JP2703469B2 - Digital radiation measurement device - Google Patents

Digital radiation measurement device

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JP2703469B2
JP2703469B2 JP30850892A JP30850892A JP2703469B2 JP 2703469 B2 JP2703469 B2 JP 2703469B2 JP 30850892 A JP30850892 A JP 30850892A JP 30850892 A JP30850892 A JP 30850892A JP 2703469 B2 JP2703469 B2 JP 2703469B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は放射線計測に係り、特に
低ビット精度あるいは高速AD変換器により高速、高精
度の信号処理を行うディジタル式放射線計測装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to radiation measurement and, more particularly, to a digital radiation measurement apparatus which performs high-speed and high-precision signal processing by using a low-bit precision or high-speed AD converter.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の放射線計測装置におけるディジタ
ル信号処理は、図17ブロック構成図で示すように放射線
検出器1からのアナログ信号2を、Nビット精度のAD
変換器3を利用してディジタル信号4に変換し、さらに
演算回路5を使用して目的とした演算を施して、AD変
換の演算結果6を得る必要があった。
2. Description of the Related Art As shown in a block diagram of FIG. 17, digital signal processing in a conventional radiation measuring apparatus converts an analog signal 2 from a radiation detector 1 into an N-bit accurate AD signal.
It is necessary to convert the signal into a digital signal 4 using the converter 3 and to perform a desired operation using the operation circuit 5 to obtain the operation result 6 of the AD conversion.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】Nビットの変換精度を
有するAD変換器3を使用して放射線検出器1からのア
ナログ信号2をディジタル信号4へ変換した場合に、得
られたディジタル値はAD変換器3の変換精度に基づく
Nビット精度の離散的な値を有する。従って、このよう
にして得られたディジタル変換値については、演算回路
5によりディジタル演算処理を施しても、Nビット精度
以上の演算結果6を得ることは困難であった。
When an analog signal 2 from a radiation detector 1 is converted into a digital signal 4 using an AD converter 3 having an N-bit conversion accuracy, the obtained digital value is an AD value. It has a discrete value of N-bit accuracy based on the conversion accuracy of the converter 3. Therefore, it is difficult to obtain an operation result 6 with N-bit precision or more even if the digital conversion value thus obtained is subjected to digital operation processing by the operation circuit 5.

【0004】従って、この問題を解決する対策としては
ビット精度の高いAD変換器を使用しなければならない
が、数ns程度の変換時間で高精度のAD変換器は入手
困難であり、また入手できたとしても非常に高価である
という問題があった。なお、放射線スペクトロスコピィ
の分野では、少なくとも12ビット以上の精度で演算結果
を求める必要があるが、数nsの変換時間を有するAD
変換器の精度は8ビット程度が一般的であり、従来の方
法では精度の高いスペクトル測定が困難であった。
Therefore, as a measure to solve this problem, an AD converter with high bit precision must be used. However, it is difficult to obtain an AD converter with high accuracy in a conversion time of about several ns. There was a problem that it was very expensive. In the field of radiation spectroscopy, it is necessary to obtain an operation result with an accuracy of at least 12 bits or more, but an AD having a conversion time of several ns is required.
The accuracy of the converter is generally about 8 bits, and it has been difficult to measure the spectrum with high accuracy by the conventional method.

【0005】さらに、放射線検出器1から放射線に関連
した信号を抽出するためには、通常は放射線検出器1の
出力信号を微分しているが、放射線のエネルギーを正確
に求めるためには、ある程度以上の長い時定数の微分回
路が必要であり、そのために放射線の入射量が多い場合
には測定精度が課題となっていた。
Further, in order to extract a signal related to the radiation from the radiation detector 1, the output signal of the radiation detector 1 is usually differentiated. A differentiating circuit having a long time constant as described above is required. Therefore, when the amount of incident radiation is large, measurement accuracy has been an issue.

【0006】本発明の目的とするところは、ビット精度
の低いAD変換器、あるいは高速AD変換器を使用し
て、演算結果が必要とするビット精度になるようにする
と共に、データ取得後において直ちに比較的長い時定数
を有する微分用コンデンサを充電リセットさせることに
より、高速で高精度の信号処理が可能なディジタル式放
射線計測装置を提供することにある。
An object of the present invention is to use an A / D converter with low bit precision or a high-speed A / D converter so that the operation result has the required bit precision, and immediately after data acquisition, An object of the present invention is to provide a digital radiation measuring apparatus capable of performing high-speed and high-accuracy signal processing by charging and resetting a differentiation capacitor having a relatively long time constant.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】アナログ検出信号を入力
する微分回路と、この微分出力信号にアナログ補正信号
を加える加算回路と、加算回路の加算信号をディジタル
変換するAD変換回路と、このディジタル信号の波形整
形をする演算回路と、この演算処理結果を保存すると共
にデータ保存終了信号出力するメモリー回路と、このデ
ータ保存終了信号によって作動するリセット回路と、リ
セット回路からのリセット信号により前記微分回路、A
D変換回路および演算回路をリセットすることを特徴と
する。
A differentiation circuit for inputting an analog detection signal, an addition circuit for adding an analog correction signal to the differentiation output signal, an AD conversion circuit for digitally converting the addition signal of the addition circuit, and a digital signal An arithmetic circuit for shaping the waveform, a memory circuit for storing the result of the arithmetic processing and outputting a data storage end signal, a reset circuit operated by the data storage end signal, and the differentiation circuit according to a reset signal from the reset circuit. A
The D conversion circuit and the arithmetic circuit are reset.

【0008】またアナログ検出信号を入力する微分回路
と、この微分出力信号を高速でAD変換する第1のAD
変換器と変換されたディジタル信号をアナログ変換する
DA変換器とこのディジタル出力信号と前記微分出力信
号との差を増幅する差動増幅器とこの出力信号をAD変
換する第2のAD変換器と前記第1および第2のAD変
換器の出力信号を組み合わせてAD変換結果を出力する
AD変換出力回路からなる高速・高精度AD変換装置
と、この出力のディジタル信号を波形整形する演算回路
と、この演算処理結果を保存すると共にデータ保存終了
信号出力するメモリー回路と、データ保存終了信号によ
って作動するリセット回路と、リセット回路からのリセ
ット信号により前記微分回路、高速・高精度AD変換装
置および演算回路をリセットすることを特徴とする。
A differentiating circuit for inputting an analog detection signal and a first AD for converting the differential output signal at a high speed.
A converter, a D / A converter for converting the converted digital signal into an analog signal, a differential amplifier for amplifying a difference between the digital output signal and the differential output signal, a second A / D converter for performing an A / D conversion of the output signal, and A high-speed and high-precision AD converter comprising an AD conversion output circuit for outputting an AD conversion result by combining output signals of the first and second AD converters; an arithmetic circuit for waveform shaping the digital signal of the output; A memory circuit for storing the operation processing result and outputting a data storage end signal, a reset circuit operated by the data storage end signal, and a differential circuit, a high-speed and high-precision AD converter and an arithmetic circuit, It is characterized by resetting.

【0009】なお、前記高速・高精度AD変換装置が、
微分回路からの微分出力信号と差動増幅器の出力信号と
を切替える切換スイッチと、低いビット精度で高速のA
D変換器と、変換されたディジタル信号をアナログ変換
するDA変換器と、前記微分出力信号をアナログ的にホ
ールドするホールド回路と、前記DA変換器の出力信号
とホールド回路の出力信号の差を増幅する差動増幅器
と、前記AD変換器の出力信号を入力して変換結果を処
理するAD変換出力回路からなることを特徴とする。
The high-speed and high-precision AD converter is
A changeover switch for switching between a differential output signal from a differentiating circuit and an output signal of a differential amplifier;
A D converter, a D / A converter for converting the converted digital signal into an analog signal, a hold circuit for holding the differential output signal in an analog manner, and amplifying a difference between an output signal of the D / A converter and an output signal of the hold circuit. And an AD conversion output circuit that receives the output signal of the AD converter and processes the conversion result.

【0010】[0010]

【作用】第1の発明では、検出器から入力されたアナロ
グ信号は微分回路で微分し、加算回路において例えばラ
ンプ状のアナログ補正信号が加えられる。この加算信号
はAD変換回路でディジタル変換されると共に、さらに
演算回路にて波形整形され、この演算処理結果はメモリ
ー回路に保存される。
According to the first aspect of the invention, the analog signal input from the detector is differentiated by the differentiating circuit, and the adding circuit adds, for example, a ramp-shaped analog correction signal. The addition signal is digitally converted by the AD conversion circuit, and further subjected to waveform shaping by the arithmetic circuit, and the arithmetic processing result is stored in the memory circuit.

【0011】メモリー回路ではデータ保存終了に伴い、
データ保存終了信号をリセット回路に発して、リセット
回路からはリセット信号が前記微分回路、AD変換回路
および演算回路に伝達されて、これらをリセットをする
ことにより、次の入力信号に対する検出態勢が整う。こ
れにより入力されたアナログ信号はビット精度の低いA
D変換回路を使用しても高速・高精度の演算処理結果が
得られる。
In the memory circuit, with the end of data storage,
A data storage end signal is issued to the reset circuit, and a reset signal is transmitted from the reset circuit to the differentiating circuit, the AD conversion circuit, and the arithmetic circuit. By resetting these signals, a detection state for the next input signal is prepared. . As a result, the input analog signal becomes A with low bit precision.
Even if a D conversion circuit is used, high-speed and high-precision arithmetic processing results can be obtained.

【0012】第2の発明では、検出器から入力されたア
ナログ信号は微分回路で微分し、高速・高精度AD変換
装置の第1のAD変換器でディジタル変換すると共に、
DA変換器によりアナログ変換される。このアナログ出
力信号と前記微分回路からの微分出力信号との差が差動
増幅器により算出される。
In the second invention, the analog signal input from the detector is differentiated by a differentiating circuit, and is digitally converted by a first AD converter of a high-speed and high-precision AD converter.
The analog signal is converted by a DA converter. The difference between the analog output signal and the differential output signal from the differentiating circuit is calculated by the differential amplifier.

【0013】差動増幅器の出力信号は第2のAD変換器
でディジタル変換された上、このディジタル出力と前記
第1のAD変換器からのディジタル出力をAD変換出力
回路で組み合わせ演算回路に出力される。さらに、この
ディジタル変換結果は演算回路にて波形整形して、この
演算処理結果をメモリー回路に保存する。
The output signal of the differential amplifier is digitally converted by a second AD converter, and the digital output and the digital output from the first AD converter are combined by an AD conversion output circuit and output to an arithmetic operation circuit. You. Further, the digital conversion result is waveform-shaped by an arithmetic circuit, and the arithmetic processing result is stored in a memory circuit.

【0014】メモリー回路ではデータ保存終了に伴い、
データ保存終了信号をリセット回路に発し、リセット回
路はリセット信号を前記微分回路、高速・高精度AD変
換装置および演算回路に伝達して、これらをリセットを
することにより、次の入力信号に対する検出態勢を整え
ると共に、入力されたアナログ信号はビット精度の低い
AD変換回路を使用しても高速・高精度の演算処理結果
が得られる。
In the memory circuit, with the end of data storage,
A reset signal is sent to the reset circuit, and the reset circuit transmits the reset signal to the differentiating circuit, the high-speed and high-precision AD converter, and the arithmetic circuit, and resets them to detect the next input signal. In addition, the input analog signal can obtain a high-speed and high-precision arithmetic processing result even if an AD conversion circuit with low bit precision is used.

【0015】[0015]

【実施例】本発明の一実施例を図面を参照して説明す
る。なお上記した従来技術と同じ構成部分については同
一符号を付して詳細な説明を省略する。第1の発明は、
図1のブロック構成図に示すように、放射線検出器1か
ら入力されるアナログ信号2は微分回路7を経由して微
分信号8になる。なお、立上がり時間の遅い検出器から
のアナログ信号2に対しても、精度良く測定するために
は微分回路7の時定数をある程度長くする必要がある。
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same components as those of the above-described conventional technology are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The first invention is
As shown in the block diagram of FIG. 1, the analog signal 2 input from the radiation detector 1 becomes a differential signal 8 via a differentiating circuit 7. The time constant of the differentiating circuit 7 needs to be increased to some extent in order to accurately measure the analog signal 2 from the detector having a slow rise time.

【0016】加算回路9は微分信号8にアナログ補正信
号10を加算し、この加算信号11はAD変換器12によりデ
ィジタル変換する。ここで変換されたディジタル信号13
に対し演算回路14は演算処理を施こし、出力された演算
処理結果15は、その演算処理結果15に相当したメモリー
回路16のメモリー位置に保存される。
An addition circuit 9 adds an analog correction signal 10 to the differential signal 8, and the addition signal 11 is digitally converted by an AD converter 12. The digital signal 13 converted here
The arithmetic circuit 14 performs arithmetic processing, and the output arithmetic processing result 15 is stored in a memory location of the memory circuit 16 corresponding to the arithmetic processing result 15.

【0017】このメモリー回路16によるデータ保存が終
了すると、メモリー回路16は直ちにメモリー終了信号17
を出力する。リセット回路18はメモリー終了信号17で駆
動され、リセット信号19として時間tの間パルス信号を
発生させる。このリセット信号19により前記AD変換器
12、および演算回路14のディジタル値をリセットすると
共に、微分回路7に接続されたリセット用リレー20を閉
じて微分回路7をリセットするように構成されている。
When data storage by the memory circuit 16 is completed, the memory circuit 16 immediately outputs a memory end signal 17
Is output. The reset circuit 18 is driven by the memory end signal 17 and generates a pulse signal as the reset signal 19 for a time t. The reset signal 19 causes the A / D converter
12 and the digital value of the arithmetic circuit 14 are reset, and the resetting relay 20 connected to the differentiating circuit 7 is closed to reset the differentiating circuit 7.

【0018】また図3は前記微分回路7と加算回路9の
詳細を示す回路構成図で、微分回路7ではアナログ信号
2は、微分用コンデンサ21と微分用抵抗22とで定まる時
定数で微分され、これを入力した演算増幅器23の出力に
は前記アナログ信号2の微分信号8が発生する。
FIG. 3 is a circuit diagram showing details of the differentiating circuit 7 and the adding circuit 9. In the differentiating circuit 7, the analog signal 2 is differentiated by a time constant determined by a differentiating capacitor 21 and a differentiating resistor 22. The differential signal 8 of the analog signal 2 is generated at the output of the operational amplifier 23 to which this is input.

【0019】立上りの遅い検出器信号に対しても精度良
く測定するため、解析時間内で微分信号8が平坦になる
程度の十分長い微分の時定数(微分用コンデンサ21の値
×微分用抵抗22の値)を持つように設定している。な
お、この場合の微分のゲインは(帰還抵抗24の値)/
(微分用抵抗22の値)で与えられる。またリセット用リ
レー20にはリセット用抵抗25が接続されている。
In order to accurately measure a detector signal having a slow rise, the time constant of the differentiation (the value of the differentiation capacitor 21 × the resistance of the differentiation resistor 22) is sufficiently long that the differentiation signal 8 becomes flat within the analysis time. Value). In this case, the differential gain is (value of feedback resistor 24) /
(The value of the differential resistor 22). A reset resistor 25 is connected to the reset relay 20.

【0020】加算回路9は微分信号8とアナログ補正信
号10を加算する演算増幅器26と抵抗27,28,29により構
成されていて、入力された微分信号8とアナログ補正信
号10は加算されて加算信号11は、8ビット程度の低いビ
ット精度で高速のAD変換器12によりディジタル信号13
に変換される。
The adder circuit 9 comprises an operational amplifier 26 for adding the differential signal 8 and the analog correction signal 10 and resistors 27, 28 and 29. The differential signal 8 and the analog correction signal 10 which are input are added and added. The signal 11 is converted into a digital signal 13 by a high-speed AD converter 12 with a low bit accuracy of about 8 bits.
Is converted to

【0021】AD変換器12の後段には変換して得られた
ディジタル値に対して演算処理を行うための演算回路14
が接続されている。この演算回路14は積分機能を持った
ディジタル・フィルタからなり、ディジタル信号13を波
形整形して時間積分した演算処理結果15はメモリー回路
16に保存する。
An arithmetic circuit 14 for performing arithmetic processing on the digital value obtained by the conversion is provided at the subsequent stage of the AD converter 12.
Is connected. The arithmetic circuit 14 comprises a digital filter having an integrating function. The arithmetic processing result 15 obtained by shaping the waveform of the digital signal 13 and integrating over time is used as a memory circuit.
Save to 16.

【0022】演算回路14の出力信号がメモリー回路16に
保存されれば、与えられたある1個の入力信号のデータ
測定は終了するので、この時のメモリー終了信号17によ
りリセット回路18を作動させて、その出力としてパルス
期間tのリセット信号19を発生させ、このリセット信号
19によりAD変換器12と演算回路14をディジタル的にリ
セットさせる。
When the output signal of the arithmetic circuit 14 is stored in the memory circuit 16, the data measurement of one given input signal is completed. Therefore, the reset circuit 18 is operated by the memory end signal 17 at this time. Then, a reset signal 19 for a pulse period t is generated as an output,
At 19, the AD converter 12 and the arithmetic circuit 14 are digitally reset.

【0023】これと同時にリセット信号19はアナログ作
動している微分回路7に設けられたリセット用リレー20
を駆動し、リセット用抵抗25を通じて微分用コンデンサ
21を短時間のうちに充電させることによって微分信号8
をリセットするように構成されている。
At the same time, a reset signal 19 is output from a reset relay 20 provided in the differentiating circuit 7 operating in analog.
And a differentiation capacitor through a reset resistor 25
The differential signal 8 is obtained by charging 21 in a short time.
Is configured to reset.

【0024】また微分用コンデンサ21を短時間のうちに
充電させて微分信号8をリセットするためには、(微分
用コンデンサ21の値)×(リセット用抵抗25の値)のリ
セット時定数が(微分用コンデンサ21の値)×(微分用
抵抗22の値)の微分時定数に比べて十分小さくなるよう
にリセット用抵抗25を設定する。
To reset the differentiation signal 8 by charging the differentiation capacitor 21 in a short time, the reset time constant of (value of the differentiation capacitor 21) × (value of the reset resistor 25) is set to ( The reset resistor 25 is set so as to be sufficiently smaller than the differentiation time constant of (the value of the differentiation capacitor 21) × (the value of the differentiation resistor 22).

【0025】なお、上記図3における微分回路7は演算
増幅器23によるものを示したが、図4の回路図に示すC
−Rによる微分回路としても同様の作用が得られる。こ
の場合には微分用コンデンサ30と微分用抵抗31で微分し
て微分信号8を発生させる。リセット用リレー20はリセ
ット用抵抗32と直列に挿入しており、リセットの時定数
は(微分用コンデンサ30の値)×(リセット用抵抗32の
値)で与えられ、この時定数を十分小さくなるようにリ
セット用抵抗32を設定する。
Although the differentiating circuit 7 shown in FIG. 3 is based on the operational amplifier 23, the C circuit shown in the circuit diagram of FIG.
The same operation can be obtained as a differentiating circuit using -R. In this case, the differential signal 8 is generated by differentiating the differential capacitor 30 and the differential resistor 31. The reset relay 20 is inserted in series with the reset resistor 32, and the reset time constant is given by (the value of the differential capacitor 30) × (the value of the reset resistor 32), and this time constant becomes sufficiently small. The reset resistor 32 as described above.

【0026】次に上記構成による作用について説明す
る。先ず本第1の発明の第1番目の特長であるAD変換
については、図5の特性図に示すように、微分出力信号
8が低いビット精度のAD変換器12によるディジタル値
の範囲「L,L+1」にあるとすると、加算回路9にお
いて補正信号10がない場合には、この範囲「L,L+
1」内で微分出力信号8の波形が変化していてもAD変
換器12の出力のディジタル値には影響しない。
Next, the operation of the above configuration will be described. First, regarding the A / D conversion which is the first feature of the first invention, as shown in the characteristic diagram of FIG. 5, the differential output signal 8 has a digital value range "L, L + 1 ", if there is no correction signal 10 in the adder circuit 9, this range" L, L +
Even if the waveform of the differential output signal 8 changes within "1", it does not affect the digital value of the output of the AD converter 12.

【0027】従って、微分信号8は変化していないにも
かかわらず得られたディジタル変換値に対する演算結果
は常に同じ値となる。なお、範囲「L,L+1」はAD
変換器12がディジタル化できる最小の区間であり、これ
を1LSB (最下位ビット)と呼ぶ。
Therefore, even though the differential signal 8 has not changed, the result of the operation on the digital conversion value obtained always has the same value. Note that the range “L, L + 1” corresponds to AD
This is the minimum section that the converter 12 can digitize, and is called 1 LSB (least significant bit).

【0028】これに対して本発明においては、上記図1
に示すように微分信号8にアナログ補正信号10を加える
ことによってAD変換精度を向上させている。すなわ
ち、補正信号10の一例として図6の補正信号特性図に示
すように、演算回路14での解析時間Tで0から1LSB に
達するランプ状の補正信号33がある。
On the other hand, in the present invention, FIG.
As shown in (1), by adding the analog correction signal 10 to the differential signal 8, the AD conversion accuracy is improved. That is, as an example of the correction signal 10, as shown in the correction signal characteristic diagram of FIG. 6, there is a ramp-shaped correction signal 33 which reaches 0 to 1 LSB in the analysis time T in the arithmetic circuit 14.

【0029】図7の特性図はランプ状の補正信号33を印
加した場合の加算回路9からの加算信号11の波形を示し
たもので、図7(a)は微分信号34がLを僅かに越えた
低い電圧の場合を、また図7(b)は微分信号35が(L
+1)より僅かに小さい電圧の場合を示している。
The characteristic diagram of FIG. 7 shows the waveform of the addition signal 11 from the addition circuit 9 when the ramp-shaped correction signal 33 is applied. FIG. FIG. 7B shows a case where the differential signal 35 is (L)
The case of a voltage slightly smaller than +1) is shown.

【0030】補正信号33が無い場合は、図7(a),
(b)共にAD変換値はLであり、これをT時間積算し
ても両者の値は同じである。しかしながら、ランプ状の
補正信号33が加わると、図7(a)の場合にはt1 時間
以降では(L+1)のレベルを越えて、斜線で示す領域
36になる。
When there is no correction signal 33, FIG.
(B) In both cases, the AD conversion value is L, and even if this is integrated for T time, both values are the same. However, when the ramp correction signal 33 is applied, in the t 1 hour later case of FIG. 7 (a) beyond the level of the (L + 1), shown by the shaded area
It becomes 36.

【0031】他方、図7(b)の場合には、図7(a)
よりかなり早いt2 時間以降で(L+1)を越えて領域
36に入る。従って、時間0からTの間のディジタル値を
積算すれば、たとえ微分出力信号8が範囲「L,L+
1」にあっても、電圧の大小によりAD変換器12の変換
値が(L+1)を越える時間が変化するので、演算結果
のビット精度を向上させることができる。
On the other hand, in the case of FIG.
Area beyond the more fairly early t 2 hours later (L + 1)
Enter 36. Therefore, if the digital values from time 0 to time T are integrated, even if the differential output signal 8 is in the range “L, L +
Even if the value is "1", the time during which the converted value of the AD converter 12 exceeds (L + 1) changes depending on the magnitude of the voltage, so that the bit precision of the operation result can be improved.

【0032】次に第2番目の特長であるリセット信号の
動作について説明する。上記図1においてAD変換器12
からのディジタル信号13は演算回路14に加えられ、演算
回路14はディジタル・フィルタで構成されており、AD
変換結果を積分する要素を含んでいる。
Next, the operation of the reset signal, which is the second feature, will be described. In FIG. 1, the AD converter 12
Is applied to an arithmetic circuit 14, and the arithmetic circuit 14 is constituted by a digital filter.
Contains an element that integrates the conversion result.

【0033】従って、演算回路14での積分操作による演
算処理結果15が終了し、このデータをメモリー回路16に
保存をすれば、放射線検出器1から与えられた入力信号
の情報は不必要となるため、リセット回路18を作動させ
てリセット信号19を発生させる。
Therefore, if the result of the arithmetic processing 15 by the integration operation in the arithmetic circuit 14 is completed and this data is stored in the memory circuit 16, the information of the input signal given from the radiation detector 1 becomes unnecessary. Therefore, the reset signal 18 is generated by operating the reset circuit 18.

【0034】このリセット信号19はパルス幅tのパルス
信号であり、このパルス信号を用いて微分回路7に挿入
されたリセット用リレー20を駆動すると共に、AD変換
器12および演算回路14のディジタル回路をリセットし
て、次の入力信号を測定できる態勢を整える。
The reset signal 19 is a pulse signal having a pulse width t. The reset signal 20 is used to drive the reset relay 20 inserted in the differentiating circuit 7 and to use the digital circuit of the AD converter 12 and the arithmetic circuit 14. Reset so that the next input signal can be measured.

【0035】図8のリセット特性図は、(a)がリセッ
トを行わない場合を、(b)はリセット信号19が有る場
合で、夫々微分回路7の微分出力信号8と、AD変換器
12のディジタル信号13、および演算回路14からの演算処
理結果15の時間的な変化を例示したものである。
The reset characteristic diagram of FIG. 8 shows the case where (a) does not perform resetting, and (b) shows the case where there is a reset signal 19. The differential output signal 8 of the differentiating circuit 7 and the AD converter are respectively shown.
12 illustrates a temporal change of 12 digital signals 13 and an arithmetic processing result 15 from an arithmetic circuit 14.

【0036】図8(a)のリセットを行わない場合の微
分回路7の微分出力信号8は急激に立ち上がり、放射線
検出器1からの遅い立ち上がりのアナログ信号2に対し
ても精度良く測定するために長い時定数で微分してお
り、そのため微分出力信号8は極めてゆっくりと低下す
る。この微分出力信号8は加算回路9で補正信号10が加
算された後に、AD変換器12でディジタル信号13に変換
される。
The differential output signal 8 of the differentiating circuit 7 when resetting is not performed as shown in FIG. 8 (a) rises sharply, and it is necessary to accurately measure even the slowly rising analog signal 2 from the radiation detector 1. Differentiating with a long time constant, the differential output signal 8 drops very slowly. The differential output signal 8 is converted into a digital signal 13 by the AD converter 12 after the correction signal 10 is added by the adding circuit 9.

【0037】AD変換器12からの出力のディジタル信号
13は、ディジタル・フィルタを構成する演算回路14で整
形されて演算処理結果15が発生する。このようにリセッ
トを行わない場合には、大きな微分時定数のために十分
に時間が経過し、微分出力信号8が所定の電圧に戻る前
に次の微分出力信号8が加わると、微分出力信号8を正
しく測定できない恐れがある。
Digital signal output from AD converter 12
13 is shaped by an arithmetic circuit 14 constituting a digital filter, and an arithmetic processing result 15 is generated. In the case where the reset is not performed in this way, if a sufficient time elapses due to a large differential time constant and the next differential output signal 8 is added before the differential output signal 8 returns to a predetermined voltage, the differential output signal 8 8 may not be measured correctly.

【0038】これに対して図8(b)に示すようにリセ
ット信号19によりリセットをする場合には、リセット信
号19の印加前には微分回路7の微分出力信号8、AD変
換器12の出力であるディジタル信号13、ならびに演算回
路14からの演算処理結果15の発生は、図8(a)の場合
と同様であるが、メモリー回路16にデータが保存されれ
ば、微分出力信号8は不必要となる。
On the other hand, when resetting is performed by the reset signal 19 as shown in FIG. 8B, the differential output signal 8 of the differentiating circuit 7 and the output of the AD converter 12 are output before the reset signal 19 is applied. The generation of the digital signal 13 and the arithmetic processing result 15 from the arithmetic circuit 14 is the same as that in the case of FIG. 8A, but if the data is stored in the memory circuit 16, the differential output signal 8 is not Required.

【0039】そこでリセット回路18より、t時間だけパ
ルス状のリセット信号19を発生させて、AD変換器12の
ディジタル信号13、演算回路14の演算処理結果15をリセ
ットさせると共に、図3に示したリセット用リレー20を
閉じて、微分回路7を構成する微分用コンデンサ21を充
電することにより微分出力信号8をゼロにする。従っ
て、リセット信号19印加後に次の信号が入ってきても正
しく測定することが可能となる。
Therefore, the reset circuit 18 generates a pulse-shaped reset signal 19 for a time t to reset the digital signal 13 of the A / D converter 12 and the operation processing result 15 of the operation circuit 14 as shown in FIG. The differential output signal 8 is set to zero by closing the reset relay 20 and charging the differential capacitor 21 constituting the differentiating circuit 7. Therefore, even if the next signal comes in after the reset signal 19 is applied, the measurement can be performed correctly.

【0040】さらに、本第1の発明の主要部分である補
正信号による高速・高精度AD変換と、微分回路、AD
変換器、演算回路の高速リセットに分けて説明する。図
9の特性図は8ビット高速AD変換器使用時の変換精度
で、(a)は微分信号、(b)は微分信号に対するディ
ジタル積分値を示す。
Further, high-speed and high-precision AD conversion using a correction signal, which is a main part of the first invention, a differentiating circuit,
The converter and the high-speed reset of the arithmetic circuit will be described separately. The characteristic diagram of FIG. 9 shows the conversion accuracy when the 8-bit high-speed AD converter is used. FIG. 9A shows the differential signal, and FIG. 9B shows the digital integrated value for the differential signal.

【0041】図9(a)では微分の時定数が十分長いた
めに、時間的に変化の少ない微分信号34が、8ビットの
高速AD変換器によるディジタル変換値の範囲[L,L
+1]にあるとすると、補正信号がなければ入力電圧の
値がこの範囲の下限から上限まで変化してもディジタル
変換結果は変わらない。
In FIG. 9A, since the time constant of the differentiation is sufficiently long, the differentiated signal 34 having little change over time is converted into the range [L, L] of the digital conversion value by the 8-bit high-speed AD converter.
+1], if there is no correction signal, the digital conversion result does not change even if the value of the input voltage changes from the lower limit to the upper limit of this range.

【0042】また図9(b)に示すようにAD変換の後
のディジタル演算処理として区間[0,128 ]の 128点
の積分を考える。補正信号がないとすると微分信号34を
範囲[L,L+1]で連続的に変化させた場合の真の積
分値37は、直線の様に[L×128 〜(L+1)×128 ]
の範囲で連続的に変化するはずである。
As shown in FIG. 9B, as a digital operation process after AD conversion, integration of 128 points in the section [0,128] is considered. Assuming that there is no correction signal, the true integral value 37 when the differential signal 34 is continuously changed in the range [L, L + 1] is represented by a straight line [L × 128 to (L + 1) × 128].
It should change continuously within the range.

【0043】しかし、微分信号34の積分をディジタル演
算で求めると、微分信号34が範囲[L,L+1]の1LS
B (最下位ビット)以内で連続的に変化しても、ディジ
タル変換値はL以外の値にならないめ積分結果がL×12
8 となる。同様に微分信号34が範囲[L+1,L+2]
で連続的に変化した場合でも、ディジタル積分結果は
(L+1)×128 となる。
However, when the integral of the differential signal 34 is obtained by digital operation, the differential signal 34 is 1LS in the range [L, L + 1].
Even if it changes continuously within B (least significant bit), the digital conversion value does not become a value other than L.
It becomes 8. Similarly, the differential signal 34 is in the range [L + 1, L + 2].
, The digital integration result is (L + 1) × 128.

【0044】すなわち、8ビット精度のAD変換器を使
用してディジタル化した値を積分する場合に、積分信号
37が連続的に変化しても、ディジタル積分結果は連続的
な値ではなく離散的な8ビット精度の値となる。
That is, when integrating a digitized value using an 8-bit precision AD converter, an integrated signal
Even if 37 changes continuously, the digital integration result is not a continuous value but a discrete 8-bit precision value.

【0045】しかしながら、上記図6に示したように微
分出力信号8に加算回路9においてランプ状の補正信号
33を印加すると、ランプ補正信号33の振幅が区間[0,
128]において使用しているAD変換器の1LSB になる
ように調整されていれば、図7で説明したように微分信
号34が範囲[L,L+1]にあったとしても、ディジタ
ル積分結果は微分信号の大きさによって変化する。
However, as shown in FIG. 6, a ramp-shaped correction signal is added to the differential output signal 8 by an adder 9.
When 33 is applied, the amplitude of the ramp correction signal 33 changes in the section [0,
128], the digital integration result is differentiated even if the differential signal 34 is in the range [L, L + 1] as described with reference to FIG. It changes according to the magnitude of the signal.

【0046】図10の特性図は、微分信号が範囲[L,L
+1]の間で変化した場合に対する微分信号レベルに対
するディジタル積算値の関係を示したもので、積分値は
微分信号レベルに比例する。従って、積分値から微分信
号レベルを求めることができるので、補正後の加算信号
をディジタル変換した後に区間[0,128 ]でディジタ
ル積分すると、加えた補正信号38の効果でディジタル変
換値は変化し、ビット精度を向上させることができる。
The characteristic diagram of FIG. 10 shows that the differential signal is in the range [L, L
+1] shows the relationship between the digital integrated value and the differentiated signal level for the case where the value changes between +1] and the integral value is proportional to the differentiated signal level. Therefore, since the differential signal level can be obtained from the integrated value, if the added signal after correction is digitally converted and then digitally integrated in the section [0,128], the digital conversion value changes due to the effect of the added correction signal 38. , The bit precision can be improved.

【0047】すなわち、演算結果のビット精度は、積分
区間の長さである、ディジタル値の加算回数と補正信号
38の傾きにより決めることができるため、8ビットのA
D変換器を使用しているにもかかわらず、8ビット精度
以上に演算精度を向上することができる。なお、図11の
補正信号特性図に示すように、補正信号として図11
(a)鋸歯状波39、あるいは(b)三角波40を使用する
こともできる。
That is, the bit precision of the operation result is the length of the integration interval, the number of additions of the digital value, and the correction signal.
Because it can be determined by the slope of 38, 8-bit A
Despite the use of the D converter, the calculation accuracy can be improved to 8-bit accuracy or more. Note that, as shown in the correction signal characteristic diagram of FIG.
(A) a sawtooth wave 39 or (b) a triangular wave 40 can also be used.

【0048】次に、リセット信号19の作用について説明
する。図3における演算回路14の出力である演算処理結
果15のメモリー回路16へのデータ保存終了後に、リセッ
ト回路18よりパルス状のリセット信号19が発生して、A
D変換器12と演算回路14をディジタル的にリセットす
る。これと同時にリセット信号19はアナログ的な微分回
路7に挿入されたリセット用リレー20を作動させて、微
分用コンデンサ21を短時間の内に充電させる。
Next, the operation of the reset signal 19 will be described. After the operation processing result 15 output from the arithmetic circuit 14 in FIG. 3 has been stored in the memory circuit 16, a pulse-like reset signal 19 is generated from the reset circuit 18.
The D converter 12 and the arithmetic circuit 14 are digitally reset. At the same time, the reset signal 19 activates the reset relay 20 inserted in the analog differentiating circuit 7 to charge the differentiating capacitor 21 within a short time.

【0049】従って、リセット用抵抗25の値は微分用コ
ンデンサ21を短時間に充電できるように微分用抵抗22の
値に比べて十分小さくする必要がある。微分回路7にお
けるリセット信号19の動作状況と微分出力信号8の時間
的なふるまいについては既に図8に示した通りである。
なお、リセット用リレー20については数マイクロ秒程度
で作動する必要があるので、半導体スイッチの採用が望
ましい。
Therefore, the value of the resetting resistor 25 needs to be sufficiently smaller than the value of the differentiating resistor 22 so that the differentiating capacitor 21 can be charged in a short time. The operation status of the reset signal 19 in the differentiating circuit 7 and the temporal behavior of the differential output signal 8 are as shown in FIG.
Since the reset relay 20 needs to operate in about several microseconds, it is desirable to use a semiconductor switch.

【0050】この第1の発明によれば、従来、放射線検
出器1等からのアナログ信号2を、補正信号なしに低い
ビット精度(例えば8ビット)のAD変換器によりディ
ジタル値へ変換をしても、ディジタル積分演算処理を施
した場合に得られるディジタル値は8ビット精度の離散
的な値となるが、ランプ状等の補正信号10を加算するこ
とにより、8ビット精度以上のディジタル積分演算結果
を得ることができ、且つデータ保存後に微分回路7、A
D変換器12、演算回路14をリセットすることによって高
速で高精度のディジタル信号処理が可能となり、放射線
検出の精度が大幅に向上する。
According to the first invention, conventionally, the analog signal 2 from the radiation detector 1 or the like is converted into a digital value by an AD converter having a low bit precision (for example, 8 bits) without a correction signal. Also, the digital value obtained when the digital integration operation processing is performed is a discrete value of 8-bit accuracy, but the digital integration operation result of 8-bit accuracy or more can be obtained by adding the correction signal 10 such as a ramp. , And after the data is stored, the differentiating circuit 7, A
By resetting the D converter 12 and the arithmetic circuit 14, high-speed and high-accuracy digital signal processing becomes possible, and the accuracy of radiation detection is greatly improved.

【0051】本発明の第2の発明は、図2のブロック構
成図に示すように、放射線検出器1からのアナログ信号
2は微分回路7に入力して微分出力信号8を出力する。
立ち上がり時間の遅い検出器からの入力信号に対しても
精度良く測定するためには、微分回路7の時定数をある
程度長くする必要がある。
According to the second aspect of the present invention, as shown in the block diagram of FIG. 2, the analog signal 2 from the radiation detector 1 is input to a differentiating circuit 7 to output a differential output signal 8.
To accurately measure an input signal from a detector having a slow rise time, the time constant of the differentiating circuit 7 needs to be increased to some extent.

【0052】微分回路7からの微分出力信号8は低いビ
ット精度ではあるが、高速のAD変換回路、DA変換回
路、差動増幅器およびAD変換出力回路からなる高速・
高精度AD変換装置41に加えられ、ここで微分出力信号
8を数n秒程度で12ビット以上の精度でディジタル信号
42に変換する。
Although the differential output signal 8 from the differentiating circuit 7 has a low bit precision, it has a high-speed AD conversion circuit, a DA conversion circuit, a differential amplifier and an AD conversion output circuit.
The differential output signal 8 is applied to a high-precision A / D converter 41 to convert the differential output signal 8 into a digital signal with an accuracy of 12 bits or more in about several seconds.
Convert to 42.

【0053】変換されたディジタル値に対し演算回路14
により演算処理を施こして、演算処理結果15を出力し、
その出力に相当したメモリー回路16のメモリー位置にそ
の演算処理結果15を保存する。メモリー回路16はメモリ
ー保存が終了すると直ちにメモリー終了信号17を発して
リセット回路18を駆動し、リセット信号19として時間t
の間パルス信号を発生させる。
An arithmetic circuit 14 converts the converted digital value.
To perform the arithmetic processing, and output the arithmetic processing result 15,
The arithmetic processing result 15 is stored in the memory location of the memory circuit 16 corresponding to the output. The memory circuit 16 issues a memory end signal 17 immediately after the storage of the memory is completed, drives the reset circuit 18, and outputs the reset signal 19 at time t.
During this time, a pulse signal is generated.

【0054】このリセット信号19は、高速・高精度AD
変換装置41、演算回路14のディジタル値をリセットする
と共に、アナログ微分回路7に挿入されたリセット用リ
レー20を作動させるように構成されている。
The reset signal 19 is a high-speed and high-precision AD signal.
The converter 41 is configured to reset the digital value of the arithmetic circuit 14 and to operate the reset relay 20 inserted in the analog differentiating circuit 7.

【0055】また図12は前記微分回路7と高速・高精度
AD変換装置41の詳細を示す回路構成図で、放射線検出
器1からのアナログ信号2は微分回路7に入力されて微
分出力信号8を出力する。なお、立ち上がり時間の遅い
検出器からの入力信号に対しても精度良く測定するため
には、微分回路7の時定数をある程度長くする必要があ
る。
FIG. 12 is a circuit diagram showing the details of the differentiating circuit 7 and the high-speed / high-precision AD converter 41. The analog signal 2 from the radiation detector 1 is input to the differentiating circuit 7 and the differential output signal 8 Is output. In order to accurately measure an input signal from a detector having a slow rise time, it is necessary to increase the time constant of the differentiating circuit 7 to some extent.

【0056】微分回路7からの微分出力信号8は低いビ
ット精度ではあるが、高速のAD変換回路、DA変換回
路、差動増幅器およびAD変換出力回路からなる高速・
高精度AD変換装置41に加えられ、ここで微分出力信号
8を数n秒程度で12ビット以上の精度でディジタル信号
42に変換する。
The differential output signal 8 from the differentiating circuit 7 has a low bit precision, but has a high-speed A / D conversion circuit, a D / A conversion circuit, a differential amplifier and an A / D conversion output circuit.
The differential output signal 8 is applied to a high-precision A / D converter 41, which converts the differential output signal 8 into digital
Convert to 42.

【0057】変換されたディジタル値に対し演算回路14
により演算処理を施こして、演算処理結果15を出力し、
その出力に相当したメモリー回路16のメモリー位置に、
演算処理結果15を保存する。メモリー回路16はメモリー
保存が終了すると直ちにメモリー終了信号17を発してリ
セット回路18を駆動し、リセット信号19として時間tの
間パルス信号を発生させる。
An operation circuit 14 converts the converted digital value.
To perform the arithmetic processing, and output the arithmetic processing result 15,
In the memory location of the memory circuit 16 corresponding to the output,
The calculation processing result 15 is stored. Immediately after the memory storage is completed, the memory circuit 16 issues a memory end signal 17 to drive the reset circuit 18, and generates a pulse signal as the reset signal 19 for a time t.

【0058】このリセット信号19により、高速・高精度
AD変換装置41、演算回路14のディジタル値をリセット
すると共に、アナログ微分回路7に挿入されたリセット
用リレー20を作動させ、微分用コンデンサ21を短時間の
内に充電させ、微分回路7の微分出力信号8をリセット
するように構成されている。
The reset signal 19 resets the digital values of the high-speed and high-precision AD converter 41 and the arithmetic circuit 14, and activates the reset relay 20 inserted in the analog differentiating circuit 7 to change the differential capacitor 21. It is configured to charge the battery within a short time and reset the differential output signal 8 of the differentiating circuit 7.

【0059】また放射線検出器1からのアナログ信号2
は微分回路7の微分用コンデンサ21と微分用抵抗22とで
定まる時定数で微分され、演算増幅器23の出力にはアナ
ログ入力信号2の微分出力信号8が発生する。
The analog signal 2 from the radiation detector 1
Is differentiated by a time constant determined by a differentiating capacitor 21 and a differentiating resistor 22 of the differentiating circuit 7, and a differential output signal 8 of the analog input signal 2 is generated at the output of the operational amplifier 23.

【0060】立上りの遅い検出器信号に対しても精度良
く測定するために、解析時間内で微分出力信号8が平坦
になる程度の十分長い微分の時定数(微分用コンデンサ
21の値×微分用抵抗22の値)を持つように設定する。こ
の場合の微分のゲインは(帰還抵抗24の値)/(微分用
抵抗22の値)で与えられる。
In order to accurately measure a detector signal having a slow rise, the time constant of the differentiation (differential capacitor) is sufficiently long that the differential output signal 8 becomes flat within the analysis time.
(Value of 21 × value of differential resistor 22). The differential gain in this case is given by (value of feedback resistor 24) / (value of differential resistor 22).

【0061】微分出力信号8は、第1のAD変換器a43
と、DA変換器44、差動増幅器45、第2のAD変換器b
46、およびAD変換出力回路47からなる高速・高精度A
D変換装置41によって高速・高精度でディジタル変換さ
れる。高速・高精度AD変換装置41からのディジタル信
号42は演算回路14によってディジタル的にフィルタリン
グされ、その出力の演算処理結果15をメモリー回路16に
保存する。
The differential output signal 8 is supplied to the first AD converter a43
And a DA converter 44, a differential amplifier 45, and a second AD converter b
High-speed and high-precision A consisting of 46 and AD conversion output circuit 47
The digital conversion is performed by the D conversion device 41 at high speed and high accuracy. The digital signal 42 from the high-speed and high-precision AD converter 41 is digitally filtered by the arithmetic circuit 14, and the arithmetic processing result 15 of the output is stored in the memory circuit 16.

【0062】メモリー回路16はデータの保存後に直ちに
メモリー終了信号17を出力し、リセット回路18を作動さ
せてリセット信号19を発生させる。リセット信号19は時
間tのパルス状になっており、このリセット信号19で微
分回路7に挿入されたリセット用リレー20を駆動して、
微分用コンデンサ21を短時間のうちに充電させると同時
に、第1のAD変換器a43、DA変換器44、および第2
のAD変換器b46をリセットさせて、次の入力信号に対
しても正常に測定ができる態勢とする構成としている。
The memory circuit 16 outputs a memory end signal 17 immediately after storing the data, and operates the reset circuit 18 to generate a reset signal 19. The reset signal 19 is in the form of a pulse of time t, and the reset signal 19 drives the reset relay 20 inserted in the differentiating circuit 7 to
At the same time as charging the differentiation capacitor 21 in a short time, the first AD converter a43, the DA converter 44, and the second
Is reset so that normal measurement can be performed for the next input signal.

【0063】図12において微分出力信号8は第1のAD
変換器a43に加えられ、Nビットの精度の第1のAD変
換器a43のディジタル出力48は、AD変換出力回路47に
出力されると共に、高速のDA変換器44に加えられる。
DA変換器44のアナログ出力49と前記微分出力信号8と
は差動増幅器45に入力され、この2つの信号のアナログ
出力49と微分出力信号8との差を増幅し、その出力信号
50を第2のAD変換器b46に与える。
In FIG. 12, the differential output signal 8 is the first AD
The digital output 48 of the first AD converter a43 having N-bit accuracy is output to the AD conversion output circuit 47 and is also applied to the high-speed DA converter 44.
The analog output 49 of the DA converter 44 and the differential output signal 8 are input to the differential amplifier 45, and the difference between the analog output 49 of the two signals and the differential output signal 8 is amplified.
50 is given to the second AD converter b46.

【0064】差動増幅器45と第2のAD変換器b46とを
組み合わせて第1のAD変換器a43の1LSB (最下位ビ
ット)をMビットの精度でAD変換する。従って第1の
AD変換器a43からのディジタル出力48(Nビット)を
上部ビット、第2のAD変換器b46からのディジタル出
力51(Mビット)を下部ビットとして、AD変換出力回
路47に加えれば、AD変換出力回路47からの出力には
(N+M)ビットのディジタル信号42が発生する。
The 1 LSB (least significant bit) of the first AD converter a43 is AD-converted with M-bit precision by combining the differential amplifier 45 and the second AD converter b46. Therefore, the digital output 48 (N bits) from the first AD converter a43 is set as the upper bit, and the digital output 51 (M bits) from the second AD converter b46 is set as the lower bit. , An (N + M) -bit digital signal 42 is generated at the output from the AD conversion output circuit 47.

【0065】なお、図12における微分回路7について
は、上記第1の発明と同様に、図4の微分回路図に示し
たC−Rによる微分回路としても同様の作用が得られ、
アナログ信号2を加えれば出力としてリセット処理でき
る微分出力信号8を得ることができる。この場合の微分
時定数は(微分用コンデンサ30の値)×(微分用抵抗31
の値)で、リセット用リレー20が作動した場合の時定数
は(微分用コンデンサ30の値)×(リセット用抵抗32の
値)となる。従って、リセット用抵抗32は微分用抵抗31
に比べて十分小さな値に設定する。
As for the differentiating circuit 7 in FIG. 12, the same operation can be obtained as the differentiating circuit by CR shown in the differential circuit diagram of FIG.
By adding the analog signal 2, a differential output signal 8 that can be reset as an output can be obtained. The differentiation time constant in this case is (value of differentiation capacitor 30) × (differential resistor 31)
), The time constant when the reset relay 20 is activated is (value of the differentiation capacitor 30) × (value of the reset resistor 32). Therefore, the reset resistor 32 is differentiating resistor 31
Set a sufficiently small value compared to.

【0066】次に上記構成による第2の発明の作用につ
いて、高速・高精度AD変換とリセット信号の2つに分
けて説明する。図13のブロック構成図は、高速・高精度
AD変換装置41の基本構成を示す。微分出力信号8はN
ビットの第1のAD変換器a43に加えられ、この第1の
AD変換器a43は高速処理の条件を満たすため8ビット
程度のAD変換精度とする。
Next, the operation of the second aspect of the present invention having the above-described configuration will be described by dividing the operation into high-speed and high-precision AD conversion and a reset signal. The block diagram of FIG. 13 shows the basic configuration of the high-speed / high-precision AD converter 41. The differential output signal 8 is N
The first A / D converter a43 has a precision of about 8 bits in order to satisfy the condition of high-speed processing.

【0067】第1のAD変換器a43のディジタル出力48
は高速のDA変換器44に加えられる。DA変換器44の出
力のアナログ信号49と微分出力信号8とは差動増幅器45
に加えられ、差動増幅器45は2つの信号の差を増幅し、
その出力信号50を第2のAD変換器b46に加える。
The digital output 48 of the first AD converter a43
Is applied to the high speed DA converter 44. The analog signal 49 output from the DA converter 44 and the differential output signal 8 are connected to a differential amplifier 45.
And a differential amplifier 45 amplifies the difference between the two signals,
The output signal 50 is applied to a second AD converter b46.

【0068】ここでは第1のAD変換器a43の1LSB
(最下位ビット)がMビットにAD変換されるように、
差動増幅器45と第2のAD変換器b46のゲインを調整す
る。これにより第1のAD変換器a43のディジタル出力
48(Nビット)を上部ビット、第2のAD変換器b46の
ディジタル出力51(Mビット)を下部ビットとして処理
すれば、(N+M)ビットのディジタル出力51が得られ
る。
Here, one LSB of the first AD converter a43 is used.
(Least Significant Bit) is AD-converted to M bits,
The gains of the differential amplifier 45 and the second AD converter b46 are adjusted. Thereby, the digital output of the first AD converter a43 is obtained.
If 48 (N bits) are processed as upper bits and the digital output 51 (M bits) of the second AD converter b46 is processed as lower bits, a (N + M) -bit digital output 51 is obtained.

【0069】図14の特性図は(a)が第1のAD変換器
a43、(b)が第2のAD変換器b46におけるAD変換
の状態を示したものである。図14(a)において、微分
出力信号8が第1のAD変換器a43により変換されるデ
ィジタル出力48の範囲「L,L+1」にあるとすると、
この範囲「L,L+1」内で微分出力信号8の波形が変
化していても、ディジタル出力48には影響しないので、
微分出力信号8の波形が変化しているにもかかわらず、
得られたディジタル値は常に同じ値となる。
In the characteristic diagram of FIG. 14, (a) shows the state of AD conversion in the first AD converter a43, and (b) shows the state of AD conversion in the second AD converter b46. In FIG. 14A, assuming that the differential output signal 8 is in the range "L, L + 1" of the digital output 48 converted by the first AD converter a43.
Even if the waveform of the differential output signal 8 changes within this range "L, L + 1", it does not affect the digital output 48.
Despite the change in the waveform of the differential output signal 8,
The obtained digital value is always the same value.

【0070】しかしながら、一旦、第1のAD変換器a
43で変換したディジタル信号48を、DA変換器44でディ
ジタル・アナログ変換すると共に、微分出力信号8との
差を差動増幅器45で増幅し、第2のAD変換器b46に加
えて、この第2のAD変換器b46では前記第1のAD変
換器a43の1LSB をMビットのディジタル信号に変換す
る。
However, once the first AD converter a
The digital signal 48 converted at 43 is subjected to digital-to-analog conversion at the DA converter 44, and the difference from the differential output signal 8 is amplified at the differential amplifier 45. The amplified signal is added to the second AD converter b46. The second AD converter b46 converts one LSB of the first AD converter a43 into an M-bit digital signal.

【0071】従って、第1のAD変換器a43のディジタ
ル出力48と、第2のAD変換器b36によるディジタル出
力51とを組み合わせれば、ビット精度の低い第1のAD
変換器a43を用いても、第2のAD変換器b46の助けに
より総合的なビット精度を向上させることができる。
Therefore, if the digital output 48 of the first AD converter a43 and the digital output 51 of the second AD converter b36 are combined, the first AD with low bit precision can be obtained.
Even if the converter a43 is used, the overall bit precision can be improved with the help of the second AD converter b46.

【0072】本発明の次の特長であるリセット動作につ
いて説明する。図2において高速・高精度AD変換回路
41のディジタル信号42は演算回路14に加えられる。演算
回路14はディジタル・フィルタで構成されており、AD
変換結果を積分する要素を含んでいる。従って、演算回
路14での積分操作が終了し、この演算処理結果15のデー
タをメモリー回路16で保存を完了すれば、与えられたア
ナログ信号2の情報は不必要となるため、リセット回路
18を作動させてリセット信号19を発生させる。
A reset operation which is the next feature of the present invention will be described. In FIG. 2, high-speed and high-precision AD conversion circuit
The digital signal 41 is applied to the arithmetic circuit 14. The arithmetic circuit 14 is composed of a digital filter.
Contains an element that integrates the conversion result. Therefore, if the integration operation in the arithmetic circuit 14 is completed and the data of the arithmetic processing result 15 is stored in the memory circuit 16, the information of the given analog signal 2 becomes unnecessary, and the reset circuit
Activate 18 to generate reset signal 19.

【0073】このリセット信号19はパルス幅tのパルス
信号であり、このパルス信号を用いて微分回路7に挿入
されたリセット用リレー20を駆動すると共に、高速・高
精度AD変換装置41、演算回路14のディジタル回路をリ
セットして、次に入力されるアナログ信号を測定できる
態勢を整える。
The reset signal 19 is a pulse signal having a pulse width t. The reset signal 19 is used to drive the reset relay 20 inserted in the differentiating circuit 7 and to use the high-speed / high-precision AD converter 41 and the arithmetic circuit. Reset the 14 digital circuits so that the next input analog signal can be measured.

【0074】図8は上記第1の発明と共通のリセット特
性図で、(a)はリセット信号が無い場合、(b)はリ
セット信号がある場合の微分回路7の微分出力信号8、
高速・高精度AD変換装置41のディジタル信号42、演算
回路14の演算処理結果15、およびリセット回路18のリセ
ット信号19の時間的な変化を示したものである。
FIGS. 8A and 8B are reset characteristic diagrams common to the first embodiment. FIG. 8A shows the case where there is no reset signal, and FIG. 8B shows the case where there is a reset signal.
3 shows a temporal change of the digital signal 42 of the high-speed / high-precision AD converter 41, the arithmetic processing result 15 of the arithmetic circuit 14, and the reset signal 19 of the reset circuit 18.

【0075】図8(a)のリセット信号19を印加しない
場合の微分回路7の出力である微分信号8は急激に立ち
上がり、検出器からの遅い立ち上がり信号に対しても精
度良く測定するため長い時定数で微分する。この微分信
号8は高速・高精度AD変換装置41でディジタル信号42
に変換される。このディジタル信号42はディジタル・フ
ィルタを構成する演算回路14で整形されて、演算処理結
果15が発生する。
The differential signal 8, which is the output of the differentiating circuit 7 when the reset signal 19 shown in FIG. 8A is not applied, rises rapidly, and a long rising signal is required to accurately measure a slow rising signal from the detector. Differentiate by a constant. This differentiated signal 8 is converted into a digital signal 42 by a high-speed / high-precision AD converter 41.
Is converted to The digital signal 42 is shaped by the arithmetic circuit 14 constituting a digital filter, and an arithmetic processing result 15 is generated.

【0076】このようにリセット信号19がない場合には
大きな微分時定数のため、十分に時間が経過して微分出
力信号8が所定の電圧に戻る前に、次の微分出力信号が
加わると、その微分出力信号を正しく測定できない恐れ
がある。
As described above, when the reset signal 19 is not present, the differential time constant is large, and if the next differential output signal is applied before the differential output signal 8 returns to a predetermined voltage after a sufficient time has elapsed, There is a possibility that the differential output signal cannot be measured correctly.

【0077】これに対して図8(b)に示すリセット信
号がある場合には、リセット信号19の印加前においては
微分回路7からの微分出力信号8、高速・高精度AD変
換装置41のディジタル信号42、および演算回路14の演算
処理結果15は図8(a)と同様であるが、メモリー回路
18にデータが保存されれば、微分出力信号8は不必要と
なる。
On the other hand, when there is a reset signal shown in FIG. 8B, before the reset signal 19 is applied, the differentiated output signal 8 from the differentiating circuit 7 and the digital signal of the high-speed / high-precision AD converter 41 are output. The signal 42 and the arithmetic processing result 15 of the arithmetic circuit 14 are the same as those in FIG.
If the data is stored in 18, the differential output signal 8 is not needed.

【0078】そこで、リセット回路18よりt時間だけパ
ルス状のリセット信号19を発生させて、高速・高精度A
D変換装置41のディジタル信号42と、演算回路14の演算
処理結果15をリセットさせると共に、図12に示したリセ
ット用リレー20を駆動して微分回路7構成する微分用コ
ンデンサ21を充電することによって微分出力信号8をゼ
ロにする。従って、リセット信号19印加後には、次の信
号が入ってきても正しく測定することが可能となる。
Therefore, a reset signal 19 in the form of a pulse is generated from the reset circuit 18 for a time t, so that a high-speed and high-precision A
The digital signal 42 of the D converter 41 and the arithmetic processing result 15 of the arithmetic circuit 14 are reset, and the reset relay 20 shown in FIG. The differential output signal 8 is set to zero. Therefore, after the reset signal 19 is applied, it is possible to correctly measure even if the next signal comes in.

【0079】本第2の発明の特長は、ビット精度の低い
高速のAD変換器43,46を用いて高速で高精度のAD変
換を実施すると共に、データ保存後の不必要な信号をリ
セットすることによって高速・高精度の放射線計測装置
を実現するものである。
The features of the second invention are that high-speed and high-precision A / D conversion is performed using the high-speed A / D converters 43 and 46 with low bit precision, and unnecessary signals after data storage are reset. This realizes a high-speed and high-accuracy radiation measurement device.

【0080】放射線検出器1からのアナログ信号2は、
微分回路7における微分用コンデンサ21と微分用抵抗22
によって決まる微分時定数で微分され、演算増幅器23の
出力には微分出力信号8が発生する。また、微分回路7
のゲインは(帰還抵抗24の値)/(微分用抵抗22の値)
となり、リセット用リレー20には直列にリセット用抵抗
25が挿入されている。
The analog signal 2 from the radiation detector 1 is
Differentiating capacitor 21 and differentiating resistor 22 in differentiating circuit 7
The differential output signal 8 is generated at the output of the operational amplifier 23. Also, differentiating circuit 7
Is (the value of feedback resistor 24) / (the value of differential resistor 22)
And a reset resistor is connected in series with the reset relay 20.
25 has been inserted.

【0081】リセット信号19が加わり、リセット用リレ
ー20が駆動された場合の時定数は(微分用コンデンサ21
の容量)×(リセット用抵抗25の値)となり、この時定
数は微分回路7の時定数である(微分用コンデンサ21の
値)×(微分用抵抗22の値)に比べて十分小さくなるよ
うに設定する。このように抵抗、コンデンサ類の値を設
定すれば、上記図8(b)に示したように、リセット信
号19の印加時に微分用コンデンサ21を急激に充電し、微
分出力信号8を短時間の内に所定の電圧にすることがで
きる。
The time constant when the reset signal 19 is applied and the reset relay 20 is driven is (differential capacitor 21
) × (value of the reset resistor 25), and this time constant is sufficiently smaller than the time constant of the differentiating circuit 7 ((value of the differential capacitor 21) × (value of the differential resistor 22)). Set to. When the values of the resistors and capacitors are set in this manner, as shown in FIG. 8B, the differentiation capacitor 21 is rapidly charged when the reset signal 19 is applied, and the differentiation output signal 8 is changed for a short time. Can be set to a predetermined voltage.

【0082】図15はN=8ビット、M=4ビットとした
場合のAD変換出力回路47と、第1のAD変換器a43お
よび、第2のAD変換器b46の出力との関係を示した説
明図で、第2のAD変換器b46の出力51は下位の1ビッ
トから4ビット迄に、また第1のAD変換器a43の出力
48は5ビットから12ビットに加えられる。なお、差動増
幅器45と第2のAD変換器b46との組み合わせで、第1
のAD変換器a43の1LSB を4ビット(M=4)の分解
能でAD変換する。
FIG. 15 shows the relationship between the AD conversion output circuit 47 and the outputs of the first AD converter a43 and the second AD converter b46 when N = 8 bits and M = 4 bits. In the illustration, the output 51 of the second A / D converter b46 is the lower 1 to 4 bits, and the output of the first A / D converter a43.
48 is added from 5 bits to 12 bits. Note that the combination of the differential amplifier 45 and the second AD converter b46 makes the first
1 LSB of the AD converter a43 is subjected to AD conversion with a resolution of 4 bits (M = 4).

【0083】高速・高精度でディジタル変換されたディ
ジタル信号42は演算回路14に加えられる。この演算回路
14はディジタル的にフィルタリングを行うもので、ディ
ジタル的な積分機能を有しており、演算回路14の演算処
理結果15はメモリー回路16に保存される。
The digital signal 42 digitally converted at high speed and high accuracy is applied to the arithmetic circuit 14. This arithmetic circuit
Numeral 14 performs digital filtering and has a digital integration function. The arithmetic processing result 15 of the arithmetic circuit 14 is stored in a memory circuit 16.

【0084】演算処理結果15であるデータの保存を終了
すると、この放射線検出器1からの入力信号に関する情
報は不要になるので、メモリー終了信号17を出力し、リ
セット回路18を作動させてリセット信号19のパルスを発
生させる。
When the storage of the data, which is the result 15 of the arithmetic processing, is completed, the information on the input signal from the radiation detector 1 becomes unnecessary, so that the memory end signal 17 is output and the reset circuit 18 is operated to reset the reset signal. Generate 19 pulses.

【0085】このリセット信号19を用いて微分回路7に
挿入されたリセット用リレー20を駆動して、微分用コン
デンサを充電すると共に、第1のAD変換器a43、第2
のAD変換器b46、DA変換器44、AD変換出力回路47
および演算回路14のディジタル回路をリセットして、次
の入力信号を測定できる態勢にする。
Using the reset signal 19, the reset relay 20 inserted in the differentiating circuit 7 is driven to charge the differentiating capacitor, and the first AD converter a43 and the second AD converter a43 are used.
AD converter b46, DA converter 44, AD conversion output circuit 47
Then, the digital circuit of the arithmetic circuit 14 is reset so that the next input signal can be measured.

【0086】放射線検出器1からのアナログ信号2を、
高速の低いビット精度の第1のAD変換器a43でディジ
タル信号に変換すると、これにより得られるディジタル
値は低いビット精度の離散的な値になるが、そのディジ
タル信号を一旦、DA変換器44でアナログ変換する。
The analog signal 2 from the radiation detector 1 is
When the digital signal is converted into a digital signal by the high-speed, low-bit-precision first A / D converter a43, the resulting digital value becomes a low-bit-precision discrete value. Convert to analog.

【0087】この後に、放射線検出器1からのアナログ
信号2との差を増幅し、第2のAD変換器b46で再びA
D変換して、さらに2組の第1のAD変換器a43のディ
ジタル出力48と第2のAD変換器b46のディジタル出力
51を、AD変換出力回路47において組み合わせることに
より、高速で低いビット精度のAD変換器で高速で高精
度のAD変換が実現できる。
Thereafter, the difference from the analog signal 2 from the radiation detector 1 is amplified, and A
The digital output is further converted to a digital output 48 of two sets of the first AD converter a43 and a digital output of the second AD converter b46.
By combining 51 in the AD conversion output circuit 47, high-speed and high-precision AD conversion can be realized by a high-speed and low-bit-precision AD converter.

【0088】さらに、このAD変換結果を演算回路14で
適宜にディジタル演算を施した後にデータを保存する。
データ保存後は速やかに微分回路7、AD変換器a43,
b46、および演算回路14等をリセットすることによって
高速で高精度のディジタル信号処理が可能となる。
Further, the result of the AD conversion is subjected to a digital operation by the operation circuit 14 as appropriate, and then the data is stored.
After storing the data, the differentiation circuit 7, the AD converter a43,
By resetting b46 and the arithmetic circuit 14, etc., high-speed and high-accuracy digital signal processing becomes possible.

【0089】図16のブロック構成図は高速・高精度AD
変換装置の変形例を示す。この変形例ではAD変換器を
1個使用すると共に、切換スイッチ52を採用して上記高
速・高精度AD変換装置41と同様の作用、効果を得るも
のである。微分出力信号8は切換スイッチ52のA側を経
由して、低いビット精度の高速のAD変換器53に加えて
AD変換する。このAD変換器53のディジタル出力54
は、切換スイッチ52がA側にある場合にはAD変換出力
回路47の上位ビットとして使用される。
FIG. 16 is a block diagram showing a high-speed and high-precision AD.
5 shows a modification of the conversion device. In this modification, one AD converter is used, and a changeover switch 52 is employed to obtain the same operation and effect as those of the high-speed and high-precision AD converter 41. The differential output signal 8 passes through the A side of the changeover switch 52 and is subjected to A / D conversion in addition to a high-speed A / D converter 53 with low bit precision. The digital output 54 of this AD converter 53
Are used as upper bits of the AD conversion output circuit 47 when the changeover switch 52 is on the A side.

【0090】またAD変換されたディジタル出力54は、
DA変換器44によってアナログ出力信号56に変換される
が、この際に入力された微分出力信号8のアナログ値は
同時にホールド回路55に保存される。上位ビットのデー
タが保存されると切換スイッチ52をB側に切り替える。
これにより差動増幅器45はDA変換器44のアナログ出力
信号56と、ホールド回路55から出力信号57である微分出
力信号8とが加えられており、差動増幅器45はこの2つ
の入力信号の差を適宜に増幅する。
The digital output 54 after the AD conversion is
The analog output signal 56 is converted by the DA converter 44 into an analog output signal 56. At this time, the analog value of the differential output signal 8 is simultaneously stored in the hold circuit 55. When the upper bit data is stored, the changeover switch 52 is switched to the B side.
Thereby, the differential amplifier 45 adds the analog output signal 56 of the DA converter 44 and the differential output signal 8 which is the output signal 57 from the hold circuit 55, and the differential amplifier 45 calculates the difference between the two input signals. Is amplified as appropriate.

【0091】この時に切換スイッチ52はB側に切り替え
られているので、差動増幅器45の出力信号58がAD変換
器53によってAD変換され、その結果をAD変換出力回
路47の下位ビットに挿入される。いま、切換スイッチ52
がA側にある時のAD変換器53のビット精度をN、切換
スイッチ52がB側にある時のAD変換器53のビット精度
をMとすると、A側の時の1LSB をB側では2M になる
ように差動増幅器45のゲインを調整すれば、AD変換出
力回路47のビット精度を(N+M)ビットにすることが
できる。
At this time, since the changeover switch 52 has been switched to the B side, the output signal 58 of the differential amplifier 45 is AD-converted by the AD converter 53, and the result is inserted into the lower bit of the AD conversion output circuit 47. You. Now, changeover switch 52
Assuming that the bit precision of the AD converter 53 when A is on the A side and the bit precision of the AD converter 53 when the changeover switch 52 is on the B side is M, 1 LSB on the A side is 2 L on the B side. If the gain of the differential amplifier 45 is adjusted to be M , the bit precision of the AD conversion output circuit 47 can be made (N + M) bits.

【0092】なお、上記第2の発明の実施態様項として
下記のものがある。「高速・高精度AD変換装置が、微
分回路からの微分出力信号と差動増幅器の出力信号とを
切替える切換スイッチと、低いビット精度で高速のAD
変換器と、変換されたディジタル信号をアナログ変換す
るDA変換器と、前記微分出力信号をアナログ的にホー
ルドするホールド回路と、前記DA変換器の出力信号と
ホールド回路の出力信号の差を増幅する差動増幅器と、
前記AD変換器の出力信号を入力して変換結果を処理す
るAD変換出力回路からなることを特徴とする請求項2
記載のデジイタル式放射線計測装置」。
The following are the embodiments of the second invention. "A high-speed and high-precision A / D conversion device switches between a differential output signal from a differentiator circuit and an output signal of a differential amplifier;
A converter, a DA converter that converts the converted digital signal into an analog signal, a hold circuit that holds the differential output signal in an analog manner, and amplifies a difference between the output signal of the DA converter and the output signal of the hold circuit. A differential amplifier,
3. An AD conversion output circuit which receives an output signal of the AD converter and processes a conversion result.
The described digital radiation measurement device ".

【0093】[0093]

【発明の効果】以上本発明によれば、ビット精度の低い
AD変換器を使用して、容易に高速度・高精度のディジ
タル演算結果を得ることができる。さらに、データ取得
後に時定数の長い微分回路等をリセットすることによ
り、高速で精度の良い放射線計測装置が提供できる効果
がある。
As described above, according to the present invention, a high-speed and high-precision digital operation result can be easily obtained by using an AD converter having low bit precision. Further, by resetting a differentiating circuit having a long time constant after data acquisition, there is an effect that a high-speed and high-accuracy radiation measuring apparatus can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の発明に係る一実施例の放射線計測装置の
ブロック構成図。
FIG. 1 is a block diagram of a radiation measuring apparatus according to an embodiment of the present invention;

【図2】第2の発明に係る一実施例の放射線計測装置の
ブロック構成図。
FIG. 2 is a block diagram showing a radiation measuring apparatus according to an embodiment of the present invention;

【図3】第1の発明に係る一実施例の微分回路と加算回
路の詳細を示す回路構成図。
FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing details of a differentiating circuit and an adding circuit of one embodiment according to the first invention.

【図4】本発明に係る一実施例のC−Rによる微分回路
図。
FIG. 4 is a diagram illustrating a differential circuit using CR according to an embodiment of the present invention.

【図5】第1の発明に係る一実施例の特性図。FIG. 5 is a characteristic diagram of one embodiment according to the first invention.

【図6】第1の発明に係る補正信号特性図。FIG. 6 is a characteristic diagram of a correction signal according to the first invention.

【図7】第1の発明に係る加算信号特性図((a)は微
分信号が低い場合、(b)は微分信号が高い場合)。
FIGS. 7A and 7B are sum signal characteristic diagrams according to the first invention (FIG. 7A shows a case where a differential signal is low, and FIG.

【図8】第1の発明に係るリセット特性図((a)はリ
セットなしの場合、(b)はリセットありの場合)。
FIG. 8 is a reset characteristic diagram according to the first invention ((a) shows a case without resetting, and (b) shows a case with resetting).

【図9】第1の発明に係る変換精度特性図((a)は微
分信号、(b)は微分信号に対するディジタル積分)。
FIG. 9 is a conversion accuracy characteristic diagram according to the first invention ((a) is a differential signal, and (b) is a digital integration with respect to the differential signal).

【図10】第1の発明に係る補正後の微分信号に対する
ディジタル積分値の特性図。
FIG. 10 is a characteristic diagram of a digital integrated value with respect to the differential signal after correction according to the first invention.

【図11】第1の発明に係る補正信号例を示す特性図
((a)は鋸歯状波、(b)は三角波)。
FIG. 11 is a characteristic diagram showing an example of a correction signal according to the first invention ((a) is a sawtooth wave, and (b) is a triangular wave).

【図12】第2の発明に係る一実施例の微分回路と高速
・高精度AD変換装置の詳細を示す回路構成図。
FIG. 12 is a circuit diagram showing details of a differentiating circuit and a high-speed and high-precision AD converter according to an embodiment of the second invention.

【図13】第2の発明に係る一実施例の高速・高精度A
D変換装置のブロック構成図。
FIG. 13 shows a high-speed and high-precision A according to an embodiment of the second invention;
FIG. 2 is a block diagram of a D conversion device.

【図14】第2の発明に係る一実施例の第1と第2のA
D変換器における変換状態を示す特性図((a)は第1
のAD変換器、(b)は第2のAD変換器)。
FIG. 14 shows first and second A of an embodiment according to the second invention.
The characteristic diagram showing the conversion state in the D converter ((a) is the first diagram).
(B) is a second AD converter).

【図15】第2の発明に係る一実施例のAD変換出力回
路と第1と第2のAD変換器の出力との関係の説明図。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a relationship between an AD conversion output circuit of one embodiment according to the second invention and outputs of first and second AD converters.

【図16】第2の発明に係る高速・高精度AD変換装置
の変形例を示すブロック構成図。
FIG. 16 is a block diagram showing a modification of the high-speed / high-precision AD converter according to the second invention.

【図17】従来のデジイタル式放射線計測装置のブロッ
ク構成図。
FIG. 17 is a block diagram of a conventional digital radiation measuring apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…放射線検出器、2…アナログ信号、3,12,53…A
D変換器、4,13,42…ディジタル信号、5,14…演算
回路、6…演算結果、7…微分回路、8,34,35…微分
出力信号、9…加算回路、10,33,38…補正信号、11…
加算信号、15…演算処理結果、16…メモリー回路、17…
メモリー終了信号、18…リセット回路、19…リセット信
号、20…リセット用リレー、21,30…微分用コンデン
サ、22,31…微分用抵抗、23,26…演算増幅器、24…帰
還抵抗、25,32…リセット用抵抗、27〜29…抵抗、36…
領域、37…積分信号、39…鋸歯状波、40…三角波、41…
高速・高精度AD変換装置、43…第1のAD変換器a、
44…DA変換器、45…差動増幅器、46…第2のAD変換
器b、47…AD変換出力回路、48,51,54…ディジタル
出力、49,56…アナログ出力信号、50,57,58…出力信
号、52…切換スイッチ、55…ホールド回路。
1 ... Radiation detector, 2 ... Analog signal, 3,12,53 ... A
D converter, 4, 13, 42 ... digital signal, 5, 14 ... arithmetic circuit, 6 ... arithmetic result, 7 ... differential circuit, 8, 34, 35 ... differential output signal, 9 ... addition circuit, 10, 33, 38 … Correction signal, 11…
Addition signal, 15 ... calculation processing result, 16 ... memory circuit, 17 ...
Memory end signal, 18… Reset circuit, 19… Reset signal, 20… Reset relay, 21, 30… Differential capacitor, 22, 31… Differential resistor, 23,26… Operational amplifier, 24… Feedback resistor, 25, 32 ... Reset resistor, 27-29 ... Resistance, 36 ...
Area, 37… Integrated signal, 39… Sawtooth wave, 40… Triangle wave, 41…
High-speed / high-precision A / D converter 43, first A / D converter a,
44: DA converter, 45: Differential amplifier, 46: Second AD converter b, 47: AD conversion output circuit, 48, 51, 54 ... Digital output, 49, 56 ... Analog output signal, 50, 57, 58 ... output signal, 52 ... changeover switch, 55 ... hold circuit.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 アナログ検出信号を入力する微分回路
と、この微分出力信号にアナログ補正信号を加える加算
回路と、加算回路の加算信号をディジタル変換するAD
変換回路と、このディジタル信号の波形整形をする演算
回路と、演算処理結果を保存すると共にデータ保存終了
信号を出力するメモリー回路と、データ保存終了信号に
よって作動するリセット回路と、リセット回路からのリ
セット信号により前記微分回路、AD変換回路および演
算回路をリセットすることを特徴とするディジタル式放
射線計測装置。
1. A differentiation circuit for inputting an analog detection signal, an addition circuit for adding an analog correction signal to the differentiation output signal, and an AD for digitally converting the addition signal of the addition circuit.
A conversion circuit, an arithmetic circuit for shaping the waveform of the digital signal, a memory circuit for storing an arithmetic processing result and outputting a data storage end signal, a reset circuit operated by the data storage end signal, and a reset from the reset circuit. A digital radiation measuring apparatus, wherein the differentiating circuit, the AD conversion circuit, and the arithmetic circuit are reset by a signal.
【請求項2】 アナログ検出信号を入力する微分回路
と、微分出力信号を高速でAD変換する第1のAD変換
器と変換されたディジタル信号をアナログ変換するDA
変換器とこのアナログ出力信号と前記微分出力信号との
差を得る差動増幅器とこの出力信号をAD変換する第2
のAD変換器と前記第1および第2のAD変換器の出力
信号を組み合わせてAD変換結果を出力するAD変換出
力回路からなる高速・高精度AD変換装置と、この出力
のディジタル信号を波形整形する演算回路と、演算処理
結果を保存すると共にデータ保存終了信号出力するメモ
リー回路と、データ保存終了信号によって作動するリセ
ット回路と、リセット回路からのリセット信号により前
記微分回路、高速・高精度AD変換装置および演算回路
をリセットすることを特徴とするディジタル式放射線計
測装置。
2. A differential circuit for inputting an analog detection signal, a first AD converter for AD-converting the differential output signal at high speed, and a DA for converting the converted digital signal to analog.
A converter, a differential amplifier for obtaining a difference between the analog output signal and the differential output signal, and a second amplifier for AD-converting the output signal.
A high-speed and high-precision AD converter comprising an A / D converter and an A / D conversion output circuit for outputting an A / D conversion result by combining the output signals of the first and second A / D converters, and waveform shaping the digital signal of the output. Operation circuit, a memory circuit for storing an operation processing result and outputting a data storage end signal, a reset circuit activated by the data storage end signal, and the differentiation circuit, a high-speed and high-precision AD conversion by a reset signal from the reset circuit. A digital radiation measuring device, wherein the device and the arithmetic circuit are reset.
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