JP2597763B2 - Work appearance inspection device - Google Patents

Work appearance inspection device

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JP2597763B2
JP2597763B2 JP3066974A JP6697491A JP2597763B2 JP 2597763 B2 JP2597763 B2 JP 2597763B2 JP 3066974 A JP3066974 A JP 3066974A JP 6697491 A JP6697491 A JP 6697491A JP 2597763 B2 JP2597763 B2 JP 2597763B2
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stage
work
magnetic disk
turntable
visual inspection
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洋一 佐藤
忠利 黒住
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昭和アルミニウム株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えばアルミニウム
(その合金を含む)磁気ディスク基板等の円板状基板か
らなるワークの表面欠陥の有無等を検査するワークの外
観検査装置に関する。
The present invention relates to a disk- shaped substrate such as an aluminum (including its alloy) magnetic disk substrate.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a work appearance inspection device for inspecting the presence or absence of surface defects of a work.

【0002】[0002]

【従来の技術】アルミニウム磁気ディスク基板等のワー
クには、その品質上鏡面ないしそれに近い状態の高度な
表面精度が要求され、局部的にもキズ、ピンホール、ふ
くれ等の表面欠陥のないことが要求される。このため、
精密切削、研磨、洗浄乾燥等の各工程を経て一般に製作
されるアルミニウム磁気ディスク基板の製造工程におい
ては、所定の工程の終了後あるいは全工程の終了後に表
面欠陥の有無等を検査する外観検査が行われている。
2. Description of the Related Art A work such as an aluminum magnetic disk substrate or the like is required to have a high level of surface accuracy such as a mirror surface or a state close to the mirror surface in terms of quality. Required. For this reason,
In the manufacturing process of aluminum magnetic disk substrates, which are generally manufactured through various processes such as precision cutting, polishing, washing and drying, visual inspection is conducted to check for surface defects after completion of a predetermined process or after completion of all processes. Is being done.

【0003】従来、かかる外観検査工程は次のような手
順で行われていた。即ち、前工程からケースに入れられ
送られてきたワークを外観検査機の保持部にチャッキン
グしたのち、ワークを回転させて片面の外観検査を行
い、次いでワークを反転して他面の外観検査を行い、検
査が終了すると該ワークを取外すとともに次のワークを
該保持部に装着して検査を行い、以後1枚ずつこの動作
を繰返すことにより行われていた。
Conventionally, such a visual inspection process has been performed in the following procedure. That is, after the workpiece put into the case from the previous process and sent is chucked in the holding unit of the visual inspection machine, the workpiece is rotated to perform a visual inspection of one side, and then the workpiece is turned over and the visual inspection of the other side is performed. When the inspection is completed, the work is removed, and the next work is mounted on the holding portion to perform the inspection. Thereafter, this operation is repeated one by one.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な方法では、ワークの着脱作業に時間を要するととも
に、1のワークの検査工程が終了するまで次のワークの
外観検査を行うことができないことから、単位時間あた
りのワークの検査処理数が少なく検査効率が悪いという
欠点があった。
However, in the above-described method, it takes a long time to attach and detach the work, and it is not possible to perform the appearance inspection of the next work until the inspection process of one work is completed. Therefore, there is a drawback that the number of workpiece inspection processes per unit time is small and the inspection efficiency is low.

【0005】この発明はかかる欠点を解消し、円板状基
板からなるワークの外観検査の効率向上を図ることを目
的とする。
The present invention solves such a drawback and provides a disk-shaped substrate.
An object of the present invention is to improve the efficiency of appearance inspection of a work made of a plate .

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明は、図面の符号を参照して示すと、円板状基
板からなる複数のワーク(A)を平面内において着脱自
在に保持するワーク保持部(2)を回転軸の周囲に有す
るターンテーブル(1)が、回転、停止自在に配置され
るとともに、該ターンテーブル(1)の回転まわりに少
なくともワークの受取ステージ(I)、ワーク片面の第
外観検査ステージ(II)、反転ステージ(III )、ワ
ークの他方の片面の第2外観検査ステージ(IV)、取出
ステージ(V)の各ステージが設定され、前記ワーク受
取ステージ(I)で前記ワーク保持部(2)に保持され
たワーク(A)が、ターンテーブル(1)の間欠的な回
転送りにより各ステージを巡って前記ワーク取出ステー
ジ(V)へと移送される過程において、前記第1外観検
査ステージ(II)で片面を外観検査され、前記反転ステ
ージ(III )で反転され、前記第2外観検査ステージ
(IV)で他方の片面を外観検査されるものとなされてい
ることを特徴とするワークの外観検査装置を提供するも
のである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention is directed to a disk-shaped
Workpiece holding portion for detachably holding a plurality of workpieces consisting of a plate (A) is in the plane (2) turntable (1) with the periphery of the rotating shaft, rotation, while being stopped freely arranged, the turn At least workpiece receiving stage rotation around the table (1) (I), of the workpiece one side the
1 Visual inspection stage (II), reversal stage (III),
Each stage of a second visual inspection stage (IV) and an unloading stage (V) on the other side of the workpiece is set, and the workpiece (A) held by the workpiece holding unit (2) at the workpiece receiving stage (I). ) Is transferred to the work take-out stage (V) around each stage by intermittent rotation feed of the turntable (1), and one surface is inspected by the first visual inspection stage (II). ,
(III), the second appearance inspection stage
Another object of the present invention is to provide a work appearance inspection apparatus characterized in that the other side is inspected in (IV) .

【0007】[0007]

【作用】図2において、前工程から搬送装置(3)によ
ってワーク受取ステージ(I)に搬送されてきたワーク
(A)は、ターンテーブル(1)上の保持部(2)に渡
され、チャック部(2a)に装着される。次に、ターンテ
ーブル(1)が時計方向に1/5回転して停止する。
これにより受取ステージ(I)のワーク(A)は第1
観検査ステージ(II)に移送される。第1外観検査ステ
ージ(II)では、移行されてきたワーク(A)に片面の
表面検査が実施される。この間、受取ステージ(I)で
は、搬送装置(3)により次のワークが前工程から搬送
され、受取ステージ(I)に待機している次段の保持部
(2)に装着される。外観検査終了後、さらにターンテ
ーブル(1)が1/5回転し、受取ステージ(I)の次
のワーク(A)が第1外観検査ステージ(II)へと移送
され、外観検査が行われる。こうして、ターンテーブル
(1)の間欠的な回転送りによりワークが次々と第1
観検査ステージ(II)へ移送され外観検査に供される。
外観検査されたワーク(A)は、反転ステージ(III
)、第2外観検査ステージ(IV)を巡ってワーク取出
ステージ(V)へと送られ、待機している搬送装置
(7)によって取出され次工程に送られる。
In FIG. 2, the work (A) conveyed to the work receiving stage (I) by the conveyance device (3) from the previous process is transferred to the holding section (2) on the turntable (1) and is chucked. Attached to the part (2a). Next, the turntable (1) is stopped by 1/5 rotation in the counterclockwise direction.
Thereby, the work (A) in the receiving stage (I) is transferred to the first visual inspection stage (II). In the first visual inspection stage (II), a single-sided surface inspection is performed on the transferred work (A). During this time, in the receiving stage (I), the next work is transferred from the previous process by the transfer device (3), and is mounted on the holding unit (2) of the next stage waiting on the receiving stage (I). After the appearance inspection is completed, the turntable (1) further rotates by 5, the work (A) next to the receiving stage (I) is transferred to the first appearance inspection stage (II), and the appearance inspection is performed. In this way, the workpieces are successively transferred to the first visual inspection stage (II) by the intermittent rotation feed of the turntable (1) and subjected to visual inspection.
The work (A) whose appearance has been inspected is placed on the reversal stage (III
), Is sent to the work take-out stage (V) around the second visual inspection stage (IV), is taken out by the transfer device (7) in a standby state, and sent to the next process.

【0008】[0008]

【実施例】以下、この発明を、図4に示すようなワーク
としてのアルミニウム磁気ディスク基板(A)の外観検
査を行う装置に適用した実施例に基いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below based on an embodiment applied to an apparatus for inspecting the appearance of an aluminum magnetic disk substrate (A) as a work as shown in FIG.

【0009】図1は縦型の外観検査装置を示している。
この外観検査装置において、(1)は回転軸を前後水平
方向に向けて配置された円板状の縦型ターンテーブルで
ある。このターンテーブル(1)の前面には周方向の5
等分位置に5個のワーク保持部(2)が設けられてい
る。各ワーク保持部(2)は拡径、縮径自在な前方突出
状のチャック部(2a)を有し、該チャック部(2a)が基
板(A)の軸孔に通された状態で拡径することにより、
基板(A)を内周からチャックする一方、チャック部の
縮径により基板(A)のャックを解除可能となされてい
る。そして各チャック部(2a)は自軸まわりで回転を行
いうるようになされており、この回転駆動によりチャッ
クした基板(A)を必要に応じて回転させるものとなさ
れている。
FIG. 1 shows a vertical appearance inspection apparatus.
In this appearance inspection apparatus, (1) is a disk-shaped vertical turntable arranged with the rotation axis directed in the front-rear horizontal direction. The front of the turntable (1) has a circumferential 5
Five work holding parts (2) are provided at equally divided positions. Each work holding part (2) has a chuck part (2a) having a forwardly protruding shape that can be enlarged and reduced in diameter, and the diameter is increased while the chuck part (2a) is passed through a shaft hole of the substrate (A). By doing
While the substrate (A) is chucked from the inner periphery, the chuck of the substrate (A) can be released by reducing the diameter of the chuck portion. Each of the chuck portions (2a) can rotate around its own axis, and the substrate (A) chucked by this rotation is rotated as necessary.

【0010】前記ターンテーブル(1)の回転まわりの
5等分位置には、左上から時計方向へ順にワーク受取
ステージ(I)、第1外観検査ステージ(II)、反転ス
テージ(III )、第2外観検査ステージ(IV)、ワーク
取出ステージ(V)の5つのステージが設定されてい
る。そして、前記ターンテーブル(1)は、図示しない
駆動装置によって鉛直面内で回転停止自在に制御可能と
なされるとともに、時計方向に1/5回転ごとに回転
送りと停止を繰返し、ワーク保持部(2)に装着した基
板(A)を各ステージを巡って移送するものとなされて
いる。
[0010] 5 equal parts position about the rotation of the turntable (1) with a work receiving stage in order from the upper left to the counterclockwise direction (I), the first appearance inspection stage (II), inverting stage (III), the Five stages are set: 2 visual inspection stage (IV) and work take-out stage (V). Then, the turntable (1), together with made rotatable stop freely controlled in a vertical plane by an unillustrated driving device, repeatedly stopping and rotary feed every 1/5 rotation in the counterclockwise direction, the workpiece holding portion The substrate (A) mounted in (2) is transported around each stage.

【0011】上記各ステージについて説明すると次のと
おりである。即ち、前記ワーク受取ステージ(I)は、
搬送装置(3)によって前工程から搬送されてきた磁気
ディスク基板(A)を保持部(2)に装着するステージ
である。なお、搬送装置(3)から保持部(2)へのデ
ィスク基板(A)の装着は搬送装置に設けられた外周チ
ャック方式のチャッカーを介して行われるものとなされ
ている。
The above stages will be described as follows. That is, the work receiving stage (I)
This stage mounts the magnetic disk substrate (A) transported from the previous step by the transport device (3) to the holding section (2). The mounting of the disk substrate (A) from the transfer device (3) to the holding section (2) is performed via an outer peripheral chuck type chucker provided in the transfer device.

【0012】前記第1外観検査ステージ(II)は、磁気
ディスク基板(A)の片面について表面のキズやピンホ
ール等の表面欠陥の有無の検査を行うものであり、この
ための外観検査装置(4)が設置されている。かかる外
観検査装置(4)の構成は特に限定されることはない
が、この実施例では図3に示すように、磁気ディスク基
板表面に向けて光を間欠的に照射する光源(41)と、該
照射光に同期して磁気ディスク基板からの反射光を受領
するCCDカメラ等の撮像装置(42)と、該撮像装置に
よって撮影された画像の濃淡から表面欠陥の有無を電気
的に検出する表面欠陥検出装置(43)を備えたものが用
いられている。そして、チャック部(2a)の回転駆動に
よる磁気ディスク基板の回転と要すれば光源及び撮像装
置の半径方向への移動とによって、磁気ディスク基板
(A)の片面全面の外観検査を行うものとなされてい
る。
The first visual inspection stage (II) is to inspect one surface of the magnetic disk substrate (A) for surface defects such as surface flaws and pinholes. 4) is installed. The configuration of the appearance inspection device (4) is not particularly limited, but in this embodiment, as shown in FIG. 3, a light source (41) for intermittently irradiating light to the surface of the magnetic disk substrate; An imaging device (42) such as a CCD camera that receives reflected light from the magnetic disk substrate in synchronization with the irradiation light; and a surface that electrically detects the presence or absence of a surface defect from the density of an image captured by the imaging device. The one provided with the defect detection device (43) is used. Then, by rotating the magnetic disk substrate by rotationally driving the chuck portion (2a) and, if necessary, moving the light source and the imaging device in the radial direction, an external appearance inspection of one entire surface of the magnetic disk substrate (A) is performed. ing.

【0013】前記反転ステージ(III )は磁気ディスク
基板(A)を表裏反転させてワーク保持部(2)に再装
着するものであり、このための反転装置(5)が設置さ
れている。この反転装置(5)は、基板(A)の外周を
チャックするアーム部を有し、このアーム部で反転ステ
ージ(III )に移送されてきた基板(A)の外周部をチ
ャックして側方に移動することにより基板(A)をチャ
ック部(2a)から一旦外したのち、アーム部を180度
回転させることにより基板(A)を裏返して再度ワーク
保持部(2)のチャック部(2a)に装着する動作を行う
ものである。
The reversing stage (III) is for reversing the magnetic disk substrate (A) upside down and reattaching it to the work holding part (2), and is provided with a reversing device (5) for this purpose. The reversing device (5) has an arm portion for chucking the outer periphery of the substrate (A), and the arm portion chucks the outer peripheral portion of the substrate (A) transferred to the reversing stage (III) and laterally chucks the outer portion. , The substrate (A) is once removed from the chuck portion (2a), and then the arm portion is rotated by 180 degrees to turn the substrate (A) upside down and again the chuck portion (2a) of the work holding portion (2). The operation of attaching to is performed.

【0014】前記第2外観検査ステージ(IV)は、反転
ステージ(III )で反転された磁気ディスク基板(A)
の他面側について外観検査を行うものであり、第1外観
検査ステージ(II)と同様の外観検査装置(6)が設置
されている。
The second visual inspection stage (IV) comprises a magnetic disk substrate (A) inverted by an inversion stage (III).
A visual inspection device (6) is installed on the other surface side, similar to the first visual inspection stage (II).

【0015】前記ワーク取出ステージ(V)は、外観検
査を終えて該ステージへ移送されてきた磁気ディスク基
板(A)をワーク保持部(2)から取出すとともに、取
出した磁気ディスク基板を搬送装置(7)によって次工
程へ搬送するものである。かかる磁気ディスク基板
(A)の取外しも搬送装置(7)に設けた図示しないチ
ャッカーを介して行われるものとなされている。
The work take-out stage (V) takes out the magnetic disk substrate (A), which has been transferred to the stage after the appearance inspection, from the work holding section (2), and transfers the taken-out magnetic disk substrate to a transfer device (V). 7) is carried to the next step. The removal of the magnetic disk substrate (A) is also performed via a chuck (not shown) provided in the transfer device (7).

【0016】次に、図1に示す外観検査装置の動作をそ
の制御方式と併せて図2に基いて説明する。
Next, the operation of the appearance inspection apparatus shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. 2 together with its control method.

【0017】前工程例えば洗浄乾燥工程から搬送装置
(3)によってワーク受取ステージ(I)に移送されて
きた磁気ディスク基板(A)は、搬送装置(3)のチャ
ッカーからターンテーブル(1)上のワーク保持部
(2)に渡され、チャック部(2a)に装着される。
The magnetic disk substrate (A) transferred to the work receiving stage (I) by the transfer device (3) from the preceding process, for example, the washing and drying process, is transferred from the chucker of the transfer device (3) onto the turntable (1). The workpiece is transferred to the work holding section (2) and mounted on the chuck section (2a).

【0018】次に、搬送装置(3)は次の磁気ディスク
基板を搬送すべく前工程側に移動する一方、ターンテー
ブル(1)が時計方向に1/5回転して停止する。こ
のターンテーブル(1)の回転送りにより、前段のステ
ージに位置していた各ワーク保持部(2)は次段のステ
ージへと移行する。即ち、受取ステージ(I)で磁気デ
ィスク基板(A)を装着された保持部(2)は第1外観
検査ステージ(II)に移行し、取出ステージ(V)に位
置していた保持部(2)は受取ステージ(I)へと移行
し、そこで停止する。
Next, the conveying device (3) whereas moves before step side in order to convey the next magnetic disk substrate, the turntable (1) is stopped by 1/5 rotation in the counterclockwise direction. By the rotation feed of the turntable (1), each work holding part (2) located on the previous stage moves to the next stage. That is, the holding unit (2) on which the magnetic disk substrate (A) is mounted on the receiving stage (I) shifts to the first appearance inspection stage (II), and the holding unit (2) located on the unloading stage (V). ) Goes to the receiving stage (I) and stops there.

【0019】第1外観検査ステージ(II)では、移送さ
れてきた磁気ディスク基板(A)に片面側の表面検査が
実施され、キズ、ピンホール等の表面欠陥の有無や個数
が判定される。この間、受取ステージ(I)では、搬送
装置(3)により次の磁気ディスク基板が前工程から搬
送され、受取ステージ(I)に待機している次段の保持
部(2)に装着される。
In the first visual inspection stage (II), the transferred magnetic disk substrate (A) is subjected to a surface inspection on one side, and the presence or absence and the number of surface defects such as scratches and pinholes are determined. During this time, in the receiving stage (I), the next magnetic disk substrate is transferred from the previous process by the transfer device (3), and is mounted on the next-stage holding unit (2) waiting on the receiving stage (I).

【0020】上記の外観検査終了後、さらにターンテー
ブル(1)が1/5回転する。これにより第1外観検査
ステージ(II)の磁気ディスク基板(A)は反転ステー
ジ(III )へ、受取ステージ(I)の磁気ディスク基板
(A)は第1外観検査ステージ(II)へと移送され、取
出ステージ(V)に位置していたワーク保持部(2)は
受取ステージ(I)へと移行する。反転ステージ(III
)へ移送された磁気ディスク基板は、反転装置(5)
でチャック部(2a)から一旦外されて表裏が反転された
のち、ワーク保持部(2)へ再装着される。この間に、
第1外観検査ステージ(II)では2番目の磁気ディスク
基板の外観検査が行われ、受取ステージ(I)では3番
目の磁気ディスク基板の装着が行われる。
After the above-mentioned appearance inspection is completed, the turntable (1) further rotates by 1 /. Thereby, the magnetic disk substrate (A) of the first visual inspection stage (II) is transferred to the reversing stage (III), and the magnetic disk substrate (A) of the receiving stage (I) is transferred to the first visual inspection stage (II). The work holder (2) located at the take-out stage (V) shifts to the receiving stage (I). Inversion stage (III
) Is transferred to the reversing device (5).
After being removed from the chuck portion (2a) once and turned upside down, it is mounted again on the work holding portion (2). During this time,
In the first appearance inspection stage (II), the appearance inspection of the second magnetic disk substrate is performed, and in the receiving stage (I), the third magnetic disk substrate is mounted.

【0021】反転ステージ(III )での反転工程終了後
ターンテーブル(1)がさらに1/5回転し、各磁気デ
ィスク基板(A)はそれぞれ次段のステージへと移送さ
れるとともに、取出ステージ(V)に位置していたワー
ク保持部(2)は受取ステージ(I)へ移行する。反転
ステージ(III )から第2外観検査ステージ(IV)へと
移送された磁気ディスク基板(A)には、次いで外観検
査装置(4)により他面側の外観検査が行われ、表面欠
陥の有無や個数が判定される。この間に、反転ステージ
(III )、第1外観検査ステージ(II)、受取ステージ
(I)では、それぞれ磁気ディスク基板の反転動作、片
面外観検査、受取動作が行われる。
After the reversing step at the reversing stage (III), the turntable (1) is further rotated by 1 /, and each magnetic disk substrate (A) is transferred to the next stage, and the take-out stage ( The work holder (2) located at V) moves to the receiving stage (I). The magnetic disk substrate (A) transferred from the reversing stage (III) to the second visual inspection stage (IV) is then subjected to visual inspection on the other side by a visual inspection device (4) to check for surface defects. And the number are determined. In the meantime, in the reversing stage (III), the first visual inspection stage (II), and the receiving stage (I), the reversing operation, the one-side visual inspection, and the receiving operation of the magnetic disk substrate are performed, respectively.

【0022】第2外観検査ステージ(IV)での外観検査
終了後、ターンテーブル(1)がさらに1/5回転し、
各磁気ディスク基板は次段のステージへと移送される。
取出ステージ(V)へ移送された磁気ディスク基板は、
搬送装置(7)のチャッカーによってワーク保持部
(2)から取出される。この間に、第2外観検査ステー
ジ(IV)、反転ステージ(III )、第1外観検査ステー
ジ(II)、受取ステージ(I)では、それぞれ磁気ディ
スク基板の他面外観検査、反転動作、片面外観検査、受
取動作が行われる。
After the completion of the appearance inspection in the second appearance inspection stage (IV), the turntable (1) further rotates 1 /,
Each magnetic disk substrate is transferred to the next stage.
The magnetic disk substrate transferred to the take-out stage (V)
It is taken out from the work holding part (2) by the chucker of the transfer device (7). During this time, in the second visual inspection stage (IV), the reversing stage (III), the first visual inspection stage (II), and the receiving stage (I), the other surface visual inspection, the reversing operation, and the one-side visual inspection of the magnetic disk substrate are respectively performed. , A receiving operation is performed.

【0023】取出ステージ(V)での磁気ディスク基板
(A)の取出し終了後、ターンテーブル(1)がさらに
1/5回転し、各磁気ディスク基板は次段のステージへ
と移送されるとともに、取出ステージ(V)の空き状態
となったワーク保持部(2)は受取ステージ(I)へと
移行し、以下同様の動作が繰返される。
After the removal of the magnetic disk substrate (A) from the take-out stage (V), the turntable (1) further rotates 1 /, and each magnetic disk substrate is transferred to the next stage. The work holding unit (2) in the empty state of the unloading stage (V) shifts to the receiving stage (I), and the same operation is repeated thereafter.

【0024】このように、ターンテーブル(1)の1/
5回転ずつの送りと停止により、各ステージを順次的に
巡らせながら磁気ディスク基板を移送していくから、多
数の磁気ディスク基板を次々と連続的かつ自動的に外観
検査に供することができる。なお、取出ステージ(V)
で取出された磁気ディスク基板(A)は、搬送装置
(3)によって例えば良否選別工程等に送られ、第1、
第2外観検査ステージ(II)(IV)での外観検査結果に
基いて、良品、不良品、再加工品の別に仕分けされる。
Thus, 1/1 of the turntable (1)
Since the magnetic disk substrates are transferred while sequentially moving around each stage by feeding and stopping by five rotations, a large number of magnetic disk substrates can be successively and automatically subjected to the appearance inspection one after another. In addition, extraction stage (V)
The magnetic disk substrate (A) taken out in (1) is sent to, for example, a pass / fail selection step by the transfer device (3),
Based on the results of the appearance inspection at the second appearance inspection stages (II) and (IV), the products are sorted into non-defective products, defective products, and reworked products.

【0025】なお、図示実施例に係る外観検査装置は、
ターンテーブル(1)が垂直に配置されかつ鉛直面内に
おいて回転する縦型のものとしてこれを示したが、ター
ンテーブル(1)が水平に配置されかつ水平面内におい
て回転する横型のものとして構成しても良いし、またタ
ーンテーブルを任意角度に傾斜させて配置しても良い。
而して、縦型の装置として構成した場合には、ターンテ
ーブル(1)上で磁気ディスク基板(A)の表面にほこ
りやごみが付着しにくく、また付着した場合も容易に落
下し易いため、確度の高い検査結果を得ることができる
利点がある。しかも、装置の設置に必要な床面積を少な
くすることができ、設置空間の有効利用を図りうるとい
う利点もある。一方、横型の装置として構成した場合に
は、ワーク保持部(2)に装着保持した際に磁気ディス
ク基板(A)の自重安定作用により該基板の水平面を得
やすいことから、基板(A)を回転させたときのぶれの
発生を防止でき、ひいては外観検査装置(4)(6)に
おける光源(41)や撮像装置(42)と基板(A)との距
離を常時一定に保持しえて精度の高い外観検査結果が得
られるという利点がある。
The appearance inspection apparatus according to the illustrated embodiment is
Although this is shown as a vertical type in which the turntable (1) is arranged vertically and rotates in a vertical plane, it is configured as a horizontal type in which the turntable (1) is arranged horizontally and rotates in a horizontal plane. Alternatively, the turntable may be arranged to be inclined at an arbitrary angle.
Thus, when the apparatus is configured as a vertical type, dust and dirt hardly adhere to the surface of the magnetic disk substrate (A) on the turntable (1), and if it does, it is easy to drop. There is an advantage that a highly accurate inspection result can be obtained. In addition, there is an advantage that the floor area required for installing the apparatus can be reduced, and the installation space can be effectively used. On the other hand, when the apparatus is configured as a horizontal type, the horizontal plane of the magnetic disk substrate (A) can be easily obtained by the stabilizing action of the weight of the magnetic disk substrate (A) when the substrate (A) is mounted and held on the work holding unit (2). The occurrence of blurring when rotated can be prevented, and the distance between the light source (41) or the imaging device (42) and the substrate (A) in the visual inspection device (4) (6) can be kept constant at all times. There is an advantage that a high appearance inspection result can be obtained.

【0026】[0026]

【発明の効果】この発明は上述の次第で、円板状基板か
らなる複数のワークを平面内において着脱自在に保持す
るワーク保持部(2)を回転軸の周囲に有するターンテ
ーブルが、回転、停止自在に配置されるとともに、該タ
ーンテーブルの回転まわりに少なくともワークの受取ス
テージ、ワーク片面の第1外観検査ステージ、反転ステ
ージ、ワークの他方の片面の第2外観検査ステージ、
出ステージの各ステージが設定され、前記ワーク受取ス
テージで前記ワーク保持部に保持されたワークが、ター
ンテーブルの間欠的な回転送りにより各ステージを巡っ
て前記ワーク取出ステージへと移送される過程におい
て、前記第1外観検査ステージで片面を外観検査され、
前記反転ステージで反転され、前記第2外観検査ステー
ジで他方の片面を外観検査されるものとなされているこ
とを特徴とするものである。従って、1のワークの外観
検査工程の終了を待つことなく、多数のワークを次々と
連続的に外観検査することができることになり、従来の
ように、1のワークの検査工程終了を待って次のワーク
の外観検査を行う場合に較べて、単位時間に外観検査で
きるワークの数を段に増加することができ、外観検査
効率の著しい向上を図りうる。しかも、磁気ディスク基
板等の円板状基板からなるワークに対し、第1外観検査
ステージで片面を外観検査され、反転ステージで反転さ
れ、第2外観検査 ステージで他方の片面を外観検査され
るものとなされているので、受取ステージから取出ステ
ージまでの間にワーク両面が外観検査されることにな
り、より一層の外観検査効率の向上を図りうる。
According to the present invention, a disk-shaped substrate is
At least workpiece workpiece holding portion for removably holding removably in Ranaru a plurality of work plane (2) turntable having around the rotating shaft, rotates together with the stop freely arranged, around the rotation of the turntable Receiving stage, first surface inspection stage on one side of work , reversing stage
Stage, a second appearance inspection stage on the other side of the work, and an unloading stage are set, and the work held by the work holding unit at the work receiving stage is rotated by an intermittent rotary feed of a turntable. In the process of being transferred to the work take-out stage around the stage, one surface is inspected by the first visual inspection stage ,
The second appearance inspection stage is inverted by the inversion stage.
And the other side is inspected for appearance. Therefore, a large number of workpieces can be inspected continuously one after another without waiting for the end of the inspection step of one work. the compared with the case of performing the visual inspection of the work, the number of work that can be visual inspection can be increased to rated stage per unit time, it can work to significantly improve the appearance inspection efficiency. Moreover, the magnetic disk base
First appearance inspection for a work made of a disc-shaped substrate such as a plate
One side is visually inspected on the stage,
And the other side is visually inspected at the second visual inspection stage.
The receiving stage from the receiving stage.
Both sides of the work will be inspected before
Therefore, the efficiency of appearance inspection can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る外観検査装置の正面
図である。
FIG. 1 is a front view of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】ワークの外観検査を実際に行っている状態の正
面図である。
FIG. 2 is a front view of a state in which a work appearance inspection is actually performed.

【図3】外観検査装置の概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a visual inspection device.

【図4】実施例に用いたワークとしてのアルミニウム磁
気ディスク基板を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an aluminum magnetic disk substrate as a work used in the example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A…アルミニウム磁気ディスク基板(ワーク) 1…ターンテーブ 2…ワーク保持部 I…ワークの受取ステージ II、IV…外観検査ステージ V…ワーク取出ステージA ... aluminum magnetic disk substrate (workpiece) 1 ... turntable 2 ... workpiece holder I ... receiving stage of the work II, IV ... appearance inspection stage V ... workpiece takeout stage

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 円板状基板からなる複数のワーク(A)
を平面内において着脱自在に保持するワーク保持部
(2)を回転軸の周囲に有するターンテーブル(1)
が、回転、停止自在に配置されるとともに、該ターンテ
ーブル(1)の回転まわりに少なくともワークの受取ス
テージ(I)、ワーク片面の第1外観検査ステージ(I
I)、反転ステージ(III )、ワークの他方の片面の第
2外観検査ステージ(IV)、取出ステージ(V)の各ス
テージが設定され、前記ワーク受取ステージ(I)で前
記ワーク保持部(2)に保持されたワーク(A)が、タ
ーンテーブル(1)の間欠的な回転送りにより各ステー
ジを巡って前記ワーク取出ステージ(V)へと移送され
る過程において、前記第1外観検査ステージ(II)で
面を外観検査され、前記反転ステージ(III )で反転さ
れ、前記第2外観検査ステージ(IV)で他方の片面を
観検査されるものとなされていることを特徴とするワー
クの外観検査装置。
1. A plurality of works (A) comprising a disc-shaped substrate
Turntable (1) having a work holding portion (2) for detachably holding in a plane around a rotation axis
Are arranged so as to be able to rotate and stop freely, and at least around a rotation of the turntable (1), at least a work receiving stage (I) and a first visual inspection stage (I) on one side of the work.
I), reversal stage (III), the other side of the work
2. Each stage of the visual inspection stage (IV) and the take-out stage (V) is set, and the work (A) held in the work holding section (2) in the work receiving stage (I) is turned on the turntable (1). intermittent by rotary feed in the process of being transferred to the workpiece take-out stage around each stage (V), pieces in the first appearance inspection stage (II) of
The surface is inspected for appearance, and the surface is inverted at the inversion stage (III).
And a second surface inspection stage (IV) wherein the other surface is externally inspected.
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