JP2747451B2 - 織物への糸欠点の影響を判定する方法及び装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，糸品質検査において糸
から製造される織物への糸欠点の影響を織物外観の模擬
により判定する方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の従来の方法は，織物外観を模擬
するため，人手により糸をらせん状に巻き付けられる台
形又は長方形の厚紙又は板から成るいわゆる観察板を使
用し，それにより一種の準織物が形成され，場合によつ
ては存在する欠点模様が，これから目視によりよく確認
可能である。従つて観察板は，特定の糸が特定の織物に
適しているか否か及びどの程度適しているかを評価する
有効な補助手段であり，完成品の最も重要な品質特徴即
ち外観についての予想を可能にする。しかし一定幅の観
察板（糸条板）では，織物の大きさに比べて試料（糸条
板に巻いた糸）が少ないために，織物に織り上がつた状
態の外観を判定，模擬することはむずかしく，また糸条
板に糸を巻き付ける作業はわずらわしく多大な時間を要
することとなつている。

【０００３】また糸が基準レベルに対して極端に太い湯
合や細い場合には重大な欠点となり，織物外観に悪影響
を与えることとなり，細い場合にはもやもやした（クラ
ウデイな）外観を呈し，織物の価値を下げることとな
る。またそのような欠点が周期的に生じる場合は，織り
上がり外観は縞模様を呈し重大な欠点となる。

【０００４】このような欠点は，従来から利用可能な糸
むら試験機でのむら試験では，明確に現れず，織物を織
つてはじめて露呈し，糸出荷時点で把握されにくいとい
う問題があつた。

【０００５】一方スラブヤーンについては，織物が織ら
れる前にスラブ模様の外観を検査するために，紡出され
たスラブヤーンを糸むら試験機で試験を行い，試験の結
果得られた糸むらのデータをもとに，方眼紙などに人手
でプロツト図を書いている。

【０００６】また紡出前に，紡出しようとするスラブヤ
ーンが織物として織られたときのスラブ模様の外観を予
測するために，紡出しようとするスラブヤーンのスラブ
周期データをもとに方眼紙などに人手によつてプロツト
図を書いている。

【０００７】これら従来の方法では，プロツト図を書く
のに多大の時間を要し，同じデータをもとに書いたプロ
ツト図でも，書く人によつて多少異なるプロツト図がで
きあがつてしまうということがよくあり，スラブヤーン
が織物として織られたときのスラブ模様の外観を事前に
予測し，スラブヤーンの良否を決定するのはたいへん難
しい作業となるという問題があつた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は，でき
るだけ僅かな作業時間と労力しか必要とせず，融通性が
あり，再現可能で信頼性のある結果を生じ，糸出荷時点
で糸品質を判定，予想可能な織物の外観を模凝する新し
い方法及び装置を提供することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
本発明の方法によれば，糸を一定区間ごとに容積又は直
径又は表面に関連するパラメータについて検査し，前記
パラメータをグレイスケール値又は三刺激値に換算し，
これらのグレイスケール値又は三刺激値を画素に対応さ
せ，検査された糸から製造される織物の織り幅にわたつ
て糸の長さに沿う画素を再生して，織物を模擬する画像
を生ずる。

【００１０】本発明による装置は，糸の容積又は表面に
関連するパラメータを検知する測定機構と，前記パラメ
ータをグレイスケール値又は三刺激値に換算する計算機
と，グレイスケール値又は三刺激値を画素に対応させる
手段と，デイスプレイ又はプリンタと，検査された糸か
ら製造される織物を模擬するため画素を織物に対応する
区域上に順次デイスプレイ又はプリンタ上に再生する制
御手段とを持つている。

【００１１】

【発明の効果】こうして本発明によれば，観察板が電子
的に構成され，前記パラメータを求めるための測定装置
として，例えばＵＳＴＥＲテスタ（ＵＳＴＥＲは商標
名）のような均斉度検査器を使用すると，電子式観察板
は通常のように得られるデータから計算される。例えば
欧州特許出願公開第２４９７４１号明細書及びスイス国
特許出願公開第６７１１０５号明細書に記載されている
ＵＳＴＥＲテスタにより，特に糸試料の均斉度又は毛羽
立ちが検査され，図表，測定されたパラメータの変動の
波長スペクトル及び他のグラフの形で，デイスプレイ又
はプリンタ上に表示される。均斉度及び毛羽立ちによ
り，織物外観にとつて重要で歓察板を模擬するため比較
的僅かなソフトウエアコストで処理することができる２
つのパラメータが得られるようにしたので，織り幅の異
なる様々な織物の織り上がつた状態の外観を判定したり
予想することが可能となる。

【００１２】また従来人手により観察板（糸条板）で行
つていた糸のむらの外観の目視試験は観察板（糸条板）
に糸を巻き付ける作業を伴つていたが，この発明によれ
ばその作業は不要となり，わずらわしく多大な時間を要
することもない。

【００１３】さらに糸を出荷する段階での織り上がり外
観の把握が可能で，従来のように織物を織つてはじめて
問題が露呈するということを回避でき，品質の予測が可
能である。

【００１４】

【実施例】以下に本発明による第１の実施例を図１ない
し図５に基づいて説明する。

【００１５】図１に示す検査装置は，糸のような織維試
料の材料及び性質の特性量を求めるために使用されるＵ
ＳＴＥＲテスタである。これらの特性量は，例えば検査
される糸の測定変動，毛羽立ち又は構造（撚り）であり
（これについてはスイス国特許出願公開第６７１１０５
号明細書，欧州特許出願公開第２４９７４１号明細書，
米国特許出願公開第５０３０８４１号明細書を参照），
これらの特性量の欠点は，繊維完成品に望ましくない影
響を及ぼす。

【００１６】検査装置は公知のように本来の検査器１，
評価兼操作装置２及びプリンタ３から成つている。検査
器１は１つ又は複数の測定モジユール４を持ち，これら
の測定モジユールは検査すべき特性量の測定機構を持つ
ている。符号５で示す被検査物又は糸は，測定機構を通
して送られ，これらの測定機構が質量又は毛羽立ち又は
構造を連続的に測定して，電気信号に変換する。検査さ
れた糸５は測定後吸い出される。

【００１７】評価兼操作装置２において信号及びデータ
の処理と検査装置の機能監視とが行われる。

【００１８】キーボード６，デイスプレイ７及び制御キ
ー８を介して，変数，測定条件，及び結果の所望の表示
が入力され，デイスプレイ７上に測定過程及び結果が数
値及びグラフの形で現れる。プリンタ３も測定値及びグ
ラフを出力し，特に完全な検査記録を出力するのに役立
つ。

【００１９】図示した検査装備による糸試料５の直接の
検査桔果が図２の図表に示されており，この図表は糸試
料５の長さにわたつて検査される特性量の変動を示して
いる。例えば毛羽立ちが検査される場合，この毛羽立ち
は，特定の測定区域長内で糸本体から突出する繊維の全
長として定義される。その場合糸の毛羽立ちは，全検査
長にわたつて形成される平均値である。

【００２０】さてこの図表は，糸断面を表わす信号の正
規化された値に相当する平均値Ｍの周りにおける特性量
の変動を示している。質量変動の検査において百分率で
示されかつ毛羽立ちの測定において絶対値で示されるこ
れらの変動から，ばらつき又は標準偏差が計算される。

【００２１】特定の限界を超過する変動は欠点を示し，
この欠点においては周知のように周期的な欠点と非周期
的な欠点とが区別される。定義によれば，周期的欠点は
特定の波長を持ち，波長スペクトル図表により簡単に検
出可能で，スペクトル図表に現れる煙突が欠点を示す。
図３には２つの糸試料の質量変動のスペクトル図表が示
され，糸試料１は２０ｍの彼長の煙突を持ち，糸試料２
は５０ｃｍ以下の範囲にある４つの煙突を持つている。

【００２２】製造される織物幅に応じて，また周期的欠
点の波長に応じて，完成品に望ましくない模様が現れ
て，完成品をしばしば使用不能にする。これに関して刊
行物″Ｅｖｅｎｎｅｓｓ Ｔｅｓｔｉｎｇ ｉｎ Ｙａ
ｒｎ Ｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎ：Ｐａｒｔ Ｉ″ｖｏｎ
Ｒ．Ｆｕｒｔｅｒ，Ｔｈｅ Ｔｅｘｔｉｌｅ Ｉｎｓｔ
ｉｔｕｔｅ，１９８２が参照され，その６０ページ以降
には，織物への周期的質量変動の影響が説明されてい
る。この説明からわかるように，１〜５０ｃｍの波長を
持つ短周期の質量変動はいわゆるモアレ模様を生じ，５
ｍ以上の波長を持つ長周期の質量変動は完成品に比較的
太い横縞を生ずる。従つて糸試料１から成る織物（図
３）は横縞を持ち，糸試料２から成る織物はモアレ模様
を持つことになる。質量変動ではなく，毛羽立ち又は構
造が検査される場合，原理的には同じ関係が成立する
が，完成品への周期的欠点の影響は，毛羽立ちではもつ
と強く，構造では傾向的にもつと少ない。

【００２３】ほぼ周期的な欠点は，完成品にもやもやし
た外観いわゆる雲のような性格を生じ，非周期的な欠点
いわゆる罰点により特にネツプが極めて煩わしい。なぜ
ならばネツプは，欠点のない糸とは異なる反射特性を持
ち，例えば異なる色をとるか又は全く色をとらないから
である。ＵＳＴＥＲテスタでは罰点が記録され，数えら
れ，欠点の種類，シツクスポツト，シンスポツト及びネ
ツプにより分離され，表示され又は印刷される。

【００２４】図２の図表に示されている測定モジユール
４（図１）の測定機構の信号，又は評価兼操作装置２に
より処理される信号，例えば図３のスペクトル図表又は
ネツプの数は，検査された糸から製造される織物の写像
をデイスプレイ７上に生ずる。この写像は，作業員に，
ＵＳＴＥＲテスタにより検出されて 完成品に及ぼす影
響を直接示し，それにより織物の外観の予測を可能にす
る。

【００２５】糸の容積又は表面に関連するパラメータを
表わす前記の信号をグレイスケール値又は三刺激値に換
算して，１つ又は複数の画素に対応させ，続いてこれら
の画素をデイスプレイ７及び場合によつてはプリンタ３
上に再生することによつて，織物外観の模擬が行われ
る。模擬の際パラメータを選択的に又は任意に組み合わ
せて表示することができる。この再生のため糸ガイドは
可変であり，即ち糸を従来の観察板上におけるようにら
せん状に巻付け，その際デイスプレイにより，観察板の
表側で織物外観を再生するか，いわば観察板を透明にし
て，その表側と裏側とを重ねることができる。更に糸を
１つの方向にのみ例えば左から右へ導いて，糸を観察板
の右端で切断し，続いて右側で再びつなぐことができ
る。更に織物に相当するように糸を十字状に重ねること
ができる。その際画像解像度を任意に選ぶことができ
る。例えば横に並ぶ複数の糸をまとめ，画素の強度をこ
れらの糸の平均値に等しくすることができる。例えばス
ペクトル図表から個々の煙突のみ又は理想スペクトル図
表に対する差のみを表示することによつてデータの選択
評価も可能である。

【００２６】グレイスケール値又は三刺激値の計算の出
発点として，原理的に信号の２つのカテゴリが利用可能
で，しかも測定機構により直接発生される図２に応じた
信号と，ＵＳＴＥＲテスタにより行われる評価の結果で
ある信号，従つて例えばスペクトル図表又はネツプ計数
の結果とが，利用可能である。従つてこの第２のカテゴ
リの信号は，繊維技術的に関係する求められた量の平均
値又はばらつきを表わすことになる。両方の信号カテゴ
リから，表示用の糸信号がデイスプレイ上に模擬され，
この模擬のため特定の特性を，コントラスト増大，着色
等のように画像処理から公知の手段により強調すること
ができる。

【００２７】計算について次式が成立する。 Ｉ＝Ｆ（ｙ） ここでＩは輝度又は色度，ｙは質量，毛羽立ち，構造；
平均値からの偏差である。

【００２８】信号の第１のカテゴリから従つて図表から
の計算のために次式が当てはまる。 ｙ＝ｆ（ｘ） ここでｘは糸の長さ方向の位置であり，ｙの値は図表か
ら直接読み取られる。

【００２９】信号の第２のカテゴリからの計算のために
周期的欠点（スペクトル図表）が当てはまる。

【数２】 ここでａは波長の振幅，ｉは波長スペクトル図表におけ
る波長の指標，λは波長，ｘは糸の長さ方向における位
置である。

【００３０】従つてｙの値は再構成された図表に相当す
る。スペクトルに場合によつては現れる煙突は，手によ
りマークをつけられるか，スイス特許出願第２６５１／
９１号に述べた方法により検出される。上述した式によ
り計算の代りに，急速フーリエ変換（ＦＦＴ）も使用す
ることができる。Ｉの計算に対して，実際には次式が当
てはまる。

【数３】 ここでｙ_１は平均値からの偏差（ここでｙ_１が常に正と
なるようにｙが動かされる），ｋ，Ｋは定数である。

【００３１】偶然に生ずる稀な欠点（罰点）は，ＵＳＴ
ＥＲテスタの適当なチヤネルから取り出され，その強度
及び頻度に応じて画像に示され，画素の位置は乱数によ
り決定される。

【００３２】稀でない欠点に対し図表を出発点として，
デイスプレイ上に実際の糸を写像するか，又はスペクト
ル図表を出発点として，統計的な値から再構成された模
擬糸を写像するかについては，スペクトル図表の方が有
利である。なぜならば，高い解像度の図表は非常に大き
いデータ量を生ずるので，スペクトル図表では図表にお
けるより一般に著しく小さい波長が記録されるからであ
る。従つて画像を表示するのに必要な解像度を持つ図表
が利用不可能なことがある。

【００３３】更に例えばネツプが実際の糸のこの写像中
に認められるか否かも疑問である。これに反しネツプを
ネツプチヤネルから取り出し，適当な密度で例えば着色
のように適当にコントラストを増大してこれらのネツプ
を画像中に散布すると，これらのネツプはデイスプレイ
上でも確実に認められる。これに反しスペクトル図表か
ら図表を連続的に再構成すると，図表を輝度値又は色度
値に直接変換するよりも，著しく高い計算費が必要にな
る。

【００３４】図４及び図５は，図３のスペクトル図表か
ら計算された両方の糸試料１及び２の観察板模擬をそれ
ぞれ示している。これらの模擬は，糸試料１に対して横
縞を持つ結果を生じ，糸試料２に対してモアレ模様を持
つ結果を生じ，これらの模様は両方のスペクトル図表に
おいてハツチングを施した煙突により特徴づけられる周
期的欠点により規定される。この結果は上述した方法の
有用性を証明している。

【００３５】このような本発明の主旨である，織物への
糸欠点の影響を判定する方法，装置を，糸の欠点信号を
画素として順次表示出力させて，シミユレーシヨン試験
を行うべく，具体化させた装置（織布外観むら模擬試験
装置）として，以下に本発明の第２の実施例を図６ない
し図１３に基づいて説明する。

【００３６】図６では，この実施例の構成を示してお
り，糸１１の走行時の一定区間ごとに糸１１の太さ量を
検知する測定機構１２の出力信号として得られた太さ量
を記憶保持する信号処理部１３に，製造されるべき織布
の織り幅Ｌ１（図１０）にわたつて糸１１の長さに沿う
太さ量を線分として表示する表示出力部１４を接続した
試験装置をなしている。糸１１は，一般の紡績糸からな
る試料とする。

【００３７】この実施例では，測定機構１２の例えば静
電容量式の一対の電極からなる測定ヘッド２２間（電極
幅２２ａを一定の長さ間隔として電圧を印加された電極
間に生じた電界中）を糸１１が定行することによつて，
走行する糸１１の全長にわたつて，連続的に糸１１の電
極幅２２ａごとの太さ量を検知している。なお測定ヘツ
ド２２は，静電容量式としたが，光電式としてもよい。
この測定ヘツド２２は，前述した実施例におけるように
ＵＳＴＥＲテスタの測定機構に組み込んでもよく，同じ
測定原理に基いて一般に多用されている，自動ワインダ
における糸欠陥除去用クリアラの測定ヘツドとしてもよ
い。

【００３８】こうして得られた測定機構１２の出力信号
としての太さ量は，データ伝送ケーブル１２ｂを介し
て，信号処理部１３に記憶保持される。この信号処理部
１３にデータ伝送ケーブル１３ａ，１３ｂを介して接続
されて，製造されるべき織布の織り幅Ｌ１ごとに糸１１
の太さ量データを表示する表示出力部１４としてデイス
プレイ１４ａと，プリント出力するプリンタ１４ｂが設
けられている。信号処理部１３は，信号処理装置１６と
データ処理コンピユータ２３と入力装置２４とで構成さ
れる。信号処理装置１６は，測定機構１２で測定した糸
１１の太さむら信号を増幅する増幅器１７と，増幅器１
７で増幅されたアナログ電圧信号をデジタル信号に変換
するＡ／Ｄ変換器１８とからなる。データ処理コンピユ
ータ２３は，インターフエース２３ａとＣＰＵ２３ｂと
メモリ２３ｃとからなる。インターフエース２３ａは，
Ａ／Ｄ変換器１８からのデジタル信号を入力し，ＣＰＵ
２３ｂとにバス接続され，かつ入力装置２４と表示出力
部１４とに接続されて，ＣＰＵ２３ｂ，メモリ２３ｃと
のデータの受け渡しを行うものとしている。入力装置２
４は，キーボード，マウス，ペン入力装置などでなり，
データ処理コンピユータ２３の手入力によるデータ入力
操作に用いられる。ここで入力されるデータは，織り幅
Ｌ１と織りピツチ，織り縮み率といつた設定値データを
指している。

【００３９】ＣＰＵ２３ｂとメモリ２３ｃは，信号処理
装置１６で出力されたデジタル信号をもとに，測定した
糸１１の太さむら量を数値データとして記憶保持する。
増幅器１７で増幅されたアナログ電圧信号は糸１１の太
さに対応しており，図７に示すようなむら曲線ダイアグ
ラムとして表現される。

【００４０】図７の縦軸は各測定重量の大きさを示し，
測定機構１２の零点を較正した時点の基準レベル（図の
グラフ中の零レベル）とし，（＋）側を重たい側即ち糸
が太い場合，（−）側を軽い側即ち糸が細い場合として
いる。横軸は糸の測定時点の長さとしている。

【００４１】糸が基準レベルに対して極端に太い場合
や，細い場合は重大な欠点となり，織物外観に影響を与
えることとなり，とくに細い場合にはもやもやした（ク
ラウデイな）外観を呈し，織物の価値を下げることとな
る。そのため便宜的に品質上許される限界を（＋）側，
（−）側に設けて，（＋）側をしきい値ＳＰ，（−）側
をしきい値ＳＭとし，このしきい値ＳＰ，ＳＭのいずれ
かを越えた欠点長さをスラブ長さＬＳ１，ＬＳ２，・・
とする。またしきい値ＳＰ，ＳＭを越えない長さを通常
長さＬＮ１，ＬＮ２，．．とする。しきい値ＳＰ，ＳＭ
は，信号処理部１３に設けられた切換えスイツチなどの
ハードウエアの切換え手段，あるいは信号処理部１３で
のデータ処理を行うソフトウエア設定によつて，設定変
更できるものとしている。また糸の太さ量データについ
ては，（＋）側の限界を越えた場合を＋１，（−）側の
限界を越えた場合を−１とする。

【００４２】次にこの実施例での信号処理部１３，表示
出力部１４の処理の一例について，図８のフローチヤー
トに基づいて説明する。

【００４３】（ａ）表示出力部１４での描画すべき開始
位置の指定などの初期値データを設定する。データ牽引
用カウンタｎは０とする。 （ｂ）織り幅，織りピツチ，表示幅，しきい値ＳＰ，Ｓ
Ｍなどのデータ設定する。 （ｃ）インタフエース２３ａを介して，Ａ／Ｄ変換器１
８でサンプリングされた単位長さ１ｘ分の計測データｄ
ｘを取得し，メモリ２３ｃに保持する。取るべきデータ
がそれ以上なけれは全処理を終了する。ここでは，１ｘ
を電極幅２２ａとしているが，例えは電極幅２２ａの一
定倍した長さとしてもよい。 （ｄ）データ牽引用カウンタｎを１つ加算する。通常長
さＬＮｎ，欠点長さＬＳｎをそれぞれ０とする。 （ｅ）計測データｄｘは，太さ限界外かどうかを判定
し，限界内であれば処理ｆへ移行し，限界外であれば処
理ｇへ移行する。 （ｆ）次に示す処理手段を実行する。 （ｆ−１）：通常長さＬＮｎを１ｘ分加算する。 （ｆ−２）：次の１ｘ分の計測データｄｘを取得し，メ
モリ２３ｃに保持する。取るべきデータがそれ以上なけ
れば全処理を終了する。 （ｆ−３）：取得した計測データｄｘは，太さ限界外か
どうか判定し，限界内であれば処理ｆ−１へ移行し，限
界外であれば処理ｆ−４へ移行する。 （ｆ−４）：通常長さＬＮｎ分を描画せずに，次の描画
開始位置をＬＮｎ分移動する。 （ｆ−５）：処理済みフラグＮを１つ加算する。 （ｆ−６）：通常長さ計算と描画，欠点長さ訂算と描画
がともに済んでいれば，処理済みフラグＮと処理済みフ
ラグＳは一致し，処理ｄへ移行する。ともに済んでいな
いときは，処理ｇへ移行する。 （ｇ）次に示す処理手順を実行する。 （ｇ−１）：欠点長さＬＳｎを１ｘ分加算する。 （ｇ−２）：次の１ｘ分の計測データｄｘを取得し，メ
モリ２３ｃに保持する。取るべきデータがそれ以上なけ
れば全処理を終了する。 （ｇ−３）：取得した計測データｄｘは，太さ限界外か
どうかを判定し，限界外であれば処理ｇ−１へ移行し，
限界内であれば処理ｇ−４へ移行する。 （ｇ−４）：欠点長さＬＳｎ分を描画して，次の描画開
始位置をＬＳｎ分移動する。 （ｇ−５）：処理済みフラグＳを１つ加算する。 （ｇ−６）：通常長さ計算と描画，欠点長さ計算と描画
がともに済んでいれば，処理済みフラグＮと処理済みフ
ラグＳは一致し，処理ｄへ移行する。ともに済んでいな
いときは，処理ｆへ移行する。

【００４４】こうしてこの実施例では，しきい値ＳＰ，
ＳＭを越えない長さ（通常長さ）ＬＮ１，ＬＮ２，．．
と，（＋）側（−）側の両方のしきい値ＳＰ，ＳＭを越
える長さ（欠点長さ）ＬＳ１，ＬＳ２，．．は交互に，
例えば図９のようなデータとして信号処理部１３で集積
されるとともに，製造すべき織布の織り幅にわたつて糸
１１の長さに沿う欠点信号を線分として，織布に対応す
る区域上に順次表示出力するようにしている。このとき
の線分の表示出力方向は，横糸の飛走方向に対応し，エ
アー・ジエツト式やウオータ・ジエツト式の織機のとき
は一方向となるため，描両開始位置は常に一側が起点と
なる。またシヤトル式織機のように正逆交互に繰り返す
ときは表示出力方向もこれに従つて，正逆方向を繰り返
すこととなるため，描画開始位置は，両側が起点となり
折り返し表示出力することとなる。

【００４５】試験の結果，ＬＮ１，ＬＳ１，ＬＮ２，Ｌ
Ｓ２，．．．の各データが一定の周期性を有する場合，
これらの各データを，通常長さＬＮ１，ＬＮ２，．．を
空白とし，欠点長さＬＳ１，ＬＳ２，．．を実線とし
て，製造すべき織布の織り幅Ｌ１にわたつて一方向に順
次プロツトすれば，図１０に示すように縞模様を有する
異常な織布外観を呈し，糸が異常と判断されることとな
る。

【００４６】糸１１が試験の結果，正常な場合，図１１
に示すような通常長さ部分が欠点長さ部分に比べて十分
長く，かつランダムなデータとなり，この場合の外観シ
ミユレーシヨン図は図１２に示すように，欠点長さ部分
がランダムに点在するものとなる。

【００４７】この実施例では，織布に適用したが，織り
縮み率の代わりのパラメータとして，編み縮みの比率を
入力すれば，編み物にも適用が可能である。なおこの実
施例では，外観むらの欠点信号として，糸１１の太さ量
を検知するものとしたが，毛羽むら量，質量などを検知
するものとしてもよい。

【００４８】この実施例では，単位長さ１ｘを測定する
ごとに加算して，通常長さＬＮｎ，欠点長さＬＳｎを算
出し，糸の通常部分および欠点部分を線分で表示出力し
ているが，単位長さ１ｘを測定するごとに，糸が通常部
分か欠点部分かを単位長さ１ｘに対応する線分で表示出
力すれば，通常長さＬＮｎ，欠点長さＬＳｎの算出が不
要となり，処理の簡素化，高速化が図れる。またこの実
施例では（＋）側（−）側の両方の欠点長さ分を実線と
したが，（＋）側（−）側を区別できるように，例えば
（−）側の欠点長さ分だけを実線とし，（＋）側の欠点
長さ分を破線として，（＋）側（−）側それぞれ線種を
変えて表現してもよい。さらにこの実施例では，（＋）
側（−）側の両方のしきい値ＳＰ，ＳＭを越える長さを
プロツトしたが，（−）側のしきい値ＳＭだけを越える
欠点部分を実線でプロツトし，正常部分空白としてもよ
い。逆に（＋）側のしきい値ＳＰだけを越える欠点部分
を実線でプロツトし，正常部分を空白としてもよい。そ
の他カラープリンタで各欠点部分を示せば，より実状に
近い織布外観の再現が可能であり，欠点部分を色分けし
てもよい。また，グレイスケールの線分で表示させる場
合，例えば２種類の組み合わせが有用である。まず通常
部分を灰色，（＋）側の欠点部分を黒色，（−）側の欠
点部分を白色で表示すると，糸の太細の表示と，対象と
なる織物の状態との対応が良くとれるという利点があ
る。次に通常部分を灰色，（＋）側の欠点部分を白色，
（−）側の欠点部分を黒色で表示すると，黒色糸条板
（観察板）に巻き付けたときに，黒い背景色によつて細
い部分が通常太さ部分に比べて黒ぽく表示され，太い部
分が通常太さ部分に比べて白ぽく表示されるため，糸の
太細の表示と糸条板に巻き付けた状態との対応が良くと
れるという利点がある。

【００４９】この実施例によれば，糸１１の走行時の一
定間隔２２ａごとに糸１１の太さ量を検知する測定ヘツ
ド部１２の出力信号のうち，糸１１の所定太さ限界外に
ある信号を欠点信号として，記憶保持する信号処理部１
３を設けて，製造される織布の織り幅Ｌ１にわたつて糸
１１の長さに沿う欠点信号を線分として，織布に対応す
る区域上に，糸の太さ量データを順次表示する表示出力
部１４（デイスプレイ１４ａ，プリンタ１４ｂ）を接続
することによつて，図１０や図１２に示したような織布
外観状態を表示および描画したので，織り幅の異なる様
々な織物の織り上がつた状態の外観を予想することや判
定が容易となる。また従来人手により糸条板などで行つ
ていた糸むらの外観の目視試験は糸条板に糸を巻き付け
る作業を伴つていたが，この発明によればその作業は不
要となり，わずらわしさにより多大な時間を要すること
もない。さらに糸を出荷する段階での織り上がり外観の
把握が可能で，従来のように織物を織つてはじめて問題
が露呈するということを回避でき，品質の予測が可能で
ある。

【００５０】なおこの実施例を，精紡機のドラフト・ロ
ーラの間断的変化などの方法によつて故意に所々にスラ
ブを現したスラブヤーンに適用した場合には，次のよう
な模擬方法も可能である。

【００５１】紡出しようとするスラブヤーン，あるいは
紡出中のスラブヤーンのスラブ周期データを，信号処理
装置１６からの出力信号によらず，入力装置２４のキー
ボードで手入力することにより，織物にした際の織物外
観すなわちスラブ模様を表示出力部１４のデイスプレイ
１４ａに表示でき，またプリンタ１４ｂに印字させるよ
うにしたものである。この場合の外観むらシミユレーシ
ョン図は，例えば図１３に示すようなものとなる。

【００５２】この実施例をスラブヤーンに適用した場合
は，従来人手により多大な時間を要し，困難な作業とな
つている。スラブヤーンが織物として織られたときのス
ラブ模様を，紡出の前後で迅速かつ正確に予測すること
もできる。また紡出前と紡出後のシミユレーシヨン結果
を照合することにより，従来よりも確実に生産工程での
品質管理が可能となる。さらに紡出後はスラブヤーンの
スラブ模様だけでなく，スラブヤーンの糸むらも同時に
知ることができ，織物に織られる前に糸品質の予測が可
能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】繊維検査物品の質量変動を求める検査装置の斜
視図である。

【図２】測定機構の信号，または評価兼操作装置により
処理される信号のダイヤグラムである。

【図３】２つの試料のスペクトル図表である。

【図４】試料から得られる観察板模擬図である。

【図５】別の試料から得られる観察板模擬図である。

【図６】本発明の第２の実施例を示す構成図である。

【図７】この実施例の信号説明図である。

【図８】この実施例の処理を示すフローチヤートであ
る。

【図９】糸が異常な場合のむら限界を越えない太さ量デ
ータと越える太さ量データを示す説明図である。

【図１０】図９のデータによる織布外観むらシミユレー
シヨン図である。

【図１１】糸が正常な場合の太さ量データを示す説明図
である。

【図１２】図１１のデータによる織布外観むらシミユレ
ーシヨン図である。

【図１３】この実施例をスラブヤーンに適用した場合の
織布外観むらシミユレーシヨン図である。

【符号の説明】

１ 検査器 ２ 評価兼操作装置 ３ プリンタ ４ 測定モジユール ５ 糸試料 ７ デイスプレイ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松瀬 秀樹 長崎県松浦市志佐町池成免1701番地 長 崎ユニチカ株式会社内 (72)発明者 田畑 成暢 大阪府箕面市坊島４丁目６番３号 ウス ターデータシステムズ株式会社内 (72)発明者 ローベルト・ヘレル スイス国ウステル・アイヒシユトラーセ 17 (56)参考文献 特開 昭60−110968（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−343734（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−327235（ＪＰ，Ａ)

Claims (14)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 糸（５）を容積又は直径又は表面に関連
   するパラメータについて検査し，前記パラメータをグレ
   イスケール値又は三刺激値に換算し，これらのグレイス
   ケール値又は三刺激値を画素に対応させ，検査された糸
   から製造される織物の織り幅にわたつて糸の長さに沿う
   画素を再生して，織物を模擬する画像を生ずることを特
   徴とする，糸から製造される織物への糸欠点の影響を織
   物外観の模擬により判定する方法。
2. 【請求項２】 前記パラメータを糸（５）の質量，直
   径，毛羽立ち（ヘアリネス）又は構造により形成するこ
   とを特徴とする，請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 前記パラメータの換算を式Ｉ＝Ｆ（ｙ）
   によつて行う（ここでＩは輝度又は色度，ｙはパラメー
   タである）ことを特徴とする，請求項２に記載の方法。
4. 【請求項４】 前記パラメータの直接測定される変動い
   わゆる図表を評価し，換算のための値を図表から直接取
   ることを特徴とする，請求項３に記載の方法。
5. 【請求項５】 前記パラメータの直接測定される変動か
   ら，繊維技術的に関係する量を誘導し，これらの繊雄技
   術的に関係する量から画素を再生するため，糸信号を模
   擬することを特徴とする，請求項３に記載の方法。
6. 【請求項６】 模擬のため，コントラスト増幅，着色等
   のように画像処理から公知の手段によつて，特定の特徴
   を強調することを特徴とする，請求項５に記載の方法。
7. 【請求項７】 換算のため，稀な糸欠点いわゆる罰点
   （インパーフエクション）を使用し，これらの罰点を，
   測定データの強度及び頻度に相当する強度及び頻度で，
   模擬された糸信号により画像に表わすことを特徴とす
   る，請求項６に記載の方法。
8. 【請求項８】 換算のためパラメータの変動の波長スペ
   クトル図表を使用し，波長スペクトルをいわゆる煙突即
   ち理想スペクトル図表曲線から著しく突出する値につい
   て検査することを特徴とする，請求項６に記載の方法。
9. 【請求項９】 式 【数１】 により換算を行う（ここでλは煙突の波長，ａはその振
   幅，ｉは波長スペクトル図表における指標，ｘは糸試料
   （５）の長さ方向における煙突の位置，ｙはパラメータ
   の換算値である）ことを特徴とする，請求項８に記載の
   方法。
10. 【請求項１０】 糸（５）の容積又は表面に関連するパ
    ラメータを検知する測定機構（４）と，前記パラメータ
    をグレイスケール値又は三刺激値に換算する計算機と，
    グレイスケール値又は三刺激値を画素に対応させる手段
    と，デイスプレイ（７）又はプリンタ（３）と，検査さ
    れた糸から製造される織物を模擬するため画素を織物に
    対応する区域上に順次デイスプレイ又はプリンタ上に再
    生する制御手段とを有することを特徴とする，糸から製
    造される織物への糸欠点の影響を判定する装置。
11. 【請求項１１】 再生された画素が検査された糸（５）
    の再構成された画像であることを特徴とする，請求項１
    ０に記載の装置。
12. 【請求項１２】 再生された画素が，糸試料の検査の際
    得られた糸信号の繊維技術的に関係する量の統計的検査
    により得られる糸（５）の模擬であることを特徴とす
    る，請求項１０に記載の装置。
13. 【請求項１３】 測定機構（４）が，糸試料（５）の質
    量又は直径を求める第１のセンサを持つていることを特
    徴とする，請求項１１又は１２に記載の装置。
14. 【請求項１４】 測定機構（４）が，糸試料（５）の毛
    羽立ち又は構造特に撚りを求める第２又は第３のセンサ
    を持つていることを特徴とする，請求項１１又は１２に
    記載の装置。