JP2734843B2 - 非線形光学定数評価方法および装置 - Google Patents

非線形光学定数評価方法および装置

Info

Publication number
JP2734843B2
JP2734843B2 JP3314303A JP31430391A JP2734843B2 JP 2734843 B2 JP2734843 B2 JP 2734843B2 JP 3314303 A JP3314303 A JP 3314303A JP 31430391 A JP31430391 A JP 31430391A JP 2734843 B2 JP2734843 B2 JP 2734843B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
prism
nonlinear optical
refractive index
total reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3314303A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05149826A (ja
Inventor
雅史 木口
美登里 加藤
正昭 奥中
尚樹 田中
彬雄 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3314303A priority Critical patent/JP2734843B2/ja
Publication of JPH05149826A publication Critical patent/JPH05149826A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2734843B2 publication Critical patent/JP2734843B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光の波長変換を行な
い、光通信、光コンピュータ、光記録、光計測などに利
用するところの、非線形光学材料の評価、探索法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、2次、あるいは3次の非線形光学
定数を評価する方法として、梅垣真祐著、有機非線形光
学材料(1990年1月31日 ぶんしん出版発行)6
0頁から69頁に記述されているように、多結晶粉末状
の試料に基本波レーザ光を照射し、発生する高調波を検
出する粉末法と、単結晶試料に基本波レーザ光を照射
し、回転等により実効的な結晶長を変化させて高調波強
度を測定するメーカフリンジ法がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来、試料作製が簡便
な粉末法が用いられることが多かったが、粉末法におい
ては、結晶の平均粒径の、試料のコヒーレンス長に対す
る相対的大きさにより、高調波発生効率が変化するた
め、正しい評価ができない場合があった。更に、非線形
感受率にバルク結晶で位相整合がとれる成分があると、
その成分が観測にかかり、位相整合がとれないけれども
大きな値を有する成分が見落とされる場合があった。し
かし、このような成分でも導波路にすることで位相整合
がとれ、有効に使うことができる。よって、粉末法は、
材料探索のための良い評価方法とはなりえていない。一
方、メーカフリンジ法は、このようなあいまいさは無
く、正しい評価が可能となる反面、試料を比較的大きな
単結晶化する必要がある。多くの材料の中から非線形光
学定数の大きなものを探索する場合、単結晶試料を作製
するのは、多くの時間と労力が必要となる。そこで、粉
末試料を用いて正しい結果が得られるような評価方法が
望まれていた。本発明の目的は、粉末試料を用いても結
果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさ
や、位相整合の可否によらない簡便な評価方法を提供す
ることにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】基本波として、全反射に
よるエバネッセント波を用いることより、粉末試料を用
い、かつ粒径によらない評価が実現できる。エバネッセ
ント波の強度は小さいので、高次高調波の検出には高感
度な測定が必要であるが、光電子増倍管を用い、光子計
数法などと組合せることで容易に実現できる。
【0005】
【作用】非線形光学定数dを有する物質より発生する高
調波強度Iは、数1により与えられる。
【0006】
【数1】
【0007】ここでLcは物質のコヒーレンス長、Lは
相互作用長であり、従来の粉末法、メ−カフリンジ法の
場合は、粒径あるいは結晶長にあたる。LのLcに対す
る大きさにより、Iは正弦関数の2乗で変化する。この
ため粉末法では、Iの粒径依存性が問題となり、粒径が
正確に知られていないと、正しい評価ができない。更に
粉末法では、バルク結晶で位相整合がとれる成分がある
と、その成分からの信号が支配的になってしまい、それ
以外の成分が見えないことが多い。基本波として全反射
によるエバネッセント波を用いることによりこの問題を
解決できる。エバネッセント波により発生した高調波
は、ある角度mの方向に位相整合がとれて出てくる。角
度mは、プリズムの基本波に対する屈折率をn1、高調
波に対する屈折率をn2、基本波の入射角をtとすると
数2で与えられえる。
【0008】
【数2】
【0009】これは、界面で電場の接線成分が連続する
という境界条件である。この方向では、位相整合がとれ
ているため、比較的大きな信号強度が得られる。この時
の高調波強度は、エバネッセント波の侵入長をξとし
て、数3のようになる。
【0010】
【数3】
【0011】ξは、屈折率npのプリズムから屈折率n
sの媒体へ波長λの光が入射し全反射する場合、入射角
をtとすると、数4で与えられる。
【0012】
【数4】
【0013】ここでtやmはプリズムの全反射面の法線
と光軸のなす角度をいう。この方法によると非線形感受
率のすべての成分について位相整合がとれるので、すべ
ての成分の和をみることができる。
【0014】ある一つの成分が突出して大きいことが多
いので、たいていの場合には、その最も大きな成分の値
を、そのバルクでの位相整合の可否にかかわらず観測で
きることになる。
【0015】入射角が全反射条件を満たさない場合、透
過光により励起された界面より奥の試料からの高調波が
強く観測され、上記の信号を覆い隠してしまう。これ
は、従来の粉末法と同じであり、正しい情報を与えな
い。よって、全反射によるエバネッセント波を用いるこ
とが、重要である。
【0016】また、本方法によって未知の物質の非線形
光学定数を評価する場合、試料の屈折率が分からない場
合が多い。しかし屈折率が異なる場合でも、基本波の入
射角tが大きい領域では、ξは入射角tにも物質の屈折
率にもあまり依存しなくなる。このような角度で入射角
を固定し、数2で求めた角度mの方向で測定を行うこと
で、安定した信号強度を得ることができ、かつ、試料の
屈折率を調べなくても、物質の非線形光学定数のオ−ダ
−を見積もることができる。物質の探索においてはこの
ようなオ−ダ−エスティメイトで十分である。また、角
度tとmの一点で測定を行うだけで、評価することがで
き、作業性が向上する。
【0017】上記説明では、空隙の密度は考慮していな
かった。いろいろな試料について測定を行なう場合、試
料の粒径により基本波が侵入する体積、つまり高次高調
波を発生する有効な体積が変化する。そのため信号強度
は、やはり粒径により違ってくる。よってフィルター等
を用いて粒径を揃えて、有効な体積を試料によらないよ
うにしておくと、より確かな結果が得られる。これは、
試料によらず一定の大きさに揃えれば良いので、従来の
粉末法のように、試料ごとにそのコヒ−レンス長に合わ
せる必要がないため、作業性はずっと高い。尤も、本発
明においては、粒径による効果は、第2高調波強度の変
化としては高々数倍にしかならないので、材料探索を目
的にするような場合には十分であり、特に粒径を揃える
必要が無い場合が多い。
【0018】この方法により、粉末を用いても試料のコ
ヒーレンス長や、バルクでの位相整合の可否によらず、
高次高調波発生の性能、あるいは非線形光学定数の評価
を行なうことができる。前述した数4はs波の場合であ
るが、p波の場合でも本質的には同じである。
【0019】試料が粉末であるので、その粒径が小さく
なると、プリズムの全反射面で散乱が生じ、全反射しな
い基本波による高調波が発生してしまうことがある。こ
れは、試料どうし、あるいは試料とプリズムとの隙間に
空気が存在するため、有効な屈折率が空間的に一様で無
くなるためである。これを防ぐには、試料の隙間や、試
料とプリズムとの間隙を、試料と同じか、近い値の屈折
率を有する物質で満たすとよい。屈折率を調整した液体
は、容易に用意できるので、これを用いれば良い。液体
は反転対称性を有するため、第2高調波を発生しないの
で、2次の非線形定数の評価には問題がない。3次の場
合は、試料に比べて充分に小さな非線形光学定数を有す
るものを使う必要がある。
【0020】
【実施例】本発明の1実施例を図1を用いて説明する。
基本波として、QスイッチNd:YAGレ−ザ11の出
力光(λ=1.064μm)を偏光子を通して直線偏光
にし、直角プリズム15を用いて全反射プリズム16に
入射する。全反射プリズム16は、図2のようにルチル
を半円筒状に加工したものを用いた。ルチルの屈折率は
2.74であるので、MNA(2−メチル−4−ニトロ
アニリン)に対する臨界角は40.5度になる。MNA
(2−メチル−4−ニトロアニリン)の屈折率は、1.
78とした。よって入射角はこれ以上にする必要があ
る。試料としてMNA(2−メチル−4−ニトロアニリ
ン)の粉末結晶を乳鉢ですりつぶし、ふるいを用いて平
均粒径100μmとしたものを用いた。発生した第2高
調波(λ=0.532μm)をレンズ20で集光し、赤
外カットフィルタ−17で基本波をカットして、光電子
増倍管18で受け、ボックスカ−積分器19で積分して
いる。全反射プリズム16は回転台40に乗せ、入射角
tを変えれるようにしている。レンズ20、赤外カット
フィルタ−17、フィルタ−42、光電子増倍管18
は、回転台41に取り付けられた光学レ−ル43に乗
せ、観測方向を位相整合がとれる角度mに合わせてい
る。このようにして、入射角tを変えながら観測角mを
調整して、第2高調波強度を測定した。基本波の強度ふ
らつきを補正するために、ビ−ムスプリッタ14で基本
波の一部を分岐し、参照試料21の石英に入射し、その
第2高調波をモニタ−して参照信号とし、ボックスカ−
積分器19を用いて試料からの信号を参照信号で割算し
規格化している。赤外透過フィルター12は、Qスイッ
チNd:YAGレ−ザの励起光をカットするためのもの
である。図2に全反射プリズムと試料の詳細図を示す。
ここではプリズムと試料を密着させたが、プリズムと試
料の間に侵入長程度の間隙を設けてもよい。但しその場
合は、臨界角、侵入長等が異なるので注意が必要であ
る。
【0021】図3(a)にルチルプリズムを用いたとき
の入射角tと観測角mの関係を示す。図3(b)に全反
射プリズム16に対する基本波ωの入射光と基本波ωの
反射光及び第2高調波2ωの反射光の関係を示す。
【0022】同様にして、Urea(尿素)とm−NA
(メタニトロアニリン)について測定した結果を図4に
示す。実線は前述した数4を用いて計算したものであ
る。これより、第2高調波強度が、MNA(2−メチル
−4−ニトロアニリン)は尿素の15000倍、m−N
Aは尿素の110倍となっていることが分かる。メ−カ
フリンジなどで正確に測定された非線形光学定数から予
想される値は、梅垣著「有機非線形光学材料」に記され
ているように、それぞれ18000倍、100倍程度で
あるので良く一致している。これに較べ、従来の粉末法
では、数十倍、10倍程度となり、うまく評価できてい
ないことが判る。数4を用いて計算するとき、試料の屈
折率は既知の値を使用したが、入射角依存性を測定する
ことにより、屈折率をパラメ−タとしてフィッティング
を行うことができ、屈折率が判らない試料に対しても結
果が得られる。
【0023】ここでは、実施例として第2高調波発生に
よる2次非線形感受率の評価を行なったが、同様に第3
高調波を測定して3次非線形感受率を評価することもで
きる。本発明の実施例では、全反射プリズムとしてルチ
ルを用いたが、屈折率が試料より大きく、基本波と高調
波に対して透明で、非線形性感受率の低いものならばよ
いので、高屈折率ガラスやサファイヤ、ダイヤモンドな
どを使うこともできる。 本実施例において、MNAに
ついて試料台に屈折率マッチングオイル(n=1.8)
と粉末試料を入れることにより、測定の再現性が向上し
た。屈折率が1.75のものを用いても同様の結果を得
ることができた。
【0024】図5はルチルプリズム(np=2.74)
を用いた場合の様々な屈折率nsの試料に対する侵入長
を数4により計算した結果である。未知の物質の非線形
光学特性を評価する場合、屈折率が分からない場合が多
いが、図5で示すように、屈折率が異なる物質において
も、入射角tが大きくなると侵入長が入射角、屈折率に
よってあまり変化しなくなる。多くの物質の屈折率は、
1.4から2.2の間にあるので、例えばt=75度と
すると、侵入長は約80nmから120nmの間になる
ことがわかる。よってtを75度に固定して測定を行え
ば、得られた第2高調波強度の含む誤差は50%以下で
ある。tを75度以上にすれば誤差はより小さくなる
が、信号強度は減ってしまうので、75度から80度程
度にするのがよい。実際に、ルチルプリズムを用いて入
射角tを75度に固定したとき、位相整合のとれた高調
波は62.8度の方向に出射した。このようにしてUr
ea,m−NA,MNAの第2高調波強度を測定したと
ころ、相対値で1,180,24000という値が得ら
れ、オ−ダ−としては正しい値を示した。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、結晶成長を行なわず
に、粉末状の試料を用いて簡便に非線形感受率の評価を
行なうことができ、材料の探索や選別の能率が向上す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定系の構成図。
【図2】試料台と全反射プリズムの関係を示す図。
【図3】ルチルプリズムを用いたときの入射角tと観測
角mの関係を示す図。
【図4】測定結果を示す図。
【図5】全反射侵入長の入射角依存性を示す図。
【符号の説明】
11.QスイッチNd:YAGレーザ。 14.ビームスプリッタ。 16.全反射プリズム。 18.光電子増倍管。 19.ボックスカー積分器。 21.参照試料。 22.試料台 23.粉末試料。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 尚樹 埼玉県比企郡鳩山町赤沼2520番地 株式 会社日立製作所基礎研究所内 (72)発明者 谷口 彬雄 埼玉県比企郡鳩山町赤沼2520番地 株式 会社日立製作所基礎研究所内 (56)参考文献 特開 昭63−273042(JP,A) 特開 昭63−98547(JP,A) 特開 平3−115953(JP,A) 特開 平5−52740(JP,A) 特表 平1−502131(JP,A) 国際公開91/13339(WO,A)

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基本波をプリズムにより全反射せしめ、試
    料を前記プリズムの全反射面に密着させるか、あるいは
    微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント
    波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を
    測定することを特徴とする非線形光学定数評価方法であ
    って、プリズムの基本波に対する屈折率をn1、高次高
    調波に対する屈折率をn2としたとき、基本波の入射角
    tに対して、 n1・sin(t)=n2・sin(m) を満たす角度mの方向に放射される高次高調波を観測す
    ることを特徴とする非線形光学定数評価方法。
  2. 【請求項2】 所定の基本波を発生する光源、前記光源か
    ら発生された光を二つの光路に分岐する手段、分岐され
    た光の一つを光源として参照試料による高次高調波を検
    出する手段、分岐された光の他の一つを光源としこれを
    全反射させるためのプリズム、前記プリズムの全反射面
    に密着させるかあるいは微小間隙を設けて配置された試
    料、前記全反射によるエバネッセント波が該試料から発
    生させる高次高調波を検出する手段、を有し、前記参照
    試料による高次高調波とエバネッセント波が該試料から
    発生させる高次高調波とから該試料の高次高調波の発生
    効率を測定する非線形光学定数評価装置であって、前記
    プリズムの基本波に対する屈折率をn1、高次高調波に
    対する屈折率をn2としたとき、基本波の入射角tに対
    して、 n1・sin(t)=n2・sin(m) を満たす角度mの方向に放射される高次高調波を観測す
    ることを特徴とする非線形光学定数評価装置。
  3. 【請求項3】 基本波の入射角を全反射によるエバネッセ
    ント波の試料への侵入長が入射角にほとんどよらないよ
    うな角度に固定して測定する請求項1記載の非線形光学
    定数評価方法。
  4. 【請求項4】 試料の隙間や、試料とプリズムとの間隙
    を、試料と同じか、近い値の屈折率を有する物質で満た
    す請求項2記載の非線形光学定数評価装置。
  5. 【請求項5】 プリズムをルチルプリズムとし基本波の入
    射角を75度以上の所定の角度に固定して測定する請求
    項2記載の非線形光学定数評価装置。
JP3314303A 1991-11-28 1991-11-28 非線形光学定数評価方法および装置 Expired - Lifetime JP2734843B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3314303A JP2734843B2 (ja) 1991-11-28 1991-11-28 非線形光学定数評価方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3314303A JP2734843B2 (ja) 1991-11-28 1991-11-28 非線形光学定数評価方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05149826A JPH05149826A (ja) 1993-06-15
JP2734843B2 true JP2734843B2 (ja) 1998-04-02

Family

ID=18051740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3314303A Expired - Lifetime JP2734843B2 (ja) 1991-11-28 1991-11-28 非線形光学定数評価方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2734843B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4657775B2 (ja) * 2005-03-28 2011-03-23 独立行政法人理化学研究所 フォトニック結晶導波路のフォトニックバンド構造の測定方法およびその装置
CN102192899B (zh) * 2010-03-02 2015-04-15 中国科学院福建物质结构研究所 一种双通道二阶非线性光学测试系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1987004247A1 (en) * 1986-01-14 1987-07-16 Levin Herman W Evanescent wave background fluorescence/absorbance detection
JPS6327304A (ja) * 1986-07-18 1988-02-05 Daifuku Co Ltd 自動倉庫の荷捌場構造
FR2604802B1 (fr) * 1986-10-03 1988-12-02 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de mesure des caracteristiques optiques non lineaires d'ordre trois dans une phase isotrope
JPH083464B2 (ja) * 1987-04-30 1996-01-17 ダイキン工業株式会社 光学的測定装置
JP2759115B2 (ja) * 1989-09-29 1998-05-28 日本電信電話株式会社 3次非線形光学特性の測定装置
WO1991013339A1 (en) * 1990-03-02 1991-09-05 Fisons Plc Sample cell for use in chemical or biochemical assays
JPH0552740A (ja) * 1991-08-29 1993-03-02 Hitachi Ltd 非線形光学定数評価方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05149826A (ja) 1993-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4921307B2 (ja) 光吸収分析装置
Mayer et al. Far-infrared nonlinear optics. I. χ (2) near ionic resonance
US7535617B2 (en) Portable acousto-optical spectrometers
JP5885414B2 (ja) 光周波数変換素子
Sussman Tunable light scattering from transverse optical modes in lithium niobate
EP2470885B1 (de) Photoakustischer sensor sowie verfahren zu seiner herstellung und verwendung
JPS61173122A (ja) 音響・光学的分散フイルタ及び2つ以上の波長の分離方法
Marks et al. Interferometric differentiation between resonant coherent anti-Stokes Raman scattering and nonresonant four-wave-mixing processes
US8759779B2 (en) Terahertz wave generation element, terahertz wave detection element, and terahertz time domain spectral device
Bowers Fiber‐optical sensor for surface acoustic waves
Peng et al. Measurement of field-free molecular alignment by balanced weak field polarization technique
Dragan Efficient fiber coupling of down-conversion photon pairs
JPH0552740A (ja) 非線形光学定数評価方法
JP2734843B2 (ja) 非線形光学定数評価方法および装置
Rodrigues et al. On-chip backward stimulated Brillouin scattering in lithium niobate waveguides
Pindera et al. Response of the integrated polariscope
CN212031303U (zh) 增强型变频拉曼光谱分析仪器
JP3825111B2 (ja) 音響光学可変調フィルタの等価入射光角の決定方法
Shelton Third harmonic scattering in liquids
Bailey et al. Assessment of optically nonlinear organic crystals
Kiguchi et al. A new measurement of second-harmonic generation efficiency
Heisler et al. Spectrally resolved femtosecond Maker fringes technique
JPH0634530A (ja) 非線形光学定数測定法
JPS58223032A (ja) 定偏波フアイバのビ−ト長測定方法
JPS6071936A (ja) 円複屈折の測定方法および装置