JP2643029B2 - Semiconductor pressure sensor device - Google Patents

Semiconductor pressure sensor device

Info

Publication number
JP2643029B2
JP2643029B2 JP2411354A JP41135490A JP2643029B2 JP 2643029 B2 JP2643029 B2 JP 2643029B2 JP 2411354 A JP2411354 A JP 2411354A JP 41135490 A JP41135490 A JP 41135490A JP 2643029 B2 JP2643029 B2 JP 2643029B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure sensor
semiconductor pressure
sensor chip
package
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2411354A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04218739A (en
Inventor
達 荒木
素海 市橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2411354A priority Critical patent/JP2643029B2/en
Priority to DE4141509A priority patent/DE4141509A1/en
Priority to US07/903,925 priority patent/US5279164A/en
Publication of JPH04218739A publication Critical patent/JPH04218739A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2643029B2 publication Critical patent/JP2643029B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/0061Electrical connection means
    • G01L19/0084Electrical connection means to the outside of the housing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/14Housings
    • G01L19/147Details about the mounting of the sensor to support or covering means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体圧力センサ、
特に、高精度な温度補償機能を有する小型で安価な半導
体圧力センサに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor pressure sensor,
In particular, it relates to a small and inexpensive semiconductor pressure sensor having a highly accurate temperature compensation function.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は従来の半導体圧力センサを示す断
面図である。図において、半導体圧力センサ(以下、圧
力センサとする)(1)は、圧力を電気信号に変換する半
導体圧力センサチップ(以下、圧力センサチップとす
る)(2)をステム(4)に固定し、キャップ(3)により
ッケージングしたものである。圧力センサチップ(2)の
ICチップ(図示しない)が設けられた部分の裏面に
は、ダイヤフラム(5)が形成されている。ダイヤフラム
(5)は、圧力センサチップ(2)の裏面をエッチングして
形成された薄肉部であり、圧力センサチップ(2)の表面
には圧力感知ブリッジ(図示しない)が形成されてい
る。圧力センサチップ(2)は台座(6)に支持されてお
り、台座(6)は接着剤(7)によりステム(4)に固定され
ている。また、ステム(4)の中央には、ダイヤフラム
(5)に通じる圧力導入管(8)が設けられている。この圧
力導入管(8)の外側では、圧力センサチップ(2)にワイ
ヤ(9)を介して接続されたセンサリード(10)がステム
(4)に固定されている。なお、チャップ(3)で覆われた
圧力センサ(1)内は、基準圧力室(11)として真空とな
っている。
FIG. 3 is a sectional view showing a conventional semiconductor pressure sensor. In the figure, a semiconductor pressure sensor (hereinafter, referred to as a pressure sensor) (1) has a semiconductor pressure sensor chip (hereinafter, referred to as a pressure sensor chip) for converting pressure into an electric signal (2) fixed to a stem (4). , Packaged with a cap (3) . A diaphragm (5) is formed on the back surface of the portion of the pressure sensor chip (2) where the IC chip (not shown) is provided. Diaphragm
(5) is a thin portion formed by etching the back surface of the pressure sensor chip (2), and a pressure sensing bridge (not shown) is formed on the surface of the pressure sensor chip (2). The pressure sensor chip (2) is supported by a pedestal (6), and the pedestal (6) is fixed to the stem (4) by an adhesive (7). In the center of the stem (4), a diaphragm
A pressure introduction pipe (8) leading to (5) is provided. Outside the pressure introducing pipe (8), a sensor lead (10) connected to a pressure sensor chip (2) via a wire (9) has a stem.
It is fixed to (4). The inside of the pressure sensor (1) covered with the chap (3) is a vacuum as a reference pressure chamber (11).

【0003】図4は圧力センサ(1)を支持台座(12)に
より厚膜基板(13)に実装した状態を示す斜視図であ
り、図5はその裏面図である。これらの図において、圧
力センサ(1)の出力を増幅するオペアンプIC(14)が
厚膜基板(13)の裏面に設けられている。圧力センサ
(1)からの出力は、センサリード(10)等によりオペア
ンプIC(14)等と接続されている。また、厚膜基板
(13)の表面には、電気的特性の調整を行う抵抗体(1
5)が形成されており、厚膜基板(13)の周辺部にはク
リップリード(16)が設けられている。
FIG. 4 is a perspective view showing a state in which the pressure sensor (1) is mounted on a thick film substrate (13) by a support base (12), and FIG. 5 is a rear view thereof. In these figures, an operational amplifier IC (14) for amplifying the output of the pressure sensor (1) is provided on the back surface of the thick film substrate (13). Pressure sensor
The output from (1) is connected to an operational amplifier IC (14) and the like by a sensor lead (10) and the like. Also, thick film substrates
On the surface of (13), a resistor (1) for adjusting electric characteristics is provided.
5) is formed, and a clip lead (16) is provided on the periphery of the thick film substrate (13).

【0004】従来の圧力センサ(1)は上述したように構
成され、圧力導入管(8)より圧力を印加すると、圧力セ
ンサ(1)内の圧力センサチップ(2)裏面に形成されてい
るダイヤフラム(5)に応力が加わり、圧力センサチップ
(2)表面の圧力感知ブリッジより圧力値に対応する出力
信号を発生する。この出力信号がオペアンプIC(14)
で増幅され、最終出力を得る。
The conventional pressure sensor (1) is constructed as described above, and when pressure is applied from a pressure introducing pipe (8), a diaphragm formed on the back surface of a pressure sensor chip (2) in the pressure sensor (1). Stress is applied to (5) and the pressure sensor chip
(2) An output signal corresponding to the pressure value is generated from the pressure sensing bridge on the surface. This output signal is the operational amplifier IC (14)
To obtain the final output.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したような圧力セ
ンサ(1)では、部品点数が多く製品が大きくなってしま
うという問題点があった。また、出力の温度補償機能が
オペアンプIC(14)内に設けられているため、圧力セ
ンサチップ(2)とオペアンプIC(14)が離れて配置さ
れているので温度補償が不充分となってしまう等の問題
点があった。この発明は、このような問題点を解決する
ためになされたもので、高精度な温度補償を可能にする
と共に、小型化された圧力センサを得ることを目的とす
る。
The above-described pressure sensor (1) has a problem that the number of parts is large and the product becomes large. Further, since the temperature compensation function of the output is provided in the operational amplifier IC (14), the temperature compensation becomes insufficient because the pressure sensor chip (2) and the operational amplifier IC (14) are arranged apart from each other. And so on. The present invention has been made in order to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a pressure sensor which enables highly accurate temperature compensation and is downsized.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明の第1の発明に
係る半導体圧力センサ装置は、圧力を応力に変換するダ
イヤフラム、このダイヤフラムの応力を電気信号に変換
する歪ゲージ及びこの歪ゲージの出力を増幅しかつ温度
補償を行う集積回路を一体に形成した半導体圧力センサ
チップと、この半導体圧力センサチップを支持するとと
もに、この半導体圧力センサチップとで基準圧力室を構
成する台座と、これらの半導体圧力センサチップ及び台
座を内部に収容する本体と開口部を有する蓋とが接合一
体化されて構成されるパッケージと、本体と蓋とに挟持
されてパッケージに固定され、一端が上記半導体圧力セ
ンサチップと電気的に接続され、他端側が折り曲げられ
上記パッケージの開口部側とは反対側に延在し、この
パッケージを基板に支持するセンサリードとを備えたも
のである。また、この発明の第2の発明に係る半導体圧
力センサ装置は、上記第1の発明において、パッケージ
が取り付けられた基板の裏面に、半導体圧力センサチッ
プの電気的特性を調整する抵抗体を備えたものである。
According to a first aspect of the present invention, a semiconductor pressure sensor device includes a diaphragm for converting pressure into stress, a strain gauge for converting stress of the diaphragm into an electric signal, and an output of the strain gauge. A semiconductor pressure sensor chip integrally formed with an integrated circuit for amplifying the temperature and compensating for temperature, a pedestal supporting the semiconductor pressure sensor chip and forming a reference pressure chamber with the semiconductor pressure sensor chip, The main body accommodating the pressure sensor chip and the pedestal inside and the lid having the opening are joined together.
When configured packages are embodied, held between the main body and the lid
And one end is electrically connected to the semiconductor pressure sensor chip, and the other end is bent.
And a sensor lead extending opposite to the opening side of the package and supporting the package on a substrate. Further, a semiconductor pressure sensor device according to a second aspect of the present invention, in the first aspect, includes a resistor for adjusting an electrical characteristic of the semiconductor pressure sensor chip on a back surface of the substrate on which the package is mounted. Things.

【0007】[0007]

【作用】この発明においては、ダイヤフラム、歪ゲー
ジ、及び信号増幅用集積回路をワンチップ化することに
より、温度変化に対して歪ゲージと温度誤差を補償する
機能を持った集積回路との温度が等しくなるので、高精
度な温度補償が可能となる。また、圧力導入口である開
口部をパッケージに直接設けることにより、圧力導入経
路が短くなり、被センサ圧力のリークが少なくなり、被
センサ圧力を確実に、かつ、安定して測定できるように
なる。また、圧力導入口である開口部をパッケージに直
接設け、パッケージを基板に取り付けるセンサリードを
パッケージの開口部と反対側に延在させることにより、
センサリードを短くでき、小型化が実現できると共に、
パッケージを基板に実装する際にパッケージと基板との
間に障害物がなく、簡易に組み立てることができる。ま
た、従来2チップ構成であったのが1チップ構成にな
る、圧力基準室が台座とチップとによりなる簡単な構成
になるなど部品点数が減少すると共に、パッケージに設
けられた開口部から被センサ圧力を直接導入して圧力導
入経路を短く構成することができるので、小型化、低価
格化が実現できる。また、パッケージが本体と蓋とに分
割されているので、本体と蓋との接合前に、台座を本体
に接着剤を用いて固定し、センサリードの一端と半導体
圧力センサチップとをワイヤで接続することができる。
そこで、作業の障害となる蓋がない状態で台座の取り付
けやワイヤの接続が行われ、作業性を向上させることが
できる。また、本体に蓋を接合する際に、センサリード
の固定も同時に行われ、組立性の向上も図られる。さら
に、基板の裏面に半導体圧力センサチップの電気的特性
を調整する抵抗体を設けたので、抵抗体が完全に露呈
し、簡易に半導体圧力センサチップの電気的特性を調整
することができる。
In the present invention, the temperature of the strain gauge and the integrated circuit having the function of compensating for the temperature error with respect to the temperature change can be reduced by forming the diaphragm, the strain gauge, and the integrated circuit for signal amplification into one chip. Since they are equal, high-precision temperature compensation is possible. Further, by providing the opening which is the pressure introduction port directly on the package, the pressure introduction path is shortened, the leak of the pressure to be sensed is reduced, and the pressure to be sensed can be measured reliably and stably. . Also, by providing an opening which is a pressure inlet directly in the package and extending a sensor lead for attaching the package to the substrate to a side opposite to the opening of the package,
The sensor lead can be shortened, miniaturization can be realized,
When mounting the package on the substrate, there is no obstacle between the package and the substrate, and the package can be easily assembled. Further, the number of parts is reduced, for example, the conventional two-chip configuration is replaced with a one-chip configuration, the pressure reference chamber is simplified with a pedestal and a chip, and the number of components is reduced. Since the pressure introduction path can be shortened by directly introducing pressure, downsizing and cost reduction can be realized. Also, the package is separated into the main body and the lid.
The pedestal must be
To the sensor lead with one end of the sensor lead
The wire can be connected to the pressure sensor chip.
Therefore, the pedestal must be mounted without the lid
Shields and wires are connected to improve workability.
it can. Also, when joining the lid to the body, the sensor leads
Is also performed at the same time, and the assemblability is improved. Further, since the resistor for adjusting the electrical characteristics of the semiconductor pressure sensor chip is provided on the back surface of the substrate, the resistor is completely exposed, and the electrical characteristics of the semiconductor pressure sensor chip can be easily adjusted.

【0008】[0008]

【実施例】図1はこの発明の一実施例による半導体圧力
センサ(以下、圧力センサとする)(1A)を示す側面断
面図であり、図2はその斜視図である。これらの図にお
いて、(7)、(9)は上述した従来の圧力センサ(1)にお
けるものと全く同一である。IC化された半導体圧力セ
ンサチップ(以下、圧力センサチップとする)(2A)
は、圧力を応力に変換するダイヤフラム(5)と、この応
力を電気信号に変換する歪ゲージ(図示しない)と、こ
の歪ゲージの出力を増幅し温度補償を行う集積回路とを
ワンチップ化したものである。パッケージ(17)は、本
体(17A)に蓋(17B)を接合一体化して構成されてい
る。そして、蓋(17B)には、開口部としての圧力導入
口(21)が設けられている。また、センサリード(19)
が、本体(17A)と蓋(17B)との間に挟持され、本体
(17A)と蓋(17B)との接合によりパッケージ(17)
に固定されている。このセンサリード(19)は、一端が
ワイヤ(9)を介して圧力センサチップ(2)に接続され、
他端側が折り曲げられて、パッケージ(17)の圧力導入
口(21)側とは反対側に延在されている。この圧力セン
サチップ(2A)は台座(6A)に支持され、この台座(6
A)は接着剤(7)によりパッケージ(17)の本体(17
A)に固定されている。パッケージ(17)は、圧力セン
サ(1A)の信号を入出力するセンサリード(19)によっ
て絶縁基板(18)例えばアルミナセラミック上に支持さ
れている。絶縁基板(18)には、外部回路との電気的接
続を行う外部リード例えばクリップリード(20)が設け
られている。一方、圧力センサ(1A)の上部には、圧力
導入口(21)が設けられている。なお、圧力センサチッ
プ(2A)と台座(6A)との間に、基準圧力室(真空)
(11A)が形成されている。また、絶縁基板(18)裏面
の圧力センサチップ(2A)に対応した位置には、圧力セ
ンサチップ(2A)の電気的特性のばらつきを調整する抵
抗体(15A)が設けられているので、圧力センサ(1A)
をさらに小型化することができる。
1 is a side sectional view showing a semiconductor pressure sensor (hereinafter referred to as a pressure sensor) (1A) according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view thereof. In these figures, (7) and (9) are exactly the same as those in the conventional pressure sensor (1) described above. IC pressure sensor chip (hereinafter referred to as pressure sensor chip) (2A)
Has integrated a diaphragm (5) that converts pressure into stress, a strain gauge (not shown) that converts this stress into an electric signal, and an integrated circuit that amplifies the output of the strain gauge and performs temperature compensation. Things. Package (17) is a book
The lid (17B) is joined and integrated with the body (17A).
You. Then, pressure is introduced into the lid (17B) as an opening.
A mouth (21) is provided. In addition, sensor leads (19)
Is sandwiched between the main body (17A) and the lid (17B).
The package (17) is formed by joining the (17A) and the lid (17B).
It is fixed to. This sensor lead (19) has one end
Connected to the pressure sensor chip (2) via a wire (9),
The other end is bent to introduce the pressure of package (17)
It extends to the side opposite to the mouth (21) side. The pressure sensor chip (2A) is supported by a pedestal (6A).
A) is attached to the main body (17 ) of the package (17) by the adhesive (7).
A) is fixed. The package (17) is supported on an insulating substrate (18), for example, alumina ceramic, by sensor leads (19) for inputting and outputting signals from the pressure sensor (1A). An external lead, for example, a clip lead (20) for making an electrical connection to an external circuit is provided on the insulating substrate (18). On the other hand, a pressure inlet (21) is provided above the pressure sensor (1A). A reference pressure chamber (vacuum) is provided between the pressure sensor chip (2A) and the pedestal (6A).
(11A) is formed. Further, a resistor (15A) for adjusting the variation in the electrical characteristics of the pressure sensor chip (2A) is provided at a position corresponding to the pressure sensor chip (2A) on the back surface of the insulating substrate (18). Sensor (1A)
Can be further reduced in size.

【0009】上述したように構成された半導体圧力セン
サにおいては、圧力導入口(21)より圧力を印加する
と、圧力センサ(1A)内の圧力センサチップ(2A)の表
面で受圧する。そして、ダイヤフラム(5)に加わる応力
により圧力値に対応する出力信号を歪ゲージで発生す
る。歪ゲージの出力信号は、圧力センサチップ(2A)内
に形成されている集積回路で増幅され、さらに温度補償
が行われる。
In the semiconductor pressure sensor configured as described above, when pressure is applied from the pressure inlet (21), the pressure is received on the surface of the pressure sensor chip (2A) in the pressure sensor (1A). Then, an output signal corresponding to the pressure value is generated by the strain gauge due to the stress applied to the diaphragm (5). The output signal of the strain gauge is amplified by an integrated circuit formed in the pressure sensor chip (2A), and further subjected to temperature compensation.

【0010】[0010]

【発明の効果】この発明は以上説明したとおり、圧力を
応力に変換するダイヤフラムと、このダイヤフラムの応
力を電気信号に変換する歪ゲージと、この歪ゲージの出
力を増幅しかつ温度補償を行う集積回路とを1つの半導
体圧力センサチップに一体に形成し、この半導体圧力セ
ンサチップをパッケージ内部に収容しているので、温度
変化に対してもダイヤフラムと半導体片との温度は等し
くなり、集積回路の温度補償機能が高精度に実現され、
また、ワンチップ化により、部品点数が少なくなり、小
型化が図れると共に、安価な半導体圧力センサ装置を得
ることができるという効果を奏する。また、台座と半導
体圧力センサチップとで圧力基準室を構成しているの
で、圧力基準室が簡単な構造で構成でき、パッケージの
開口部と反対側にセンサリードを延在しているので、セ
ンサリードの長さを短くでき、開口部をパッケージに直
接設けているので、開口部から被センサ圧力を直接導入
して圧力導入経路を短くでき、小型化が図れる半導体圧
力センサ装置を得ることができるという効果を奏する。
また、開口部をパッケージに設け、パッケージの開口部
と反対側にセンサリードを延在させているので、パッケ
ージを基板に実装する際にパッケージと基板との間に障
害物がなく、組み立て作業性の向上が図れる半導体圧力
センサ装置を得ることができるという効果を奏する。ま
た、開口部をパッケージに直接設けているので、圧力導
入経路が短く形成でき、被センサ圧力のリークが少なく
なり、特性の安定性の向上が図れる半導体圧力センサ装
置を得ることができるという効果を奏する。また、パッ
ケージが本体と蓋とを接合一体化してパッケージを構成
し、センサリードを本体と蓋とで挟持してパッケージに
固定しているので、本体と蓋との接合前に、広い作業ス
ペースから台座を本体に接着剤を用いて固定でき、セン
サリードの一端と半導体圧力センサチップとをワイヤで
接続でき、さらには本体に蓋を接合する際に、センサリ
ードの固定も同時に行われ、組み立て作業性の向上が図
れる半導体圧力センサ装置を得ることができるという効
果を奏する。さらに、パッケージが取り付けられた基板
の裏面に、半導体圧力センサチップの電気的特性を調整
する抵抗体を設けているので、半導体圧力センサチップ
の電気的調整を簡易にできる半導体圧力センサ装置を得
ることができるという効果を奏する。
As described above, the present invention provides a diaphragm for converting pressure into stress, a strain gauge for converting stress of the diaphragm into an electric signal, and an integrated circuit for amplifying the output of the strain gauge and performing temperature compensation. Since the circuit and the semiconductor pressure sensor chip are integrally formed on one semiconductor pressure sensor chip and the semiconductor pressure sensor chip is housed in the package, the temperature of the diaphragm and the semiconductor piece becomes equal even with a change in temperature, and the temperature of the integrated circuit is reduced. Temperature compensation function is realized with high accuracy,
In addition, the use of a single chip has the effects of reducing the number of parts, reducing the size, and obtaining an inexpensive semiconductor pressure sensor device. In addition, since the pressure reference chamber is formed by the pedestal and the semiconductor pressure sensor chip, the pressure reference chamber can be configured with a simple structure, and the sensor lead extends to the side opposite to the opening of the package. You can shorten the length of the lead, since the only directly setting the opening in the package, from the opening to introduce the sensor pressure directly can be shortened pressure introduction path, it is possible to obtain a semiconductor pressure sensor device size reduction can be achieved It has the effect of being able to.
In addition, since the opening is provided in the package and the sensor lead extends on the opposite side of the opening of the package, there is no obstacle between the package and the substrate when the package is mounted on the substrate, and the assembly workability is improved. There is an effect that a semiconductor pressure sensor device capable of improving the performance can be obtained. Further, since the opening is directly provided in the package, the pressure introduction path can be formed short, the leak of the pressure to be sensed is reduced, and the semiconductor pressure sensor device capable of improving the stability of characteristics can be obtained. Play. In addition,
Cage joins body and lid together to form a package
The sensor lead between the body and the lid
Because it is fixed, before joining the main body and the lid,
The pedestal can be fixed to the main body from the pace using an adhesive.
Connect one end of the saddle and the semiconductor pressure sensor chip with a wire
Can be connected, and even when the lid is
The arm is fixed at the same time, improving the workability of assembly.
Semiconductor pressure sensor device
Play a fruit. Furthermore, since a resistor for adjusting the electrical characteristics of the semiconductor pressure sensor chip is provided on the back surface of the substrate on which the package is mounted, it is possible to obtain a semiconductor pressure sensor device that can simplify the electrical adjustment of the semiconductor pressure sensor chip. This has the effect that it can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例による半導体圧力センサを
示す側面断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view showing a semiconductor pressure sensor according to one embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した圧力センサの斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of the pressure sensor shown in FIG.

【図3】従来の半導体圧力センサを示す側面断面図であ
る。
FIG. 3 is a side sectional view showing a conventional semiconductor pressure sensor.

【図4】図3に示した圧力センサの斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of the pressure sensor shown in FIG.

【図5】図3に示した圧力センサの裏面図である。FIG. 5 is a back view of the pressure sensor shown in FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1A 圧力センサ、2A 圧力センサチップ、5 ダイ
ヤフラム、6A 台座、7 接着剤、9 ワイヤ、11
A 基準圧力室、15A抵抗体、17 パッケージ、
7A 本体、17B 蓋、18 絶縁基板、19 セン
サリード、20クリップリード、21 圧力導入口。
1A pressure sensor, 2A pressure sensor chip, 5 diaphragm, 6A pedestal, 7 adhesive, 9 wires, 11
A Reference pressure chamber, 15A resistor, 17 packages, 1
7A main body, 17B lid, 18 insulating substrate, 19 sensor lead, 20 clip lead, 21 pressure inlet.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−191037(JP,A) 特開 昭60−205329(JP,A) 特開 昭62−21030(JP,A) 実開 昭63−78229(JP,U) 実開 昭55−116252(JP,U) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-63-191037 (JP, A) JP-A-60-205329 (JP, A) JP-A-62-121030 (JP, A) 78229 (JP, U) Actually open 55-116252 (JP, U)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 圧力を応力に変換するダイヤフラム、こ
のダイヤフラムの応力を電気信号に変換する歪ゲージ及
びこの歪ゲージの出力を増幅しかつ温度補償を行う集積
回路を一体に形成した半導体圧力センサチップと、 この半導体圧力センサチップを支持するとともに、この
半導体圧力センサチップとで基準圧力室を構成する台座
と、 これらの半導体圧力センサチップ及び台座を内部に収容
する本体と開口部を有する蓋とが接合一体化されて構成
されるパッケージと、上記本体と上記蓋とに挟持されて上記パッケージに固定
され、一端が 上記半導体圧力センサチップと電気的に接
続され、他端側が折り曲げられて上記パッケージの開口
部側とは反対側に延在し、このパッケージを基板に支持
するセンサリードとを備えたことを特徴とする半導体圧
力センサ装置。
A semiconductor pressure sensor chip integrally formed with a diaphragm for converting pressure into stress, a strain gauge for converting stress of the diaphragm into an electric signal, and an integrated circuit for amplifying the output of the strain gauge and performing temperature compensation. And a pedestal supporting the semiconductor pressure sensor chip and constituting a reference pressure chamber with the semiconductor pressure sensor chip; and accommodating the semiconductor pressure sensor chip and the pedestal therein.
Body and lid with opening are joined and integrated
And packages, are pinched between the main body and the cover secured to the package
One end is electrically connected to the semiconductor pressure sensor chip, the other end is bent and extends to the side opposite to the opening side of the package, and a sensor lead for supporting the package on a substrate is provided. A semiconductor pressure sensor device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 パッケージが取り付けられた基板の裏面
に、半導体圧力センサチップの電気的特性を調整する抵
抗体を備えたことを特徴とする請求項1記載の半導体圧
力センサ装置。
2. A back surface of a substrate on which a package is mounted.
Resistance to adjust the electrical characteristics of the semiconductor pressure sensor chip.
The semiconductor pressure according to claim 1, further comprising an antibody.
Force sensor device.
JP2411354A 1990-12-18 1990-12-18 Semiconductor pressure sensor device Expired - Lifetime JP2643029B2 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2411354A JP2643029B2 (en) 1990-12-18 1990-12-18 Semiconductor pressure sensor device
DE4141509A DE4141509A1 (en) 1990-12-18 1991-12-16 Semiconductor pressure transducer - has pressure detection chip on base in housing on substrate carrying resistor for highly accurate temp. compensation
US07/903,925 US5279164A (en) 1990-12-18 1992-06-26 Semiconductor pressure sensor with improved temperature compensation

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2411354A JP2643029B2 (en) 1990-12-18 1990-12-18 Semiconductor pressure sensor device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04218739A JPH04218739A (en) 1992-08-10
JP2643029B2 true JP2643029B2 (en) 1997-08-20

Family

ID=18520371

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2411354A Expired - Lifetime JP2643029B2 (en) 1990-12-18 1990-12-18 Semiconductor pressure sensor device

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2643029B2 (en)
DE (1) DE4141509A1 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5459351A (en) * 1994-06-29 1995-10-17 Honeywell Inc. Apparatus for mounting an absolute pressure sensor
US5955658A (en) * 1996-01-22 1999-09-21 Vdo Adolf Schindling Ag Device for measuring changes in pressure
DE19711366A1 (en) * 1997-03-19 1998-09-24 Bosch Gmbh Robert Measuring device
DE102015010942B4 (en) * 2015-08-18 2023-11-09 Emag Holding Gmbh Method and device for grinding and precision machining

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5414427A (en) * 1977-07-04 1979-02-02 Takashi Ishikawa Method of making inorganic lighttweight aggregate
JPS5817421B2 (en) * 1979-02-02 1983-04-07 日産自動車株式会社 semiconductor pressure sensor
JPS59217375A (en) * 1983-05-26 1984-12-07 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Semiconductor mechanic-electric conversion device
JPS61172257A (en) * 1986-01-14 1986-08-02 Clarion Co Ltd Cassette holder mechanism
JPS63191037A (en) * 1987-02-02 1988-08-08 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor pressure sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04218739A (en) 1992-08-10
DE4141509A1 (en) 1992-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08178778A (en) Semiconductor pressure detector
JPS6153876B2 (en)
JPH1130559A (en) Pressure sensor
JPH09251877A (en) Electric terminal device
JPH0875580A (en) Semiconductor pressure sensor
JP2011519041A (en) Pressure sensor
JPH09210829A (en) Pressure sensor device with integrated circuit
JP2643029B2 (en) Semiconductor pressure sensor device
JPH01150832A (en) Semiconductor pressure sensor
JPH0933371A (en) Semiconductor pressure gauge
JPH09178596A (en) Pressure sensor
JPH07280679A (en) Pressure sensor
JPH02196938A (en) Pressure sensor
JPH11160179A (en) Semiconductor pressure sensor
JP4103227B2 (en) Pressure sensor
JPH08193900A (en) Semiconductor pressure sensor
JP3700944B2 (en) Pressure sensor
JPH0245721A (en) Absolute pressure type semiconductor pressure sensor
JPH1038730A (en) Pressure sensor and pressure detector using the same
JPH09138173A (en) Semiconductor pressure sensor
JPH08226861A (en) Pressure sensor and its mounting structure
JPS6327724A (en) Semiconductor pressure sensor
JPS61245036A (en) Semiconductor pressure detector
JPH0544616B2 (en)
JPS63195537A (en) Absolute pressure type semiconductor pressure sensor