JP2556097Y2 - Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same - Google Patents

Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same

Info

Publication number
JP2556097Y2
JP2556097Y2 JP15118389U JP15118389U JP2556097Y2 JP 2556097 Y2 JP2556097 Y2 JP 2556097Y2 JP 15118389 U JP15118389 U JP 15118389U JP 15118389 U JP15118389 U JP 15118389U JP 2556097 Y2 JP2556097 Y2 JP 2556097Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
paste
layer
conductive layer
resistance layer
insulating substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP15118389U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0391691U (en
Inventor
吉朗 鈴木
良人 河西
Original Assignee
岡谷電機産業 株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 岡谷電機産業 株式会社 filed Critical 岡谷電機産業 株式会社
Priority to JP15118389U priority Critical patent/JP2556097Y2/en
Publication of JPH0391691U publication Critical patent/JPH0391691U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2556097Y2 publication Critical patent/JP2556097Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、ペースト配線の積層構造及びこれを用いた
サージ吸収器に係り、特に定格以上の電圧が印加される
おそれのある抵抗層の接続に最適な構造に関し、併せ
て、電話器等へ侵入しようとするサージを、気密容器に
封入した放電間隙の放電現象によって吸収するサージ吸
収器において、特に連続的な過大サージの入力時等に自
動的にサージ吸収素子を回路から切り離して、安全を確
保するようにしたペースト配線の積層構造及びこれを用
いたサージ吸収器に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application field] The present invention relates to a laminated structure of a paste wiring and a surge absorber using the same, and particularly, connection of a resistance layer to which a voltage exceeding a rated voltage may be applied. In addition, a surge absorber that absorbs a surge that is about to enter a telephone or the like by the discharge phenomenon of a discharge gap sealed in an airtight container, especially when a continuous excessive surge is input, etc. The present invention relates to a laminated structure of paste wiring in which a surge absorbing element is separated from a circuit to ensure safety and a surge absorber using the same.

[従来の技術] 近年、半練状の抵抗材料を基板上で固化させ、このペ
ースト抵抗上にペースト導電層を積層して形成し、配線
を行うようにした積層構造が種々提案されている。
[Related Art] In recent years, various laminated structures have been proposed in which a semi-kneaded resistive material is solidified on a substrate, a paste conductive layer is laminated on the paste resistor, and wiring is performed.

[考案が解決しようとする課題] ところが、このような製法により構成した配線では、
ペースト抵抗層とペースト導電層との接触抵抗が大き
く、過電流によるホットスポットが形成されて焼損する
虞れがある。
[Problem to be solved by the invention] However, in the wiring configured by such a manufacturing method,
The contact resistance between the paste resistance layer and the paste conductive layer is large, and a hot spot may be formed due to an overcurrent, resulting in burning.

ところで、放電型サージ吸収器においては、サージ吸
収素子に抵抗器を直列接続したものを、電話回線等サー
ジが発生しやすい線路に取り付けるものであるが、連続
的な過大サージによる大電流が流れたり、線路が送電線
に触れる等して発生する異常電圧による電流が流れる
と、従来の製法による抵抗器ではパターンが焼損する虞
れがある。
By the way, in a discharge type surge absorber, a resistor connected in series with a surge absorbing element is attached to a line such as a telephone line where a surge is likely to occur, but a large current due to a continuous excessive surge may flow. When current flows due to an abnormal voltage generated when a line touches a transmission line or the like, a pattern may be burned out in a resistor manufactured by a conventional method.

本考案は、上記した点に鑑みてなされたもので、ペー
スト抵抗層とペースト導電層との接触抵抗を小さくし
て、過電流によるホットスポットが形成される虞れがな
いペースト配線の積層構造とし、併せてこのペースト配
線の積層構造を用いたサージ吸収器を提供することを技
術的課題とする。
The present invention has been made in view of the above points, and has a reduced contact resistance between a paste resistance layer and a paste conductive layer, so that a paste wiring laminated structure that does not have a risk of forming a hot spot due to overcurrent. It is another technical object of the present invention to provide a surge absorber using the laminated structure of the paste wiring.

[問題点を解決するための手段] 本考案は、上記技術的課題を解決するために、以下の
ような構成とした。
[Means for Solving the Problems] The present invention has the following configuration in order to solve the above technical problem.

即ち、第1構成例は、絶縁基板の一方面上に第1ペー
スト導電層を形成するとともに、この第1ペースト導電
層上にその一部が積層するペースト抵抗層を上記絶縁基
板の一方面上に形成し、さらに上記第1ペースト導電層
上に位置するペースト抵抗層表面に第2ペースト導電層
を積層してなり、上記絶縁基板を連続した過電流によっ
て生じるペースト抵抗層の発熱による熱歪みで割れるア
ルミナ、フォルステライト又はステアタイト系のセラミ
ックで形成するとともに、上記ペースト抵抗層を絶縁基
板が割れた際に切断されるよう上記第1ペースト導電層
上に配置したペースト配線の積層構造とするものであ
る。
That is, in the first configuration example, a first paste conductive layer is formed on one surface of an insulating substrate, and a paste resistance layer partially laminated on the first paste conductive layer is formed on one surface of the insulating substrate. And a second paste conductive layer is laminated on the surface of the paste resistance layer located on the first paste conductive layer, and the insulating substrate is subjected to thermal strain caused by heat generation of the paste resistance layer caused by continuous overcurrent. A laminate structure of paste wiring formed of crackable alumina, forsterite or steatite ceramic, and having the paste resistance layer disposed on the first paste conductive layer so as to be cut when the insulating substrate is broken. It is.

また、第2構成例は、絶縁基板上にサージ吸収素子を
配置し、また上記絶縁基板の一方面上に第1ペースト導
電層を形成するとともに、この第1ペースト導電層上に
その一部が積層するペースト抵抗層を上記絶縁基板の一
方面上に形成し、さらに上記第1ペースト導電層上に位
置するペースト抵抗層上に第2ペースト導電層を積層し
てなり、上記絶縁基板を連続した過電流によって生じる
上記ペースト抵抗層の発熱による熱歪みで割れるアルミ
ナ、フォルステライト又はステアタイト系のセラミック
で形成するとともに、上記ペースト抵抗層を絶縁基板が
割れた際に切断されるよう上記第1ペースト導電層上に
配置し、さらに上記ペースト抵抗層の両端に形成したペ
ースト導電層を介して上記サージ吸収素子とペースト抵
抗層とを直列接続したサージ吸収器とするものである。
In the second configuration example, a surge absorbing element is disposed on an insulating substrate, a first paste conductive layer is formed on one surface of the insulating substrate, and a part of the first paste conductive layer is formed on the first paste conductive layer. A paste resistance layer to be laminated is formed on one surface of the insulating substrate, and a second paste conductive layer is further laminated on the paste resistance layer located on the first paste conductive layer. The first paste is formed of alumina, forsterite, or steatite-based ceramic that is broken by thermal distortion caused by heat generated by the paste resistance layer caused by an overcurrent, and the first paste is cut so that the paste resistance layer is cut when an insulating substrate is cracked. The surge absorbing element and the paste resistance layer are arranged on the conductive layer, and further connected in series through the paste conductive layers formed at both ends of the paste resistance layer. It is an surge absorber.

[作用] 第1の構成では、ペースト抵抗層と第1及び第2のペ
ースト導電層とが、いわゆるサンドイッチ構造となるた
め、ペースト抵抗層とペースト導電層との接触抵抗が低
くホットスポットが起こり難くなり、連続した過電流に
よってペースト抵抗層が発熱しても、ペースト抵抗層と
ペースト導電層との接続部分(ホットスポットの起こる
部分)で断線することがない。一方、連続した過電流に
よってペースト抵抗層が発熱すると、ペースト抵抗層の
形成された絶縁基板の一方面だけが加熱膨張し、アルミ
ナ、フォルステライト又はステアタイト系のセラミック
で形成された絶縁基板に熱歪みが生じて割れ、これによ
りペースト抵抗層も切断される。
[Operation] In the first configuration, since the paste resistance layer and the first and second paste conductive layers have a so-called sandwich structure, the contact resistance between the paste resistance layer and the paste conductive layer is low, and a hot spot hardly occurs. That is, even if the paste resistance layer generates heat due to continuous overcurrent, there is no disconnection at a connection portion (a portion where a hot spot occurs) between the paste resistance layer and the paste conductive layer. On the other hand, when the paste resistance layer generates heat due to continuous overcurrent, only one side of the insulating substrate on which the paste resistance layer is formed expands by heating, and heat is applied to the insulating substrate formed of alumina, forsterite, or steatite ceramic. Distortion occurs and cracks, which also cut the paste resistance layer.

また、第2の構成では、ペースト抵抗層に連続過電圧
(例えば、安全規格試験における交流電圧)が印加さ
れ、この電圧による過電流が流れてペースト抵抗層が発
熱すると、ペースト抵抗層の形成された絶縁基板の一方
面だけが加熱膨張し、アルミナ、フォルステライト又は
ステアタイト系のセラミックで形成された絶縁基板に熱
歪みが生じて割れ、これによりペースト抵抗層も切断さ
れるので、サージ吸収素子は回路から遮断され過熱を自
動的に防止できる。
In the second configuration, a continuous overvoltage (for example, an AC voltage in a safety standard test) is applied to the paste resistance layer, and when an overcurrent due to this voltage flows and the paste resistance layer generates heat, the paste resistance layer is formed. Only one surface of the insulating substrate is heated and expanded, and the insulating substrate formed of alumina, forsterite or steatite ceramic is thermally strained and cracked, thereby cutting the paste resistance layer. It is cut off from the circuit and can automatically prevent overheating.

[実施例] 本考案の実施例を第1図ないし第4図に基づいて説明
する。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

〈第1構成例〉 第1図に示すように、セラミック製の絶縁基板1の一
方面上にAg・Pd系ペーストで第1ペースト導電層4を形
成する。そしてこの第1ペースト導電層4の表面にルテ
ニウム系ペースト抵抗によるペースト抵抗層3の一部を
積層し絶縁基板上に延出する。さらにペースト抵抗層3
と第1ペースト導電層4との積層部分に重合して第2ペ
ースト導電層8を形成する。この第2ペースト導電層8
は第1ペースト導電層4と一体となり配線ターミナルと
なる。これによりペースト抵抗層とペースト導電層とを
単に重ねたものに比較して接触抵抗は半分となり、この
接続部分で加熱してホットスポットが生じる虞れはなく
なる。このため、ペースト抵抗層3が、ホットスポット
の起こった部分で断線することがない。一方、上記ペー
スト抵抗層3が連続した過電流によって発熱すると、ペ
ースト抵抗層3の形成された絶縁基板1の一方面だけが
加熱膨張するため、絶縁基板1に熱歪みが生じて割れ、
同時にペースト抵抗層3も切断されるようになってい
る。
<First Configuration Example> As shown in FIG. 1, a first paste conductive layer 4 is formed on one surface of a ceramic insulating substrate 1 using an Ag.Pd-based paste. Then, a part of the paste resistance layer 3 based on the ruthenium-based paste resistance is laminated on the surface of the first paste conductive layer 4 and extends on the insulating substrate. Furthermore, the paste resistance layer 3
The second paste conductive layer 8 is formed by superimposing on the laminated portion of the first paste conductive layer 4 and the first paste conductive layer 4. This second paste conductive layer 8
Are integrated with the first paste conductive layer 4 to form wiring terminals. As a result, the contact resistance is halved as compared with the case where the paste resistance layer and the paste conductive layer are simply overlapped, and there is no possibility that a hot spot is generated by heating at the connection portion. Therefore, the paste resistance layer 3 does not break at the portion where the hot spot occurs. On the other hand, when the paste resistance layer 3 generates heat due to continuous overcurrent, only one surface of the insulating substrate 1 on which the paste resistance layer 3 is formed expands due to heat, so that thermal distortion occurs in the insulating substrate 1 and cracks occur.
At the same time, the paste resistance layer 3 is also cut.

〈第2構成例〉 第2構成例では上記第1構成例を応用したサージ吸収
器について述べる。
<Second Configuration Example> In a second configuration example, a surge absorber applying the first configuration example will be described.

即ち、サージ吸収器はサージ吸収素子とこれに直列接
続された抵抗器とからなっているが、安全規格試験のよ
うに連続的な交流が入力された場合にはサージ吸収素子
や抵抗器が焼損する場合がある。このような場合、サー
ジ吸収素子が自動的に回路から切り離されるのが望まし
いが、抵抗器が焼損して回路的切り離しがなされるよう
にすると再現性に欠け、個々の特性にバラツキが出るこ
ととなる。
In other words, the surge absorber consists of a surge absorbing element and a resistor connected in series with it, but if a continuous alternating current is input as in a safety standard test, the surge absorbing element or the resistor will burn out. May be. In such a case, it is desirable that the surge absorbing element be automatically disconnected from the circuit.However, if the resistor is burned out and the circuit is disconnected, the reproducibility will be lacking and individual characteristics will vary. Become.

以下サージ吸収素子の過熱等の危険が起こらず、しか
も安全した特性が得られるようにしたサージ吸収器につ
き説明する。
A description will be given below of a surge absorber in which a danger such as overheating of the surge absorbing element does not occur, and which can obtain safe characteristics.

まず、アルミナ製のセラミック基板1の表面にサージ
吸収素子2を配置する。一方、上記セラミック基板1の
裏面にルテニウム系ペーストによるペースト抵抗層3を
形成する。このペースト抵抗層3は第3図に示すように
蛇行して形成してあり、その両端は上記第1構成例で説
明したように、Ag・Pd系のペーストによる第1及び第2
のペースト導電層4、8が上記したサンドイッチ構造で
積層してある。この第1のペースト導電層4上にはペー
スト抵抗層3を挟んで第2ペースト導電層8が積層され
ており、一端側の第2ペースト導電層8はハンダ5によ
り上記サージ吸収素子2の一端に接続してある。そし
て、他端側の第2ペースト導電層8はハンダ5によりリ
ード線6に接続してある。上記サージ吸収素子2の他端
はリード線7となっている。
First, the surge absorbing element 2 is disposed on the surface of a ceramic substrate 1 made of alumina. On the other hand, a paste resistance layer 3 of a ruthenium-based paste is formed on the back surface of the ceramic substrate 1. The paste resistance layer 3 is formed in a meandering manner as shown in FIG. 3, and both ends of the paste resistance layer 3 are made of Ag / Pd-based paste as described in the first configuration example.
Paste conductive layers 4 and 8 are laminated in the sandwich structure described above. A second paste conductive layer 8 is laminated on the first paste conductive layer 4 with the paste resistance layer 3 interposed therebetween, and the second paste conductive layer 8 on one end side is soldered to one end of the surge absorbing element 2. Connected to The second paste conductive layer 8 on the other end is connected to the lead wire 6 by solder 5. The other end of the surge absorbing element 2 is a lead wire 7.

このようにサージ吸収素子2とペースト抵抗層3とは
第4図の等価回路図に示すように直列接続されている。
上記ペースト抵抗層上に沿面放電を防止するためのホウ
ケイ酸ガラスによるガラス層9を形成してある。
Thus, the surge absorbing element 2 and the paste resistance layer 3 are connected in series as shown in the equivalent circuit diagram of FIG.
A glass layer 9 made of borosilicate glass for preventing creeping discharge is formed on the paste resistance layer.

なお、上記実施例ではサージ吸収素子2とペースト抵
抗層3とをセラミック基板1の異なる面に夫々設けた
が、これらを同一面に設けてもよい。
In the above embodiment, the surge absorbing element 2 and the paste resistance layer 3 are provided on different surfaces of the ceramic substrate 1, respectively, but they may be provided on the same surface.

上記した構成において、リード線6、7間に連続的な
過大サージが印加されたり、耐圧試験による交流電圧が
連続的に印加されると、サージ吸収素子2で放電が起こ
るとともにペースト抵抗層3が発熱を開始する。する
と、上記セラミック基板1はペースト抵抗層3が形成さ
れた面だけ加熱され膨張する。一方サージ吸収素子2が
設けられている面はそれほど発熱しないためセラミック
基板内部に熱歪みが生じて割れる。これと同時にペース
ト抵抗層3も切断され、サージ吸収素子2は回路から切
り離される。この際、ペースト導電層4、8との接触抵
抗は充分低くここで発熱して断線する虞れはない。
In the above-described configuration, when a continuous excessive surge is applied between the lead wires 6 and 7 or an AC voltage is continuously applied by a withstand voltage test, discharge occurs in the surge absorbing element 2 and the paste resistance layer 3 is removed. Start fever. Then, the ceramic substrate 1 is heated and expanded only on the surface on which the paste resistance layer 3 is formed. On the other hand, since the surface on which the surge absorbing element 2 is provided does not generate much heat, the surface of the ceramic substrate is cracked due to thermal distortion. At the same time, the paste resistance layer 3 is also cut, and the surge absorbing element 2 is cut off from the circuit. At this time, the contact resistance with the paste conductive layers 4 and 8 is sufficiently low, and there is no fear that heat is generated and the wire is disconnected.

このように、連続的な交流や直流が印加された場合に
は自動的に回路がカットされ異常過熱を防止することが
できる。
As described above, when continuous AC or DC is applied, the circuit is automatically cut, and abnormal overheating can be prevented.

なお、セラミック基板としては熱膨張率が大きく割れ
やすいものが適し、上記実施例のものの他、フォルステ
ライト、ステアタイト系のものを使用することができ
る。また、ペースト抵抗層3の抵抗値は1Ωから300Ω
程度の範囲が好適で、使用条件により適宜設定すること
ができる。さらに上記ガラス層9はビスマスガラス等の
脱鉛ガラスで形成してもよく、また必ずしもこの層を設
ける必要はない。
As the ceramic substrate, a substrate having a large coefficient of thermal expansion and being easily cracked is suitable. In addition to the above-described substrates, forsterite or steatite-based substrates can be used. The resistance value of the paste resistance layer 3 is 1Ω to 300Ω.
The range of the degree is suitable, and can be appropriately set depending on the use conditions. Further, the glass layer 9 may be formed of a lead-free glass such as bismuth glass, and it is not always necessary to provide this layer.

[考案の効果] 本考案の第1の構成によれば、ペースト抵抗層と第1
及び第2のペースト導電層とが、いわゆるサンドイッチ
構造となるため、接触抵抗が低くホットスポットが起こ
り離くなり、連続した過電流によってペースト抵抗層が
発熱しても、ペースト抵抗層とペースト導電層との接続
部分(ホットスポットの起こる部分)で断線することが
ない。
According to the first configuration of the present invention, the paste resistance layer and the first
And the second paste conductive layer has a so-called sandwich structure, so that the contact resistance is low and hot spots are generated and separated, and even if the paste resistance layer generates heat due to continuous overcurrent, the paste resistance layer and the paste conductive layer There is no disconnection at the connection part (where a hot spot occurs).

また、第2の構成によれば、ペースト抵抗層に連続過
電圧(例えば、安全規格試験における交流電圧)が印加
され、この電圧による過電流が流れてペースト抵抗層が
発熱すると、ペースト抵抗層の形成された絶縁基板の一
方面だけが加熱膨張し、アルミナ、フォルステライト又
はステアタイト系のセラミックで形成された絶縁基板に
熱歪みが生じて割れ、これによりペースト抵抗層も切断
されるので、サージ吸収素子は回路から遮断され加熱を
自動的に防止できる。
Further, according to the second configuration, a continuous overvoltage (for example, an AC voltage in a safety standard test) is applied to the paste resistance layer, and when an overcurrent due to this voltage flows and the paste resistance layer generates heat, the paste resistance layer is formed. Only one side of the insulating substrate heats and expands, causing thermal strain on the insulating substrate formed of alumina, forsterite or steatite ceramics, which breaks the paste resistive layer. The element is disconnected from the circuit and can automatically prevent heating.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図ないし第4図は本考案の実施例を示し、第1図は
要部の断面図、第2図は第2構成例の斜視図、第3図は
セラミック基板の底面図、第4図は等価回路図である。 1……絶縁基板としてのセラミック基板、2……サージ
吸収素子、3……ペースト抵抗層、4……第1ペースト
導電層、8……第2ペースト導電層。
1 to 4 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a sectional view of a main part, FIG. 2 is a perspective view of a second configuration example, FIG. 3 is a bottom view of a ceramic substrate, and FIG. The figure is an equivalent circuit diagram. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ceramic substrate as an insulating substrate, 2 ... Surge absorption element, 3 ... Paste resistance layer, 4 ... 1st paste conductive layer, 8 ... 2nd paste conductive layer.

Claims (3)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】絶縁基板の一方面上に第1ペースト導電層
を形成するとともに、この第1ペースト導電層上にその
一部が積層するペースト抵抗層を上記絶縁基板の一方面
上に形成し、さらに上記第1ペースト導電層上に位置す
るペースト抵抗層表面に第2ペースト導電層を積層して
なり、上記絶縁基板を連続した過電流によって生じるペ
ースト抵抗層の発熱による熱歪みで割れるアルミナ、フ
ォルステライト又はステアタイト系のセラミックで形成
するとともに、上記ペースト抵抗層を絶縁基板が割れた
際に切断されるよう上記第1ペースト導電層上に配置し
たことを特徴とするペースト配線の積層構造。
A first paste conductive layer is formed on one surface of an insulating substrate, and a paste resistance layer partially laminated on the first paste conductive layer is formed on one surface of the insulating substrate. An alumina which is obtained by laminating a second paste conductive layer on the surface of the paste resistive layer located on the first paste conductive layer, and wherein the insulating substrate is divided by thermal strain caused by heat generation of the paste resistive layer caused by continuous overcurrent; A laminated structure of a paste wiring, wherein the laminated structure is made of forsterite or steatite ceramic, and the paste resistance layer is arranged on the first paste conductive layer so as to be cut when the insulating substrate is broken.
【請求項2】絶縁基板上にサージ吸収素子を配置し、ま
た上記絶縁基板の一方面上に第1ペースト導電層を形成
するとともに、この第1ペースト導電層上にその一部が
積層するペースト抵抗層を上記絶縁基板の一方面上に形
成し、さらに上記第1ペースト導電層上に位置するペー
スト抵抗層上に第2ペースト導電層を積層してなり、上
記絶縁基板を連続した過電流によって生じる上記ペース
ト抵抗層の発熱による熱歪みで割れるアルミナ、フォル
ステライト又はステアタイト系のセラミックで形成する
とともに、上記ペースト抵抗層を絶縁基板が割れた際に
切断されるよう上記第1ペースト導電層上に配置し、さ
らに上記ペースト抵抗層の両端に形成したペースト導電
層を介して上記サージ吸収素子とペースト抵抗層とを直
列接続したことを特徴とするサージ吸収器。
2. A paste in which a surge absorbing element is disposed on an insulating substrate, a first paste conductive layer is formed on one surface of the insulating substrate, and a part of the first paste conductive layer is laminated on the first paste conductive layer. A resistive layer is formed on one surface of the insulating substrate, and a second paste conductive layer is laminated on the paste resistive layer located on the first paste conductive layer. The paste resistance layer is formed of alumina, forsterite, or steatite-based ceramic that is broken by thermal distortion caused by heat generated by the paste resistance layer, and the paste resistance layer is cut on the first paste conductive layer so as to be cut when the insulating substrate is cracked. And that the surge absorbing element and the paste resistance layer are connected in series via paste conductive layers formed at both ends of the paste resistance layer. Surge absorber to the butterflies.
【請求項3】上記ペースト抵抗層上にガラス層を形成し
たことを特徴とする請求項2に記載のサージ吸収器。
3. The surge absorber according to claim 2, wherein a glass layer is formed on said paste resistance layer.
JP15118389U 1989-12-28 1989-12-28 Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same Expired - Lifetime JP2556097Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15118389U JP2556097Y2 (en) 1989-12-28 1989-12-28 Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15118389U JP2556097Y2 (en) 1989-12-28 1989-12-28 Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0391691U JPH0391691U (en) 1991-09-18
JP2556097Y2 true JP2556097Y2 (en) 1997-12-03

Family

ID=31697492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15118389U Expired - Lifetime JP2556097Y2 (en) 1989-12-28 1989-12-28 Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2556097Y2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4478963B1 (en) * 2009-10-05 2010-06-09 誠 村田 bicycle

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0391691U (en) 1991-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0522353B2 (en)
JP2000285778A (en) Protective element
JP4464554B2 (en) Fuse element and chip type fuse
JPH1196871A (en) Resistance-temperature fuse and its manufacture
JP2556097Y2 (en) Laminated structure of paste wiring and surge absorber using the same
JP3782176B2 (en) Method of using protective element and protective device
JP2002507329A (en) Hybrid circuit device with overload protection circuit function
JP2005510079A (en) Surge current chip resistance
CN214956228U (en) Do benefit to radiating chip resistor
JP2007027501A (en) Chip resistor
JP4480918B2 (en) Heater with energization cutoff function
JPH083998Y2 (en) Surge absorber
JPH09129403A (en) Varistor provided with fuse
WO2006075242A1 (en) Fuse for an electronic circuit and method for producing the fuse
JP4361194B2 (en) Chip type fuse
CN208315297U (en) A kind of chip priming system current limiter
RU2226750C2 (en) Heater incorporating element produced by screen printing method and method for manufacturing this heater
JP3024521B2 (en) Resistance temperature fuse
JPS63171118A (en) Surge protecting circuit for remote communication terminal
JPH04346409A (en) Laminated ceramic capacitor and chip fuse
JPH0733353Y2 (en) Fuse resistor
CN216287811U (en) Piezoresistor with double-sided thermal protection
JPH07167715A (en) Composite thermistor temperature sensor
JPH0650954Y2 (en) Surge absorber
JPH0613164A (en) Heater structure