JP2571241B2 - Single unit inspection method - Google Patents
Single unit inspection methodInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はひとつの主制御装置と、この主制御装置に制
御される複数の周辺装置よりなるシステムの検査方式
で、主制御装置に、周辺装置をテストするテスト回路を
着脱可能に設け、このテスト回路を各周辺装置に実装し
て各周辺装置を検査できるようにした装着単体検査方式
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial application field) The present invention relates to an inspection system for a system including one main control device and a plurality of peripheral devices controlled by the main control device. The present invention relates to a mounting unit inspection method in which a test circuit for testing a device is detachably provided, and the test circuit is mounted on each peripheral device so that each peripheral device can be inspected.
（従来の技術） 従来、この種の装置単体検査方式は主制御装置が周辺
装置を制御する手段と、周辺装置との接続手段とを有し
た専用単体試験装置を用意しておき、各周辺装置の試験
の際には専用単体試験装置と周辺装置とを接続し、専用
単体試験装置から周辺装置の回路を動作させることによ
り周辺装置の試験を行なつていた。(Prior Art) Conventionally, this type of device single inspection system prepares a dedicated unit test device having a main controller controlling the peripheral device and a connecting device with the peripheral device, and preparing each peripheral device. At the time of the test, the dedicated unit test device and the peripheral device were connected, and the peripheral device was tested by operating the circuit of the peripheral device from the dedicated unit test device.
（発明が解決しようとする問題点） したがつて、周辺装置を試験のためには上述の専用単
体試験装置を用意しておかなければならず、周辺装置試
験のための装置が必要であるという欠点があつた。(Problems to be Solved by the Invention) Therefore, in order to test peripheral devices, the dedicated unit test device described above must be prepared, and a device for testing peripheral devices is required. There were drawbacks.
本発明の目的は上述欠点を解決するもので周辺装置試
験のための特別の試験装置を必要としない装置単体検査
方式を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned drawbacks and to provide a device single inspection system which does not require a special test device for testing peripheral devices.
（問題点を解決するための手段） 前記目的を達成するために本煩明による装置単体検査
方式は１つの主制御装置に接続され、制御される複数の
周辺装置を検査する方式において、前記主制御装置に、
着脱可能で、特定の信号を送出する複数種類の信号送出
機を有するテスト回路を設けるとともに各周辺装置に
は、前記テスト回路を着脱できるテスト回路実装部、前
記テスト回路をそれぞれ複数の信号検出機を有する複数
の個別回路にそれぞれ接続するための接続部および各周
辺装置検査のときに前記テスト回路実装部に装着される
前記テスト回路内の１つまたは複数の信号送出機を制御
して特定の信号を出力させるとともに前記接続部を制御
して所定の個別回路に前記特定信号を入力させ、前記特
定信号に対する検出信号を得る制御回路を設けて構成し
てある。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above-mentioned object, the single-unit inspection system according to the present invention is connected to one main controller and is used for inspecting a plurality of peripheral devices to be controlled. For the control device,
A test circuit is provided which is detachable and has a plurality of types of signal transmitters for transmitting a specific signal, and a test circuit mounting unit capable of attaching and detaching the test circuit is provided in each peripheral device. A connection unit for connecting to a plurality of individual circuits each having one or more, and controlling one or a plurality of signal transmitters in the test circuit mounted on the test circuit mounting unit at the time of each peripheral device inspection to control a specific circuit. A control circuit for outputting a signal and controlling the connection unit to input the specific signal to a predetermined individual circuit and obtaining a detection signal for the specific signal is provided.
（実 施 例） 以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明す
る。第１図は本発明による装置単体検出方式の実施例を
示すブロツク図で、１つの周辺装置について本発明に直
接関連する部分のみを記載した図である。Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings and the like. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the device single detection system according to the present invention, in which only one portion of one peripheral device directly related to the present invention is described.
本周辺装置内にはテスト回路を実装する実装部２が設
けられている。このテスト回路実装部２は制御部１に接
続されるとともにそれぞれ個別回路４−１〜４−ｎに設
けられているテストリレーを介して各個別回路４−１〜
４−ｎに接続される。この図は図示しない主制御装置か
ら外されたテスト回路がテスト回路実装部２に装着され
た状態を示している。A mounting unit 2 for mounting a test circuit is provided in the peripheral device. The test circuit mounting section 2 is connected to the control section 1 and each of the individual circuits 4-1 to 4-1 via a test relay provided in each of the individual circuits 4-1 to 4-n.
4-n. This figure shows a state in which a test circuit detached from a main controller (not shown) is mounted on the test circuit mounting unit 2.
テスト回路３は、それぞれ特定の信号を送出するため
の信号送出機3a,3b,3cを備えている。The test circuit 3 includes signal transmitters 3a, 3b, and 3c for transmitting specific signals, respectively.
また、個別回路４−１はテストリレー５を介して接続
されるべき信号検出機4a,4b,4cを備えている。この個別
回路はｎ個周辺装置に存在する。Further, the individual circuit 4-1 includes signal detectors 4a, 4b, 4c to be connected via the test relay 5. This individual circuit exists in n peripheral devices.
この周辺装置の検査はまず制御回路１よりテスト回路
３に制御信号を送出することにより開始される。すなわ
ち制御回路１はテスト回路３内の例えば信号送出機3aよ
り特定信号を送出させるための制御を行なう。The inspection of the peripheral device is started by first sending a control signal from the control circuit 1 to the test circuit 3. That is, the control circuit 1 performs control for transmitting a specific signal from, for example, the signal transmitter 3a in the test circuit 3.
次に各個別回路に設けられたテストリレーを閉成する
ことによりテスト回路３を特定の個別回路に接続する。Next, the test circuit 3 is connected to a specific individual circuit by closing a test relay provided in each individual circuit.
この実施例ではテストリレー５が閉成されたとする
と、信号送出機3aからの特定信号はテスト回路実装部２
およびテストリレー５を介して個別回路４−１の信号検
出機4a〜4cに入力される。In this embodiment, if the test relay 5 is closed, the specific signal from the signal transmitter 3a is
The signals are input to the signal detectors 4a to 4c of the individual circuit 4-1 via the test relay 5.
各信号検出機4a〜4cは特定信号を検出した後、制御回
路１に対し通知信号をそれぞれ送出する。Each of the signal detectors 4a to 4c sends a notification signal to the control circuit 1 after detecting the specific signal.
以上の制御により個別回路４−１の試験は終了するの
で、テストリレー５の開成制御を行なうとともに図示し
ない次の個別回路のテストリレーを閉成してテスト回路
の信号送出機より特定信号11を送出させることにより次
の個別回路の信号検出機の検査を行なう。Since the test of the individual circuit 4-1 is completed by the above control, the opening control of the test relay 5 is performed, the test relay of the next individual circuit (not shown) is closed, and the specific signal 11 is transmitted from the signal transmitter of the test circuit. By transmitting the signal, the signal detector of the next individual circuit is inspected.
以上の制御回路11の制御の下に全個別回路の単体試験
を行なうことができる。Under the control of the control circuit 11, the individual test of all the individual circuits can be performed.
（発明の効果） 本発明は以上、説明したように１つの主制御装置に接
続され、制御される複数の周辺装置を検査する方式にお
いて、主制御装置に、信号送出機を有するテスト回路を
着脱可能に設けておき、周辺装置には、前記テスト回路
を実装するための実装部、制御回路および個別回路を接
続する接続部を設けることにより従来のような専用単体
試験装置を用いることなく、テスト回路のみで、周辺装
置の回路動作を試験できるという効果がある。(Effects of the Invention) As described above, in the system for inspecting a plurality of peripheral devices connected and controlled by one main controller as described above, a test circuit having a signal transmitter is attached to and detached from the main controller. By providing a mounting unit for mounting the test circuit and a connection unit for connecting the control circuit and the individual circuit, the peripheral device can be tested without using a dedicated unit test apparatus as in the related art. There is an effect that the circuit operation of the peripheral device can be tested using only the circuit.
第１図は本発明による装置単体検査方式の実施例を示す
ブロツク図である。 １……制御回路、２……テスト回路実装部、３……テス
ト回路、４−１〜４−ｎ……個別回路、５……テストリ
レー、10……制御信号、11……特定信号、12……通知信
号FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an apparatus single inspection system according to the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Control circuit, 2 ... Test circuit mounting part, 3 ... Test circuit, 4-1 to 4-n ... Individual circuit, 5 ... Test relay, 10 ... Control signal, 11 ... Specific signal, 12 …… Notification signal
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−287776（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−69442（ＪＰ，Ａ) 実開 昭62−89034（ＪＰ，Ｕ) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-61-287776 (JP, A) JP-A-57-69442 (JP, A) Jikai Sho 62-89034 (JP, U)
Claims (1)
複数の周辺装置を検査する方式において、前記主制御装
置に、着脱可能で、特定の信号を送出する複数種類の信
号送出機を有するテスト回路を設けるとともに各周辺装
置には前記テスト回路を着脱できるテスト回路実装部、
前記テスト回路を、それぞれ複数の信号検出機を有する
複数の個別回路にそれぞれ接続するための接続部および
各周辺装置検査のときに前記テスト回路実装部に装着さ
れる前記テスト回路内の１つまたは複数の信号送出機を
制御して特定の信号を出力させるとともに前記接続部を
制御して所定の個別回路に前記特定信号を入力させ、前
記特定信号に対する検出信号を得る制御回路を設けたこ
とを特徴とする装置単体検査方式。In a system for inspecting a plurality of peripheral devices connected to and controlled by one main controller, a plurality of types of signal transmitters which are detachable and transmit specific signals are connected to the main controller. A test circuit mounting unit that has a test circuit having the same and each peripheral device can attach and detach the test circuit.
A connection portion for connecting the test circuit to a plurality of individual circuits each having a plurality of signal detectors, and one of the test circuits mounted on the test circuit mounting portion at the time of each peripheral device inspection. A control circuit that controls a plurality of signal transmitters to output a specific signal, controls the connection unit, inputs the specific signal to a predetermined individual circuit, and obtains a detection signal for the specific signal. Characteristic device single inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301957A JP2571241B2 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Single unit inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301957A JP2571241B2 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Single unit inspection method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01142944A JPH01142944A (en) | 1989-06-05 |
| JP2571241B2 true JP2571241B2 (en) | 1997-01-16 |
Family
ID=17903153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62301957A Expired - Lifetime JP2571241B2 (en) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Single unit inspection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2571241B2 (en) |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62301957A patent/JP2571241B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01142944A (en) | 1989-06-05 |
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