JP2024507654A - Jmz-12、ゼオライトの無秩序aei/cha系、その合成及び使用 - Google Patents

Jmz-12、ゼオライトの無秩序aei/cha系、その合成及び使用 Download PDF

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マクナマラ、ニコラス
フィリップス、ポール
ルッゲリ、マリア
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Abstract

本発明は、骨格リンを実質的に含まず、好ましくは、フッ化物イオンなどのハロゲン化物の非存在下で調製された、無秩序AEI及びCHA構造によって構築された骨格を有する、JMZ-12と称される合成結晶性材料を調製する方法に関する。かかる方法は、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの両方を有する無秩序ゼオライトを形成するのに十分な時間、結晶化条件下で反応混合物を加熱する工程を含み、反応混合物は、少なくとも1つのアルミニウム源、少なくとも1つのケイ素源、アルカリ又はアルカリ土類カチオン源、並びに少なくとも1つの四級アンモニウムカチオン源及び少なくとも1つのアルキル置換ピペリジニウムカチオン源を0.20~約1.4のモル比で含有する構造指向剤を含む。得られたゼオライトは、特に交換された遷移金属、及び任意選択的に、希土類金属と組み合わせて使用されるとき、触媒として有用である。【選択図】図1

Description

本発明は、合成結晶性材料を調製する方法に関する。具体的には、本発明は、無秩序AEI及びCHA構造によって構築された構造を有するJMZ-12と呼ばれる合成材料を調製する方法、並びにそれらの合成及び触媒組成物におけるそれらの使用に関する。
ゼオライトは、頂点で酸素原子によって結合されたSiO及びAIO四面体単位の繰り返しから構成される結晶性又は準結晶性アルミノシリカートである。四面体単位及びそれらの結合は、トポロジーとしても知られる、分子骨格を形成するために多数の方法で配置することができる様々な構成単位を形成する。これらの骨格を規則的かつ反復的な様式で結合することにより、ゼオライト中に分子寸法の結晶内空洞及びチャネルに対して作成し、このため微細多孔率を作成する。これらの分子骨格を規則的に繰り返すことから生じる空間的関係もまた、異なる結晶性形態を生じさせる。より一般的には、ホスファートなどの他の四面体構造をAIO、及び任意選択的に、SiOと組み合わせて使用して、シリコアルミノホスファート(silicoaluminophospate、SAPO)又はアルミノホスファート(aluminophosphate、AIPO)などの他のタイプのモレキュラーシーブを形成することができる。
多くのタイプの合成ゼオライトが合成されており、各々が、その四面体単位の特定の配置に基づいて、1つ以上の固有の骨格を有する。慣習により、各骨格タイプは、国際ゼオライト学会(International Zeolite Association、IZA)による固有の3文字コード(例えば、「CHA」及び「AEI」)が割り当てられる。これらのゼオライトは、秩序化されるか、又は無秩序化され得る。秩序化ゼオライト(例えば、規則的な結晶性固体)は、三次元で周期的に秩序化された結晶構造である。これらの構造は、構造の繰り返し周期構造単位(periodic building unit、PerBU)に基づいて分類され、周期的な秩序化が三次元全てにおいて生じる場合、「端部材構造」と称され得る。一方、無秩序モレキュラーシーブは、三次元未満、例えば、0次元、一次元、又は二次元の周期的秩序化を示す。無秩序構造では、PerBUの積層順序は、周期的な秩序から逸脱する。これはまた、構造的に不変なPerBUの構造的又は積層の無秩序として説明され得る。これらの無秩序は、単結晶性形態で現れる。
選択されたモレキュラーシーブは、限定されるものではないが、積層無秩序、平面欠陥、及び相の連晶を含む無秩序を有し得る。これらのタイプの無秩序は、互いに排他的ではない。積層無秩序を有する層状構造では、単一の骨格タイプが、周期的秩序から逸脱し得る。骨格構造における平面欠陥は、例えば、鏡像である平面のいずれかの側の構造(例えば、「双晶面」現象)、又は特定の平面上の結晶の一部分の別の部分に対する回転を含み得る。相の連晶は、1つの骨格構造から別の骨格構造への遷移を含み得る。ゼオライトは、任意の既知又は未知の無秩序骨格をもたらす任意の1つ以上のタイプの無秩序を含み得る。既知の無秩序骨格としては、例えば、ゼオライトベータ(BEA)及びAEI/CHA連晶が挙げられる。
ゼオライト結晶化のプロセスは、単に反応物組成物、温度及び圧力の古典的変数によって適切に説明することができない。結晶化はまた、重合-解重合、溶液-沈殿、核形成-結晶化、及び水性コロイド分散体において遭遇する他の複雑な現象を含む。特定のゼオライトトポロジーは、「テンプレート」又は「テンプレート剤」とも呼ばれる構造指向剤(directing agent、SDA)と、反応混合物化学(例えば、酸化物組成、温度、時間、試薬タイプ、及びpHなどの、反応混合物を管理する他の全ての反応パラメータ)との相互作用を前提とする。SDAは、典型的には、ゼオライトの骨格の分子形状及びパターンを導くか又は方向付ける複雑な有機分子である。概して、SDAは、水和シリカ及びアルミナを位置決めするために、かつ/又はゼオライト結晶が周囲に形成される成形型として役立つ。結晶を形成した後、SDAを結晶の内部構造から除去し、分子的に多孔質のアルミノシリカートケージを残す。
いくつかのゼオライト連晶の合成技術が知られている。例えば、米国特許第7,704,487号は、ゼオライトBEAの合成のためのテンプレートとしてジエチレントリアミンを使用することが記載されており、米国特許第5,139,759号は、ジエタノールアミン及びテトラエチルアンモニウム臭化物を用いたゼオライトベータの合成が開示される。米国特許第6,812,372号は、リン酸、アルミナ、及びシリカの存在下でテンプレートとして水酸化テトラエチルアンモニウム(TEAOH)を使用するSAPO AEI/CHA連晶の合成を記載する。米国特許第7,094,389号は、2つの異なる構造指向剤(一方はCHA骨格モレキュラーシーブの合成のためのものであり、他方はAEI骨格モレキュラーシーブの合成のためのものである)を使用する大結晶アルミノシリカートAEI/CHA連晶の合成を開示する。
モレキュラーシーブは、多くの工業的用途を有する。例えば、軽質オレフィン、特にエチレン及びプロピレンは、メタノール又はジメチルエーテルなどの酸素化有機化合物を含有する供給原料をSAPO及び/又はAIPO含有触媒と接触させることによって生成することができる。アルミノシリカートゼオライトは、内燃機関、ガスタービン、石炭火力発電所などの排気ガス中に存在するNOの選択的触媒還元(Selective Catalytic Reduction、SCR)のための触媒として使用されてきた。好ましいSCR触媒は、広い範囲の動作温度にわたって高い活性を有し、非常に高い温度にさらされた後にそれらの高い活性を維持するものである。いくつかの触媒は、特定の条件下で良好に実施され得る一方で、非常に高い温度への曝露後に高い触媒活性を達成する、より水熱的に安定で頑強なゼオライトが依然として必要とされている。
本発明は、高い触媒性能を有する改良されたゼオライト、かかるゼオライトで作製された触媒、及びかかるゼオライトを合成するための方法を提供することによって、この問題及び他の問題を解決する。
優れた触媒特性を有するゼオライトを生成する新規なゼオライト合成方法が発見された。より詳細には、本明細書全体を通してJMZ-12と呼ばれる新しい無秩序AEI/CHAゼオライトは、好ましくは、フッ化物などのハロゲン化物の非存在下で、四級アンモニウムカチオン(Q)及びアルキル置換ピペリジニウム(P)カチオンを約0.20~約1.4のモル比(Q/P)で含む、2つのSDAの組み合わせを使用して合成することができる。交換された銅を含有するとき、得られたJMZ-12ゼオライトは、銅交換CHAゼオライト及び銅交換AEIゼオライトと比較して、特に水熱エージング後に、優れたSCR触媒特性、特にNO変換率及びNO選択性を有することが見出された。
したがって、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの両方を有する無秩序ゼオライトを形成するのに十分な時間、結晶化条件下で反応混合物を加熱することを含む、ゼオライトを合成するための方法であって、反応混合物が、少なくとも1つのアルミニウム源、少なくとも1つのケイ素源、アルカリ又はアルカリ土類カチオン源、並びに少なくとも1つの四級アンモニウムカチオン(Q)源及び少なくとも1つのアルキル置換ピペリジニウムカチオン(P)源を約0.20~約1.4のモル比Q/Pで含有する構造指向剤を含む、方法が提供される。
本明細書の方法によって合成されたJMZ-12ゼオライトもまた提供される。
また、0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズを有し、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相を有する無秩序ゼオライトであって、CHAトポロジー及びAEIトポロジーが約95:5~約5:95のモル比で存在する、無秩序ゼオライトが提供される。
CHAトポロジー及びAEIトポロジーが約95:5~約5:95のモル比で存在するCHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相と、CHAリッチ表面層トポロジー及びAEIリッチ内部トポロジーと、を含む、無秩序ゼオライトもまた提供される。
また、CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在するCHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相と、表面層SAR及びバルクSARと、を含み、表面SARがバルクSARよりも低い無秩序ゼオライトが提供される。
また、NOの選択的還元のための触媒組成物であって、CHAトポロジー及びAEIトポロジーが約95:5~約5:95のモル比で存在し、0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズを有し、約10~約25のシリカ対アルミナ比(silica-to-alumina ratio、SAR)を有する、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相を有するJMZ-12ゼオライトと、銅(Cu)、鉄(Fe)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)から選択される1つ以上の交換遷移金属と、を含み、当該1つ以上の交換遷移金属、ゼオライト及び1つ以上の交換遷移金属が、約100:1~約20:1の重量比で存在する、触媒組成物が提供される。触媒組成物はまた、任意選択的に、1つ以上の希土類金属を含有し得る。
ハニカムフロースルー基材又はウォールフローフィルタの複数の壁と、当該壁の少なくとも一部分の上及び/又は内部にコーティングされたJMZ-12ゼオライト触媒と、を含む触媒物品がまた提供され、(i)JMZ-12ゼオライト触媒は、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの優勢相を有し、CHAトポロジー及びAEIトポロジーは、約95:5~約5:95のモル比で存在し、(ii)JMZ-12ゼオライト触媒は、0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズを有し、約10~約25のシリカ対アルミナ比(SAR)を有し、(iii)1つ以上の交換された遷移金属が、銅(Cu)、鉄(Fe)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)から選択され、当該1つ以上の交換された遷移金属、ゼオライト及び1つ以上の交換された遷移金属が、約100:1~約20:1の重量比で存在する。
a)実施例1、b)実施例2、c)実施例3、d)実施例4、e)実施例5の作製されたままの(SDA含有)JMZ-12試料の粉末X線回折(X-ray Diffraction、XRD)パターンを示す。 実施例2からの作製されたままのJMZ-12の走査型電子顕微鏡写真(scanning electron micrograph、SEM)を示す。 実施例2からの作製されたままのJMZ-12の13Cマジック角回転核磁気共鳴(Magic angle spinning nuclear magnetic resonance、MAS NMR)スペクトルを示し、合成に使用された両方のSDAが結晶化の終わりにゼオライト中に吸蔵されたままであることを示す。 67/33のAEI/CHA連晶比を有するJMZ-12ゼオライト(実施例2)のシンクロトロン放射光X線光電子分光法(synchrotron radiation X-ray photoelectron spectroscopy、SR-XPS)ディーププロファイリングによって決定された表面SARを示す。この試料のバルクSARは、XRFによって16と測定された。 純AEI及びCHAのものと比較した、選択された活性化JMZ-12試料(H型)の粉末X線回折(XRD)パターンを示す:a)純AEI、b)実施例2、c)実施例3、d)実施例4、e)実施例5、f)純CHA。全てのXRDパターンを水和形態で収集した。 a)AEI/CHA50/50連晶に対応する実施例3からの活性化JMZ-12と、b)CHA及びAEIゼオライトの50/50物理的混合物と、の粉末X線回折(XRD)パターンの比較を示す。両方のXRDパターンを水和形態で収集した。 NOの選択的触媒還元(Selective Catalytic Reduction、SCR)について、純銅AEI及び銅CHAゼオライトのものと比較した、新鮮な銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO変換率を示す。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅AEI及び銅CHAゼオライトのものと比較した、新鮮な銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO選択性を示す。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅AEI及び銅CHAゼオライトのものと比較した、銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO変換率を示す。全ての試料は、750℃で80時間エージングした。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅AEI及び銅CHAゼオライトのものと比較した、銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO変換率を示す。全ての試料は、900℃で5時間エージングした。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅AEI及び銅CHAゼオライトのものと比較した、新鮮な銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO選択性を示す。全ての試料は、750℃で80時間エージングした。 900℃で5時間エージングした後のNOxの選択的触媒還元(SCR)について、異なるSARを有する2つの純AEIゼオライトのものと比較した、銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO変換率を示す。 900℃で5時間エージングした後のNOxの選択的触媒還元(SCR)について、異なるSARを有する2つの純AEIゼオライトのものと比較した、銅JMZ-12(H型実施例2)についてのNO選択性を示す。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅JMZ-12(JMZ-12、H型実施例5の両方)のものと比較した、銅イットリウムJMZ-12のNO変換率を示す。両方の試料を、新鮮に、及び850℃で16時間エージングした後に試験した。 NOの選択的触媒還元(SCR)について、純銅JMZ-12(JMZ-12、H型実施例5の両方)のものと比較した、銅イットリウムJMZ-12のNO選択性を示す。両方の試料を、新鮮に、及び850℃で16時間エージングした後に試験した。
AEI及びCHAトポロジーの無秩序連晶に基づく構造を有する新規な無秩序ゼオライト系JMZ-12は、本発明の合成技術を通して得ることができる。合成技術は、典型的には、水、シリカ源、アルミナ源、並びに四級アンモニウム成分(Q)及びアルキル置換ピペリジニウム成分(P)の両方を含む2つの構造指向剤(structure directing agent、SDA)の混合物を含有する反応混合物を利用する。好ましくは、SDAのこれら2つの成分は、約0.20~約1.4のモル比Q/Pで構造指向剤中に存在する。結晶形成に好適な条件下で加熱するとき、固体無秩序AEI/CHAゼオライト結晶が得られる。
本明細書で使用される際、「ゼオライト」という用語は、開放チャネル及び交換可能なカチオンを有する結晶性又は準結晶性アルミノシリカート分子ふるいを意味する。このため、「ゼオライト」という用語は、モレキュラーシーブの特定のサブカテゴリとしてのアルミノシリカートを指し、アルミノホスファート(AIPO)、シリコアルミノホスファート(SAPO)などの他のタイプのモレキュラーシーブを含まない。
本明細書で使用される際、「CHA」という用語は、国際ゼオライト学会(IZA)構造委員会によって認められたCHAタイプトポロジー又は骨格を指し、「CHAゼオライト」という用語は、主結晶性相がCHAであるアルミノシリカートを意味する。
本明細書で使用される際、「AEI」という用語は、国際ゼオライト学会(IZA)構造委員会によって認められたAEIタイプトポロジー又は骨格を指し、「AEIゼオライト」という用語は、主結晶性相がAEIであるアルミノシリカートを意味する。
本明細書で使用される際、「無秩序AEI/CHAゼオライト」という用語は、一次結晶性相がAEI及びCHAトポロジーの組み合わせであるゼオライトを指す。
本明細書で使用される際、「AEI/CHAゼオライト連晶」という用語は、超顕微鏡的スケール(すなわち、100nm未満)で、単結晶性相内に又は単結晶性形態として、CHAトポロジーの領域及びAEIトポロジーの領域を有する無秩序AEI/CHAゼオライトを指す。
各連晶相の相対的割合は、X線回折によって、特に、観察されたパターンを、スタッキング無秩序の影響をシミュレートするためのアルゴリズムを使用して生成された計算パターンと比較することによって、分析することができる。DIFFaXは、平面欠陥を含む結晶から強度を計算するための数学モデルに基づくフォートランコンピュータプログラムである(Treacy,M.M.J.;Newsam,J.M.;Deem,M.W.:A general recursion method for calculating diffracted intensities from crystals containing planar faults.Proc.R.Soc.London Ser.A433(1991)499-520)。DIFFaXは、ランダムに連晶した相の粉末XRDパターンをシミュレートするために、国際ゼオライト協会によって選択された、同協会から入手可能なシミュレーションプログラムである(国際ゼオライト協会の構造委員会を代表して出版された「Collection of Simulated XRD Powder Patterns for Zeolites」,Fifth Revised Edition,Elsevier,2007を参照されたい)。DIFFaXは、ゼオライトベータ(Treacy et al.1991)、非常に多くの特許におけるAEI-CHA連晶、ゼオライト及び他の材料における多くの他の連晶を理論的に研究するために使用されてきた。
所望の結晶化が完了した後、ゼオライト結晶を含有する固体沈殿物を、母液から分離することができ、次いで母液を廃棄又は再循環させることができる。好ましくは、分離されたゼオライト結晶は、それらの結晶構造から残留SDAを除去するために処理され、続いて、洗浄、精製、乾燥、焼成、及び調整などの1つ以上の追加の処理ステップが続き、所望の物理的及び化学的特性を有する無秩序AEI/CHAゼオライト材料(JMZ-12系)を生成する。追加の処理工程は、アンモニウム又はプロトン形態のJMZ-12ゼオライトを生成するための非金属イオン交換を含み得る。JMZ-12ゼオライトはまた、触媒性能を更に増強するために、イオン交換を介する触媒活性金属の組み込みなどの合成後処理を受けることができる。
SDAのアルキル置換ピペリジニウム(P)成分は、好ましくは、環窒素に結合した2つのアルキル基及び環の-2-、-3-、又は-6-位に1つ又は2つの追加のアルキル基を有するピペリジニウムである。好ましくは、アルキル基は、メチル、エチル、又はこれらの組み合わせである。例えば、好適なアルキル置換ピペリジニウム化合物としては、非ハロゲン化物形態のN,N-ジメチル-3,3-ジメチルピペリジニウム、N,N-メチルエチル-3,3-ジメチルピペリジニウム、N,N-ジメチル-2-メチルピペリジニウム、N,N-ジメチル-2,6-ジメチルピペリジニウム、N,N-ジエチル-2,6-ジメチルピペリジニウム、N-エチル-N-メチル-2,6-ジメチルピペリジニウム、及びこれらの組み合わせが挙げられる。最も好ましくは、アルキル置換ピペリジニウムは、水酸化N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウム(N,N-dimethyl-3,5-dimethylpiperidinium hydroxide、3,5-DMDMPOH)である。好ましくは、アルキル置換ピペリジニウム成分は、ハロゲン化物形態ではなく、例えば、N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウムフッ化物、N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウム臭化物、N,N-ジメチル3,5-ジメチルピペリジニウムヨージド、又はN,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウム塩化物ではない。
SDAの四級アンモニウム成分(Q)は、好ましくは、非環状であり、より好ましくは、テトラアルキルアンモニウム化合物、例えば、水酸化テトラエチルアンモニウム(tetraethyl ammonium hydroxide、TEAOH)又は酢酸テトラエチルアンモニウムである。最も好ましくは、テンプレートは、水酸化テトラエチルアンモニウムである。好ましくは、四級アンモニウム成分は、ハロゲン化物形態ではなく、すなわち、テトラエチルアンモニウムフッ化物、テトラエチルアンモニウム臭化物、又はテトラエチルアンモニウム塩化物ではない。
SDAのアルキル置換ピペリジニウム成分(P)及び四級アンモニウム(Q)成分は、好ましくは、約0.20~約1.4のモル比Q/Pで存在する。例えば、アルキル置換ピペリジニウムに対する四級アンモニウムのモル比は、0.30、0.45、0.63、1などであり得る。四級アンモニウム対アルキル置換ピペリジニウムのモル比を調整して、純AEI構造とCHA構造との間に異なる程度の無秩序を含有するゼオライトのJMZ-12系の異なるメンバーを達成することができることが見出された。例えば、比較的多量の3,5-DMDMPOHは、AEIリッチ無秩序ゼオライトを生じさせ、比較的多量のTEAOHは、CHAリッチ無秩序ゼオライトを生じさせる。しかしながら、これらの範囲外のモル比は、連晶以外のゼオライト組成物を形成する傾向がある。
JMZ-12を形成するために使用される反応混合物は、好ましくは、フッ素を含む、ハロゲン化物を含まないか、又は実質的に含まない。ハロゲン化物を実質的に含まないJMZ-12ゼオライトは、1ppm未満のハロゲン化物を有する。ハロゲン化物を含まないJMZ-12ゼオライトは、0.5ppm未満のハロゲン化物を有するか、又は検出可能なハロゲン化物を有しない。合成媒体及び/又は得られるゼオライト結晶中のフッ素又は他のハロゲン化物の存在は、反応性混合物又は中間生成物中に存在し得る、フッ化水素酸又はフッ素化誘導体の高い腐食性及び危険な性質に起因して、ほとんどの工業用途において不利である。フッ素などのハロゲン化物の存在はまた、結晶格子へのアルミニウムの取り込みを妨げるフッ素イオンに起因して、得られる無秩序ゼオライトの所望のシリカ対アルミナ比(SAR)に悪影響を及ぼす可能性がある。高SARゼオライトは、より熱的に安定となる傾向があるが、低レベルの利用可能なアルミナ部位は、銅などの触媒活性金属の導入及び安定化を制限する。このため、格子内のアルミニウムの量が少ないと、排気ガス中のNOの選択的触媒還元(SCR)などの用途のための効率的な銅交換JMZ-12ゼオライト触媒の調製が防止され得る。
JMZ-12を形成するために使用される反応混合物は、好ましくは、リン源を含まないか、又は実質的に含まない。骨格リンを実質的に含まないJMZ-12ゼオライトは、1ppm未満のリンを有する。骨格リンを含まないJMZ-12ゼオライトは、0.5ppm未満のリンを有するか、又は検出可能なリンを有しない。本発明のゼオライトは、シリコアルミノホスファート(SAPO)ではなく、したがって、それらの骨格に感知可能な量のリンを有していない。すなわち、ゼオライト骨格は、規則的な繰り返し単位としてはリンを有しておらず、並びに/又は材料の基本的な物理的特性及び/若しくは化学的特性に、特に広い温度範囲にわたってNOxを選択的に還元する材料の容量に関して、影響を及ぼす量のリンを有していない。
好適なシリカ源としては、限定するものではないが、ケイ酸ナトリウム、ヒュームドシリカ、シリケート、沈降シリカ、コロイド状シリカ、シリカゲル、シリカヒドロゲル、ケイ酸、テトラアルキルオルトシリカート、15未満、好ましくは、10未満のSARを有するアルミノシリカートゼオライト、脱アルミニウム化ゼオライトYなどの脱アルミニウム化ゼオライト、並びにシリコンヒドロキシド及びアルコキシドが挙げられる。ゼオライトがシリカ源である場合、カチオンタイプは、ナトリウムタイプ(Naタイプ)、プロトンタイプ(Hタイプ)及びアンモニウムタイプ(NHタイプ)からなる群から選択される少なくとも1つのタイプであり得、プロトンタイプが好ましい。高い相対収率をもたらすシリカ源が好ましい。
好適なアルミナ源としては、アルミン酸ナトリウム、アルミナート、アルミナ、ゼオライト、アルミニウムコロイド、ベーマイト、シュードベーマイト(pseudo-boehmite)、アルミニウムヒドロキシド、アルミニウムスルファート及び塩化アルミナなどのアルミニウム塩、アルミニウムヒドロキシド及びアルコキシド、並びにアルミナゲルが挙げられる。好ましくは、アルミナ源は、アルミノシリカートゼオライト又はその誘導体である。好ましいゼオライトとしては、フォージャサイト(faujasite、FAU)、ゼオライトY、及びゼオライトXが挙げられ、FAUが最も好ましい。好ましくは、これらのゼオライトのシリカ対アルミナモル比は、約2~約20、より好ましくは、約2~約10、最も好ましくは、約5~約10であるべきである。ゼオライトがアルミナ源である場合、カチオンタイプは、ナトリウムタイプ(Naタイプ)、プロトンタイプ(Hタイプ)及びアンモニウムタイプ(NHタイプ)からなる群から選択される少なくとも1つであり得、プロトンタイプが好ましい。高い相対収率をもたらすアルミナ源が好ましい。
シリカ源及びアルミナ源の両方は、ゼオライトからのものであり得、つまりシリカ源は、高いSAR(例えば、100より大きい)を有するゼオライト、及びアルミナ源は、低いSAR(例えば、10より低い)を有するゼオライトである。組み合わせて使用されるアルミナ及びシリカ源の他の例としては、FAUなどのゼオライトアルミナ源、並びにケイ酸ナトリウム、ヒュームドシリカ、及びコロイド状シリカから選択されるシリカ源が挙げられる。
反応混合物は、好ましくは、ナトリウム、カリウム、セシウム及びリチウムから選択される1つ以上の金属などのアルカリ金属源を含む。アルカリ金属の形態は、例えば、水酸化物(例えば、水酸化ナトリウム(NaOH)又は水酸化カリウム(KOH))、酸化物(例えば、酸化ナトリウム(NaO)又は酸化カリウム(KO))、カルボナート、スルファート、ニトラート、アセタート、シリカート、アルミナート、カルボン酸の塩、及びこれらの2つ以上の組み合わせであり得る。好ましい供給源としては、NaOHなどのアルカリ金属水酸化物、並びに酸化ナトリウム(NaO)及び酸化カリウム(KO)などのアルカリ金属酸化物が挙げられる。アルカリ金属はまた、アルミナ源として使用されるとき、ゼオライトを介して供給され得る。追加的に、シリカ源及びアルミナ源がアルカリ金属を含有するとき、そのアルカリ金属はまた、アルカリ源を兼ねてもよい。好ましくは、アルカリ金属成分は、ハロゲン化物の形態ではなく、すなわち、ナトリウム、カリウム、セシウム及びリチウムフッ化物、臭化物、塩化物ではない。
水として精製水が使用され得るが、各原料はまた、水溶液の形態で使用されてもよい。
反応混合物は、好ましくは、以下の組成を有する:
・ 約10~約100、例えば、約55~約75のアルミナに対するシリカのモル比(SiO/Al比);
・ 約0.01~約0.5、例えば、約0.01~約0.3のシリカに対するアルカリ金属酸化物のモル比(XO/SiO比、X=Na、K、Cs、Li);
・ 約0.01~約0.5、例えば、約0.05~約0.2のシリカに対するSDAのモル比(SDA/SiO比);
・ 約0.1~約0.9、例えば、約0.6~約0.8のシリカに対するOHのモル比(OH/SiO比);
・ 約3~約25、例えば、約5~約15のシリカに対する水(HO)のモル比(HO/SiO比)。
JMZ-12ゼオライトの結晶は、静的又は動的条件下で、100℃~200℃、好ましくは、120~175℃の温度で、0.5日間~10日間、好ましくは、18~96時間、オートクレーブ又は他の密閉容器内で好ましくは実施される水熱合成プロセスによって形成される。
好ましくは、反応混合物は、残留アルミナ源をほとんど又は全く有しない高純度無秩序ゼオライトをもたらす。例えば、結晶化プロセスは、好ましくは、ゼオライト骨格に組み込まれるアルミナ源の90~100重量パーセント、例えば、95~99重量パーセントを消費する。このため、反応混合物及び得られるゼオライト結晶は、FAUゼオライトなどのアルミナ系不純物を含まないか、又は実質的に含まない可能性がある。例えば、得られたJMZ-12系ゼオライトの無秩序AEI/CHAメンバーは、5重量%未満のFAUゼオライト、好ましくは、1重量パーセント未満のFAUゼオライト、更により好ましくは、0.1重量パーセント未満のFAUゼオライトを有することができる。
好ましくは、結晶化工程は、かかる結晶が、例えば、所望の無秩序ゼオライトの代わりにAEI及びCHAゼオライトの物理的混合物の形成を促進することによって、得られるJMZ-12ゼオライトの純度を低下させ得るため、AEI又はCHA種結晶の使用を含まない。
沈殿したゼオライト結晶は、任意の周知の分離技術、例えば、デカンテーション、濾過、限外濾過、遠心分離又は任意の他の固液分離技術、及びこれらの組み合わせによって回収することができる。好ましい分離方法としては、真空濾過などの機械的分離が挙げられる。次いで、回収された固体は、脱イオン水又は精製水ですすがれ、高温で数時間乾燥させることができる。乾燥工程は、真空下又は大気圧下で実施され得る。
乾燥工程では、結晶化工程後又は洗浄工程後のゼオライトから水分を除去する。乾燥工程の条件は、任意であるが、一例は、結晶化工程後又は洗浄工程後のゼオライトを、50℃以上150℃以下の温度における環境において少なくとも2時間、例えば、4~24時間放置することにより乾燥させることである。
本発明のプロセスは、材料を25℃超、好ましくは、100℃~1000℃の温度に、好ましくは約1~25時間の範囲の期間にわたって加熱するなど、ゼオライト空洞の内部に保持された有機含有物(例えば、SDA又はSDAの副生成物)を除去するか又は抽出するための1つ以上の工程を更に含み得る。
ゼオライト材料は、好ましくは、酸素含有環境、例えば、空気中で、約450~600℃、好ましくは、約500~550℃の温度で、約2~10時間、例えば、約5~7時間焼成され得る。
結晶化後、JMZ-12ゼオライトは、そのイオン交換部位においてアルカリ金属イオンなどの金属イオンを有し得る。任意のイオン交換工程では、アルカリ金属イオンは、アンモニウムイオン(NH )又はプロトン(H)などの非金属カチオンと交換される。アンモニウムイオンへのイオン交換は、ゼオライトを硫酸アンモニウム水溶液に混合し、続いて撹拌することにより実施され得る。更に、プロトンへのイオン交換は、ゼオライトをアンモニアでイオン交換した後、焼成することによって実施され得る。
上述の合成技術に加えて、本発明は、少なくとも2つの異なる小細孔トポロジー、特に、CHA及びAEIを有する新規な無秩序ゼオライトに関する。これらの無秩序AEI/CHAゼオライト(JMZ-12系の材料)は、CHAトポロジー対AEIトポロジーの全体比が、約5:95~約95:5、好ましくは、約60:40~40:60である結晶を含む。例示的な実施形態では、AEI:CHAのモル比は、約5:95~約95:5の範囲であり得る。他のトポロジー比の例としては、10:90、15:85、20:80、25:75、30:70、40:60、50:50、60:40、70:30、75:25、80:20、85:15、及び90:10が挙げられる。組成物のトポロジーモル比は、X線回折(XRD)分析などの分析技術によって決定することができる。特に、組成物のトポロジーモル比は、各試料について脱水H形態で収集されたX線回折パターンのDIFFaX分析によって決定することができる。
本明細書において説明される合成方法は、高純度のJMZ-12結晶を生成することができ、好ましくは、相純粋である。本明細書で使用される際、「純相(pure phase)」という用語は、AEI及びCHAがともにゼオライトのトポロジーの少なくとも95モルパーセントを構成する無秩序AEI/CHAゼオライト(JMZ-12)を意味する。例えば、JMZ-12は、少なくとも95モルパーセント、又は更には少なくとも97モルパーセントのAEI及びCHA骨格を含有する。特定の実施形態では、JMZ-12は、他の結晶性相及び骨格を実質的に含まない。例えば、本明細書において説明された方法によって合成されたJMZ-12結晶は、MOR、FAU、GME、AFX、AFT、及びLEVなどの骨格を実質的に含まない可能性がある。本明細書で使用される際、「実質的に含まない」という用語は、JMZ-12がCHA又はAEI以外のゼオライト骨格を1パーセント未満含有することを意味する。
本明細書で使用される際、SARは、合成されたゼオライト結晶を指し、出発合成ゲルを指さない。ゼオライトのSARは、従来の分析によって決定され得る。この比は、ゼオライト結晶の剛性原子骨格における比について可能な限り近いこと、及びチャネル内での、結合剤中の、又はカチオン形態若しくは他の形態のケイ素又はアルミニウムを除外することを意図する。結合剤材料、特にアルミナ結合剤と組み合わされた後のゼオライトのシリカ対アルミナ比(SAR)を直接測定することは困難であり得るので、これらのシリカ対アルミナ比は、SARゼオライト自体、すなわち、ゼオライトを他の触媒成分と組み合わせる前に対するものである。
無秩序JMZ-12結晶は、約10~約25、例えば、約12~約18、約14~約16、約10~約13、又は約21~約25のバルクシリカ対アルミナ比(SAR)を有し得る。本明細書で使用される際、「バルクSAR」という用語は、結晶又は全体として採取された結晶の試料のSARを意味する。ゼオライトのバルクSARは、その表面層SARと区別することができる。
JMZ-12結晶は、結晶の内部のSAR又はバルクSARよりも低い表面層シリカ対アルミナ比(SAR)を有し得る。本明細書で使用される際、「表面層」という用語は、外側平面から約2nm~約12nmの特定の深さまでのゼオライトの層を意味する。例えば、結晶の表面層は、結晶の外側平面から2nm、4nm、6nm、8nm、10nm、又は12nmの深さまでの層である。
表面層SAR対バルクSARの比は、約0.4~約0.95、例えば、約0.5~0.7又は約0.8~約0.90であり得る。例えば、結晶は、約5~約15の表面層SAR及び約12~約18のバルクSARを有し得る。他の例は、約5~8の表面層SAR及び約13~16のバルクSAR、又は約12~14の表面層SAR、及び約14~18のバルクSARを含む。
JMZ-12結晶は、0.5マイクロメートル以下、例えば、約0.2マイクロメートル以下、約0.1マイクロメートル以下、約0.05~約0.5マイクロメートル、約0.05~0.1マイクロメートル、又は約0.1~約0.25マイクロメートルである、d50結晶サイズを有することができる。より好ましくは、JMZ-12ゼオライト結晶は、0.5マイクロメートル以下、例えば、約0.2マイクロメートル以下、約0.1マイクロメートル以下、約0.05~約0.5マイクロメートル、約0.05~0.1マイクロメートル、又は約0.1~約0.25マイクロメートルである、d90結晶サイズを有する。JMZ-12結晶は、上記で説明されるように、d50及びd90値の両方を有し得る。
結晶サイズは、個々の結晶、好ましくは、立方晶又は正方晶に基づく。結晶サイズは、三次元結晶の最長対角線の長さである。結晶サイズの直接測定は、SEM及びTEMなどの顕微鏡法を使用して実施することができる。例えば、SEMによる測定は、高倍率(典型的には、1000倍~100,000倍)で材料の形態を調べることを含む。SEM法は、個々の粒子が1000倍~100,000倍の倍率における視野にわたって適度に均一に広がるように、好適なマウント上にゼオライト粉末の代表的な部分を分布させることによって実施することができる。この集団から、ランダムな個々の結晶の統計的に有意な試料(例えば、50~200)を検査し、個々の結晶の最長対角線を測定し、記録する。(明らかに大きい多結晶性凝集体である粒子は、測定に含めるべきではない。)これらの測定に基づいて、試料結晶サイズのd50及びd90が計算される。
JMZ-12ゼオライトは、触媒及び/又は吸着剤として使用することができる。触媒組成物の好ましい例では、1つ以上の触媒的に活性な金属又は他の方法で触媒組成物の性能を改善する金属(集合的に、「増強金属」)が、JMZ-12に交換される。増強金属の交換は、初期湿潤(incipient wetness)、固体状態イオン交換を介してゼオライト合成後に、又はウォッシュコートスラリーの調製中に、又は反応混合物への増強金属の添加による合成ステップ中にその場で達成することができる。上述の金属のうちのいずれか1つを、他の方法のいずれかと組み合わせて使用して、例えば、2つ以上の増強金属をゼオライトに組み込むことができる。
好ましくは、増強金属は、非骨格金属である。本明細書で使用される際、「非骨格金属」は、ゼオライト細孔内及び/又はゼオライト表面の少なくとも一部分上に、好ましくは、イオン種として存在し、アルミニウムを含まず、モレキュラーシーブの骨格を構成する原子を含まない金属である。好ましくは、増強金属の存在は、NO還元、NH酸化、及びNO貯蔵などのプロセスを含む、ディーゼルエンジンからの排気ガスなどの排気ガスの処理を容易にする。
強化金属には、銅(Cu)、鉄(Fe)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)などの特定の遷移金属が挙げられ、銅及び/又は鉄が好ましく、銅が最も好ましい。特定の増強金属は、金(Au)及び銀(Ag)などの貴金属、並びに白金(Pt)、パラジウム(Pd)、ルテニウム(Ru)、及びロジウム(Rh)などの白金族金属である。追加的に、増強金属は、セリウム(Ce)、プラセオジム(Pr)、ネオジム(Nd)、ユーロピウム(Eu)、エルビウム(Er)、ガドリニウム(Gd)、イッテルビウム(Yb)、及びイットリウム(Y)などの1つ以上の希土類金属であり得、これらは、特に遷移金属と組み合わせて使用されるとき、触媒性能を改善するために使用することができる。(イットリウムは遷移金属として説明することができるが、本明細書ではそのランタニド様特性に起因して希土類金属と呼ぶ。)好ましい希土類金属としては、イットリウム及びエルビウムが挙げられる。特定の例では、JMZ-12ゼオライト触媒は、1つ以上の希土類金属と組み合わせて1つ以上の遷移金属を使用する。
好ましくは、遷移金属は、イオン交換プロセスを介する合成後にJMZ-12ゼオライトに組み込まれる。希土類金属は、好ましくは、JMZ-12にその場で、合成後に、又はその両方で組み込まれる。例えば、セリウム及びイットリウムは、合成後のイオン交換によってゼオライトに組み込むことができる。代替的に、イットリウムは、その場で組み込まれてもよく、セリウムは合成後のイオン交換によって組み込まれ得る。特に排気ガスの処理のための好ましい触媒としては、交換された銅及び交換されたイットリウムを有するJMZ-12、交換された銅及び交換されたセリウムを有するJMZ-12、交換された銅、交換されたイットリウム、及び交換されたセリウムを有するJMZ-12、又は交換された銅、交換されたセリウム、及びその場で組み込まれたイットリウムを有するJMZ-12が挙げられる。
2つ以上の増強金属がJMZ-12ゼオライト触媒中に存在するとき、それらの金属の各々は、独立して、ゼオライト結晶内の異なる場所において局所的に濃縮され得るか、又は結晶内に濃度勾配を有し得る。例えば、JMZ-12ゼオライト触媒は、外部ゾーンに対して結晶の内部ゾーンにおいて相対的に高い濃度のイットリウム及び/若しくはエルビウムを有し得るか、内部ゾーンに対して結晶の外部ゾーンにおいて相対的に高い濃度の銅及び/若しくはセリウムを有し得るか、又はその両方であり得る。本明細書で使用される際、ゼオライト結晶の「内部ゾーン」とは、結晶の内部50体積%を意味し、ゼオライト結晶の「外部ゾーン」とは、結晶の外部50体積%を意味する。例えば、イットリウムは、約60:40、約70:30、約80:20、又は約90:10の比でJMZ-12結晶の内部ゾーン及び外部ゾーン内に存在し得る。エルビウムは、約60:40、約70:30、約80:20、又は約90:10の比でJMZ-12結晶の内部ゾーン及び外部ゾーン内に存在し得る。銅は、約60:40、約70:30、約80:20、又は約90:10の比でJMZ-12ゼオライト結晶の外部ゾーン及び内部ゾーン内に存在し得る。鉄は、約60:40、約70:30、約80:20、又は約90:10の比でJMZ-12ゼオライト結晶の外部ゾーン及び内部ゾーン内に存在し得る。セリウムは、約60:40、約70:30、約80:20、又は約90:10の比でJMZ-12結晶の外部ゾーン及び内部ゾーン内に存在し得る。
1つ以上の増強金属は、好ましくは、ゼオライトの総重量に基づいて、約0.1~約10重量パーセント(重量%)、例えば、約0.5重量%~約5重量%、約0.5~約1重量%、約1~約1.5重量%、約1~約2重量%、約1~約5重量%、約2.5重量%~約3.5重量%、及び約3.5~約5重量%の濃度で無秩序ゼオライト材料中に存在する。2つ以上の増強金属を利用する実施形態では、各金属は、独立して、上記の量で存在することができる。
銅、鉄、又はこれらの組み合わせを利用する触媒は、好ましくは、JMZ-12ゼオライトの総重量に基づいて、約1~約5重量パーセント、より好ましくは、約2.5~約4.5重量パーセントのJMZ-12ゼオライト材料中の遷移金属の濃度を有する。銅及びイットリウムなどの希土類金属を利用する触媒は、JMZ-12ゼオライトの総重量に基づいて、好ましくは、約1~約5重量パーセント、より好ましくは、約2.5~約3.5重量パーセントの銅濃度、及び約2重量パーセントの希土類金属濃度を有する。
イットリウム及び/又はエルビウムを利用する触媒は、好ましくは、JMZ-12ゼオライトの総重量に基づいて、約0.05~約3重量パーセント、例えば、約0.1~1重量パーセント、約0.5~2重量パーセント、又は約1~2重量パーセントのJMZ-12中のこれらの金属の濃度を有する。特定の実施形態では、イットリウム及び/又はエルビウムは、ゼオライトに交換される遷移金属の性能を増強させるために使用される。好ましくは、イットリウム及び/又はエルビウムの存在は、JMZ-12に交換される、銅などの遷移金属の量において少なくとも比例した還元を可能にする一方で、より高い担持量でゼオライトに交換される銅のみを有するJMZ-12ゼオライトと比較して、同様の触媒性能を依然として達成する。
触媒材料中のセリウム濃度は、約25~約550g/ftであり得る。Ceの他の範囲は、100g/ft以上;200g/ft以上;300g/ft以上;400g/ft以上;500g/ft以上;約75~約350g/ftであり、最大約300g/ft、及び約100~約250g/ftを含む。
特定の実施形態では、Ceの濃度は、金属促進ゼオライト上での交換に利用可能な理論最大量を超過する。このため、いくつかの実施形態では、Ceは、Ceイオン、モノマーセリア、オリゴマーセリア、及びこれらの組み合わせなどの2つ以上の形態で存在するが、但し、当該オリゴマーセリアは、例えば、5μm未満であり、1μm未満、約10nm~約1μm、約100nm~約1μm、約500nm~約1μm、約10~約500nm、約100~約500nm、及び約10~約100nmの平均結晶サイズを有する。本明細書で使用される際、「モノマーセリア」という用語は、ゼオライト上及び/若しくはゼオライト内で遊離しているか、又はゼオライトに弱く結合している個々の分子又は部分としてのCeOを意味する。本明細書で使用される際、「オリゴマーセリア」という用語は、ゼオライト上及び/若しくはゼオライト内で遊離しているか、又はゼオライトに弱く結合しているナノ結晶性CeOを意味する。
特定の例では、触媒組成物は、特定の触媒的に活性な若しくは増強する金属又は金属不純物を本質的に含まない。触媒的に活性な又は増強する金属に関して、「本質的に含まない」という用語は、材料が、感知できる量の特定の金属を有しないことを意味する。すなわち、特定の金属は、特に、NOを選択的に還元又は吸蔵する材料の容量に関して、材料の基本的な物理的特性及び/又は化学的特性に影響を与える量で存在しない。触媒活性金属又は増強金属を本質的に含まない触媒組成物の例としては、触媒組成物の総重量に基づいて、0.5重量%、0.1重量%、0.05重量%、又は0.01重量%未満の特定の金属を有する触媒組成物が挙げられる。
触媒組成物は、いかなる希土類金属も本質的に含まない可能性がある。代替的に、触媒組成物は、イットリウムを除く希土類金属を本質的に含まなくてもよいか、イットリウム及びエルビウムを除く希土類金属を本質的に含まなくてもよいか、又はエルビウムを除く希土類金属を本質的に含まなくてもよい。
触媒組成物は、いかなる貴金属も本質的に含まない可能性がある。代替的に、触媒組成物は、パラジウム、白金、及びロジウムを除く貴金属を本質的に含まなくてもよく、パラジウム及び白金を除く貴金属を本質的に含まなくてもよく、又はパラジウムを除く貴金属を本質的に含まなくてもよい。
触媒組成物は、いかなる非骨格遷移金属も本質的に含まない可能性がある。代替的に、触媒組成物は、銅及び鉄を除く、非骨格遷移金属を本質的に含まなくてもよい。特定の例では、触媒は、銅を除く、いかなる非骨格遷移金属も本質的に含まない。
金属を本質的に含まないとして特徴付けられるJMZ-12ゼオライト触媒は、本明細書において説明されるような除外された金属のいかなる組み合わせも含まない可能性があることが理解されるであろう。例えば、触媒組成物は、銅を除く、いかなる非骨格遷移金属も本質的に含まないか、イットリウムを除く希土類金属も本質的に含まないか、又は銅を除くいかなる非骨格遷移金属も本質的に含まず、エルビウムを除く希土類金属も本質的に含まない可能性がある。
本発明の金属交換JMZ-12ゼオライト触媒は、不均一触媒反応系(すなわち、ガス反応物と接触する固体触媒)に特に適用可能である。接触表面積、機械的安定性、及び/又は流体流動特性を改善するために、触媒を、基材、好ましくは多孔質基材上、及び/又はその内に配設することができる。ある実施形態では、触媒を収容するウォッシュコートについては、波形金属プレート又はハニカムコーディエライトブリックなどの不活性基材に適用することができる。代替的に、触媒は、充填剤、結合剤、及び補強剤などの他の成分とともに、押出可能なペーストに混練し、次いでダイを通して押出したものであり、ハニカムブリックを形成している。したがって、本発明は、基材上及び/若しくは基材にコーティングされた、又は押出触媒体として形成された本明細書において説明されたJMZ-12触媒を含む、触媒物品を提供する。
本発明の特定の態様は、基材に適用されるように設計された触媒ウォッシュコートを提供する。本明細書において説明されたJMZ-12ゼオライトを含むウォッシュコートは、好ましくは、溶液、懸濁液、又はスラリーである。かかるウォッシュコートはまた、アルミナ、シリカ、非ゼオライトシリカアルミナ、チタニア、ジルコニア、及びセリアのうちの1つ以上を含む、充填剤、結合剤、安定剤、レオロジー調整剤、及び他の添加剤などの非触媒成分を含むことができる。これらの非触媒成分は、触媒組成物中に存在するが、1つ以上の非触媒目的を果たす。触媒中のモレキュラーシーブがCeを含有する実施形態では、対応するウォッシュコートは、Ce又はセリアを含有する結合剤を更に含み得る。かかる実施形態に関して、結合剤中Ce含有粒子は、触媒中のCe含有粒子よりも著しく大きい。
特定の実施形態では、触媒ウォッシュコート組成物は、黒鉛、セルロース、デンプン、ポリアクリレート、及びポリエチレンなどの細孔形成剤を含み得る。これらの追加の成分は、必ずしも所望の反応を触媒するわけではなく、代わりに、例えば、その動作温度範囲を増加させること、触媒の接触表面積を増加させること、触媒の基材への付着を増加させることなどによって、触媒材料の有効性を改善する。
触媒を適用することができる最も一般的な基材設計のうちの2つは、プレート及びハニカムである。特に移動体用途に好ましい基材は、両端が開口し、概して基材の入口面から出口面まで延びており、その結果として表面積と体積との比率が高い複数の隣接する平行チャネルを含む、いわゆるハニカム形状を有するフロースルーモノリスを含む。ある特定の用途では、ハニカムフロースルーモノリスは、好ましくは、高いセル密度、例えば、1平方インチ当たり約600~800個のセル、及び/又は約0.18~0.35mm、好ましくは、約0.20~0.25mmの平均内壁厚を有する。ある特定の他の用途では、ハニカムフロースルーモノリスは、好ましくは、1平方インチ当たり約150~600個、より好ましくは1平方インチ当たり約200~400個の低いセル密度を有する。好ましくは、ハニカムモノリスは多孔質である。コーディエライト、炭化ケイ素、窒化ケイ素、セラミック、及び金属に加えて、基材に使用することができる他の材料としては、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、チタン酸アルミニウム、α-アルミナ、ムライト、例えば、針状ムライト、ポルサイト、サーメット、例えばAlOsZFe、Al/Ni、若しくはBCZFe、又はこれらのいずれか2つ以上のセグメントを含む複合体が挙げられる。好ましい材料としては、コーディエライト、炭化ケイ素、及びアルミナチタナートが挙げられる。
ウォールフロー基材は、ガス浸透性である多孔率及び孔径を有するが、ガスからの煤などの粒子状物質の大部分を、ガスが壁を通る際に捕捉する。好ましいウォールフロー基材は、高効率フィルタである。本発明で使用するウォールフローフィルタは、好ましくは、少なくとも約70%、少なくとも約75%、少なくとも約80%、又は少なくとも約90%の効率を有する。特定の実施形態では、効率は、約75~約99%、約75~約90%、約80~約90%、又は約85~約95%であろう。ここで、効率は、煤及び他の同様のサイズの粒子、並びに従来のディーゼル排気ガスに典型的に見られる粒子状物質濃度に関するものである。例えば、ディーゼル排気中の粒子状物質は、0.05ミクロン~2.5ミクロンのサイズの範囲であってもよい。したがって、効率は、この範囲、又は0.1~0.25ミクロン、0.25~1.25ミクロン、又は1.25~2.5ミクロンなどの下位範囲に基づくものであってもよい。
好ましくは、ウォールフローフィルタは、約30~約80%、例えば、約40~約75%、約40~約65%、又は約50~約60%の多孔率を有する。多孔率は、多孔質基材中の空隙空間の尺度の百分率であり、排気システム内の背圧に関連しており、概して、多孔率が低いほど、背圧が高くなる。
好ましくは、ウォールフローフィルタは、少なくとも約30%、より好ましくは、少なくとも約40%の細孔相互接続体積を有する。細孔の相互接続率は、基材の総空隙体積の百分率として測定するものであり、細孔、空隙、及び/又はチャネルが接合し、多孔質基材を通る連続経路、すなわち、入口面から出口面への連続経路を形成する程度である。対照的に、細孔の相互接続率に対しては、閉鎖細孔容積と、基材の表面の一方のみに導管を有する細孔の容積との合計である。
好ましいウォールフローフィルタの平均孔径も、濾過に重要である。平均孔径については、水銀ポロシメトリーによってなど、任意の許容可能な手段によって決定することができる。多孔質基材の平均孔径は、基材自体、基材の表面上の煤ケーキ層の促進のいずれかによって、又は両方の組み合わせによって、十分な効率を提供しながら低い背圧を促進するのに十分な高い値のものである必要がある。好ましい多孔質基材は、約10~約40μm、例えば、約20~約30μm、約10~約25μm、約10~約20μm、約20~約25μm、約10~約15μm、及び約15~約20μmの平均孔径を有する。
プレート型触媒は、圧力低下がより小さく、ハニカム型よりも塞がりにくく詰まりにくく、高効率の設置型用途において有利であるが、プレート構成は、はるかに大型で高価になる場合がある。ハニカム構成は、典型的にはプレート型よりも小型であり、移動体用途において有利であるが、圧力低下がより大きく、より容易に塞がる。特定の実施形態では、プレート基板は、金属、好ましくは、波形金属で構成される。
また、触媒物品を製造するためのプロセスも提供される。特定の実施形態では、触媒物品は、JMZ-12触媒組成物を、好ましくは、ウォッシュコートとして、基材に層又はゾーンとして適用する工程を含むプロセスによって製造される。ウォッシュコートは、表面コーティング、基材の一部分に浸透するコーティング、基材に浸透するコーティング、又はこれらのいくつかの組み合わせとして好適な基材上にコーティングすることができる。JMZ-12ゼオライト触媒ウォッシュコートが基材に適用される前又は後のいずれかに、排気ガスを処理するための別の組成物の1つ以上の追加の層を基材に適用することができる。基材上の1つ以上の触媒層は、JMZ-12触媒とともに、完全層若しくは部分層、連続層、又は前ゾーン及び後ゾーンなどのゾーン内に配置される。本明細書で使用するとき、基材上の触媒層に関する用語「逐次的な」とは、各層をその隣接する層と接触させること、及び触媒層を全体として基材上の他方の上部に配置すること、を意味する。
JMZ-12触媒は、第1の層又はゾーンとして基材上に配設することができ、別の組成物、例えば、酸化触媒、還元触媒、捕捉成分、又はNO吸蔵成分を、基材上に第2の層又はゾーンとして配設することができる。
概して、JMZ-12触媒を収容する、ハニカムフロースルー又はウォールフローフィルタなどの押出した固体本体の製造は、JMZ-12触媒、結合剤、任意選択的な有機増粘化合物を均質なペーストにブレンドし、次いで、これを、結合剤/マトリックス成分又はその前駆体、並びに任意選択的な安定化したセリア、及び無機繊維のうちの1つ以上に添加すること、を含む。ブレンドを、混合若しくは混練装置、又は押出機で圧縮する。混合物は、結合剤、細孔形成剤、可塑剤、界面活性剤、潤滑剤、分散剤などの有機添加剤を、湿潤化を増強するための、ひいては均質なバッチを製造するための加工助剤として、有する。次いで、得られた可塑性材料を、特に押出プレス、又は押出ダイを含む押出機を使用して成形し、得られた成形物を乾燥させ、焼成する。有機添加剤を、押出した固体本体の焼成中に「バーンアウト」する。JMZ-12を、表面上に存在する1つ以上の副層として、押出した固体本体にウォッシュコーティングすること、若しくは別の方法で適用することができ、又は押出した固体本体に全体的若しくは部分的に浸透させることができる。好ましくは、JMZ-12ゼオライト触媒は、押出した触媒本体全体を通して、好ましくは、全体にわたって均等に分散する。
上記押出した固体本体のうちのいずれかをウォールフローフィルタに作製する場合、ウォールフローフィルタの多孔率は、30~80%、例えば40~70%であってもよい。多孔率並びに細孔容積及び細孔半径については、例えば、水銀圧入ポロシメトリーを使用して測定することができる。
本明細書において説明されるJMZ-12ゼオライト触媒は、還元剤、好ましくはアンモニアと窒素酸化物との反応を促進して、単体窒素(N)及び水(HO)を選択的に形成することができる。このため、一実施形態では、触媒を、還元剤(すなわち、SCR触媒)による窒素酸化物の還元に都合のよいように配合することができる。そのような還元剤の例としては、炭化水素(例えば、C3-C6炭化水素)、並びにアンモニア及びアンモニアヒドラジンなどの窒素性還元剤、又は尿素((NHCO)、炭酸アンモニウム、カルバミン酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム、若しくはギ酸アンモニウムなどの任意の好適なアンモニア前駆体が挙げられる。好ましくは、触媒は、低いNO選択性を有する。NO選択性は、形成されたNOのモル数を、変換されたNO(NOは、NO及びNOとして定義される)のモル数で割ったものとして定義される。より低いNO選択性が望ましいのは、NO形成を還元する必要があるためである。
本明細書において説明されたJMZ-12触媒はまた、アンモニアの酸化を促進することができる。このため、別の実施形態では、触媒を、アンモニアの酸素による酸化、特に、典型的には、SCR触媒(例えば、アンモニアスリップ触媒(ammonia slip catalyst、ASC)などのアンモニア酸化(ammonia oxidation、AMOX)触媒)の下流で見られるアンモニアの濃度に好都合になるように配合することができる。特定の実施形態では、JMZ-12ゼオライト触媒は、酸化性の下層の上の上層として配設され、下層は、白金族金属(platinum group metal、PGM)触媒又は非PGM触媒を含む。好ましくは、下層中の触媒成分を、アルミナをはじめとするがこれに限定されない、高表面積担体上に配設する。
発明は、ASCを含み、SCR及びAMOXの操作を、直列で実施することができ、両方のプロセスは、本明細書において説明されたJMZ-12触媒を含む触媒を利用し、SCRプロセスを、AMOXプロセスの上流で行う。例えば、触媒のSCR配合物をフィルタの入口側に配設することができ、触媒のAMOX配合物をフィルタの出口側に配設することができる。
本発明は、入口及び出口を備えた基材を有するASC触媒物品と、(1)担体上の白金、及び(2)JMZ-12を含む第1のSCR触媒のブレンドを含む第1のコーティングと、JMZ-12又は銅CHA、銅AEI、鉄CHA、若しくは鉄AEIなどの別の金属担持ゼオライトであり得る、第2のSCR触媒を含む第2のコーティングと、を含むことができ、担体は、モレキュラーシーブ又はSiO-Al混合酸化物のうちの少なくとも1つを含む。
ASCの第2のコーティングは、第1のコーティングと完全に重なる。いくつかの実施形態では、第2のコーティングは、第1のコーティングと部分的に重なり合っている。いくつかの実施形態では、第2のコーティングは、入口端部から出口端部に向かって延び、基材の全長未満を被覆する。いくつかの実施形態では、第1のコーティングは、出口端部から入口端部に向かって延び、基材の全長未満を被覆する。いくつかの実施形態では、第2のSCR触媒は、担体上の白金と第1のSCR触媒とのブレンドを含むコーティングの入口側に位置する。いくつかの実施形態では、第2のSCR触媒は、担体上の白金と第1のSCR触媒とのブレンドを含むコーティングの出口側に位置する。
白金は、ブレンド中の白金の担体の重量+白金の重量+第1のSCR触媒の重量に対して、(a)0.01~0.3重量%、(b)0.03~0.2重量%、(c)0.05~0.17重量%、及び(d)0.07~0.15重量%以下のうちの少なくとも1つの量で存在する。第1のSCR触媒と担体上の白金との重量比は、これらの成分の重量を基準として、(a)0:1~300:1(両端を含む)、(b)3:1~300:1(両端を含む)、(c)7:1~100:1(両端を含む)、及び(d)10:1~50:1(両端を含む)のうちの少なくとも1つの範囲であってもよい。
ASC中のブレンドは、パラジウム(Pd)、金(Au)、銀(Ag)、ルテニウム(Ru)、又はロジウム(Rh)のうちの少なくとも1つを更に含む。
アンモニアスリップ触媒のための好適な基材としては、コーディエライト、高多孔率コーディエライト、金属基材、押出SCR、フィルタ、又はSCRFが挙げられ得る。
したがって、ガス中のNO化合物の還元及び/又はNHの酸化のための方法であって、ガス中のNO化合物及び/又はNHの濃度を低減するのに十分な時間、NO化合物の触媒還元のために、ガスを本明細書に記載の触媒組成物と接触させること、を含む、方法が提供される。特定の実施形態では、選択的触媒還元(SCR)触媒の下流に配設されたアンモニアスリップ触媒を有する触媒物品が提供される。かかる実施形態では、アンモニアスリップ触媒は、選択的触媒還元プロセスによって消費されない任意の窒素系還元剤の少なくとも一部分を酸化する。例えば、ある実施形態では、アンモニアスリップ触媒は、ウォールフローフィルタの出口側に配設され、SCR触媒は、フィルタの上流側に配設される。ある他の実施形態では、アンモニアスリップ触媒は、フロースルー基材の下流端上に配設され、SCR触媒は、フロースルー基材の上流端上に配設される。他の実施形態では、アンモニアスリップ触媒及びSCR触媒は、排気システム内の別個のブリック上に配設される。これらの別個のブリックは、互いに隣接し接触していてもよく、又は特定の距離だけ離れていてもよく、但し、それらは互いに流体連通せず、また但し、SCR触媒ブリックをアンモニアスリップ触媒ブリックの上流に配設していない。
SCR及び/又はAMOXプロセスは、好ましくは、少なくとも、150℃、例えば、約150℃~約750℃、約175℃~約550℃、約175℃~約400℃、約450℃~約900℃、より好ましくは、約450℃~約750℃、約450℃~約650℃、又は約450℃~約550℃の温度で実施される。450℃超の温度を利用することは、大型及び小型ディーゼルエンジンからの排気ガスの処理に特に有用であり、このエンジンは、(任意選択的に触媒化した)ディーゼル微粒子フィルタを含む排気システムを備え、このフィルタを、例えば、フィルタの上流の排気システムに炭化水素を噴射することにより活性に再生するものであり、本発明における使用のためのゼオライト触媒は、フィルタの下流に位置している。
追加的に、本発明の方法は、以下の、(a)触媒フィルタの入口と接触している煤を蓄積及び/又は燃焼させる工程と、(b)好ましくは、NO及び還元剤の処理を伴う介在触媒工程なしで、窒素性還元剤を排気ガス流に導入した後、触媒フィルタに接触させる工程と、(c)NO吸着触媒又はリーンNOトラップの上でNHを発生させる工程であって、好ましくは、下流SCR反応において還元剤としてかかるNHを使用する、発生させる工程と、(d)排気ガス流をDOCと接触させ、炭化水素系可溶性有機成分(soluble organic fraction、SOF)及び/若しくは一酸化炭素をCOに酸化し、並びに/又はNOをNOに酸化する工程であって、次に、粒子状物質フィルタ内の粒子状物質を酸化するために、及び/又は排気ガス中の粒子状物質(particulate matter、PM)を減少させるために、使用することができる、酸化する工程と、(e)排気ガスを、還元剤の存在下、1つ以上のフロースルーSCR触媒装置と接触させて、排気ガス中のNO濃度を低減する工程と、(f)排気ガスをアンモニアスリップ触媒と、好ましくはSCR触媒の下流で、接触させ、アンモニアの、全てでない場合でもほとんどを酸化させた後、排気ガスを大気に放出し、又は排気ガスを再循環ループに通し、その後、排気ガスをエンジンに流入/再流入させる工程と、のうちの1つ以上を含み得る。
特定の態様では、本発明は、燃焼プロセスによって発生した排気ガス、例えば、内燃機関(移動体又は設置型のいずれでも)、ガスタービン、及び石炭又は石油を燃料とした動力プラントなどからの排気ガスを処理するためのシステムである。かかるシステムは、本明細書において説明されたJMZ-12触媒と、排気ガスを処理するための少なくとも1つの追加成分と、を含む触媒物品を含み、その触媒物品及び少なくとも1つの追加成分を、一貫した単位として機能するよう設計している。システムは、本明細書において説明されたJMZ-12触媒を含む触媒物品と、流動排気ガスを方向付けるための導管と、触媒物品の上流に配設した窒素性還元剤源と、を備えることができる。システムは、ゼオライト触媒が、100℃超、150℃超、又は175℃超などの所望の効率で、又はそれ以上でNO還元を触媒することができると判定された場合にのみ、流動する排気ガス中への窒素性還元剤を計量するためのコントローラを含むことができる。窒素性還元剤の計量については、1:1のNH/NO及び4:3のNH/NOで計算されてSCR触媒に流入する排気ガス中に、理論上のアンモニアの60%~200%が存在するように調整することができる。
別の実施形態では、システムは、排気ガス中の一酸化窒素を二酸化窒素に酸化するための酸化触媒(例えば、ディーゼル酸化触媒(diesel oxidation catalyst、DOC))を備え、これを、排気ガスへの窒素性還元剤を計量する箇所の上流に位置させることができる。一実施形態では、酸化触媒は、SCRゼオライト触媒に流入するガス流が、例えば、酸化触媒入口における250℃~450℃の排気ガス温度で、約4:1~約1:3のNO対NO体積比を有して生じさせるように適合される。酸化触媒は、フロースルーモノリス基材上にコーティングした、白金、パラジウム、又はロジウムなどの、少なくとも1つの白金族金属(又はこれらのいくつかの組み合わせ)を含んでもよい。一実施形態では、少なくとも1つの白金族金属は、白金、パラジウム、又は白金及びパラジウムの両方の組み合わせである。白金族金属を、アルミナ、アルミノシリカートゼオライトなどのゼオライト、シリカ、非ゼオライトシリカアルミナ、セリア、ジルコニア、チタニア、又はセリア及びジルコニアの両方を含有する混合若しくは複合酸化物などの高表面積ウォッシュコート成分上に担持することができる。
更なる実施形態では、好適なフィルタ基材は、酸化触媒とSCR触媒との間に位置する。フィルタ基材は、上述したもののうちのいずれか、例えば、ウォールフローフィルタから選択することができる。フィルタを、例えば、上記で考察された種類の酸化触媒で触媒化している場合、好ましくは、窒素性還元剤の計量箇所を、フィルタとゼオライト触媒との間に位置させる。代替的に、フィルタを触媒化していない場合、窒素性還元剤を計量する手段を、酸化触媒とフィルタとの間に位置させることができる。
実施例1~5:水酸化N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウム(3,5-DMDMPOH)及び水酸化テトラエチルアンモニウム(TEAOH)の両方を含む、2つの構造指向剤(SDA)の混合物を使用する、JMZ-12系の異なるメンバーのゼオライト合成。
アルミナ源、シリカ源、NaOとしてFAUゼオライトを68SiO:1Al:19.5NaO:750HOのモル比で含有し、更に3,5-DMDMPOH及びTEAOHの両方を表1に示すモル比で有するSDAを更に含有する水性の反応混合物を調製した。
表1は、3,5-DMDMPOH及びTEAOHの比を調整することによって調製された、異なる程度のAEI/CHA連晶を有する選択されたJMZ-12試料についての合成及び特徴付けデータを示す。AEI/CHAの比は、各試料について脱水H型で収集されたX線回折パターンのDIFFaX分析によって決定された。シリカ対アルミナ比(SAR)及びマイクロ細孔容積は、それぞれ蛍光X線(X-ray Fluorescence、XRF)及びAr吸着等温線によって測定される。
使用した試薬及びそれらの添加順序は、以下:
a)市販のFAUゼオライト
b)H
c)NaOHの溶液、30重量%
d)水酸化テトラエチルアンモニウム(TEAOH)、35重量%
e)水酸化N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウム(3,5-DMDMPOH)、47重量%。
f)ケイ酸ナトリウムであった。
典型的な例では、34.700gの市販のFAU(Al=18.49重量%、SiO=59.65重量%、NaO=0.14重量%)を、226mLの水と撹拌下で混合した。これに、19.05gのNaOH(30重量%)、58.54gのTEAOH(35重量%)、74.55gの3,5-DMDMPOH(47重量%)、及び833.26gのケイ酸ナトリウム溶液(NaO重量%=8.60重量%、SiO=28.4重量%)を混合物に順次添加して、68.1SiO-1.0Al-19.5NaO-3.5 3,5-DMDMPOH-2.2TEAOH-750.1HOの対応するモルゲル組成を有する合成ゲルを生じさせる。
混合物を1時間撹拌した後、ゲルを、1.5Lオートクレーブに移し、回転させながら(300rpm)120℃で48時間加熱した。反応時間の終わりに、オートクレーブの内容物を濾過し、脱塩水で洗浄した。得られた生成物を、110℃で一晩乾燥させた。各粉末試料について、X線回折(XRD)パターン(図1参照)を得た。XRDは、生成物が、ゲル中の有機テンプレートのモル比に応じて、異なる度合いの連晶を有するAEI/CHAゼオライト構造(JMZ-12)の連晶であることを示した。図2は、試料の結晶形態を示し、図3は、材料のうちの1つの13Cマジック角回転核磁気共鳴(MAS NMR)スペクトルを示し、両方のSDAが結晶化の終わりに試料中に吸蔵されたままであることを示す。図4は、シンクロトロン放射X線光電子分光法(SR-XPS)、結晶のバルクSARと表面SARとの間の差を示す、JMZ-12のディーププロファイリングによって決定された表面シリカ対アルミナ比(SAR)を示す。
製造時のままのゼオライトを、空気中で焼成することによって活性化した。固体を2℃/分で110℃まで加熱し、次いで5℃/分で450℃まで加熱し、450℃で16時間保持した。最後に、材料を、5℃/分で550℃まで加熱し、550℃で16時間保持した。固体を室温まで冷却し、焼成ゼオライト1グラム当たり10mLの溶液を使用して、硫酸アンモニウムの1M溶液でイオン交換した。イオン交換を、室温で1時間撹拌しながら行った。撹拌を停止し、スラリーを遠心分離した。透明な上清を、デカントして除いた。次いで、イオン交換手順を繰り返し、その後、ゼオライトを濾過し、洗浄し、次いで乾燥させた。得られたNH型ゼオライトを、焼成し、空気中、150℃まで2℃/分で加熱し、150℃で10時間保持し、続いて5℃/分で450℃まで加熱し、最後に450℃で16時間保持することによって、H型に変換した。選択された活性材料のXRDパターンを、純相AEI及びCHAゼオライト構造の比較とともに図5に示す。上の表1は、XRFによって測定される選択された試料のSAR及びAr吸着等温線によるそれらのマイクロ細孔容積を要約する。AEI/CHAの比は、各試料の脱水H型で収集されたX線回折パターンのDIFFaX分析によって決定された。図6は、AEI/CHA連晶比50/50を有するJMZ-12ゼオライトのものと比較した、AEI/CHAゼオライトの物理的混合物のXRDパターンを示す。
実施例6:選択的触媒還元(SCR)性能(新鮮)
JMZ-12ゼオライトは、本明細書において説明された方法に従って合成した(実施例2の活性化、H型)。ゼオライトは、16のSARを有した。脱塩水中に溶解した必要量の酢酸銅(II)を使用して、ゼオライトに金属を含浸させた。金属含浸ゼオライトを、80℃で一晩乾燥させ、次いで、空気中、550℃で4時間焼成した。銅をゼオライトに添加して、ゼオライトの総重量に基づいて、3.3重量%の銅を有するJMZ-12を達成した。
銅JMZ-12ゼオライトのペレット化した試料を、試験装備内に配置した。温度範囲にわたるゼオライトのSCR性能を評価するために、ゼオライトを、以下の特性を有する模擬ディーゼルエンジン排気ガスの流れに供した:500ppmのNH、500ppmのNO、0ppmのNO、SV=90Kh-1。試料を、NHを除いた上述のガス混合物の下で、室温から150℃まで加熱した。150℃で、NHを、ガス混合物に添加し、試料を、これらの条件下で30分間保持した。次いで、温度を、5℃/分の速度で150℃から500℃まで増加させた。ゼオライトによって処理された下流ガスを監視して、NO変換率及びNO選択性を決定した。比較のために、各々銅JMZ-12に匹敵する銅担持量を有する、22のSARを有するCHAゼオライト及び20のSARを有するAEIゼオライトに対して同様の試験を実施した。
図7に示されるように、銅JMZ-12は、銅AEIゼオライト及び銅CHAゼオライトと比較して、400℃を超える温度でより高いNO変換率を達成した。図8に示されるように、銅JMZ-12は、銅AEIゼオライト又は銅CHAゼオライトのいずれかと比較して、全温度範囲(150~500℃)にわたって同等又はより低いNO選択性を呈した。このため、銅JMZ-12触媒は、典型的なCu交換CHA又はAEIゼオライトに対して、NO変換率及びNO選択性の両方において著しい利点を呈した。
実施例7及び実施例8:選択的触媒還元(SCR)性能(エージング後)
実施例6のものと同様の銅JMZ-12ゼオライト、銅AEIゼオライト、及び銅CHAゼオライトの試料一組を調製し、次いで、10体積%のHOを含む空気中で、750℃で80時間、水熱エージングした。粉末触媒の試料をペレット化し、次いで空気中で10℃/分の速度のみで室温から250℃まで加熱した。次いで、その試料を、空気中、10体積%のHOにて10℃/分の速度で、750℃まで加熱した。750℃の温度で80時間保持した後、温度が250℃未満になるまで、試料を蒸気/空気混合物中で冷却した。次いで、試料を、空気のみの流れにおいて、250℃から室温まで冷却した。これらの試料を、実施例6において説明されたものと同様の条件下で、装備上で試験した。
実施例6のものと同様の銅JMZ-12ゼオライト、銅AEIゼオライト、及び銅CHAゼオライトの試料の別の組を調製し、次いで、4.5体積%のHOを有する空気中、900℃で5時間、水熱エージングした。粉末触媒の試料をペレット化し、次いで空気中で10℃/分の速度のみで室温から250℃まで加熱した。次いで、その試料を、空気中、4.5体積%のHOにて10℃/分の速度で、900℃まで加熱した。900℃の温度で5時間保持した後、温度が250℃未満になるまで、試料を蒸気/空気混合物中で冷却した。次いで、試料を、空気のみの流れにおいて、250℃から室温まで冷却した。これらの試料を、実施例6において説明されたものと同様の条件下で、装備上で試験した。
図9及び図10に示されるように、それぞれ750℃及び900℃でエージングされた銅JMZ-12試料は、同様にエージングされた銅AEIゼオライト及び銅CHAゼオライトと比較して、同様又はより大きいNO変換性能を有した。AEI及びCHAゼオライトの比較的高いSARは、銅JMZ-12の比較的低いSARと比較して、より水熱的に安定であると予想されるので、これらの結果は驚くべきことである。加えて、図11のデータは、750℃でエージングされた銅JMZ-12が、同様の条件下でエージングされた銅AEIゼオライト又は銅CHAゼオライトのいずれかと比較して、全温度範囲(150~500℃)にわたってより低いNO選択性を呈したことを示す。これらの結果は、本発明の触媒JMZ-12が水熱的に安定であることを実証する。更に、銅担持JMZ-12は、銅担持AEI又はCHAに対して、NO低減触媒としての利益を呈する。
実施例9:選択的触媒還元(SCR)性能(エージング後)
実施例8に記載したものと同様の銅JMZ-12のNO変換性能及びNO選択性(900℃でエージング)を、同様のSAR値を有する銅担持AEIゼオライトの性能と比較した。図12及び図13に示されるように、16のSARを有し、900℃でエージングされた銅JMZ-12は、銅担持AEIゼオライトと比較して、全温度範囲(150~500℃)にわたって、より高いNO変換率及びより低いNO選択性を達成した。更に、16.9のSARを有する銅AEIゼオライト及び14.6のSARを有する銅AEIゼオライトの両方は、900℃における熱水エージング後に著しい性能劣化を被った。これらの結果は、銅担持AEIゼオライトよりも銅担持JMZ-12をNOx低減触媒として利用することの利点を実証する。
実施例10:希土類金属の存在下での選択的触媒還元(SCR)性能
JMZ-12ゼオライトは、本明細書において説明された方法に従って合成した(実施例5活性化、H型)。ゼオライトは、16.7のSARを有した。ゼオライト1グラム当たり80mlの溶液を使用して、硝酸イットリウム(III)の0.1M溶液でゼオライトをイオン交換した。イオン交換を、130℃で8時間水熱的に実行した。透明な上澄みをデカントし、固体生成物を洗浄し、乾燥させた。ゼオライトにイットリウムを添加して、ゼオライトの総重量に基づいて、1.1重量%のイットリウムを有するJMZ-12を達成した。
次いで、脱塩水に溶解した必要量の酢酸銅(II)を使用して、イットリウム含有ゼオライトに銅を含浸させた。金属含侵ゼオライトを、105℃で3時間乾燥させ、次いで空気中、500℃で2時間焼成した。銅をゼオライトに添加して、ゼオライトの総重量に基づいて、3.0重量%の銅を有するJMZ-12を達成した。
ゼオライトのSCR性能を評価するために、銅及びイットリウムを含有するJMZ-12ゼオライトをペレット化し、試験装備内に配置し、以下の特性を有する模擬ディーゼルエンジン排気ガスの流れに供した:550ppmのNH、500ppmのNO、0ppmのNO、10%のHO、8%のO、SV=90Kh-1。試料を、窒素下で室温から150℃に加熱し、次いで上述のガス混合物に1分間曝露した。次いで、温度を、5℃/分の速度で150℃から500℃まで増加させた。ゼオライトによって処理された下流ガスを監視して、NO変換率及びNO選択性を決定した。比較のために、同じ量のCu(3.0重量%)を含有するJMZ-12ゼオライト(実施例5)について同様の試験を実施した。
図14に示されるように、銅JMZ-12は、銅イットリウムJMZ-12と比較して、全温度範囲にわたってより高いNO変換率を達成した。図15に示されるように、イットリウム含有JMZ-12は、温度範囲(200~300℃)において、より良好なNO選択性を提示した。
銅、イットリウム及び銅JMZ-12の同じ組も、10体積%のHOを有する空気中で16時間、850℃で水熱エージングした。図14に示されるように、イットリウム含有JMZ-12は、250℃未満の低温範囲において、JMZ-12と比較してより高いNO変換率を達成した。図15に示されるように、イットリウム含有JMZ-12は、同じ温度範囲におけるJM-12と比較して同様のNO選択性を呈した。
これらの結果は、銅JMZ-12ゼオライトよりも低温NO低減触媒を改善するためにイットリウム含有銅JMZ-12を利用することの利点を実証する。

Claims (17)

  1. CHAトポロジー及びAEIトポロジーの両方を有する無秩序ゼオライトを形成するのに十分な期間、結晶化条件下で反応混合物を加熱する工程を含む、ゼオライトを合成するための方法であって、前記反応混合物が、
    a.少なくとも1つのアルミニウム源と、
    b.少なくとも1つのケイ素源と、
    c.アルカリ又はアルカリ土類カチオン源と、
    d.少なくとも1つの四級アンモニウムカチオン源及び少なくとも1つのアルキル置換ピペリジニウムカチオン源を約0.20~約1.4のモル比で含有する構造指向剤と、を含み、
    e.ハロゲン化物を本質的に含まない、方法。
  2. 前記四級アンモニウム源が、水酸化テトラエチルアンモニウムであり、前記アルキル置換ピペリジニウム源が、水酸化N,N-ジメチル-3,5-ジメチルピペリジニウムである、請求項1に記載の方法。
  3. 前記反応混合物が、リンを本質的に含まない、請求項1に記載の方法。
  4. 前記反応混合物が、以下のモル組成:
    a.約10~約100、好ましくは、約55~約75のSiO/Al比;
    b.約0.01~約0.5、好ましくは、約0.01~約0.3のXO/SiO比(X=Na、K、Cs、Li);
    c.約0.01~約0.5、好ましくは、約0.05~約0.2のSDA/SiO比;
    d.約0.1~約0.9、好ましくは、約0.6~0.8のOH/SiO比;
    e.約3~約25、好ましくは、約5~約15のHO/SiO比、を有する、請求項1に記載の方法。
  5. 酸素含有雰囲気中で行われる後続の焼成工程を更に含む、請求項1に記載の方法。
  6. CHAトポロジー及びAEIトポロジーが主相であり、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在する、請求項1に記載の方法に従って合成された、無秩序ゼオライト。
  7. 無秩序ゼオライトであって、
    a.CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相であって、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在する、主相と、
    b.0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズと、を含む、無秩序ゼオライト。
  8. 約0.05~約0.25マイクロメートルのd50結晶サイズ及び0.5マイクロメートル未満のd90結晶サイズを有する、請求項7に記載の無秩序ゼオライト。
  9. 前記無秩序ゼオライトが、AEI及びCHAトポロジーの連晶である、請求項8に記載の無秩序ゼオライト。
  10. 前記無秩序ゼオライトが、約10~約25のバルクシリカ対アルミナ比(SAR)値を有する、請求項9に記載の無秩序ゼオライト。
  11. 前記無秩序ゼオライトが、前記バルクSARの約40~約95パーセントである、約10nmの深さまでの表面層SARを有する、請求項10に記載の無秩序ゼオライト。
  12. 無秩序ゼオライトであって、
    a.CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相であって、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在する、主相と、
    b.CHAリッチ表面層トポロジー及びAEIリッチ内部トポロジーと、を含む、無秩序ゼオライト。
  13. 無秩序ゼオライトであって、
    a.CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相であって、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在する、主相と、
    b.表面層SAR及びバルクSARであって、前記表面SARが、前記バルクSARよりも約5~約60パーセント低い、表面層SAR及びバルクSARと、を含む、無秩序ゼオライト。
  14. NOの選択的還元のための触媒組成物であって、
    a.CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相を有し、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在し、0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズを有し、約10~約25のシリカ対アルミナ比(SAR)を有する、無秩序AEI/CHAゼオライト(JMZ-12)と、
    b.銅(Cu)、鉄(Fe)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)から選択される1つ以上の交換された遷移金属であって、前記1つ以上の交換された遷移金属と、を含み、
    前記ゼオライト及び1つ以上の交換された遷移金属が、約100:1~約20:1の重量比で存在する、触媒組成物。
  15. a.交換されたセリウムと、
    b.イットリウム及びエルビウムから選択される1つ以上の希土類金属と、を更に含み、
    前記ゼオライト及び1つ以上の希土類金属が、約2000:1~約20:1の重量比で存在する、請求項14に記載の触媒組成物。
  16. 前記1つ以上の遷移金属の大部分及び大部分の前記セリウムが、1つ以上の結晶性表面から約0.02マイクロメートルの深さまで延在する前記ゼオライトの表面層内にある、請求項15に記載の触媒組成物。
  17. 触媒物品であって、
    a.ハニカムフロースルー基材又はウォールフローフィルタの複数の壁と、
    b.前記壁の少なくとも一部分の上及び/又は中にコーティングされた無秩序AEI/CHAゼオライト触媒(JMZ-12)と、を含み、
    i.前記JMZ-12触媒が、CHAトポロジー及びAEIトポロジーの主相を有し、前記CHAトポロジー及びAEIトポロジーが、約95:5~約5:95のモル比で存在し、
    ii.前記JMZ-12触媒が、0.5マイクロメートル未満のd50結晶サイズを有し、約10~約25のシリカ対アルミナ比(SAR)を有し、
    iii.1つ以上の交換された遷移金属が、銅(Cu)、鉄(Fe)、マンガン(Mn)、ニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)から選択され、前記1つ以上の交換された遷移金属、前記ゼオライト及び1つ以上の交換された遷移金属が、約100:1~約20:1の重量比で存在する、触媒物品。
JP2023542483A 2021-03-04 2022-02-28 Jmz-12、ゼオライトの無秩序aei/cha系、その合成及び使用 Pending JP2024507654A (ja)

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