JP2594994B2 - パルスドプラ計測装置 - Google Patents

パルスドプラ計測装置

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JP2594994B2 JP62311951A JP31195187A JP2594994B2 JP 2594994 B2 JP2594994 B2 JP 2594994B2 JP 62311951 A JP62311951 A JP 62311951A JP 31195187 A JP31195187 A JP 31195187A JP 2594994 B2 JP2594994 B2 JP 2594994B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波により物体の速度を検出する装置に関
し、とくに生体内の血流速度をリアルタイムで計測する
装置に関する。
〔従来の技術〕
通常、測定できる最高ドプラ周波数は、送波バースト
波の繰り返し周期がTのとき、1/2Tである。これに対
し、本発明者らが先に特開昭62−169073号にて提案した
新パルスドプラ法によれば、送波バースト波の繰り返し
周期をTとT+TSの2種類とすることにより、測定でき
る最高ドプラ周波数は1/2TSとなることが知られてい
る。これは従来の限界をT/TS倍に拡大する方式である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このように、ドプラ周波数を計測することにより比較
的高速の物体の速度を知ることが可能である。ところが
人体内の血管、あるいは心臓内の血流を計測するには、
血管壁あるいは心臓壁などの壁の動きと血流とを分離す
るため、MTI(固定物除去)フィルタを用いている。
このMTIフィルタにおける遅延時間としてはTとT+T
Sの和、すなわち2T+TSの整数倍の遅延時間かあるいは
TとT+TSの積、すなわちT(T+TS)の整数倍の遅延
時間を用いている。そのため、MTIフィルタの周波数特
性として、前者の場合、1/(2T+TS)の整数倍の周波数
が、後者の場合には1/T(T+TS)の整数倍の周波数
が、零点周波数に相当する。零点周波数付近では、ドプ
ラ信号の振幅値が極めて小さくなることから、ドプラ信
号は信号対雑音比の劣化したものになるという問題点が
存在する。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決し、
通常の血流ならびにナイキスト限界を越える血流に対し
て、信号対雑音比を改善することにより、正確なドプラ
周波数の測定が可能なパルスドプラ計測装置を提供する
ことにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、MTIフィルタにおいて、フィルタの零点
を互いに補うことにより、零点を解消する構成とするこ
とにより構成される。
そのために超音波パルスの送波をT−TS,T,T+TSの3
種類の送波間隔とした。このとき、送波間隔T−TSとT
におけるMTIフィルタの遅延時間はT−TSとTの和であ
る2T−TS、送波間隔TとT+TSにおけるMTIフィルタの
遅延時間はTとT+TSの和である2T+TSとしている。そ
してT−TSとTに関する位相差の差のベクトルX1とTと
T+TSに関する位相差の差のベクトルX2を求め、それら
を加算平均した位相差の差の平均ベクトルXを得る。最
終的にこのベクトルXからドプラ周波数を得るという構
成とする。
〔作用〕
送波間隔T−TS,Tに関するMTIフィルタの遅延時間を2
T−TSとしたことにより、このMTIフィルタの零点は1/
(2T−TS)の整数倍の周波数に現われる。一方、送波間
隔T,T+TSに関するMTIフィルタの遅延時間を2T+TSとし
たことにより、1/(2T+TS)の整数倍の周波数に零点が
生ずる。これらの零点は1/TSの整数倍以外の周波数では
互いに一致することはない。そのためX1が零点のせいで
信号対雑音比が劣化しても、X2は信号対雑音比が劣化せ
ず、この両者を加算平均したXは総じて、信号対雑音比
を劣化させずに済む。本方式ではこの位相差の差の平均
ベクトルXからドプラ周波数を得るので、ドプラ周波数
推定におる誤差を低減できる。
〔実施例〕 以下、本発明の原理および実施例を図面により詳述す
る。まず、本発明の概略構成と動作原理について述べ
る。
第1図は本発明の一実施例を示すパルスドプラ装置の
ブロック図である。
本発明のパルスドプラ計測装置は、送波回路1、受波
回路2、位相比較器3、超音波探触子4、MTIフィルタ
6,自己相関器7,8、遅延素子9,10,11、加算器12,13,14、
角度検出器15、除算器16、制御装置17と表示装置18から
主に構成されている、送波回路1はTSずつ異なる三つの
送波間隔T−TS,TとT+TSで超音波パルスが超音波探触
子4から反射物体5(例えば血球など)に向けて、繰り
返し送波される。この送波間隔は制御装置17により制御
される。反射物体5により反射した超音波パルスは受波
回路2で受波される、受波した信号は位相比較器3にお
いて参照信号α=A cos wotとα′=A sin wotとの位相
比較が行なわれ、それぞれ、出力vR,vIが得られる。い
ま反射物体5についての位相比較器3の出力をvRn,vIn
(n=1,2,…)とそれぞれ表わすと、vRn,vInは次式で
示すことができる。
簡単のため、上式をまとめて、 vn′=An′exp(jθ) と表わす。これをドプラ信号あるいは位相ベクトルvn
と以後呼ぶ。MTIフィルタ6においては、従来、フィル
タの遅延時間は送波時間間隔にとっている。本実施で
は、相次ぐ2つの送波時間間隔の和の時間とする。これ
は一般のディジタルフィルタで実現できる。順次入力す
る信号v1′,v2′,v3′………に対し、そのうち最新の
(k+1)個により、 vn=a0v′n+k+a1vn+(k-1)′+…………+ak-2vn+2′ +ak-1vn+1′+akvn′ によりフィルタリングされた一連の信号vn(n=1,2,3,
…)を得、かつそのフィルタ特性を決める係数a0,a1,…
…,ak-2,ak-1,akを適宜設定可能なディジタルフィルタ
をMTIフィルタ6として用いる場合には、例えば次の設
定を行なえば良い。
ak=−1,ak-1=0,ak-2=1 a0,………,ak-3=0 このような設定の場合、 vn=vn+2′−vn′ の如く一次差分処理が実施される。そのため、各遅延時
間は第2図(第2図は本発明の原理を示す図である。)
に示したように、送波間隔T−TS,Tにおいては2T−TS
送波間隔T,T+TSについては2T−TSとなり、式の差分
出力がMTIフィルタ6から得られる。このとき、このフ
ィルタの特性は第3図(b)(第3図はMTIフィルタ特
性を表わす図)の如く、周波数1/(2T−TS)の整数倍の
周波数と、周波数1/(2T+TS)の整数倍の周波数にそれ
ぞれ零点を持つ特性となる。なお、上記のような一次遅
れ処理の他に二次遅れ処理等の高次遅れ処理を含むよう
な係数設定を行なっても良く、この場合にも第3図
(b)とほぼ同様なフィルタ特性となる。そういう特性
のMTIフィルタから得られた位相ベクトルvn+1は、遅延
器9を通った一時刻前のvnの複素共役ベクトルvn との
複素乗算(すなわち自己相関)が実施される。その結
果、自己相関器7により、出力 Ym=vn+1・vn を得る。(以後Ymを位相差ベクトルと呼ぶ。)ただし、
m=1,2,4,5,7,8,……である。したがって、式におい
て送波間隔T−TS(m=1)のとき、 Y1=v2・v1 =A2′A1′exp(jΔθ) (∵Δθ=θi+1−θ、ただしi=1,2,…) =A1exp(jwd(T−TS)) (∵ドプラ周波数wdとすればΔθ=wd(T−TS)) 送波間隔Tのとき(m=2)、 Y2=v3・v2 =A3′=A2exp(jΔθ) =A2exp(jwdT)(∵Δθ=wdT) の如く出力Y1,Y2を得る。ただし、以後加算器12,14の加
算回数は1回として説明する。自己相関器8は位相差ベ
クトルYmの自己相関処理を行なう。すなわち、位相差ベ
クトルYm+1は遅延器10を通った一時刻前のYmの複素共役
ベクトルYm との複素乗算が実施される。この処理結果
をXlとおき、位相差の差のベクトルと呼べば、 Xl=Ym+1・Ym となる。ただしl=1,2である。
式へ,式を代入すれば、送波間隔T−TS,Tに関
する位相差の差のベクトルX1を得る。即ち、 X1=Y2・Y1 =A2exp(jwdT){A1exp(jwd(T−TS))} =A1A2exp(jwdTS) である。つぎに、送波間隔T,T+TSに関する位相差のベ
クトルX2については、同様に、まず、式において、送
波間隔T(m=4)のとき、 Y4=v5・v4 =A4exp(jwdTS) 送波間隔T+TS(m+5)のとき Y5=v6・v5 =A5exp(jwd(T+TS) を得たのち、出力,式を7式へ代入すれば、 X2=Y5・Y4 =A5exp(jwd(T+TS))・{A4exp(jwdT)} =A4A5exp(jwdTS) が求められる。これらの処理は自己相関器7,8によるも
のである。なお、複素乗算Y4・Y3 は実施しない。その
ことは制御装置17により制御される。さらに、加算器13
において、一時刻前の位相差の差のベクトルX1(相波間
隔T−TS,Tに関する)と位相差の差のベクトルX2(すな
わち、送波間隔T,T+TSに関する)の加算が行なわれ
る。その出力をXとおけば X=X1+X2 =A1A2exp(jwdTS)+A4A5exp(jwdTS) である。
第3図bにおいて、いま、ドプラ周波数wdの成分が図
のごとく存在すると、X1はMTIフィルタの零点付近を通
過して上記処理後、得られるものであり、X2はMTIフィ
ルタの極付近を通過して上記処理後得られたものであ
る。したがって、X1は信号対雑音比(以後SNRと呼ぶ)
が悪いときは、正確ではない。上記12式の如く、X1とX2
の加算を行なえば、第3図(a)に示したようになる。
このとき、フィルタの特性は加算合成された特性となっ
ており、Xは総合的にみて、SNRが改善されたことにな
る。従来、存在した零点は互いに補足され解消されるの
で零点付近のドプラ信号のSNRの劣化は本方式では改善
される。
角度検出器15は、加算器14の出力U(ただし加算器14
のN2=1なので、U=Xである。)を U=UR+jUI(UR:実部,Ui:虚部) とおけば、Q(=wdTSを出力する。そこで除算器16はQを時間パラメータTS
除算することにより、ドプラ周波数wd を最終的に出力する。
第4図は、加算器12の働きを説明する図である。位相
差ベクトルYmは、雑音により、SNRが悪くなる場合、複
数回加算(N1回)する必要が生じる。その場合には超音
波パルスの送波をT−TS,Tの送波間隔で複数回繰り返し
行ない、つづいて、T,T+TSの送波間隔で複数回繰り返
し行なう。第4図にはそのとき得られるドプラ信号、お
よび一連の処理の流れ図を示している。第1図におい
て、自己相関器7から出力、すなわち位相差ベクトル、
Y11,Y21,Y12,Y22,……,Y1k,Y2k(送波間隔T−TS,Tに関
する)を得、加算器12においてそれらの加算出力、それ
1,とそれぞれおけば、 が得られる。また、送波間隔T,T+TSについては自己相
関器7から、位相差ベクトルY41,Y51,Y42,Y52,……,
Y4k,Y5kを得るので、加算器12において、それらの加算
出理を4,とおけば、それぞれ、 を得る。加算器12を用いることは、制御装置17が指示制
御を行なう。加算器を用いた場合は、自己相関器8の入
力として、平均位相差ベクトル1,2,3,を用い
ることになる。
加算器14は位相差の差の平均ベクトルXを加算する場
合、あるいは移動平均する場合に使用される。このと
き、加算器12の加算回数(N1≧1)とのかねあいで、加
算回数N1,N2を制御装置17が指示するものである。表示
装置18は得られたドプラ周波数wdを二次元カラーフロー
あるいは電光表示的に表示するものである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、MTIフィルタにおける零点を除去で
きるため、ドプラ信号成分の信号対雑音比のMTIフィル
タによる劣化を低減する効果がある。そのことにより、
ドプラ周波数の正確な推定が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるパルスドプラ計測装
置、第2図と第4図は本発明の原理を示す図、第3図は
MTIフィルタ特性図で、第3図(a)は加算合成されたM
TIフィルタの特性図、第3図(b)は各MTIフィルタの
特性図である。 1……送波回路、2……受波回路、3……位相比較器、 6……MTI、7,8……自己相関器、 9,10,11……遅延素子、 12,13,14……加算器、15……角度検出器、 16……除算器、4……超音波探触子、5……反射物体、 17……制御装置、18……表示装置。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−139238(JP,A) 特開 昭61−25527(JP,A) 特開 昭60−66732(JP,A) 特開 昭64−80351(JP,A) 特開 昭64−32846(JP,A) 特開 昭62−204734(JP,A) 特開 昭62−204733(JP,A)

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】超音波パルスを検査対象に送波し反射信号
    を受波して前記検査対象内の反射物体の運動を検出する
    パルスドプラ計測装置において、互いに異なる少なくと
    も3種類の第1、第2、及び第3の送波時間間隔で前記
    超音波パルスを前記検査対象に送波する送波手段と、前
    記反射信号を受波する受波手段による受波信号を複素信
    号に変換する変換手段と、該変換手段に接続され、前記
    超音波パルスの相次ぐ2つの前記送波時間間隔により定
    められる所定の時間を遅延時間とするMTIフイルタであ
    り、前記所定の時間隔てた前記受信信号から得た2つの
    前記複素信号の間の差である複素差信号を得るMTIフイ
    ルタと、該MTIフイルタの出力であり連続する2つの前
    記複素差信号に関する位相差ベクトル信号を得る手段
    と、該位相差ベクトル信号を得る手段の出力であり連続
    する2つの前記位相差ベクトル信号に関する差ベクトル
    を得る手段と、前記第1及び第2の送波時間間隔の前記
    超音波パルスによる前記受信信号から得た前記差ベクト
    ルと、前記第2及び第3の送波時間間隔の前記超音波パ
    ルスによる前記受信信号から得た前記差ベクトルとから
    速度を判定する速度判定手段とを具備し、前記反射物体
    の運動を検出することを特徴とするパルスドプラ計測装
    置。
  2. 【請求項2】前記遅延時間は、前記超音波パルスの相次
    ぐ2つの前記送波時間間隔の和の整数倍の時間であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のパルスド
    プラ計測装置。
  3. 【請求項3】前記遅延時間は、前記第1、第2及び第3
    の送波時間間隔の内の2つの送波時間間隔の積の整数倍
    の時間であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に
    記載のパルスドプラ計測装置。
  4. 【請求項4】前記位相差ベクトル信号の複数を加算平均
    する第1の加算平均手段を有する特許請求の範囲第1項
    に記載のパルスドプラ計測装置。
  5. 【請求項5】前記加算手段の出力の複数を加算又は移動
    平均する第2の加算平均手段を有する特許請求の範囲第
    1項に記載のパルスドプラ計測装置。
  6. 【請求項6】前記加算手段の出力の実数部と虚数部から
    角度を検出する角度検出手段と、該角度検出手段の出力
    を、前記第1と第2の送波時間間隔との差と、前記第2
    と第3の送波時間間隔との差の和の時間の1/2で除算す
    る除算手段をさらに有することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載のパルスドプラ計測装置。
  7. 【請求項7】前記第1の送波時間間隔に次いで前記第2
    の送波時間間隔で前記超音波パルスを送波する繰返しを
    複数回行なった後、前記第2の送波時間間隔に次いで前
    記第3の送波時間間隔で前記超音波パルスを送波する繰
    返しを複数回行なうことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に記載のパルスドプラ計測装置。
  8. 【請求項8】前記第1の送波時間間隔が(T−TS)、前
    記第2の送波時間間隔がT、前記第3の送波時間間隔が
    (T+TS)であることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載のパルスドプラ計測装置。
  9. 【請求項9】前記第1の送波時間間隔が(T+TS)、前
    記第2の送波時間間隔がT、前記第3の送波時間間隔が
    (T−TS)であることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載のパルスドプラ計測装置。
  10. 【請求項10】前記第1の送波時間間隔が(T−TS)、
    前記第2の送波時間間隔がT、前記第3の送波時間間隔
    が(T+TS)であることを特徴とする特許請求の範囲第
    7項に記載のパルスドプラ計測装置。
  11. 【請求項11】前記第1の送波時間間隔が(T+TS)、
    前記第2の送波時間間隔がT、前記第3の送波時間間隔
    が(T−TS)であることを特徴とする特許請求の範囲第
    7項に記載のパルスドプラ計測装置。
  12. 【請求項12】前記速度判定手段が前記差ベクトルの加
    算を行なう加算手段を含むことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載のパルスドプラ計測装置。
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