JP2644360B2 - Silicon single crystal pulling device - Google Patents

Silicon single crystal pulling device

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JP2644360B2 JP7088990A JP7088990A JP2644360B2 JP 2644360 B2 JP2644360 B2 JP 2644360B2 JP 7088990 A JP7088990 A JP 7088990A JP 7088990 A JP7088990 A JP 7088990A JP 2644360 B2 JP2644360 B2 JP 2644360B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、シリコン単結晶、特にアンチモンドープシ
リコン単結晶、の結晶化率を向上させることができるよ
うにしたシリコン単結晶の引上装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a silicon single crystal pulling apparatus capable of improving the crystallization rate of a silicon single crystal, particularly an antimony-doped silicon single crystal. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

シリコン単結晶を引き上げるに際して、内部に石英ル
ツボを設置しかつ上部をネック部としたメインチャンバ
ーと、このメインチャンバーの上部ネック部の上方に設
けられたゲートバルブ部、プルチャンバー及び引上機構
部とを有し、石英ルツボ内のシリコン溶融液からシリン
ダー、ワイヤー等の引上手段によってシリコン単結晶を
引き上げる装置を用いることは広く知られている。この
メインチャンバーは全体がウォータージャケット構造と
なっており、メインチャンバー内を冷却するようになっ
ている。そして、ネック部のステンレススチール製の低
温表面は露出されているのが通常である。
When pulling up a silicon single crystal, a quartz crucible is installed inside and a main chamber with an upper part as a neck part, a gate valve part, a pull chamber and a pulling mechanism part provided above the upper neck part of this main chamber It is widely known to use a device for pulling a silicon single crystal from a silicon melt in a quartz crucible by a pulling means such as a cylinder or a wire. This main chamber has a water jacket structure as a whole, and cools the inside of the main chamber. The stainless steel low temperature surface of the neck is usually exposed.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

この従来の引上装置を用いた場合に、石英ルツボのシ
リコン溶融液から珪素酸化物(アンチモンドープシリコ
ン単結晶の場合には、さらにアンチモン酸化物)が蒸発
して上記した低温の上部ネック部表面に付着析出し、さ
らにこれらの析出物が落下してシリコン溶融液中に混入
しシリコン単結晶の結晶化率を低下させるという問題が
生じていた。
When this conventional pulling apparatus is used, silicon oxide (and in the case of antimony-doped silicon single crystal, antimony oxide) evaporates from the silicon melt of the quartz crucible, and the above-mentioned low-temperature upper neck surface This causes a problem that these precipitates fall and fall into the silicon melt to lower the crystallization rate of the silicon single crystal.

本発明は、上記した従来技術における問題を解決する
べく発明されたもので、メインチャンバーの上部ネック
部における珪素酸化物(アンチモンドープシリコン単結
晶の場合には、さらにアンチモン酸化物)の析出を少な
くしかつ析出したものも落下しないようにすることによ
って、シリコン単結晶、特にアンチモンドーブシリコン
単結晶の歩留り、即ち単結晶化率を高くすることができ
るようにしたシリコン単結晶の引上装置を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems in the prior art, and reduces the precipitation of silicon oxide (antimony oxide in the case of antimony-doped silicon single crystal) in the upper neck portion of the main chamber. The present invention provides a silicon single crystal pulling apparatus capable of increasing the yield of silicon single crystals, particularly antimony-doped silicon single crystals, that is, increasing the single crystallization rate by preventing falling of precipitated substances. The purpose is to do.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記課題を解決するために、本発明のシリコン単結晶
の引上装置においては、内部に石英ルツボを設置しかつ
上部をネック部としたメインチャンバーと、このメイン
チャンバーの上部ネック部の上方に設けられたゲートバ
ルブ、プルチャンバー及び引上機構部とを有し、石英ル
ツボ内のシリコン融解液から引上手段によってシリコン
単結晶を引き上げる装置において、上記ネック部の内周
面を、例えばカーボン製の薄肉円筒保護カバーによって
遮蔽したものである。
In order to solve the above-mentioned problems, in the silicon single crystal pulling apparatus of the present invention, a quartz crucible is installed inside and a main chamber having an upper portion as a neck portion, and a main portion provided above the upper neck portion of the main chamber. In a device having a gate valve, a pull chamber and a pulling mechanism, and pulling a silicon single crystal from a silicon melt in a quartz crucible by pulling means, the inner peripheral surface of the neck portion is made of, for example, carbon. This is shielded by a thin cylindrical protective cover.

上記薄肉円筒保護カバーは、その内表面が粗面、即ち
最大粗さ表示で、1〜30μmであるカーボン製か、或い
はSiC又はSi3N4で表面を被覆したもの、或いはSiC又はS
i3N4そのもので作られたものでよい。そしてかかる薄肉
円筒保護カバーは、上記ネック部の下端の小突起等で下
端が支持され、ネック部の内面にほぼ嵌合するよう設置
する。勿論、この保護カバーは交換のために着脱可能で
あり、ネック部の下部のみを遮蔽したものでも勿論効果
的である。
The thin-walled cylindrical protective cover has a rough inner surface, that is, the surface is made of carbon having a maximum roughness of 1 to 30 μm, or the surface is coated with SiC or Si 3 N 4 , or SiC or S
It may be made of i 3 N 4 itself. The thin cylindrical protective cover is installed so that the lower end is supported by a small projection or the like at the lower end of the neck portion and substantially fits on the inner surface of the neck portion. Of course, this protective cover is removable for replacement, and it is of course effective to cover only the lower part of the neck portion.

このような保護カバーを設けることによって、上記し
たメインチャンバーの上部ネック部表面、即ち保護カバ
ー表面の温度が上昇し、珪素酸化物(アンチモンドープ
シリコン単結晶の場合には、さらにアンチモン酸化物)
の析出は減少しかつ析出したものの落下も減少するとい
う作用が行われる。
By providing such a protective cover, the temperature of the surface of the upper neck portion of the main chamber, that is, the surface of the protective cover increases, and silicon oxide (and in the case of antimony-doped silicon single crystal, antimony oxide further increases)
Is reduced, and the fall of the precipitate is also reduced.

〔作用〕[Action]

このような保護カバーを設けることによって、上記ネ
ック部表面、即ち保護カバー表面の温度が上昇し、珪素
酸化物(アンチモンドープシリコン単結晶の場合には、
さらにアンチモン酸化物)の析出は減少しかつ析出した
ものの落下も減少するという作用が行われる。
By providing such a protective cover, the temperature of the neck surface, that is, the surface of the protective cover increases, and silicon oxide (in the case of antimony-doped silicon single crystal,
Further, the effect of reducing the precipitation of antimony oxide) and the drop of the deposited substance are also reduced.

かかる析出物の落下の減少は、さらに次のように推理
することができる。本発明の保護カバー表面には、珪素
酸化物が均一にそして比較的緻密に析出付着し、このネ
ック部を流下する不活性ガス、即ちアルゴンガス流によ
って、上記析出物が剥落することがなくなる。これに対
し、本発明の保護カバーを用いない場合には、ネック部
内表面に不均一に、即ち特定の箇所のみが他より余分に
析出し、析出物が、例えば糸状に成長して、その先端の
一部又は大部分が切れて、ガス流とともに落下する機会
が多くなる。又、保護カバーはネック部水冷効果が及ば
ないから、その内表面は高温となり、上記の析出物の緻
密化が行われ、又析出自身も減少するものと考えられ
る。
The decrease in the fall of the precipitate can be further inferred as follows. On the surface of the protective cover of the present invention, silicon oxide is uniformly and relatively densely deposited and adhered, and the inert gas flowing down the neck, that is, the argon gas flow, prevents the above-mentioned precipitate from peeling off. On the other hand, when the protective cover of the present invention is not used, the precipitate is unevenly formed on the inner surface of the neck portion, that is, only a specific portion is deposited more than others, and the precipitate grows, for example, in the form of a thread, and its tip Part or most of it is cut, and the chance of falling with the gas flow is increased. In addition, since the protective cover does not have the water cooling effect of the neck portion, it is considered that the inner surface of the protective cover becomes high temperature, the above-mentioned precipitates are densified, and the precipitates themselves are reduced.

なお、メインチャンバーのネック部の下方にパージチ
ューブと言われる筒状体を垂下させ、導入される不活性
ガスの誘導を行うようにしたものは知られているが、そ
の構造及び作用は本発明の保護カバーとは全く異なるも
のである。
It is known that a tubular body called a purge tube is suspended below the neck of the main chamber so as to guide an inert gas to be introduced. It is completely different from the protective cover.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、本発明の一実施例を添付図面に基づいて説明
する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

図中、2は本発明に係るシリコン単結晶の引上装置で
ある。この引上装置2は、上部をネック部4としたメイ
ンチャンバー6を有している。このメインチャンバー6
の上部ネック部4の上方にはゲートバルブ部8を介して
プルチャンバー(図示せず)及び引上機構部(図示せ
ず)が設けられている。このプルチャンバー及び引上機
構部は公知であり、その図面での説明は省略する。
In the drawing, reference numeral 2 denotes a silicon single crystal pulling apparatus according to the present invention. The lifting device 2 has a main chamber 6 having an upper portion as a neck portion 4. This main chamber 6
A pull chamber (not shown) and a pull-up mechanism (not shown) are provided above the upper neck part 4 via a gate valve part 8. The pull chamber and the pulling-up mechanism are well-known, and description thereof is omitted.

このメインチャンバー6の内部には支持軸10を介して
石英ルツボ12が設置されている。この石英ルツボ12内に
は多結晶シリコンが溶融されシリコン溶融液14となる。
16は石英ルツボ12の周囲に設けられたヒーターであり、
18はこのヒーター16の周囲に設置された遮熱板である。
20はメインチャンバー6の上部を形成する上蓋で、この
上蓋20の上部は狭窄されて上記したネック部4となって
いる。22は上蓋20の上部に設けられた監視窓で、メイン
チャンバー6内を監視する場合に利用される。このメイ
ンチャンバー6の全体はその温度上昇を防ぐためにウォ
ータージャケット構造とされ、ネック部4の内周壁面の
温度も低下している。24はプルチャンバー8から上下動
自在に垂下される引上手段、図示の例では引上軸で、そ
の先端には種結晶26が取付けられ、この種結晶26をシリ
コン溶融液14に漬け、ついでこの引上軸24を徐々に引き
上げることによってシリコン単結晶28を成長させつつ引
上るものである。上記引上手段24としては、引上軸の他
に、ワイヤ等の可撓手段を用いたものも用いられる。
A quartz crucible 12 is provided inside the main chamber 6 via a support shaft 10. Polycrystalline silicon is melted in the quartz crucible 12 to form a silicon melt 14.
16 is a heater provided around the quartz crucible 12,
Reference numeral 18 denotes a heat shield plate provided around the heater 16.
Reference numeral 20 denotes an upper lid forming the upper part of the main chamber 6, and the upper part of the upper lid 20 is narrowed to form the above-mentioned neck part 4. Reference numeral 22 denotes a monitoring window provided on an upper portion of the upper cover 20, which is used for monitoring the inside of the main chamber 6. The entire main chamber 6 has a water jacket structure in order to prevent the temperature from rising, and the temperature of the inner peripheral wall surface of the neck portion 4 is also reduced. Reference numeral 24 denotes a pulling means which is suspended vertically from the pull chamber 8, and in the illustrated example, a pulling shaft. A seed crystal 26 is attached to the tip of the pulling shaft, and the seed crystal 26 is immersed in the silicon melt 14. By gradually pulling up the pulling shaft 24, the silicon single crystal 28 is grown and pulled up. As the lifting means 24, one using a flexible means such as a wire in addition to the lifting shaft is used.

30は上記ネック部4の内周壁面に嵌合された保護カバ
ーで、カーボンによって形成されている。この保護カバ
ー30の構造としては、例えば短管状のものを取付けても
よいし、カーボンによってネック部4の内周面を被覆し
てもよいものである。また、この保護カバー30の材質と
しては、カーボン以外にもSiC又はSi3N4をコートしたカ
ーボンも適用できる。更に、この保護カバーの材質とし
ては、SiC又はSi3N4のみで作られたものも使用可能であ
る。重要なことは、保護カバーの表面が粗面であるのが
効果的であって、最大粗さ表示(Rmax)で1〜30μmで
あるのが好ましい。その表面が鏡面のように平滑である
と、ネック部のもとのメタル表面のような不具合が起こ
り、また粗すぎると同様な現象が起こることが多くな
る。保護カバーの大きさは必ずしもネック部の全表面を
遮蔽する必要はなく、メインチャンバーに隣接する下部
を遮蔽することによっても本発明の効果を生ずる。
Reference numeral 30 denotes a protective cover fitted to the inner peripheral wall surface of the neck portion 4 and is formed of carbon. As the structure of the protective cover 30, for example, a short tubular member may be attached, or the inner peripheral surface of the neck portion 4 may be covered with carbon. As a material of the protective cover 30, carbon coated with SiC or Si 3 N 4 can be applied in addition to carbon. Further, as the material of the protective cover, a material made of only SiC or Si 3 N 4 can be used. What is important is that the surface of the protective cover is effectively rough, and it is preferable that the maximum surface roughness (Rmax) is 1 to 30 μm. If the surface is as smooth as a mirror surface, problems such as the metal surface under the neck occur, and if it is too rough, the same phenomenon often occurs. The size of the protective cover does not necessarily have to cover the entire surface of the neck portion, and the effect of the present invention can be obtained by blocking the lower portion adjacent to the main chamber.

このような保護カバー30を設けることによって、上記
ネック部4表面、即ち保護カバー30表面の温度が上昇
し、珪素酸化物(アンチモンドープシリコン単結晶の場
合には、さらにアンチモン酸化物)の析出は減少しかつ
析出したものの落下も減少するという作用が行われる。
By providing such a protective cover 30, the temperature of the surface of the neck portion 4, that is, the surface of the protective cover 30 rises, and the precipitation of silicon oxide (and in the case of antimony-doped silicon single crystal, antimony oxide) further increases. The effect is obtained that the amount of the precipitate decreases and the fall of the precipitate also decreases.

なお、32は排気口で、真空ポンプ(図示せず)に接続
されており、メインチャンバー内の不活性ガスの圧力調
整及び排気を行うために用いられる。
An exhaust port 32 is connected to a vacuum pump (not shown) and is used for adjusting the pressure of the inert gas in the main chamber and exhausting the same.

上記した保護カバー30を取付けたメインチャンバー6
を含んだ引上装置2を用いた場合についての実験例を以
下に挙げる。
Main chamber 6 with the above protective cover 30 attached
An example of an experiment using the lifting device 2 including the following will be described below.

実験例 石英ルツボに多結晶原料を25kgセットする。メインチ
ャンバー内を真空置換し不活性ガス(アルゴン)を導入
して約50mbに設定する。ヒーターに電流を流し、多結晶
原料を石英ルツボ内で溶融する。融解後、200gのアンチ
モン粒をシリコン溶融液に投入する。引上軸の先端に種
結晶を取付け、この引上軸を降下させて種結晶をシリコ
ン溶融液になじませ、引上軸を徐々に上昇させ、所定の
直径のシリコン単結晶棒を引き上げた。この操作によ
り、直径が4″,5″,6″の3種類について、それぞれ20
回のシリコン単結晶棒の引き上げ操作を行った。この実
験の結果を第1表に示した。なお、保護カバーを取付け
ない場合についても同様の操作でシリコン単結晶棒を引
上げ、その結果を併せて第1表に示した。
Experimental Example 25 kg of polycrystalline material is set in a quartz crucible. The inside of the main chamber is replaced with a vacuum, and an inert gas (argon) is introduced to set the pressure to about 50 mb. An electric current is applied to the heater to melt the polycrystalline raw material in the quartz crucible. After melting, 200 g of antimony particles are charged into the silicon melt. A seed crystal was attached to the tip of the pulling shaft, and the pulling shaft was lowered to allow the seed crystal to adapt to the silicon melt. The pulling shaft was gradually raised to pull up a silicon single crystal rod having a predetermined diameter. By this operation, for each of the three types of 4 ″, 5 ″, and 6 ″ diameters, 20
The pulling operation of the silicon single crystal rod was performed several times. The results of this experiment are shown in Table 1. The silicon single crystal rod was pulled up by the same operation when the protective cover was not attached, and the results are also shown in Table 1.

第1表には、保護カバーの有無による効果を直径
4″,5″,6″の3種類の単結晶の引上げについて、それ
ぞれの直径における保護カバーの有無の双方についてそ
れぞれ20回の引上げを行い、単結晶化率を比較し、保護
カバーを有する場合を100として保護カバー無しの場合
との比較値を示した。ここで、単結晶化率とは、20回の
引上げを実施してそのうち単結晶で引き上げられたもの
のみを計数し、百分率で示したものである。各直径にお
いて、保護カバーはいずれも効果的であり、大口径で特
に効果の著しいことが判った。なお、本実験に用いられ
た保護カバーの材質は、その表面粗さが最大粗さを示
し、約5〜10μmで、材料はカーボンであった。
Table 1 shows the effect of the presence or absence of the protective cover on the pulling of three types of single crystals of 4 ", 5", and 6 "in diameter. The single crystallization ratio was compared, and the comparison value with the case without the protective cover was shown assuming that the case with the protective cover was 100, where the single crystallization ratio was defined as the single crystallization ratio after 20 times of pulling. Only the crystals pulled up by the crystal were counted and expressed as a percentage, and it was found that each of the protective covers was effective at each diameter, and was particularly effective at a large diameter. The material of the protective cover used had a maximum surface roughness of about 5 to 10 μm, and the material was carbon.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上のごとく、本発明によれば、メインチャンバーの
上部ネック部における珪素酸化物(アンチモンドープシ
リコン単結晶の場合には、さらにアンチモン酸化物)の
析出を少なくしかつ析出したものの落下も減少させるこ
とができ、シリコン単結晶、特にアンチモンドープシリ
コン単結晶の歩留り、即ち単結晶化率を高くすることが
できるという大きな効果を達成することができる。
As described above, according to the present invention, the precipitation of silicon oxide (antimony oxide in the case of antimony-doped silicon single crystal) at the upper neck portion of the main chamber is reduced, and the fall of the deposited material is also reduced. The yield of the silicon single crystal, particularly the antimony-doped silicon single crystal, that is, a large effect of increasing the single crystallization ratio can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す断面的説明図である。 2……引上装置、4……ネック部、6……メインチャン
バー、8……ゲートバルブ部、12……石英ルツボ、14…
…シリコン溶融液、16……ヒーター、24……引上軸、26
……種結晶、28……シリコン単結晶、30……保護カバ
ー。
FIG. 1 is an explanatory sectional view showing an embodiment of the present invention. 2 ... Lifting device, 4 ... Neck, 6 ... Main chamber, 8 ... Gate valve, 12 ... Quartz crucible, 14 ...
… Silicon melt, 16… Heater, 24… Pull-up shaft, 26
…… Seed crystal, 28 …… Silicon single crystal, 30 …… Protective cover.

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】内部に石英ルツボを設置しかつ上部をネッ
ク部としたメインチャンバーと、このメインチャンバー
の上部ネック部の上方に設けられたゲートバルブ、プル
チャンバー及び引上機構部とを有し、石英ルツボ内のシ
リコン溶融液から引上手段によってシリコン単結晶を引
き上げる装置において、上記ネック部の内表面にその表
面が1乃至30μm(Rmax)の粗面の耐熱物質からなる薄
肉円筒保護カバーを嵌合することによって遮蔽したこと
を特徴とするシリコン単結晶の引上装置。
1. A main chamber having a quartz crucible therein and an upper portion as a neck portion, and a gate valve, a pull chamber, and a pulling mechanism portion provided above the upper neck portion of the main chamber. In a device for pulling a silicon single crystal from a silicon melt in a quartz crucible by a pulling means, a thin cylindrical protective cover made of a heat-resistant material having a rough surface of 1 to 30 μm (Rmax) is provided on the inner surface of the neck portion. An apparatus for pulling a silicon single crystal, which is shielded by fitting.
【請求項2】前記保護カバーがカーボンによって形成さ
れていることを特徴とする請求項(1)記載のシリコン
単結晶の引上装置。
2. The apparatus for pulling a silicon single crystal according to claim 1, wherein said protective cover is made of carbon.
【請求項3】前記保護カバーがSiC又はSi3N4をコートし
たカーボンによって形成されていることを特徴とする請
求項(1)記載のシリコン単結晶の引上装置。
3. The silicon single crystal pulling apparatus according to claim 1, wherein said protective cover is made of carbon coated with SiC or Si 3 N 4 .
【請求項4】前記保護カバーがSiC又はSi3N4によって形
成されていることを特徴とする請求項(1)記載のシリ
コン単結晶の引上装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein said protective cover is made of SiC or Si 3 N 4 .
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