on the exposed surface of the metal layer
After that, the second conductivity type is formed on the i-type amorphous semiconductor layer.
Amorphous semiconductor layer and transparent conductive layer
3. The method for producing a photoelectric conversion element according to claim 1, wherein
Construction method.
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