JP2501329Y2 - Wafer transfer robot - Google Patents

Wafer transfer robot

Info

Publication number
JP2501329Y2
JP2501329Y2 JP1990046145U JP4614590U JP2501329Y2 JP 2501329 Y2 JP2501329 Y2 JP 2501329Y2 JP 1990046145 U JP1990046145 U JP 1990046145U JP 4614590 U JP4614590 U JP 4614590U JP 2501329 Y2 JP2501329 Y2 JP 2501329Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
sensor
transfer robot
mounting stage
wafer transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1990046145U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH045393U (en
Inventor
博文 戸田
Original Assignee
関西日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 関西日本電気株式会社 filed Critical 関西日本電気株式会社
Priority to JP1990046145U priority Critical patent/JP2501329Y2/en
Publication of JPH045393U publication Critical patent/JPH045393U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2501329Y2 publication Critical patent/JP2501329Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案は、半導体製造装置に関し、特に真空管内に
おけるウェーハ搬送に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly to wafer transfer in a vacuum tube.

従来の技術 従来、この種のウェーハ搬送ロボットは、第2図に平
行図で示すように、ウェーハ検出センサ1がウェーハ搭
載ステージ2にセンサ固定金具3によって固定されてい
る。ウェーハ4は位置決め用プレート5によって位置決
めされ、プレート状のウェーハ搭載ステージ2に載って
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in this type of wafer transfer robot, a wafer detection sensor 1 is fixed to a wafer mounting stage 2 by a sensor fixing metal fitting 3, as shown in a parallel view in FIG. The wafer 4 is positioned by the positioning plate 5 and is mounted on the plate-shaped wafer mounting stage 2.

ウェーハ検出センサ1は、光の遮光の有無でウェーハ
4の有無を検知する光センサで、検知窓6を通してウェ
ーハ4が有と検知されたら、ロボットアーム7によって
所定の位置まで搬送されていた。
The wafer detection sensor 1 is an optical sensor that detects the presence or absence of the wafer 4 by the presence or absence of light shielding. When the presence of the wafer 4 is detected through the detection window 6, the robot arm 7 conveys the wafer 4 to a predetermined position.

考案が解決しようとする課題 ところで、上記の従来のウェーハ搬送ロボットは、ウ
ェーハ検出センサ1が1個のみとなっているので、ウェ
ーハ4が位置決め用プレート5にのりあげる,またはウ
ェーハ4がウェーハ搭載ステージ2上ですべってしま
い、ウェーハがウェーハ搭載ステージ2上にはあるが正
規位置にない場合でも、ウェーハ検出センサ1がウェー
ハ4を検知してしまい、ロボットアーム7によって搬送
されていた。従って、ウェーハ4がカセットに収納され
ないとか、割れてしまうとかの搬送トラブルが発生する
という欠点があった。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention By the way, since the conventional wafer transfer robot described above has only one wafer detection sensor 1, the wafer 4 is raised to the positioning plate 5 or the wafer 4 is mounted on the wafer mounting stage. Even if the wafer slips on the wafer 2 and is not on the proper position on the wafer mounting stage 2, the wafer detection sensor 1 detects the wafer 4, and the wafer is transferred by the robot arm 7. Therefore, there is a disadvantage that the wafer 4 may not be stored in the cassette or may be broken, which may cause a transportation problem.

課題を解決するための手段 この考案のウェーハ搬送ロボットは、ウェーハ搭載ス
テージのウェーハ中央部対応位置にウェーハのあること
を高感度に検出するセンサを配置し、ウェーハの外周部
対応位置にウェーハが前記ウェーハ搭載ステージの正規
位置にあるときは確実にあると検出して所定寸法浮いた
状態では検出しないような低感度なセンサを配置したこ
とを特徴とする。
Means for Solving the ProblemsThe wafer transfer robot of the present invention has a sensor for detecting the presence of a wafer at a position corresponding to the central portion of the wafer on the wafer mounting stage with high sensitivity, and the wafer is positioned at the position corresponding to the outer peripheral portion of the wafer. It is characterized by arranging a low-sensitivity sensor that detects that the wafer mounting stage is in the normal position when it is in the normal position and does not detect it when it is floating by a predetermined size.

作用 上記の構成において、中央部のセンサがウェーハの有
無を検知し、さらに外周部のセンサによって正規位置で
あるか否かが精確に判断できる。
Operation In the above configuration, the central sensor detects the presence or absence of the wafer, and the outer peripheral sensor can accurately determine whether or not the wafer is in the normal position.

すなわち、中央部センサが「有り」と検出したにもか
かわらず、外周部センサが「無し」と判定した場合は、
ウェーハがセンサの位置をはずれて大きく位置がずれて
いる場合か、さほど大きな位置ずれではないがウェーハ
搭載ステージから所定寸法をこえて浮き上がっている場
合も検出できる。
In other words, if the outer peripheral sensor determines that there is "no" even though the central sensor has detected that "there is",
It can also be detected when the wafer deviates from the position of the sensor and is largely displaced, or when the position is not so large and the wafer is lifted above a predetermined size from the wafer mounting stage.

実施例 以下、この考案について図面を参照して説明する。Embodiment Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図はこの考案の一実施例を示すウェーハ搬送ロボ
ットの平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a wafer transfer robot showing an embodiment of the present invention.

図において1a〜1eは光の遮光の有無でウェーハ4の有
無を検知する光センサ型ウェーハ検出センサ、2はウェ
ーハ搭載ステージ、3はセンサ固定金具、4はウェー
ハ、5は位置決め用プレート、6は検出窓、7はロボッ
トアームである。
In the figure, 1a to 1e are optical sensor type wafer detection sensors that detect the presence or absence of the wafer 4 by the presence or absence of light shielding, 2 is a wafer mounting stage, 3 is a sensor fixing bracket, 4 is a wafer, 5 is a positioning plate, and 6 is A detection window, 7 is a robot arm.

次に上記のウェーハ搬送ロボットについて説明する。 Next, the wafer transfer robot will be described.

ウェーハ検出センサ1aは、ウェーハ搭載ステージ2上
のウェーハ中央部に、ウェーハ検出センサ1b,1c,1d,1e
はウェーハ外周から2〜3mm内側に、センサ固定金具3
によって固定されている。ウェーハ検出センサ1aの感度
は、ウェーハ4がない状態で有と検出しないところまで
あげておき、ウェーハ検出センサ1b〜1eの感度は、ウェ
ーハ4が2〜3mm浮いた状態では検知しないように平坦
姿勢に設定される。
The wafer detection sensor 1a is located at the center of the wafer on the wafer mounting stage 2 and the wafer detection sensors 1b, 1c, 1d, 1e
Is a sensor fixing bracket 3 inside the wafer from 2 to 3 mm
Has been fixed by. The sensitivity of the wafer detection sensor 1a is raised up to the point where it is not detected as being present without the wafer 4, and the sensitivity of the wafer detection sensors 1b to 1e is flat so that it will not be detected when the wafer 4 floats 2 to 3 mm. Is set to.

ウェーハ搭載ステージ2上に平坦姿勢で載置されたウ
ェーハ4は、位置決め用プレート5によって位置決めさ
れ、検出窓6からウェーハ検出センサ1によって検出さ
れる。センサ1aによりウェーハ4があると判断されるウ
ェーハ検出センサ1のON・OFFの組合せ例を次表に示
す。
The wafer 4 placed in a flat attitude on the wafer mounting stage 2 is positioned by the positioning plate 5 and detected by the wafer detection sensor 1 through the detection window 6. The following table shows examples of combinations of ON / OFF of the wafer detection sensor 1 which is judged by the sensor 1a that the wafer 4 is present.

ウェーハ検出センサ1a〜1eの検知とその組合せから、
ウェーハ4がウェーハ搭載ステージ2上で正規位置にあ
ることが判断でき、これによってロボットアーム7によ
って次の位置までトラブルなしで搬送される。
From the detection of wafer detection sensors 1a to 1e and their combination,
It can be determined that the wafer 4 is in the regular position on the wafer mounting stage 2, and the robot arm 7 transfers the wafer 4 to the next position without trouble.

考案の効果 以上説明したように、この考案はウェーハがウェーハ
搭載ステージ上に大きい位置ずれがないことはもちろん
浮き上がりもないことを含めて正規位置で載っているこ
とを判断できることにより、次の所定位置へ搬送されて
からのウェーハ位置ずれ,ウェーハ落下,ウェーハ割れ
などのトラブルをなくすことができ、トラブル復旧時間
の短縮から生産性の向上ができる効果がある。
Effect of the Invention As described above, the present invention can determine that the wafer is mounted at the regular position including that there is no large positional deviation on the wafer mounting stage and that the wafer is not lifted up. It is possible to eliminate troubles such as wafer displacement, wafer drop, and wafer cracking after the wafer is transferred to, and it is possible to improve the productivity by shortening the trouble recovery time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの考案の実施例のウェーハ搬送ロボットの平
面図、第2図は従来のウェーハ搬送ロボットの平面図で
ある。 1……ウェーハ検出センサ、2……ウェーハ搭載ステー
ジ、3……センサ固定金具、4……ウェーハ、5……位
置決め用プレート、6……検出窓、7……ロボットアー
ム。
FIG. 1 is a plan view of a wafer transfer robot according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of a conventional wafer transfer robot. 1 ... Wafer detection sensor, 2 ... Wafer mounting stage, 3 ... Sensor fixing bracket, 4 ... Wafer, 5 ... Positioning plate, 6 ... Detection window, 7 ... Robot arm.

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of utility model registration request] 【請求項1】真空管内で使用するウェーハ搬送ロボット
において、ウェーハ搭載ステージのウェーハ中央部対応
位置にウェーハのあることを高感度に検出するセンサを
配置し、ウェーハの外周部対応位置にウェーハが前記ウ
ェーハ搭載ステージの正規位置にあるときは確実にある
と検出して所定寸法浮いた状態では検出しないような低
感度なセンサを配置したことを特徴とするウェーハ搬送
ロボット。
1. A wafer transfer robot used in a vacuum tube, wherein a sensor for highly sensitively detecting the presence of a wafer is arranged at a position corresponding to a central portion of a wafer on a wafer mounting stage, and the wafer is positioned at a position corresponding to an outer peripheral portion of the wafer. A wafer transfer robot characterized by arranging a low-sensitivity sensor that reliably detects when the wafer mounting stage is in the normal position and does not detect it when it is floating by a predetermined size.
JP1990046145U 1990-04-26 1990-04-26 Wafer transfer robot Expired - Fee Related JP2501329Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1990046145U JP2501329Y2 (en) 1990-04-26 1990-04-26 Wafer transfer robot

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1990046145U JP2501329Y2 (en) 1990-04-26 1990-04-26 Wafer transfer robot

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH045393U JPH045393U (en) 1992-01-17
JP2501329Y2 true JP2501329Y2 (en) 1996-06-19

Family

ID=31560966

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1990046145U Expired - Fee Related JP2501329Y2 (en) 1990-04-26 1990-04-26 Wafer transfer robot

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2501329Y2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60153788U (en) * 1984-03-21 1985-10-14 シャープ株式会社 Robot hand with position detection sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JPH045393U (en) 1992-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH081922B2 (en) Wafer-holding device
JP2002509368A (en) Semiconductor wafer cassette positioning and detection mechanism
TWI425590B (en) Substrate treating apparatus, and a substrate transporting method therefor
TW544381B (en) Wafer transfer system, wafer transfer method and automatic guided vehicle system
JP2006332460A (en) Wafer transfer device
JP2501329Y2 (en) Wafer transfer robot
JP2568272B2 (en) Glass substrate carrier
CN210805728U (en) Positioning and calibrating device for small-gap wafer of exposure machine
JP2908227B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment
KR100383260B1 (en) Reticle Sending Apparatus with Fork Arm having Reticle Position Sensing Ability
JPH0685038A (en) Wafer alignment and its device and transparent wafer alignment device
JPH05330649A (en) Semiconductor substrate conveyor device
JPH0831905A (en) Semiconductor manufacturing device
JPH04293250A (en) Substrate carrier
JPH09232404A (en) Wafer transportation device
JPH06263219A (en) Carrying device
KR20020068600A (en) A bake apparatus
JP2966794B2 (en) Wafer positioning device
JPS616825A (en) Positioning apparatus
JP2007173285A (en) Wafer prober apparatus and wafer inspection method
JPH0222987Y2 (en)
KR0125237Y1 (en) Wafer chuck for an etching apparatus
JPH0593044U (en) Orientation flat positioning device
KR100709563B1 (en) Transferring apparatus for wafer and transferring method for the same
JPS6184017A (en) Mask conveying device

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees