JP2556093B2 - Method for manufacturing circuit board unit - Google Patents

Method for manufacturing circuit board unit

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JP2556093B2 JP63110359A JP11035988A JP2556093B2 JP 2556093 B2 JP2556093 B2 JP 2556093B2 JP 63110359 A JP63110359 A JP 63110359A JP 11035988 A JP11035988 A JP 11035988A JP 2556093 B2 JP2556093 B2 JP 2556093B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、TAB(Tape Automated Bonding)方式のI
Cユニットを搭載してなる回路基板ユニットの製造方法
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] This invention is based on the TAB (Tape Automated Bonding) method.
The present invention relates to a method for manufacturing a circuit board unit including a C unit.

[従来技術] キャリアテープ(フィルムテープ)にICデバイスをボ
ンディングしたTAB方式のICユニットが知られている。
また、このTAB方式のICユニットをキャリアテープから
なる配線基板に接続して回路基板ユニットを構成する方
法も知られている。
[Prior Art] A TAB type IC unit in which an IC device is bonded to a carrier tape (film tape) is known.
There is also known a method of connecting the TAB type IC unit to a wiring board made of a carrier tape to form a circuit board unit.

このようなTAB方式のICユニットを製造する場合、従
来では一般にキャリアテープの幅方向にICデバイスを一
列に配列する方法が採られていた。
In the case of manufacturing such a TAB type IC unit, conventionally, a method of arranging IC devices in a row in the width direction of the carrier tape has been generally adopted.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、キャリアテープにはその両側縁部に沿
って送り用のスプロケットの送り歯が噛合するスプロケ
ット穴が形成されるために、上記従来のようにICデバイ
スをテープの幅方向に一列設ける方法であると、キャリ
アテープの有効面積比率が著しく低く、そのために回路
基板ユニットに用いられるICユニットがコスト高になる
問題があった。のみならず、ICデバイスをボンディング
後に行なわれるICデバイスの電極部とフィンガリードと
の接続部を被覆する樹脂のボッティング処理、そのポッ
ティングされた被覆樹脂の乾燥処理および所定のICユニ
ットを構成する切断処理等が1個のICデバイス毎に行な
われるために非能率的であった。また、従来はキャリア
テープを切断後に接続パターンの導通検査をしていたの
で、複数個のICユニットを一度に検査するには再び検査
治具に配列しなおす必要があり、その作業に手間がかか
った。更に、上記のICユニットを配線基板に接続する際
も一列作業なので非能率的であった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, since the carrier tape is formed with sprocket holes along which the feed teeth of the sprocket for feeding mesh, along the both side edges of the carrier tape. In the method of arranging in one row in the width direction, the effective area ratio of the carrier tape is extremely low, which causes a problem that the cost of the IC unit used for the circuit board unit becomes high. Not only that, but after the IC device is bonded, the resin is coated on the connection between the electrode part of the IC device and the finger leads, the resin is potted, the coating resin that is potted is dried, and the cutting to form the specified IC unit is performed. It is inefficient because the processing is performed for each IC device. In addition, conventionally, since the continuity test of the connection pattern was performed after cutting the carrier tape, it is necessary to re-arrange it in the inspection jig again to inspect multiple IC units at once, which is troublesome. It was Furthermore, when the above IC unit is connected to the wiring board, it is inefficient because it is a single-line operation.

この発明は、上述の如き事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、ICユニットを構成するフ
ィルムテープ(キャリアテープ)の有効面積比率が高め
られる上、回路基板ユニットを能率的に作成できる回路
基板ユニットの製造方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the circumstances as described above, and an object thereof is to increase the effective area ratio of a film tape (carrier tape) that constitutes an IC unit and to efficiently use a circuit board unit. It is to provide a method of manufacturing a circuit board unit that can be manufactured.

[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、この発明に係る回路基板ユ
ニットの製造方法は、複数のフィンガリードを有する接
続パターンが幅方向に複数列に配列された第1のフィル
ムテープの前記各接続パターン毎にICデバイスをボンデ
ィングする工程、そのボンディングされたICデバイスの
接続部を樹脂により被覆する工程、その被覆樹脂を乾燥
する工程、前記第1のフィルムテープを切断して少なく
とも1個のICデバイスを有する1単位毎のICユニットに
分離する工程およびその分離されたICユニットの中の良
品のみを所定の位置に移す工程を含む第1処理工程と、
第2のフィルムテープの幅方向に前記ICユニットの接続
端子を有する回路パターンを複数列設ける工程、その回
路パターン毎に前記第1処理工程から送られたICユニッ
トを接合する工程および前記第2のフィルムテープを切
断して少なくとも1個のICユニットを有する1単位毎の
回路基板ユニットに分離する工程を含む第2処理工程と
を具備したものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, in the method for manufacturing a circuit board unit according to the present invention, a first film in which connection patterns having a plurality of finger leads are arranged in a plurality of rows in the width direction. Bonding an IC device for each of the connection patterns of the tape, coating the connection portion of the bonded IC device with a resin, drying the coating resin, cutting the first film tape, and cutting at least A first processing step including a step of separating an IC unit for each unit having one IC device and a step of moving only non-defective products in the separated IC unit to a predetermined position;
A step of providing a plurality of rows of circuit patterns having connection terminals of the IC unit in the width direction of the second film tape; a step of joining the IC units sent from the first processing step for each circuit pattern; A second processing step including a step of cutting the film tape to separate each unit having at least one IC unit into a circuit board unit.

[作 用] かかる構成にあるこの発明の回路基板ユニットの製造
方法によれば、ICユニットを構成するICデバイスが第1
のフィルムテープ(キャリアテープ)の幅方向に複数列
に配列されることから第1のフィルムテープの有効面積
比率が大幅に高められることになり、これによりICユニ
ットのコストダウンが図れる。また、このように第1の
フィルムテープの幅方向にICデバイスを複数列に配列し
ているため、ICデバイスをボンディング後のICデバイス
の電極部とフィンガリードとの接続部を被覆する樹脂の
ポッティング処理等がICデバイス複数個毎に能率的に行
なえるし、ICユニットの検査も切断前に複数個毎に能率
的に行なえ、更にICユニットを第2のフィルムテープ
(配線基板)に接続する作業が能率的な複数列作業とな
るので、回路基板ユニットを能率的に作成することがで
きる。
[Operation] According to the method of manufacturing a circuit board unit of the present invention having such a configuration, the IC device forming the IC unit is the first
Since the film tapes (carrier tapes) are arranged in a plurality of rows in the width direction, the effective area ratio of the first film tapes is significantly increased, which can reduce the cost of the IC unit. Further, since the IC devices are arranged in a plurality of rows in the width direction of the first film tape as described above, the potting of the resin that covers the connection between the electrode parts and the finger leads of the IC device after bonding the IC devices The processing can be done efficiently for each IC device, the inspection of the IC unit can be done efficiently for each before cutting, and the work to connect the IC unit to the second film tape (wiring board) Since this is an efficient multi-row operation, the circuit board unit can be efficiently created.

[実施例] 以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図はこの発明による回路基板ユニットの製造方法
を実施する製造ラインを示している。この製造ライン
は、TAB方式のICユニットを作成する第1の処理工程1
と、この第1処理工程1にて作成されたICユニットを搭
載する回路基板を作成した上この回路基板とICユニット
とで回路基板ユニットを作成する第2処理工程2とから
なっている。第2図は上記第1処理工程1で作成された
ICユニット用のキャリアテープ(第1のフィルムテー
プ)3を示し、第3図は同じく第1処理工程で作成され
たICユニット4を示している。また、第4図は上記第2
処理工程2で作成された回路基板用のキャリアテープ
(第2のフィルムテープ)5を示している。
FIG. 1 shows a manufacturing line for carrying out the method of manufacturing a circuit board unit according to the present invention. This manufacturing line is the first process step 1 for making a TAB IC unit.
And a second processing step 2 in which a circuit board on which the IC unit created in the first processing step 1 is mounted is created and then a circuit board unit is created by the circuit board and the IC unit. FIG. 2 was created in the first processing step 1 above.
The carrier tape (first film tape) 3 for the IC unit is shown, and FIG. 3 shows the IC unit 4 similarly produced in the first processing step. In addition, FIG.
The carrier tape (2nd film tape) 5 for circuit boards produced in the process 2 is shown.

<第1処理工程> 上記製造ラインの第1処理工程1で処理されるICユニ
ット用のキャリアテープ3は、ポリエステル樹脂、ポリ
イミド樹脂等の可撓性および絶縁性を有した樹脂フィル
ムからなる幅広テープであり、その両側縁部に沿ってそ
れぞれ送り用のスプロケットの送り歯が噛合するスプロ
ケット穴6、6が設けられ、かつ、幅方向に複数のICデ
バイス穴7が配列されている。そして、幅方向にはそれ
ぞれのICデバイス穴7に対応しておのおのがICデバイス
穴7の内方まで延出された複数のフィンガリード8を有
する接続パターン9が形成されている。この接続パター
ン9はキャリアテープ3にラミネートされた銅箔をエッ
チング処理して形成され、その後同じく銅箔のエッチン
グ処理で形成されたメッキ用格子パターン9aを利用して
錫又は半田メッキが施されている。
<First Treatment Step> The carrier tape 3 for the IC unit treated in the first treatment step 1 of the above production line is a wide tape made of a resin film having flexibility and insulation such as polyester resin and polyimide resin. The sprocket holes 6, 6 into which the feed teeth of the sprocket for feeding are respectively meshed are provided along both side edges, and a plurality of IC device holes 7 are arranged in the width direction. Then, in the width direction, a connection pattern 9 is formed corresponding to each IC device hole 7 and having a plurality of finger leads 8 extending to the inside of the IC device hole 7. The connection pattern 9 is formed by etching a copper foil laminated on the carrier tape 3, and then tin or solder plating is performed using the plating grid pattern 9a which is also formed by etching the copper foil. There is.

このようなキャリアテープ3に所定の処理を行なう第
1処理工程1は、前記各フィンガリード8に対向する電
極が形成されたICデバイス10を前記各接続パターン9毎
にボンディングするボンディング工程1aと、ICデバイス
10の電極とフィンガリード8の接続部を樹脂により被覆
するポッティング工程1bと、被覆樹脂を予備乾燥させる
予備乾燥工程1cと、被覆樹脂を本乾燥させる本乾燥工程
1dと、接続パターン9を切断するパターン切断工程1e
と、ボンディングされたICデバイス10とフィンガリード
8との導通状態を検査する検査工程1fと、キャリアテー
プ3を切断する切断工程1gと、切断されたもののうち良
品のみを取り出す取り出し工程1hと、切断されたICユニ
ット4のキャリアテープ3にチップ部品23を搭載する工
程1iとからなっている。この場合、ポッティング工程1b
と予備乾燥工程1c、およびパターン切断工程1eと検査工
程1fと切断工程1gと取り出し工程1hはそれぞれ一連の工
程になっている。
The first processing step 1 for performing a predetermined processing on the carrier tape 3 is a bonding step 1a for bonding the IC device 10 having the electrodes facing the finger leads 8 to each of the connection patterns 9. IC device
A potting step 1b for coating the connection between the electrode 10 and the finger lead 8 with a resin, a pre-drying step 1c for pre-drying the coating resin, and a main drying step for main drying the coating resin
1d and pattern cutting step 1e for cutting the connection pattern 9
An inspection step 1f for inspecting the electrical continuity between the bonded IC device 10 and the finger leads 8, a cutting step 1g for cutting the carrier tape 3, and a take-out step 1h for taking out only non-defective ones of the cut pieces. Step 1i of mounting the chip component 23 on the carrier tape 3 of the IC unit 4 thus prepared. In this case, potting step 1b
The pre-drying step 1c, the pattern cutting step 1e, the inspection step 1f, the cutting step 1g, and the take-out step 1h are respectively a series of steps.

まず、幅方向に複数の接続パターン9が形成されてい
るキャリアテープ3はボンディング工程1aに送られ、こ
こにおいてILB(Inner Lead Bonding)装置11により、
この装置11近傍に用意されているICデバイス10が一列複
数個毎にボンディングされる。ILB装置11はフィンガリ
ード8のパターンをTVカメラで読取り、XYθテーブル上
に載置したICデバイス10をヒータチップに位置合わせし
て1個づつボンディングする。この場合、ヒータチップ
はキャリアテープ3の幅方向に移動可能である。このよ
うにして一列複数個分のボンディングが完了すると、ス
プロケット(図示せず)を回転し、次の列の複数個のボ
ンディングを行なう。
First, the carrier tape 3 having a plurality of connection patterns 9 formed in the width direction is sent to a bonding step 1a, where an ILB (Inner Lead Bonding) device 11
The IC devices 10 prepared in the vicinity of the device 11 are bonded in a plurality of rows. The ILB device 11 reads the pattern of the finger leads 8 with a TV camera, aligns the IC devices 10 placed on the XYθ table with the heater chips, and bonds them one by one. In this case, the heater chip can move in the width direction of the carrier tape 3. When the bonding for one row and a plurality of rows is completed in this manner, a sprocket (not shown) is rotated to bond a plurality of rows for the next row.

ボンディング工程1aにおいてICデバイス10のボンディ
ングがなされたキャリアテープ3は次段のポッティング
工程1bに送られ、ここにおいてポッティング装置12より
一列複数個毎に接続部への被覆樹脂のポッティングがな
される。このポッティング装置12には、キャリアテープ
3の幅方向に例えば5個のディスペンサが配列されてお
り、ソレノイドを動作してエアバルブを開閉し、一度に
一列のうちの5個のICデバイス10に対して樹脂を噴出す
る。ディスペンサはキャリアテープ3の幅方向に移動可
能であり、一列の残りの5個に同じ処理をした後、スプ
ロケット(図示せず)を回転し、次の列の処理を行な
う。この場合、テープ幅方向に10個のディスペンサを配
列し一度に一列複数個分を処理しても良い。このポッテ
ィング工程1bにて被覆樹脂のポッティングがなされると
その列は連続的に次段の予備乾燥工程1cに送られて、予
備乾燥装置13によって一列複数個毎の予備乾燥がなされ
る。予備乾燥装置13は一列複数個の被覆樹脂に所定時間
赤外線を照射する。このようにして一列の予備乾燥が完
了するとスプロケットが回転して次の列の処理がなされ
る。この場合、ポッティング工程1bと予備乾燥工程1cの
スプロケットによる送りは同期している。予備乾燥を完
了したキャリアテープ3は次段の本乾燥工程1dに送ら
れ、ここで本乾燥装置14により一列複数個の被覆樹脂に
本乾燥がなされる。このようにして一列の本乾燥が完了
するとスプロケット(図示せず)が回転し次の列の処理
がなされる。このように、被覆樹脂の乾燥を予備乾燥と
本乾燥とに分離したのは、樹脂の乾燥時間は長いのでそ
の処理バランスを良好にするためである。
The carrier tape 3 to which the IC device 10 has been bonded in the bonding step 1a is sent to the next potting step 1b, in which the potting device 12 performs potting of the coating resin on the connection portion for each row. In this potting device 12, for example, five dispensers are arranged in the width direction of the carrier tape 3, and a solenoid is operated to open and close an air valve, so that five IC devices 10 in one row at a time are operated. Eject resin. The dispenser is movable in the width direction of the carrier tape 3, and after performing the same treatment on the remaining five tapes in one row, a sprocket (not shown) is rotated to perform the treatment in the next row. In this case, ten dispensers may be arranged in the tape width direction to process a plurality of one line at a time. When the coating resin is potted in the potting step 1b, the row is continuously sent to the pre-drying step 1c in the next stage, and the pre-drying device 13 performs pre-drying for each row. The pre-drying device 13 irradiates a plurality of coating resins in a row with infrared rays for a predetermined time. When the pre-drying of one row is completed in this way, the sprocket rotates and the next row is processed. In this case, the feeding by the sprocket in the potting process 1b and the preliminary drying process 1c is synchronized. The carrier tape 3 that has completed the preliminary drying is sent to the next main drying step 1d, where the main drying device 14 performs main drying on a plurality of coating resins in a row. When one row of main drying is completed in this way, a sprocket (not shown) rotates and the next row is processed. Thus, the reason why the drying of the coating resin is separated into the preliminary drying and the main drying is to improve the processing balance because the drying time of the resin is long.

次にキャリアテープ3は次段のパターン切断工程1eに
送られ、ここにおいて一列複数個分に対しパターン切断
装置15により第2図の点線の如く接続パターン9を切断
し、各フィンガリード8をメッキ用格子パターン9aから
切り離す。このようにして一列の切断がなされるとスプ
ロケット(図示せず)が回転し次の列の処理がなされ
る。そして、この切断処理を完了した列は連続して次段
の検査工程1fに送られ、検査装置16により所定の検査が
なされる。検査装置16は、プローグをフィンガリード8
に接触させ、ICデバイス10の機能検査プログラムが記憶
されているプログラム回路から信号を送出し、ICデバイ
ス10からの応答信号を良・不良判定回路に導入し、RAM
(Random Access Memory)に予め組込まれている回答デ
ータに基づいて良・不良を判断する。この場合、本検査
装置16は不良と判断されたICユニット4の位置を記憶す
る不良品位置記憶部を備え、この位置情報を後述するIC
ユニット取出装置18に送出する。なお、この検査は一列
複数個分同時に行なう。このようにして一列の検査を完
了するとスプロケットが回転し次の列の処理がなされ
る。この検査を完了した列は連続して次段の切断工程1g
に送られ、切断装置17によりキャリアテープ3をテープ
幅方向に沿って切断し、一列毎に個々のICユニット4に
切り離す。このようにして一列の切断を完了するとスプ
ロケットが回転し次の列の処理がなされる。この切断に
より分離されたICユニット4は連続する次段の取り出し
工程1hにより取り出される。取り出し工程1hにはICユニ
ット取出装置18が備えられている。このICユニット取出
装置18は、一列に対応する10個の真空吸着ヘッドを備
え、検査装置16から送出される良・不良情報に基づき、
ICユニット4を個々に吸着し、不良品に対応する吸着ヘ
ッドを不良品回収箱19に移して不良品を収納し、良品に
対応する吸着ヘッドは、次に述べるチップ部品の自動半
田付け装置20のストック箱21に移して良品を収納する。
この場合、自動半田付け装置20は抜き取られた不良品に
対応する回収箱19の収納部を空にすることなく、回収箱
19のすべての収納部に良品のICユニット4を収納するよ
うに、各真空吸着ヘッドの移動を制御する制御回路を備
えている。このようにして一列のICユニット4の取り出
しが完了するとスプロケットが回転し次の列の処理がな
される。この場合、パターン切断工程1eと検査工程1fと
切断工程1gと取り出し工程1bのスプロケットによる送り
は同期している。
Next, the carrier tape 3 is sent to the next pattern cutting step 1e, where the connection pattern 9 is cut by a pattern cutting device 15 as shown by the dotted line in FIG. 2 for each row, and each finger lead 8 is plated. Separated from the grid pattern 9a. When one row is cut in this way, a sprocket (not shown) rotates and the next row is processed. Then, the row that has completed this cutting process is continuously sent to the next inspection step 1f, and the inspection device 16 performs a predetermined inspection. The inspection device 16 uses the prongs for finger leads 8
, The signal is sent from the program circuit that stores the function inspection program of the IC device 10, the response signal from the IC device 10 is introduced to the good / defective determination circuit, and the RAM
It is judged as good or bad based on the answer data pre-installed in (Random Access Memory). In this case, the inspection device 16 includes a defective product position storage unit that stores the position of the IC unit 4 that is determined to be defective, and the position information of the defective IC position storage unit will be described later.
It is sent to the unit take-out device 18. This inspection is performed simultaneously for a plurality of rows. When the inspection of one row is completed in this way, the sprocket rotates and the next row is processed. Rows that have completed this inspection are continuously cut in the next step 1g
The carrier tape 3 is cut by the cutting device 17 along the tape width direction and separated into individual IC units 4 in each row. When the cutting of one row is completed in this way, the sprocket rotates to process the next row. The IC unit 4 separated by this cutting is taken out in the succeeding succeeding take-out step 1h. An IC unit take-out device 18 is provided in the take-out step 1h. This IC unit take-out device 18 is provided with ten vacuum suction heads corresponding to one row, based on the good / bad information sent from the inspection device 16,
The IC units 4 are individually sucked and the suction heads corresponding to defective products are transferred to the defective product collection box 19 to store the defective products. Move to the stock box 21 and store good products.
In this case, the automatic soldering device 20 does not empty the storage part of the recovery box 19 corresponding to the removed defective product,
A control circuit for controlling the movement of each vacuum suction head is provided so that the good IC unit 4 can be stored in all 19 storage units. When the removal of the IC unit 4 in one row is completed in this way, the sprocket rotates and the processing in the next row is performed. In this case, the sprocket feeding in the pattern cutting step 1e, the inspection step 1f, the cutting step 1g, and the take-out step 1b is synchronized.

次にストック箱21に収納された良品のICユニット4は
次段のチップ部品搭載工程1iに送られ、ここにおいて第
5図に示す自動半田付け装置20によりコンデンサ又はLE
D(ソーラ電池の電源整流素子)等のチップ部品23が第
3図のようにICユニット4の接続パターン9に設けられ
た半田付け用端子9b、9bに半田付けされる。自動半田付
け装置20は搬送装置24にて搬送されたICユニット4のキ
ャリアテープ3にチップ部品23を自動的に半田付けする
ことができる方式のもので、中央にICユニット4を載置
するロータリステージ25を有したテーブル26と、このテ
ーブル26上に設置された半田付け作業を実行するための
各種装置とを備えて構成されている。
Next, the non-defective IC unit 4 stored in the stock box 21 is sent to the next chip component mounting step 1i, where the automatic soldering device 20 shown in FIG.
Chip components 23 such as D (solar battery power rectifying element) are soldered to the soldering terminals 9b, 9b provided on the connection pattern 9 of the IC unit 4 as shown in FIG. The automatic soldering device 20 is of a type capable of automatically soldering the chip component 23 to the carrier tape 3 of the IC unit 4 transported by the transport device 24, and is a rotary device for mounting the IC unit 4 in the center. A table 26 having a stage 25, and various devices installed on the table 26 for executing the soldering work are configured.

ロータリステージ25は、反時計方向(矢印方向)に45
度づつ回転して、テーブル26に等間隔で配置された各ス
テーションS1〜S8で順次所定時間停止するように構成さ
れた8分割インデックスである。このようなロータリス
テージ25の各ステーションS1〜S8に対応する部位にはそ
れぞれ第6図に示すICユニット4を載置する金属板27が
設けられている。この金属板27は、その上面に、ICユニ
ット4を収納する凹部28と、チップ部品23を収納する凹
部29とをそれぞれ有しており、ロータリステージ25の上
面に形成された図示しない段部に嵌着されている。な
お、の金属板27は半田付着がないようにステンレス製と
されている。
The rotary stage 25 turns 45 in the counterclockwise direction (arrow direction).
It is an eight-division index that is configured to rotate at a time and stop at each of the stations S 1 to S 8 arranged at equal intervals on the table 26 for a predetermined time. A metal plate 27 on which the IC unit 4 shown in FIG. 6 is mounted is provided at each portion of the rotary stage 25 corresponding to each station S 1 to S 8 . The metal plate 27 has a recess 28 for accommodating the IC unit 4 and a recess 29 for accommodating the chip component 23 on the upper surface thereof, and is provided on a step portion (not shown) formed on the upper surface of the rotary stage 25. It is fitted. The metal plate 27 is made of stainless steel so that solder does not adhere to it.

ロータリステージ25の各金属板27下には図示しない真
空発生器とともに真空吸着装置を構成する空隙部が形成
されている。真空発生器を駆動すると空隙部内の空気が
吸引され、これによって金属板27の凹部28内に収納され
るICユニット4は金属板27に形成された吸引孔30を介し
て金属板27に真空吸着され、かつ、金属板27の凹部29内
に収納されるチップ部品23は金属板27に形成された吸引
孔31を介して金属板27に真空吸着される。この真空吸着
装置による真空吸着動作はICユニット4が金属板27に載
置されると直ちに開始され、キャリアテープ3にチップ
部品23が半田付けされた後に解除される。
Below each metal plate 27 of the rotary stage 25, a void portion which forms a vacuum suction device together with a vacuum generator (not shown) is formed. When the vacuum generator is driven, the air in the void is sucked, and the IC unit 4 housed in the recess 28 of the metal plate 27 is vacuum sucked onto the metal plate 27 through the suction holes 30 formed in the metal plate 27. The chip component 23, which is stored in the recess 29 of the metal plate 27, is vacuum-adsorbed to the metal plate 27 via the suction holes 31 formed in the metal plate 27. The vacuum suction operation by the vacuum suction device starts immediately after the IC unit 4 is placed on the metal plate 27, and is released after the chip component 23 is soldered to the carrier tape 3.

テーブル26のステーションS1には、搬送装置24と接続
するICユニットセット装置33が設置され、ステーション
S2には半田供給装置34が設置され、ステーションS3には
チップ部品搭載装置35が設置され、ステーションS4には
エアヒータ36が設置され、ステーションS6には検査装置
37が設置され、ステーションS7には搬送装置24のステー
ションS9に設置されたICユニット取り出し装置38と接続
するフォーミング装置39が設置されている。例示の場
合、ステーションS5およびS8はアイドルとなっている。
At the station S 1 of the table 26, the IC unit setting device 33 connected to the transfer device 24 is installed,
The S 2 is installed solder supply apparatus 34, the station S 3 is installed chip component mounting device 35, the air heater 36 is installed in the station S 4, the inspection apparatus in the station S 6
37 is installed, and a forming device 39 connected to the IC unit take-out device 38 installed in the station S 9 of the transfer device 24 is installed in the station S 7 . In the illustrated example, stations S 5 and S 8 are idle.

ステーションS1に設置されたICユニットセット装置33
は、矢印方向に移動可能な吸着ヘッド42により搬送装置
24で搬送されたストック箱21内のICユニット4を吸着保
持してロータリステージ25側のステージ41上に搬送し且
つ第6図に示すロータリステージ25の金属板27の凹部28
に嵌め込むようになっている。金属板27の凹部28に嵌め
込まれたICユニット4は金属板27に真空吸着されて次段
のステーションS2に送られる。
IC unit set device 33 installed in station S 1
Is a conveyance device by a suction head 42 that can move in the direction of the arrow.
The IC unit 4 in the stock box 21 transported by 24 is suction-held and transported onto the stage 41 on the rotary stage 25 side, and the recess 28 of the metal plate 27 of the rotary stage 25 shown in FIG.
It is designed to fit in. The IC unit 4 fitted in the recess 28 of the metal plate 27 is vacuum-sucked by the metal plate 27 and sent to the next station S 2 .

ステーションS2に設置された半田供給装置34は、シリ
ンダ内に半田ペースト(無酸化半田ペースト)が封入さ
れた半田塗布器と、この半田塗布器にエアパイプを介し
て接続されたディスペンサとを備えており、半田塗布器
が所定位置にセットされるとディスペンサのエアパイプ
に設けられたエアバルブが所定時間だけ開いて所要量の
半田ペースト43を第6図に示すようにロータリステージ
25に載置されたICユニット4のキャリアテープ3の半田
付け用端子9b、9b上にポッティング塗布するようになっ
ている。なお、半田塗布器はテーブル26上に設置されて
いるものである。半田ペースト43の塗布が完了したICユ
ニット4は次段のステーションS3に送られる。
The solder supply device 34 installed at the station S 2 includes a solder applicator in which a solder paste (non-oxidizing solder paste) is enclosed in a cylinder, and a dispenser connected to the solder applicator via an air pipe. When the solder applicator is set at a predetermined position, the air valve provided on the air pipe of the dispenser opens for a predetermined time and a required amount of solder paste 43 is supplied to the rotary stage as shown in FIG.
Potting is applied to the soldering terminals 9b, 9b of the carrier tape 3 of the IC unit 4 placed on the 25. The solder applicator is installed on the table 26. The IC unit 4 on which the solder paste 43 has been applied is sent to the next station S 3 .

ステーションS3に設置されたチップ部品搭載装置35
は、矢印方向に移動可能な吸着ヘッド44がテーブル26の
近傍にテープ45に配列保持されているチップ部品23を吸
着保持して、第6図に示すように、ロータリステージ25
に載置されたICユニット4の所定位置(凹部29)にセッ
トするようになっている。セットされたチップ部品23は
金属板27に真空吸着される。そして、このチップ部品23
がセットされたICユニット4は次段のステーションS4
送られる。
Chip component mounting device 35 installed at station S 3
The suction head 44 movable in the direction of the arrow sucks and holds the chip components 23 arranged and held on the tape 45 in the vicinity of the table 26, and as shown in FIG.
The IC unit 4 is placed at a predetermined position (recess 29). The set chip component 23 is vacuum-adsorbed on the metal plate 27. And this chip component 23
The IC unit 4 in which is set is sent to the next station S 4 .

ステーションS4に設置されたエアヒータ36はエアポン
プからのエアがヒータ本体に供給され、このエアをヒー
タ本体か加熱してそのノズル36aからICユニット4のキ
ャリアテープ3の半田付け用端子9b、9b上に塗布された
半田ペースト43に向けて噴射する(第6図参照)。この
エアヒータ36では420〜480℃の加熱エアを6秒間噴射す
る。加熱エアの噴射によって半田ペースト43が溶ける
と、金属板27に真空吸着されているチップ部品23のリー
ド46が半田ペースト43中に食い込み、その状態でICユニ
ット4の半田付け用端子9b、9bに半田付けされる。この
場合、ICユニット4は金属板27に吸引孔30を介して真空
吸着され密着されているので、エアヒータ36から噴射さ
れた加熱エアの余分な熱は金属板27およびロータリステ
ージ25から放熱される。チップ部品23の半田付けを終え
たICユニット4は次段のステーションS5を経てステーシ
ョンS6に送られる。
The air heater 36 installed in the station S 4 is supplied with air from the air pump to the heater main body, and this air is heated by the heater main body so that the nozzle 36a is above the soldering terminals 9b, 9b of the carrier tape 3 of the IC unit 4. It is sprayed toward the solder paste 43 applied to the (see FIG. 6). The air heater 36 injects heated air of 420 to 480 ° C. for 6 seconds. When the solder paste 43 is melted by the jet of heated air, the lead 46 of the chip component 23 that is vacuum-adsorbed on the metal plate 27 bites into the solder paste 43, and in that state, the soldering terminals 9b and 9b of the IC unit 4 are inserted. Soldered. In this case, since the IC unit 4 is vacuum-adsorbed and closely adhered to the metal plate 27 through the suction hole 30, the extra heat of the heated air injected from the air heater 36 is radiated from the metal plate 27 and the rotary stage 25. . After the soldering of the chip component 23, the IC unit 4 is sent to the station S 6 via the station S 5 in the next stage.

ステーションS6に設置された検査装置37は、キャリア
テープ3の半田付け用端子9b、9bに半田付けされたチッ
プ部品23のリード46が正しく半田付け用端子9b、9bに接
合しているか否かの導通状態をチェックするものであ
る。この検査を終えたICユニット4は次段のステーショ
ンS7に送られる。
The inspection device 37 installed in the station S 6 determines whether the leads 46 of the chip component 23 soldered to the soldering terminals 9b and 9b of the carrier tape 3 are correctly joined to the soldering terminals 9b and 9b. It is to check the conduction state of. The IC unit 4 that has completed this inspection is sent to the next station S 7 .

ステーションS7に設置されたフォーミング装置39は、
矢印方向に移動可能な吸着ヘッド47がロータリステージ
25上から吸着して取り出したICユニット4に半田付けさ
れたチップ部品23をプレス機48で所定の搭載状態にフォ
ーミングするようになっている。
The forming device 39 installed in the station S 7 is
The suction head 47 that can move in the direction of the arrow is a rotary stage.
The chip component 23 soldered to the IC unit 4 adsorbed and taken out from above 25 is formed into a predetermined mounting state by a press machine 48.

搬送装置24のステーションS9に設置されたICユニット
取り出し装置38は、矢印方向に移動可能な吸着ヘッド49
がフォーミング後のICユニット4を吸着保持して搬送装
置24上のストック箱50内に収納するようになっている。
The IC unit take-out device 38 installed at the station S 9 of the transfer device 24 is a suction head 49 that is movable in the arrow direction.
The IC unit 4 after forming is suction-held and stored in the stock box 50 on the transfer device 24.

<第2処理工程> 上記製造ラインの第2処理工程2で処理される回路基
板用のキャリアテープ5は、ポリエステル樹脂、ポリイ
ミド樹脂等の可撓性および絶縁性を有した樹脂フィルム
からなる幅広テープである。このようなキャリアテープ
5に所定の処理を行なう第2処理工程2は、キャリアテ
ープ5の両側縁部に沿ってそれぞれ送り用のスプロケッ
トの送り歯が噛合するスプロケット穴51、51を形成する
スプロケット穴形成工程2aと、キャリアテープ5の幅方
向に複数の回路パターン(整列された多数の固定接点52
aを含む)52を形成するパターン形成工程2bと、形成さ
れた回路パターン52を乾燥させるパターン乾燥工程2c
と、回路パターン52のICユニット4が接続される接続端
子52bおよび図示しないLCDが接続される接続端子52cに
接続材53を印刷する接続材印刷工程2dと、印刷された接
続材53を乾燥させる接続材乾燥工程2eと、回路パターン
52の良・不良を検査する検査工程2fと、不良品をマーキ
ングするマーキング工程2gと、上記第1処理工程1で作
成されたICユニット4を接続するICユニット接続工程2h
と、キャリアテープ5を切断する切断工程2iとからなっ
ている。この場合、パターン形成工程2bとパターン乾燥
工程2c、接続材印刷工程2dと接続材乾燥工程2e、および
検査工程2fとマーキング工程2gとICユニット接続工程2h
と切断工程2iはそれぞれ一連の工程となっている。
<Second Treatment Step> The carrier tape 5 for a circuit board treated in the second treatment step 2 of the above production line is a wide tape made of a resin film having flexibility and insulation such as polyester resin and polyimide resin. Is. The second processing step 2 of performing a predetermined process on the carrier tape 5 is a sprocket hole for forming sprocket holes 51, 51 along which the feed teeth of the sprocket for feeding mesh with each other along both side edges of the carrier tape 5. Forming step 2a and a plurality of circuit patterns (a large number of aligned fixed contacts 52 aligned in the width direction of the carrier tape 5
pattern forming step 2b for forming (including a) 52 and pattern drying step 2c for drying the formed circuit pattern 52.
And a connection material printing step 2d for printing the connection material 53 on the connection terminal 52b to which the IC unit 4 of the circuit pattern 52 is connected and the connection terminal 52c to which an LCD not shown is connected, and the printed connection material 53 is dried. Connection material drying process 2e and circuit pattern
Inspection process 2f for inspecting 52 good / defective, marking process 2g for marking defective products, and IC unit connection process 2h for connecting the IC unit 4 created in the first processing process 1 above
And a cutting step 2i for cutting the carrier tape 5. In this case, the pattern forming step 2b and the pattern drying step 2c, the connecting material printing step 2d and the connecting material drying step 2e, the inspection step 2f, the marking step 2g, and the IC unit connecting step 2h.
And the cutting step 2i are a series of steps.

まず、キャリアテープ5はスプロケット穴形成工程2a
に送られ、ここにおいてプレス機54により両側縁部にそ
れぞれスプロケット穴51、51が穿設される。キャリアテ
ープ5はこの穿設された両側縁部のスプロケット穴51、
51に噛合する送り歯を有するスプロケット(図示せず)
の回転により移送される。
First, the carrier tape 5 is a sprocket hole forming step 2a.
And the sprocket holes 51, 51 are formed on both side edges by the press machine 54, respectively. The carrier tape 5 is provided with sprocket holes 51 on both side edges,
Sprocket with feed teeth that mesh with 51 (not shown)
Is transferred by the rotation of.

次にキャリアテープ5は次段のパターン形成工程2bに
送られ、ここでパターン印刷装置55によりカーボン印刷
で回路パターン52が形成される。このパターン印刷装置
55は複数列分の回路パターン52を同時に形成することが
できる。なお、アルミニウム箔をラミネートしておきカ
ーボン印刷をした上、アルミニウム箔をエッチングして
回路パターン52を形成しても良い。又、両面基板として
も良い。キャリアテープ5に両面配線をするには針でス
ルーホールを設けて、このスルーホールにカーボンを充
填する方法が効率的である。このようにして所定列に回
路パターン52が形成されるとスプロケット(図示せず)
が回転し、次の所定列の処理がなされる。回路パターン
52が形成された所定列は連続的に次段のパターン乾燥工
程2cに送られ、パターン乾燥装置56により回路パターン
52を形成するカーボンインクが焼成され乾燥される。こ
の乾燥が終るとスプロケットが回転し、次の所定列の処
理がなされる。この場合、パターン形成工程2bとパター
ン乾燥工程2cのスプロケットによる送りは同期してい
る。
Next, the carrier tape 5 is sent to the next pattern formation step 2b, where the circuit pattern 52 is formed by carbon printing by the pattern printing device 55. This pattern printing device
55 can simultaneously form the circuit patterns 52 for a plurality of columns. The circuit pattern 52 may be formed by laminating an aluminum foil, printing the carbon, and then etching the aluminum foil. Alternatively, a double-sided substrate may be used. In order to carry out double-sided wiring on the carrier tape 5, it is effective to provide a through hole with a needle and fill the through hole with carbon. When the circuit pattern 52 is formed in a predetermined row in this way, a sprocket (not shown)
Is rotated, and the next predetermined row is processed. Circuit pattern
The predetermined row on which 52 is formed is continuously sent to the next pattern drying step 2c, and the circuit pattern is formed by the pattern drying device 56.
The carbon ink forming 52 is fired and dried. When this drying is completed, the sprocket rotates and the next predetermined row is processed. In this case, the sprocket feeding in the pattern forming step 2b and the pattern drying step 2c is synchronized.

次にキャリアテープ5は次段の接続材印刷工程2dに送
られ、ここにおいて接続材印刷装置57により一列に対し
て接続材(ホットメルト型の異方導電性接着剤)53が印
刷される。なお、この接続材53はキャリアテープ3側に
設けても良い。このようにして接続材53が印刷されると
スプロケット(図示せず)が回転し、次の列の処理がな
される。接続材53が印刷された列は連続的に次段の接続
材乾燥工程2eに送られ、接続材乾燥装置58により接続材
53が乾燥される。このようにして一列の乾燥を終えると
スプロケットが回転し、次の列の処理がなされる。この
場合、接続材印刷工程2dと接続材乾燥工程2eのスプロケ
ットによる送りは同調している。
Next, the carrier tape 5 is sent to the connecting material printing step 2d in the next stage, where the connecting material printing device 57 prints the connecting material (hot melt type anisotropic conductive adhesive) 53 on one line. The connecting material 53 may be provided on the carrier tape 3 side. When the connecting material 53 is printed in this way, a sprocket (not shown) rotates, and the processing of the next row is performed. The line on which the connecting material 53 is printed is continuously sent to the next connecting material drying step 2e, and the connecting material is dried by the connecting material drying device 58.
53 is dried. When the drying of one row is completed in this way, the sprockets rotate and the processing of the next row is performed. In this case, the sprocket feeding in the connecting material printing step 2d and the connecting material drying step 2e is synchronized.

次にキャリアテープ5は次段の検査工程2fに送られ、
ここにおいて検査装置59により一列の回路パターン52の
良・不良が検査される。この場合、検査装置59は不良品
の位置情報を後段の不良品マーキング装置60およびOLB
装置61、切断装置61に送出する。この検査を終えるとス
プロケット(図示せず)が回転し次の列の処理がなされ
る。検査を終えた列は連続的に次段のマーキング工程2g
に送られ、不良品マーキング装置60により一列の不良品
にマーキングがなされる。不良品マーキング装置60は検
査装置59からの不良品位置情報に基づきマーキングヘッ
ドを移動し、マーキング(×印)する(第4図参照)。
このマーキングはパンチでも良い。このマーキングを終
えるとスプロケットが回転し次の列の処理がなされる。
マーキングを終えた列は連続的に次段のICユニット接続
工程2hに送られ、OLB(Outer Lead Bonding)装置61に
よりICユニット4が接続材53が印刷された接続端子52b
に接続される。OLB装置61は検査装置59からの不良品情
報に基づき良品の回路パターン52部のみに上記搬送装置
24上のストック箱50内に収納されたICユニット4を接続
する。このICユニット4の接続を終えるとスプロケット
が回転し次の列の処理がなされる。ICユニット4の接続
を終えた列は連続的に次段の切断工程2iに送られ、切断
装置62によりキャリアテープ5を一列毎に切断して回路
基板ユニットを個々に分離する。切断後、不良基板と良
品回路ユニットは検査装置59からの不良品位置情報に基
づいてそれぞれ切断装置62の近傍に仕分けしてストック
される。この切断を終えるとスプロケットが回転し次の
列の処理を行なう。この場合、検査工程2fとマーキング
工程2gとICユニット接続工程2hと切断工程2iのスプロケ
ットによる送りは同調している。切断工程2iの後、良品
回路ユニットは接続端子部52cにLCDを熱圧着した上検査
を行なう。
Next, the carrier tape 5 is sent to the next inspection step 2f,
Here, the inspection device 59 inspects the row of circuit patterns 52 for good or bad. In this case, the inspection device 59 uses the defective product position information of the defective product marking device 60 and the
It is sent to the device 61 and the cutting device 61. When this inspection is completed, a sprocket (not shown) rotates and the next row is processed. The line that has been inspected continuously has the next marking step 2g
The defective product marking device 60 marks the defective products in a row. The defective product marking device 60 moves the marking head based on the defective product position information from the inspection device 59 to perform marking (mark X) (see FIG. 4).
This marking may be a punch. When this marking is completed, the sprocket rotates and the next row is processed.
The marked line is continuously sent to the next IC unit connecting step 2h, and the IC unit 4 is printed with the connecting material 53 by the OLB (Outer Lead Bonding) device 61.
Connected to. Based on the defective product information from the inspection device 59, the OLB device 61 only transfers the above-mentioned transfer device to the circuit pattern 52 of the good product.
Connect the IC unit 4 stored in the stock box 50 above 24. When the connection of this IC unit 4 is completed, the sprocket rotates and the process for the next row is performed. The row in which the IC units 4 have been connected is continuously sent to the next cutting step 2i, and the cutting device 62 cuts the carrier tape 5 row by row to separate the circuit board units. After cutting, the defective board and the non-defective circuit unit are sorted and stocked in the vicinity of the cutting device 62 based on the defective product position information from the inspection device 59. When this cutting is completed, the sprocket rotates to process the next row. In this case, the sprocket feed in the inspection process 2f, the marking process 2g, the IC unit connection process 2h, and the cutting process 2i are synchronized. After the cutting step 2i, the non-defective circuit unit performs the inspection by thermocompression bonding the LCD to the connection terminal portion 52c.

上記製造ラインの第1処理工程1で作成された第3図
のICユニット4は1個のICデバイス10およびチップ部品
23を有するものであるが、第1処理工程1では複数個の
ICデバイス10およびチップ部品23を有するICユニットを
作成することもでき、また第2処理工程2で作成された
回路基板ユニットは1個のICユニット4を有するもので
あるが、第2処理工程2では複数個のICユニット4を有
する回路ユニットを作成することもできる。
The IC unit 4 of FIG. 3 created in the first processing step 1 of the above manufacturing line is one IC device 10 and chip component.
However, in the first treatment step 1, a plurality of
An IC unit having the IC device 10 and the chip component 23 can be produced, and the circuit board unit produced in the second treatment step 2 has one IC unit 4, but the second treatment step 2 Then, it is also possible to create a circuit unit having a plurality of IC units 4.

[発明の効果] 以上説明したように、この発明に係る回路基板ユニッ
トの製造方法によれば、ICユニットを構成するフィルム
テープ(キャリアテープ)の有効面積比率を高めてICユ
ニットのコストダウンを図ることができる上、回路基板
ユニットを極めて能率的に作成することができると云っ
た実用上有益な効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the method for manufacturing a circuit board unit of the present invention, the effective area ratio of the film tape (carrier tape) forming the IC unit is increased to reduce the cost of the IC unit. Moreover, there is a practically useful effect that the circuit board unit can be manufactured extremely efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図面はそれぞれこの発明の一実施例を示し、第1図はこ
の発明による回路基板ユニットの製造方法を実施する製
造ラインの平面図、第2図は同製造ラインの第1処理工
程で作成されたICユニット用のキャリアテープの平面
図、第3図は同製造ラインの第1処理工程で作成された
ICユニットの平面図、第4図は同製造ラインの第2処理
工程で作成された回路基板用のキャリアテープの平面
図、第5図は同製造ラインの第1処理工程を構成する自
動半田付け装置の平面図、第6図は同自動半田付け装置
のロータリステージの要部を示した拡大断面図である。 1……第1処理工程、1a……ボンディング工程、1b……
ポッティング工程、1c……予備乾燥工程、1e……本乾燥
工程、1g……切断工程、1b……取り出し工程、2……第
2処理工程、2b……パターン形成工程、2h……ICユニッ
ト接続工程、2i……切断工程、3……ICユニット用のキ
ャリアテープ(第1のフィルムテープ)、4……ICユニ
ット、5……回路基板用のキャリアテープ(第2のフィ
ルムテープ)、6、51……スプロケット穴、8……フィ
ンガリード、9……接続パターン、10……ICデバイス、
52……回路パターン、52b……接続端子、53……接続
材。
The drawings each show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a plan view of a manufacturing line for carrying out the method for manufacturing a circuit board unit according to the present invention, and FIG. 2 is made in the first processing step of the manufacturing line. A plan view of the carrier tape for the IC unit, and Fig. 3 were created in the first processing step of the manufacturing line.
4 is a plan view of the IC unit, FIG. 4 is a plan view of a carrier tape for a circuit board created in the second processing step of the manufacturing line, and FIG. 5 is automatic soldering that constitutes the first processing step of the manufacturing line. FIG. 6 is a plan view of the apparatus, and FIG. 6 is an enlarged sectional view showing a main part of a rotary stage of the automatic soldering apparatus. 1 ... First treatment step, 1a ... Bonding step, 1b ...
Potting process, 1c …… preliminary drying process, 1e …… main drying process, 1g …… cutting process, 1b …… takeout process, 2 …… second processing process, 2b …… pattern forming process, 2h …… IC unit connection Process, 2i ... Cutting process, 3 ... Carrier tape for IC unit (first film tape), 4 ... IC unit, 5 ... Carrier tape for circuit board (second film tape), 6, 51 …… Sprocket hole, 8 …… Finger lead, 9 …… Connection pattern, 10 …… IC device,
52 …… Circuit pattern, 52b …… Connecting terminal, 53 …… Connecting material.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】両側縁部に沿ってスプロケット穴が設けら
れ且つおのおのが複数のフィンガリードを有する接続パ
ターンが幅方向に複数列に配列された第1のフィルムテ
ープに前記各フィンガリードに対向する電極が形成され
たICデバイスを前記各接続パターン毎にボンディングす
る工程、前記ICデバイスの電極と前記各フィンガリード
の接続部を樹脂により被覆する工程、前記被覆樹脂を乾
燥する工程、前記第1のフィルムテープを切断して少な
くとも1個のICデバイスを有する1単位毎のICユニット
に分離する工程および前記第1のフィルムテープから分
離されたICユニットの中の良品のみを所定の位置に移す
工程を含む第1処理工程と、 両側縁部に沿ってスプロケット穴が設けられた第2のフ
ィルムテープの幅方向に前記ICユニットの接続端子を有
する回路パターンを複数列設ける工程、前記ICユニット
のフィンガリードと前記回路パターンの接続端子との間
に接続材を介在して前記回路パターン毎に前記第1処理
工程から送られたICユニットを接合する工程および前記
第2のフィルムテープを切断して少なくとも1個のICユ
ニットを有する1単位毎の回路基板ユニットに分離する
工程を含む第2処理工程と、 を具備してなる回路基板ユニットの製造方法。
1. A first film tape in which sprocket holes are provided along both side edges and each of which has a plurality of finger leads and which is arranged in a plurality of rows in the width direction, faces each of the finger leads. A step of bonding an IC device having electrodes formed thereon for each of the connection patterns, a step of coating the connection part between the electrodes of the IC device and the finger leads with a resin, a step of drying the coating resin, the first step A step of cutting the film tape to separate it into an IC unit for each unit having at least one IC device, and a step of moving only non-defective products in the IC unit separated from the first film tape to a predetermined position. A first processing step including: a connecting end of the IC unit in the width direction of a second film tape having sprocket holes along both side edges. A step of providing a plurality of rows of circuit patterns having children, an IC unit sent from the first processing step for each circuit pattern with a connecting material interposed between the finger leads of the IC unit and the connection terminals of the circuit pattern. Circuit board unit comprising a step of joining the second film tape and a step of cutting the second film tape and separating the second film tape into circuit board units for each unit having at least one IC unit. Manufacturing method.
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