JP2527354B2 - テストプログラム自動生成方法 - Google Patents
テストプログラム自動生成方法Info
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- JP2527354B2 JP2527354B2 JP63052898A JP5289888A JP2527354B2 JP 2527354 B2 JP2527354 B2 JP 2527354B2 JP 63052898 A JP63052898 A JP 63052898A JP 5289888 A JP5289888 A JP 5289888A JP 2527354 B2 JP2527354 B2 JP 2527354B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は被テスト装置の要求仕様を示すテスト仕様書
から直接テストプログラムを自動生成する方法に関し、 前記テスト仕様書とテストプログラムとの間の同一性
を常に保持できるようにし、かつ迅速に自動生成するこ
とを目的とし、 被テスト装置の複数テスト手段に対するテストプログ
ラムを実行部とデータ部に分割し、該実行部を標準化さ
れた単機能に分割し、該単機能に対応する要求仕様に対
し定形化された記述用語と該単機能に必要なデータとよ
り成る所定構文で表わしたテスト仕様書を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文
の順に記憶する手段と、 前記テスト仕様書から前記構文に従う各単機能に必要
なデータを抽出するコンパイラを介してデータを記憶す
る手段とを具え、 前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語とデー
タを組合せてテストプログラムを自動生成する構成とす
る。
から直接テストプログラムを自動生成する方法に関し、 前記テスト仕様書とテストプログラムとの間の同一性
を常に保持できるようにし、かつ迅速に自動生成するこ
とを目的とし、 被テスト装置の複数テスト手段に対するテストプログ
ラムを実行部とデータ部に分割し、該実行部を標準化さ
れた単機能に分割し、該単機能に対応する要求仕様に対
し定形化された記述用語と該単機能に必要なデータとよ
り成る所定構文で表わしたテスト仕様書を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文
の順に記憶する手段と、 前記テスト仕様書から前記構文に従う各単機能に必要
なデータを抽出するコンパイラを介してデータを記憶す
る手段とを具え、 前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語とデー
タを組合せてテストプログラムを自動生成する構成とす
る。
本発明は被テスト装置の要求仕様を示すテスト仕様書
から直接テストプログラムを自動生成する方法に関する
ものである。
から直接テストプログラムを自動生成する方法に関する
ものである。
従来、被テスト装置の要求仕様を示すテスト仕様書か
ら直接テストプログラムを自動生成する方法は全く見当
らず、僅かにその1部の段階のみに限定したものが、特
開昭60-159939号で「図式・ソースプログラム自動生成
方法」として提案されているに過ぎない。
ら直接テストプログラムを自動生成する方法は全く見当
らず、僅かにその1部の段階のみに限定したものが、特
開昭60-159939号で「図式・ソースプログラム自動生成
方法」として提案されているに過ぎない。
第6図(a),(b)はテストプログラムの自動生成
技術の説明図であり、同図(a)は従来の人の介在した
各段階における前記提案の範囲を示すものであり、同図
(b)が本発明が課題とするものを図示したものであ
る。
技術の説明図であり、同図(a)は従来の人の介在した
各段階における前記提案の範囲を示すものであり、同図
(b)が本発明が課題とするものを図示したものであ
る。
すなわち、被テスト装置に対するハードウエア仕様書
1から、その装置に要求されるテスト項目を抽出して基
本設計2を行ない、そのテスト内容をテスト仕様書とし
てまとめ、このテスト仕様書を基に細分化設計を行な
う。図示の機能設計(手順の機能分け)3から詳細設計
(手順の具体化)4を経由して製造(コーデイング)5
からテスト(デバツグ)6の手順を経てテストプログラ
ムが作成される。なお製造(コーデイング)以降でプロ
グラム改版が行なわれ、デバツグの結果アツプデートさ
れる。これらの各手順には開発関係の複数の人がそれぞ
れの専門の分野の協力を得て分担している。
1から、その装置に要求されるテスト項目を抽出して基
本設計2を行ない、そのテスト内容をテスト仕様書とし
てまとめ、このテスト仕様書を基に細分化設計を行な
う。図示の機能設計(手順の機能分け)3から詳細設計
(手順の具体化)4を経由して製造(コーデイング)5
からテスト(デバツグ)6の手順を経てテストプログラ
ムが作成される。なお製造(コーデイング)以降でプロ
グラム改版が行なわれ、デバツグの結果アツプデートさ
れる。これらの各手順には開発関係の複数の人がそれぞ
れの専門の分野の協力を得て分担している。
第6図(a)に示す従来例の各手順はそれぞれ人が介
在し、基本設計2により作成されたテスト仕様書の内容
が、各段階で忠実に受継がれ最終のテストプログラムに
至るまで同一性を保持して実現されるとは限らない。こ
の場合、何れかの段階で人的ミス等によりテスト仕様書
の内容とテストプログラムが不一致を来す場合や、テス
ト6の手順でプログラムの変更やプログラムの改版が局
部的に実施され、テスト仕様書とテストプログラムの同
一性が崩れて了うという問題点があつた。
在し、基本設計2により作成されたテスト仕様書の内容
が、各段階で忠実に受継がれ最終のテストプログラムに
至るまで同一性を保持して実現されるとは限らない。こ
の場合、何れかの段階で人的ミス等によりテスト仕様書
の内容とテストプログラムが不一致を来す場合や、テス
ト6の手順でプログラムの変更やプログラムの改版が局
部的に実施され、テスト仕様書とテストプログラムの同
一性が崩れて了うという問題点があつた。
これは局部的変更や改版に原因があるのではなく、こ
れがテスト仕様書と遊離して行なわれたこと、すなわち
テスト仕様書とテストプログラムが互に独立であること
に問題がある。
れがテスト仕様書と遊離して行なわれたこと、すなわち
テスト仕様書とテストプログラムが互に独立であること
に問題がある。
そこで、本発明者は、第6図(b)に示すように、テ
スト仕様書2に基づいて直接テストプログラムを自動生
成してテスト6の手順に達するように構成する。これに
より両者の統一性が常に保持されプログラムの変更,改
版においても同一性が崩れないようにする。
スト仕様書2に基づいて直接テストプログラムを自動生
成してテスト6の手順に達するように構成する。これに
より両者の統一性が常に保持されプログラムの変更,改
版においても同一性が崩れないようにする。
本発明の目的は、テスト仕様書とテストプログラムと
の間の同一性を常に保持できるようにし、かつ迅速に自
動生成する方法を提供することにある。
の間の同一性を常に保持できるようにし、かつ迅速に自
動生成する方法を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明においては、第1図
の概略説明図に示すように、被テスト装置の複数テスト
手段に対するテストプログラムを実行部とデータ部に分
割し、該実行部を標準化された単機能に分割し、該単機
能に対応する要求仕様に対し定形化された記述用語と該
単機能に必要なデータとより成る所定構文で表わしたテ
スト仕様書11を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文
の順に出力し記憶する手段10,13と、 前記テスト仕様書から前記構文に従う各単機能に必要
なデータを抽出するコンパイラ12を介してデータを記憶
する手段14とを具え、 前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語とデー
タを組合せてテストプログラムを自動生成することを特
徴とするものである。
の概略説明図に示すように、被テスト装置の複数テスト
手段に対するテストプログラムを実行部とデータ部に分
割し、該実行部を標準化された単機能に分割し、該単機
能に対応する要求仕様に対し定形化された記述用語と該
単機能に必要なデータとより成る所定構文で表わしたテ
スト仕様書11を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文
の順に出力し記憶する手段10,13と、 前記テスト仕様書から前記構文に従う各単機能に必要
なデータを抽出するコンパイラ12を介してデータを記憶
する手段14とを具え、 前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語とデー
タを組合せてテストプログラムを自動生成することを特
徴とするものである。
第1図の概略説明図に示すように、テスト仕様書11は
前述の構成によりソースドキユメントの機能を有するか
ら、この内容からテストデータ抽出用コンパイラ12によ
り、構文検査しIDを与えデータを呼出しデータメモリ14
に記憶する。一方、テスト実行部10からの記述用語を標
準化単機能分割して実行部メモリ13に記憶し、この両メ
モリ13,14を組合せてテストプログラムをメモリ6に出
力する。
前述の構成によりソースドキユメントの機能を有するか
ら、この内容からテストデータ抽出用コンパイラ12によ
り、構文検査しIDを与えデータを呼出しデータメモリ14
に記憶する。一方、テスト実行部10からの記述用語を標
準化単機能分割して実行部メモリ13に記憶し、この両メ
モリ13,14を組合せてテストプログラムをメモリ6に出
力する。
これによりテストプログラムの内容とテスト仕様書11の
内容とその構文に従い常に一致させることができ、プロ
グラムの変更,改版に拘らず一致が保持される。
内容とその構文に従い常に一致させることができ、プロ
グラムの変更,改版に拘らず一致が保持される。
本発明は、大別して次の3種の手順を組合せたものと
なる。第2図(a),(b)〜第5図により説明する。
なる。第2図(a),(b)〜第5図により説明する。
(1)テスト実行部の汎用化(標準化単機能分割)。
第2図は本発明の要部の構成説明図である。同図
(a)は被テスト装置の1例として、周辺装置のテスト
手段を示す。これは比較的テスト手段の数が限定され取
扱いが容易であり、たとえば共通手段として、入出力処
理,結果比較処理,エラー出力処理の3種、固有手段と
してエラー回復処理,再実行処理,ログ出力処理の3種
が考えられる。これらのテスト手段を汎用化,すなわち
標準化して単機能に分割し、処理を第2図(b)に示す
ように、「テスト実行部」と「テストデータ部」に分離
する。「テスト実行部」は第1図の同名10に相当する。
その機能は、チヤネルアドレス語(CAW)を設定し、入
出力命令を実行し、ハードウエア情報を格納することで
ある。
(a)は被テスト装置の1例として、周辺装置のテスト
手段を示す。これは比較的テスト手段の数が限定され取
扱いが容易であり、たとえば共通手段として、入出力処
理,結果比較処理,エラー出力処理の3種、固有手段と
してエラー回復処理,再実行処理,ログ出力処理の3種
が考えられる。これらのテスト手段を汎用化,すなわち
標準化して単機能に分割し、処理を第2図(b)に示す
ように、「テスト実行部」と「テストデータ部」に分離
する。「テスト実行部」は第1図の同名10に相当する。
その機能は、チヤネルアドレス語(CAW)を設定し、入
出力命令を実行し、ハードウエア情報を格納することで
ある。
「テストデータ部」は第1図のテスト仕様書11とコンパ
イラ12を含めた手順に相当する。
イラ12を含めた手順に相当する。
その機能は、データ抽出用コマンドと転送データの発生
である。
である。
そして、テスト実行部メモリ13とテストデータ部メモリ
14がそれぞれ必要なデータを参照できるようにIDを定義
した。すなわち、テスト仕様書11から呼出されたデータ
のIDに対応して、テスト実行部10が呼出される。このよ
うにして、テスト実行部10による汎用化が行なわれる。
14がそれぞれ必要なデータを参照できるようにIDを定義
した。すなわち、テスト仕様書11から呼出されたデータ
のIDに対応して、テスト実行部10が呼出される。このよ
うにして、テスト実行部10による汎用化が行なわれる。
(2)テスト仕様書の記述用語の定形化。
前項第(1)項のテスト実行部の汎用化により、テス
トデータ部からデータを抽出しテストプログラムの作成
が可能となつた。
トデータ部からデータを抽出しテストプログラムの作成
が可能となつた。
ここで、テスト仕様書11からの所要データの抽出を容
易にし、ソースドキユメントとして取扱うため、テスト
仕様書用の定形化した記述用語を定義した。第3図はこ
の記述用語の1例を示したものである。
易にし、ソースドキユメントとして取扱うため、テスト
仕様書用の定形化した記述用語を定義した。第3図はこ
の記述用語の1例を示したものである。
先頭に“”をもつ用語が定義された記述文である。
これ以外は自由に記述できるコメントである。
記述文の種類には、タイトル記述文,実行記述文,コマ
ンド記述文,データ記述文,期待値記述文等20種を定義
した。
ンド記述文,データ記述文,期待値記述文等20種を定義
した。
以下第3図の実例につき簡単に説明する。
タイトル記述文;ページの先頭にあり、64バイト以
内の英数字で記述する。最初の“2.1.1×1"はルーチン
番号である。(註)CKD(カウント部,キー部,データ
部)の意 , コメント;自由な記述である。
内の英数字で記述する。最初の“2.1.1×1"はルーチン
番号である。(註)CKD(カウント部,キー部,データ
部)の意 , コメント;自由な記述である。
実行記述文;「実行」で表わされる。
コマンド記述文;「使用コマンド」で表わす。
チヤネルコマンド語(CCW)の次に順番名(01〜08)
を付し以下コマンド名,データ名,フラグ,カウントを
並べる。
を付し以下コマンド名,データ名,フラグ,カウントを
並べる。
使用データ記述文;「使用データ」で表わす。
データ名(FMC4)=データ(בC4')のように表わ
す。
す。
期待値記述文;「結果確認」で表わす。
ここに CC;期待コンデイシヨンコード CSW1:期待ステータスを意味する。
期待値記述文;「データ比較」で表わす。
期待値データ(×DATA)=データ名のように表わす。
(3)コンパイラによるテストデータ抽出。
コンパイラは、テスト仕様書の構文と記述用語を定形
化することにより、テスト仕様書をデータソースとして
取扱うことができる。これと前記(1)項テスト実行部
の汎用化とを組合せてテストプログラムの作成が可能と
なる。
化することにより、テスト仕様書をデータソースとして
取扱うことができる。これと前記(1)項テスト実行部
の汎用化とを組合せてテストプログラムの作成が可能と
なる。
コンパイラの機能は、第4図に概略を示すように、 構文の検査;テスト仕様書の記述用語“”と
“”の間の用語の構文(文法)検査し、定形化した記
述文に誤りがあれば文法エラーとする。
“”の間の用語の構文(文法)検査し、定形化した記
述文に誤りがあれば文法エラーとする。
「呼出しID」の決定;あらかじめ用語が定義されて
いるので、要求される処理がわかり、必要なテスト実行
部の「呼出しID」の決定ができる。
いるので、要求される処理がわかり、必要なテスト実行
部の「呼出しID」の決定ができる。
テスト仕様書からのデータの検出;各記述文は、必
要なパラメータの形式が定められているので、記述文固
有のテストデータを取出し、直接計算機が処理できる数
値に変換する。
要なパラメータの形式が定められているので、記述文固
有のテストデータを取出し、直接計算機が処理できる数
値に変換する。
テストデータの生成;テスト仕様書メモリから抽出
したデータを、テストデータメモリにテスト実行部で参
照可能なデータを記憶する。
したデータを、テストデータメモリにテスト実行部で参
照可能なデータを記憶する。
第5図は、テスト仕様書からコンパイラにより得られ
たテスト実行部で参照可能なデータ例を示したものであ
る。すなわち、左側のテスト仕様書の前述した記述用語
の各記述文に対応し、コンパイラ12によりテストデータ
が「ID呼出し」で各種類毎,各項目別に抽出することが
できる。
たテスト実行部で参照可能なデータ例を示したものであ
る。すなわち、左側のテスト仕様書の前述した記述用語
の各記述文に対応し、コンパイラ12によりテストデータ
が「ID呼出し」で各種類毎,各項目別に抽出することが
できる。
従つて、第4図のコンパイラの機能説明のように、た
とえば、使用コマンドを抽出したい場合、ID(02),コ
マンド種類(SFM),アドレス(FMC4),フラグ(C
C),長さカウント(1)等が直ちに分り、テストデー
タメモリ14に記憶させることができる。
とえば、使用コマンドを抽出したい場合、ID(02),コ
マンド種類(SFM),アドレス(FMC4),フラグ(C
C),長さカウント(1)等が直ちに分り、テストデー
タメモリ14に記憶させることができる。
以上説明したように、本発明によれば、テストプログ
ラムをテスト実行部とテストデータ部に分離し、テスト
実行部を汎用化するとともに、テストデータ部としてテ
スト仕様書の記述用語を定形化しソースドキユメントと
して取扱い、コンパイラを仲介にしてデータを抽出し、
これをテスト実行部と組合せてテストプログラムを自動
生成するものである。これによりテスト仕様書とテスト
プログラムの同一性が常に保持されることになり、従来
のように、テスト仕様書とテストプログラムがそれぞれ
独立し一方が一人歩きして不一致を招くような問題が皆
無となり、開発段階のみならず、変更,改版時も常に同
一性を保つことができる。
ラムをテスト実行部とテストデータ部に分離し、テスト
実行部を汎用化するとともに、テストデータ部としてテ
スト仕様書の記述用語を定形化しソースドキユメントと
して取扱い、コンパイラを仲介にしてデータを抽出し、
これをテスト実行部と組合せてテストプログラムを自動
生成するものである。これによりテスト仕様書とテスト
プログラムの同一性が常に保持されることになり、従来
のように、テスト仕様書とテストプログラムがそれぞれ
独立し一方が一人歩きして不一致を招くような問題が皆
無となり、開発段階のみならず、変更,改版時も常に同
一性を保つことができる。
また、手順が減少するから迅速な処理が可能となり、
さらに、テスト仕様書を定形化した結果特定者以外の理
解と確認が容易となり、開発未経験者によるコーデイン
グが容易に可能となる利点がある。
さらに、テスト仕様書を定形化した結果特定者以外の理
解と確認が容易となり、開発未経験者によるコーデイン
グが容易に可能となる利点がある。
第1図は本発明の概略説明図、第2図は本発明の要部の
構成説明図、第3図はテスト仕様書の記述用語の1例説
明図、第4図はコンパイラの機能説明図、第5図はコン
パイラにより得られたテストデータの1例説明図、第6
図(a),(b)はテストプログラムの自動生成技術説
明図であり、図中、1はハードウエア仕様書、2,11はテ
スト仕様書、6はテストプログラムメモリ、10はテスト
実行部、12はテストデータ抽出用コンパイラ、13は実行
部メモリ、14はデータ部メモリを示す。
構成説明図、第3図はテスト仕様書の記述用語の1例説
明図、第4図はコンパイラの機能説明図、第5図はコン
パイラにより得られたテストデータの1例説明図、第6
図(a),(b)はテストプログラムの自動生成技術説
明図であり、図中、1はハードウエア仕様書、2,11はテ
スト仕様書、6はテストプログラムメモリ、10はテスト
実行部、12はテストデータ抽出用コンパイラ、13は実行
部メモリ、14はデータ部メモリを示す。
Claims (3)
- 【請求項1】被テスト装置の複数テスト手段に対するテ
ストプログラムを実行部とデータ部に分割し、該実行部
を標準化された単機能に分割し、該単機能に対応する要
求仕様に対し定形化された記述用語と該単機能に必要な
データとより成る所定構文で表わしたテスト仕様書(1
1)を用意し、 前記実行部の各単機能に対応する記述用語を前記構文の
順に出力し記憶する手段(10,13)と、 前記テスト仕様書から前記構文に従う各単機能に必要な
データを抽出するコンパイラ(12)を介してデータを記
憶する手段(14)とを具え、 前記構文に従い前記両記憶手段からの記述用語とデータ
を組合せてテストプログラムを自動生成することを特徴
とするテストプログラム自動生成方法。 - 【請求項2】前記テスト仕様書の記述用語が、少なくと
もタイトル記述文の外、実行記述文,コマンド記述文,
使用データ記述文および期待値記述文より成ることを特
徴とする請求項第(1)項記載のテストプログラム自動
生成方法。 - 【請求項3】前記コンパイラが、前記テスト仕様書の構
文の検査を行ない、データの呼出し識別(ID)を決定
し、仕様書からのデータの検出を行なうことを特徴とす
る請求項第(1)項記載のテストプログラム自動生成方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052898A JP2527354B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | テストプログラム自動生成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63052898A JP2527354B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | テストプログラム自動生成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01226038A JPH01226038A (ja) | 1989-09-08 |
JP2527354B2 true JP2527354B2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=12927676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63052898A Expired - Fee Related JP2527354B2 (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | テストプログラム自動生成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2527354B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2278213A (en) * | 1993-05-18 | 1994-11-23 | Ibm | Test program generator. |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0640302B2 (ja) * | 1984-01-30 | 1994-05-25 | 株式会社日立製作所 | 図式・ソ−スプログラム自動生成方法 |
JPS6170641A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-11 | Fujitsu Ltd | テストプログラム自動生成方法 |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP63052898A patent/JP2527354B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01226038A (ja) | 1989-09-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |