JP2024068261A - Method for grinding workpiece - Google Patents

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Abstract

To provide a method for grinding a workpiece capable of suppressing degradation of the workpiece.SOLUTION: A method for grinding a workpiece with use of a first grinding wheel provided with a first grinding grindstone including first abrasive grains and a second grinding wheel provided with a second grinding grindstone including second abrasive grains, includes: a first grinding step of grinding a ground surface side of a workpiece by having the first grinding grindstone brought into contact with the workpiece while supplying grinding liquid; a second grinding step of grinding the ground surface side of the workpiece by having the second grinding grindstone brought into contact with the workpiece while supplying grinding liquid; a separation step of separating the workpiece and the second grinding grindstone while supplying grinding liquid; and a third grinding step of grinding the ground surface side of the workpiece until the workpiece attains a predetermined thickness by having the second grinding grindstone brought into contact with the workpiece while supplying grinding liquid.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、研削ホイールを使用して被加工物を研削する被加工物の研削方法に関する。 The present invention relates to a method for grinding a workpiece using a grinding wheel.

複数のデバイスが形成されたウェーハを分割して個片化することにより、デバイスを備えるデバイスチップが製造される。また、複数のデバイスチップを所定の基板上に実装し、実装されたデバイスチップを樹脂でなる封止材(モールド樹脂)で被覆することにより、パッケージ基板が形成される。このパッケージ基板を分割して個片化することにより、パッケージ化された複数のデバイスチップを備えるパッケージデバイスが製造される。デバイスチップやパッケージデバイスは、携帯電話、パーソナルコンピュータ等の様々な電子機器に組み込まれる。 By dividing and singulating a wafer on which multiple devices are formed, device chips equipped with devices are manufactured. In addition, a package substrate is formed by mounting multiple device chips on a specified substrate and covering the mounted device chips with a resin sealing material (mold resin). By dividing and singulating this package substrate, a package device equipped with multiple packaged device chips is manufactured. The device chips and package devices are incorporated into various electronic devices such as mobile phones and personal computers.

近年では、電子機器の小型化に伴い、デバイスチップやパッケージデバイスの薄型化が求められている。そこで、研削装置を用いて分割前のウェーハやパッケージ基板を研削して薄化する処理が実施されることがある。研削装置は、被加工物を保持するチャックテーブルと、被加工物に研削加工を施す研削ユニットとを備えており、研削ユニットには複数の研削砥石を備える環状の研削ホイールが装着される。被加工物をチャックテーブルで保持し、研削ホイールを回転させつつ研削砥石を被加工物に接触させることにより、被加工物が研削、薄化される(特許文献1参照)。 In recent years, with the miniaturization of electronic devices, there is a demand for thinner device chips and package devices. Therefore, a grinding device is sometimes used to grind and thin undivided wafers and package substrates. The grinding device is equipped with a chuck table that holds the workpiece and a grinding unit that performs grinding on the workpiece, and the grinding unit is equipped with an annular grinding wheel equipped with multiple grinding stones. The workpiece is held on the chuck table, and the grinding wheel is rotated while the grinding stones are brought into contact with the workpiece, thereby grinding and thinning the workpiece (see Patent Document 1).

特開2014-124690号公報JP 2014-124690 A

研削砥石は、砥粒を結合材(ボンド材)で固定することによって形成される。そして、研削砥石で被加工物を研削すると、研削砥石が被加工物に衝突して結合材の摩耗が生じ、結合材から突出している砥粒が脱落するとともに結合材に埋め込まれている砥粒が新たに露出する。この現象は自生発刃と称されており、自生発刃によって研削砥石のコンディションが整えられて研削能力が維持される。 Grinding wheels are formed by fixing abrasive grains with a binder (bond material). When a workpiece is ground with a grinding wheel, the wheel collides with the workpiece, causing the binder to wear away, causing the abrasive grains protruding from the binder to fall off and exposing new abrasive grains embedded in the binder. This phenomenon is called self-sharpening, and the self-sharpening keeps the grinding wheel in good condition and maintains its grinding ability.

また、被加工物を研削加工で薄化する際には、粒径の大きい砥粒を含む粗研削用の研削砥石で被加工物を研削する粗研削工程と、粒径の小さい砥粒を含む仕上げ研削用の研削砥石で被加工物を研削する仕上げ研削工程とが実施される。被加工物に粗研削を施すと、被加工物の被研削面側には円弧状の研削痕(ソーマーク)が残存するが、その後の仕上げ研削によって研削痕が除去される。これにより、研削加工後の被加工物に研削痕が残存することを防止できる。 When a workpiece is thinned by grinding, a rough grinding process is carried out in which the workpiece is ground with a grinding wheel for rough grinding that contains large grains, and a finish grinding process is carried out in which the workpiece is ground with a grinding wheel for finish grinding that contains small grains. When the workpiece is rough ground, arc-shaped grinding marks (saw marks) remain on the grinding surface of the workpiece, but the grinding marks are removed by the subsequent finish grinding. This makes it possible to prevent grinding marks from remaining on the workpiece after grinding.

しかしながら、被加工物の仕上げ研削中には研削砥石の結合材が摩耗して砥粒が脱落する。特に、研削痕が形成された被加工物の被研削面側に仕上げ研削用の研削砥石が最初に接触する際に結合材の摩耗が生じやすく、脱落する砥粒の量も多くなる。そして、研削砥石から脱落した砥粒は、仕上げ研削中に被加工物と研削砥石との間に入り込み、研削砥石によって被加工物の被研削面側に押し付けられる。これにより、被加工物の被研削面側に新たな深い研削痕が形成されることがある。この場合、仕上げ研削後の被加工物に研削痕が残存し、被加工物の品質が低下してしまう。 However, during the finish grinding of the workpiece, the binder of the grinding wheel wears away and the abrasive grains fall off. In particular, when the grinding wheel for finish grinding first comes into contact with the grinding surface of the workpiece on which the grinding marks have been formed, the binder is likely to wear away, and a large amount of abrasive grains fall off. The abrasive grains that have fallen off from the grinding wheel get between the workpiece and the grinding wheel during finish grinding, and are pressed against the grinding surface of the workpiece by the grinding wheel. This can result in new deep grinding marks being formed on the grinding surface of the workpiece. In this case, grinding marks remain on the workpiece after finish grinding, reducing the quality of the workpiece.

本発明は、かかる問題に鑑みてなされたものであり、被加工物の品質低下を抑制することが可能な被加工物の研削方法の提供を目的とする。 The present invention was made in consideration of these problems, and aims to provide a method for grinding a workpiece that can suppress deterioration in the quality of the workpiece.

本発明の一態様によれば、第1砥粒を含む第1研削砥石を備える第1研削ホイールと、該第1砥粒よりも平均粒径が小さい第2砥粒を含む第2研削砥石を備える第2研削ホイールとを使用して被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、研削液を供給しながら該第1研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の被研削面側を研削する第1研削ステップと、該第1研削ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の該被研削面側を研削する第2研削ステップと、該第2研削ステップの後に、研削液を供給しながら該被加工物と該第2研削砥石とを離隔させる離隔ステップと、該離隔ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物が所定の厚さになるまで該被加工物の該被研削面側を研削する第3研削ステップと、を含み、該第3研削ステップにおける該被加工物の研削量は、該第2研削ステップにおける該被加工物の研削量よりも少ない被加工物の研削方法が提供される。 According to one aspect of the present invention, a method for grinding a workpiece using a first grinding wheel having a first grinding stone containing first abrasive grains and a second grinding wheel having a second grinding stone containing second abrasive grains having an average grain size smaller than that of the first abrasive grains, the method comprising: a first grinding step in which the first grinding stone is brought into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby grinding the grinding surface side of the workpiece; and after the first grinding step, a second grinding stone is brought into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby grinding the grinding surface side of the workpiece. A method for grinding a workpiece includes a second grinding step in which the workpiece is ground on the side of the workpiece, a separation step in which the workpiece and the second grinding wheel are separated from each other while supplying a grinding fluid after the second grinding step, and a third grinding step in which the workpiece is ground on the side of the workpiece to be ground until the workpiece has a predetermined thickness by bringing the second grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid after the separation step, and the amount of the workpiece ground in the third grinding step is less than the amount of the workpiece ground in the second grinding step.

なお、好ましくは、該被加工物の研削方法は、該離隔ステップの後、且つ、該第3研削ステップの前に、該被加工物の該被研削面側を洗浄する洗浄ステップを更に含む。 Preferably, the method for grinding the workpiece further includes a cleaning step for cleaning the grinding surface side of the workpiece after the separating step and before the third grinding step.

また、本発明の他の一態様によれば、第1砥粒を含む第1研削砥石を備える第1研削ホイールと、該第1砥粒よりも平均粒径が小さい第2砥粒を含む第2研削砥石を備える第2研削ホイールとを使用して被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、研削液を供給しながら該第1研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物に凹部を形成しつつ該凹部を囲繞する環状の補強部を残存させる第1研削ステップと、該第1研削ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該凹部の底面を研削する第2研削ステップと、該第2研削ステップの後に、研削液を供給しながら該被加工物と該第2研削砥石とを離隔させる離隔ステップと、該離隔ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の該凹部が形成された領域が所定の厚さになるまで該凹部の底面を研削する第3研削ステップと、を含み、該第3研削ステップにおける該被加工物の研削量は、該第2研削ステップにおける該被加工物の研削量よりも少ない被加工物の研削方法が提供される。 According to another aspect of the present invention, there is provided a method for grinding a workpiece using a first grinding wheel having a first grinding stone containing first abrasive grains and a second grinding wheel having a second grinding stone containing second abrasive grains having an average grain size smaller than that of the first abrasive grains, the method comprising: a first grinding step in which the first grinding stone is brought into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby forming a recess in the workpiece and leaving an annular reinforcing portion surrounding the recess; and after the first grinding step, a second grinding stone is brought into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby forming a recess in the workpiece and leaving an annular reinforcing portion surrounding the recess. A method for grinding a workpiece includes a second grinding step for grinding the bottom surface of the recess, a separation step for separating the workpiece from the second grinding wheel while supplying a grinding fluid after the second grinding step, and a third grinding step for grinding the bottom surface of the recess until the area of the workpiece where the recess is formed reaches a predetermined thickness by contacting the second grinding wheel with the workpiece while supplying a grinding fluid after the separation step, in which the amount of the workpiece ground in the third grinding step is less than the amount of the workpiece ground in the second grinding step.

なお、好ましくは、該被加工物の研削方法は、該離隔ステップの後、且つ、該第3研削ステップの前に、該凹部の底面を洗浄する洗浄ステップを更に含む。 Preferably, the method for grinding the workpiece further includes a cleaning step for cleaning the bottom surface of the recess after the separating step and before the third grinding step.

本発明の一態様に係る被加工物の研削方法では、第1研削砥石で被加工物を研削した後、第2研削砥石で被加工物を研削する。そして、被加工物の厚さが仕上げ厚さになる前に研削液を供給しながら被加工物と第2研削砥石とを離隔させた後、再び第2研削砥石で被加工物を研削する。これにより、仕上げ研削中に脱落した砥粒による研削痕の形成が生じにくくなり、被加工物の品質低下が抑制される。 In one embodiment of the present invention, a method for grinding a workpiece includes grinding the workpiece with a first grinding wheel, and then grinding the workpiece with a second grinding wheel. Then, before the thickness of the workpiece reaches the finishing thickness, the workpiece and the second grinding wheel are separated while supplying grinding fluid, and the workpiece is again ground with the second grinding wheel. This makes it less likely that grinding marks will be formed due to abrasive grains that have fallen off during finish grinding, and reduces deterioration in the quality of the workpiece.

研削装置を示す斜視図である。FIG. 被加工物を示す斜視図である。FIG. チャックテーブルを示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a chuck table. 被加工物の加工方法を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a method for machining a workpiece. 図5(A)は第1研削ステップにおける研削装置を示す一部断面側面図であり、図5(B)は第1研削ステップにおける研削装置を示す平面図である。FIG. 5A is a partially sectional side view showing the grinding device in the first grinding step, and FIG. 5B is a plan view showing the grinding device in the first grinding step. 図6(A)は第2研削ステップにおける研削装置を示す一部断面側面図であり、図6(B)は第2研削ステップにおける研削装置を示す平面図である。FIG. 6A is a partially sectional side view showing the grinding device in the second grinding step, and FIG. 6B is a plan view showing the grinding device in the second grinding step. 離隔ステップにおける研削装置を示す一部断面側面図である。FIG. 4 is a partial cross-sectional side view showing the grinding device in a separating step. 図8(A)は洗浄ステップにおける研削装置を示す一部断面側面図であり、図8(B)は洗浄ステップにおける研削装置を示す平面図である。FIG. 8A is a partially sectional side view showing the grinding apparatus in the cleaning step, and FIG. 8B is a plan view showing the grinding apparatus in the cleaning step. 図9(A)は第3研削ステップにおける研削装置を示す一部断面側面図であり、図9(B)は第3研削ステップにおける研削装置を示す平面図である。FIG. 9A is a partially sectional side view showing the grinding device in the third grinding step, and FIG. 9B is a plan view showing the grinding device in the third grinding step. 図10(A)は被加工物の中央部に粗研削を施す研削装置を示す一部断面側面図であり、図10(A)は被加工物の中央部に粗研削を施す研削装置を示す平面図である。FIG. 10A is a partially sectional side view showing a grinding apparatus that performs rough grinding on the central portion of a workpiece, and FIG. 10B is a plan view showing the grinding apparatus that performs rough grinding on the central portion of a workpiece. 図11(A)は被加工物の中央部に仕上げ研削を施す研削装置を示す一部断面側面図であり、図11(A)は被加工物の中央部に仕上げ研削を施す研削装置を示す平面図である。FIG. 11(A) is a partially sectional side view showing a grinding apparatus that performs finish grinding on the central portion of a workpiece, and FIG. 11(B) is a plan view showing the grinding apparatus that performs finish grinding on the central portion of a workpiece.

(実施形態1)
以下、添付図面を参照して本発明の一態様に係る実施形態を説明する。まず、本実施形態に係る被加工物の研削方法に用いることが可能な研削装置の構成例について説明する。図1は、被加工物11を研削する研削装置2を示す斜視図である。図1において、X軸方向(第1水平方向、左右方向)とY軸方向(第2水平方向、前後方向)とは、互いに垂直な方向である。また、Z軸方向(加工送り方向、高さ方向、鉛直方向、上下方向)は、X軸方向及びY軸方向と垂直な方向である。
(Embodiment 1)
Hereinafter, an embodiment according to one aspect of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. First, a configuration example of a grinding device that can be used in the grinding method of a workpiece according to this embodiment will be described. FIG. 1 is a perspective view showing a grinding device 2 that grinds a workpiece 11. In FIG. 1, the X-axis direction (first horizontal direction, left-right direction) and the Y-axis direction (second horizontal direction, front-back direction) are perpendicular to each other. In addition, the Z-axis direction (processing feed direction, height direction, vertical direction, up-down direction) is perpendicular to the X-axis direction and the Y-axis direction.

研削装置2は、研削装置2を構成する各構成要素を支持又は収容する基台4を備える。基台4の前端部の上面側には開口4aが設けられており、開口4aの内側には被加工物11を搬送する搬送ユニット(搬送機構)6が設けられている。例えば搬送ユニット6として、被加工物11を保持可能なロボットハンド(エンドエフェクタ)が装着された搬送ロボットが用いられる。 The grinding device 2 includes a base 4 that supports or houses each of the components that make up the grinding device 2. An opening 4a is provided on the top surface side of the front end of the base 4, and a transport unit (transport mechanism) 6 that transports the workpiece 11 is provided inside the opening 4a. For example, a transport robot equipped with a robot hand (end effector) capable of holding the workpiece 11 is used as the transport unit 6.

搬送ユニット6の両側には、カセット設置領域8A,8Bが設けられている。カセット設置領域8A,8B上にはそれぞれ、複数の被加工物11を収容可能なカセット10A,10Bが配置される。 Cassette installation areas 8A and 8B are provided on both sides of the transport unit 6. Cassettes 10A and 10B capable of accommodating multiple workpieces 11 are placed on the cassette installation areas 8A and 8B, respectively.

図2は、研削装置2によって研削される被加工物11を示す斜視図である。例えば被加工物11は、単結晶シリコン等の半導体材料でなる円盤状のウェーハであり、互いに概ね平行な表面(第1面)11a及び裏面(第2面)11bを含む。 Figure 2 is a perspective view showing the workpiece 11 to be ground by the grinding device 2. For example, the workpiece 11 is a disk-shaped wafer made of a semiconductor material such as single crystal silicon, and includes a front surface (first surface) 11a and a back surface (second surface) 11b that are generally parallel to each other.

被加工物11は、互いに交差するように格子状に配列された複数のストリート(分割予定ライン)13によって、複数の矩形状の領域に区画されている。また、ストリート13によって区画された複数の領域の表面11a側にはそれぞれ、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large Scale Integration)、LED(Light Emitting Diode)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)デバイス等のデバイス15が形成されている。 The workpiece 11 is divided into a number of rectangular regions by a number of streets (planned division lines) 13 arranged in a grid pattern so as to intersect with one another. Furthermore, devices 15 such as ICs (Integrated Circuits), LSIs (Large Scale Integration), LEDs (Light Emitting Diodes), and MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) devices are formed on the surface 11a side of each of the multiple regions divided by the streets 13.

被加工物11は、複数のデバイス15が形成された略円形のデバイス領域17と、デバイス領域17を囲繞する環状の外周余剰領域19とを、表面11a側に備える。外周余剰領域19は、表面11aの外周縁を含む所定の幅(例えば2mm程度)の帯状領域に相当する。外周余剰領域19には、デバイス15が形成されておらず、又は製品に使用されないデバイス15(ダミーデバイス)のみが形成されている。図2には、デバイス領域17と外周余剰領域19との仮想的な境界を破線で示している。 The workpiece 11 has, on the surface 11a side, a substantially circular device region 17 in which multiple devices 15 are formed, and an annular peripheral surplus region 19 surrounding the device region 17. The peripheral surplus region 19 corresponds to a strip-shaped region of a predetermined width (e.g., about 2 mm) that includes the outer periphery of the surface 11a. In the peripheral surplus region 19, no devices 15 are formed, or only devices 15 (dummy devices) that are not used in the product are formed. In FIG. 2, the imaginary boundary between the device region 17 and the peripheral surplus region 19 is shown by a dashed line.

被加工物11をストリート13に沿って分割することにより、デバイス15をそれぞれ備える複数のデバイスチップが製造される。また、被加工物11の分割前に、被加工物11の裏面11b側を研削して被加工物11を薄化しておくと、薄型化されたデバイスチップが得られる。 By dividing the workpiece 11 along the streets 13, multiple device chips, each of which includes a device 15, are manufactured. In addition, if the back surface 11b side of the workpiece 11 is ground to thin the workpiece 11 before dividing it, a thinned device chip can be obtained.

なお、被加工物11の材質、形状、構造、大きさ等に制限はない。例えば被加工物11は、シリコン以外の半導体(GaAs、InP、GaN、SiC等)、ガラス(石英ガラス、ホウケイ酸ガラス等)、セラミックス、樹脂、金属等でなる基板(ウェーハ)であってもよい。また、デバイス15の種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等にも制限はない。 There are no limitations on the material, shape, structure, size, etc. of the workpiece 11. For example, the workpiece 11 may be a substrate (wafer) made of a semiconductor other than silicon (GaAs, InP, GaN, SiC, etc.), glass (quartz glass, borosilicate glass, etc.), ceramics, resin, metal, etc. Furthermore, there are no limitations on the type, number, shape, structure, size, arrangement, etc. of the device 15.

図1に示すように、開口4aの斜め後方には、位置合わせ機構(アライメント機構)12が設けられている。カセット10A,10Bに収容された被加工物11は、搬送ユニット6によって位置合わせ機構12に搬送される。そして、位置合わせ機構12は被加工物11を挟み込んで所定の位置に配置する。 As shown in FIG. 1, an alignment mechanism 12 is provided diagonally behind the opening 4a. The workpieces 11 stored in the cassettes 10A and 10B are transported to the alignment mechanism 12 by the transport unit 6. The alignment mechanism 12 then clamps the workpieces 11 and positions them in a predetermined position.

位置合わせ機構12に隣接する位置には、被加工物11を搬送する搬送ユニット(搬送機構、ローディングアーム)14が設けられている。例えば搬送ユニット14は、被加工物11の上面側を吸引保持する吸引パッドを備える。搬送ユニット14は、位置合わせ機構12によって位置合わせが行われた被加工物11を吸着パッドで保持した後、吸着パッドを旋回させて被加工物11を後方に搬送する。 A transport unit (transport mechanism, loading arm) 14 that transports the workpiece 11 is provided adjacent to the alignment mechanism 12. For example, the transport unit 14 has a suction pad that holds the top side of the workpiece 11 by suction. The transport unit 14 holds the workpiece 11, which has been aligned by the alignment mechanism 12, with the suction pad, and then rotates the suction pad to transport the workpiece 11 backward.

搬送ユニット14の後方には、円盤状のターンテーブル16が設けられている。ターンテーブル16には、ターンテーブル16をZ軸方向と概ね平行な回転軸の周りで回転させるモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。 A disk-shaped turntable 16 is provided behind the transport unit 14. A rotational drive source (not shown), such as a motor, is connected to the turntable 16 to rotate the turntable 16 around a rotation axis that is generally parallel to the Z-axis direction.

ターンテーブル16上には、被加工物11を保持する複数のチャックテーブル(保持テーブル)18が設けられている。図1には、3個のチャックテーブル18がターンテーブル16の周方向に沿って概ね等間隔(120°間隔)で配置されている例を示している。ただし、チャックテーブル18の個数に制限はない。 On the turntable 16, multiple chuck tables (holding tables) 18 for holding the workpieces 11 are provided. Figure 1 shows an example in which three chuck tables 18 are arranged at approximately equal intervals (120° intervals) around the circumference of the turntable 16. However, there is no limit to the number of chuck tables 18.

図3は、チャックテーブル18を示す断面図である。チャックテーブル18は、SUS(ステンレス鋼)等の金属、ガラス、セラミックス、樹脂等でなる円柱状の枠体(本体部)20を備える。枠体20の上面20a側の中央部には、円柱状の凹部20bが設けられている。凹部20bは、枠体20の上面20aと同心円状に形成されている。 Figure 3 is a cross-sectional view of the chuck table 18. The chuck table 18 has a cylindrical frame (main body) 20 made of metal such as SUS (stainless steel), glass, ceramics, resin, etc. A cylindrical recess 20b is provided in the center of the upper surface 20a of the frame 20. The recess 20b is formed concentrically with the upper surface 20a of the frame 20.

枠体20の凹部20bには、ポーラスセラミックス等の多孔質材でなる円盤状の保持部材22が嵌め込まれている。保持部材22は、保持部材22の上面から下面まで連通する多数の気孔を含んでいる。保持部材22の上面は、チャックテーブル18で被加工物11を保持する際に被加工物11を吸引する円形の吸引面22aを構成している。 A disk-shaped holding member 22 made of a porous material such as porous ceramics is fitted into the recess 20b of the frame 20. The holding member 22 contains many pores that communicate from the top surface to the bottom surface of the holding member 22. The top surface of the holding member 22 forms a circular suction surface 22a that sucks the workpiece 11 when the workpiece 11 is held by the chuck table 18.

枠体20の上面20aと保持部材22の吸引面22aとによって、被加工物11を保持する保持面18aが構成される。保持面18aは、保持部材22に含まれる気孔、枠体20の内部に形成された流路20c、バルブ(不図示)等を介して、エジェクタ等の吸引源(不図示)に接続される。 The upper surface 20a of the frame 20 and the suction surface 22a of the holding member 22 form the holding surface 18a that holds the workpiece 11. The holding surface 18a is connected to a suction source (not shown) such as an ejector via pores contained in the holding member 22, a flow path 20c formed inside the frame 20, a valve (not shown), etc.

チャックテーブル18の保持面18aは、保持面18aの中心を頂点とする円錐状に形成されており、保持面18aの径方向に対して僅かに傾斜している。そして、チャックテーブル18は、保持面18aの一部に相当し保持面18aの中心から外周縁に至る保持領域18bが水平面(XY平面)と概ね平行になるように、僅かに傾いた状態で配置される。 The holding surface 18a of the chuck table 18 is formed in a cone shape with the apex at the center of the holding surface 18a, and is slightly inclined with respect to the radial direction of the holding surface 18a. The chuck table 18 is arranged in a slightly inclined state so that the holding area 18b, which corresponds to a part of the holding surface 18a and extends from the center of the holding surface 18a to the outer periphery, is approximately parallel to the horizontal plane (XY plane).

チャックテーブル18には、チャックテーブル18を回転させるモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。回転駆動源は、チャックテーブル18を回転軸24の周りで回転させる。回転軸24は、保持面18aの径方向と垂直な方向に沿って設定されており、保持面18aと交差しつつ保持面18aの中心を通過する。また、回転軸24はZ軸方向に対して僅かに傾斜している。 A rotational drive source (not shown), such as a motor, that rotates the chuck table 18 is connected to the chuck table 18. The rotational drive source rotates the chuck table 18 around a rotation axis 24. The rotation axis 24 is set along a direction perpendicular to the radial direction of the holding surface 18a, and passes through the center of the holding surface 18a while intersecting with the holding surface 18a. The rotation axis 24 is also slightly inclined with respect to the Z-axis direction.

なお、図3では説明の便宜上、保持面18aの傾斜を誇張して図示している(図5(A)以降も同様)。ただし、実際の保持面18aの傾斜は小さい。例えば、保持面18aの直径が290mm以上310mm以下程度である場合には、保持面18aの中心と外周縁との高さの差(円錐の高さに相当)は、20μm以上40μm以下程度に設定される。 For ease of explanation, the inclination of the holding surface 18a is exaggerated in FIG. 3 (the same applies to FIG. 5(A) and subsequent figures). However, the actual inclination of the holding surface 18a is small. For example, if the diameter of the holding surface 18a is approximately 290 mm or more and 310 mm or less, the difference in height between the center and the outer periphery of the holding surface 18a (corresponding to the height of the cone) is set to approximately 20 μm or more and 40 μm or less.

図1に示すターンテーブル16は、平面視で時計回りに回転する。これにより、各チャックテーブル18が搬送位置A、粗研削位置(第1研削位置)B、仕上げ研削位置(第2研削位置)C、搬送位置Aに順に位置付けられる。 The turntable 16 shown in FIG. 1 rotates clockwise in a plan view. This positions each chuck table 18 in the following order: transport position A, rough grinding position (first grinding position) B, finish grinding position (second grinding position) C, and transport position A.

粗研削位置Bの近傍及び仕上げ研削位置Cの近傍にはそれぞれ、チャックテーブル18によって保持された被加工物11の厚さを測定する厚さ測定器26が設けられている。例えば厚さ測定器26は、チャックテーブル18によって保持された被加工物11の上面の高さを測定する第1高さ測定器(第1ハイトゲージ)と、チャックテーブル18の上面の高さを測定する第2高さ測定器(第2ハイトゲージ)とを備える。 A thickness gauge 26 for measuring the thickness of the workpiece 11 held by the chuck table 18 is provided near the rough grinding position B and near the finish grinding position C. For example, the thickness gauge 26 includes a first height gauge (first height gauge) for measuring the height of the top surface of the workpiece 11 held by the chuck table 18, and a second height gauge (second height gauge) for measuring the height of the top surface of the chuck table 18.

粗研削位置B、仕上げ研削位置Cの後方にはそれぞれ、柱状の支持構造28A,28Bが配置されている。支持構造28Aの前面側には移動ユニット(移動機構)30Aが設けられ、支持構造28Bの前面側には移動ユニット(移動機構)30Bが設けられている。 Columnar support structures 28A and 28B are arranged behind the rough grinding position B and the finish grinding position C, respectively. A moving unit (moving mechanism) 30A is provided on the front side of the support structure 28A, and a moving unit (moving mechanism) 30B is provided on the front side of the support structure 28B.

移動ユニット30A,30Bはそれぞれ、Z軸方向に沿って配置された一対のガイドレール32を備える。一対のガイドレール32には、平板状の移動プレート34がガイドレール32に沿ってスライド可能に装着されている。 Each of the moving units 30A and 30B has a pair of guide rails 32 arranged along the Z-axis direction. A flat moving plate 34 is attached to the pair of guide rails 32 so as to be able to slide along the guide rails 32.

移動プレート34の後面側(裏面側)には、ナット部(不図示)が設けられている。このナット部には、一対のガイドレール32の間にZ軸方向に沿って配置されたボールねじ36が螺合されている。また、ボールねじ36の端部には、ボールねじ36を回転させるパルスモータ38が連結されている。パルスモータ38でボールねじ36を回転させると、移動プレート34がZ軸方向に沿って移動する。 A nut portion (not shown) is provided on the rear side (back side) of the moving plate 34. A ball screw 36 is disposed between the pair of guide rails 32 along the Z-axis direction and is screwed into this nut portion. A pulse motor 38 that rotates the ball screw 36 is connected to the end of the ball screw 36. When the ball screw 36 is rotated by the pulse motor 38, the moving plate 34 moves along the Z-axis direction.

移動ユニット30Aの移動プレート34には、被加工物11に粗研削を施す研削ユニット(粗研削ユニット)40Aが装着されている。研削ユニット40Aは、粗研削位置Bに位置付けられたチャックテーブル18によって保持されている被加工物11を研削する。 A grinding unit (rough grinding unit) 40A that performs rough grinding on the workpiece 11 is attached to the moving plate 34 of the moving unit 30A. The grinding unit 40A grinds the workpiece 11 held by the chuck table 18 positioned at the rough grinding position B.

具体的には、研削ユニット40Aは、中空の円柱状に形成されたハウジング42Aを備える。ハウジング42Aは、移動プレート34の前面側(表面側)に固定されている。ハウジング42AにはZ軸方向に沿って配置された円柱状のスピンドル44A(図5(A)参照)が収容されており、スピンドル44Aの先端部(下端部)はハウジング42Aから露出している。スピンドル44Aの基端部(上端部)にはスピンドル44Aを回転させるモータ等の回転駆動源46Aが連結されており、スピンドル44Aの先端部には金属等でなる円盤状のホイールマウント48Aが固定されている。 Specifically, the grinding unit 40A includes a housing 42A formed in a hollow cylindrical shape. The housing 42A is fixed to the front side (surface side) of the moving plate 34. The housing 42A accommodates a cylindrical spindle 44A (see FIG. 5(A)) arranged along the Z-axis direction, and the tip (lower end) of the spindle 44A is exposed from the housing 42A. A rotation drive source 46A such as a motor that rotates the spindle 44A is connected to the base end (upper end) of the spindle 44A, and a disk-shaped wheel mount 48A made of metal or the like is fixed to the tip of the spindle 44A.

ホイールマウント48Aの下面側には、粗研削用の研削ホイール(粗研削ホイール、第1研削ホイール)50Aが装着される。研削ホイール50Aは、ホイールマウント48Aに着脱可能で被加工物11に粗研削を施すための加工工具であり、例えば締結ボルト等の固定具によってホイールマウント48Aに固定される。 A grinding wheel (rough grinding wheel, first grinding wheel) 50A for rough grinding is attached to the underside of the wheel mount 48A. The grinding wheel 50A is a processing tool that can be attached and detached to the wheel mount 48A and is used to perform rough grinding on the workpiece 11, and is fixed to the wheel mount 48A by a fastener such as a fastening bolt.

移動ユニット30Bの移動プレート34には、被加工物11に仕上げ研削を施す研削ユニット(仕上げ研削ユニット)40Bが装着されている。研削ユニット40Bは、仕上げ研削位置Cに位置付けられたチャックテーブル18によって保持されている被加工物11を研削する。 A grinding unit (finish grinding unit) 40B that performs finish grinding on the workpiece 11 is attached to the moving plate 34 of the moving unit 30B. The grinding unit 40B grinds the workpiece 11 held by the chuck table 18 positioned at the finish grinding position C.

具体的には、研削ユニット40Bは、ハウジング42Bと、ハウジング42Bに収容されたスピンドル44B(図6(A)参照)とを備える。スピンドル44Bの基端部(上端部)にはスピンドル44Bを回転させるモータ等の回転駆動源46Bが連結されており、スピンドル44Bの先端部(下端部)には円盤状のホイールマウント48Bが固定されている。なお、研削ユニット40Bの構成要素の構成及び機能は、研削ユニット40Aと同様である。 Specifically, grinding unit 40B includes a housing 42B and a spindle 44B (see FIG. 6A) housed in housing 42B. A rotary drive source 46B such as a motor that rotates spindle 44B is connected to the base end (upper end) of spindle 44B, and a disk-shaped wheel mount 48B is fixed to the tip end (lower end) of spindle 44B. The configurations and functions of the components of grinding unit 40B are the same as those of grinding unit 40A.

ホイールマウント48Bの下面側には、仕上げ研削用の研削ホイール(仕上げ研削ホイール、第2研削ホイール)50Bが装着される。研削ホイール50Bは、ホイールマウント48Bに着脱可能で被加工物11に仕上げ研削を施すための加工工具であり、例えば締結ボルト等の固定具によってホイールマウント48Bに固定される。 A grinding wheel (finish grinding wheel, second grinding wheel) 50B for finish grinding is attached to the underside of the wheel mount 48B. The grinding wheel 50B is a processing tool that can be attached and detached to the wheel mount 48B and is used to perform finish grinding on the workpiece 11, and is fixed to the wheel mount 48B by a fastener such as a fastening bolt.

研削ホイール50Aは、環状のホイール基台(第1ホイール基台)52A及び複数の研削砥石54A(第1研削砥石)を備える(図5(A)参照)。また、研削ホイール50Bは、環状のホイール基台(第2ホイール基台)52B及び複数の研削砥石(第2研削砥石)54Bを備える(図6(A)参照)。研削ホイール50A,50Bの構成及び機能の詳細については後述する。 The grinding wheel 50A includes an annular wheel base (first wheel base) 52A and a plurality of grinding wheels 54A (first grinding wheels) (see FIG. 5A). The grinding wheel 50B includes an annular wheel base (second wheel base) 52B and a plurality of grinding wheels (second grinding wheels) 54B (see FIG. 6A). The configuration and function of the grinding wheels 50A and 50B will be described in detail below.

移動ユニット30Aは、研削ユニット40AをZ軸方向に沿って昇降させることにより、粗研削位置Bに位置付けられているチャックテーブル18と研削ホイール50AとをZ軸方向に沿って互いに接近及び離隔させる。同様に、移動ユニット30Bは、研削ユニット40BをZ軸方向に沿って昇降させることにより、仕上げ研削位置Cに位置付けられているチャックテーブル18と研削ホイール50BとをZ軸方向に沿って互いに接近及び離隔させる。 The moving unit 30A moves the grinding unit 40A up and down along the Z-axis direction, thereby moving the chuck table 18 and the grinding wheel 50A, which are positioned at the rough grinding position B, closer to and farther away from each other along the Z-axis direction. Similarly, the moving unit 30B moves the grinding unit 40B up and down along the Z-axis direction, thereby moving the chuck table 18 and the grinding wheel 50B, which are positioned at the finish grinding position C, closer to and farther away from each other along the Z-axis direction.

搬送ユニット14とX軸方向において隣接する位置には、被加工物11を搬送する搬送ユニット(搬送機構、アンローディングアーム)56が設けられている。例えば搬送ユニット56は、被加工物11の上面側を吸引保持する吸引パッドを備える。搬送ユニット56は、搬送位置Aに配置されたチャックテーブル18によって保持されている被加工物11を吸着パッドで保持した後、吸着パッドを旋回させて被加工物11を前方に搬送する。 A transport unit (transport mechanism, unloading arm) 56 that transports the workpiece 11 is provided at a position adjacent to the transport unit 14 in the X-axis direction. For example, the transport unit 56 has a suction pad that holds the top side of the workpiece 11 by suction. The transport unit 56 holds the workpiece 11 held by the chuck table 18 arranged at transport position A with the suction pad, and then rotates the suction pad to transport the workpiece 11 forward.

搬送ユニット56の前方側には、被加工物11を洗浄する洗浄ユニット(洗浄機構、洗浄装置)58が設けられている。洗浄ユニット58は、搬送ユニット56によってチャックテーブル18から搬送された被加工物11を洗浄する。例えば洗浄ユニット58は、被加工物11を保持して回転するスピンナテーブルと、スピンナテーブルによって保持された被加工物11に洗浄用の液体(純水等)を供給するノズルとを備える。 A cleaning unit (cleaning mechanism, cleaning device) 58 that cleans the workpiece 11 is provided in front of the transport unit 56. The cleaning unit 58 cleans the workpiece 11 transported from the chuck table 18 by the transport unit 56. For example, the cleaning unit 58 includes a spinner table that holds and rotates the workpiece 11, and a nozzle that supplies cleaning liquid (pure water, etc.) to the workpiece 11 held by the spinner table.

また、研削装置2は、研削装置2を構成する各構成要素(搬送ユニット6、位置合わせ機構12、搬送ユニット14、ターンテーブル16、チャックテーブル18、厚さ測定器26、移動ユニット30A,30B、研削ユニット40A,40B、搬送ユニット56、洗浄ユニット58等)に接続されたコントローラー(制御ユニット、制御部、制御装置)60を備える。コントローラー60は、研削装置2の各構成要素に制御信号を出力することにより、研削装置2を制御する。 The grinding device 2 also includes a controller (control unit, control section, control device) 60 connected to each of the components that make up the grinding device 2 (the transport unit 6, the alignment mechanism 12, the transport unit 14, the turntable 16, the chuck table 18, the thickness gauge 26, the moving units 30A and 30B, the grinding units 40A and 40B, the transport unit 56, the cleaning unit 58, etc.). The controller 60 controls the grinding device 2 by outputting control signals to each of the components of the grinding device 2.

例えばコントローラー60は、コンピュータによって構成され、研削装置2の稼働に必要な演算を行う演算部と、研削装置2の稼働に用いられる各種の情報(データ、プログラム等)を記憶する記憶部とを含む。演算部は、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサを含んで構成される。また、記憶部は、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等のメモリを含んで構成される。 For example, the controller 60 is configured by a computer and includes a calculation unit that performs calculations necessary for the operation of the grinding device 2, and a storage unit that stores various information (data, programs, etc.) used in the operation of the grinding device 2. The calculation unit includes a processor such as a CPU (Central Processing Unit). The storage unit includes memories such as a ROM (Read Only Memory) and a RAM (Random Access Memory).

研削装置2で被加工物11を加工する際には、まず、複数の被加工物11を収容したカセット10A又はカセット10Bが、カセット設置領域8A又はカセット設置領域8B上に設置される。そして、搬送ユニット6によって被加工物11がカセット10A又はカセット10Bから位置合わせ機構12に搬送され、位置合わせ機構12によって被加工物11の位置合わせが行われる。その後、搬送ユニット14によって被加工物11が搬送位置Aに配置されているチャックテーブル18に搬送され、チャックテーブル18によって保持される。 When the workpiece 11 is processed by the grinding device 2, first, a cassette 10A or cassette 10B containing multiple workpieces 11 is placed on the cassette installation area 8A or cassette installation area 8B. Then, the transport unit 6 transports the workpiece 11 from the cassette 10A or cassette 10B to the alignment mechanism 12, which aligns the workpiece 11. Thereafter, the transport unit 14 transports the workpiece 11 to the chuck table 18 located at the transport position A, and the workpiece 11 is held by the chuck table 18.

次に、ターンテーブル16が回転し、被加工物11を保持したチャックテーブル18が粗研削位置Bに位置付けられる。そして、研削ユニット40Aに装着された研削ホイール50Aによって被加工物11が研削される。これにより、被加工物11に粗研削が施される。 Next, the turntable 16 rotates, and the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the rough grinding position B. The workpiece 11 is then ground by the grinding wheel 50A attached to the grinding unit 40A. This results in rough grinding of the workpiece 11.

次に、ターンテーブル16が回転し、被加工物11を保持したチャックテーブル18が仕上げ研削位置Cに位置付けられる。そして、研削ユニット40Bに装着された研削ホイール50Bによって被加工物11が研削される。これにより、被加工物11に仕上げ研削が施される。 Next, the turntable 16 rotates, and the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the finish grinding position C. The workpiece 11 is then ground by the grinding wheel 50B attached to the grinding unit 40B. This completes the finish grinding of the workpiece 11.

被加工物11の粗研削及び仕上げ研削が完了すると、ターンテーブル16が回転し、被加工物11を保持したチャックテーブル18が再び搬送位置Aに位置付けられる。そして、被加工物11が搬送ユニット56によってチャックテーブル18上から洗浄ユニット58に搬送され、洗浄ユニット58によって洗浄される。洗浄後の被加工物11は、搬送ユニット6によって搬送され、カセット10A又はカセット10Bに収容される。 When the rough grinding and finish grinding of the workpiece 11 are completed, the turntable 16 rotates and the chuck table 18 holding the workpiece 11 is again positioned at the transport position A. The workpiece 11 is then transported from the chuck table 18 to the cleaning unit 58 by the transport unit 56, and is cleaned by the cleaning unit 58. After cleaning, the workpiece 11 is transported by the transport unit 6 and stored in the cassette 10A or cassette 10B.

次に、本実施形態に係る被加工物の研削方法の具体例について説明する。図4は、被加工物の加工方法を示すフローチャートである。以下では一例として、研削装置2を用いて被加工物11の裏面11b側を研削することによって被加工物11を薄化する場合について説明する。すなわち、被加工物11の裏面11bが研削ホイール50A,50Bによって研削される面(被研削面)に相当する。 Next, a specific example of the method for grinding the workpiece according to this embodiment will be described. FIG. 4 is a flowchart showing the method for processing the workpiece. As an example, the following describes a case where the workpiece 11 is thinned by grinding the back surface 11b side of the workpiece 11 using the grinding device 2. In other words, the back surface 11b of the workpiece 11 corresponds to the surface (grinding surface) that is ground by the grinding wheels 50A and 50B.

まず、研削ホイール50Aで被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する(第1研削ステップS1)。図5(A)は第1研削ステップS1における研削装置2を示す一部断面側面図であり、図5(B)は第1研削ステップS1における研削装置2を示す平面図である。 First, the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11 is ground with a grinding wheel 50A (first grinding step S1). Figure 5(A) is a partially sectional side view showing the grinding device 2 in the first grinding step S1, and Figure 5(B) is a plan view showing the grinding device 2 in the first grinding step S1.

被加工物11を研削する際には、被加工物11がチャックテーブル18で保持される。前述の通り、位置合わせ機構12(図1参照)によって位置合わせが行われた被加工物11が、搬送ユニット14(図1参照)によって搬送され、搬送位置Aに配置されたチャックテーブル18上に配置される。 When grinding the workpiece 11, the workpiece 11 is held by the chuck table 18. As described above, the workpiece 11, which has been aligned by the alignment mechanism 12 (see FIG. 1), is transported by the transport unit 14 (see FIG. 1) and placed on the chuck table 18, which is placed at the transport position A.

被加工物11は、表面11a側が保持面18aに対面して裏面11b側(被研削面側)が上方に露出するように、チャックテーブル18上に配置される。このとき被加工物11は、チャックテーブル18の回転軸24が被加工物11の中心を通過するように、保持面18aと同心円状に位置付けられる。また、チャックテーブル18の吸引面22a(図3参照)の全体が被加工物11によって覆われる。この状態で、保持面18aに吸引源の吸引力(負圧)を作用させると、被加工物11がチャックテーブル18によって吸引保持される。 The workpiece 11 is placed on the chuck table 18 so that the front surface 11a faces the holding surface 18a and the back surface 11b (the surface to be ground) is exposed upward. At this time, the workpiece 11 is positioned concentrically with the holding surface 18a so that the rotation axis 24 of the chuck table 18 passes through the center of the workpiece 11. In addition, the entire suction surface 22a (see Figure 3) of the chuck table 18 is covered by the workpiece 11. In this state, when the suction force (negative pressure) of the suction source is applied to the holding surface 18a, the workpiece 11 is suction-held by the chuck table 18.

なお、前述の通り、チャックテーブル18の保持面18aは円錐状に形成されている。そして、チャックテーブル18で被加工物11を保持すると、被加工物11が保持面18aに沿って僅かに変形する。その結果、被加工物11のうち保持面18aの保持領域18b(図3参照)で支持されている領域の裏面11b側が、水平面(XY平面)と概ね平行に配置される。 As mentioned above, the holding surface 18a of the chuck table 18 is formed in a cone shape. When the workpiece 11 is held by the chuck table 18, the workpiece 11 deforms slightly along the holding surface 18a. As a result, the back surface 11b side of the area of the workpiece 11 supported by the holding area 18b (see FIG. 3) of the holding surface 18a is positioned approximately parallel to the horizontal plane (XY plane).

被加工物11の表面11a側には、被加工物11を保護する保護シートが貼付されてもよい。これにより、被加工物11の表面11a側及びデバイス15(図2参照)が保護シートによって覆われて保護される。この場合、被加工物11は保護シートを介してチャックテーブル18の保持面18aで保持される。 A protective sheet for protecting the workpiece 11 may be attached to the surface 11a of the workpiece 11. This covers and protects the surface 11a of the workpiece 11 and the device 15 (see FIG. 2) with the protective sheet. In this case, the workpiece 11 is held by the holding surface 18a of the chuck table 18 via the protective sheet.

例えば保護シートとして、円形に形成されたフィルム状の基材と、基材上に設けられた粘着層(糊層)とを含むテープが用いられる。基材は、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタラート等の樹脂でなる。また、粘着層は、エポキシ系、アクリル系、又はゴム系の接着剤等でなる。なお、粘着層は、紫外線の照射によって硬化する紫外線硬化樹脂であってもよい。 For example, a tape including a circular film-like substrate and an adhesive layer (glue layer) provided on the substrate is used as the protective sheet. The substrate is made of a resin such as polyolefin, polyvinyl chloride, or polyethylene terephthalate. The adhesive layer is made of an epoxy-based, acrylic-based, or rubber-based adhesive. The adhesive layer may be an ultraviolet-curing resin that is cured by exposure to ultraviolet light.

次に、ターンテーブル16(図1参照)が回転し、被加工物11を保持したチャックテーブル18が粗研削位置B(図1参照)に位置付けられる。これにより、被加工物11が研削ホイール50Aの下方に配置される。 Next, the turntable 16 (see FIG. 1) rotates, and the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the rough grinding position B (see FIG. 1). This positions the workpiece 11 below the grinding wheel 50A.

図5(A)に示すように、研削ホイール50Aは、環状のホイール基台52Aを備える。ホイール基台52Aは、アルミニウム、ステンレス等の金属でなり、ホイールマウント48Aと概ね同径に形成される。また、ホイール基台52Aの下面側には、複数の研削砥石54Aが固定されている。例えば研削砥石54Aは、直方体状に形成され、ホイール基台52Aの周方向に沿って概ね等間隔で環状に配列される。 As shown in FIG. 5A, the grinding wheel 50A has an annular wheel base 52A. The wheel base 52A is made of a metal such as aluminum or stainless steel, and is formed to have approximately the same diameter as the wheel mount 48A. In addition, a plurality of grinding stones 54A are fixed to the underside of the wheel base 52A. For example, the grinding stones 54A are formed in a rectangular parallelepiped shape and are arranged in a ring shape at approximately equal intervals along the circumferential direction of the wheel base 52A.

研削砥石54Aは、砥粒(第1砥粒)と、砥粒を固定する結合材(ボンド材)とを含む。砥粒としては、ダイヤモンド、cBN(cubic Boron Nitride)等が用いられ、結合材としては、メタルボンド、レジンボンド、ビトリファイドボンド等が用いられる。ただし、研削砥石54Aの材質、形状、構造、大きさ等に制限はなく、研削砥石54Aの数及び配列も任意に設定できる。 The grinding wheel 54A includes abrasive grains (first abrasive grains) and a bonding material (bond material) that fixes the abrasive grains. Diamond, cBN (cubic boron nitride), etc. are used as the abrasive grains, and metal bond, resin bond, vitrified bond, etc. are used as the bonding material. However, there are no restrictions on the material, shape, structure, size, etc. of the grinding wheel 54A, and the number and arrangement of the grinding wheels 54A can be set as desired.

回転駆動源46A(図1参照)を駆動させると、スピンドル44A及び研削ホイール50AがZ軸方向と概ね平行な回転軸の周りを回転する。これにより、複数の研削砥石54Aがそれぞれ、スピンドル44A及び研削ホイール50Aの回転軸を中心とする環状の軌道(経路)に沿って旋回する。 When the rotary drive source 46A (see FIG. 1) is driven, the spindle 44A and the grinding wheel 50A rotate around a rotation axis that is roughly parallel to the Z-axis direction. This causes each of the multiple grinding stones 54A to revolve along annular orbits (paths) centered on the rotation axes of the spindle 44A and the grinding wheel 50A.

被加工物11を保持したチャックテーブル18が粗研削位置B(図1参照)に位置付けられると、被加工物11の中心と研削砥石54Aの軌道とがZ軸方向において重なるように、チャックテーブル18と研削ホイール50Aとの位置関係が調節される。なお、研削砥石54Aの軌道の直径は、被加工物11の半径よりも大きい。そのため、複数の研削砥石54Aは、被加工物11の中心から外周縁に至る円弧状の領域と重なるように配置される。 When the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the rough grinding position B (see FIG. 1), the positional relationship between the chuck table 18 and the grinding wheel 50A is adjusted so that the center of the workpiece 11 and the orbit of the grinding wheel 54A overlap in the Z-axis direction. The diameter of the orbit of the grinding wheel 54A is larger than the radius of the workpiece 11. Therefore, the multiple grinding wheels 54A are positioned so that they overlap with an arc-shaped area extending from the center of the workpiece 11 to the outer periphery.

次に、チャックテーブル18を回転軸24の周りで回転させるとともに、研削ホイール50Aをスピンドル44Aの回転軸の周りで回転させる。例えば、チャックテーブル18の回転数は100rpm以上900rpm以下に設定され、スピンドル44A及び研削ホイール50Aの回転数は1000rpm以上3000rpm以下に設定される。 Next, the chuck table 18 is rotated around the rotation axis 24, and the grinding wheel 50A is rotated around the rotation axis of the spindle 44A. For example, the rotation speed of the chuck table 18 is set to 100 rpm or more and 900 rpm or less, and the rotation speeds of the spindle 44A and the grinding wheel 50A are set to 1000 rpm or more and 3000 rpm or less.

そして、チャックテーブル18及び研削ホイール50Aを回転させた状態で、研削ユニット40AをZ軸方向(スピンドル44A及び研削ホイール50Aの回転軸と平行な方向)に沿って所定の速度で下降させ、チャックテーブル18の保持面18aと研削ホイール50Aとを相対的に接近させる。このときのチャックテーブル18と研削ホイール50AとのZ軸方向における相対的な移動速度が、第1研削ステップS1における加工送り速度に相当する。例えば、加工送り速度は1.0μm/s以上6.0μm/s以下に設定される。 Then, while rotating the chuck table 18 and the grinding wheel 50A, the grinding unit 40A is lowered at a predetermined speed along the Z-axis direction (a direction parallel to the rotation axis of the spindle 44A and the grinding wheel 50A) to bring the holding surface 18a of the chuck table 18 and the grinding wheel 50A relatively close to each other. The relative movement speed of the chuck table 18 and the grinding wheel 50A in the Z-axis direction at this time corresponds to the processing feed speed in the first grinding step S1. For example, the processing feed speed is set to 1.0 μm/s or more and 6.0 μm/s or less.

研削砥石54Aが被加工物11に接触すると、研削砥石54Aはチャックテーブル18の回転軸24を通過するように旋回しつつ、被加工物11の裏面11b側の全体を研削する。これにより、被加工物11の全体が薄化される。 When the grinding wheel 54A comes into contact with the workpiece 11, the grinding wheel 54A rotates to pass through the rotation axis 24 of the chuck table 18, grinding the entire back surface 11b of the workpiece 11. This causes the entire workpiece 11 to be thinned.

また、被加工物11が研削ホイール50Aで研削されている間は、被加工物11及び研削砥石54Aに研削液74が供給される。研削液74によって、被加工物11及び研削砥石54Aが冷却されるとともに、被加工物11の研削によって発生した屑(研削屑)が洗い流される。 While the workpiece 11 is being ground by the grinding wheel 50A, grinding fluid 74 is supplied to the workpiece 11 and the grinding wheel 54A. The grinding fluid 74 cools the workpiece 11 and the grinding wheel 54A and washes away debris (grinding debris) generated by grinding the workpiece 11.

例えば研削装置2には、研削液74を供給する研削液供給ユニット70Aが設けられている。研削液供給ユニット70Aは、研削ユニット40Aの下方に設けられたノズル72Aを備える。例えばノズル72Aは、研削砥石54Aの軌道の内側と重なる位置に設置され、チャックテーブル18で保持された被加工物11及び研削砥石54Aに純水等の研削液74を供給する。 For example, the grinding device 2 is provided with a grinding fluid supply unit 70A that supplies grinding fluid 74. The grinding fluid supply unit 70A includes a nozzle 72A that is provided below the grinding unit 40A. For example, the nozzle 72A is installed at a position that overlaps with the inside of the orbit of the grinding wheel 54A, and supplies grinding fluid 74 such as pure water to the workpiece 11 held by the chuck table 18 and the grinding wheel 54A.

上記のように、第1研削ステップS1では、被加工物11及び研削砥石54Aに研削液74を供給しながら研削砥石54Aを被加工物11に接触させることにより、被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する。そして、被加工物11が所定の厚さになるまで薄化されると、研削ホイール50Aが上昇し、研削砥石54Aが被加工物11から離隔される。これにより、被加工物11の粗研削が完了する。なお、第1研削ステップS1後の被加工物11の裏面11b側には、研削砥石54Aの軌道に沿って形成された円弧状の研削痕(ソーマーク)11cが残存する(図5(B)参照)。 As described above, in the first grinding step S1, the grinding wheel 54A is brought into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid 74 to the workpiece 11 and the grinding wheel 54A, thereby grinding the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11. Then, when the workpiece 11 is thinned to a predetermined thickness, the grinding wheel 50A is raised and the grinding wheel 54A is separated from the workpiece 11. This completes the rough grinding of the workpiece 11. Note that after the first grinding step S1, arc-shaped grinding marks (saw marks) 11c formed along the trajectory of the grinding wheel 54A remain on the back surface 11b side of the workpiece 11 (see FIG. 5B).

次に、研削ホイール50Bで被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する(第2研削ステップS2)。図6(A)は第2研削ステップS2における研削装置2を示す一部断面側面図であり、図6(B)は第2研削ステップS2における研削装置2を示す平面図である。 Next, the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11 is ground with the grinding wheel 50B (second grinding step S2). Figure 6(A) is a partially sectional side view showing the grinding device 2 in the second grinding step S2, and Figure 6(B) is a plan view showing the grinding device 2 in the second grinding step S2.

被加工物11の粗研削(第1研削ステップS1)が完了すると、ターンテーブル16(図1参照)が回転し、被加工物11を保持したチャックテーブル18が仕上げ研削位置C(図1参照)に位置付けられる。これにより、被加工物11が研削ホイール50Bの下方に配置される。 When the rough grinding of the workpiece 11 (first grinding step S1) is completed, the turntable 16 (see FIG. 1) rotates and the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the finish grinding position C (see FIG. 1). This positions the workpiece 11 below the grinding wheel 50B.

図6(A)に示すように、研削ホイール50Bは、環状のホイール基台52Bと、ホイール基台52Bに固定された複数の研削砥石54Bとを備える。なお、ホイール基台52B及び研削砥石54Bの材質、構造、機能等は、研削ホイール50Aのホイール基台52A及び研削砥石54A(図5(A)参照)と同様である。ただし、研削砥石54Bに含まれる砥粒(第2砥粒)の平均粒径は、研削砥石54Aに含まれる砥粒(第1砥粒)の平均粒径よりも小さい。 As shown in FIG. 6A, the grinding wheel 50B includes an annular wheel base 52B and a plurality of grinding wheels 54B fixed to the wheel base 52B. The material, structure, function, etc. of the wheel base 52B and the grinding wheels 54B are the same as those of the wheel base 52A and the grinding wheels 54A of the grinding wheel 50A (see FIG. 5A). However, the average grain size of the abrasive grains (second abrasive grains) contained in the grinding wheels 54B is smaller than the average grain size of the abrasive grains (first abrasive grains) contained in the grinding wheels 54A.

回転駆動源46B(図1参照)を駆動させると、スピンドル44B及び研削ホイール50BがZ軸方向と概ね平行な回転軸の周りを回転する。これにより、複数の研削砥石54Bがそれぞれ、スピンドル44B及び研削ホイール50Bの回転軸を中心とする環状の軌道(経路)に沿って旋回する。 When the rotary drive source 46B (see FIG. 1) is driven, the spindle 44B and the grinding wheel 50B rotate around a rotation axis that is roughly parallel to the Z-axis direction. This causes each of the multiple grinding stones 54B to revolve along annular orbits (paths) centered on the rotation axes of the spindle 44B and the grinding wheel 50B.

被加工物11を保持したチャックテーブル18が仕上げ研削位置C(図1参照)に位置付けられると、被加工物11の中心と研削砥石54Bの軌道とがZ軸方向において重なるように、チャックテーブル18と研削ホイール50Bとの位置関係が調節される。なお、研削砥石54Bの軌道の直径は、被加工物11の半径よりも大きい。そのため、複数の研削砥石54Bは、被加工物11の中心から外周縁に至る円弧状の領域と重なるように配置される。 When the chuck table 18 holding the workpiece 11 is positioned at the finish grinding position C (see FIG. 1), the positional relationship between the chuck table 18 and the grinding wheel 50B is adjusted so that the center of the workpiece 11 and the orbit of the grinding wheel 54B overlap in the Z-axis direction. The diameter of the orbit of the grinding wheel 54B is larger than the radius of the workpiece 11. Therefore, the multiple grinding wheels 54B are positioned so that they overlap with an arc-shaped area extending from the center of the workpiece 11 to the outer periphery.

次に、チャックテーブル18を回転軸24の周りで回転させるとともに、研削ホイール50Bをスピンドル44Bの回転軸の周りで回転させる。例えば、チャックテーブル18の回転数は100rpm以上900rpm以下に設定され、スピンドル44B及び研削ホイール50Bの回転数は1000rpm以上3000rpm以下に設定される。 Next, the chuck table 18 is rotated around the rotation axis 24, and the grinding wheel 50B is rotated around the rotation axis of the spindle 44B. For example, the rotation speed of the chuck table 18 is set to 100 rpm or more and 900 rpm or less, and the rotation speeds of the spindle 44B and the grinding wheel 50B are set to 1000 rpm or more and 3000 rpm or less.

そして、チャックテーブル18及び研削ホイール50Bを回転させた状態で、研削ユニット40BをZ軸方向(スピンドル44B及び研削ホイール50Bの回転軸と平行な方向)に沿って所定の速度で下降させ、チャックテーブル18の保持面18aと研削ホイール50Bとを相対的に接近させる。このときのチャックテーブル18と研削ホイール50BとのZ軸方向における相対的な移動速度が、第2研削ステップS2における加工送り速度に相当する。例えば、加工送り速度は0.1μm/s以上1.0μm/s以下に設定される。 Then, while rotating the chuck table 18 and the grinding wheel 50B, the grinding unit 40B is lowered at a predetermined speed along the Z-axis direction (a direction parallel to the rotation axis of the spindle 44B and the grinding wheel 50B) to bring the holding surface 18a of the chuck table 18 and the grinding wheel 50B relatively close to each other. The relative movement speed of the chuck table 18 and the grinding wheel 50B in the Z-axis direction at this time corresponds to the processing feed speed in the second grinding step S2. For example, the processing feed speed is set to 0.1 μm/s or more and 1.0 μm/s or less.

研削砥石54Bが被加工物11に接触すると、研削砥石54Bはチャックテーブル18の回転軸24を通過するように旋回しつつ、被加工物11の裏面11b側を削り取る。これにより、被加工物11の裏面11b側が研削され、被加工物11の全体が薄化される。 When the grinding wheel 54B comes into contact with the workpiece 11, the grinding wheel 54B rotates to pass through the rotation axis 24 of the chuck table 18, grinding away the back surface 11b of the workpiece 11. This causes the back surface 11b of the workpiece 11 to be ground away, thinning the entire workpiece 11.

また、被加工物11が研削ホイール50Bで研削されている間は、被加工物11及び研削砥石54Bに研削液74が供給される。例えば研削装置2には、研削液74を供給する研削液供給ユニット70Bが設けられている。研削液供給ユニット70Bは、研削ユニット40Bの下方に設けられたノズル72Bを備える。例えばノズル72Bは、研削砥石54Bの軌道の内側と重なる位置に設置され、チャックテーブル18で保持された被加工物11及び研削砥石54Bに純水等の研削液74を供給する。 While the workpiece 11 is being ground by the grinding wheel 50B, grinding fluid 74 is supplied to the workpiece 11 and grinding wheel 54B. For example, the grinding device 2 is provided with a grinding fluid supply unit 70B that supplies grinding fluid 74. The grinding fluid supply unit 70B includes a nozzle 72B provided below the grinding unit 40B. For example, the nozzle 72B is installed at a position overlapping with the inside of the orbit of the grinding wheel 54B, and supplies grinding fluid 74 such as pure water to the workpiece 11 and grinding wheel 54B held by the chuck table 18.

上記のように、第2研削ステップS2では、被加工物11及び研削砥石54Bに研削液74を供給しながら研削砥石54Bを被加工物11に接触させることにより、被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する。これにより、被加工物11に仕上げ研削が施され、第1研削ステップS1において被加工物11の裏面11b側に形成された研削痕11c(図5(B)参照)が除去される。 As described above, in the second grinding step S2, the grinding wheel 54B is brought into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid 74 to the workpiece 11 and the grinding wheel 54B, thereby grinding the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11. This applies finish grinding to the workpiece 11, and removes the grinding marks 11c (see FIG. 5B) formed on the back surface 11b side of the workpiece 11 in the first grinding step S1.

なお、研削砥石54Bで被加工物11の裏面11b側を研削すると、研削砥石54Bの結合材が摩耗し、結合材から露出している砥粒が脱落するとともに結合材の内部に埋め込まれている砥粒が新たに露出する。この現象は自生発刃と称されており、自生発刃によって研削砥石54Bの研削能力が維持される。特に、研削痕11c(図5(B)参照)が残存している被加工物11の裏面11b側に研削砥石54Bが最初に接触する際に結合材の摩耗が生じやすく、自生発刃が促進される。これにより、被加工物11の仕上げ研削の開始時に研削砥石54Bのコンディションが整えられる。 When the back surface 11b of the workpiece 11 is ground with the grinding wheel 54B, the binder of the grinding wheel 54B wears away, causing the exposed abrasive grains to fall off and newly exposing the abrasive grains embedded within the binder. This phenomenon is called self-sharpening, and the grinding ability of the grinding wheel 54B is maintained by the self-sharpening. In particular, when the grinding wheel 54B first comes into contact with the back surface 11b of the workpiece 11 on which the grinding marks 11c (see FIG. 5B) remain, the binder is likely to wear away, promoting the self-sharpening. This allows the grinding wheel 54B to be in good condition when the finish grinding of the workpiece 11 begins.

しかしながら、研削砥石54Bから脱落した砥粒は、仕上げ研削中に被加工物11と研削砥石54Bとの間に入り込み、研削砥石54Bによって被加工物11の裏面11b側に押し付けられる。その結果、被加工物11の裏面11b側に新たな深い研削痕(ソーマーク)11dが形成されることがある(図6(B)参照)。この場合、仕上げ研削後の被加工物11に研削痕11dが残存し、被加工物11の品質が低下してしまう。 However, abrasive grains that fall off the grinding wheel 54B get between the workpiece 11 and the grinding wheel 54B during finish grinding and are pressed against the back surface 11b of the workpiece 11 by the grinding wheel 54B. As a result, new deep grinding marks (saw marks) 11d may be formed on the back surface 11b of the workpiece 11 (see FIG. 6B). In this case, the grinding marks 11d remain on the workpiece 11 after finish grinding, degrading the quality of the workpiece 11.

そこで、本実施形態では、仕上げ研削の終盤で被加工物11の研削を一時的に中断し、研削砥石54Bから脱落した砥粒を被加工物11上から除去した後、仕上げ研削を再開する。これにより、仕上げ研削の終盤において被加工物11に研削痕11dが形成されにくくなり、被加工物11の品質低下が抑制される。 Therefore, in this embodiment, grinding of the workpiece 11 is temporarily interrupted at the end of the finish grinding, and the abrasive grains that have fallen off the grinding wheel 54B are removed from the workpiece 11, and then the finish grinding is resumed. This makes it difficult for grinding marks 11d to form on the workpiece 11 at the end of the finish grinding, and suppresses deterioration in the quality of the workpiece 11.

具体的には、まず、被加工物11の厚さが被加工物11の最終的な厚さの目標値(仕上げ厚さ)になる前に、被加工物11に研削液74を供給しながら被加工物11と研削砥石54Bとを離隔させる(離隔ステップS3)。図7は離隔ステップS3における研削装置2を示す一部断面側面図である。 Specifically, first, before the thickness of the workpiece 11 reaches the target value (finishing thickness) of the final thickness of the workpiece 11, the workpiece 11 and the grinding wheel 54B are separated while supplying the grinding fluid 74 to the workpiece 11 (separation step S3). Figure 7 is a partial cross-sectional side view showing the grinding device 2 in separation step S3.

離隔ステップS3では、研削液供給ユニット70Bのノズル72Bから被加工物11に研削液74を供給したまま、移動ユニット30B(図1参照)で研削ユニット40Bを上昇させる。これにより、研削砥石54Bが被加工物11の裏面11b側から離隔され、被加工物11の仕上げ研削が一時的に中断される。そして、第2研削ステップS2(図6(B)及び図6(B)参照)において研削砥石54Bから脱落して被加工物11の裏面11bに付着し、又は被加工物11と研削砥石54Bとの間に入り込んだ砥粒が、研削液74によって被加工物11の裏面11b側から洗い流されて除去される。 In the separation step S3, the grinding unit 40B is raised by the moving unit 30B (see FIG. 1) while the grinding fluid 74 is being supplied to the workpiece 11 from the nozzle 72B of the grinding fluid supply unit 70B. This causes the grinding wheel 54B to be separated from the back surface 11b of the workpiece 11, and the finish grinding of the workpiece 11 is temporarily interrupted. Then, in the second grinding step S2 (see FIG. 6(B) and FIG. 6(B)), the abrasive grains that have fallen off the grinding wheel 54B and adhered to the back surface 11b of the workpiece 11 or that have entered between the workpiece 11 and the grinding wheel 54B are washed away from the back surface 11b of the workpiece 11 by the grinding fluid 74 and removed.

離隔ステップS3の後には、被加工物11の被研削面側(裏面11b側)をさらに洗浄する洗浄ステップS4を実施してもよい。図8(A)は洗浄ステップS4における研削装置2を示す一部断面側面図であり、図8(B)は洗浄ステップS4における研削装置2を示す平面図である。 After the separation step S3, a cleaning step S4 may be performed to further clean the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11. FIG. 8(A) is a partially sectional side view showing the grinding device 2 in the cleaning step S4, and FIG. 8(B) is a plan view showing the grinding device 2 in the cleaning step S4.

例えば研削装置2は、研削液供給ユニット70B(図7参照)とは別に、被加工物11に洗浄用の流体86を供給する洗浄流体供給ユニット80を備える。洗浄流体供給ユニット80は、L字状の支持アーム82を備え、支持アーム82の基端部には支持アーム82を旋回させるモータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。 For example, the grinding device 2 includes a cleaning fluid supply unit 80 that supplies cleaning fluid 86 to the workpiece 11, separate from the grinding fluid supply unit 70B (see FIG. 7). The cleaning fluid supply unit 80 includes an L-shaped support arm 82, the base end of which is connected to a rotational drive source (not shown), such as a motor, that rotates the support arm 82.

支持アーム82の先端部には、洗浄用の流体86を供給するノズル84が装着されている。ノズル84には、ノズル84に流体86を供給する流体供給源(不図示)が接続されている。回転駆動源を駆動させると、支持アーム82及びノズル84が旋回し、チャックテーブル18とノズル84とが水平面(XY平面)と平行な方向に沿って相対的に移動する。 A nozzle 84 that supplies cleaning fluid 86 is attached to the tip of the support arm 82. A fluid supply source (not shown) that supplies the fluid 86 to the nozzle 84 is connected to the nozzle 84. When the rotation drive source is driven, the support arm 82 and the nozzle 84 rotate, and the chuck table 18 and the nozzle 84 move relatively along a direction parallel to the horizontal plane (XY plane).

前述の離隔ステップS3(図7参照)における研削ユニット40Bの移動量(上昇量)は、ノズル84が被加工物11と研削ホイール50Bとの間を移動可能となるように設定される。そして、洗浄ステップS4では、チャックテーブル18を回転させた状態で、ノズル84から流体86を噴射させつつ、ノズル84を被加工物11の上方で移動させる。例えばノズル84は、被加工物11の中心と重なる領域を通過する円弧状の軌道に沿って往復移動する(図8(B)参照)。 The amount of movement (amount of lift) of the grinding unit 40B in the aforementioned separation step S3 (see FIG. 7) is set so that the nozzle 84 can move between the workpiece 11 and the grinding wheel 50B. Then, in the cleaning step S4, the nozzle 84 is moved above the workpiece 11 while spraying fluid 86 from the nozzle 84 with the chuck table 18 rotating. For example, the nozzle 84 moves back and forth along an arc-shaped trajectory that passes through an area overlapping with the center of the workpiece 11 (see FIG. 8(B)).

流体86としては、純水等の液体と、エアー等の気体とを含む混合流体を用いることができる。そして、ノズル84から被加工物11の裏面11b側に向かって流体86が噴射されると、被加工物11の裏面11b側に存在する砥粒が吹き飛ばされ、又は洗い流される(2流体洗浄)。これにより、被加工物11の裏面11b側から砥粒が除去される。 The fluid 86 can be a mixed fluid containing a liquid such as pure water and a gas such as air. When the fluid 86 is sprayed from the nozzle 84 toward the back surface 11b of the workpiece 11, the abrasive grains present on the back surface 11b of the workpiece 11 are blown away or washed away (two-fluid washing). This removes the abrasive grains from the back surface 11b of the workpiece 11.

なお、離隔ステップS3及び洗浄ステップS4では、チャックテーブル18及び研削ホイール50Bを回転させたままの状態に維持することが好ましい。これにより、後述の第3研削ステップS5において被加工物11の仕上げ研削を速やかに再開することが可能になる。 In addition, during the separation step S3 and cleaning step S4, it is preferable to keep the chuck table 18 and grinding wheel 50B rotating. This makes it possible to quickly resume finish grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 described below.

また、前述の離隔ステップS3(図7参照)において被加工物11に供給される研削液74によって砥粒を十分に除去することが可能であれば、洗浄ステップS4を省略してもよい。この場合、洗浄流体供給ユニット80は不要となる。 In addition, if the abrasive grains can be sufficiently removed by the grinding fluid 74 supplied to the workpiece 11 in the aforementioned separation step S3 (see FIG. 7), the cleaning step S4 may be omitted. In this case, the cleaning fluid supply unit 80 is not required.

次に、被加工物11が所定の仕上げ厚さになるまで研削ホイール50Bで被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する(第3研削ステップS5)。図9(A)は第3研削ステップS5における研削装置2を示す一部断面側面図であり、図9(B)は第3研削ステップS5における研削装置2を示す平面図である。 Next, the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11 is ground with the grinding wheel 50B until the workpiece 11 has a predetermined finishing thickness (third grinding step S5). Figure 9(A) is a partially sectional side view showing the grinding device 2 in the third grinding step S5, and Figure 9(B) is a plan view showing the grinding device 2 in the third grinding step S5.

第3研削ステップS5では、第2研削ステップS2(図6(B)及び図6(B)参照)と同様の手順で被加工物11を研削する。具体的には、チャックテーブル18及び研削ホイール50Bを回転させた状態で、研削ユニット40BをZ軸方向に沿って所定の速度で下降させ、チャックテーブル18の保持面18aと研削ホイール50Bとを相対的に接近させる。また、研削液供給ユニット70Aのノズル72Aから被加工物11及び研削砥石54Aに研削液74が供給される。 In the third grinding step S5, the workpiece 11 is ground in the same procedure as in the second grinding step S2 (see FIG. 6(B) and FIG. 6(B)). Specifically, while the chuck table 18 and the grinding wheel 50B are rotating, the grinding unit 40B is lowered at a predetermined speed along the Z-axis direction to bring the holding surface 18a of the chuck table 18 and the grinding wheel 50B relatively close to each other. In addition, grinding fluid 74 is supplied to the workpiece 11 and the grinding wheel 54A from the nozzle 72A of the grinding fluid supply unit 70A.

研削砥石54Bが被加工物11に接触すると、被加工物11の裏面11b側が研削砥石54Bによって研削される。これにより、被加工物11の仕上げ研削が再開され、被加工物11の裏面11b側に残存している研削痕11d(図8(B)参照)が除去される。 When the grinding wheel 54B comes into contact with the workpiece 11, the back surface 11b of the workpiece 11 is ground by the grinding wheel 54B. This restarts the finish grinding of the workpiece 11, and the grinding marks 11d (see FIG. 8B) remaining on the back surface 11b of the workpiece 11 are removed.

上記のように、第1研削ステップS1では、被加工物11及び研削砥石54Aに研削液74を供給しながら研削砥石54Bを被加工物11に接触させることにより、被加工物11の被研削面側(裏面11b側)を研削する。そして、被加工物11の厚さが仕上げ厚さになるまで被加工物11が研削されると、研削ユニット40Bが上昇し、研削砥石54Bが被加工物11から離隔される。これにより、被加工物11の仕上げ研削が完了する。 As described above, in the first grinding step S1, the grinding surface side (back surface 11b side) of the workpiece 11 is ground by bringing the grinding wheel 54B into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid 74 to the workpiece 11 and the grinding wheel 54A. Then, when the workpiece 11 is ground until its thickness reaches the finishing thickness, the grinding unit 40B rises and the grinding wheel 54B is separated from the workpiece 11. This completes the finish grinding of the workpiece 11.

第3研削ステップS5では、離隔ステップS3及び/又は洗浄ステップS4によって被加工物11の裏面11b側から砥粒が除去された状態で、被加工物11の仕上げ研削が再開される。これにより、第3研削ステップS5において被加工物11と研削砥石54Bとの間に入り込む砥粒が大幅に減少し、被加工物11の裏面11b側に新たな研削痕が形成されにくくなる。 In the third grinding step S5, the finish grinding of the workpiece 11 is resumed after the abrasive grains have been removed from the back surface 11b of the workpiece 11 by the separation step S3 and/or cleaning step S4. This significantly reduces the amount of abrasive grains that get between the workpiece 11 and the grinding wheel 54B in the third grinding step S5, making it difficult for new grinding marks to form on the back surface 11b of the workpiece 11.

なお、前述の第2研削ステップS2において、被加工物11の仕上げ研削の大部分は完了している。そのため、第3研削ステップS5では、被加工物11の裏面11b側に残存している研削痕11d(図8(B)参照)が除去される程度に被加工物11が研削されればよい。すなわち、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量は、第2研削ステップS2における被加工物11の研削量よりも少ない。なお、被加工物11の研削量は、研削前後における被加工物11の厚さの差に相当する。 Note that in the second grinding step S2 described above, most of the finish grinding of the workpiece 11 is completed. Therefore, in the third grinding step S5, the workpiece 11 is ground to the extent that the grinding marks 11d (see FIG. 8B) remaining on the back surface 11b of the workpiece 11 are removed. In other words, the amount of grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 is less than the amount of grinding of the workpiece 11 in the second grinding step S2. Note that the amount of grinding of the workpiece 11 corresponds to the difference in thickness of the workpiece 11 before and after grinding.

また、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量が多いと、第3研削ステップS5の実施中に研削砥石54Bから脱落する砥粒の量も多くなり、被加工物11に新たな研削痕が形成されやすくなる。そのため、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量は、被加工物11に形成されている研削痕11dを除去可能な範囲内で小さい値に設定されることが好ましい。例えば、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量は、10μm以下、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下に設定される。 Furthermore, if the amount of grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 is large, the amount of abrasive grains that fall off the grinding wheel 54B during the third grinding step S5 also increases, making it easier for new grinding marks to form on the workpiece 11. Therefore, it is preferable that the amount of grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 is set to a small value within a range that allows the grinding marks 11d formed on the workpiece 11 to be removed. For example, the amount of grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 is set to 10 μm or less, preferably 5 μm or less, and more preferably 3 μm or less.

第3研削ステップS5におけるチャックテーブル18の回転数、研削ホイール50Bの回転数、チャックテーブル18と研削ホイール50BとのZ軸方向における相対的な移動速度(加工送り速度)は、第2研削ステップS2と同様に設定できる。ただし、第3研削ステップS5における加工送り速度は、第2研削ステップS2における加工送り速度より低くてもよい。第3研削ステップS5での被加工物11の研削量は少ないため、第3研削ステップS5における加工送り速度を低速に設定しても加工効率への影響は小さい。 The rotation speed of the chuck table 18, the rotation speed of the grinding wheel 50B, and the relative movement speed (processing feed speed) between the chuck table 18 and the grinding wheel 50B in the Z-axis direction in the third grinding step S5 can be set in the same manner as in the second grinding step S2. However, the processing feed speed in the third grinding step S5 may be lower than the processing feed speed in the second grinding step S2. Because the amount of grinding of the workpiece 11 in the third grinding step S5 is small, the effect on processing efficiency is small even if the processing feed speed in the third grinding step S5 is set to a low speed.

例えば、第3研削ステップS5における加工送り速度は、第2研削ステップS2における加工送り速度の3/4以下、好ましくは2/3以下、より好ましくは1/2以下に設定される。これにより、第3研削ステップS5において研削砥石54Bにかかる負荷が低減され、研削砥石54Bから脱落する砥粒の量が減少するため、被加工物11に新たな研削痕が形成されにくくなる。 For example, the processing feed rate in the third grinding step S5 is set to 3/4 or less, preferably 2/3 or less, and more preferably 1/2 or less of the processing feed rate in the second grinding step S2. This reduces the load on the grinding wheel 54B in the third grinding step S5 and reduces the amount of abrasive grains that fall off the grinding wheel 54B, making it less likely that new grinding marks will be formed on the workpiece 11.

上記の第1研削ステップS1~第3研削ステップS5を実施することにより、被加工物11に粗研削及び仕上げ研削が施され、被加工物11が所定の仕上げ厚さになるまで薄化される。その後、被加工物11をストリート13(図2参照)に沿って分割することにより、被加工物11が個片化され、デバイス15(図2参照)を備える薄型のデバイスチップが得られる。なお、被加工物11の分割には、環状の切削ブレードで被加工物11を切削する切削装置、被加工物11にレーザー加工を施すレーザー加工装置等の加工装置を用いることができる。 By carrying out the above-mentioned first grinding step S1 to third grinding step S5, the workpiece 11 is subjected to rough grinding and finish grinding, and is thinned to a predetermined finishing thickness. The workpiece 11 is then divided along the streets 13 (see FIG. 2) to separate the workpiece 11 into individual pieces, and thin device chips equipped with devices 15 (see FIG. 2) are obtained. Note that, to divide the workpiece 11, a processing device such as a cutting device that cuts the workpiece 11 with an annular cutting blade or a laser processing device that performs laser processing on the workpiece 11 can be used.

以上の通り、本実施形態に係る被加工物の研削方法では、研削砥石54Aで被加工物11を研削した後、研削砥石54Bで被加工物11を研削する。そして、被加工物11の厚さが仕上げ厚さになる前に研削液を供給しながら被加工物11と研削砥石54Bとを離隔させた後、再び研削砥石54Bで被加工物11を研削する。これにより、仕上げ研削中に脱落した砥粒による研削痕の形成が生じにくくなり、被加工物11の品質低下が抑制される。 As described above, in the method for grinding a workpiece according to this embodiment, the workpiece 11 is first ground with grinding wheel 54A, and then ground with grinding wheel 54B. Then, before the thickness of the workpiece 11 reaches the finishing thickness, the workpiece 11 and grinding wheel 54B are separated while supplying grinding fluid, and the workpiece 11 is ground again with grinding wheel 54B. This makes it less likely that grinding marks will be formed due to abrasive grains that fall off during finish grinding, and reduces deterioration in the quality of the workpiece 11.

なお、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 The structures, methods, etc., according to the above embodiments can be modified as appropriate without departing from the scope of the present invention.

(実施形態2)
実施形態1では、被加工物11の裏面11b側の全体を研削することによって、被加工物11の全体を薄化する例について説明した。ただし、被加工物11の全体を薄化すると、被加工物11の剛性が低下し、その後の被加工物11の取り扱い(搬送、保持等)の際に被加工物11の変形や破損が生じやすくなる。そのため、被加工物11の裏面11b側の中央部のみを研削して薄化してもよい。この場合、被加工物11の中央部に円形の凹部が形成される一方で、被加工物11の外周部は薄化されずに厚い状態に維持され、環状の補強部として残存する。これにより、被加工物11の剛性の低下が抑制される。
(Embodiment 2)
In the first embodiment, an example was described in which the entire workpiece 11 was thinned by grinding the entire back surface 11b side of the workpiece 11. However, when the entire workpiece 11 is thinned, the rigidity of the workpiece 11 is reduced, and the workpiece 11 is likely to be deformed or damaged during subsequent handling (transportation, holding, etc.). Therefore, only the center of the back surface 11b side of the workpiece 11 may be thinned by grinding. In this case, a circular recess is formed in the center of the workpiece 11, while the outer periphery of the workpiece 11 is not thinned but is maintained in a thick state and remains as an annular reinforcing part. This suppresses the reduction in the rigidity of the workpiece 11.

被加工物11の中央部の研削には、研削装置2A(図10(A)~図11(B)参照)が用いられる。研削装置2Aは、図1に示す研削装置2の変形例に相当し、被加工物11の中央部に粗研削及び仕上げ研削を施す。具体的には、研削装置2Aは、チャックテーブル18と、被加工物11に粗研削を施す研削ユニット(粗研削ユニット)100A(図10(A)参照)と、被加工物11に仕上げ研削を施す研削ユニット(仕上げ研削ユニット)100B(図11(A))とを備える。なお、研削装置2Aが備える研削ユニット100A,100B以外の構成要素の構成及び機能は、研削装置2と同様である。 A grinding device 2A (see Figs. 10(A) to 11(B)) is used to grind the center of the workpiece 11. The grinding device 2A corresponds to a modified version of the grinding device 2 shown in Fig. 1, and performs rough grinding and finish grinding on the center of the workpiece 11. Specifically, the grinding device 2A includes a chuck table 18, a grinding unit (rough grinding unit) 100A (see Fig. 10(A)) that performs rough grinding on the workpiece 11, and a grinding unit (finish grinding unit) 100B (Fig. 11(A)) that performs finish grinding on the workpiece 11. The configurations and functions of the components of the grinding device 2A other than the grinding units 100A and 100B are the same as those of the grinding device 2.

以下、本実施形態に係る被加工物の研削方法について説明する。本実施形態では、研削ユニット100Aで被加工物11に粗研削を施し(第1研削ステップS1)、その後、研削ユニット100Bで被加工物11に仕上げ研削を施す(第2研削ステップS2~第3研削ステップS5)。なお、本実施形態に係る被加工物の研削方法の具体的な手順は、以下で説明する事項を除いて、実施形態1と同様である。 The grinding method for a workpiece according to this embodiment will be described below. In this embodiment, the grinding unit 100A performs rough grinding on the workpiece 11 (first grinding step S1), and then the grinding unit 100B performs finish grinding on the workpiece 11 (second grinding step S2 to third grinding step S5). Note that the specific steps of the grinding method for a workpiece according to this embodiment are the same as those of embodiment 1, except for the matters described below.

まず、研削ユニット100Aで被加工物11を研削することにより、被加工物11に凹部を形成しつつ凹部を囲繞する環状の補強部を残存させる(第1研削ステップS1)。図10(A)は被加工物11の中央部に粗研削を施す研削装置2Aを示す一部断面側面図であり、図10(A)は被加工物11の中央部に粗研削を施す研削装置2Aを示す平面図である。 First, the workpiece 11 is ground by the grinding unit 100A to form a recess in the workpiece 11 while leaving an annular reinforcing portion surrounding the recess (first grinding step S1). FIG. 10(A) is a partially sectional side view showing a grinding device 2A that performs rough grinding on the central portion of the workpiece 11, and FIG. 10(A) is a plan view showing a grinding device 2A that performs rough grinding on the central portion of the workpiece 11.

研削ユニット100Aは、スピンドル102A及びホイールマウント104Aを備え、スピンドル102AはZ軸方向に沿って設定された回転軸の周りを回転する。なお、スピンドル102A、ホイールマウント104Aの構成及び機能はそれぞれ、研削ユニット40Aのスピンドル44A、ホイールマウント48A(図5(A)参照)と同様である。ただし、ホイールマウント104Aの直径はホイールマウント48Aの直径よりも小さい。 The grinding unit 100A includes a spindle 102A and a wheel mount 104A, and the spindle 102A rotates around a rotation axis set along the Z-axis direction. The configurations and functions of the spindle 102A and the wheel mount 104A are similar to those of the spindle 44A and the wheel mount 48A of the grinding unit 40A (see FIG. 5A), respectively. However, the diameter of the wheel mount 104A is smaller than the diameter of the wheel mount 48A.

ホイールマウント104Aには、研削ホイール106Aが装着される。研削ホイール106Aは、環状のホイール基台108Aと、ホイール基台108Aに固定された複数の研削砥石110Aとを備える。スピンドル102Aを回転させると、研削ホイール106Aがスピンドル102Aの回転軸の周りを回転し、複数の研削砥石110Aがそれぞれ環状の軌道(経路)に沿って旋回する。 A grinding wheel 106A is attached to the wheel mount 104A. The grinding wheel 106A includes an annular wheel base 108A and multiple grinding stones 110A fixed to the wheel base 108A. When the spindle 102A is rotated, the grinding wheel 106A rotates around the rotation axis of the spindle 102A, and the multiple grinding stones 110A each revolve along an annular orbit (path).

なお、研削ホイール106A、ホイール基台108A、研削砥石110Aの構成及び機能はそれぞれ、研削ホイール50A、ホイール基台52A、研削砥石54A(図5(A)参照)と同様である。ただし、ホイール基台108Aの直径はホイール基台52Aの直径よりも小さく、研削砥石110Aの軌道の直径は研削砥石54Aの軌道の直径よりも小さい。 The grinding wheel 106A, wheel base 108A, and grinding wheel 110A have the same configurations and functions as the grinding wheel 50A, wheel base 52A, and grinding wheel 54A (see FIG. 5A), respectively. However, the diameter of the wheel base 108A is smaller than the diameter of the wheel base 52A, and the diameter of the orbit of the grinding wheel 110A is smaller than the diameter of the orbit of the grinding wheel 54A.

第1研削ステップS1では、まず、チャックテーブル18で被加工物11を保持する。そして、被加工物11の中心と研削砥石110Aの軌道とがZ軸方向において重なるように、チャックテーブル18と研削ホイール106Aとの位置関係を調節する。 In the first grinding step S1, the workpiece 11 is first held by the chuck table 18. Then, the positional relationship between the chuck table 18 and the grinding wheel 106A is adjusted so that the center of the workpiece 11 and the trajectory of the grinding wheel 110A overlap in the Z-axis direction.

なお、研削砥石110Aの軌道の直径は、被加工物11の半径よりも小さい。例えば、研削砥石110Aの軌道の直径は、被加工物11のデバイス領域17(図2参照)の半径と概ね同一に設定される。この場合、複数の研削砥石110Aは、被加工物11のデバイス領域17と重なり、且つ、被加工物11の外周縁とは重ならないように配置される。 The diameter of the orbit of the grinding wheel 110A is smaller than the radius of the workpiece 11. For example, the diameter of the orbit of the grinding wheel 110A is set to be approximately the same as the radius of the device region 17 (see FIG. 2) of the workpiece 11. In this case, the multiple grinding wheels 110A are arranged so as to overlap the device region 17 of the workpiece 11, but not to overlap the outer periphery of the workpiece 11.

次に、チャックテーブル18及び研削ホイール106Aを回転させる。例えば、チャックテーブル18の回転数は10rpm以上300rpm以下に設定され、研削ホイール106Aの回転数(スピンドル102Aの回転数)は1000rpm以上6000rpm以下に設定される。 Next, the chuck table 18 and the grinding wheel 106A are rotated. For example, the rotation speed of the chuck table 18 is set to 10 rpm or more and 300 rpm or less, and the rotation speed of the grinding wheel 106A (the rotation speed of the spindle 102A) is set to 1000 rpm or more and 6000 rpm or less.

そして、チャックテーブル18及び研削ホイール106Aを回転させた状態で、研削ユニット100BをZ軸方向(スピンドル102A及び研削ホイール106Aの回転軸と平行な方向)に沿って下降させる。これにより、チャックテーブル18と研削ホイール106AとがZ軸方向に沿って相対的に移動し、被加工物11と研削砥石110Aとが接近する。なお、チャックテーブル18と研削ホイール106AとのZ軸方向における相対的な移動速度(加工送り速度)は、例えば1.0μm/s以上6.0μm/s以下に設定される。 Then, with the chuck table 18 and grinding wheel 106A rotating, the grinding unit 100B is lowered along the Z-axis direction (a direction parallel to the rotation axis of the spindle 102A and grinding wheel 106A). This causes the chuck table 18 and grinding wheel 106A to move relatively along the Z-axis direction, bringing the workpiece 11 and grinding wheel 110A closer together. The relative movement speed (processing feed speed) between the chuck table 18 and grinding wheel 106A in the Z-axis direction is set to, for example, 1.0 μm/s or more and 6.0 μm/s or less.

研削砥石110Aが被加工物11に接触すると、研削砥石110Aはチャックテーブル18の回転軸24を通過するように旋回しつつ、被加工物11の裏面11b側の中央部を研削する。これにより、被加工物11の中央部のみが薄化され、被加工物11の裏面11b側の中央部に円形の凹部(溝)21が形成される。 When the grinding wheel 110A comes into contact with the workpiece 11, the grinding wheel 110A rotates to pass through the rotation axis 24 of the chuck table 18, grinding the center of the back surface 11b of the workpiece 11. As a result, only the center of the workpiece 11 is thinned, and a circular recess (groove) 21 is formed in the center of the back surface 11b of the workpiece 11.

凹部21は、被加工物11の表面11a及び裏面11bと概ね平行な円形の底面21aと、底面21a及び裏面11bに接続された環状の側面(側壁、内壁)21bとを含む。なお、凹部21の直径はデバイス領域17の直径と概ね同一であり、凹部21は複数のデバイス15(図2参照)と重なるように形成される。 The recess 21 includes a circular bottom surface 21a that is generally parallel to the front surface 11a and back surface 11b of the workpiece 11, and an annular side surface (side wall, inner wall) 21b that is connected to the bottom surface 21a and back surface 11b. The diameter of the recess 21 is generally the same as the diameter of the device region 17, and the recess 21 is formed to overlap multiple devices 15 (see FIG. 2).

また、被加工物11の外周部には、研削加工が施されていない領域に相当する環状の補強部23が残存する。補強部23は、外周余剰領域19(図2参照)を含み、デバイス領域17(図2参照)及び凹部21を囲繞している。 In addition, an annular reinforcing portion 23 remains on the outer periphery of the workpiece 11, which corresponds to the area that has not been subjected to the grinding process. The reinforcing portion 23 includes the outer periphery excess area 19 (see FIG. 2) and surrounds the device area 17 (see FIG. 2) and the recess 21.

上記のように、被加工物11の中央部のみを薄化すると、被加工物11の外周部(補強部23)は厚い状態に維持され、補強部23が被加工物11を補強する補強領域として機能する。これにより、被加工物11の剛性の低下が抑制され、被加工物11の変形や破損が生じにくくなる。 As described above, when only the central portion of the workpiece 11 is thinned, the outer periphery (reinforcement portion 23) of the workpiece 11 remains thick, and the reinforcement portion 23 functions as a reinforcing region that reinforces the workpiece 11. This prevents the rigidity of the workpiece 11 from decreasing, making the workpiece 11 less likely to deform or break.

そして、被加工物11の中央部の厚さ(凹部21の深さ)が所定の値になると、研削ユニット100Aが上昇し、研削砥石110Aが被加工物11から離隔される。これにより、研削ホイール106Aによる被加工物11の粗研削が完了する。そして、粗研削後の被加工物11の凹部21の底面21aには、研削砥石110Aの軌道に沿って形成された円弧状の研削痕(ソーマーク)11eが残存する(図10(B)参照)。 When the thickness of the center of the workpiece 11 (depth of the recess 21) reaches a predetermined value, the grinding unit 100A rises and the grinding wheel 110A moves away from the workpiece 11. This completes the rough grinding of the workpiece 11 by the grinding wheel 106A. After the rough grinding, arc-shaped grinding marks (saw marks) 11e formed along the trajectory of the grinding wheel 110A remain on the bottom surface 21a of the recess 21 of the workpiece 11 (see FIG. 10B).

なお、第1研削ステップS1では、実施形態1と同様、被加工物11及び研削砥石110Aに研削液を供給しながら研削砥石110Aを被加工物11に接触させる。例えば、ホイールマウント104A及びホイール基台108Aの内部には、研削液が供給される研削液供給路(不図示)が設けられている。研削液供給路は、複数の研削砥石110Aの内側で開口している。そして、研削砥石110Aで被加工物11を研削する間、研削液供給路から研削液が流出して被加工物11及び研削砥石110Aに供給される。これにより、被加工物11及び研削砥石110Aが冷却されるとともに、研削屑が洗い流される。 In the first grinding step S1, as in the first embodiment, the grinding wheel 110A is brought into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid to the workpiece 11 and the grinding wheel 110A. For example, a grinding fluid supply passage (not shown) through which the grinding fluid is supplied is provided inside the wheel mount 104A and the wheel base 108A. The grinding fluid supply passage opens inside the multiple grinding wheels 110A. Then, while the workpiece 11 is being ground with the grinding wheel 110A, the grinding fluid flows out of the grinding fluid supply passage and is supplied to the workpiece 11 and the grinding wheel 110A. This cools the workpiece 11 and the grinding wheel 110A and washes away the grinding debris.

ただし、研削液の供給方法に制限はない。例えば、チャックテーブル18の周囲には、研削液供給ユニット70A(図5(A)及び図5(B)参照)が設けられていてもよい。この場合には、研削液供給ユニット70Aのノズル72Aから被加工物11及び研削砥石110Aに研削液が供給される。 However, there are no limitations on the method of supplying the grinding fluid. For example, a grinding fluid supply unit 70A (see Figures 5(A) and 5(B)) may be provided around the chuck table 18. In this case, the grinding fluid is supplied to the workpiece 11 and grinding wheel 110A from the nozzle 72A of the grinding fluid supply unit 70A.

次に、被加工物11に仕上げ研削を施す。図11(A)は被加工物11の中央部に仕上げ研削を施す研削装置2Aを示す一部断面側面図であり、図11(A)は被加工物11の中央部に仕上げ研削を施す研削装置2Aを示す平面図である。 Next, the workpiece 11 is subjected to finish grinding. FIG. 11(A) is a partially sectional side view showing a grinding device 2A that performs finish grinding on the central portion of the workpiece 11, and FIG. 11(A) is a plan view showing a grinding device 2A that performs finish grinding on the central portion of the workpiece 11.

具体的には、まず、研削ユニット100Bで被加工物11の凹部21の底面21aを研削する(第2研削ステップS2)。研削ユニット100Bは、スピンドル102B及びホイールマウント104Bを備え、スピンドル102BはZ軸方向に沿って設定された回転軸の周りを回転する。なお、スピンドル102B、ホイールマウント104Bの構成及び機能はそれぞれ、研削ユニット100Aのスピンドル102A、ホイールマウント104A(図10(A)参照)と同様である。 Specifically, first, the bottom surface 21a of the recess 21 of the workpiece 11 is ground by the grinding unit 100B (second grinding step S2). The grinding unit 100B includes a spindle 102B and a wheel mount 104B, and the spindle 102B rotates around a rotation axis set along the Z-axis direction. The configurations and functions of the spindle 102B and the wheel mount 104B are similar to those of the spindle 102A and the wheel mount 104A of the grinding unit 100A (see FIG. 10(A)).

ホイールマウント104Bには、研削ホイール106Bが装着される。研削ホイール106Bは、環状のホイール基台108Bと、ホイール基台108Bに固定された複数の研削砥石110Bとを備える。スピンドル102Bを回転させると、研削ホイール106Bがスピンドル102Bの回転軸の周りを回転し、複数の研削砥石110Bがそれぞれ環状の軌道(経路)に沿って旋回する。 A grinding wheel 106B is attached to the wheel mount 104B. The grinding wheel 106B includes an annular wheel base 108B and a number of grinding stones 110B fixed to the wheel base 108B. When the spindle 102B is rotated, the grinding wheel 106B rotates around the rotation axis of the spindle 102B, and the multiple grinding stones 110B each revolve along an annular orbit (path).

ホイール基台108B及び研削砥石110Bの材質、構造、機能等は、研削ホイール106Aのホイール基台108A及び研削砥石110A(図10(A)参照)と同様である。ただし、研削砥石110Bに含まれる砥粒(第2砥粒)の平均粒径は、研削砥石110Aに含まれる砥粒(第1砥粒)の平均粒径よりも小さい。 The material, structure, function, etc. of the wheel base 108B and grinding wheel 110B are the same as those of the wheel base 108A and grinding wheel 110A of the grinding wheel 106A (see FIG. 10A). However, the average grain size of the abrasive grains (second abrasive grains) contained in the grinding wheel 110B is smaller than the average grain size of the abrasive grains (first abrasive grains) contained in the grinding wheel 110A.

第2研削ステップS2では、まず、チャックテーブル18で被加工物11を保持する。そして、被加工物11の中心と研削砥石110Bの軌道とがZ軸方向において重なるように、チャックテーブル18と研削ホイール106Bとの位置関係を調節する。 In the second grinding step S2, first, the workpiece 11 is held by the chuck table 18. Then, the positional relationship between the chuck table 18 and the grinding wheel 106B is adjusted so that the center of the workpiece 11 and the trajectory of the grinding wheel 110B overlap in the Z-axis direction.

なお、研削砥石110Bの軌道の直径は、被加工物11の半径よりも小さい。例えば、研削砥石110Bの軌道の直径は、被加工物11のデバイス領域17(図2参照)の半径と概ね同一に設定される。そして、複数の研削砥石110Bは、被加工物11の凹部21と重なり、且つ、被加工物11の補強部23とは重ならないように配置される。 The diameter of the orbit of the grinding wheel 110B is smaller than the radius of the workpiece 11. For example, the diameter of the orbit of the grinding wheel 110B is set to be approximately the same as the radius of the device region 17 (see FIG. 2) of the workpiece 11. The multiple grinding wheels 110B are arranged so as to overlap the recesses 21 of the workpiece 11, but not to overlap the reinforcing portions 23 of the workpiece 11.

次に、チャックテーブル18及び研削ホイール106Bを回転させる。例えば、チャックテーブル18の回転数は10rpm以上300rpm以下に設定され、研削ホイール106Bの回転数(スピンドル102Bの回転数)は1000rpm以上6000rpm以下に設定される。 Next, the chuck table 18 and the grinding wheel 106B are rotated. For example, the rotation speed of the chuck table 18 is set to 10 rpm or more and 300 rpm or less, and the rotation speed of the grinding wheel 106B (the rotation speed of the spindle 102B) is set to 1000 rpm or more and 6000 rpm or less.

そして、チャックテーブル18及び研削ホイール106Bを回転させた状態で、研削ユニット100BをZ軸方向(スピンドル102B及び研削ホイール106Bの回転軸と平行な方向)に沿って下降させる。これにより、チャックテーブル18と研削ホイール106BとがZ軸方向に沿って相対的に移動し、被加工物11と研削砥石110Bとが接近する。なお、チャックテーブル18と研削ホイール106BとのZ軸方向における相対的な移動速度(加工送り速度)は、例えば0.1μm/s以上1.0m/s以下に設定される。 Then, with the chuck table 18 and grinding wheel 106B rotating, the grinding unit 100B is lowered along the Z-axis direction (a direction parallel to the rotation axis of the spindle 102B and grinding wheel 106B). This causes the chuck table 18 and grinding wheel 106B to move relatively along the Z-axis direction, bringing the workpiece 11 and grinding wheel 110B closer together. The relative movement speed (processing feed speed) between the chuck table 18 and grinding wheel 106B in the Z-axis direction is set to, for example, 0.1 μm/s or more and 1.0 m/s or less.

研削砥石110Bが被加工物11に接触すると、研削砥石110Bはチャックテーブル18の回転軸24を通過するように旋回しつつ、被加工物11の凹部21の底面21aを研削する。すなわち、第2研削ステップS2では、凹部21の底面21aが研削ホイール106Bによって研削される面(被研削面)に相当する。これにより、被加工物11の凹部21の底面21aに仕上げ研削が施され、第1研削ステップS1において凹部21の底面21a側に形成された研削痕11e(図10(B)参照)が除去される。 When the grinding wheel 110B comes into contact with the workpiece 11, the grinding wheel 110B rotates to pass through the rotation axis 24 of the chuck table 18 while grinding the bottom surface 21a of the recess 21 of the workpiece 11. That is, in the second grinding step S2, the bottom surface 21a of the recess 21 corresponds to the surface (grinding surface) to be ground by the grinding wheel 106B. As a result, the bottom surface 21a of the recess 21 of the workpiece 11 is subjected to finish grinding, and the grinding marks 11e (see FIG. 10B) formed on the bottom surface 21a of the recess 21 in the first grinding step S1 are removed.

なお、第2研削ステップS2では、実施形態1と同様、被加工物11及び研削砥石110Bに研削液を供給しながら研削砥石110Bを被加工物11に接触させる。例えば、ホイールマウント104B及びホイール基台108Bの内部には、研削液が供給される研削液供給路(不図示)が設けられている。研削液供給路は、複数の研削砥石110Bの内側で開口している。そして、研削砥石110Bで被加工物11を研削する間、研削液供給路から研削液が流出して被加工物11及び研削砥石110Bに供給される。これにより、被加工物11及び研削砥石110Bが冷却されるとともに、研削屑が洗い流される。 In the second grinding step S2, as in the first embodiment, the grinding wheel 110B is brought into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid to the workpiece 11 and the grinding wheel 110B. For example, a grinding fluid supply passage (not shown) through which the grinding fluid is supplied is provided inside the wheel mount 104B and the wheel base 108B. The grinding fluid supply passage opens inside the multiple grinding wheels 110B. Then, while the workpiece 11 is being ground with the grinding wheel 110B, the grinding fluid flows out of the grinding fluid supply passage and is supplied to the workpiece 11 and the grinding wheel 110B. This cools the workpiece 11 and the grinding wheel 110B and washes away the grinding debris.

ただし、研削液の供給方法に制限はない。例えば、チャックテーブル18の周囲には、研削液供給ユニット70B(図6(A)及び図6(B)参照)が設けられていてもよい。この場合には、研削液供給ユニット70Bのノズル72Bから被加工物11及び研削砥石110Bに研削液が供給される。 However, there are no limitations on the method of supplying the grinding fluid. For example, a grinding fluid supply unit 70B (see Figures 6(A) and 6(B)) may be provided around the chuck table 18. In this case, the grinding fluid is supplied to the workpiece 11 and grinding wheel 110B from nozzles 72B of the grinding fluid supply unit 70B.

そして、被加工物11の中央部の厚さが最終的な厚さの目標値(仕上げ厚さ)になる前に、被加工物11に研削液を供給しながら被加工物11と研削砥石110Bとを離隔させる(離隔ステップS3)。具体的には、被加工物11に研削液を供給したまま、研削ユニット100Bを上昇させる。これにより、研削砥石110Bが凹部21の底面21a側から離隔され、仕上げ研削が一時的に中断される。 Then, before the thickness of the center of the workpiece 11 reaches the final target thickness (finishing thickness), the workpiece 11 and the grinding wheel 110B are separated while supplying grinding fluid to the workpiece 11 (separation step S3). Specifically, the grinding unit 100B is raised while the grinding fluid is still being supplied to the workpiece 11. As a result, the grinding wheel 110B is separated from the bottom surface 21a of the recess 21, and the finish grinding is temporarily interrupted.

また、第2研削ステップS2において研削砥石110Bから脱落して被加工物11の凹部21に付着し、又は凹部21の底面21aと研削砥石110Bとの間に入り込んだ砥粒が、研削液によって被加工物11の凹部21から洗い流されて除去される。なお、離隔ステップS3の手順の詳細は、実施形態1と同様である(図7参照)。 In addition, in the second grinding step S2, the abrasive grains that have fallen off the grinding wheel 110B and adhered to the recess 21 of the workpiece 11, or that have entered between the bottom surface 21a of the recess 21 and the grinding wheel 110B, are washed away from the recess 21 of the workpiece 11 by the grinding fluid and removed. The details of the procedure of the separation step S3 are the same as those of embodiment 1 (see FIG. 7).

離隔ステップS3の後には、被加工物11の凹部21の底面21aをさらに洗浄する洗浄ステップS4を実施してもよい。被加工物11の洗浄方法は、実施形態1と同様である。例えば、洗浄流体供給ユニット80のノズル84(図8(A)及び図8(B)参照)から凹部21の底面21aに洗浄用の流体86が噴射される。これにより、凹部21の底面21aから砥粒が除去される。 After the separation step S3, a cleaning step S4 may be performed to further clean the bottom surface 21a of the recess 21 of the workpiece 11. The cleaning method for the workpiece 11 is the same as in the first embodiment. For example, a cleaning fluid 86 is sprayed onto the bottom surface 21a of the recess 21 from a nozzle 84 of the cleaning fluid supply unit 80 (see Figures 8(A) and 8(B)). This removes abrasive grains from the bottom surface 21a of the recess 21.

次に、被加工物11の中央部(凹部21が形成された領域)が所定の仕上げ厚さになるまで、研削ホイール106Bで凹部21の底面21aを研削する(第3研削ステップS5)。第3研削ステップS5では、第2研削ステップS2と同様の手順で被加工物11を研削する。 Next, the bottom surface 21a of the recess 21 is ground with the grinding wheel 106B until the central portion of the workpiece 11 (the area where the recess 21 is formed) has a predetermined finishing thickness (third grinding step S5). In the third grinding step S5, the workpiece 11 is ground in the same procedure as in the second grinding step S2.

具体的には、チャックテーブル18及び研削ホイール106Bを回転させた状態で、研削ユニット100BをZ軸方向に沿って所定の速度で下降させ、チャックテーブル18の保持面18aと研削ホイール106Bとを相対的に接近させる。なお、第3研削ステップS5では、第2研削ステップS2と同様、被加工物11及び研削砥石110Bに研削液を供給しながら研削砥石110Bを被加工物11に接触させる。 Specifically, while rotating the chuck table 18 and the grinding wheel 106B, the grinding unit 100B is lowered at a predetermined speed along the Z-axis direction to bring the holding surface 18a of the chuck table 18 and the grinding wheel 106B relatively close to each other. Note that in the third grinding step S5, similar to the second grinding step S2, the grinding wheel 110B is brought into contact with the workpiece 11 while supplying grinding fluid to the workpiece 11 and the grinding wheel 110B.

研削砥石110Bが被加工物11に接触すると、凹部21の底面21aが研削砥石110Bによって研削される。これにより、被加工物11の仕上げ研削が再開され、凹部21の底面21aに残存している研削痕が除去される。そして、被加工物11の中央部の厚さが仕上げ厚さになるまで被加工物11が研削されると、研削ユニット40Bが上昇し、研削砥石110Bが被加工物11から離隔される。これにより、被加工物11の仕上げ研削が完了する。 When the grinding wheel 110B comes into contact with the workpiece 11, the bottom surface 21a of the recess 21 is ground by the grinding wheel 110B. This restarts the finish grinding of the workpiece 11, and any grinding marks remaining on the bottom surface 21a of the recess 21 are removed. Then, when the workpiece 11 is ground until the thickness of the center of the workpiece 11 reaches the finish thickness, the grinding unit 40B rises and the grinding wheel 110B is separated from the workpiece 11. This completes the finish grinding of the workpiece 11.

上記のように、第3研削ステップS5では、離隔ステップS3及び/又は洗浄ステップS4によって凹部21の底面21aから砥粒が除去された状態で、被加工物11の仕上げ研削が再開される。これにより、第3研削ステップS5において被加工物11と研削砥石110Bとの間に入り込む砥粒が大幅に減少し、凹部21の底面21aに新たな研削痕が形成されにくくなる。 As described above, in the third grinding step S5, the finish grinding of the workpiece 11 is resumed after the abrasive grains have been removed from the bottom surface 21a of the recess 21 by the separation step S3 and/or cleaning step S4. This significantly reduces the amount of abrasive grains that get between the workpiece 11 and the grinding wheel 110B in the third grinding step S5, making it difficult for new grinding marks to form on the bottom surface 21a of the recess 21.

なお、実施形態1と同様、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量は、第2研削ステップS2における被加工物11の研削量よりも少ない。例えば、第3研削ステップS5における被加工物11の研削量は、10μm以下、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下に設定される。 As in the first embodiment, the amount of workpiece 11 ground in the third grinding step S5 is less than the amount of workpiece 11 ground in the second grinding step S2. For example, the amount of workpiece 11 ground in the third grinding step S5 is set to 10 μm or less, preferably 5 μm or less, and more preferably 3 μm or less.

また、第3研削ステップS5におけるチャックテーブル18の回転数、研削ホイール106Bの回転数、チャックテーブル18と研削ホイール106BとのZ軸方向における相対的な移動速度(加工送り速度)は、第2研削ステップS2と同様に設定できる。ただし、第3研削ステップS5における加工送り速度は、第2研削ステップS2における加工送り速度より低くてもよい。例えば、第3研削ステップS5における加工送り速度は、第2研削ステップS2における加工送り速度の3/4以下、好ましくは2/3以下、より好ましくは1/2以下に設定される。 In addition, the rotation speed of the chuck table 18, the rotation speed of the grinding wheel 106B, and the relative movement speed (processing feed rate) between the chuck table 18 and the grinding wheel 106B in the Z-axis direction in the third grinding step S5 can be set in the same manner as in the second grinding step S2. However, the processing feed rate in the third grinding step S5 may be lower than the processing feed rate in the second grinding step S2. For example, the processing feed rate in the third grinding step S5 is set to 3/4 or less, preferably 2/3 or less, and more preferably 1/2 or less of the processing feed rate in the second grinding step S2.

上記の第1研削ステップS1~第3研削ステップS5を実施することにより、被加工物11の中央部に粗研削及び仕上げ研削が施され、被加工物11の中央部が所定の仕上げ厚さになるまで薄化される。その後、被加工物11をストリート13(図2参照)に沿って分割することにより、被加工物11のデバイス領域17(図2参照)が個片化され、デバイス15(図2参照)を備える薄型のデバイスチップが得られる。 By carrying out the above-mentioned first grinding step S1 to third grinding step S5, rough grinding and finish grinding are performed on the central portion of the workpiece 11, and the central portion of the workpiece 11 is thinned to a predetermined finishing thickness. The workpiece 11 is then divided along the streets 13 (see FIG. 2), whereby the device regions 17 (see FIG. 2) of the workpiece 11 are separated into individual pieces, and thin device chips equipped with devices 15 (see FIG. 2) are obtained.

以上の通り、本実施形態に係る被加工物の研削方法は、被加工物11の中央部に凹部21を研削して被加工物11の外周部に補強部23を残存させる場合にも適用できる。なお、本実施形態は、実施形態1と適宜組み合わせることができる。 As described above, the method for grinding a workpiece according to this embodiment can also be applied to cases where a recess 21 is ground into the center of the workpiece 11, leaving a reinforcing portion 23 on the outer periphery of the workpiece 11. This embodiment can be appropriately combined with embodiment 1.

11 被加工物
11a 表面(第1面)
11b 裏面(第2面)
11c,11d,11e 研削痕(ソーマーク)
13 ストリート(分割予定ライン)
15 デバイス
17 デバイス領域
19 外周余剰領域
21 凹部(溝)
21a 底面
21b 側面(側壁、内壁)
23 補強部
2 研削装置
4 基台
4a 開口
6 搬送ユニット(搬送機構)
8A,8B カセット設置領域
10A,10B カセット
12 位置合わせ機構(アライメント機構)
14 搬送ユニット(搬送機構、ローディングアーム)
16 ターンテーブル
18 チャックテーブル(保持テーブル)
18a 保持面
18b 保持領域
20 枠体(本体部)
20a 上面
20b 凹部
20c 流路
22 保持部材
22a 吸引面
24 回転軸
26 厚さ測定器
28A,28B 支持構造
30A,30B 移動ユニット(移動機構)
32 ガイドレール
34 移動プレート
36 ボールねじ
38 パルスモータ
40A,40B 研削ユニット
42A,42B ハウジング
44A,44B スピンドル
46A,46B 回転駆動源
48A,48B ホイールマウント
50A,50B 研削ホイール
52A,52B ホイール基台
54A,54B 研削砥石
56 搬送ユニット(搬送機構、アンローディングアーム)
58 洗浄ユニット(洗浄機構、洗浄装置)
60 コントローラー(制御ユニット、制御部、制御装置)
70A,70B 研削液供給ユニット
72A,72B ノズル
74 研削液
80 洗浄流体供給ユニット
82 支持アーム
84 ノズル
86 流体
100A,100B 研削ユニット
102A,102B スピンドル
104A,104B ホイールマウント
106A,106B 研削ホイール
108A,108B ホイール基台
110A,110B 研削砥石
11 Workpiece 11a Surface (first surface)
11b Back side (second surface)
11c, 11d, 11e Grinding marks (saw marks)
13th Street (Planned division line)
15 Device 17 Device region 19 Peripheral excess region 21 Recess (groove)
21a Bottom surface 21b Side surface (side wall, inner wall)
23 Reinforcement portion 2 Grinding device 4 Base 4a Opening 6 Transport unit (transport mechanism)
8A, 8B Cassette installation area 10A, 10B Cassette 12 Alignment mechanism
14 Transport unit (transport mechanism, loading arm)
16 Turntable 18 Chuck table (holding table)
18a Holding surface 18b Holding area 20 Frame (main body)
20a Upper surface 20b Recess 20c Flow path 22 Holding member 22a Suction surface 24 Rotating shaft 26 Thickness measuring device 28A, 28B Support structure 30A, 30B Moving unit (moving mechanism)
32 Guide rail 34 Moving plate 36 Ball screw 38 Pulse motor 40A, 40B Grinding unit 42A, 42B Housing 44A, 44B Spindle 46A, 46B Rotation drive source 48A, 48B Wheel mount 50A, 50B Grinding wheel 52A, 52B Wheel base 54A, 54B Grinding stone 56 Transport unit (transport mechanism, unloading arm)
58 Cleaning unit (cleaning mechanism, cleaning device)
60 Controller (control unit, control unit, control device)
70A, 70B Grinding fluid supply unit 72A, 72B Nozzle 74 Grinding fluid 80 Cleaning fluid supply unit 82 Support arm 84 Nozzle 86 Fluid 100A, 100B Grinding unit 102A, 102B Spindle 104A, 104B Wheel mount 106A, 106B Grinding wheel 108A, 108B Wheel base 110A, 110B Grinding stone

Claims (4)

第1砥粒を含む第1研削砥石を備える第1研削ホイールと、該第1砥粒よりも平均粒径が小さい第2砥粒を含む第2研削砥石を備える第2研削ホイールとを使用して被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、
研削液を供給しながら該第1研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の被研削面側を研削する第1研削ステップと、
該第1研削ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の該被研削面側を研削する第2研削ステップと、
該第2研削ステップの後に、研削液を供給しながら該被加工物と該第2研削砥石とを離隔させる離隔ステップと、
該離隔ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物が所定の厚さになるまで該被加工物の該被研削面側を研削する第3研削ステップと、を含み、
該第3研削ステップにおける該被加工物の研削量は、該第2研削ステップにおける該被加工物の研削量よりも少ないことを特徴とする被加工物の研削方法。
A method for grinding a workpiece, comprising: using a first grinding wheel having a first grinding stone including first abrasive grains; and a second grinding wheel having a second grinding stone including second abrasive grains having an average grain size smaller than that of the first abrasive grains,
a first grinding step of grinding a surface of the workpiece by bringing the first grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid;
a second grinding step of grinding the grinding surface side of the workpiece by bringing the second grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid after the first grinding step;
a separating step of separating the workpiece from the second grinding wheel while supplying a grinding fluid after the second grinding step;
and a third grinding step of grinding the workpiece on the grinding surface side until the workpiece has a predetermined thickness by bringing the second grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid after the separating step,
A method for grinding a workpiece, wherein a grinding amount of the workpiece in the third grinding step is smaller than a grinding amount of the workpiece in the second grinding step.
該離隔ステップの後、且つ、該第3研削ステップの前に、該被加工物の該被研削面側を洗浄する洗浄ステップを更に含むことを特徴とする請求項1に記載の被加工物の研削方法。 The method for grinding a workpiece according to claim 1, further comprising a cleaning step for cleaning the grinding surface side of the workpiece after the separating step and before the third grinding step. 第1砥粒を含む第1研削砥石を備える第1研削ホイールと、該第1砥粒よりも平均粒径が小さい第2砥粒を含む第2研削砥石を備える第2研削ホイールとを使用して被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、
研削液を供給しながら該第1研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物に凹部を形成しつつ該凹部を囲繞する環状の補強部を残存させる第1研削ステップと、
該第1研削ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該凹部の底面を研削する第2研削ステップと、
該第2研削ステップの後に、研削液を供給しながら該被加工物と該第2研削砥石とを離隔させる離隔ステップと、
該離隔ステップの後に、研削液を供給しながら該第2研削砥石を該被加工物に接触させることにより、該被加工物の該凹部が形成された領域が所定の厚さになるまで該凹部の底面を研削する第3研削ステップと、を含み、
該第3研削ステップにおける該被加工物の研削量は、該第2研削ステップにおける該被加工物の研削量よりも少ないことを特徴とする被加工物の研削方法。
A method for grinding a workpiece, comprising: using a first grinding wheel having a first grinding stone including first abrasive grains; and a second grinding wheel having a second grinding stone including second abrasive grains having an average grain size smaller than that of the first abrasive grains,
a first grinding step in which the first grinding wheel is brought into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby forming a recess in the workpiece and leaving an annular reinforcing portion surrounding the recess;
a second grinding step of grinding a bottom surface of the recess by bringing the second grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid after the first grinding step;
a separating step of separating the workpiece from the second grinding wheel while supplying a grinding fluid after the second grinding step;
and a third grinding step of, after the separating step, bringing the second grinding wheel into contact with the workpiece while supplying a grinding fluid, thereby grinding a bottom surface of the recess until a region of the workpiece where the recess is formed reaches a predetermined thickness,
A method for grinding a workpiece, wherein a grinding amount of the workpiece in the third grinding step is smaller than a grinding amount of the workpiece in the second grinding step.
該離隔ステップの後、且つ、該第3研削ステップの前に、該凹部の底面を洗浄する洗浄ステップを更に含むことを特徴とする請求項3に記載の被加工物の研削方法。
4. The method for grinding a workpiece according to claim 3, further comprising a cleaning step of cleaning a bottom surface of the recess after the separating step and before the third grinding step.
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