JP2675584B2 - Immunity test circuit - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はイミュニティ（immunity）試験回路に関し、
互いに通信を行なうような関係にある少なくとも一対の
通信装置につき、雑音耐力等の試験を行なうべき一方の
通信装置を被試験通信装置，他方の通信装置を対向通信
装置として、被試験通信装置につながる通信線に対して
電圧（縦電圧）を印加して、通信装置で発生するディジ
タル伝送の符号誤り等の伝送品質劣化や誤動作等の試験
を行なうためのイミュニティ試験回路に関するものであ
る。The present invention relates to an immunity test circuit,
For at least a pair of communication devices having a relationship of communicating with each other, one communication device to be tested for noise immunity and the like is used as a communication device under test, and the other communication device is used as an opposite communication device, which is connected to the communication device under test. The present invention relates to an immunity test circuit for applying a voltage (longitudinal voltage) to a communication line to test deterioration of transmission quality such as code error of digital transmission occurring in a communication device and malfunction.
従来から、通信装置の運用前に（例えば機器の開発段
階，機器設置前等）、一方の被試験通信装置となる機器
から例えばある特定のパターンを他方の対向通信装置と
なる機器に対して伝送し、その間でのディジタル伝送の
符号誤り等を検証して、通信装置，通信線における伝送
品質劣化や誤動作等の試験を行なうことがあった。その
ような動作試験が、雑音に対してどの程度まで行ない得
るかつまり通信装置の機器耐力を調べるためにイミュニ
ティ試験を行なうものであった。Conventionally, before operating a communication device (for example, in the development stage of a device, before installing a device, etc.), a device that is one of the communication devices under test transmits, for example, a certain pattern to a device that is the other opposite communication device. However, a code error or the like of digital transmission in the meantime may be verified, and a test such as deterioration of transmission quality or malfunction in a communication device or a communication line may be performed. An immunity test was carried out to find out to what extent such an operation test can be carried out against noise, that is, to examine the device durability of a communication device.
そのようなイミュニティ試験を行なう際に、被試験通
信装置につながる通信線と大地との間にイミュニティ試
験用の電圧（疑似的な雑音源）を印加する回路として
は、第７図に示すような回路があった。ここで、被試験
通信装置11とこれと対向して通信を行なう対向通信装置
13との間の通信線15が２導体の場合であり、それらの通
信装置の間に中点タップ付きコイル20を挿入し、該中点
タップ付きコイル20を形成するコイル21の中点23から電
圧発生装置25によってイミュニティ試験用の電圧を印加
する回路である。この試験用の電圧としては、正弦波の
交流電圧，振幅変調あるいは周波数変調された信号電
圧、，サージ電圧等がある。A circuit for applying a voltage (pseudo noise source) for the immunity test between the communication line connected to the communication device under test and the ground when performing such an immunity test is as shown in FIG. There was a circuit. Here, the communication device under test 11 and the opposite communication device for communicating with the communication device 11 under test.
In the case where the communication line 15 to and from 13 is a two-conductor, a coil 20 with a midpoint tap is inserted between those communication devices, and the midpoint 23 of the coil 21 forming the coil 20 with the midpoint tap It is a circuit for applying a voltage for an immunity test by a voltage generator 25. Examples of the voltage for this test include a sinusoidal AC voltage, an amplitude-modulated or frequency-modulated signal voltage, and a surge voltage.
この回路のコイル21と通信線15との間には、通信線15
の直流電圧（例えば−48ボルト）を阻止して当該コイル
21に流入するのを防止するコンデンサ27と、該コンデン
サ27とコイル21との直列共振を防ぎ且つ電圧印加時のイ
ンピーダンスを決定するための抵抗器29を挿入してい
る。Between the coil 21 and the communication line 15 of this circuit, the communication line 15
Block the DC voltage (eg -48V) of
A capacitor 27 that prevents the capacitor 27 from flowing into the capacitor 21 and a resistor 29 that prevents series resonance between the capacitor 27 and the coil 21 and determines the impedance when a voltage is applied are inserted.
しかしながら、上述した従来回路にあっては、イミュ
ニティ試験の際の電圧印加時に、２本の通信線15の間に
生じる電圧がイミュニティ試験に影響を与えないように
する必要がある。そのため、２つの抵抗器29における両
抵抗値の差が小さいことが必要となる。これと共に、イ
ミュニティ試験を行なうとき、抵抗器29に流入する電流
が大きくなり、該抵抗器29での消費電力が大きくなる。
このため、抵抗器29は大電力用であると共に、両抵抗器
29にてその抵抗値のバランスが良くとれていることが要
求され、その実現には技術的な困難を伴うという問題点
があった。However, in the above-mentioned conventional circuit, it is necessary to prevent the voltage generated between the two communication lines 15 from affecting the immunity test when the voltage is applied during the immunity test. Therefore, it is necessary that the difference between the resistance values of the two resistors 29 is small. At the same time, when the immunity test is performed, the current flowing into the resistor 29 increases, and the power consumption of the resistor 29 increases.
Therefore, the resistor 29 is for high power, and both resistors are
In 29, it was required that the resistance values be well balanced, and there was a problem in that it was technically difficult to realize.
本発明は、このような点にかんがみて創作されたもの
であり、符号誤り，誤動作の発生しないレベルに、対向
通信装置に印加される電圧を抑え、被試験通信装置のみ
の機器耐力を正確に測定できるようにしたイミュニティ
試験回路を提供することを目的としている。The present invention was created in view of such a point, and suppresses the voltage applied to the opposite communication device to a level at which code error and malfunction do not occur, and the device strength of only the communication device under test is accurately measured. It is intended to provide an immunity test circuit that enables measurement.
（ｉ）請求項１による発明 このような目的を達成するために、請求項１記載の発
明にあっては、少なくとも一対の間で通信を行なう関係
にある通信装置につき、所望の試験を行なうべき一方の
通信装置を被試験通信装置，他方の通信装置を対向通信
装置としておき、通信装置の間に介在する通信装置の２
導体にコモンモードチョークコイルを挿入し、該コモン
モードチョークコイルと被試験通信装置とを結ぶ通信線
の２導体の間にコンデンサを介してトランスの中点タッ
プ付きコイルを間挿し、また、中点タップ付きコイルと
同一コアに巻かれた別コイルにインピーダンス素子を接
続し、トランスの中点タップ付きコイルの中点に対して
試験用の電圧を印加するように構成している。(I) Invention according to Claim 1 In order to achieve such an object, in the invention according to Claim 1, a desired test should be performed on a communication device in which at least a pair communicates with each other. One communication device is a communication device under test and the other communication device is an opposite communication device, and the communication device is interposed between the communication devices.
A common mode choke coil is inserted into the conductor, and a coil with a midpoint tap of a transformer is inserted via a capacitor between two conductors of a communication line connecting the common mode choke coil and the communication device under test. An impedance element is connected to another coil wound around the same core as the tapped coil, and a voltage for testing is applied to the midpoint of the transformer's midpoint tapped coil.
（ii）請求項２による発明 また、請求項２記載の発明にあっては、上記請求項１
記載の発明の構成に、更に、コモンモードチョークコイ
ルと対向通信装置とを結ぶ通信線の２導体の間にコンデ
ンサを介して第２の中点タップ付きコイルを間挿させ、
当該第２の中点タップ付きコイルと同一コアに巻かれた
別コイルに第２のインピーダンス素子を接続した構成と
なっている。(Ii) Invention according to Claim 2 In the invention according to Claim 2, the above-mentioned Claim 1
In the configuration of the invention described above, a second midpoint tapped coil is further interposed between two conductors of a communication line connecting the common mode choke coil and the opposite communication device via a capacitor,
The second impedance element is connected to another coil wound around the same core as the second coil with a midpoint tap.
（ｉ）請求項１による発明 本発明にあっては、トランスの中点タップ付きコイル
の中点からデン電圧供給手段によってイミュニティ試験
用の電圧が印加される。この電圧が、トランスの中点タ
ップ付きコイル，コンデンサ、通信線の２導体を介して
引試験通信装置に印加される。この試験用の電圧の対向
通信装置への印加は、コモンモードチョークコイルによ
って低減されるので、対向通信装置には試験の影響はな
くなる。(I) Invention According to Claim 1 In the present invention, the voltage for immunity test is applied from the midpoint of the coil with the midpoint tap of the transformer by the den voltage supply means. This voltage is applied to the pull test communication device via the coil with the midpoint tap of the transformer, the capacitor, and the two conductors of the communication line. The application of this test voltage to the opposite communication device is reduced by the common mode choke coil, so that the opposite communication device is not affected by the test.
トランスの中点タップ付きコイルによる共振は、当該
中点タップ付きコイルと同一コアに巻かれた別コイルに
接続されたインピーダンス素子の回路によって防がれ
る。Resonance due to the coil with the midpoint tap of the transformer is prevented by the circuit of the impedance element connected to another coil wound on the same core as the coil with the midpoint tap.
従って、イミュニティ試験において、被試験通信装置
のみの機器耐力を正確に測定できるようになると共に、
大電力高精度の抵抗器が不要となる。Therefore, in the immunity test, it becomes possible to accurately measure the device yield strength of only the communication device under test,
The need for high power, high precision resistors is eliminated.
（ii）請求項２による発明 本発明にあっては、コモンモードチョークコイルと対
向通信装置とを結ぶ通信線の２導体の間にコンデンサを
介して間挿された第２の中点タップ付きコイルによっ
て、トランスの中点タップ付きコイルから供給される試
験用の電圧は更に低減されるので、対向通信装置への影
響はなくなる。(Ii) Invention according to claim 2 In the present invention, a second coil with a midpoint tap is inserted between two conductors of a communication line connecting the common mode choke coil and the opposite communication device via a capacitor. As a result, the test voltage supplied from the coil with the midpoint tap of the transformer is further reduced, so that the opposite communication device is not affected.
第２の中点タップ付きコイルと同一コアに巻かれた別
コイルに第２のイピーダンス素子が接続されているの
で、当該第２の中点タップ付きコイルとコンデンサによ
る共振が防がれる。Since the second impedance element is connected to another coil wound around the same core as the second center-point tapped coil, resonance due to the second center-point tapped coil and the capacitor is prevented.
従って、イミュニティ試験において、被試験通信装置
のみの機器耐力を更に正確に測定できるようになる。Therefore, in the immunity test, the device yield strength of only the communication device under test can be measured more accurately.
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に
説明する。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
I.第１実施例 （ｉ）第１実施例の構成 第１図は、本発明の一実施例におけるイミュニティ試
験回路の合成を示す。図において、第７図と同一符号は
同じ素子等を示すものであり、ここではそれらの詳細に
ついての説明は省略する。I. First Embodiment (i) Configuration of the First Embodiment FIG. 1 shows the synthesis of the immunity test circuit in one embodiment of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 7 indicate the same elements and the like, and the detailed description thereof will be omitted here.
第１図において、電圧注入トランス30を設け、該電圧
注入トランス30の中点タップ付きコイル31と同一コアに
巻いてある別なコイル35の両端にはインピーダンス素子
としての抵抗器37が接続されている。中点タップ付きコ
イル31の中点33（Ｃ点）と電圧発生装置25との間には抵
抗器39が挿入されている。In FIG. 1, a voltage injection transformer 30 is provided, and a resistor 37 as an impedance element is connected to both ends of another coil 35 wound around the same core as the coil 31 with the midpoint tap of the voltage injection transformer 30. There is. A resistor 39 is inserted between the midpoint 33 (point C) of the coil 31 with the midpoint tap and the voltage generator 25.
（ii）第１実施例の動作 このようにして構成される実施例について、その動作
を以下に説明する。(Ii) Operation of the First Embodiment The operation of the embodiment thus configured will be described below.
第１図において、被試験通信装置11と対向通信装置13
との間で信号伝送をしながら、電圧発生装置25から発生
させたイミュニティ試験用の電圧を中点タップ付きコイ
ル31を介して被試験通信装置位11に印加する。また、中
点タップ付きコイル31と通信線15との間のコンデンサ27
は通信線15の給電電圧により中点タップ付きコイル31に
直流電圧が流入するのを防止する。In FIG. 1, the communication device under test 11 and the opposite communication device 13
The signal for immunity test generated from the voltage generating device 25 is applied to the communication device under test 11 via the coil 31 with the midpoint tap while transmitting the signal between and. In addition, the capacitor 27 between the coil 31 with the midpoint tap and the communication line 15
Prevents the DC voltage from flowing into the coil 31 with the midpoint tap due to the power supply voltage of the communication line 15.
これに対して、電圧注入トランス30のコイル35には抵
抗器37が接続され、これにより、中点タップ付きコイル
31とコンデンサ27とによる直列共振を防止している。ま
た、通信線15におけるコンデンサ27の接続点において中
点タップ付きコイル31によるインピーダンスは、抵抗器
37とコイルとの巻線数で決まり、これを充分に大きくす
ることにより被試験通信装置11からの伝送信号が電圧注
入トランス30側に流入するのを防ぎ、伝送信号の劣化が
試験に影響することを防いでいる。On the other hand, a resistor 37 is connected to the coil 35 of the voltage injection transformer 30.
The series resonance by 31 and the capacitor 27 is prevented. Further, at the connection point of the capacitor 27 in the communication line 15, the impedance due to the midpoint tapped coil 31 is
Determined by the number of turns between 37 and the coil, and by making this sufficiently large, the transmission signal from the communication device under test 11 is prevented from flowing into the voltage injection transformer 30 side, and the deterioration of the transmission signal affects the test. Is preventing things.
ここで、中点タップ付きコイル31の巻線数をNa、コイ
ル35の巻線数をNbとし、コイルのインダクタンスが充分
に大きければ、抵抗器37の抵抗値をＲ（Ω）とすると、
通信線15におけるコンデンサ27の共通接続点ＡとＢとの
間におけるインピーダンスZABは、 ZAB＝Ｒ（2Na）2/Nb2 で表される。Here, if the number of windings of the coil 31 with the midpoint tap is Na, the number of windings of the coil 35 is Nb, and the inductance of the coil is sufficiently large, the resistance value of the resistor 37 is R (Ω),
The impedance Z AB between the common connection points A and B of the capacitor 27 on the communication line 15 is expressed by Z AB = R (2Na) 2 / Nb 2 .
更に、中点タップ付きコイル13の巻線のバランスを良
くすることで、電圧注入トランス30で電圧を印加すると
きに２本の通信線15の間に発生する電圧を、被試験通信
装置11と対向通信装置13との間の伝送信号に影響を与え
ないレベルに抑えることができる。Furthermore, by improving the balance of the windings of the coil 13 with the midpoint tap, the voltage generated between the two communication lines 15 when the voltage is applied by the voltage injection transformer 30 is set to the communication device 11 under test. It is possible to suppress to a level that does not affect the transmission signal with the opposite communication device 13.
ここで、抵抗器39は、この試験回路で被試験通信装置
11に電圧を印加する際のインピーダンス（共通接続点Ａ
と共通接続点Ｂとを短絡したものと仮定し、そこと大地
との間でみたインピーダンス）を決めるものである。こ
のインピーダンスは、通信線15の縦回路（通信線15−大
地帰路回路）を模擬し、被試験通信装置11に電圧が印加
されたときに実際に誘導電圧が生じた場合のインピーダ
ンスと同等にする。Here, the resistor 39 is the communication device under test in this test circuit.
Impedance when applying voltage to 11 (common connection point A
And the common connection point B are assumed to be short-circuited, and the impedance seen between that point and the ground) is determined. This impedance simulates the vertical circuit of the communication line 15 (communication line 15-ground return circuit), and is equal to the impedance when an induced voltage is actually generated when a voltage is applied to the communication device 11 under test. .
第２図は、第１図における回路の上述したインピーダ
ンスZABの測定値を示す。ここで、第２図（ａ）は、コ
イル35がない場合であって約1.5（kHz）で共振が起こ
り、該イピーダンスＺが非常に小さくなる。そのため伝
送信号が電圧注入トランス30で短絡され伝送損失が大き
くなる。FIG. 2 shows the measured value of the above-mentioned impedance Z AB of the circuit in FIG. Here, in FIG. 2A, when the coil 35 is not provided, resonance occurs at about 1.5 (kHz), and the impedance Z becomes extremely small. Therefore, the transmission signal is short-circuited by the voltage injection transformer 30 and the transmission loss increases.
第２図（ｂ）は、コイル35があり、それを400（Ω）
の抵抗器37で終端したときのインピーダンスZABを示
す。これにより、インピーダンスZABは、１（kHz）〜３
（MHz）まで最低でも700（Ω）以上あり、一般の平行ケ
ーブルでは殆ど伝送信号に影響を与えない。In Fig. 2 (b), there is a coil 35, which is 400 (Ω)
Impedance Z AB when terminated by resistor 37 of is shown. As a result, the impedance Z AB is 1 (kHz) to 3
(MHz) is at least 700 (Ω) or more, and ordinary parallel cables hardly affect the transmission signal.
第３図は、第１図において、共通接続点A,BとＣ点と
の間におけるインピーダンスZAB-Cの測定値を示す。こ
のインピーダンスZAB-Cは、共通接続点Ａと共通接続点
Ｂとを短絡したものと仮定し、そことＣ点との間でみた
インピーダンスであり、10（kHz）〜３（MHz）で非常に
小さな値となる。従って、電圧印加時の電圧注入トラン
ス30部分での電圧降下は非常に小さくなり、通信線15に
効率良く電圧が印加できることがわかる。FIG. 3 shows measured values of the impedance Z AB-C between the common connection points A, B and C in FIG. This impedance Z AB-C is the impedance seen between the common connection point A and the common connection point B, and between that point and C point, and is 10 (kHz) to 3 (MHz). Will be a small value. Therefore, it can be seen that the voltage drop in the voltage injection transformer 30 portion during voltage application becomes very small, and the voltage can be efficiently applied to the communication line 15.
第４図に、第１図に示す第１実施例での印加電圧特性
を示す。ここで、第１図に示す回路において、電圧発生
装置25によって電圧V0（○印）を印加したとき被試験通
信装置11に印加される電圧V1（×印）および対向通信装
置13に印加される電圧V2（△印）の測定値を示す。この
特性からも分かるように、特に高周波において、対向通
信装置13に印加される電圧V2が低減している。FIG. 4 shows applied voltage characteristics in the first embodiment shown in FIG. Here, in the circuit shown in FIG. 1, when the voltage V 0 (marked with ○) is applied by the voltage generator 25, the voltage V 1 (marked with ×) applied to the communication device under test 11 and the voltage applied to the opposite communication device 13 are applied. The measured voltage V 2 (marked with Δ) is shown. As can be seen from this characteristic, the voltage V 2 applied to the opposite communication device 13 is reduced especially at high frequencies.
II.第２実施例 第５図は本発明の第２実施例を示す。図において、こ
の第２実施例は、第１図に示す回路に、更に、コモンモ
ードチョークコイル17と対向通信装置13との間に、コン
デンサ27と同じ容量値の２つのコンデンサ41と、これら
コンデンサ41に接続され且つ中点43を有するトランス40
の中点タップ付きコイル45とを設け、この中点43を接地
している。更に、中点タップ付きコイル45と同一コアに
巻かれた別なコイル47に、コンデンサ41による共振を防
ぐために抵抗器49を接続している。このトランス40は、
通信線15と大地との間のインピーダンスを小さくし、コ
モンモードチョークコイル17の効果を大きくするもので
あり、特に、コモンモードチョークコイル17の効果の小
さい低周波領域で対向通信装置13に印加される電圧を減
少させる働きが大きい。II. Second Embodiment FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention. In the figure, this second embodiment is different from the circuit shown in FIG. 1 in that between the common mode choke coil 17 and the opposite communication device 13, two capacitors 41 having the same capacitance value as the capacitor 27 and these capacitors 41 are provided. Transformer 40 connected to 41 and having midpoint 43
And a coil 45 with a tap at the midpoint is provided, and the midpoint 43 is grounded. Further, a resistor 49 is connected to another coil 47 wound around the same core as the coil 45 with the midpoint tap to prevent resonance caused by the capacitor 41. This transformer 40
The impedance between the communication line 15 and the ground is reduced, and the effect of the common mode choke coil 17 is increased, and in particular, the common mode choke coil 17 is applied to the opposite communication device 13 in a low frequency region where the effect is small. Has a great effect on reducing the voltage.
第６図に、第５図に示す第２実施例での印加電圧特性
を示す。FIG. 6 shows applied voltage characteristics in the second embodiment shown in FIG.
第５図に示す回路において、電圧V0（○印）を印加し
たとき、被試験通信装置11に印加される電圧V1（×印）
および対向通信装置13に印加される電圧V2（△印）の測
定値を示す。In the circuit shown in FIG. 5, when the voltage V 0 (o) is applied, the voltage V 1 (x) applied to the communication device 11 under test.
And the measured value of the voltage V 2 (marked with Δ) applied to the opposite communication device 13 is shown.
ところで、第４図に示すように、第１実施例の回路で
は、高周波における電圧印加で試験が可能である。これ
に対して、第６図に示すように、第２実施例の回路で
は、低周波から高周波にわたって対向通信装置13に印加
される電圧V2が低減されることが分かる。これより、特
に低周波において第２実施例の回路を使用すると、対向
通信装置13に印加される電圧を効果的に減少でき、正確
なイミュニティ試験が可能となる。By the way, as shown in FIG. 4, the circuit of the first embodiment can be tested by applying a voltage at a high frequency. On the other hand, as shown in FIG. 6, in the circuit of the second embodiment, the voltage V 2 applied to the opposite communication device 13 is reduced from low frequency to high frequency. From this, particularly when the circuit of the second embodiment is used at a low frequency, the voltage applied to the opposite communication device 13 can be effectively reduced, and an accurate immunity test can be performed.
III.実施例のまとめ 上述したように、被試験通信装置11とこれと対向して
通信を行なう対向通信装置13との間の一対毎の信号線
（通信線15）間に電圧注入トランス30を挿入し、この電
圧注入トランス30（中点タップ付きコイル31）の中点33
から電圧を印加する試験回路において、中点タップ付き
コイル31と同一コアにコイル（共振防止用コイル）35を
巻き、これにインピーダンス素子（抵抗器37）を接続す
ることにより、中点タップ付きコイル31と直流電流流入
防止用のコンデンサ27の共振を防ぐことを最も大きな特
徴とする。III. Summary of Examples As described above, the voltage injection transformer 30 is provided between each pair of signal lines (communication line 15) between the communication device under test 11 and the opposite communication device 13 that communicates with the communication device under test 11. Insert and midpoint 33 of this voltage injection transformer 30 (coil 31 with midpoint tap)
In a test circuit that applies a voltage from a coil with a midpoint tap, a coil (resonance prevention coil) 35 is wound around the same core as the coil with a midpoint tap 31, and an impedance element (resistor 37) is connected to this coil The greatest feature is to prevent resonance between 31 and the capacitor 27 for preventing direct current inflow.
また、コモンモードチョークコイル17と対向通信装置
13とが接続されている側にトランス40を更に設け、当該
トランス40のコイル47とそれを終端する抵抗器49によっ
て、低周波において対向通信装置13に印加される電圧を
低減している。In addition, the common mode choke coil 17 and the opposite communication device
A transformer 40 is further provided on the side connected to 13, and the voltage applied to the opposite communication device 13 at low frequencies is reduced by a coil 47 of the transformer 40 and a resistor 49 terminating the coil 47.
従来の技術では、コイル21の共振を防ぐために中点タ
ップ付きコイル20と通信線15の間に抵抗器29を挿入する
構成をとっているが、通信線15間に発生する電圧を小さ
く抑え、且つ、イミュニティ試験で試験装置に印加する
電圧を大きくするためには、精度のよい大電力抵抗器が
必要であった。In the conventional technique, in order to prevent the resonance of the coil 21, a resistor 29 is inserted between the coil 20 with a midpoint tap and the communication line 15, but the voltage generated between the communication lines 15 is suppressed to a small level. Moreover, in order to increase the voltage applied to the test device in the immunity test, a high-power resistor with high accuracy was required.
これに対して、本発明実施例では、電圧注入トランス
30の中点タップ付きコイル31の巻き線のバランスを良く
することで通信線15間に発生する電圧を小さく抑えるこ
とができる。また、中点タップ付きコイル31とコンデン
サ27との共振を防ぐための抵抗器37は中点タップ付きコ
イル31と同一コアに巻いたコイル35に接続し、この抵抗
器37の消費電力は小さいものでよくなる。On the other hand, in the embodiment of the present invention, the voltage injection transformer
By improving the balance of the winding of the coil 31 with the midpoint taps 30, the voltage generated between the communication lines 15 can be suppressed to a low level. A resistor 37 for preventing resonance between the coil 31 with the midpoint tap and the capacitor 27 is connected to the coil 35 wound around the same core as the coil 31 with the midpoint tap, and the power consumption of the resistor 37 is small. Get better in
更に、トランス40のコイル47と終端抵抗器49によっ
て、低周波においても、被試験通信装置11に対する試験
が効果的に為される。Furthermore, the coil 47 of the transformer 40 and the terminating resistor 49 effectively test the communication device under test 11 even at low frequencies.
IV.本発明の変形態様 なお、上述した実施例にあっては、被試験通信装置1
1,対向通信装置13を大地に接続したものを図示したが、
これに限られることはない。例えば建物のアースに接続
するようにしてもよい。また、大地等に直接接続しなく
てもよく、その場合には所謂浮遊容量を介して大地に接
続することになる。IV. Modified Embodiment of the Invention In the above-described embodiment, the communication device under test 1
1, the opposite communication device 13 is shown connected to the ground,
It is not limited to this. For example, it may be connected to the ground of the building. Further, it is not necessary to directly connect to the ground or the like, and in that case, it is connected to the ground through a so-called stray capacitance.
更に、本発明には各種の変形態様があることは当業者
であれば容易に推考できるであろう。Further, those skilled in the art can easily contemplate that the present invention has various modifications.
上述したように、本発明によれば、符号誤り，誤動作
の発生しないレベルにて、被試験通信装置に効率良く電
圧を印加することができ、且つ、対向通信装置に印加さ
れる電圧が抑えられ、被試験通信装置のみの機器耐力を
正確に測定できる。また、大電力高精度抵抗器を必要と
しない。As described above, according to the present invention, the voltage can be efficiently applied to the communication device under test and the voltage applied to the opposite communication device can be suppressed at a level at which no code error or malfunction occurs. , It is possible to accurately measure the device yield strength of only the communication device under test. Also, no high power, high precision resistors are required.
第１図は本発明の一実施例によるイミュニティ試験回路
の構成ブロック図、 第２図は第１図に示す回路におけるインピーダンスZAB
を示す特性図、 第３図は第１図に示す回路における共通接続点A,BとＣ
点との間のインピーダンスZAB-Cを示す特性図、 第４図は第１図に示す回路における印加電圧の特性図、 第５図は本発明の別実施例によるイミュニティ試験回路
の構成ブロック図、 第６図は第５図に示す回路における印加電圧の特性図、 第７図は従来例を示す説明図である。 図において、 11は被試験通信装置、 13は対向通信装置、 15は通信線、 17はコモンモードチョークコイル、 20は中点タップ付きコイル、 25は電圧発生装置、 30は電圧注入トランス、 31は中点タップ付きコイル、 39は抵抗器、 40はトランス、 45は中点タップ付きコイル、 49は抵抗器である。FIG. 1 is a configuration block diagram of an immunity test circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an impedance Z AB in the circuit shown in FIG.
FIG. 3 is a characteristic diagram showing the common connection points A, B and C in the circuit shown in FIG.
FIG. 4 is a characteristic diagram showing an impedance Z AB-C between a point and a point, FIG. 4 is a characteristic diagram of an applied voltage in the circuit shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 6 is a characteristic diagram of the applied voltage in the circuit shown in FIG. 5, and FIG. 7 is an explanatory diagram showing a conventional example. In the figure, 11 is a communication device under test, 13 is an opposite communication device, 15 is a communication line, 17 is a common mode choke coil, 20 is a coil with a midpoint tap, 25 is a voltage generator, 30 is a voltage injection transformer, and 31 is a voltage injection transformer. Midpoint tapped coil, 39 is resistor, 40 is transformer, 45 is midpoint tapped coil, and 49 is resistor.
Claims (2)
とも一対の通信装置につき、所望の試験を行うべき一方
の通信装置を被試験通信装置，他方の通信装置を対向通
信装置とするイミュニティ試験回路において、 前記一対の通信装置の間に介在する通信線の２導体に挿
入されたコモンモードチョークコイルと、 前記コモンモードチョークコイルと前記被試験通信装置
とを結ぶ前記通信線の２導体の間にコンデンサを介して
間挿され、中点タップ付きコイルと、該中点タップ付き
コイルと同一のコアに巻かれた別コイルとを有するトラ
ンスと、 前記トランスの別コイルに接続されたインピーダンス素
子と、 前記トランスの中点タップ付きコイルの中点に対して試
験用の電圧を印加する電圧供給手段と を具えるように構成したことを特徴とするイミュニティ
試験回路。1. An immunity test circuit for at least a pair of communication devices having a relationship of communicating with each other, wherein one communication device to be subjected to a desired test is a communication device under test and the other communication device is an opposite communication device. In a common mode choke coil inserted between two conductors of a communication line interposed between the pair of communication devices, and between two conductors of the communication line connecting the common mode choke coil and the communication device under test. A transformer having a midpoint tapped coil, a coil wound around the same core as the midpoint tapped coil, and an impedance element connected to the other coil of the transformer, which is interposed via a capacitor. And a voltage supply means for applying a test voltage to the center point of the coil with the middle point tap of the transformer. That immunity test circuit.
向通信装置とを結ぶ前記通信線の２導体の間にコンデン
サを介して第２の中点タップ付きコイルを間挿させ、当
該第２の中点タップ付きコイルの中点を前記共通電位点
に接続し、前記第２の中点タップ付きコイルと同一コア
に巻かれた別コイルに第２インピーダンス素子を接続し
て構成したことを特徴とする請求項１記載のイミュニテ
ィ試験回路。2. A second midpoint tapped coil is inserted between two conductors of the communication line connecting the common mode choke coil and the opposite communication device via a capacitor, and the second midpoint is inserted. The middle point of the tapped coil is connected to the common potential point, and the second impedance element is connected to another coil wound on the same core as the second midpoint tapped coil. The immunity test circuit according to item 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17837888A JP2675584B2 (en) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | Immunity test circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17837888A JP2675584B2 (en) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | Immunity test circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227849A JPH0227849A (en) | 1990-01-30 |
| JP2675584B2 true JP2675584B2 (en) | 1997-11-12 |
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ID=16047445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP17837888A Expired - Fee Related JP2675584B2 (en) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | Immunity test circuit |
Country Status (1)
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|---|---|
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Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106896281A (en) * | 2016-12-30 | 2017-06-27 | 北京航空航天大学 | A kind of method of testing of the transient state common mode inhibition parameter to numeral isolation class device |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP17837888A patent/JP2675584B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
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| JPH0227849A (en) | 1990-01-30 |
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