JP2623649B2 - Metal wiring device and metal wiring method - Google Patents

Metal wiring device and metal wiring method

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JP2623649B2
JP2623649B2 JP5691388A JP5691388A JP2623649B2 JP 2623649 B2 JP2623649 B2 JP 2623649B2 JP 5691388 A JP5691388 A JP 5691388A JP 5691388 A JP5691388 A JP 5691388A JP 2623649 B2 JP2623649 B2 JP 2623649B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 金属配線装置及び金属配線方法に関し, 微細で純度の高い金属のパターンを形成するための金
属配線装置及び金属配線方法を目的とし, 〔1〕金属化合物のガス空間に設置された水平の上面を
持つ固定台1と,該固定台上に載り且つ水平方向に移動
可能な基板支持台2と,該基板支持台の下部に該基板支
持台から離れて垂直に配置された針状の負電極4と,該
負電極の上部の該ガス空間に該基板支持台を隔てて配置
された正電極5と,該正電極と該基板支持台の間の該ガ
ス空間で交叉するレーザ光を発射し,交叉する近傍の該
ガス空間で前記金属化合物のガスを分解して金属ガスを
発生させる第1レーザ6及び該金属ガスをイオン化して
金属イオンを発生させる第2レーザ7とを有する金属配
線装置,及び 〔2〕水平の上面を持つ固定台1上に載置され水平方向
に移動可能な基板支持台2上に基板3を搭載し,該基板
支持台の下部に該基板支持台から離れて垂直に配置され
た針状の負電極4と該負電極の上部の該ガス空間に該基
板支持台を隔てて配置された正電極5により該基板の上
部の空間に電界を発生させ,金属化合物のガスを該基板
を含む空間に導入し,該金属化合物のガスに第1レーザ
6から発射されるレーザ光を照射し該基板の上部の電界
内で該ガスを分解して金属ガスを遊離し,該金属ガスに
第2レーザ7から発射されるレーザ光を照射し該金属ガ
スをイオン化して金属イオンを発生させ,該金属イオン
を前記電界によって負電極側にて引き寄せ前記基板上に
付着,堆積させ,前記基板を搭載した前記基板支持台を
連続的に移動させることにより前記基板支持台の移動に
応じて配線パターンを前記基板上に形成する金属配線方
法をもって構成する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to a metal wiring apparatus and a metal wiring method, and aims at a metal wiring apparatus and a metal wiring method for forming a fine and high-purity metal pattern. A fixed base 1 having a horizontal upper surface installed in a space, a substrate support base 2 mounted on the fixed base and movable in the horizontal direction, and a lower part of the substrate support base vertically separated from the substrate support base. A needle-shaped negative electrode 4 disposed, a positive electrode 5 disposed in the gas space above the negative electrode with the substrate support separated from the substrate, and a gas space between the positive electrode and the substrate support A first laser 6 that emits a crossing laser beam and decomposes the metal compound gas in the gas space near the crossing to generate a metal gas, and a second laser 6 that ionizes the metal gas to generate metal ions A metal wiring device having a laser 7, and 2] The substrate 3 is mounted on a horizontally movable substrate supporting table 2 mounted on a fixed table 1 having a horizontal upper surface, and is vertically arranged at a lower portion of the substrate supporting table apart from the substrate supporting table. An electric field is generated in the space above the substrate by the needle-shaped negative electrode 4 thus formed and the positive electrode 5 arranged in the gas space above the negative electrode with the substrate support being separated from the gas electrode. The gas is introduced into the space containing the substrate, and the gas of the metal compound is irradiated with a laser beam emitted from the first laser 6 to decompose the gas in an electric field above the substrate to release the metal gas and release the metal gas. The gas is irradiated with a laser beam emitted from the second laser 7 to ionize the metal gas to generate metal ions, and the metal ions are attracted by the electric field on the negative electrode side to adhere and deposit on the substrate. Continuously moving the substrate support on which the substrate is mounted Thereby, the wiring pattern is formed on the substrate in accordance with the movement of the substrate support.

〔産業上の利用分野〕[Industrial applications]

本発明は金属配線装置及び金属配線方法に関する。半
導体装置の高密度化に伴い,微細で純度の高い金属の配
線パターンを形成することがが要求されている。
The present invention relates to a metal wiring device and a metal wiring method. 2. Description of the Related Art With the increase in the density of semiconductor devices, it has been required to form fine and high-purity metal wiring patterns.

このため,かかる要求に応える金属配線装置及び金属
配線方法を開発する必要がある。
For this reason, it is necessary to develop a metal wiring device and a metal wiring method that meet such demands.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来,半導体装置の微細な金属配線を形成する方法と
してその原子を含む化合物を材料とする化学気相成長法
(CVD法)が広く使用されている。例えば,アルミニウ
ム(Al)の配線には トリメチルアルミニウム(TMA:Al2(CH3), トリエチルアルミニウム(TEA:Al(C2H53, トリイソブチルアルミニウム(TIBA:Al(i−C
4H9) の化学気相成長法が使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for forming fine metal wiring of a semiconductor device, a chemical vapor deposition method (CVD method) using a compound containing the atom as a material has been widely used. For example, for aluminum (Al) wiring, trimethyl aluminum (TMA: Al 2 (CH 3 ) 6 ), triethyl aluminum (TEA: Al (C 2 H 5 ) 3 ), and triisobutyl aluminum (TIBA: Al (i-C
4 H 9 ) The chemical vapor deposition method of 3 ) is used.

従来の化学気相成長法は基板を加熱してそこに到達す
る金属化合物のガスを熱分解し,金属だけを基板上に付
着させるものである。しかし,金属化合物のガスが基板
上で完全に熱分解し切れずに金属以外の化学種が基板上
に残存することがある。最も問題となるのは材料に含ま
れている炭素(C)原子で,それは配線に混入して特性
を悪化させる。
In the conventional chemical vapor deposition method, a substrate is heated, a gas of a metal compound reaching the substrate is thermally decomposed, and only the metal is deposited on the substrate. However, the metal compound gas may not be completely thermally decomposed on the substrate, and chemical species other than the metal may remain on the substrate. The most problematic is the carbon (C) atom contained in the material, which mixes with the wiring and deteriorates the characteristics.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

半導体の配線パターンが微細になるほど混入する炭素
原子は特性に悪い影響を及ぼす。例えば,Alの配線への
炭素原子の混入は配線の抵抗を大きくして望ましくな
い。本発明は炭素原子の混入を防いで微細な配線を形成
する金属配線装置及び金属配線方法を提供するものであ
る。
As the wiring pattern of the semiconductor becomes finer, the carbon atoms mixed therein have a bad influence on the characteristics. For example, the incorporation of carbon atoms into Al wiring is undesirable because it increases the resistance of the wiring. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a metal wiring apparatus and a metal wiring method for forming fine wiring while preventing carbon atoms from being mixed.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

第1図は本発明の金属配線装置である。 FIG. 1 shows a metal wiring device of the present invention.

第1図において,1は固定台,2は基板支持台,3は基板,4
は負電極,5は正電極,6は第1レーザ,7は第2レーザ,8は
チャンバを示す。
In FIG. 1, 1 is a fixed table, 2 is a substrate support table, 3 is a substrate, 4
Denotes a negative electrode, 5 denotes a positive electrode, 6 denotes a first laser, 7 denotes a second laser, and 8 denotes a chamber.

〔1〕金属化合物のガス空間に設置された水平の上面を
持つ固定台1と,該固定台上に載り且つ水平方向に移動
可能な基板支持台2と,該基板支持台の下部に該基板支
持台から離れて垂直に配置された針状の負電極4と,該
負電極の上部の該ガス空間に該基板支持台を隔てて配置
された正電極5と,該正電極と該基板支持台の間の該ガ
ス空間で交叉するレーザ光を発射し,交叉する近傍の該
ガス空間で前記金属化合物のガスを分解して金属ガスを
発生させる第1レーザ6及び該金属ガスをイオン化して
金属イオンを発生させる第2レーザ7とを有する金属配
線装置,及び 〔2〕水平の上面を持つ固定台1上に載置され水平方向
に移動可能な基板支持台2上に基板3を搭載し,該基板
支持台の下部に該基板支持台から離れて垂直に配置され
た針状の負電極4と該負電極の上部の該ガス空間に該基
板支持台を隔てて配置された正電極5により該基板の上
部の空間に電界を発生させ,金属化合物のガスを該基板
を含む空間に導入し,該金属化合物のガスに第1レーザ
から発射されるレーザ光を照射し該基板の上部の電界内
で該ガスを分解して金属ガスを遊離し,該金属ガスに第
2レーザから発射されるレーザ光を照射し該金属ガスを
イオン化して金属イオンを発生させ,該金属イオンを前
記電界によって負電極側に引き寄せ前記基板上に付着,
堆積させ,前記基板を搭載した前記基板支持台を連続的
に移動させることにより前記基板支持台の移動に応じて
配線パターンを前記基板上に形成する金属配線方法 によって上記課題は解決される。
[1] A fixed base 1 having a horizontal upper surface and installed in a gas space of a metal compound, a substrate supporting base 2 mounted on the fixed base and movable in a horizontal direction, and a substrate mounted under the substrate supporting base. A needle-like negative electrode 4 vertically disposed away from the support, a positive electrode 5 disposed above the negative electrode in the gas space with the substrate support being separated from the substrate, a positive electrode and the substrate support A first laser 6 that emits a crossing laser beam in the gas space between the tables and decomposes the metal compound gas in the gas space near the crossing to generate a metal gas, and ionizes the metal gas. A metal wiring apparatus having a second laser 7 for generating metal ions, and [2] mounting the substrate 3 on a horizontally movable substrate support table 2 mounted on a fixed table 1 having a horizontal upper surface. A needle vertically disposed below the substrate support, away from the substrate support An electric field is generated in a space above the substrate by a negative electrode 4 in a shape of a circle and a positive electrode 5 disposed in the gas space above the negative electrode with the substrate support being separated from the substrate. The substrate is introduced into a space containing the metal compound, and the gas of the metal compound is irradiated with laser light emitted from a first laser to decompose the gas in an electric field above the substrate to liberate the metal gas. The metal gas is ionized by irradiating a laser beam emitted from a laser to generate metal ions, and the metal ions are attracted to the negative electrode side by the electric field and adhere to the substrate.
The above object is solved by a metal wiring method in which a wiring pattern is formed on the substrate according to the movement of the substrate support by continuously moving the substrate support on which the substrate is mounted.

〔作用〕 本発明でまず金属化合物中のガスを化学気相成長炉の
チャンバ8の中に導入する。次に第1レーザ6によるレ
ーザ光を基板上部の空間に照射し,基板上部の空間にお
ける金属化合物のガスを分解し金属ガスを遊離する。金
属化合物のガスの分解用として,紫外線領域で大出力の
得られるエキシマレーザを使用する。金属化合物のガス
はエキシマレーザ光のパルス時間内でレーザ光を連続的
に吸収して,金属化合物のガスを金属原子にまで分解す
る。例えば,トリメチルアルミニウムの分解過程は次の
如くである。
[Operation] In the present invention, first, the gas in the metal compound is introduced into the chamber 8 of the chemical vapor deposition furnace. Next, a laser beam from the first laser 6 is applied to the space above the substrate to decompose the metal compound gas in the space above the substrate and release the metal gas. An excimer laser that can provide a large output in the ultraviolet region is used for decomposing a metal compound gas. The metal compound gas continuously absorbs the laser light within the pulse time of the excimer laser light, and decomposes the metal compound gas into metal atoms. For example, the decomposition process of trimethylaluminum is as follows.

金属原子にまで分解した段階で第2レーザ7による特
定波長のレーザ光を基板上部の空間に第1レーザ6によ
るレーザ光と交叉するように照射し,遊離した金属ガス
を多光子共鳴イオン化過程によりイオン化する。多光子
共鳴イオン化過程を引き起こすレーザ光の波長は金属原
子により異なり,各金属原子毎にいくつかづつ存在す
る。Alの場合は457nm,Gaの場合は408nmが多光子共鳴イ
オン化過程によるイオン化を効率良くひき起こす。金属
原子はこのような可視光波長の光子を3乃至4個吸収し
てイオン化する。例えば,Al原子は457nmの光子を3個吸
収してAl+イオンとなる。
At the stage of decomposition into metal atoms, a laser beam of a specific wavelength by the second laser 7 is irradiated to the space above the substrate so as to cross the laser beam by the first laser 6, and the liberated metal gas is subjected to a multiphoton resonance ionization process. Ionize. The wavelength of the laser light that causes the multiphoton resonance ionization process differs depending on the metal atom, and there are several laser beams for each metal atom. 457 nm in the case of Al and 408 nm in the case of Ga efficiently cause ionization by the multiphoton resonance ionization process. A metal atom absorbs three or four such photons of the visible light wavelength and ionizes them. For example, Al atoms absorb three photons of 457 nm and become Al + ions.

或る特定の金属原子を多光子共鳴イオン化過程により
イオン化する場合,共鳴していない他の金属原子はイオ
ン化しない。また,他の化学種,例えば,M(CH3),CH3
等のイオン率は極めて小さい。それゆえ,特定の金属原
子だけイオン化することができる。
When a specific metal atom is ionized by a multiphoton resonance ionization process, other non-resonant metal atoms are not ionized. Also, other chemical species such as M (CH 3 ), CH 3
Are extremely small. Therefore, only specific metal atoms can be ionized.

この多光子共鳴イオン化過程を引き起こすのに使用さ
れるレーザとして,波長可変な色素レーザがある。色素
レーザでは色素を変えることにより,レーザ光の波長を
200乃至900nmの範囲で可変できる。
A tunable dye laser is used as a laser to cause this multiphoton resonance ionization process. In dye lasers, the wavelength of the laser light is changed by changing the dye.
It can be varied in the range of 200 to 900 nm.

かくして基板の上部の空間のレーザ光の径程度の微小
領域に,選択的に金属イオンを発生させることができ
る。
In this way, metal ions can be selectively generated in a minute area of about the diameter of the laser beam in the space above the substrate.

その微小領域の金属イオンを電界の作用により基板の
下方に設置されている負電極側へ引き寄せる。負電極は
針状に形成されていて金属イオンの流れを収束するの
で,極めて微細な金属イオンの堆積が基板上に生じる。
しかも,基板に付着するのはある特定の金属イオンだけ
なので,炭素原子の混入のない高純度の金属の堆積を得
ることができる。
The metal ions in the minute region are attracted to the negative electrode provided below the substrate by the action of the electric field. Since the negative electrode is formed in a needle shape and converges the flow of metal ions, extremely fine metal ions are deposited on the substrate.
In addition, since only a specific metal ion adheres to the substrate, it is possible to obtain a high-purity metal deposition without the incorporation of carbon atoms.

第1レーザ6及び第2レーザ7を連続的に作動し,さ
らに基板を搭載した基板支持台を所望のパターンにした
がって水平方向に移動すれば基板上に微細な金属配線パ
ターンを形成することができる。
By operating the first laser 6 and the second laser 7 continuously and further moving the substrate support on which the substrate is mounted in a horizontal direction according to a desired pattern, a fine metal wiring pattern can be formed on the substrate. .

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の実施例について説明する。第1図及び第
2図を参照してAl金属配線装置及び金属配線方法につい
て説明する。Al配線の材料としてトリメチルアルミニウ
ム(TMA:Al2(CH3)を使用する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. An Al metal wiring device and a metal wiring method will be described with reference to FIGS. Trimethyl aluminum (TMA: Al 2 (CH 3 ) 6 ) is used as a material for the Al wiring.

トリメチルアルミニウムは室温で液体であるがいくら
かの蒸気圧をもっている。この蒸気を化学気相成長炉の
チャンバ8の中に導入する。該チャンバ内の圧力は0.1T
orrとする。
Trimethylaluminum is liquid at room temperature but has some vapor pressure. This vapor is introduced into the chamber 8 of the chemical vapor deposition furnace. The pressure in the chamber is 0.1T
orr.

該チャンバの中に水平の上面を持つ固定台1を設置す
る。
A fixed table 1 having a horizontal upper surface is set in the chamber.

該固定台上に基板支持台2を載置する。該基板支持台
はX方向駆動機構及びY方向駆動機構により第1図中矢
印で示すように水平方向に移動することができる。
The substrate support 2 is placed on the fixed base. The substrate support can be moved in the horizontal direction by an X-direction drive mechanism and a Y-direction drive mechanism as indicated by arrows in FIG.

該基板支持台の上に基板3を設置する。該基板は加熱
しない。
The substrate 3 is set on the substrate support. The substrate is not heated.

該支持台の下に該支持台から離して垂直に立てらてた
針状の負電極4を配置する。
A needle-like negative electrode 4 that is vertically set apart from the support stand is arranged below the support stand.

該負電極の上部の空間に該基板支持台を隔てて円板状
の正電極5を円板の中心が針状の負電極の真上になるよ
うに配置する。
The disk-shaped positive electrode 5 is arranged in the space above the negative electrode with the substrate support being separated, so that the center of the disk is directly above the needle-shaped negative electrode.

該負電極及び該正電極はチャンバ8に固定される。 The negative electrode and the positive electrode are fixed to the chamber 8.

第1レーザ6と第2レーザ7をチャンバ8の外部に配
置し,レーザ光を水平方向に発射し,該チャンバの外壁
に設けられた窓を通して該チャンバ内に導き,該正電極
の中心と該負電極の先端を結ぶ該基板支持台の上部の空
間で該レーザ光を交叉させる。第1レーザ6として波長
258nmのKrFエキシマレーザを使用する。第2レーザ7と
して色素レーザを用い,レーザ光の波長としてを457nm
を選ぶ。第2図にレーザ光拡大図を示す。第1レーザ6
からのレーザ光の断面は縦50mm,横15mm程度の矩形であ
るが,チャンバ8の外部に配置した第1レンズ系9によ
り該レーザ光を絞り,該正電極の中心と該負電極の先端
を結ぶ該基板支持台の上部の空間で集まるようにする。
これにより基板支持台の上部の空間の1乃至100μmの
長さにわたる範囲のトリメチルアルミニウムをAl原子に
まで分解してAl金属ガスとする。第2レーザ7から発射
されるレーザ光の断面は直径3mm程度の円形であるが,
チャンバ8の外部に配置した第2レンズ系10により該レ
ーザ光を絞り,該正電極の中心と該負電極の先端を結ぶ
該基板支持台の上部の空間で集め,第1レーザのレーザ
光照射によって生じたAl金属ガスに照射し,1乃至10μm
の長さにわたってAl金属ガスをイオン化してAl+イオン
を生成する。
A first laser 6 and a second laser 7 are arranged outside the chamber 8, emit laser light in a horizontal direction, are guided into the chamber through a window provided on an outer wall of the chamber, and are connected to the center of the positive electrode and the center of the positive electrode. The laser light is crossed in a space above the substrate support that connects the tips of the negative electrodes. Wavelength as the first laser 6
A 258 nm KrF excimer laser is used. A dye laser is used as the second laser 7, and the wavelength of the laser light is 457 nm.
Choose FIG. 2 shows an enlarged view of the laser beam. First laser 6
The cross section of the laser light from the laser beam is a rectangle having a length of about 50 mm and a width of about 15 mm. The laser light is stopped down by the first lens system 9 disposed outside the chamber 8, and the center of the positive electrode and the tip of the negative electrode are connected. They are gathered in the space above the substrate support to be tied.
As a result, trimethylaluminum in the range of 1 to 100 μm in the space above the substrate support is decomposed into Al atoms to form Al metal gas. The cross section of the laser beam emitted from the second laser 7 is circular with a diameter of about 3 mm,
The laser light is squeezed by a second lens system 10 disposed outside the chamber 8 and collected in a space above the substrate supporting base connecting the center of the positive electrode and the tip of the negative electrode, and is irradiated with the laser light of the first laser. Irradiate Al metal gas generated by 1 to 10μm
Al metal ions are ionized over the length of the to produce Al + ions.

第1レーザからのレーザ光と第2レーザからのレーザ
光の交叉角は必ずしも直角である必要はない。
The cross angle between the laser light from the first laser and the laser light from the second laser does not necessarily have to be a right angle.

負電極4の先端とと正電極5の中心の間隔を5mmとし,
300Vの電圧をかける。かくしてAl+イオンは電界の作用
により針状の負電極に引き寄せられて基板に衝突し,そ
こに1乃至10μm径のAlの堆積を形成する。
The distance between the tip of the negative electrode 4 and the center of the positive electrode 5 is 5 mm,
Apply a voltage of 300V. Thus, the Al + ions are attracted to the needle-like negative electrode by the action of the electric field and collide with the substrate, forming an Al deposit having a diameter of 1 to 10 μm there.

第1レーザ6及び第2レーザ7から発射頻度は1秒に
10回程度であり,該第1レーザから発射されたレーザ光
がトリメチルアルミニウムを分解し,Al金属ガスが発生
するころを見計らって該第2レーザからのレーザ光を発
射して該Al金属ガスをイオン化する。基板3を載せた基
板支持台2を水平方向に0.01mm/s乃至0.1mm/sの速度で
連続的に動かして,基板上に1μm乃至10μm幅のAl配
線パターンを形成することができる。
The firing frequency from the first laser 6 and the second laser 7 is 1 second
About 10 times, the laser beam emitted from the first laser decomposes the trimethylaluminum, and the Al metal gas is emitted by emitting the laser beam from the second laser at the time when the Al metal gas is generated. Ionize. By moving the substrate support 2 on which the substrate 3 is mounted in the horizontal direction continuously at a speed of 0.01 mm / s to 0.1 mm / s, an Al wiring pattern having a width of 1 μm to 10 μm can be formed on the substrate.

負電極4の形状は電界を収束する上から針状がよい。
正電極5の形状は望みの電界分布を形成するよう種々の
形状に形成することができる。第3図にその例を示す。
The shape of the negative electrode 4 is preferably needle-like because it converges the electric field.
The shape of the positive electrode 5 can be formed in various shapes so as to form a desired electric field distribution. FIG. 3 shows an example.

第3図(a)は円板状の正電極であり,第3図(b)
は中空円筒状の正電極を負電極の周囲と上部に配置する
例である。
FIG. 3 (a) shows a disk-shaped positive electrode, and FIG. 3 (b)
Is an example in which a hollow cylindrical positive electrode is arranged around and above a negative electrode.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように,本発明によれば,基板上に炭素
の混入しない純度の高い微細な金属配線を形成すること
ができる。このことにより,半導体装置の高密度化,高
周波化に寄与するすることが出来る。
As described above, according to the present invention, it is possible to form a high-purity fine metal wiring that does not contain carbon on a substrate. This can contribute to higher density and higher frequency of the semiconductor device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は金属配線装置, 第2図はレーザ光拡大図, 第3図は電極の形状 である。図において, 1は固定台, 2は基板支持台, 3は基板, 4は負電極, 5は正電極, 6は第1レーザ光, 7は第2レーザ光, 8はチャンバ, 9は第1レンズ系, 10は第2レンズ系 を表す。 FIG. 1 is a metal wiring device, FIG. 2 is an enlarged view of a laser beam, and FIG. 3 is a shape of an electrode. In the figure, 1 is a fixed table, 2 is a substrate support table, 3 is a substrate, 4 is a negative electrode, 5 is a positive electrode, 6 is a first laser beam, 7 is a second laser beam, 8 is a chamber, and 9 is a first laser beam. The lens system, 10 represents the second lens system.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】金属化合物のガス空間に設置された水平の
上面を持つ固定台(1)と, 該固定台上に載り且つ水平方向に移動可能な基板支持台
(2)と, 該基板支持台の下部に該基板支持台から離れて垂直に配
置された針状の負電極(4)と, 該負電極の上部の該ガス空間に該基板支持台を隔てて配
置された正電極(5)と, 該正電極と該基板支持台の間の該ガス空間で交叉するレ
ーザ光を発射し,交叉する近傍の該ガス空間で前記金属
化合物のガスを分解して金属ガスを発生させる第1レー
ザ(6)及び該金属ガスをイオン化して金属イオンを発
生させる第2レーザ(7)とを有することを特徴とする
金属配線装置。
1. A fixed base (1) having a horizontal upper surface provided in a gas space of a metal compound; a substrate support (2) mounted on the fixed base and movable in a horizontal direction; A needle-like negative electrode (4) vertically arranged at a lower portion of the table away from the substrate support, and a positive electrode (5) arranged in the gas space above the negative electrode with the substrate support separated from the negative electrode. A) emitting laser light that intersects in the gas space between the positive electrode and the substrate support, and decomposes the gas of the metal compound in the gas space near the intersection to generate a metal gas. A metal wiring device comprising: a laser (6); and a second laser (7) for ionizing the metal gas to generate metal ions.
【請求項2】水平の上面を持つ固定台(1)上に載置さ
れ水平方向に移動可能な基板支持台(2)上に基板
(3)を搭載し, 該基板支持台の下部に該基板支持台から離れて垂直に配
置された針状の負電極(4)と該負電極の上部の該ガス
空間に該基板支持台を隔てて配置された正電極(5)に
より該基板の上部の空間に電界を発生させ, 金属化合物のガスを該基板を含む空間に導入し, 該金属化合物のガスに第1レーザ(6)から発射される
レーザ光を照射し該基板の上部の電界内で該ガスを分解
して金属ガスを遊離し, 該金属ガスに第2レーザ(7)から発射されるレーザ光
を照射し該金属ガスをイオン化して金属イオンを発生さ
せ, 該金属イオンを前記電界により負電極側にて引き寄せ,
前記基板上に付着,堆積させ, 前記基板を搭載した前記基板支持台を連続的に移動させ
ることにより前記基板支持台の移動に応じて配線パター
ンを前記基板上に形成することを特徴とする金属配線方
法。
2. A substrate (3) is mounted on a substrate support (2) mounted on a fixed base (1) having a horizontal upper surface and movable in a horizontal direction. A needle-shaped negative electrode (4) vertically arranged away from the substrate support and a positive electrode (5) arranged in the gas space above the negative electrode with the substrate support separated from the substrate support. An electric field is generated in the space, and a gas of the metal compound is introduced into the space including the substrate. The gas of the metal compound is irradiated with a laser beam emitted from a first laser (6) to generate an electric field in the electric field above the substrate. The metal gas is decomposed to release a metal gas, and the metal gas is irradiated with a laser beam emitted from a second laser (7) to ionize the metal gas to generate metal ions. Attracted on the negative electrode side by the electric field,
A metal that is attached to and deposited on the substrate, and a wiring pattern is formed on the substrate according to the movement of the substrate support by continuously moving the substrate support on which the substrate is mounted. Wiring method.
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1986年秋季第47回応用物理学会学術講演会講演予稿集29P−F−2

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