JP2545206Y2 - Pallets for durability testing of electrical components - Google Patents

Pallets for durability testing of electrical components

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JP2545206Y2 JP1992058054U JP5805492U JP2545206Y2 JP 2545206 Y2 JP2545206 Y2 JP 2545206Y2 JP 1992058054 U JP1992058054 U JP 1992058054U JP 5805492 U JP5805492 U JP 5805492U JP 2545206 Y2 JP2545206 Y2 JP 2545206Y2
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、高温高湿等の雰囲気下
で長時間通電させられた電気部品や電子部品の動作を検
査する際に使用されるパレットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pallet used for inspecting the operation of an electric component or an electronic component which has been energized for a long time in an atmosphere such as high temperature and high humidity.

【0002】[0002]

【従来の技術】電気部品や電子部品(以下、「電気部品
等」と称する。)は、各種条件下で使用されることが多
いため、高温、極低温、高湿等の種々の環境下で、長期
間使用できる特性を備えていなければならない。このた
め、電気部品等は、種々の環境下で耐久試験が行なわ
れ、特性や品質の改善が行なわれている。このような耐
久試験には、一般に、耐久試験用収納庫を有する試験装
置(図示省略)が使用される。耐久試験用収納庫は、電
気部品を通電状態にしておいて、高温高湿等の種々の環
境下にさらすことができるようになっている。
2. Description of the Related Art Since electric and electronic parts (hereinafter referred to as "electric parts and the like") are often used under various conditions, they can be used in various environments such as high temperature, extremely low temperature and high humidity. It must have long-term use characteristics. For this reason, endurance tests have been performed on electric components and the like under various environments to improve characteristics and quality. For such a durability test, a test apparatus (not shown) having a storage for the durability test is generally used. The storage for the durability test can be exposed to various environments such as high temperature and high humidity while keeping the electric components in a conductive state.

【0003】耐久試験用収納庫に電気部品等を収納する
とき、電気部品等は、板状の治具パレット(図示省略)
に通電できるように填め込まれた後、さらに、この治具
パレット(図示省略)をセットパレットに填め込み、間
接的にセットパレットに装着されるようになっている。
セットパレットには、複数枚の治具パレットが填め込ま
れるようになっている。従って、電気部品等は、セット
パレットに複数取付けられて耐久試験用収納庫に収納さ
れる。電気部品等の検査は、治具パレットをセットパレ
ットから外し、さらに、治具パレットから電気部品等を
外し、その電気部品等を検査テーブルに設けられた他の
パレットに装着してから行なわれる。
[0003] When electric parts and the like are stored in the storage for durability test, the electric parts and the like are placed in a plate-like jig pallet (not shown).
After the jig pallet (not shown) is inserted into the set pallet, the jig pallet (not shown) is mounted on the set pallet indirectly.
A plurality of jig pallets are set in the set pallet. Therefore, a plurality of electric components and the like are mounted on the set pallet and stored in the storage for durability test. Inspection of electric parts and the like is performed after removing the jig pallet from the set pallet, further removing the electric parts and the like from the jig pallet, and mounting the electric parts and the like on another pallet provided on the inspection table.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】ところが、このような
セットパレットや治具パレットを使用して電気部品の検
査を行なうと、電気部品等の積み替えに手間がかかり、
検査に時間を要するという問題点を有している。
However, when electrical parts are inspected using such a set pallet or a jig pallet, it takes time and effort to transfer electrical parts and the like.
There is a problem that time is required for the inspection.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本考案は、電気部品耐久
試験用パレットにおいて、電気部品等を保持する起倒自
在な電気部品ホルダーと、前記電気部品ホルダーの起き
た状態を保持するロック手段と、パレット下面に設けら
れ前記電気部品に電力を供給すべく、電源接触子に接触
する集電子と、を具えたパレットにより、前記の課題を
解決した。
According to the present invention, there is provided an electric component durability test pallet, comprising: an electric component holder capable of holding an electric component and the like; and a locking means for holding the electric component holder in an upright state. The above object has been solved by a pallet provided on the lower surface of the pallet and provided with a current collector that contacts a power supply contact so as to supply electric power to the electric component.

【0006】[0006]

【作用】パレットは、電気部品ホルダーに収められた電
気部品等に常時電力を供給し、その電気部品等の耐久試
験を電気部品耐久試験用ハウジング内で行なえるように
なっている。電気部品ホルダーは、通常、倒されてお
り、電気部品等の検査を行なうとき、電気部品等を見易
い角度に出入口から手を差し入れた検査員によって起こ
され、ロック手段によってその角度に保持される。電気
部品等の検査終了後の電気部品ホルダーは、ロック手段
のロックが解除されて倒される。
The pallet constantly supplies electric power to the electric parts and the like stored in the electric part holder, and the durability test of the electric parts and the like can be performed in the electric part durability test housing. The electrical component holder is usually tilted down, and when inspecting the electrical component or the like, the electrical component or the like is raised by an inspector who has put his hand through the doorway at an easy-to-see angle and is held at that angle by the locking means. After the inspection of the electric component or the like is completed, the lock of the lock means is released and the electric component holder is knocked down.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本考案の実施例を図1乃至図4に基づ
いて説明する。パレット10(図2参照)は、電気部品
等、例えば液晶体Lを載せたまま、耐久試験用ハウジン
グ(以下、単に「ハウジング」と称する。)20内に設
置された耐久試験用の収納庫11と検査テーブル12と
の間を搬送機13によって往復搬送されるようになって
いる。ハウジング20には、液晶体Lを検査するとき、
検査員Mが手を出し入れする液晶体出入口(出入口)4
1が形成されている。この液晶体出入口41には、公知
の自動シャッター40とエアカーテン42が取付けられ
ている。自動シャッター40は、検査員Mが液晶体出入
口41に手を接近離間させると、センサー(図示省略)
によってそのことが検知され、自動的に開閉するように
なっている。エアカーテン42は、液晶体出入口41が
開いているとき、作動するようになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. The pallet 10 (see FIG. 2) has a storage 11 for a durability test installed in a housing for a durability test (hereinafter, simply referred to as a “housing”) 20 with an electric component or the like, for example, a liquid crystal body L placed thereon. The paper is reciprocated by the transfer device 13 between the inspection table 12 and the inspection table 12. When inspecting the liquid crystal body L in the housing 20,
Liquid crystal doorway (doorway) 4 where inspector M puts in and out hands
1 is formed. A well-known automatic shutter 40 and an air curtain 42 are attached to the liquid crystal body entrance 41. When the inspector M moves his / her hand toward and away from the liquid crystal body entrance 41, the automatic shutter 40 detects a sensor (not shown).
It detects that, and opens and closes automatically. The air curtain 42 operates when the liquid crystal body entrance 41 is open.

【0008】収納庫11は、全体がハウジング20によ
って密閉され、収納庫11内は常に一定の温度(約60
度)に保たれている。収納庫11は、床Fに敷設された
長円軌道21上を循環移動するようになっている一種の
恒温槽である。さらに、収納庫11は、パレット10を
載せる棚22を複数段有している。搬送機13はテーブ
ル36にパレット10を載せ、支柱37を案内に矢印A
方向に昇降し、且つ、直線レール38を案内にして、図
1の紙面の表裏方向へ移動できるようになっている。検
査テーブル12は複数のローラ23によって移動する可
動台39を有しており、パレット10を図1において矢
印B方向に搬送できるようになっている。
The housing 11 is entirely sealed by a housing 20, and the inside of the housing 11 always has a constant temperature (about 60 ° C.).
Degree). The storage 11 is a kind of constant temperature bath that circulates and moves on an elliptical orbit 21 laid on the floor F. Further, the storage 11 has a plurality of shelves 22 on which the pallets 10 are placed. The transporter 13 places the pallet 10 on the table 36 and guides the support 37 to the arrow A.
1 and can be moved in the front and back directions on the paper surface of FIG. 1 by using the linear rail 38 as a guide. The inspection table 12 has a movable table 39 which is moved by a plurality of rollers 23, and can transport the pallet 10 in the direction of arrow B in FIG.

【0009】パレット10(図2参照)には、液晶体L
を保持する起倒自在な電気部品ホルダー25と、電気部
品ホルダー25の起きた状態を保持するロック手段26
とで構成された電気部品起倒機構27が設けられてい
る。電気部品ホルダー25はホルダースタンド28に蝶
番29,29によって起倒自在に設けられている。ホル
ダースタンド28は、パレット10のベース30に設け
られている。ストッパ32は倒れた電気部品ホルダー2
5を支える部材である。ロック手段26は、公知の機構
であり、図2に示すように伸縮自在になっている。ロッ
ク手段26は伸びた状態でロックされるようになってい
る。
The pallet 10 (see FIG. 2) includes a liquid crystal L
And a locking means 26 for holding the electrical component holder 25 in an upright state.
Is provided. The electric component holder 25 is provided on a holder stand 28 so that it can be turned upside down by hinges 29, 29. The holder stand 28 is provided on the base 30 of the pallet 10. The stopper 32 is a fallen electrical component holder 2
5 is a member for supporting. The lock means 26 is a known mechanism, and is expandable and contractable as shown in FIG. The locking means 26 is configured to be locked in an extended state.

【0010】ベース30の下面には、3枚の薄板状の集
電子31,31,31(図3参照)が設けられている。
この集電子31は、収納庫11、搬送機13、検査テー
ブル12に設けられた電源接触子(図示省略)に接触す
るようになっている。ベース30の上面には、収納庫1
1から得た約200Vの電圧を約12Vの電圧に変換す
る変圧器33が設けられている。電気部品ホルダー25
上の液晶体Lは、集電子31と変圧器33によって、常
時、通電状態に保持されている。さらに、ベース30の
上面には、液晶体Lの種々の検査を行なうときに使用さ
れるスイッチボックス34と、電気部品ホルダー25の
液晶体Lが通電状態であることを点灯によって示す表示
灯35とが設けられている。
On the lower surface of the base 30, three thin plate-shaped current collectors 31, 31, 31 (see FIG. 3) are provided.
The current collector 31 comes into contact with a power supply contact (not shown) provided on the storage 11, the transporter 13, and the inspection table 12. On the upper surface of the base 30, the storage 1
A transformer 33 is provided for converting the voltage of about 200V obtained from 1 to a voltage of about 12V. Electrical component holder 25
The upper liquid crystal body L is always kept energized by the current collector 31 and the transformer 33. Further, on the upper surface of the base 30, a switch box 34 used for performing various inspections of the liquid crystal body L, and an indicator light 35 for lighting the liquid crystal body L of the electric component holder 25 to indicate that the liquid crystal body L is energized are provided. Is provided.

【0011】次に動作を説明する。液晶体Lは、電気部
品ホルダー25に収められた状態でパレット10ごと収
納庫11に収納され高温、高湿等の種々の環境下に曝さ
れる。液晶体Lは、収納庫11内である一定の時間経過
すると、パレット10に載せられたまま、搬送機13に
よって収納庫11から取出され、検査テーブル12に送
られ、種々の検査が行なわれる。
Next, the operation will be described. The liquid crystal body L is stored in the storage 11 together with the pallet 10 in a state of being stored in the electric component holder 25, and is exposed to various environments such as high temperature and high humidity. After a certain period of time has passed in the storage 11, the liquid crystal body L is taken out of the storage 11 by the transporter 13 while being placed on the pallet 10, sent to the inspection table 12, and subjected to various inspections.

【0012】検査を行なうとき、液晶体Lは、自動シャ
ッター40を開けてハウジング20内に手を入れた検査
員Mによって、倒れている状態から電気部品ホルダー2
5とともに、起こされ、ロック手段26によって起きた
状態が保持される。なお、耐久試験用ハウジン20内の
収納庫11付近の温度は、約60度であるが、耐久試験
用ハウジン20内の空気は殆ど攪拌されておらず、液晶
体出入口41付近の温度は、約40度である。又、検査
員Mは手袋(図示省略)を着用していること、液晶体出
入口41はエアカーテン42によって外部と遮断されて
いること等によって、検査員Mの身体の安全性は保証さ
れている。
When an inspection is performed, the liquid crystal body L is moved from the fallen state to the electric component holder 2 by an inspector M who opens the automatic shutter 40 and enters the housing 20.
5, and the state raised by the lock means 26 is maintained. Although the temperature near the storage 11 in the durability test housing 20 is about 60 degrees, the air in the durability test housing 20 is hardly agitated, and the temperature near the liquid crystal body entrance 41 is about 40 degrees. In addition, the safety of the body of the inspector M is guaranteed by the inspector M wearing gloves (not shown), the liquid crystal body entrance 41 is shielded from the outside by the air curtain 42, and the like. .

【0013】液晶体Lは、起こされた状態で検査が行な
われるため、検査員Mに見易い角度で対向する。なお、
ロック手段26の伸縮長さは調整できるようになってい
るため、液晶体Lを検査員Mが最も見易い視線に対して
略々90度の角度にすることができる。検査終了後の液
晶体Lは、ロック手段26のロックを解除することによ
って電気部品ホルダー25ごと倒される。その後、ハウ
ジング20は自動シャッター40によって閉じられ、液
晶体Lはパレット10ごと搬送機13によって搬送され
収納庫11に再度収納される。
Since the inspection is performed in a state where the liquid crystal body L is raised, the liquid crystal body L faces the inspector M at an easy-to-see angle. In addition,
Since the length of expansion and contraction of the lock means 26 can be adjusted, the liquid crystal body L can be set at an angle of about 90 degrees with respect to the line of sight that the inspector M can most easily see. After the inspection, the liquid crystal body L is dropped together with the electric component holder 25 by releasing the lock of the lock means 26. Thereafter, the housing 20 is closed by the automatic shutter 40, and the liquid crystal body L is transported by the transporter 13 together with the pallet 10 and is stored again in the storage box 11.

【0014】液晶体Lは、どこの位置にあっても、パレ
ット10の下面に貼りつけられた3枚の薄板状の集電子
31が、収納庫11、搬送機13、検査テーブル12に
設けられた何れかの電源接触子に接触するようになって
いるため、常時通電状態に保持されている。なお、パレ
ット10が収納庫11、搬送機13、検査テーブル12
の間を乗り移るとき、集電子31は電源接触子から離れ
る恐れがある。このため、スイッチボックス34内に
は、バッテリ(図示省略)が収納されており、通電状態
が途切れないようになっている。又、電源接触子は収納
庫11のみに設け、パレット10が搬送機13、検査テ
ーブル12上にあるとき、電源は上記バッテリから得る
ようにしてもよい。
Regardless of the position of the liquid crystal body L, three thin plate current collectors 31 affixed to the lower surface of the pallet 10 are provided in the storage case 11, the transporter 13, and the inspection table 12. Since the power supply contacts any one of the power contacts, the power supply is always kept energized. The pallet 10 is provided with a storage 11, a transporter 13, an inspection table 12, and the like.
When moving between the current collectors, the current collector 31 may be separated from the power supply contact. For this reason, a battery (not shown) is housed in the switch box 34 so that the energized state is not interrupted. Further, the power supply contact may be provided only in the storage case 11, and when the pallet 10 is on the transporter 13 and the inspection table 12, the power may be obtained from the battery.

【0015】[0015]

【考案の効果】本考案の電気部品耐久試験用パレット
は、次の効果を奏する。 (1)電気部品等を他のパレットに移し替えることな
く、検査を行うことができるため、電気部品等の検査時
間を短縮することができる。 (2)集電子がパレット下面に取付けられているため、
被検査電気部品が収納庫、搬送機、検査テーブル等のい
づれの位置に移動しても、常時、電気部品等の通電状態
を保持することができ、検査中も耐久試験を継続したま
ま、電気部品等の検査を行うことができるばかりでな
く、パレット上面に保持されている被検査電気部品の検
査中に感電するおそれなく、検査を安全に行うことがで
きる。 (3)電気部品等は電気部品ホルダーとともに起こさ
れ、検査員の見易い角度にロック手段によって保持され
るようになっているため、電気部品等の検査を正確且つ
短時間に行うことができる。 (4)パレットの下面を利用して集電子を取付けたの
で、パレットの上面を被検査電気部品用として有効利用
できるので、パレットを小形化することが可能になる。
[Effects of the Invention] The pallet for electrical component durability test of the present invention has the following effects. (1) Since the inspection can be performed without transferring the electric parts and the like to another pallet, the inspection time of the electric parts and the like can be reduced. (2) Since the current collector is mounted on the bottom of the pallet,
Even if the inspected electrical part moves to any position such as a storage, a transporter, an inspection table, etc., the energized state of the electrical part etc. can be maintained at all times. Not only can the components be inspected, but also the inspection can be performed safely without fear of electric shock during the inspection of the inspected electrical components held on the upper surface of the pallet. (3) Since the electric component and the like are raised together with the electric component holder and are held by the lock means at an angle that is easy for the inspector to see, the inspection of the electric component and the like can be performed accurately and in a short time. (4) Since the current collector is mounted using the lower surface of the pallet, the upper surface of the pallet can be effectively used for the electric component to be inspected, so that the pallet can be downsized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】耐久試験用のパレットと、収納庫と、搬送機
と、検査テーブルとの配置関係を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an arrangement relationship among a pallet for a durability test, a storage, a transporter, and an inspection table.

【図2】本考案の電気部品起倒機構付き電気部品耐久試
験用パレットの側面図である。
FIG. 2 is a side view of the electrical component durability test pallet with the electrical component tilting mechanism of the present invention.

【図3】図2のパレットの平面図である。FIG. 3 is a plan view of the pallet of FIG. 2;

【図4】図3において電気部品ホルダーを省略したパレ
ットの正面図である。
FIG. 4 is a front view of the pallet in FIG. 3 from which electric component holders are omitted.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

L 液晶体(電気部品) M 検査員 10 パレット(電気部品耐久試験用パレット) 20 電気部品耐久試験用ハウジング 25 電気部品ホルダー 26 ロック手段 31 集電子 40 自動シャッター 41 液晶体出入口(出入口) L Liquid crystal body (electric part) M Inspector 10 Pallet (pallet for electric part durability test) 20 Housing for electric part durability test 25 Electric part holder 26 Locking means 31 Current collector 40 Automatic shutter 41 Liquid crystal body entrance / exit

フロントページの続き (72)考案者 水谷 進 大阪府大阪市鶴見区鶴見4丁目17番96号 株式会社椿本チエイン内 (72)考案者 中武 成夫 大阪市阿倍野区長池町22番22号 シャー プ株式会社内 (72)考案者 岩本 定男 東京都中央区日本橋本町二丁目1番6号 ヤマト科学株式会社内 (72)考案者 白田 彰利 神奈川県横浜市神奈川区台町13番20号カ ーサブランカビル ツバコー技研株式会 社内 (56)参考文献 特開 平4−37712(JP,A) 実公 平1−34397(JP,Y2)Continued on the front page (72) creator Susumu Mizutani 4-17-96, Tsurumi-ku, Tsurumi-ku, Osaka-shi, Osaka Inside Tsubakimoto Chain Co., Ltd. (72) Inventor Sadao Iwamoto 2-6-1 Nihonbashi Honcho, Chuo-ku, Tokyo Yamato Science Co., Ltd. (72) Inventor Akitoshi Shirata 13-20, Daimachi, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Pref. In-house (56) References JP-A-4-37712 (JP, A) JP-A-1-34397 (JP, Y2)

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 電気部品耐久試験用パレットにおいて、
電気部品等を保持する起倒自在な電気部品ホルダーと、
前記電気部品ホルダーの起立た状熊を保持するロック手
段と、パレット下面に設けられ前記電気部品に電力を供
給すべく、電源接触子に接触する集電子と、を具えた
とを特徴とする、電気部品耐久試験用パレット。
1. A pallet for an electric component durability test,
An upside-down electrical component holder that holds electrical components, etc.
Locking hand for holding the standing bear of the electric component holder
And a power supply for the electric components provided on the lower surface of the pallet.
A pallet for an electrical component durability test, comprising: a current collector that contacts a power supply contact to supply power .
JP1992058054U 1992-07-28 1992-07-28 Pallets for durability testing of electrical components Expired - Fee Related JP2545206Y2 (en)

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