JP2670385B2 - Micro illuminant observation device - Google Patents

Micro illuminant observation device

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JP2670385B2
JP2670385B2 JP40487390A JP40487390A JP2670385B2 JP 2670385 B2 JP2670385 B2 JP 2670385B2 JP 40487390 A JP40487390 A JP 40487390A JP 40487390 A JP40487390 A JP 40487390A JP 2670385 B2 JP2670385 B2 JP 2670385B2
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light
light emitter
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学 安川
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザダイオードその
他の被測定物中の発光体を観察するための微小発光体観
察装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for observing a small light emitter for observing a light emitter in a laser diode or other object to be measured.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来は、レーザダイオード等の被測定物
中の発光体(例えば、レーザダイオードの活性領域のよ
うな発光部分)の発光状態を観察するため、2種以上の
拡大レンズを準備し、これを必要に応じて交換してい
た。つまり、レーザダイオードの発光部分を観察するに
は、相当の拡大倍率が必要となり、観察可能な領域に一
定の制限が生じる。このため、低倍率の拡大レンズで一
旦レーザダイオードの発光部分を観察領域すなわち視野
の中心に位置させて、レーザダイオードの発光部分の位
置出しを行っていた。その後、その位置出し用の低倍率
の拡大レンズを所望の高倍率の拡大レンズに交換し、レ
ーザダイオードの発光部分の拡大像を得ていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, two or more types of magnifying lenses are prepared in order to observe a light emitting state of a light emitting body (for example, a light emitting portion such as an active region of a laser diode) in an object to be measured such as a laser diode. , I had to replace this as needed. In other words, in order to observe the light emitting portion of the laser diode, a considerable magnification is required, and the observable region is limited to a certain extent. For this reason, the light emitting portion of the laser diode is once located in the observation area, that is, the center of the field of view, by means of a low magnification magnifying lens, and the light emitting portion of the laser diode is located. After that, the low magnification magnifying lens for positioning was replaced with a desired high magnification magnifying lens to obtain a magnified image of the light emitting portion of the laser diode.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
では、高倍率と低倍率の拡大レンズの光軸を一致させる
ことが困難であった。つまり、高倍率および低倍率の拡
大レンズにもともと存在する光軸のずれと、拡大レンズ
の交換によって発生する光軸のずれとに起因して、低倍
率では観察領域の中心にあった発光部分が高倍率で観察
領域外に消え、実質的に拡大観察ができない場合があっ
た。そこで、本発明は、発光体または発光部分を高倍率
で観察する場合にも、簡易に発光部分等の位置出しが可
能な微小発光体観察装置を提供することを目的とする。
However, in the above-mentioned conventional example, it was difficult to match the optical axes of the high-magnification and low-magnification magnifying lenses. In other words, due to the deviation of the optical axis that originally exists in the high-magnification and low-magnification magnifying lenses and the deviation of the optical axis that occurs when the magnifying lens is replaced, the light-emitting portion that was at the center of the observation area at low magnification is In some cases, the image disappeared at a high magnification outside the observation region, and substantially magnified observation was not possible. Therefore, an object of the present invention is to provide a micro-illuminant observation apparatus capable of easily positioning a light-emitting portion or the like even when observing a light-emitting portion or a light-emitting portion at high magnification.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明に係る微小発光体観察装置は、微小領域の像
を拡大して第1拡大像を与える結像系と、第1拡大像を
映像信号に変換する撮像手段とを有し、被測定物中の発
光体の発光状態を観察する。ここに、微小発光体観察装
置は、(a)微小領域を含みこれより広いファインダ領
域内にある被測定物の像を拡大した第2拡大像を与える
光学系と、(b)第2拡大像を光量および位置の情報に
変換し、第2拡大像内の発光体の位置情報を出力する位
置検出手段と、(c)位置検出手段の出力する位置情報
に基づいて、結像系によって拡大される微小領域内に発
光体が移動するように、結像系の対物レンズと被測定物
との相対的な位置関係を制御する制御手段とを有する。
In order to solve the above-mentioned problems, a micro-illuminant observation apparatus according to the present invention comprises: an imaging system for enlarging an image of a micro area to provide a first enlarged image; And an image pickup means for converting the light into a video signal, and observes the light emitting state of the light emitting body in the measured object. Here, the minute light emitter observing apparatus includes (a) an optical system that gives a second magnified image that is a magnified image of the object to be measured that is in a finder area that includes a minute area and is wider than that, and (b) a second magnified image. Is converted into light amount and position information, and position information is output by the position detecting means that outputs the position information of the light emitter in the second magnified image, and (c) the position information output by the position detecting means. And a control unit that controls the relative positional relationship between the objective lens of the imaging system and the object to be measured so that the light emitter moves within a very small area.

【0005】さらに、本発明の微小発光体観察装置の好
適な実施態様にあっては、位置検出手段が、発光体の光
量情報を検出する。
Further, in a preferred embodiment of the minute light emitter observing device of the present invention, the position detecting means detects the light amount information of the light emitter.

【0006】さらに、本発明の微小発光体観察装置の好
適な実施態様にあっては、第1拡大像の映像信号に基づ
いて任意断面の被測定物の光量の分布曲線を与える演算
手段と、分布曲線を表示するディスプレイ手段とをさら
に有する。
Further, in a preferred embodiment of the microscopic light emitter observing device of the present invention, a calculating means for giving a distribution curve of the light quantity of the object to be measured having an arbitrary section based on the video signal of the first magnified image, And a display means for displaying the distribution curve.

【0007】[0007]

【作用】本発明の微小発光体観察装置によれば、撮像手
段によって得られる第1拡大像を観察しつつ、光学系に
よって得られる第2拡大像内の発光体の位置検出を行う
ことが可能になる。つまり、広いファインダ領域に対応
する第2拡大像内の発光体の位置情報に基づいて、微小
領域に対応する第1拡大像内に発光体の位置出しができ
るので、正確かつ迅速に発光体の拡大像を得ることがで
きる。
According to the micro illuminant observation device of the present invention, it is possible to detect the position of the illuminant in the second enlarged image obtained by the optical system while observing the first enlarged image obtained by the imaging means. become. That is, the light emitter can be positioned in the first magnified image corresponding to the minute area based on the position information of the light emitter in the second magnified image corresponding to the wide finder area, so that the light emitter can be positioned accurately and quickly. A magnified image can be obtained.

【0008】さらに、上記微小発光体観察装置の好適な
実施態様にあっては、位置検出手段が発光体の光量情報
を検出し出力する。したがって、発光体の拡大像の輝度
または光量を予測して位置出しができ、撮像手段に過剰
な光が入射することを防止できる。
Further, in a preferred embodiment of the above-mentioned minute light emitter observing device, the position detecting means detects and outputs the light amount information of the light emitter. Therefore, the brightness or the light amount of the enlarged image of the light-emitting body can be predicted to perform positioning, and excessive light can be prevented from entering the imaging means.

【0009】[0009]

【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0010】図1は、実施例の微小発光体観察装置の構
成を示す。X−Yステージ13上の被測定物14の像は
結像系である対物レンズ2によって拡大され、ハーフミ
ラー3によって2光束に分岐される。ハーフミラー3を
透過した光によって形成される中空像は、フィールドレ
ンズ6および結像レンズ7によって再度拡大され、シャ
ッタ8を通過して計測TVカメラ9の撮像面上に投影さ
れる。計測TVカメラ9の撮像面上に投影された第1拡
大像は、被測定物14上の発光体(半導体レーザ等の場
合、一般に1〜2μmの大きさの範囲にある。)を観察
できるように600〜1000倍となっている。このた
め、第1拡大像の視野は極めて狭くなっており、第1拡
大像が得られるのは、被測定物14上の限られた微小領
域(被測定物上の10〜20μm角)のみである。第1
拡大像は、計測TVカメラ9によって映像信号に変換さ
れて、映像信号用メモリ、CPU等を含む制御装置10
に入力される。映像信号は制御装置10で適当に画像処
理され、ディスプレイ装置11に表示される。映像信号
の画像処理としては、例えば発光体の任意断面の発光分
布の定量データを発光分布曲線として3次元表示する
等、様々な処置が可能である。
FIG. 1 shows the structure of a microscopic light emitter observing apparatus of the embodiment. The image of the DUT 14 on the XY stage 13 is enlarged by the objective lens 2 which is an image forming system, and is split into two light beams by the half mirror 3. The hollow image formed by the light transmitted through the half mirror 3 is magnified again by the field lens 6 and the imaging lens 7, passes through the shutter 8, and is projected onto the imaging surface of the measurement TV camera 9. The first magnified image projected on the imaging surface of the measurement TV camera 9 can observe a light-emitting body (in the case of a semiconductor laser or the like, generally within a range of 1 to 2 μm in the case of a semiconductor laser). It is 600 to 1000 times. Therefore, the field of view of the first magnified image is extremely narrow, and the first magnified image can be obtained only in a limited minute area (10 to 20 μm square on the object to be measured) on the object to be measured 14. is there. First
The enlarged image is converted into a video signal by the measurement TV camera 9, and the control device 10 including a video signal memory, a CPU, and the like.
Is input to The video signal is appropriately image-processed by the control device 10 and displayed on the display device 11. As the image processing of the video signal, various treatments are possible, such as three-dimensional display of quantitative data of the light emission distribution of an arbitrary cross section of the light emitter as a light emission distribution curve.

【0011】一方、ハーフミラー3で反射され、レンズ
4を通過した光によって形成された第2拡大像は、位置
検出手段であるポジションセンサ5の受光面に投影され
る。この第2拡大像の拡大率は、計測TVカメラ9の撮
像面上に投影される第1拡大像の拡大率に比較して十分
に低くなっている。したがって、微小領域を含む広いフ
ァインダ領域(被測定物上の280〜460μm角)の
像がポジションセンサ5の受光面に投影されるようにな
っている。つまり、微小領域に対応する第1拡大像は、
ファインダ領域に対応する第2拡大像内の一部を成して
いる。この場合、ハーフミラー3、レンズ4、ポジショ
ンセンサ5等は、対物レンズ2等に対して固定されてい
るので、第2拡大像内の所定位置を拡大したものが常に
第1拡大像となっている。このため、発光体が第2拡大
像内の所定位置に移動するように、結像系の対物レンズ
2に対して被測定物14を相対的に移動させるならば、
計測TVカメラ9の視野内に発光体を導くことができ
る。
On the other hand, the second magnified image formed by the light reflected by the half mirror 3 and passing through the lens 4 is projected on the light receiving surface of the position sensor 5 which is the position detecting means. The magnifying power of the second magnified image is sufficiently lower than the magnifying power of the first magnified image projected on the imaging surface of the measurement TV camera 9. Therefore, an image of a wide finder area (280 to 460 μm square on the object to be measured) including a minute area is projected on the light receiving surface of the position sensor 5. That is, the first magnified image corresponding to the minute area is
It forms a part of the second enlarged image corresponding to the finder area. In this case, the half mirror 3, the lens 4, the position sensor 5 and the like are fixed with respect to the objective lens 2 and the like, so that what is magnified at a predetermined position in the second magnified image is always the first magnified image. There is. Therefore, if the DUT 14 is moved relative to the objective lens 2 of the imaging system so that the light emitter moves to a predetermined position in the second magnified image,
The luminous body can be guided within the visual field of the measurement TV camera 9.

【0012】ポジションセンサ5は、例えばPSD等か
ら構成され、第2拡大像内の発光体の位置とその全体光
量とに関する情報を検出する。ポジションセンサ5は、
電源駆動回路15によって駆動され、その出力は制御回
路10に入力される。制御回路10は、ポジションセン
サ5の出力に基づいて発光体がポジションセンサ5上の
どこに投影されているかを判断し、発光体がファインダ
領域内の所定位置に移動するように、ステージ駆動回路
16を制御し、X−Yステージ13を動作させる。
The position sensor 5 is composed of, for example, a PSD, and detects information about the position of the light emitter in the second magnified image and the total light amount thereof. The position sensor 5 is
It is driven by the power supply drive circuit 15, and its output is input to the control circuit 10. The control circuit 10 determines where the light emitter is projected on the position sensor 5 based on the output of the position sensor 5, and controls the stage drive circuit 16 so that the light emitter moves to a predetermined position in the finder area. It controls and operates the XY stage 13.

【0013】以下に実施例の微小発光体観察装置の動作
を説明する。
The operation of the minute light emitter observing apparatus of the embodiment will be described below.

【0014】X−Yステージ13上の被測定物14上の
限られたファインダ領域の像は対物レンズ2によって拡
大され、第2拡大像としてポジションセンサ5に投影さ
れる。制御回路10は、ポジションセンサ5の出力に基
づいて、X−Yステージ13を駆動し、発光体をファイ
ンダ領域内の所定位置に移動させる。既に述べたよう
に、ファインダ領域が280〜460μm角であり、ポ
ジションセンサ5の位置分解能が1/5000であるの
で、被測定物をファインダ領域内で0.1μm以下の誤
差で位置出しすることができる。したがって、発光体が
一般に1〜2μmの大きさの範囲にあることを考慮すれ
ば、発光体を計測TVカメラ9の視野に対応する微小領
域の中央部分に取り込むことができる。
An image of a limited finder area on the object 14 on the XY stage 13 is enlarged by the objective lens 2 and projected on the position sensor 5 as a second enlarged image. The control circuit 10 drives the XY stage 13 based on the output of the position sensor 5 to move the light emitter to a predetermined position in the finder area. As described above, since the finder area is 280 to 460 μm square and the position resolution of the position sensor 5 is 1/5000, the object to be measured can be positioned within the finder area with an error of 0.1 μm or less. it can. Therefore, considering that the luminous body is generally in the size range of 1 to 2 μm, the luminous body can be taken into the central portion of the minute area corresponding to the field of view of the measurement TV camera 9.

【0015】発光体を含む微小領域の像は、対物レンズ
2、結像レンズ7等によって拡大され、第1拡大像とし
て計測TVカメラ9の撮像面上に投影される。この第1
拡大像は、計測TVカメラ9によって映像信号に変換さ
れて、制御装置10で適当に画像処理され、ディスプレ
イ装置11に表示される。
The image of the minute area including the illuminant is enlarged by the objective lens 2, the imaging lens 7, and the like, and projected on the imaging surface of the measurement TV camera 9 as a first enlarged image. This first
The enlarged image is converted into a video signal by the measurement TV camera 9, appropriately image-processed by the control device 10, and displayed on the display device 11.

【0016】この場合、ポジションセンサ5によって発
光体の発光量を観察することもできる。したがって、発
光体を第1倍率で観察している間にポジションセンサ5
によって発光体の発光量を第2倍率で観察することもで
きる。具体的には、半導体レーザを被測定物とし、その
I−L特性の測定を測定系の変更を伴うことなく実行で
きる。
In this case, the amount of light emitted from the light emitting body can be observed by the position sensor 5. Therefore, while observing the light emitter at the first magnification, the position sensor 5
It is also possible to observe the light emission amount of the light emitting body at the second magnification. Specifically, a semiconductor laser is used as the object to be measured, and its IL characteristics can be measured without changing the measurement system.

【0017】また、発光体の位置出し前に発光体を観察
するならば、発光体の輝度または発光量を予測して位置
出しができ、計測TVカメラ9に過剰な光が入射するこ
とを予防できる。具体的には、発光体が計測TVカメラ
9の視野外にある状態、または計測TVカメラ9の前の
シャッタ8を閉じている状態で、ポジションセンサ5の
出力に基づいて発光体の発光量を検出できる。したがっ
て、発光体の発光量が多い場合、図面内に点線でしたN
Dフィルタ18、18´等を発光体像の光路中に挿入
し、計測TVカメラ9の光電面へのダメージを未然に防
止することができる。
If the light emitter is observed before the light emitter is positioned, the brightness or the amount of light emission of the light emitter can be predicted and positioned, and excessive light is prevented from entering the measurement TV camera 9. it can. Specifically, the light emission amount of the light emitting body is determined based on the output of the position sensor 5 in a state where the light emitting body is out of the visual field of the measurement TV camera 9 or in a state where the shutter 8 in front of the measurement TV camera 9 is closed. Can be detected. Therefore, when the luminous intensity of the luminous body is large, the dotted line in the drawing indicates N
It is possible to prevent damage to the photocathode of the measurement TV camera 9 by inserting the D filters 18, 18 'and the like in the optical path of the light emitter image.

【0018】上記実施例によれば、PSDからなるポジ
ションセンサを用いているので、発光体の位置、発光量
等の検出に、高価な画像メモリや画像演算処理装置を必
要としない。なお、PSDとは、ポジションセンシティ
ブディテクタ(半導体光入射位置検出素子)の略号で、
基板上に一様な抵抗を有する半導体層を形成し、その両
端及び必要に応じてその他の位置に電極を設けたもので
ある。このPSDの半導体層に入射した光はキャリアを
発生させる。発生されたキャリアに起因する電流は、光
の入射位置に応じて抵抗分割される。つまり、PSDの
両端等に形成された電極から取り出される電流を比較す
ることで、光の入射位置を簡易に検出することができる
(特公昭62−62074等参照)。
According to the above-described embodiment, since the position sensor made of PSD is used, an expensive image memory or image arithmetic processing unit is not required for detecting the position of the light emitter, the light emission amount and the like. Incidentally, PSD is an abbreviation for position sensitive detector (semiconductor light incident position detection element),
A semiconductor layer having a uniform resistance is formed on a substrate, and electrodes are provided on both ends of the semiconductor layer and other positions as necessary. The light incident on the semiconductor layer of this PSD generates carriers. The current resulting from the generated carriers is resistance-divided according to the incident position of light. That is, the incident position of light can be easily detected by comparing the currents drawn from the electrodes formed at both ends of the PSD (see Japanese Patent Publication No. 62-62074, etc.).

【0019】また、PSDからなるポジションセンサを
用いているので、発光体の輝度重心、全発光量等の検出
を極めて安定に精度良く実行できる。
Further, since the position sensor made of PSD is used, it is possible to extremely stably and accurately detect the luminance center of gravity of the light emitter, the total light emission amount and the like.

【0020】さらに、発光体からマルチモードのレーザ
光やリング状の光が発生されても、発光体の中心または
輝度中心に対して位置決めができる。この場合、位置決
めのため発光体の中心または輝度中心を求める複雑な演
算を必要としない。さらに、発光体に対してピントが合
っていない場合であっても、発光体の中心に対して位置
決めができる。
Further, even if multi-mode laser light or ring-shaped light is generated from the light emitting body, the light emitting body can be positioned with respect to the center or the luminance center of the light emitting body. In this case, a complicated calculation for determining the center of the light emitter or the center of brightness is not required for positioning. Further, even when the light emitter is out of focus, the light emitter can be positioned with respect to its center.

【0021】以上実施例に即して本発明を説明したが、
本発明は上記実施例に限定されるものではない。
The present invention has been described above with reference to the embodiments.
The present invention is not limited to the above embodiment.

【0022】例えば、NDフィルタ18のかわりに絞り
等を配置して計測TVカメラ9への入射光量を調節して
もよい。また、被測定物である半導体レーザへ供給する
電力を制御してもよい。さらに、液晶フィルタ、透明度
の低い光学くさび等の光量調節手段の使用が可能であ
る。
For example, instead of the ND filter 18, a diaphragm or the like may be arranged to adjust the amount of light incident on the measurement TV camera 9. Further, the power supplied to the semiconductor laser that is the object to be measured may be controlled. Further, it is possible to use a light quantity adjusting means such as a liquid crystal filter or an optical wedge having low transparency.

【0023】第2拡大像を形成するためのハーフミラー
3の反射率を高め可動のものとしてもよい。すなわち、
ハーフミラー3を図示の位置と第1拡大像の光路から退
いた位置との間で周期的に変位させることで、時分割で
第1拡大像と第2拡大像とを得ることができる。
The half mirror 3 for forming the second magnified image may be made movable by increasing the reflectance. That is,
The first magnified image and the second magnified image can be obtained by time division by periodically displacing the half mirror 3 between the position shown in the figure and the position retracted from the optical path of the first magnified image.

【0024】さらに、第2拡大像を形成するため対物レ
ンズ2とは別個の光学系を準備してもよい。
Further, an optical system separate from the objective lens 2 may be prepared for forming the second magnified image.

【0025】ポジションセンサ5として、CCD等の固
体撮像素子を用いることもできる。ただしこの場合、画
像メモリ等の特別の装置を必要とするばかりでなく、光
量検出感度が低下する。さらに、CCDの各エレメント
の間では実質的感度がないので、微小な発光体の位置決
めに適さない。さらに、光量検出のダイナミックレンジ
が狭く、光量が多くなった場合に飽和によるボケが生じ
てしまう場合がある。
A solid-state image pickup device such as a CCD can be used as the position sensor 5. However, in this case, not only a special device such as an image memory is required, but also the light amount detection sensitivity is lowered. Further, since there is no substantial sensitivity between CCD elements, it is not suitable for positioning a minute light emitter. Further, the dynamic range of light amount detection is narrow, and when the light amount increases, blurring due to saturation may occur.

【0026】計測TVカメラ9として、ビジコン、CC
Dその他の撮像装置を利用できる。
As the measurement TV camera 9, a vidicon, CC
D Other imaging devices can be used.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明の微小発光体観察装置によれば、
第1拡大像を観察しつつこれより広域の第2拡大像で発
光体の位置検出を行うことが可能になるので、正確かつ
迅速に発光体の拡大像を得ることができる。
According to the minute light emitter observing device of the present invention,
Since the position of the illuminant can be detected with the second enlarged image in a wider area while observing the first enlarged image, an enlarged image of the illuminant can be obtained accurately and quickly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る微小発光体観察装置の実施例を示
した図。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a minute light emitter observation apparatus according to the present invention.

【符号の説明】 2、7…結像手段 9…撮像手段 3、4…光学系 5…位置検出手段 10、16…制御手段[Description of Signs] 2, 7 ... imaging means 9 ... imaging means 3, 4 ... optical system 5 ... position detection means 10, 16 ... control means

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 微小領域の像を拡大して第1拡大像を与
える結像系と、前記第1拡大像を映像信号に変換する撮
像手段とを有し、被測定物中の発光体の発光状態を観察
する微小発光体観察装置であって、 前記微小領域を含みこれより広いファインダ領域内にあ
る被測定物の像を拡大した第2拡大像を与える光学系
と、 前記第2拡大像を光量および位置の情報に変換し、該第
2拡大像内の発光体の位置情報を出力する位置検出手段
と、 前記位置検出手段の出力する位置情報に基づいて、前記
結像系によって拡大される前記微小領域内に発光体が移
動するように、前記結像系の対物レンズと被測定物との
相対的な位置関係を制御する制御手段とを有することを
特徴とする微小発光体観察装置。
1. An imaging system for enlarging an image of a minute area to provide a first enlarged image, and an imaging unit for converting the first enlarged image into a video signal, wherein an image of the luminous body in the object to be measured is provided. A minute light emitter observing device for observing a light emitting state, comprising: an optical system which gives a second magnified image of an image of an object to be measured which is included in the finder area wider than the minute area, and the second magnified image. Is converted into light amount and position information, and position information is output by the position detection unit that outputs the position information of the light emitter in the second magnified image, and is enlarged by the imaging system based on the position information output by the position detection unit. A minute light emitter observing device, comprising: control means for controlling the relative positional relationship between the objective lens of the imaging system and the object to be measured so that the light emitter moves within the minute area. .
【請求項2】 前記位置検出手段は、発光体の光量情報
を検出し出力することを特徴とする請求項1記載の微小
発光体観察装置。
2. The minute light emitter observing device according to claim 1, wherein the position detecting means detects and outputs light amount information of the light emitter.
【請求項3】 前記第1拡大像の映像信号に基づいて任
意断面の被測定物の光量の分布曲線を与える演算手段
と、前記分布曲線を表示するディスプレイ手段とをさら
に有することを特徴とする請求項1記載の微小発光体観
察装置。
3. The image processing apparatus according to claim 1, further comprising: an arithmetic unit for providing a distribution curve of the light quantity of the object to be measured having an arbitrary cross section based on the video signal of the first enlarged image; and a display unit for displaying the distribution curve. The minute light emitter observation apparatus according to claim 1.
JP40487390A 1990-12-21 1990-12-21 Micro illuminant observation device Expired - Lifetime JP2670385B2 (en)

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