JP2670558B2 - LCD substrate vacuum processing device - Google Patents
LCD substrate vacuum processing deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、LCD基板の真空処理装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a vacuum processing apparatus for an LCD substrate.
(従来の技術) 一般に基板処理装置は、基板例えばLCD基板あるいは
半導体基板(半導体ウエハ)等に所定の処理を施すため
の処理室と、この処理室内に基板をロード・アンロード
するための移送機構とを備えたものが多い。(Prior Art) In general, a substrate processing apparatus includes a processing chamber for performing a predetermined process on a substrate, such as an LCD substrate or a semiconductor substrate (semiconductor wafer), and a transfer mechanism for loading and unloading the substrate in the processing chamber. Many are equipped with
例えば、プラズマエッチング装置では、内部を真空引
き可能に構成された真空処理室内に、電極例えば平行平
板電極が設けられており、この平行平板電極の間に被処
理基板例えば表面にレジスト薄膜を形成されたLCD基板
あるいは半導体ウエハ等を配置する。そして、真空処理
室内を真空引きするとともに、この真空処理室内に所定
のエッチングガスを導入し、平行平板電極間に高周波電
圧を印加してプラズマを発生させ、このプラズマにより
上記被処理基板のレジスト薄膜をエッチングするよう構
成されている。For example, in a plasma etching apparatus, an electrode such as a parallel plate electrode is provided in a vacuum processing chamber configured to be able to evacuate the inside, and a resist thin film is formed between the parallel plate electrodes on a substrate to be processed such as a surface. An LCD substrate or semiconductor wafer is placed. Then, the vacuum processing chamber is evacuated, a predetermined etching gas is introduced into the vacuum processing chamber, a high frequency voltage is applied between the parallel plate electrodes to generate plasma, and the plasma causes the resist thin film of the substrate to be processed. Is configured to be etched.
また、このようなプラズマエッチング装置では、処理
工程の自動化およびスループットの向上を図るため、ロ
ードロック室を介して真空処理室内に被処理基板をロー
ド・アンロードするための移送機構を備えたものが多
い。Further, such a plasma etching apparatus includes a transfer mechanism for loading and unloading a substrate to be processed into a vacuum processing chamber through a load lock chamber in order to automate a processing step and improve throughput. Many.
(発明が解決しようとする課題) ところで、近年の半導体製造技術の進歩に伴い、上述
したような基板処理装置においても処理工程数が増加す
る傾向に有り、例えばエッチング処理に係る工程におい
ても、処理条件を変えて複数回のエッチング処理を行っ
たり、エッチング処理とアッシング処理を続けて行った
りする工程が採用されつつある。したがって、このよう
な工程に対して高効率で対処可能な基板処理装置の開発
が望まれていた。(Problems to be Solved by the Invention) By the way, with the recent progress in semiconductor manufacturing technology, the number of processing steps tends to increase even in the substrate processing apparatus as described above. A process of performing etching treatment a plurality of times under different conditions, or performing etching treatment and ashing treatment continuously is being adopted. Therefore, it has been desired to develop a substrate processing apparatus capable of handling such a process with high efficiency.
本発明はかかる従来の事情に対処してなされたもの
で、高効率で良好な処理を行うことのできるLCD基板の
真空処理装置を提供しようとするものである。The present invention has been made in view of such conventional circumstances, and an object of the present invention is to provide a vacuum processing apparatus for an LCD substrate, which can perform high efficiency and good processing.
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち、本発明のLCD基板の真空処理装置は、LCD基
板を真空処理室内の平行平板電極間に設けて、プラズマ
エッチング処理を行う装置において、 前記真空処理室に設けられたゲートバルブを介して連
設された真空移送室と、 この真空移送室に設けられ前記LCD基板を前記真空処
理室内へ移送する搬送アームと、この搬送アームに設け
られ前記LCD基板の中央部下面を保持する保持部材と、 前記搬送アームに設けられ前記LCD基板を前記搬送ア
ーム上で位置決めする位置決め手段と を具備したことを特徴とする。[Configuration of the Invention] (Means for Solving the Problems) That is, a vacuum processing apparatus for an LCD substrate according to the present invention is an apparatus for performing a plasma etching process by providing the LCD substrate between parallel plate electrodes in a vacuum processing chamber, A vacuum transfer chamber continuously provided through a gate valve provided in the vacuum processing chamber, a transfer arm provided in the vacuum transfer chamber for transferring the LCD substrate to the vacuum processing chamber, and a transfer arm provided in the transfer arm. A holding member that holds the lower surface of the central portion of the LCD substrate, and a positioning means that is provided on the transfer arm and positions the LCD substrate on the transfer arm are provided.
(作 用) 上記構成の本発明のLCD基板の真空処理装置では、搬
送アームにLCD基板をこの搬送アーム上で位置決めする
位置決め手段が設けられている。したがって、LCD基板
を搬送アームにより移送する間、正確に位置決めするこ
とができ、移送先の真空処理室内での正確な所定位置へ
の位置決めを行うことができる。これによって、高効率
で良好な処理を行うことができる。(Operation) In the vacuum processing apparatus for an LCD substrate of the present invention having the above configuration, the transfer arm is provided with the positioning means for positioning the LCD substrate on the transfer arm. Therefore, the LCD substrate can be accurately positioned while being transferred by the transfer arm, and can be accurately positioned at a predetermined position in the vacuum processing chamber of the transfer destination. As a result, high efficiency and good processing can be performed.
(実施例) 以下、本発明を、LCD基板のアッシング処理およびエ
ッチング処理を行うLCD基板の真空処理装置に適用した
実施例を図面を参照して説明する。(Example) An example in which the present invention is applied to an LCD substrate vacuum processing apparatus that performs an ashing process and an etching process on an LCD substrate will be described below with reference to the drawings.
移送手段としての搬送アーム1は、回転軸により枢動
可能とされた2つの間接部で連結された3つのアーム1
a、1b、1cからなり、第1アーム1aの基端部は後述する
真空移載室11の中央に突設された図示しない2重回転軸
の外軸に固定され、先端の第3アーム1cには矩形のLCD
基板2を搭載可能とされた基板搭載部が設けられてい
る。The transfer arm 1 as a transfer means is composed of three arms 1 connected by two indirect parts that are pivotally movable by a rotating shaft.
a, 1b, and 1c. The base end of the first arm 1a is fixed to an outer shaft of a double rotation shaft (not shown) protruding from the center of a vacuum transfer chamber 11, which will be described later. Has a rectangular LCD
A board mounting portion on which the board 2 can be mounted is provided.
すなわち、この基板搭載部には、例えばLCD基板2の
長手方向に沿ってその略中央下面を保持する中央部保持
部材3とLCD基板2の第3アーム1c側の両側側部下面を
保持する側部保持部材4a、4bとが設けられている。そし
て、これらの中央部保持部材3および側部保持部材4a、
4bには、第2図にも示すように、先端部に円錐状のテー
パ部を形成され、このテーパ面によってLCD基板2が所
定位置に載置されるようガイドする位置決め用突起5
が、複数例えば合計8つ設けられている。なお、これら
の位置決め用突起5は、ガラス製のLCD基板2が摺動す
る如く接触するので、硬質な部材例えばステンレス等の
金属により構成することが好ましい。That is, in this board mounting portion, for example, a central part holding member 3 which holds a substantially central lower surface thereof along the longitudinal direction of the LCD board 2 and a side which holds both side lower surfaces of the LCD board 2 on the side of the third arm 1c. Part holding members 4a and 4b are provided. Then, the central part holding member 3 and the side part holding members 4a,
As shown in FIG. 2, a conical taper portion is formed on the tip end of 4b, and the taper surface guides the LCD substrate 2 to a predetermined position.
However, a plurality, for example, a total of eight are provided. Since the positioning projections 5 come into contact with each other so that the LCD substrate 2 made of glass slides, it is preferable that the positioning projections 5 are made of a hard member such as metal such as stainless steel.
また、2重回転軸および搬送アーム1の各間接部の回
転軸には図示しないプーリーが軸装され、各プーリー間
には複数のガイドローラーを介してベルトが掛け渡され
て、2重回転軸の内軸の回転により各間接部が回転する
ように構成されている。そして2重回転軸の外軸と内軸
とは各アーム1a、1b、1cが後述する第4図に示す動きを
するよう別々にその回転が制御される。Further, pulleys (not shown) are mounted on the double rotary shaft and the rotary shaft of each indirect portion of the transport arm 1, and a belt is stretched between the pulleys via a plurality of guide rollers to form a double rotary shaft. Each of the joints is configured to be rotated by rotation of the inner shaft. The rotation of the outer shaft and the inner shaft of the double rotation shaft is separately controlled so that the arms 1a, 1b, 1c move as shown in FIG. 4 described later.
上記構成の搬送アーム1は、第3図に示すように構成
された基板処理装置10の真空移送室11内に設けられてい
る。なお、この真空移送室11の両側にはゲートバルブ12
を介してアッシング用真空処理室13およびエッチング用
真空処理室14が設けられており、これらの真空処理室1
3、14には、それぞれセンダ15およびレシバ16を連設さ
れたロードロック室17、18がゲートバルブ12を介して接
続されている。The transfer arm 1 having the above configuration is provided in the vacuum transfer chamber 11 of the substrate processing apparatus 10 configured as shown in FIG. A gate valve 12 is provided on both sides of the vacuum transfer chamber 11.
A vacuum processing chamber 13 for ashing and a vacuum processing chamber 14 for etching are provided through the above.
Load lock chambers 17 and 18 in which a sender 15 and a receiver 16 are connected to each other are connected to 3 and 14 via a gate valve 12.
そして、搬送アーム1は、第4図に示すようにして例
えばLCD基板2をアッシング用真空処理室13からエッチ
ング用真空処理室14に移送する。Then, the transfer arm 1 transfers, for example, the LCD substrate 2 from the ashing vacuum processing chamber 13 to the etching vacuum processing chamber 14 as shown in FIG.
すなわち、2重回転軸の回転により最大伸長位置でLC
D基板2を搭載した状態から第1アーム1aは図示矢印の
如く反時計方向に等速度で回転し、第2アーム1bは時計
方向に第1アーム1aの2倍の角速度で回転し、第3アー
ム1cは第1アーム1aと同方向に同一角速度で回転する。
したがって、搬送アーム1は、同図(a)の状態から同
図(b)、(c)に示すように、第1アーム1aと第2ア
ーム1bの間接部が屈曲しつつ第3アーム1cが同一直線上
を後退する。That is, the LC at the maximum extension position due to the rotation of the double rotation shaft.
From the state where the D board 2 is mounted, the first arm 1a rotates counterclockwise at a constant speed as indicated by an arrow in the figure, and the second arm 1b rotates clockwise at an angular velocity twice that of the first arm 1a. The arm 1c rotates in the same direction as the first arm 1a at the same angular velocity.
Therefore, as shown in FIGS. 2B and 2C from the state shown in FIG. 2A, the transfer arm 1 has the third arm 1c while the indirect portion of the first arm 1a and the second arm 1b is bent. Retreat on the same straight line.
このようにして第1アーム1aの回転軸から第3アーム
1cの先端までの距離がほぼ第1アーム1aの長さと等しく
なったところで、内軸の回転が一旦停止し、同図
(d)、(e)に示すように、この状態を維持したまま
180゜回転する。In this way, from the rotation axis of the first arm 1a to the third arm
When the distance to the tip of 1c becomes almost equal to the length of the first arm 1a, the rotation of the inner shaft is temporarily stopped, and this state is maintained as shown in (d) and (e) of the same figure.
Rotate 180 ゜.
しかる後、2重回転軸の外軸と内軸がこれまでと反対
側に回転され、同図(f)に示すように第3アーム1cが
伸び出していき、LCD基板2が真空状態の真空処理室1
3、14間で移送される。Thereafter, the outer shaft and the inner shaft of the double rotating shaft are rotated to the opposite sides, and the third arm 1c extends as shown in FIG. Processing room 1
Transferred between 3 and 14.
なお、上記搬送アーム1によるLCD基板2の移送の際
に、搬送アーム1に設けられた位置決め用突起5により
LCD基板2は、搬送アーム1上の所定位置に載置され、
また、この搬送アーム1上から真空処理室14内の所定位
置に載置することができるが、このようなLCD基板2の
載置が正確に行われたか否かを確認するため、例えば発
光素子と受光素子等からなるLCD基板2のポジショニン
グセンサを設けてもよい。In addition, when the LCD substrate 2 is transferred by the transfer arm 1, the positioning protrusion 5 provided on the transfer arm 1
The LCD substrate 2 is placed at a predetermined position on the transfer arm 1,
Further, it is possible to place the transfer substrate 1 at a predetermined position in the vacuum processing chamber 14 from above the transfer arm 1. In order to confirm whether or not the LCD substrate 2 is placed correctly, for example, a light emitting element is used. And a positioning sensor for the LCD substrate 2 including a light receiving element and the like.
すなわち、この実施例の基板処理装置10では、まず、
ロードロック室17を介してセンダ15からアッシング用真
空処理室13内にLCD基板2が搬入され、ここで周知のよ
うなLCD基板2のアッシング処理が行われる。そして、
アッシング処理が終了すると、真空雰囲気とされた真空
移載室11を介して前述したような搬送アーム1によるLC
D基板2の移送が行われ、LCD基板2がエッチング用真空
処理室14に移送される。そして、ここで周知のエッチン
グ処理例えば高周波電力によるプラズマエッチング処理
が行われ、この後LCD基板2は、ロードロック室18を介
してレシーバ16に搬出される。なお、同様にして搬送方
向を逆にし、エッチング処理後にアッシング処理を行う
こともできる。That is, in the substrate processing apparatus 10 of this embodiment, first,
The LCD substrate 2 is carried into the ashing vacuum processing chamber 13 from the sender 15 via the load lock chamber 17, and the ashing process of the LCD substrate 2 as well known is performed here. And
When the ashing process is completed, the LC by the transfer arm 1 as described above is passed through the vacuum transfer chamber 11 in the vacuum atmosphere.
The D substrate 2 is transferred, and the LCD substrate 2 is transferred to the etching vacuum processing chamber 14. Then, a known etching process, for example, a plasma etching process using high frequency power is performed here, and thereafter the LCD substrate 2 is carried out to the receiver 16 via the load lock chamber 18. Similarly, the transport direction may be reversed and the ashing process may be performed after the etching process.
したがって、異なる条件で行われるアッシング処理と
エッチング処理を連続して効率的に実施することができ
る。また、同時に例えば2台の装置を用いる場合に較べ
て装置の設置スペースを低減することができ、特に単位
床面積当りの建設コストの高いクリーンルーム内等にお
ける作業スペースの有効利用も図ることができる。Therefore, the ashing process and the etching process performed under different conditions can be continuously and efficiently performed. At the same time, the installation space of the devices can be reduced as compared with the case of using, for example, two devices, and the working space can be effectively used especially in a clean room where the construction cost per unit floor area is high.
なお、以上の実施例では、本発明をアッシング処理の
後にエッチング処理を行う場合に適用した例について説
明したが、本発明はかかる実施例に限定されるものでは
なく、他の処理を行う場合であっても同様にして適用す
ることができることはもちろんである。In the above embodiment, an example in which the present invention is applied to a case where an etching process is performed after an ashing process has been described. However, the present invention is not limited to such an embodiment, and may be applied to a case where another process is performed. Of course, the same can be applied in the same manner.
[発明の効果] 以上説明したように、本発明のLCD基板の真空処理装
置によれば、LCD基板を搬送アームにより移送する間、
正確に位置決めすることができるので、移送先の真空処
理室内での正確な所定位置への位置決めを行うことがで
きる。これによって、高効率で良好な処理を行うことが
できる。[Effects of the Invention] As described above, according to the vacuum processing apparatus for an LCD substrate of the present invention, while the LCD substrate is transferred by the transfer arm,
Since accurate positioning can be performed, accurate positioning at a predetermined position in the vacuum processing chamber of the transfer destination can be performed. As a result, high efficiency and good processing can be performed.
第1図は本発明の一実施例のLCD基板の真空処理装置の
搬送アームを示す平面図、第2図は第1図の搬送アーム
の要部を示す側面図、第3図は本発明の一実施例のLCD
基板の真空処理装置の全体構成を示す図、第4図は第1
図の搬送アームの動作を説明するための図である。 1……搬送アーム、1a……第1アーム、1b……第2アー
ム、1c……第3アーム、2……LCD基板、3……中央部
保持部材、4a、4b……側部保持部材、5……位置決め用
突起。FIG. 1 is a plan view showing a transfer arm of an LCD substrate vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view showing a main part of the transfer arm shown in FIG. 1, and FIG. LCD of one embodiment
FIG. 4 is a diagram showing the overall configuration of a substrate vacuum processing apparatus, FIG.
It is a figure for demonstrating operation | movement of the conveyance arm of a figure. 1 ... Transfer arm, 1a ... First arm, 1b ... Second arm, 1c ... Third arm, 2 ... LCD substrate, 3 ... Center holding member, 4a, 4b ... Side holding member 5 ... Position for positioning.
Claims (4)
に設けて、プラズマエッチング処理を行う装置におい
て、 前記真空処理室に設けられたゲートバルブを介して連設
された真空移送室と、 この真空移送室に設けられ前記LCD基板を前記真空処理
室内へ移送する搬送アームと、この搬送アームに設けら
れ前記LCD基板の中央部下面を保持する保持部材と、 前記搬送アームに設けられ前記LCD基板を前記搬送アー
ム上で位置決めする位置決め手段と を具備したことを特徴とするLCD基板の真空処理装置。1. An apparatus for performing a plasma etching process by providing an LCD substrate between parallel plate electrodes in a vacuum processing chamber, and a vacuum transfer chamber continuously provided through a gate valve provided in the vacuum processing chamber, A transfer arm provided in the vacuum transfer chamber for transferring the LCD substrate into the vacuum processing chamber, a holding member provided in the transfer arm for holding a central lower surface of the LCD substrate, and the LCD provided in the transfer arm. A vacuum processing apparatus for an LCD substrate, comprising: positioning means for positioning the substrate on the transfer arm.
の搭載部を有し屈伸および回転可能に構成された請求項
1記載のLCD基板の真空処理装置。2. The vacuum processing apparatus for an LCD substrate according to claim 1, wherein the transfer arm has a mounting portion for the LCD substrate at a tip end portion thereof, and is configured to be bendable / extendable and rotatable.
記LCD基板の搭載部に形成された突起部からなる請求項
2記載のLCD基板の真空処理装置。3. The vacuum processing apparatus for an LCD substrate according to claim 2, wherein the positioning means comprises a protrusion formed on the mounting portion of the LCD arm of the transfer arm.
LCD基板の真空処理装置。4. The method according to claim 3, wherein the protrusion is made of metal.
LCD substrate vacuum processing equipment.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18187389A JP2670558B2 (en) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | LCD substrate vacuum processing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18187389A JP2670558B2 (en) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | LCD substrate vacuum processing device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0346249A JPH0346249A (en) | 1991-02-27 |
JP2670558B2 true JP2670558B2 (en) | 1997-10-29 |
Family
ID=16108348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18187389A Expired - Fee Related JP2670558B2 (en) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | LCD substrate vacuum processing device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2670558B2 (en) |
-
1989
- 1989-07-14 JP JP18187389A patent/JP2670558B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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JPH0346249A (en) | 1991-02-27 |
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