JP2592134Y2 - Sample loading device in X-ray fluorescence analyzer - Google Patents

Sample loading device in X-ray fluorescence analyzer

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JP2592134Y2
JP2592134Y2 JP1993056079U JP5607993U JP2592134Y2 JP 2592134 Y2 JP2592134 Y2 JP 2592134Y2 JP 1993056079 U JP1993056079 U JP 1993056079U JP 5607993 U JP5607993 U JP 5607993U JP 2592134 Y2 JP2592134 Y2 JP 2592134Y2
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sample holder
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啓助 小倉
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理学電機工業株式会社
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この考案は、蛍光X線分析装置に
おける試料の装填装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample loading device in a fluorescent X-ray analyzer.

【0002】[0002]

【従来の技術】蛍光X線分析装置は、試料に一次X線
(放射線)を照射し、試料から発生する蛍光X線を検出
して、試料の組成などを分析する装置である。この種の
蛍光X線分析装置では、試料が装填される試料ホルダを
交換することなく、試料を装填し得る装填装置を備えた
ものがある。この一例を図7および図8に示す。
2. Description of the Related Art An X-ray fluorescence analyzer is an apparatus that irradiates a sample with primary X-rays (radiation), detects X-ray fluorescence generated from the sample, and analyzes the composition of the sample. Some X-ray fluorescence analyzers of this type include a loading device that can load a sample without replacing a sample holder in which the sample is loaded. One example of this is shown in FIGS.

【0003】図7において、試料ホルダ50は、ホルダ
ベース51と上板52との間に4本の支柱53を有して
おり、ホルダベース51と試料台54との間に設けたコ
イルスプリング(ばね)55のばね力で試料台54と上
板52との間で試料56を挟むものである。つまり、ホ
ルダベース51と試料台54との間には、コイルスプリ
ング55が設けられており、試料台54が上下動可能に
なっている。上記4本の支柱53は、試料台54を案内
するもので、図8(a),(b)のように、一方からの
み試料56を挿入・排出できるような位置に立設されて
いる。
In FIG. 7, a sample holder 50 has four columns 53 between a holder base 51 and an upper plate 52, and a coil spring (provided between the holder base 51 and the sample table 54). The sample 56 is sandwiched between the sample table 54 and the upper plate 52 by the spring force of the spring 55. That is, the coil spring 55 is provided between the holder base 51 and the sample table 54, and the sample table 54 can move up and down. The four columns 53 guide the sample table 54 and are provided upright at positions where the sample 56 can be inserted and ejected from only one side as shown in FIGS. 8 (a) and 8 (b).

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】上記試料ホルダ50
は、図7の試料56の装填位置P1と、試料ホルダ50
を分析装置に投入する投入位置との間を図示しない第1
搬送装置により搬送される。さらに、上記試料ホルダ5
0は、上記投入位置と、蛍光X線を試料56に照射する
分析位置との間を、図示しない第2搬送装置により搬送
される。分析が終わると、第2および第1搬送装置によ
り投入位置を経由して装填位置P1まで搬送されて、図
8(b)のように、試料56が排出された後、試料ホル
ダ50を180°回転させて、図7(a)のように、次
に分析する別の試料56が供給される。
[Problems to be Solved by the Invention] The above sample holder 50
Is the position of loading the sample 56 in FIG.
A first position (not shown) between the input position and the input position where the
It is transported by the transport device. Further, the sample holder 5
The reference numeral 0 indicates that the sample is transferred by the second transfer device (not shown) between the input position and the analysis position for irradiating the sample 56 with the fluorescent X-ray. When the analysis is completed, the sample is transferred to the loading position P1 via the loading position by the second and first transfer devices, and after the sample 56 is discharged as shown in FIG. By rotating, another sample 56 to be analyzed next is supplied as shown in FIG.

【0005】上記のように、試料56の装填位置P1と
試料ホルダ50の投入位置とを別の位置にしたのでは、
搬送装置全体が複数になるなどコストアップを招いてい
るばかりでなく、搬送のサイクルタイムが長くなるの
で、分析のサイクルタイムも長くなる。この考案は、上
記従来の問題に鑑みてなされたもので、蛍光X線分析装
置において、搬送装置全体を簡素化するとともに、分析
のサイクルタイムを短縮することを目的とする。
[0005] As described above, if the loading position P1 of the sample 56 and the loading position of the sample holder 50 are set to different positions,
Not only does the cost increase, such as the use of a plurality of transfer devices, but also the transfer cycle time increases, so that the analysis cycle time also increases. The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has as its object to simplify the entire transport device and shorten the analysis cycle time in a fluorescent X-ray analyzer.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この考案は、試料ホルダにおける試料台と上板との
間隔を広げて試料の装填スペースを作らせる装填スペー
ス形成装置と、上記装填スペースに入り込んで試料を試
料ホルダから排出するとともに、次の別の試料を上記装
填スペースに供給する供給排出装置とを備え、上記試料
ホルダの支柱間に形成され試料を供給するための第1の
間口と、上記支柱間に形成され試料を排出するための第
2の間口とが互いに対向する位置に形成され、上記試料
ホルダを分析装置に投入する投入位置と、上記試料の装
填・排出を行う装填位置とが同一の位置に設定されてい
る。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a loading space forming apparatus for increasing a distance between a sample stage and an upper plate in a sample holder to create a loading space for a sample; A supply / discharge device for entering the space and discharging the sample from the sample holder, and supplying the next another sample to the loading space, wherein a first device formed between the columns of the sample holder for supplying the sample is provided. A frontage and a second frontage formed between the columns for discharging a sample are formed at positions facing each other, and a loading position for loading the sample holder into the analyzer and loading and discharging of the sample are performed. The loading position is set to the same position.

【0007】[0007]

【作用】この考案では、供給排出装置が第2の間口から
試料を排出し、つづいて、第2の間口に対向する第1の
間口から試料を試料ホルダに供給する。ここで、第1の
間口は、第2の間口に対向した位置に設けられているか
ら、試料を回転させる必要がないので、装置の構造が簡
単になる。そのため、投入位置と装填位置とを同一の位
置にすることができ、これにより、搬送のサイクルタイ
ムを短くすることができる。
In the present invention, the supply / discharge device discharges the sample from the second frontage, and then supplies the sample to the sample holder from the first frontage facing the second frontage. Here, since the first frontage is provided at a position facing the second frontage, there is no need to rotate the sample, so that the structure of the apparatus is simplified. Therefore, the loading position and the loading position can be set at the same position, thereby shortening the transport cycle time.

【0008】[0008]

【実施例】以下、この考案の一実施例を図面にしたがっ
て説明する。図1は装填装置の平面レイアウトを示す。
この図において、試料ホルダ50を分析装置Aに投入す
る投入口Aa(投入位置P1)の近傍には、試料搬送コ
ンベア15、供給排出装置20、装填スペース形成装置
11および試料排出シュート16が設けられている。上
記投入口Aaには、図示しない移載機構により、図2の
ように、試料ホルダ50が投入される。試料ホルダ50
は、試料56と共に、搬送装置1によって、図4に示す
ように、試料56に一次X線B1を照射して分析する分
析位置P2まで搬送される。なお、搬送装置1は、この
図に示す昇降台2の他に、図示しない走行装置および昇
降装置を有している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a planar layout of the loading device.
In this figure, a sample transport conveyor 15, a supply / discharge device 20, a loading space forming device 11, and a sample discharge chute 16 are provided near an input port Aa (input position P1) for inputting the sample holder 50 into the analyzer A. ing. As shown in FIG. 2, the sample holder 50 is loaded into the loading port Aa by a transfer mechanism (not shown). Sample holder 50
The sample 56 is transported together with the sample 56 to the analysis position P2 where the sample 56 is irradiated with the primary X-rays B1 and analyzed, as shown in FIG. The transport device 1 has a traveling device and a lifting device (not shown) in addition to the lifting table 2 shown in FIG.

【0009】X線管(放射線源)57は、下方の試料ホ
ルダ50に装填された試料56に一次X線(放射線)B
1を照射する。照射された一次X線B1は、試料56の
原子を励起して蛍光X線B2を発生させる。発生した蛍
光X線B2は、分光結晶58を介してX線検出器59に
入射し、そのX線強度が測定される。この測定強度に基
づき、周知の蛍光X線分析がなされる。
An X-ray tube (radiation source) 57 applies a primary X-ray (radiation) B to a sample 56 loaded in a sample holder 50 below.
Irradiate 1. The irradiated primary X-rays B1 excite the atoms of the sample 56 to generate fluorescent X-rays B2. The generated fluorescent X-ray B2 is incident on the X-ray detector 59 via the spectral crystal 58, and the X-ray intensity is measured. Known X-ray fluorescence analysis is performed based on the measured intensity.

【0010】上記昇降台2には、下部にパルスモータ3
が取り付けられている。このパルスモータ3には、回転
位置検出器が設けられており、パルスモータ3が1回転
する毎に、回転位置検出器がこれを検出し、所定の回数
を検出すると、直ちにパルスモータ3を停止させる。こ
のパルスモータ3の出力軸3aは、カップリング4など
を介して、回転テーブル5に連結されている。この回転
テーブル5は、試料ホルダ50を載置するもので、圧縮
コイルスプリング60により上記昇降台2に上下動自在
に取り付けられ、一方、第1ベアリング7により昇降台
2に回転自在に取り付けられている。
A pulse motor 3 is provided at the lower part of the
Is attached. The pulse motor 3 is provided with a rotation position detector. The rotation position detector detects this every time the pulse motor 3 makes one rotation, and stops the pulse motor 3 immediately after detecting the predetermined number of times. Let it. The output shaft 3a of the pulse motor 3 is connected to a turntable 5 via a coupling 4 or the like. The rotary table 5 is for mounting the sample holder 50, and is attached to the lift table 2 by a compression coil spring 60 so as to be vertically movable, while it is rotatably mounted to the lift table 2 by a first bearing 7. I have.

【0011】上記回転テーブル5の上部および試料ホル
ダ50の底部には、それぞれ、係合孔5aおよび被係合
ピン50aが、一対設けられている。これらの係合孔5
aおよび被係合ピン50aは、互いに係合して、回転テ
ーブル5と試料ホルダ50とが相対回転するのを防止す
るものである。したがって、パルスモータ3が回転駆動
することにより、試料ホルダ50が回転する。
At the top of the rotary table 5 and at the bottom of the sample holder 50, a pair of engaging holes 5a and engaged pins 50a are provided, respectively. These engagement holes 5
a and the engaged pin 50a are engaged with each other to prevent the rotary table 5 and the sample holder 50 from rotating relative to each other. Therefore, when the pulse motor 3 is rotationally driven, the sample holder 50 is rotated.

【0012】分析位置P2では、分析装置の本体8に第
2ベアリング9を介してホルダ押え10が回転自在に取
り付けられている。したがって、試料ホルダ50は、分
析位置P2において、ホルダ押え10に押し当てられて
位置決めできるとともに、回転可能になっている。
At the analysis position P2, a holder presser 10 is rotatably mounted on the main body 8 of the analyzer via a second bearing 9. Therefore, at the analysis position P2, the sample holder 50 can be positioned by being pressed against the holder retainer 10, and can be rotated.

【0013】図2の投入位置P1には、試料56(図3
(a))の排出・供給を可能にする装填スペース形成装
置11が設けられている。この装填スペース形成装置1
1は、図3(b)のように、試料台54を下方に押し下
げることにより、試料ホルダ50における試料台54と
上板52との間隔を広げて試料56の装填スペースSを
作らせるもので、駆動ラック12、ピニオン13および
フック14などからなる。上記装填スペース形成装置1
1は、図2の駆動ラック12が下方に駆動するのに伴
い、まず、ピニオン13およびフック14が二点鎖線の
位置まで回転し、その後、ピニオン13およびフック1
4が、図3(b)のように下降することにより、フック
14が試料台54に係合して試料台54を押し下げる構
造になっている。
At the loading position P1 in FIG. 2, a sample 56 (FIG.
A loading space forming device 11 that enables the discharge and supply of (a)) is provided. This loading space forming device 1
As shown in FIG. 3B, as shown in FIG. 3B, the space between the sample table 54 and the upper plate 52 in the sample holder 50 is widened by pushing down the sample table 54 to form a space S for loading the sample 56. , A drive rack 12, a pinion 13, a hook 14, and the like. Loading space forming device 1
1, the pinion 13 and the hook 14 first rotate to the position indicated by the two-dot chain line as the drive rack 12 in FIG. 2 is driven downward, and thereafter, the pinion 13 and the hook 1
When the hook 4 is lowered as shown in FIG. 3B, the hook 14 engages with the sample table 54 to push down the sample table 54.

【0014】上記試料ホルダ50の支柱53は、図3
(a)のように、第1の間口50bから試料56の供給
を許容し、第2の間口50cから試料56の排出を許容
するように立設されている。上記第1の間口50bと第
2の間口50cとは、互いに対向する位置に形成されて
いる。上記試料56は、後述する供給排出装置20(図
1)により、試料ホルダ50に供給され、試料ホルダ5
0から排出される。なお、試料ホルダ50のその他の構
造は、図7の従来例と同様であり、同一部分または相当
部分に同一符号を付して、その説明を省略する。
The support 53 of the sample holder 50 is shown in FIG.
As shown in FIG. 7A, the sample 56 is set up so as to allow the supply of the sample 56 from the first frontage 50b and allow the discharge of the sample 56 from the second frontage 50c. The first frontage 50b and the second frontage 50c are formed at positions facing each other. The sample 56 is supplied to the sample holder 50 by a supply / discharge device 20 (FIG. 1) described later, and is supplied to the sample holder 5.
Emitted from 0. The other structure of the sample holder 50 is the same as that of the conventional example shown in FIG. 7, and the same or corresponding portions are denoted by the same reference characters and description thereof will be omitted.

【0015】つぎに、この考案の要部について説明す
る。前述の図1の試料搬送コンベア15は、ベルトコン
ベアからなり試料56を載せて、試料56を方向転換位
置P3またはNGボックス17まで搬送するものであ
る。この試料搬送コンベア15の近傍には、試料56が
所定の寸法であるか否かなどをチェックする検査装置が
設けてある。また、試料搬送コンベア15の上方には、
試料搬送コンベア15の搬送方向Xと直交する方向Yに
試料56を搬送する上記供給排出装置20が設けてあ
る。
Next, the main part of the present invention will be described. The sample transport conveyor 15 shown in FIG. 1 is a belt conveyor on which the sample 56 is placed and transports the sample 56 to the direction change position P3 or the NG box 17. An inspection device for checking whether or not the sample 56 has a predetermined size is provided near the sample transport conveyor 15. In addition, above the sample transport conveyor 15,
The supply / discharge device 20 for transporting the sample 56 in a direction Y orthogonal to the transport direction X of the sample transport conveyor 15 is provided.

【0016】上記供給排出装置20は、減速機付駆動モ
ータ21に、以下に説明するように、ストッパ22およ
びプッシャ23が連結されている。上記減速機付駆動モ
ータ21の出力軸21aには、図5(a)に示すよう
に、第1アーム24が固定されており、この第1アーム
24の先端部には、第1のピン24aを介して、第2ア
ーム25が回転自在に取り付けられている。上記第2ア
ーム25の先端には、第2のピン25aが取り付けられ
ており、この第2のピン25aにはスライダ26Aが取
り付けられている。
In the supply / discharge device 20, a stopper 22 and a pusher 23 are connected to a drive motor 21 with a speed reducer as described below. As shown in FIG. 5A, a first arm 24 is fixed to an output shaft 21a of the drive motor 21 with a speed reducer, and a first pin 24a is attached to a distal end of the first arm 24. , A second arm 25 is rotatably mounted. A second pin 25a is attached to a tip of the second arm 25, and a slider 26A is attached to the second pin 25a.

【0017】上記出力軸21aには、大径の歯付プーリ
27Lが回転自在に取り付けられており、一方、上記第
1のピン24aには、小径の歯付プーリ27Sが固定さ
れている。両プーリ27L,27Sには、無端状のベル
ト27Bが巻き付けられており、両プーリ27L,27
Sの直径比は2:1に設定さている。また、上記出力軸
21aと第1のピン24aとの軸間距離L1は、上記第
1のピン24aと第2のピン25aとの軸間距離L2に
等しく設定されている。したがって、周知のように、減
速機付駆動モータ21(図1)の回転で、図6の第1ア
ーム24が回転するのに伴い、第2のピン25aがY方
向に直線運動する。
A large-diameter toothed pulley 27L is rotatably attached to the output shaft 21a, while a small-diameter toothed pulley 27S is fixed to the first pin 24a. An endless belt 27B is wound around both pulleys 27L, 27S.
The diameter ratio of S is set to 2: 1. The center distance L1 between the output shaft 21a and the first pin 24a is set equal to the center distance L2 between the first pin 24a and the second pin 25a. Therefore, as is well known, the second pin 25a linearly moves in the Y direction with the rotation of the first arm 24 in FIG. 6 by the rotation of the drive motor 21 with the speed reducer (FIG. 1).

【0018】一方、上記スライダ26Aは、スライドベ
ース26Bに対して、矢印Y方向に移動可能に取り付け
られているとともに、上記スライドベース26BがY方
向に延びる案内レール28に移動自在に取り付けられて
いる。したがって、上記第2のピン25aに取り付けた
スライダ26Aは、矢印Y方向に直線運動する。なお、
上記スライダ26Aはスライドベース26Bに対してY
方向と逆のY1方向にスプリング力で付勢されている。
On the other hand, the slider 26A is movably attached to the slide base 26B in the direction of arrow Y, and the slide base 26B is movably attached to a guide rail 28 extending in the Y direction. . Therefore, the slider 26A attached to the second pin 25a linearly moves in the arrow Y direction. In addition,
The slider 26A is moved Y with respect to the slide base 26B.
It is urged by a spring force in the Y1 direction opposite to the direction.

【0019】このスライダ26Aの下端の先端部には、
上記プッシャ23が固定されている。そのため、プッシ
ャ23は、二点鎖線で示す供給位置P10まで矢印Y方
向に直線運動して、試料56を分析装置A上の搬送面2
9の上を滑らせて装填スペースSに供給する。また、上
記スライダ26Aは、矢印Y方向に直線運動して、装填
スペースSに入り込み更に第2の間口50cを通り抜け
て排出位置P11まで進み、試料56を試料ホルダ50
から排出する。なお、排出された試料56は、図1の試
料排出シュート16を介して、分析済試料ボックス18
に落下する。
At the tip of the lower end of the slider 26A,
The pusher 23 is fixed. Therefore, the pusher 23 linearly moves in the direction of the arrow Y to the supply position P10 indicated by the two-dot chain line, and moves the sample 56 to the transfer surface 2 on the analyzer A.
9 and is supplied to the loading space S. The slider 26A linearly moves in the direction of the arrow Y, enters the loading space S, further passes through the second frontage 50c to the discharge position P11, and places the sample 56 in the sample holder 50.
Discharged from The discharged sample 56 is supplied to the analyzed sample box 18 via the sample discharge chute 16 in FIG.
To fall.

【0020】このように、この分析装置Aは、試料ホル
ダ50を分析装置Aに投入する投入位置P1と、試料5
6の装填・排出を行う装填位置とが同一の位置に設定さ
れている。つまり、試料ホルダ50の投入位置P1にお
いて、試料56の装填・排出を行う。
As described above, the analyzer A has a loading position P1 for loading the sample holder 50 into the analyzer A, and a sample 5
6 is set to the same position as the loading position for loading and discharging. That is, the loading and discharging of the sample 56 is performed at the loading position P1 of the sample holder 50.

【0021】上記第2アーム25における第1のピン2
4aの近傍には、上記ストッパ22が固定されている。
したがって、ストッパ22は、図5(b)および図6の
ように、水平な出力軸21aのまわりに回転する。な
お、図1のストッパ22およびプッシャ23における試
料56との当接面は、谷形に形成されている。
The first pin 2 of the second arm 25
The stopper 22 is fixed near 4a.
Therefore, the stopper 22 rotates around the horizontal output shaft 21a as shown in FIG. 5B and FIG. The contact surface of the stopper 22 and the pusher 23 in FIG. 1 with the sample 56 is formed in a valley shape.

【0022】つぎに、上記構成の動作について説明す
る。図4の分析位置P2に、試料56が供給されると、
パルスモータ3を回転させるとともに、X線管57から
一次X線B1を試料56に照射する。パルスモータ3が
1回転する毎に、図示しない回転位置検出器がこれを検
出し、所定の回数検出する間、X線検出器59が蛍光X
線B2を検出する。その後、パルスモータ3が更に回転
を続け、回転位置検出器が回転位置を検出すると、直ち
にパルスモータ3が停止する。
Next, the operation of the above configuration will be described. When the sample 56 is supplied to the analysis position P2 in FIG.
While rotating the pulse motor 3, the sample 56 is irradiated with the primary X-rays B <b> 1 from the X-ray tube 57. Each time the pulse motor 3 makes one rotation, a rotational position detector (not shown) detects this, and during a predetermined number of detections, the X-ray detector 59 sets the fluorescent X
The line B2 is detected. Thereafter, the pulse motor 3 continues to rotate further, and as soon as the rotational position detector detects the rotational position, the pulse motor 3 stops.

【0023】この検出後、搬送装置1が試料ホルダ50
を図2の投入口Aaまで搬送する。この搬送後、装填ス
ペース形成装置11が作動して、試料台54を図3
(b)のように下方に押し下げた後、後述するように、
供給排出装置20(図1)が図3(a)の二点鎖線で示
す試料56を第2の間口50cから排出するとともに、
次の試料56を第1の間口50bから供給する。供給さ
れた試料56は、図4の分析位置P2まで搬送される。
こうして、試料56が連続的に分析される。
After this detection, the transport device 1 moves the sample holder 50
To the input port Aa in FIG. After the transfer, the loading space forming device 11 is operated to move the sample table 54 to the position shown in FIG.
After pressing down as shown in (b), as described later,
The supply / discharge device 20 (FIG. 1) discharges the sample 56 indicated by the two-dot chain line in FIG. 3A from the second frontage 50c,
The next sample 56 is supplied from the first frontage 50b. The supplied sample 56 is transported to the analysis position P2 in FIG.
Thus, the sample 56 is continuously analyzed.

【0024】つぎに、上記試料56の供給・排出方法に
ついて説明する。図1の減速機付駆動モータ21が駆動
すると、図5(b)および図6のように、プッシャ23
が試料ホルダ50内の装填スペースSに入り込み排出位
置P11まで前進する。これにより、試料56が図1の
試料ホルダ50から押し出され、試料排出シュート16
に沿って分析済試料ボックス18に落下して、試料56
が試料ホルダ50から排出される。その後、減速機付駆
動モータ21が逆回転し、供給排出装置20が図1の状
態に復帰する。
Next, a method for supplying and discharging the sample 56 will be described. When the drive motor 21 with a speed reducer shown in FIG. 1 is driven, as shown in FIGS.
Enters the loading space S in the sample holder 50 and advances to the discharge position P11. Thereby, the sample 56 is pushed out of the sample holder 50 of FIG.
Falls along the analyzed sample box 18 along the
Is discharged from the sample holder 50. Thereafter, the drive motor 21 with the speed reducer rotates in the reverse direction, and the supply / discharge device 20 returns to the state of FIG.

【0025】つづいて、試料56が試料搬送コンベア1
5によって方向転換位置P3まで搬送されると、試料5
6がストッパ22に当接して位置決めされ、その後、試
料搬送コンベア15が静止して試料56が方向転換位置
P3で停止する。この停止後、減速機付駆動モータ21
が駆動し、図5(b)のストッパ22が矢印Rのよう
に、反時計回りに回転するとともに、プッシャ23がY
方向に極めて小さい速度で移動し始める。その後、図6
のように、ストッパ22が上方に退避するとともに、プ
ッシャ23が徐々に速度を上げながら試料56をY方向
に押し始める。さらに、プッシャ23は、Y方向に前進
して、供給位置P10まで進んで停止する。これによ
り、試料56が試料ホルダ50の試料台54上に乗り移
る。つづいて、減速機付駆動モータ21(図1)が逆回
転して、供給排出装置20が図1の状態に復帰する。一
方、図3の駆動ラック12が上昇して、フック14およ
びピニオン13が実線の状態に復帰するとともに、試料
56が上板52と試料台54との間にコイルスプリング
55のばね力により挟まれて保持される。
Subsequently, the sample 56 is transferred to the sample transport conveyor 1.
When the sample 5 is transported to the direction change position P3 by the
6 comes into contact with the stopper 22 and is positioned, after which the sample transport conveyor 15 stops and the sample 56 stops at the direction change position P3. After this stop, the drive motor with speed reducer 21
5B, the stopper 22 shown in FIG. 5B rotates counterclockwise as shown by the arrow R, and the pusher 23
Start moving at a very small speed in the direction. Then, FIG.
As described above, the stopper 22 retreats upward, and the pusher 23 starts pushing the sample 56 in the Y direction while gradually increasing the speed. Further, the pusher 23 advances in the Y direction, advances to the supply position P10, and stops. As a result, the sample 56 moves onto the sample stage 54 of the sample holder 50. Subsequently, the drive motor with speed reducer 21 (FIG. 1) rotates in the reverse direction, and the supply / discharge device 20 returns to the state of FIG. On the other hand, the drive rack 12 in FIG. 3 rises, the hook 14 and the pinion 13 return to the solid line state, and the sample 56 is sandwiched between the upper plate 52 and the sample table 54 by the spring force of the coil spring 55. Is held.

【0026】つぎに、図1の試料搬送コンベア15上の
試料56が不良品である場合の動作について説明する。
この場合は、試料56が方向転換位置P3に到達する以
前に、減速機付駆動モータ21が駆動し、図6(b)の
ように、ストッパ22が上方へ退避する。これにより、
図1の試料搬送コンベア15上の試料56は、試料搬送
コンベア15により矢印X方向に搬送されて、NGボッ
クス17に落下する。
Next, the operation when the sample 56 on the sample conveyor 15 shown in FIG. 1 is a defective product will be described.
In this case, before the sample 56 reaches the direction change position P3, the drive motor with speed reducer 21 is driven, and the stopper 22 is retracted upward as shown in FIG. 6B. This allows
The sample 56 on the sample transport conveyor 15 in FIG. 1 is transported by the sample transport conveyor 15 in the direction of the arrow X, and falls into the NG box 17.

【0027】上記構成において、この装填装置は、図3
(a)のように、第1の間口50bと第2の間口50c
とが互いに対向した位置に設けられている。そのため、
試料56を試料ホルダ50から排出した後、試料ホルダ
50を回転させることなく、次の試料56を試料ホルダ
50に供給することができる。したがって、図1の投入
位置P1において試料ホルダ50を回転させる必要がな
いので、投入位置P1において、試料ホルダ50を装填
することができる。その結果、装填位置から、投入位置
P1まで試料ホルダ50を搬送する必要がなくなって、
搬送のサイクルタイムが短縮されるので、分析のサイク
ルタイムが短縮される。また、装填装置の構造も簡単に
なる。
In the above configuration, the loading device is configured as shown in FIG.
As shown in (a), the first frontage 50b and the second frontage 50c
Are provided at positions facing each other. for that reason,
After the sample 56 is discharged from the sample holder 50, the next sample 56 can be supplied to the sample holder 50 without rotating the sample holder 50. Therefore, it is not necessary to rotate the sample holder 50 at the loading position P1 in FIG. 1, so that the sample holder 50 can be loaded at the loading position P1. As a result, there is no need to transport the sample holder 50 from the loading position to the loading position P1,
Since the transport cycle time is reduced, the analysis cycle time is reduced. Also, the structure of the loading device is simplified.

【0028】ところで、図1のストッパ22を矢印X方
向に退避させると、ストッパ22とプッシャ23の駆動
系が2つになるので、供給排出装置20の構造が複雑に
なる。これに対し、この実施例では、ストッパ22を上
方に退避させることとしたので、供給排出装置20は1
つの減速機付駆動モータ21により、ストッパ22およ
びプッシャ23を駆動させることができる。したがっ
て、供給排出装置20の構造が簡単になる。
When the stopper 22 of FIG. 1 is retracted in the direction of the arrow X, the driving system of the stopper 22 and the pusher 23 becomes two, so that the structure of the supply / discharge device 20 becomes complicated. On the other hand, in this embodiment, the stopper 22 is retracted upward, so that the supply / discharge device 20 is
The stopper 22 and the pusher 23 can be driven by the two drive motors 21 with reduction gears. Therefore, the structure of the supply / discharge device 20 is simplified.

【0029】また、図6のスライダ26Aがスライドベ
ース26Bにスライド自在に取り付けられ、更に、スラ
イドベース26Bが案内レール28にスライド自在に取
り付けられている。したがって、案内レール28の長さ
を短くすることができるから、供給排出装置20が小型
になる。
The slider 26A shown in FIG. 6 is slidably attached to a slide base 26B, and the slide base 26B is slidably attached to a guide rail 28. Therefore, since the length of the guide rail 28 can be reduced, the size of the supply / discharge device 20 is reduced.

【0030】[0030]

【考案の効果】以上説明したように、この考案によれ
ば、供給排出装置が試料を排出する第2の間口と、試料
を供給する第1の間口とを互いに対向させて設けている
ので、試料の排出・装填時に、試料ホルダを回転させる
必要がないから、試料ホルダの投入位置において試料の
装填を行うことができる。したがって、試料ホルダを装
填位置から投入位置まで搬送する必要がないので、搬送
のサイクルタイムが短くなって、分析のサイクルタイム
が短くなる。また、装填装置の構造も簡単になる。
As described above, according to the present invention, the supply and discharge device is provided with the second frontage for discharging the sample and the first frontage for supplying the sample so as to face each other. It is not necessary to rotate the sample holder when discharging and loading the sample, so that the sample can be loaded at the input position of the sample holder. Therefore, it is not necessary to transport the sample holder from the loading position to the loading position, so that the transport cycle time is shortened and the analysis cycle time is shortened. Also, the structure of the loading device is simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この考案の一実施例にかかる蛍光X線分析装置
における試料の装填装置の概略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view of a sample loading device in a fluorescent X-ray analyzer according to an embodiment of the present invention.

【図2】投入位置における蛍光X線分析装置の概略断面
図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the X-ray fluorescence analyzer at the input position.

【図3】試料の供給・排出方法を示す平面断面図および
縦断面図である。
3A and 3B are a plan cross-sectional view and a vertical cross-sectional view illustrating a method of supplying and discharging a sample.

【図4】分析位置における蛍光X線分析装置の概略断面
図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view of the X-ray fluorescence analyzer at an analysis position.

【図5】供給排出装置の平面図および側面図である。FIG. 5 is a plan view and a side view of the supply / discharge device.

【図6】供給排出装置の動作を示す側面図である。FIG. 6 is a side view showing the operation of the supply / discharge device.

【図7】従来の試料ホルダを示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a conventional sample holder.

【図8】従来の試料の供給・排出方法を示す平面断面図
である。
FIG. 8 is a plan sectional view showing a conventional sample supply / discharge method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…装填スペース形成装置、20…供給排出装置、5
0…試料ホルダ、50b…第1の間口、50c…第2の
間口、51…ホルダベース、52…上板、53…支柱、
54…試料台、55…コイルスプリング(ばね)、56
…試料、P1…投入位置、
11: loading space forming device, 20: supply / discharge device, 5
0: sample holder, 50b: first frontage, 50c: second frontage, 51: holder base, 52: upper plate, 53: support,
54: sample table, 55: coil spring (spring), 56
... Sample, P1 ... Position position,

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 23/223 G01N 1/00 - 1/44 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 23/223 G01N 1/00-1/44

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 上板とホルダベースとの間に立設された
複数本の支柱を有し、上記ホルダベースと試料台との間
に設けたばねのばね力で上記試料台と上板との間で試料
を挟む試料ホルダと、 上記試料ホルダにおける試料台と上板との間隔を広げて
試料の装填スペースを作らせる装填スペース形成装置
と、 上記装填スペースに入り込んで試料を試料ホルダから排
出するとともに、次の別の試料を上記装填スペースに供
給する供給排出装置とを備え、 上記支柱間に形成され試料を供給するための第1の間口
と、上記支柱間に形成され試料を排出するための第2の
間口とが互いに対向する位置に形成されて、 上記試料ホルダを分析装置に投入する投入位置と、上記
試料の装填・排出を行う装填位置とが同一の位置に設定
されている蛍光X線分析装置における試料の装填装置。
A plurality of supporting columns provided between the upper plate and the holder base, wherein the sample base and the upper plate are connected to each other by a spring force of a spring provided between the holder base and the sample base. A sample holder for holding a sample between them, a loading space forming device for increasing a distance between the sample table and the upper plate in the sample holder to create a loading space for the sample, and entering the loading space and discharging the sample from the sample holder And a supply / discharge device for supplying the next another sample to the loading space, a first frontage formed between the columns to supply the sample, and a first port formed between the columns to discharge the sample. The second frontage is formed at a position facing each other, and the loading position for loading the sample holder into the analyzer and the loading position for loading / discharging the sample are set at the same position. X-ray analysis equipment Loading device of the sample in.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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