JP2697782B2 - 変位速度またはひずみ速度計測方法およびそれに用いる装置 - Google Patents
変位速度またはひずみ速度計測方法およびそれに用いる装置Info
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- JP2697782B2 JP2697782B2 JP7050736A JP5073695A JP2697782B2 JP 2697782 B2 JP2697782 B2 JP 2697782B2 JP 7050736 A JP7050736 A JP 7050736A JP 5073695 A JP5073695 A JP 5073695A JP 2697782 B2 JP2697782 B2 JP 2697782B2
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、伸縮中の被測定物の
変位速度またはひずみ速度を計測する方法およびそれに
用いる計測装置に関するものである。
変位速度またはひずみ速度を計測する方法およびそれに
用いる計測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】被測定物に荷重が作用して被測定物が変
形する場合の、その変形の速度を検出する場合等には変
位速度またはひずみ速度計測装置が使用される。
形する場合の、その変形の速度を検出する場合等には変
位速度またはひずみ速度計測装置が使用される。
【０００３】従来の変位速度計測装置の一種として光周
波数を利用した計測装置があり、その一例として光ファ
イバーレーザードップラー速度計がある。この光ファイ
バーレーザードップラー速度計はレーザー光を光ファイ
バーを通して移動物体に照射したとき、その散乱光はド
ップラー効果により元の周波数からシフトするので、そ
の光周波数の変化を検出して被測定物の移動速度を測定
するものである（「光ファイバセンサ」大越孝敬 編、
オーム社（１９８６）、第１５５頁〜第１６０頁）。
波数を利用した計測装置があり、その一例として光ファ
イバーレーザードップラー速度計がある。この光ファイ
バーレーザードップラー速度計はレーザー光を光ファイ
バーを通して移動物体に照射したとき、その散乱光はド
ップラー効果により元の周波数からシフトするので、そ
の光周波数の変化を検出して被測定物の移動速度を測定
するものである（「光ファイバセンサ」大越孝敬 編、
オーム社（１９８６）、第１５５頁〜第１６０頁）。
【０００４】この技術は光ファイバーの先端にプローブ
を取付けることが必要となるので、センサーの構成が複
雑になるほか、光ファイバーはもっぱら導光部材として
だけに使用され、光がプローブの先端から空間を隔てて
被測定物に反射するので、ノイズが入り易く高精度の測
定は困難である。
を取付けることが必要となるので、センサーの構成が複
雑になるほか、光ファイバーはもっぱら導光部材として
だけに使用され、光がプローブの先端から空間を隔てて
被測定物に反射するので、ノイズが入り易く高精度の測
定は困難である。
【０００５】一方、光ファイバー自体の伸び縮みを測定
することが研究レベルで行われているが、これは光ファ
イバーの伸びによる光路差（位相差）を測るものであ
る。
することが研究レベルで行われているが、これは光ファ
イバーの伸びによる光路差（位相差）を測るものであ
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしこの光ファイバ
ー自体の伸び縮みから光路差を測る技術では被測定物の
変形は測れるが、特に変形速度が早い動的問題には光フ
ァイバーの内部に定在波が生じるため使用することが出
来ない。
ー自体の伸び縮みから光路差を測る技術では被測定物の
変形は測れるが、特に変形速度が早い動的問題には光フ
ァイバーの内部に定在波が生じるため使用することが出
来ない。
【０００７】この発明は、上記の如き事情に鑑みてなさ
れたものであって、光ファイバー自体の伸び縮みから被
測定物の変位速度を測定することができ、特に変形速度
が速い動的な変形状態を高精度に測定することができる
計測方法およびそれに用いる計測装置を提供することを
目的とするものである。
れたものであって、光ファイバー自体の伸び縮みから被
測定物の変位速度を測定することができ、特に変形速度
が速い動的な変形状態を高精度に測定することができる
計測方法およびそれに用いる計測装置を提供することを
目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、伸縮中の
被測定物における変位速度またはひずみ速度を正確に測
定する方法および装置を開発するために鋭意研究を重ね
た結果、光ファイバーを被測定物にそれと同調して伸縮
可能に取り付け、その中にレーザー光を導入して、伸び
縮みに対応して生じるドップラー効果に基づく周波数の
シフトを利用することにより、被測定物の変位速度また
はひずみ速度を簡単に、かつ高精度で計測しうることを
見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至った。す
なわち、本発明は、光ファイバーを２分して一方を測定
部、他方を導光部とし、測定部の一端を反射面に、導光
部に連絡する他端を基準面に形成するとともに、該測定
部を伸縮中の被測定物に、それと同調して伸縮可能に固
定したのち、導光部を介してレーザー光を導入し、反射
面からの反射光と基準面からの反射光とを干渉させ、被
測定物の変形に伴って測定部の反射面が基準面に対し変
位する際のドップラー効果に基づく周波数のシフトに比
例した周波数のうなりを発生させ、そのうなり波形を検
波して被測定物の変位速度またはひずみ速度を計測する
方法および先端Ａを反射面に、後端Ｂを基準面に形成し
た被測定物に固定させる測定部７と、該基準面に接続す
る導光部８とを有する光ファイバー６、レーザー光源
９、該レーザー光源からの光を光ファイバーの導光部８
を介して測定部７に導入する集光器１２、基準面と前記
反射面からの反射光を干渉させる干渉計１５、干渉によ
り生じたうなりをＡＭ検波するＡＭ検波器１６及びこれ
より取り出されたうなり信号をＦＭ検波するＦＭ検波器
１７から構成されたことを特徴とする変位速度またはひ
ずみ速度計測装置を提供するものである。
被測定物における変位速度またはひずみ速度を正確に測
定する方法および装置を開発するために鋭意研究を重ね
た結果、光ファイバーを被測定物にそれと同調して伸縮
可能に取り付け、その中にレーザー光を導入して、伸び
縮みに対応して生じるドップラー効果に基づく周波数の
シフトを利用することにより、被測定物の変位速度また
はひずみ速度を簡単に、かつ高精度で計測しうることを
見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至った。す
なわち、本発明は、光ファイバーを２分して一方を測定
部、他方を導光部とし、測定部の一端を反射面に、導光
部に連絡する他端を基準面に形成するとともに、該測定
部を伸縮中の被測定物に、それと同調して伸縮可能に固
定したのち、導光部を介してレーザー光を導入し、反射
面からの反射光と基準面からの反射光とを干渉させ、被
測定物の変形に伴って測定部の反射面が基準面に対し変
位する際のドップラー効果に基づく周波数のシフトに比
例した周波数のうなりを発生させ、そのうなり波形を検
波して被測定物の変位速度またはひずみ速度を計測する
方法および先端Ａを反射面に、後端Ｂを基準面に形成し
た被測定物に固定させる測定部７と、該基準面に接続す
る導光部８とを有する光ファイバー６、レーザー光源
９、該レーザー光源からの光を光ファイバーの導光部８
を介して測定部７に導入する集光器１２、基準面と前記
反射面からの反射光を干渉させる干渉計１５、干渉によ
り生じたうなりをＡＭ検波するＡＭ検波器１６及びこれ
より取り出されたうなり信号をＦＭ検波するＦＭ検波器
１７から構成されたことを特徴とする変位速度またはひ
ずみ速度計測装置を提供するものである。
【０００９】
【作用】被測定物に固定した光ファイバーの測定部の伸
縮の速度を、光ファイバー内に設けられた反射面で反射
したレーザー光の周波数の変化からドップラー効果の原
理にもとづいて計測することにより被測定物の変形速度
を測定する。ノイズが少ない状態で高精度の測定が可能
になる。
縮の速度を、光ファイバー内に設けられた反射面で反射
したレーザー光の周波数の変化からドップラー効果の原
理にもとづいて計測することにより被測定物の変形速度
を測定する。ノイズが少ない状態で高精度の測定が可能
になる。
【００１０】
【実施例】以下、この発明の詳細を一実施例を示す図面
について説明する。
について説明する。
【００１１】図１において、１は被測定物２の変位また
はひずみ速度を計測する計測装置である。計測装置１は
センサー３、光学系４、計測系５、レーザー光源９を備
えている。
はひずみ速度を計測する計測装置である。計測装置１は
センサー３、光学系４、計測系５、レーザー光源９を備
えている。
【００１２】センサー３は光ファイバー６を有し、光フ
ァイバー６は、被測定物２に固着されて被測定物２の変
形に従って同じ変形をするようにしてある測定部７と、
レーザー光を伝搬させることを目的とする導光部８から
構成される。測定部７の一方の端面Ａは到達したレーザ
ー光の一部または全部を反射するように反射面が形成さ
れている。反射面を形成する技術としては気泡の注入な
ど既に開発されている技術がある。測定部７のもう一方
の端面Ｂは、測定部７と導光部８の境界である。導光部
８の端面Ｃ側には光学系４が取付けられ、光学系４の一
端にレーザー光源９が配置され、出口端に計測系５が配
置されている。光学系４は集光器１２、ハーフミラー１
３、基準面１４を備えている。集光器１２は導光部８の
端面Ｃにレーザー光源９からのレーザー光を光ファイバ
ー６の中に入射し、かつ端面Ａで反射してきたレーザー
光を集光するためのものである。ハーフミラー１３はレ
ーザー光源９からのビームを光ファイバー６への入射光
と基準面１４への入射光に分割し、かつ光ファイバー６
からの反射光を計測系５に透過しかつ基準面１４からの
反射光を計測系５に反射するものである。基準面１４は
干渉の基準光を形成するものでミラー等で構成される。
計測系５は基準光と反射光の周波数の差を出力信号とし
て検出するもので、干渉計１５、ＡＭ検波器１６、ＦＭ
検波器１７を備えている。このような計測系５は従来か
らいわゆるレーザー速度計として知られているものであ
る。
ァイバー６は、被測定物２に固着されて被測定物２の変
形に従って同じ変形をするようにしてある測定部７と、
レーザー光を伝搬させることを目的とする導光部８から
構成される。測定部７の一方の端面Ａは到達したレーザ
ー光の一部または全部を反射するように反射面が形成さ
れている。反射面を形成する技術としては気泡の注入な
ど既に開発されている技術がある。測定部７のもう一方
の端面Ｂは、測定部７と導光部８の境界である。導光部
８の端面Ｃ側には光学系４が取付けられ、光学系４の一
端にレーザー光源９が配置され、出口端に計測系５が配
置されている。光学系４は集光器１２、ハーフミラー１
３、基準面１４を備えている。集光器１２は導光部８の
端面Ｃにレーザー光源９からのレーザー光を光ファイバ
ー６の中に入射し、かつ端面Ａで反射してきたレーザー
光を集光するためのものである。ハーフミラー１３はレ
ーザー光源９からのビームを光ファイバー６への入射光
と基準面１４への入射光に分割し、かつ光ファイバー６
からの反射光を計測系５に透過しかつ基準面１４からの
反射光を計測系５に反射するものである。基準面１４は
干渉の基準光を形成するものでミラー等で構成される。
計測系５は基準光と反射光の周波数の差を出力信号とし
て検出するもので、干渉計１５、ＡＭ検波器１６、ＦＭ
検波器１７を備えている。このような計測系５は従来か
らいわゆるレーザー速度計として知られているものであ
る。
【００１３】このような構成の計測装置１を使用して、
被測定物２の変形またはひずみ速度の計測は次のように
なされる。
被測定物２の変形またはひずみ速度の計測は次のように
なされる。
【００１４】まず、光ファイバー６の予め長さＬが知ら
れている測定部７を被測定物２の変形またはひずみに従
って同じ変形をするように被測定物２に固着する。次に
レーザー光源９を発光させる。レーザー光源９から発生
したレーザー光はハーフミラー１３によって直進する光
線と図では左へ９０度折れ曲がる光線に分岐される。左
に折れ曲がった光線は集光器１２を介して光ファイバー
６の導光部８に導かれる。導光部８はフリーな状態にあ
り、この部分が伸び縮みすることはない。導光部８を伝
播したレーザー光は被測定物２に固着された測定部７の
端面Ａで反射し、導光部８を逆の経路を通って集光器１
２に至り、ハーフミラー１３を通過して干渉計１５に入
力される。一方、レーザー光源９からハーフミラー１３
を透過して直進したレーザー光は座標系に固定された基
準面１４で反射しハーフミラー１３で左９０度折れ曲が
り、これも干渉計１５に入力される。このようにして測
定部７の端面Ａと基準面１４で反射したレーザー光が干
渉計１５に入力されることになるが、測定部７の端面Ａ
で反射したレーザー光はドップラー効果により、測定部
７の端面Ａの速度、すなわち測定部７の変位速度に比例
した周波数シフトがある。
れている測定部７を被測定物２の変形またはひずみに従
って同じ変形をするように被測定物２に固着する。次に
レーザー光源９を発光させる。レーザー光源９から発生
したレーザー光はハーフミラー１３によって直進する光
線と図では左へ９０度折れ曲がる光線に分岐される。左
に折れ曲がった光線は集光器１２を介して光ファイバー
６の導光部８に導かれる。導光部８はフリーな状態にあ
り、この部分が伸び縮みすることはない。導光部８を伝
播したレーザー光は被測定物２に固着された測定部７の
端面Ａで反射し、導光部８を逆の経路を通って集光器１
２に至り、ハーフミラー１３を通過して干渉計１５に入
力される。一方、レーザー光源９からハーフミラー１３
を透過して直進したレーザー光は座標系に固定された基
準面１４で反射しハーフミラー１３で左９０度折れ曲が
り、これも干渉計１５に入力される。このようにして測
定部７の端面Ａと基準面１４で反射したレーザー光が干
渉計１５に入力されることになるが、測定部７の端面Ａ
で反射したレーザー光はドップラー効果により、測定部
７の端面Ａの速度、すなわち測定部７の変位速度に比例
した周波数シフトがある。
【００１５】すなわち、被測定物２が変形し、それに伴
って光ファイバー６の測定部７の長さ（ゲージ長さＬ）
が時間とともに変化し、端面Ａの反射面が速度ｖ（＝ｄ
Ｌ／ｄｔ）で端面Ｂの基準面に対して変位する場合、基
準面におけるレーザー光の周波数ｆB と端面Ａで反射し
た反射光の周波数ｆA の差をｆ＝ｆA −ｆB とすると、
ｆがレーザー光の波長λと速度v より次式で与えられ
る。 ｆ＝２v ／λ
って光ファイバー６の測定部７の長さ（ゲージ長さＬ）
が時間とともに変化し、端面Ａの反射面が速度ｖ（＝ｄ
Ｌ／ｄｔ）で端面Ｂの基準面に対して変位する場合、基
準面におけるレーザー光の周波数ｆB と端面Ａで反射し
た反射光の周波数ｆA の差をｆ＝ｆA −ｆB とすると、
ｆがレーザー光の波長λと速度v より次式で与えられ
る。 ｆ＝２v ／λ
【００１６】これがドップラー効果と呼ばれているもの
である。周波数のシフトｆを測定すれば、上式から速度
v が求められる。そこで両方のレーザー光を干渉計１５
で重ね合わせると周波数のシフトに比例した周波数のう
なりを生じる、そのうなり波形はレーザー光の振動を伝
送波とする振幅信号であるから、ＡＭ検波器１６により
ＡＭ検波することによりうなり信号を取り出すことがで
きる。うなり信号の周波数が変位速度信号である。すな
わちうなり信号は周波数変調した変位速度信号であるか
ら、ＦＭ検波器１７によりＦＭ検波することにより、速
度信号を取り出す事ができる。
である。周波数のシフトｆを測定すれば、上式から速度
v が求められる。そこで両方のレーザー光を干渉計１５
で重ね合わせると周波数のシフトに比例した周波数のう
なりを生じる、そのうなり波形はレーザー光の振動を伝
送波とする振幅信号であるから、ＡＭ検波器１６により
ＡＭ検波することによりうなり信号を取り出すことがで
きる。うなり信号の周波数が変位速度信号である。すな
わちうなり信号は周波数変調した変位速度信号であるか
ら、ＦＭ検波器１７によりＦＭ検波することにより、速
度信号を取り出す事ができる。
【００１７】（他の実施例）基準光の採り方としては図
２（ａ）のように光ファイバー６の外部に基準面１４を
設けてレーザー光源からの出力の一部を利用する方法
（導光部の伸び縮みが無視できる場合、上記の実施例は
この場合に相当する）の他に、光ファイバーの内に基準
光を形成する基準面を形成してもよい。この方法として
は図２（ｂ）に示すように光ファイバー６の導光部８と
同じ長さの導光部８ａだけをもつ他の光ファイバー６ａ
を導光部８に沿わせて一体に固定して１組の導光部８ｂ
を構成し、レーザー光源９から出力されたレーザー光を
分配器２１で２つに分岐し、それぞれのレーザー光を光
ファイバー６，６ａに入射し、他の光ファイバー６ａに
設けられた端面Ｄで反射したレーザー光を基準光とする
方法を採用しても良い。この場合にはもう一方の光ファ
イバー６に設けられた端面Ａで反射したレーザー光の周
波数と基準光の差を計測することにより端面Ａ−Ｂ（Ａ
−Ｄ）間の測定部７における変位速度を測定できる。さ
らに図２（ｃ）のように１本の光ファイバー６の測定部
７における端面Ｂを一部反射面として構成し、この端面
Ｂで一部反射したレーザー光を基準光とする方法を採用
してもよい。その他にも基準光の取り採り方は任意の方
法を採ることができる。
２（ａ）のように光ファイバー６の外部に基準面１４を
設けてレーザー光源からの出力の一部を利用する方法
（導光部の伸び縮みが無視できる場合、上記の実施例は
この場合に相当する）の他に、光ファイバーの内に基準
光を形成する基準面を形成してもよい。この方法として
は図２（ｂ）に示すように光ファイバー６の導光部８と
同じ長さの導光部８ａだけをもつ他の光ファイバー６ａ
を導光部８に沿わせて一体に固定して１組の導光部８ｂ
を構成し、レーザー光源９から出力されたレーザー光を
分配器２１で２つに分岐し、それぞれのレーザー光を光
ファイバー６，６ａに入射し、他の光ファイバー６ａに
設けられた端面Ｄで反射したレーザー光を基準光とする
方法を採用しても良い。この場合にはもう一方の光ファ
イバー６に設けられた端面Ａで反射したレーザー光の周
波数と基準光の差を計測することにより端面Ａ−Ｂ（Ａ
−Ｄ）間の測定部７における変位速度を測定できる。さ
らに図２（ｃ）のように１本の光ファイバー６の測定部
７における端面Ｂを一部反射面として構成し、この端面
Ｂで一部反射したレーザー光を基準光とする方法を採用
してもよい。その他にも基準光の取り採り方は任意の方
法を採ることができる。
【００１８】光ファイバー６の測定部７の端面Ａは実際
に端面になっている必要はなく、到達したレーザー光の
一部あるいは全部を反射できれば良い。
に端面になっている必要はなく、到達したレーザー光の
一部あるいは全部を反射できれば良い。
【００１９】測定部７は１本の光ファイバー６について
１個設けられる場合の他に複数の測定部が導光部をはさ
んで交互に１本の光ファイバー中に設けられても良い。
１個設けられる場合の他に複数の測定部が導光部をはさ
んで交互に１本の光ファイバー中に設けられても良い。
【００２０】入射するレーザー光は連続光である必要は
ない。閃光時間の極めて短い不連続光であれば、反射波
の帰ってくるまでの時間を計測することにより、測定部
の位置が同定できるので、複数の測定部が１本の光ファ
イバーに設定されていても、それらをほぼ同時に計測す
ることが可能である。
ない。閃光時間の極めて短い不連続光であれば、反射波
の帰ってくるまでの時間を計測することにより、測定部
の位置が同定できるので、複数の測定部が１本の光ファ
イバーに設定されていても、それらをほぼ同時に計測す
ることが可能である。
【００２１】光ファイバー６の測定部７はいずれの場合
も、被測定物の変形またはひずみにしたがって伸縮する
ように被測定物に固着するのであれば被測定物２の表面
に貼り付けても、被測定物２の内部に埋めても良い。
も、被測定物の変形またはひずみにしたがって伸縮する
ように被測定物に固着するのであれば被測定物２の表面
に貼り付けても、被測定物２の内部に埋めても良い。
【００２２】（実験例）図３に示す計測装置の構成で被
測定物である引張り試験片に光ファイバーの測定部を張
り付け、その測定部における試験片の変位速度を測定し
た。試験片に負荷する荷重の波形は５，１０及び２０Ｈ
ｚの正弦波とし、周期的な繰り返し荷重を負荷した。そ
の時の本発明によるセンサーの出力結果を図４に示す。
本適用例では変位速度信号は荷重信号に比例した正弦波
となり、実際の変位速度の変化（コサインカーブ）が測
定できていることがわかる。
測定物である引張り試験片に光ファイバーの測定部を張
り付け、その測定部における試験片の変位速度を測定し
た。試験片に負荷する荷重の波形は５，１０及び２０Ｈ
ｚの正弦波とし、周期的な繰り返し荷重を負荷した。そ
の時の本発明によるセンサーの出力結果を図４に示す。
本適用例では変位速度信号は荷重信号に比例した正弦波
となり、実際の変位速度の変化（コサインカーブ）が測
定できていることがわかる。
【００２３】
【発明の効果】このようにこの発明の計測装置では測定
用の光を光ファイバーの外に出すことがなく、光ファイ
バーの内で反射された光を測定するので、ノイズがな
く、高精度の測定が可能であり、また特別のプローブ等
を必要とすることもないので装置の構成も簡単になる。
用の光を光ファイバーの外に出すことがなく、光ファイ
バーの内で反射された光を測定するので、ノイズがな
く、高精度の測定が可能であり、また特別のプローブ等
を必要とすることもないので装置の構成も簡単になる。
【図１】この発明の計測装置を示す構成説明図。
【図２】各種の基準光の採り方を示す説明図。
【図３】実験に用いた計測装置を示す構成説明図。
【図４】実験における変位速度信号の出力例を示すグラ
フ。
フ。
１ 計測装置 ２ 被測定物 ３ センサー ４ 光学系 ５ 計測系 ６ 光ファイバー ６ａ 光ファイバー ７ 測定部 ８ 導光部 ８ａ 導光部 ８ｂ 導光部 ９ レーザー光源 １２ 集光器 １３ ハーフミラー １４ 基準面 １５ 干渉計 １６ ＡＭ検波器 １７ ＦＭ検波器 ２１ 分配器 Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ 端面
Claims (2)
- 【請求項１】 光ファイバーを２分して一方を測定部、
他方を導光部とし、測定部の一端を反射面に、導光部に
連絡する他端を基準面に形成するとともに、該測定部を
伸縮中の被測定物に、それと同調して伸縮可能に固定し
たのち、導光部を介してレーザー光を導入し、反射面か
らの反射光と基準面からの反射光とを干渉させ、被測定
物の変形に伴って測定部の反射面が基準面に対し変位す
る際のドップラー効果に基づく周波数のシフトに比例し
た周波数のうなりを発生させ、そのうなり波形を検波し
て被測定物の変位速度またはひずみ速度を計測する方
法。 - 【請求項２】 先端を反射面に、後端を基準面に形成し
た被測定物に固定させる測定部と、該基準面に接続する
導光部とを有する光ファイバー、レーザー光源、該レー
ザー光源からの光を光ファイバーの導光部を介して測定
部に導入する集光器、基準面と前記反射面からの反射光
を干渉させる干渉計、干渉により生じたうなりをＡＭ検
波するＡＭ検波器及びこれより取り出されたうなり信号
をＦＭ検波するＦＭ検波器から構成されたことを特徴と
する変位速度またはひずみ速度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7050736A JP2697782B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 変位速度またはひずみ速度計測方法およびそれに用いる装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7050736A JP2697782B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 変位速度またはひずみ速度計測方法およびそれに用いる装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08248046A JPH08248046A (ja) | 1996-09-27 |
| JP2697782B2 true JP2697782B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=12867136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7050736A Expired - Lifetime JP2697782B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 変位速度またはひずみ速度計測方法およびそれに用いる装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2697782B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2901548B1 (fr) * | 2006-05-24 | 2008-07-25 | Lemantec Internat Sarl | Organe de levage a moyens de mesure de charge et /ou de contraintes |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH643569A5 (de) * | 1980-03-21 | 1984-06-15 | Isaflex Ag | Verfahren zur herstellung von wasseraustauschendem, nicht-toxischem polymermaterial auf basis acrylamid/n,n'-methylenbisacrylamid. |
| JPS5782723A (en) * | 1980-11-12 | 1982-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Measuring device for oscillation |
-
1995
- 1995-03-10 JP JP7050736A patent/JP2697782B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08248046A (ja) | 1996-09-27 |
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