JP2663369B2 - Lead frame partial plating equipment - Google Patents

Lead frame partial plating equipment

Info

Publication number
JP2663369B2
JP2663369B2 JP3278596A JP27859691A JP2663369B2 JP 2663369 B2 JP2663369 B2 JP 2663369B2 JP 3278596 A JP3278596 A JP 3278596A JP 27859691 A JP27859691 A JP 27859691A JP 2663369 B2 JP2663369 B2 JP 2663369B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
plating
plating solution
plate
support plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3278596A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0593293A (en
Inventor
政義 森
良麿 手塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Priority to JP3278596A priority Critical patent/JP2663369B2/en
Publication of JPH0593293A publication Critical patent/JPH0593293A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2663369B2 publication Critical patent/JP2663369B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ICリードフレームの
部分めっき装置、特に垂直上向噴流によるICリードフ
レームの部分めっき装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a partial plating apparatus for an IC lead frame, and more particularly to a partial plating apparatus for an IC lead frame by a vertically upward jet.

【0002】[0002]

【従来の技術】リードフレームは、中央部にIC素子を
搭載する搭載台と、その周囲に先端部にてIC素子上の
電極とワイヤボンディングされる複数のリード部を形成
したもので、搭載台およびリード先端部に金、銀等の貴
金属めっきが施されている。従来、このようなリードフ
レームは鉄、鉄合金、銅、銅合金等の薄板または条材を
素材とし、この素材上にフォトエッチングまたはプレス
打ち抜き加工を施して不要部分をくり抜いた後、少なく
ともリード先端を露出するようなマスクを用いて金、銀
等の貴金属めっき処理を行うことによって製造してい
る。リードフレームの部分めっきを行う際は、めっきを
施す部分(以下被めっき面と略す)に開口が設けられた
ゴム等の軟体質マスク(以下ラバープレートと略す)を
被めっき面に装着し、これを上プレート等で固定し、め
っき液噴揚用のノズル板、スパージャー、スリット板等
を被めっき面に向けてセットし、めっき液の垂直上向噴
流を吹きつけるとともに、リードフレームと電極との間
に直流電圧を印加することによって行われている。
2. Description of the Related Art A lead frame has a mounting base on which an IC element is mounted in a central portion, and a plurality of lead portions formed around the periphery thereof at the front end thereof to be wire-bonded to electrodes on the IC element. In addition, a noble metal plating such as gold or silver is applied to the tip of the lead. Conventionally, such a lead frame is made of a thin plate or a strip of iron, iron alloy, copper, copper alloy, or the like, and after performing photoetching or press punching on the material to cut out unnecessary portions, at least a lead end is formed. It is manufactured by performing a noble metal plating treatment of gold, silver, or the like using a mask that exposes the metal. When performing partial plating of the lead frame, a soft body mask (hereinafter abbreviated as a rubber plate) such as rubber, which has an opening at the portion to be plated (hereinafter abbreviated as the surface to be plated), is attached to the surface to be plated. Is fixed with an upper plate, etc., and a nozzle plate, sparger, slit plate, etc. for spraying the plating solution are set toward the surface to be plated, and a vertical upward jet of the plating solution is blown, and the lead frame and the electrode are This is performed by applying a DC voltage during the period.

【0003】このめっき液の垂直上向噴流によるめっき
法では噴流時に不可避的に発生する被めっき面での気泡
の処理方法が最大の問題点となる。例えばリードフレー
ムの被めっき面の一部にべっとりとへばりつくように気
泡が停滞している場合は、その部分だけが電流が流れな
いため電着せず、いわゆる「めっきなし」といわれるめ
っき不良の原因となる。また、微小気泡が被めっき面を
動き回るときは、部分的に電流が流れない箇所を生ずる
のでめっき厚が部分的に変化したり、さらにめっき時の
過電圧の変化によってめっき部の結晶組織が変化したり
するので、いわゆる「めっきムラ」といわれるめっき不
良の原因となる。このように被めっき面での気泡が抜け
にくく系内に停滞している部分はめっき液も停滞を起こ
しやすい場所であり、古いめっき液の滞留、およびそれ
にもとずくめっき液中の金属イオン、遊離CN、添加剤
等の濃度の不均一化に由来するめっき品質の変動を起こ
しやすい。
In the plating method using a vertically upward jet of a plating solution, the biggest problem is how to treat bubbles on the surface to be plated which are inevitably generated during the jet. For example, if air bubbles are stagnant so that they stick to a part of the plating surface of the lead frame, current does not flow through only that part and electrodeposition does not occur, which is a cause of plating failure called `` no plating '' Become. In addition, when microbubbles move around the surface to be plated, a portion where current does not flow partially occurs, so that the plating thickness changes partially, and further, the crystal structure of the plating portion changes due to a change in overvoltage during plating. This causes plating defects called “plating unevenness”. In this way, the portion where the air bubbles on the surface to be plated are hard to escape and stagnant in the system is a place where the plating solution is liable to stagnate, the old plating solution remains, and based on that, the metal ions in the plating solution, Plating quality tends to fluctuate due to uneven concentration of free CN, additives, and the like.

【0004】以上のような問題点に対処する方法の一つ
として、従来は、めっき装置内のめっき液の流速を増大
するために液送ポンプの圧力を上げ、それにつれて電流
密度を上げる方法がとられてきた。この際、液送ポンプ
の圧力を上げすぎるとゴム等からなるラバープレートの
隙間からめっき液がリードフレームの各部に浸透し、本
来めっきしてはいけないリードフレームのリード部分の
側面および裏面をもめっきしてしまう現象が発生する。
この現象をサイド漏れ、裏漏れと称している。このよう
な現象の発生を避けるため、従来の装置では液送ポンプ
の圧力を3kg/cm2 以上に増大することはできず、した
がって電流密度の上昇にも限界があり、前述したような
問題点の根本的な解決策とはなり得なかった。
[0004] As one of the methods for addressing the above problems, conventionally, there has been a method of increasing the pressure of a liquid feed pump in order to increase the flow rate of a plating solution in a plating apparatus and increasing the current density accordingly. Has been taken. At this time, if the pressure of the liquid feed pump is too high, the plating solution penetrates into various parts of the lead frame through the gap of the rubber plate made of rubber etc., and the side and back surfaces of the lead part of the lead frame which should not be plated Phenomenon occurs.
This phenomenon is called side leakage or back leakage. In order to avoid the occurrence of such a phenomenon, the pressure of the liquid feed pump cannot be increased to 3 kg / cm 2 or more with the conventional apparatus, and therefore, there is a limit to the increase in current density. Could not be a fundamental solution.

【0005】一方、使用済みのめっき液の排液路の設
置、あるいはその形状、構造を改善することによって被
めっき面での気泡の滞留を防止し、あるいは気泡の滞留
時間を短縮する試みも種々実施されている。すなわち、
従来は、めっき液排液路が、リードフレームの下面と当
接するラバープレートを支持する支持プレートとスリッ
ト板との隙間から使用済みのめっき液を排出するように
構成されているので、排液路の抵抗が大きく気泡の滞留
時間も長期化する構造になっている。
On the other hand, there are various attempts to prevent the retention of bubbles on the surface to be plated or to shorten the retention time of the bubbles by installing a drainage passage for the used plating solution or improving the shape and structure thereof. It has been implemented. That is,
Conventionally, a plating solution drain passage is configured to discharge a used plating solution from a gap between a support plate that supports a rubber plate abutting on the lower surface of a lead frame and a slit plate. The resistance is large and the residence time of air bubbles is prolonged.

【0006】これに対して、図2に示すように、支持プ
レート10とラバープレート2の上に装着したリードフレ
ーム1を、押さえ金具4、押さえゴム5で押さえ、支持
プレート10とスリット板3との接合部の形状を工夫して
右左両方向に使用済みのめっき液を排液する横くの字型
の排液路9a、9bを設置するように構成したもの、あるい
は図3に示すようにめっき液の噴揚をノズルプレート7
で行い、ノズルプレートの片方に使用済みのめっき液を
排液する段状の排液路9を構成したもの等がある。この
ような装置は、いずれも被めっき面での気泡およびめっ
き液の滞留時間の短縮に対して一定の効果は得られる
が、まだ排液路の通液抵抗が大きく根本的な解決策とは
なり得なかった。なお、図2および図3で8はめっき液
噴揚セル、6はその中に設置した整流板である。また、
矢印はめっき液の流れ方向を示しており、電極は図示を
省略してある。
On the other hand, as shown in FIG. 2, the lead frame 1 mounted on the support plate 10 and the rubber plate 2 is held down by the holding metal 4 and the holding rubber 5, so that the support plate 10 and the slit plate 3 The shape of the joints is modified to provide horizontal drainage passages 9a and 9b for draining the used plating solution in both right and left directions, or plating as shown in FIG. Nozzle plate 7
And a stepped drain passage 9 for draining a used plating solution on one side of the nozzle plate. All of these devices have a certain effect on the reduction of air bubbles and the residence time of the plating solution on the surface to be plated, but still have a large drainage resistance and a fundamental solution. Couldn't be. In FIGS. 2 and 3, reference numeral 8 denotes a plating solution blowing cell, and reference numeral 6 denotes a rectifying plate installed therein. Also,
The arrows indicate the flow direction of the plating solution, and the electrodes are not shown.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な問題を解決するためになされたもので、めっき液の垂
直上向噴流による部分めっき装置において、噴流時に不
可避的に被めっき面に発生する気泡の滞留時間を大幅に
短縮できるようなリードフレームの部分めっき装置を提
供するためになされたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and in a partial plating apparatus using a vertically upward jet of a plating solution, it is unavoidable that the plating solution will The present invention has been made to provide a partial plating apparatus for a lead frame that can significantly reduce the residence time of generated bubbles.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、リードフレー
ム1の押さえ部材20と、該押さえ部材20の下部に設けら
れ、上面が前記リードフレーム1の下面と当接し、かつ
リードフレーム1下面被めっき面に対応した開口部を有
するラバープレート2と、該ラバープレート2を支持す
る支持プレート10と、該支持プレート10の下部に設けら
れためっき液噴揚用のスリット板3と、該スリット板3
の下部に設けられためっき液噴揚セル8とから構成され
る垂直上向噴流によるリードフレームの部分めっき装置
であって、前記支持プレート10が、前記ラバープレート
2の開口部に相対して垂直方向に設けられためっき液流
路30と、該支持プレート10の板内板厚部に水平方向に設
けられかつ前記めっき液流路30部において相対向して開
口部が設けられた2本のめっき液排液路9a、9bとを有
し、さらに、該めっき液排液路9a、9bの前記開口部の垂
直方向上端部と前記ラバープレート2の上面との距離H
が1mm以上、3mm以下であることを特徴とするリードフ
レームの部分めっき装置である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a pressing member 20 for a lead frame 1 and a lower surface of the pressing member 20, the upper surface of which is in contact with the lower surface of the lead frame 1 and the lower surface of the lead frame 1 is covered. A rubber plate 2 having an opening corresponding to a plating surface; a support plate 10 for supporting the rubber plate 2; a slit plate 3 provided below the support plate 10 for spraying a plating solution; 3
And a plating solution pumping cell 8 provided at a lower portion of the lead plate, and a partial plating apparatus for a lead frame by a vertically upward jet, wherein the support plate 10 is vertically opposed to an opening of the rubber plate 2. The plating solution flow path 30 provided in the direction, the two provided in the plate thickness portion of the support plate 10 in a horizontal direction and provided with openings facing each other in the plating solution flow path 30 part A plating solution drainage passage 9a, 9b; and a distance H between a vertical upper end of the opening of the plating solution drainage passage 9a, 9b and the upper surface of the rubber plate 2.
Is 1 mm or more and 3 mm or less.

【0009】[0009]

【作用】発明者等は種々実験を重ねた結果、リードフレ
ーム等の被めっき面と排液路との垂直方向の距離、およ
び排液路の形状、構造を改善することによって被めっき
面での気泡の滞留時間を大幅に短縮することに成功した
ものである。本発明では、リードフレームの被めっき面
と排液路との垂直方向の距離Hを1mm以上、3mm以内の
位置に水平方向に2本の排液路を設けたので排液路の流
動抵抗を従来例より大幅に低下することができる。
As a result of repeated experiments, the inventors have found that the vertical distance between the surface to be plated such as a lead frame and the drainage channel and the shape and structure of the drainage channel are improved to improve the plating surface. It has succeeded in significantly reducing the residence time of bubbles. In the present invention, since two vertical drainage paths are provided at a position in the vertical direction H between the plating surface of the lead frame and the drainage paths of 1 mm or more and 3 mm or less, the flow resistance of the drainage paths is reduced. It can be significantly reduced as compared with the conventional example.

【0010】図1に、本発明の実施例において用いたリ
ードフレームの部分めっき装置の一例を要部断面図によ
り示す。また、図2および図3に従来のリードフレーム
の部分めっき装置を要部断面図により示す。図1、図2
および図3において、1はリードフレーム、2はラバー
プレート、3はスリット板、6は整流板、7はノズルプ
レート、8はめっき液噴揚セル、9、9a、9bは排液路、
10はラバープレート2を支持する支持プレート、20は押
さえ金具4および押さえゴム5から構成されているリー
ドフレームの押さえ部材、30は垂直方向に設けられため
っき液流路、40a 、40b はめっき液排液路9a、9bのめっ
き液流路30に対する開口部を示す。また、Hは、めっき
液排液路9a、9bの開口部40a 、40b の垂直方向上端部と
ラバープレート2の上面との垂直方向の距離を示し、以
下、Hを出口ヘッド差と記す。発明者等は、図1、図2
および図3に示した本発明の実施例および従来例の装置
をモデルとして、透明アクリル樹脂製の支持プレート10
を試作して被めっき面での気泡の挙動を観察するととも
に、めっき液流量と被めっき面での気泡の滞留時間との
関係を調査して表1に示すような結果を得た。すなわ
ち、本発明にかかる図1の装置を使用した場合は、 0.4
〜1.0 m3/hrの全ての流量範囲にわたって、被めっき面
での気泡の滞留時間を、目標とする1sec 以内に短縮す
ることができた。他方、従来例による図2および図3の
装置を使用した場合は、いずれも1sec以内とすること
ができず、特に低流量範囲では滞留時間の著しい長期化
がみられた。
FIG. 1 is a sectional view of a main part of an example of a lead frame partial plating apparatus used in an embodiment of the present invention. 2 and 3 are sectional views of a main part of a conventional partial plating apparatus for a lead frame. 1 and 2
And in FIG. 3, 1 is a lead frame, 2 is a rubber plate, 3 is a slit plate, 6 is a rectifying plate, 7 is a nozzle plate, 8 is a plating solution blast cell, 9, 9a and 9b are drainage paths,
Reference numeral 10 denotes a support plate for supporting the rubber plate 2, reference numeral 20 denotes a lead frame holding member constituted by the holding metal 4 and holding rubber 5, reference numeral 30 denotes a plating solution flow path provided in a vertical direction, and reference numerals 40a and 40b denote plating solutions. The openings of the drainage channels 9a and 9b with respect to the plating solution channel 30 are shown. H indicates the vertical distance between the upper ends of the openings 40a and 40b of the plating solution drainage passages 9a and 9b in the vertical direction and the upper surface of the rubber plate 2, and H is hereinafter referred to as an outlet head difference. The inventors have shown in FIGS.
Using the apparatus of the embodiment of the present invention and the conventional apparatus shown in FIG.
Was made as a prototype, the behavior of bubbles on the surface to be plated was observed, and the relationship between the flow rate of the plating solution and the residence time of the bubbles on the surface to be plated was investigated. The results shown in Table 1 were obtained. That is, when the apparatus of FIG. 1 according to the present invention is used, 0.4
The residence time of bubbles on the surface to be plated could be shortened within the target of 1 sec over the entire flow rate range of 1.0 m 3 / hr. On the other hand, when the conventional apparatus shown in FIGS. 2 and 3 was used, the time could not be shorter than 1 second, and the residence time was remarkably prolonged especially in a low flow rate range.

【0011】通常、支持プレート10はアクリル樹脂等で
造られており、出口ヘッド差Hを極端に小さくすると支
持プレート10の強度上および加工上の問題を生ずる。し
たがって、出口ヘッド差Hは少なくとも1mm以上が必要
である。また、出口ヘッド差Hが3mm超えでは、気泡の
滞留時間の短縮効果が著しく低下するので好ましくな
い。この実験に使用した図1の実施例の装置は、スリッ
ト板のスリット幅S=2mm、支持プレート10は厚さ15mm
のアクリル樹脂製とし、リードフレームの被めっき面と
排液路との出口ヘッド差Hを3mmとし、水平方向の2個
所に排液路9を設けた。この際の実験条件としては、め
っき液の流速は1 m/sec を目標とし、レイノルズ数の
計算値は3000〜9000程度とした。
Normally, the support plate 10 is made of an acrylic resin or the like. If the difference H in the outlet head is extremely reduced, problems occur in the strength and processing of the support plate 10. Therefore, the exit head difference H needs to be at least 1 mm or more. On the other hand, if the outlet head difference H exceeds 3 mm, the effect of shortening the residence time of the air bubbles is significantly reduced, which is not preferable. The apparatus of the embodiment of FIG. 1 used in this experiment has a slit width S = 2 mm of the slit plate and a support plate 10 having a thickness of 15 mm.
And an outlet head difference H between the plating surface of the lead frame and the drainage path was 3 mm, and drainage paths 9 were provided at two locations in the horizontal direction. As experimental conditions at this time, the flow rate of the plating solution was targeted at 1 m / sec, and the calculated value of the Reynolds number was about 3000-9000.

【0012】[0012]

【表1】 [Table 1]

【0013】[0013]

【実施例】(実施例1) 出口ヘッド差H、すなわち、図1におけるめっき液の排
液路9a、9bの開口部40a 、40b の垂直方向上端部とラバ
ープレート2の上面(=リードフレーム1の被めっき
面)との垂直方向の距離Hが気泡の滞留時間に及ぼす影
響を調査するために以下の条件で実験をおこなった。す
なわち、支持プレート10の厚さを15mmとし、スリット板
3のスリット幅を1および2mmとし(s=1、2)、出
口ヘッド差Hを2および3mm(H=2、3)として噴揚
量を種々変えて被めっき面での気泡の滞留時間の変化を
調査した。その結果、表2に示すように、図1に示す本
発明の実施例にかかる装置によると、全ての流量範囲で
滞留時間を目標とする1sec 以内とすることができた。
また出口ヘッド差Hは、3mmの場合よりも2mmの方が滞
留時間を短くすることができた。他方、従来例の装置を
使用した比較例1および比較例2では、いずれも気泡の
滞留時間を1sec 以内とすることはできず、特に噴揚量
の少ない領域では気泡の滞留時間は一層長期化した。
Embodiment 1 (Embodiment 1) The difference between the outlet heads H, that is, the vertical upper ends of the openings 40a and 40b of the plating solution drainage passages 9a and 9b and the upper surface of the rubber plate 2 (= lead frame 1 in FIG. 1). An experiment was conducted under the following conditions in order to investigate the effect of the vertical distance H to the surface to be plated) on the residence time of bubbles. That is, the thickness of the support plate 10 is 15 mm, the slit width of the slit plate 3 is 1 and 2 mm (s = 1, 2), and the outlet head difference H is 2 and 3 mm (H = 2, 3). Was changed to investigate the change in the residence time of bubbles on the surface to be plated. As a result, as shown in Table 2, according to the apparatus according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, the residence time was able to be set within 1 sec as the target in all flow ranges.
Also, the residence time was shorter when the exit head difference H was 2 mm than when it was 3 mm. On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2 using the conventional apparatus, the residence time of the bubbles cannot be made within 1 sec, and the residence time of the bubbles is further prolonged, especially in the region where the amount of squirting is small. did.

【0014】[0014]

【表2】 [Table 2]

【0015】(実施例2) 図1の本発明の実施例の装置、図2および図3の従来例
の装置を使用して所定サイズのリードフレームに下記の
条件で部分めっき処理を施した。 a)銅ストライクめっき条件 めっき浴組成 Cu: 68g/l 遊離CN: 6.2g/l めっき浴温度 室温 電流波形 単相全波 噴揚液量 1.1m3 /h b)銀めっき条件 めっき浴組成 Ag: 73g/l pH: 7.7 めっき浴温度 60 ℃ 電流密度 74A/dm2 電流波形 6相単波パルス 噴揚液量 1.1m3 /h 以上の方法によって得られたリードフレームを、 450
℃、3分の加熱試験を行い、ふくれ、黒点発生の有無に
ついて調査を実施した。その結果、図2および図3の従
来例による装置では加熱ふくれ、黒点等の異常が多発し
たが、本発明装置によるものにはいずれも加熱ふくれ、
黒点等の異常の発生は全く認められなかった。
(Example 2) Using the apparatus of the embodiment of the present invention shown in FIG. 1 and the conventional apparatus shown in FIGS. 2 and 3, a lead frame of a predetermined size was subjected to partial plating under the following conditions. a) Copper strike plating conditions Plating bath composition Cu: 68 g / l Free CN: 6.2 g / l Plating bath temperature Room temperature Current waveform Single-phase full wave Ejected liquid volume 1.1 m 3 / h b) Silver plating conditions Plating bath composition Ag: 73 g / l pH: 7.7 Plating bath temperature 60 ° C. Current density 74 A / dm 2 Current waveform Six-phase single-wave pulse Ejected liquid amount 1.1 m 3 / h The lead frame obtained by the above method was 450
A heating test was performed at 3 ° C. for 3 minutes, and the presence or absence of blisters and black spots was investigated. As a result, in the apparatus according to the conventional example of FIGS. 2 and 3, abnormalities such as heating blisters and black spots occurred frequently.
No abnormalities such as black spots were observed at all.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上のように、本発明にかかる部分めっ
き装置を使用すると、加熱ふくれ、黒点等のめっき欠陥
のない良好な部分めっきされたリードフレームを製造す
ることができる。
As described above, when the partial plating apparatus according to the present invention is used, it is possible to manufacture a lead frame which is free from plating defects such as heat blisters and black spots and is partially plated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のリードフレームの部分めっき装置の一
例を示す要部断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a main part showing an example of a partial plating apparatus for a lead frame according to the present invention.

【図2】従来のリードフレームの部分めっき装置の要部
断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a main part of a conventional lead frame partial plating apparatus.

【図3】従来のリードフレームの部分めっき装置の要部
断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a main part of a conventional lead frame partial plating apparatus.

【符号の説明】 1 リードフレーム 2 ラバープレート 3 スリット板 4 押さえ金具 5 押さえゴム 6 整流板 7 ノズルプレート 8 めっき液噴揚セル 9 排液路 9a 排液路 9b 排液路 10 支持プレート 20 押さえ部材 30 垂直方向に設けられためっき液流路 40a 、40b めっき液排液路のめっき液流路に対する開
口部 H めっき液排液路開口部の垂直方向上端部とラバープ
レートの上面との垂直方向の距離(:出口ヘッド差)
[Explanation of Signs] 1 Lead frame 2 Rubber plate 3 Slit plate 4 Holder 5 Pressing rubber 6 Rectifier plate 7 Nozzle plate 8 Plating solution blow-up cell 9 Drainage channel 9a Drainage channel 9b Drainage channel 10 Support plate 20 Holding member 30 Plating solution flow paths 40a, 40b provided in the vertical direction. Openings of plating solution drainage paths for plating solution flow paths. H Vertically upper ends of plating solution drainage path openings and upper surfaces of rubber plates. Distance (: Exit head difference)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 リードフレーム(1) の押さえ部材(20)
と、該押さえ部材(20)の下部に設けられ、上面が前記リ
ードフレーム(1) の下面と当接し、かつリードフレーム
(1) 下面被めっき面に対応した開口部を有するラバープ
レート(2) と、該ラバープレート(2) を支持する支持プ
レート(10)と、該支持プレート(10)の下部に設けられた
めっき液噴揚用のスリット板(3) と、該スリット板(3)
の下部に設けられためっき液噴揚セル(8) とから構成さ
れる垂直上向噴流によるリードフレームの部分めっき装
置であって、前記支持プレート(10)が、前記ラバープレ
ート(2) の開口部に相対して垂直方向に設けられためっ
き液流路(30)と、該支持プレート(10)の板内板厚部に水
平方向に設けられかつ前記めっき液流路(30)部において
相対向して開口部が設けられた2本のめっき液排液路
(9a、9b)とを有し、さらに、該めっき液排液路(9a、
9b)の前記開口部の垂直方向上端部と前記ラバープレー
ト(2) の上面との距離Hが1mm以上、3mm以下であるこ
とを特徴とするリードフレームの部分めっき装置。
1. A holding member (20) for a lead frame (1).
And a lower surface of the pressing member (20), the upper surface of which is in contact with the lower surface of the lead frame (1), and
(1) A rubber plate (2) having an opening corresponding to the lower surface to be plated, a support plate (10) for supporting the rubber plate (2), and a plating provided below the support plate (10). A slit plate for liquid jetting (3), and the slit plate (3)
And a plating solution blowing cell (8) provided at the lower part of the lead frame, and a partial plating apparatus for the lead frame by a vertically upward jet, wherein the support plate (10) is provided with an opening of the rubber plate (2). The plating solution flow path (30) provided in the vertical direction relative to the portion, the plating solution flow path (30) portion provided horizontally in the inner plate thick portion of the support plate (10) and the plating solution flow path (30) And two plating solution drain passages (9a, 9b) provided with openings facing each other, and further, the plating solution drain passages (9a, 9a, 9b).
9b) A partial plating apparatus for a lead frame, wherein a distance H between a vertical upper end of the opening and an upper surface of the rubber plate (2) is 1 mm or more and 3 mm or less.
JP3278596A 1991-09-30 1991-09-30 Lead frame partial plating equipment Expired - Lifetime JP2663369B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3278596A JP2663369B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Lead frame partial plating equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3278596A JP2663369B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Lead frame partial plating equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0593293A JPH0593293A (en) 1993-04-16
JP2663369B2 true JP2663369B2 (en) 1997-10-15

Family

ID=17599474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3278596A Expired - Lifetime JP2663369B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Lead frame partial plating equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2663369B2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0248433Y2 (en) * 1987-04-21 1990-12-19

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0593293A (en) 1993-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1070635A (en) Method and apparatus for selectively electroplating an area of a surface
CA2287274A1 (en) Apparatus for electrolytically treating printed circuit boards and conductor foils
JP2663369B2 (en) Lead frame partial plating equipment
DE10102145B4 (en) Electroplating pretreatment device and plating treatment device
US7713398B2 (en) Selective plating apparatus and selective plating method
JP2801841B2 (en) Electrode unit for electric treatment tank of metal strip
JPS6348956B2 (en)
JP2901461B2 (en) Electrode unit for electric treatment tank of metal strip
KR960015230B1 (en) Apparatus for improved current transfer in radial cell electroplanting
JP3211407B2 (en) Electrode for alloy plating
JP2901488B2 (en) Continuous electrolytic treatment method
JPH0582691A (en) Partial plating apparatus and leadframe for semiconductor device
JPH07278884A (en) Electrode device for energizing treating vessel of metallic strip
JP4156087B2 (en) Electrodeposition processing equipment
JPH10140393A (en) Electroplating device
JPS59116398A (en) Horizontal type electroplating cell
JPH03191090A (en) Horizontal electroplating device
JP2545849B2 (en) Electric plating device
JPS5985890A (en) Method and device for horizontal electrolytic treatment of metallic strip supported by fluid
JPS61110790A (en) Jet plating method of ic lead frame
JP2000096299A (en) Electrode device in electrical treating vessel
JP3288272B2 (en) Electroplating equipment
KR100418404B1 (en) Vertical type electro plating apparatus using insoluble anode
JPH11100694A (en) Plating pretreatment and electroplating treatment apparatus
JP3275487B2 (en) Plating apparatus and plating method